本發(fā)明涉及集成電路類型的電子部件，特別地但不一定是被稱為客戶端特定集成電路或?qū)Ｓ眉呻娐返念愋偷募呻娐?，后一種術(shù)語產(chǎn)生首字母縮略詞asic。在本發(fā)明的一個優(yōu)選應(yīng)用中，電子部件被焊接到電子板上，并且在不會將它從該板拆焊的情況下經(jīng)歷驗證檢查。

背景技術(shù)：

常規(guī)地，這種集成電路包括兩個電力供應(yīng)端子——分別是正極和接地——形成第一電力供應(yīng)系統(tǒng)的一部分，該部分提供與集成電路的主要外部電力供應(yīng)的連接。

在專用集成電路的特定和非限制性情況下，該類型的集成電路允許根據(jù)客戶期望的用途通過將大量個體和/或特別設(shè)計的功能分組來定制其操作。因此，其與標(biāo)準和固定集成電路不同，標(biāo)準和固定集成電路可能由制造商供應(yīng)，而沒有對客戶要求的預(yù)先定制。

集成電路在其操作部署之前經(jīng)歷診斷測試是慣例。這經(jīng)常在將該電路集成到電子板中時完成。這種電路到板上的集成通常通過將電路的電連接或端子的端部焊接到電路外部的電力供應(yīng)源上完成。

因此，目的是使集成電路經(jīng)受用于驗證其正確操作的測試。測試程序涉及使用其電連接用于傳輸從包括刺激脈沖發(fā)生器的測試裝置產(chǎn)生的刺激脈沖，該刺激脈沖發(fā)生器被設(shè)計成通過根據(jù)預(yù)定周期向集成電路發(fā)送連續(xù)脈沖來刺激電路。測試設(shè)備包括用于收集來自集成電路的、對預(yù)定周期脈沖的響應(yīng)的構(gòu)件。

用于收集來自集成電路的，對預(yù)定周期脈沖的響應(yīng)的構(gòu)件允許確保集成電路在可接受的時間段內(nèi)對由模擬脈沖發(fā)生器傳輸?shù)诫娐返拿}沖做出正確響應(yīng)。

根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)，為了測試集成電路的操作，必要的是將集成電路的電接觸端子與外部電力供應(yīng)源拆焊，以便將其連接到脈沖發(fā)生器。這是一種困難的操作，該操作可能損壞集成電路或使集成電路的必須重新焊接的電連接退化。

由于集成電路或安裝在電子板上的其它元件的幾個其它接觸引腳和許多跡線的接近，致使拆焊操作變得困難。經(jīng)常使用端接焊盤，并且這些焊盤可能在電連接端子的拆焊期間被扯掉。

例如，在常規(guī)的拆焊操作期間，可以執(zhí)行線纜的分段以便打開更大的工作空間，所述線纜把每個端子鏈接到集成電路外部的電力供應(yīng)源。有可能線纜的一端保持焊接到端子。在這種情況下，該線纜端部通過在牽拉該端部的同時進行拆焊來與端子分離。然后，必須去除每個端子上的潛在剩余焊料，以便最佳地釋放該端子。

在最壞的情況情景下，集成電路在電子板上的拆焊可能導(dǎo)致對該集成電路的損壞。

重新焊接端子還可能導(dǎo)致端子和集成電路外部的電力供應(yīng)源之間的故障電連接。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明所基于的問題是能夠測試通過焊接剛性附著到外部電力供應(yīng)源的集成電路，而不必將集成電路的電力供應(yīng)連接與外部源拆焊。

為了該目的，本發(fā)明涉及一種集成電路，該集成電路包括分別為正極和接地的兩個電力供應(yīng)端子，該端子形成集成電路內(nèi)部的第一電力供應(yīng)系統(tǒng)的部分，并且使用集成電路外部的電力供應(yīng)源提供該集成電路的電力供應(yīng)，值得注意的是，它包括分別為正極和接地的兩個引腳，形成提供電路與外部的輔助電連接的第二電力供應(yīng)系統(tǒng)的部分，第二系統(tǒng)與第一系統(tǒng)并聯(lián)，當(dāng)?shù)诙到y(tǒng)閉合時第一系統(tǒng)斷開，反之亦然。

主要由于將兩個引腳添加到集成電路上導(dǎo)致的技術(shù)效果在于，獲得集成電路的第二電力供應(yīng)系統(tǒng)，該系統(tǒng)與用于為電路供電的第一電力供應(yīng)系統(tǒng)隔離。在本發(fā)明的優(yōu)選應(yīng)用（該應(yīng)用包括使用第二電力供應(yīng)系統(tǒng)用于通過經(jīng)由第二系統(tǒng)及其引腳向電路發(fā)送參考刺激脈沖來對集成電路執(zhí)行診斷測試）中，如果第二電力供應(yīng)系統(tǒng)于是特別專用于診斷測試，則避免了與集成電路的環(huán)境有關(guān)的各個問題。

不再有任何需要來將第一電力供應(yīng)系統(tǒng)的端子與用于向集成電路供電的外部源斷開以便使它與測試裝置接觸。這表示節(jié)省時間，因為這種斷開難以實施。這還防止集成電路，并且特別是其電力供應(yīng)端子在該斷開期間潛在地被損壞，并且避免在診斷測試之后重新建立的連接然后潛在地出現(xiàn)故障。

有利地，第一和第二系統(tǒng)的每個端子或引腳經(jīng)由包括微型開關(guān)的相應(yīng)電連接而連接到第一和第二系統(tǒng)的其余部分，當(dāng)?shù)诙到y(tǒng)的微型開關(guān)處于閉合位置時，第一系統(tǒng)的微型開關(guān)處于斷開位置，反之亦然。

有利地，集成電路配備有：用于檢測跨第二電力供應(yīng)系統(tǒng)的引腳的電壓的構(gòu)件；用于將第一電力供應(yīng)系統(tǒng)的微型開關(guān)設(shè)置到斷開位置的構(gòu)件；以及用于一旦在第二電力供應(yīng)系統(tǒng)的引腳上檢測到電壓就將第二電力供應(yīng)系統(tǒng)的微型開關(guān)設(shè)置到閉合位置的構(gòu)件。

有利地，集成電路配備有：用于檢測跨第一電力供應(yīng)系統(tǒng)的端子的電壓的構(gòu)件；用于將第二電力供應(yīng)系統(tǒng)的微型開關(guān)設(shè)置到斷開位置的構(gòu)件；以及用于一旦跨第一電力供應(yīng)系統(tǒng)的端子檢測到電壓就將第一電力供應(yīng)系統(tǒng)的微型開關(guān)設(shè)置到閉合位置的構(gòu)件。

本發(fā)明還涉及一種電子板，值得注意的是該電子板包括至少一個這種集成電路。

本發(fā)明還涉及一種用于測試這種集成電路或容納在這種電子板內(nèi)的集成電路的方法，測試刺激脈沖由測試裝置發(fā)送到集成電路，測試裝置在測試期間電連接到集成電路，值得注意的是，測試裝置經(jīng)由與第一電力供應(yīng)系統(tǒng)并聯(lián)的第二電力供應(yīng)系統(tǒng)電連接到集成電路，第一電力供應(yīng)系統(tǒng)保持在斷開位置。

在優(yōu)選實施例中，該方法有利地包括以下步驟：

?將測試裝置連接到第二電力供應(yīng)系統(tǒng)的分別為正極和接地的引腳，

?一旦進行該連接，就斷開第一電力供應(yīng)系統(tǒng)和閉合第二電力供應(yīng)系統(tǒng)，

?通過經(jīng)由第二電力供應(yīng)系統(tǒng)將刺激脈沖從測試裝置發(fā)送到集成電路來實施測試，

?在完成測試之后，斷開第二電力供應(yīng)系統(tǒng)，

?將測試裝置與第二電力供應(yīng)系統(tǒng)的分別為正極和接地的引腳斷開，以及

?閉合第一電力供應(yīng)系統(tǒng)。

本發(fā)明還涉及一種用于實施這種方法的測試設(shè)備，該設(shè)備包括：將刺激脈沖發(fā)送到集成電路的刺激脈沖發(fā)生器，用于在刺激脈沖之后接收來自集成電路的響應(yīng)的構(gòu)件，值得注意的是該設(shè)備包括以下述形式的電接觸構(gòu)件：由所述裝置承載的將自身定位在每個引腳上的接觸機構(gòu)或焊接到每個端子并連接到脈沖發(fā)生器的導(dǎo)線。

有利地，每個接觸機構(gòu)采取夾子的形式，該夾子配備有兩個夾爪，在它們之間夾持集成電路的第二電力供應(yīng)系統(tǒng)的相應(yīng)引腳。

附圖說明

在閱讀下面的詳細描述時和關(guān)于作為非限制性示例呈現(xiàn)的附圖，本發(fā)明的其它特征、目的和優(yōu)點將變得顯而易見，并且在附圖中：

-圖1是根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的集成電路的示意表示，其中該集成電路外部的電力供應(yīng)需要拆焊以便在該集成電路初始上電之前測試該集成電路，

-圖2是根據(jù)本發(fā)明的一個非限制性實施例的集成電路的示意表示，集成電路的電力供應(yīng)及其被設(shè)計成連接到測試裝置的電力供應(yīng)是不同的并且并聯(lián)放置在集成電路內(nèi)，當(dāng)進行測試時電力供應(yīng)被暫停，并且相反地，連接到測試裝置的電力供應(yīng)在集成電路的正常操作期間被暫停，

-圖3示出了詳述根據(jù)本發(fā)明的用于測試集成電路的方法的各種步驟的流程圖。

具體實施方式

參考圖1和圖2，對于根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)和本發(fā)明的集成電路的共同特征，集成電路1包括分別為正極和接地的兩個電力供應(yīng)端子2a、2b，其形成集成電路1內(nèi)部的第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2的部分并且使用集成電路1外部的電力供應(yīng)源提供集成電路1的主要電力供應(yīng)。

外部電力供應(yīng)源可以是電池。取決于要供電的集成電路1，可以選擇該電池以遞送特定電壓，例如5或3.3伏特。這種集成電路1通常形成電子板的部分，該部分被焊接到電子板以用于其連接，特別是用于其電力供應(yīng)連接。

圖1和圖2示出了到集成電路1的主要外部電力供應(yīng)連接9，該連接9連接到集成電路1的第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2的兩個電力供應(yīng)端子2a、2b。連接9包括作為集成電路外部的電力供應(yīng)源的電池的+ve極與第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2的正極端子2a之間的連接以及第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2的接地端子2b與圖中標(biāo)記為t的大地之間的連接。

主要外部連接9的兩個連接包括：用于分別與第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2的正極端子2a和接地端子2b接觸的構(gòu)件9a、9b。這些接觸構(gòu)件9a、9b通常采取焊接接頭的形式。

集成電路1包括輸入6和輸出7，用于其與安裝在電子板上或電子板外部的其它元件連接。在圖中，示出了三個輸入6和三個輸出7，這是非限制性的。

如先前提到的，本發(fā)明的目的特別是直接在其原板上測試集成電路類型1（特別是但不限于專用集成電路1）的部件而不必移除該集成電路類型1，因此避免在拆焊操作期間加熱它并且將集成電路1與電子板的其余部分隔離。該原板可以包括除集成電路之外的元件。

參照圖2，根據(jù)本發(fā)明，集成電路1包括分別為正極和接地的兩個引腳3a、3b，其形成第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的部分，該部分提供該電路與外部的輔助電連接。

輔助外部連接10連接到兩個引腳3a、3b以形成集成電路1內(nèi)部的第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的部分，引腳3a、3b設(shè)置在集成電路1的外圍。

輔助外部連接10主要但不排他地用于對集成電路實施診斷或測試操作。在這種情況下，第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3有利地連接到刺激脈沖發(fā)生器，該刺激脈沖發(fā)生器經(jīng)由第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3將刺激脈沖發(fā)送到集成電路1，以便對集成電路1執(zhí)行測試。這將在下文進行更詳細的描述。

如果集成電路1的第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2的兩個電力供應(yīng)端子2a、2b物理地連接到容納集成電路1的電子板，則形成第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的部分的兩個引腳3a、3b不一定物理地連接到電子板，而是可以間接地連接，諸如例如以連接接線片或等效布置的形式間接地連接。

第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3被示為與第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2并聯(lián)，并且相反地，換句話說，當(dāng)?shù)诙娏?yīng)系統(tǒng)3閉合從而允許電流流動時，第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2是斷開的，從而不允許任何電流流動，反之亦然。

在圖2中，第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3連接到輔助外部連接10。該第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3可以被設(shè)計成連接到產(chǎn)生刺激脈沖并將它們發(fā)送到集成電路1的測試裝置。在測試期間，集成電路1的主要電力供應(yīng)不被啟用，第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2斷開，而第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3閉合并接收由測試裝置產(chǎn)生的刺激脈沖。

輔助外部電路10因此優(yōu)選地形成測試裝置的部分，該部分將集成電路1連接到刺激脈沖發(fā)生器。然而，要考慮的是，該輔助外部電路10可以具有另一功能，例如它可以是用于集成電路1的電力供應(yīng)的外部備用電路。

一般來說，第一和第二電力供應(yīng)系統(tǒng)2、3的每個端子或引腳可以經(jīng)由包括微型開關(guān)4a、4b；5a、5b的相應(yīng)電連接而連接到它所屬的系統(tǒng)的其余部分。

由于電力供應(yīng)系統(tǒng)2、3不同時保持斷開或閉合，因此當(dāng)?shù)诙到y(tǒng)3的微型開關(guān)5a、5b處于閉合位置時，第一系統(tǒng)2的微型開關(guān)4a、4b處于斷開位置，反之亦然。

為了觸發(fā)微型開關(guān)4a、4b；5a、5b的斷開和閉合，集成電路1具有檢測構(gòu)件，該檢測構(gòu)件允許集成電路1識別集成電路1是否處于測試模式，在測試模式情況下，第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3通過閉合其微型開關(guān)5a、5b而被閉合，并且第一系統(tǒng)1通過斷開微型開關(guān)4a、4b而被斷開。

檢測構(gòu)件可以檢測集成電路1的正常操作，其中在該情況下，第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2通過閉合其微型開關(guān)4a、4b而被閉合，并且第二系統(tǒng)3通過斷開其微型開關(guān)5a、5b而被斷開。

在本發(fā)明的一個優(yōu)選實施例中，集成電路1可以配備有用于檢測第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的引腳3a、3b上的電壓的構(gòu)件。然后，它還配備有用于一旦在第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的引腳3a、3b上檢測到電壓就把第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2的微型開關(guān)4a、4b設(shè)置到斷開位置的構(gòu)件。

相反的情況適用于第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的微型開關(guān)5a、5b，每當(dāng)檢測到不存在與第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的電接觸時微型開關(guān)5a、5b斷開，并且每當(dāng)檢測到與第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的接觸時微型開關(guān)5a、5b閉合。第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的引腳3a、3b上的這種電壓意味著集成電路1的測試將發(fā)生。

在可以與第一個實施例結(jié)合的本發(fā)明的另一優(yōu)選實施例中，集成電路1可以配備有：用于檢測第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2的端子2a、2b上的電壓的構(gòu)件；用于將第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的微型開關(guān)5a、5b設(shè)置到斷開位置的構(gòu)件；以及用于一旦跨第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2的端子2a、2b檢測到電壓就將第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2的微型開關(guān)4a、4b設(shè)置到閉合位置的構(gòu)件。

本發(fā)明還涉及一種電子板，值得注意的是其包括至少一個這種集成電路1。該電子板可以承載除集成電路1之外的電子元件。為了避免測試電力供應(yīng)和用于電子板的電力供應(yīng)之間的不期望的電力供應(yīng)連接，用于包括集成電路的電子板（有利地焊接到電子板）的電力供應(yīng)可以在所述板未被供電時與其電力供應(yīng)系統(tǒng)斷開。實際上，在不采取該斷開措施的情況下，測試和所述板電力供應(yīng)之間的連接仍然可以有可能經(jīng)由可存在于該板上的一個或多個無源部件實現(xiàn)。

在包括這種集成電路1的電子板中，也可以有可能在集成電路1外部將微型開關(guān)4a、4b；5a、5b放置在第一和第二電力供應(yīng)系統(tǒng)2、3的相應(yīng)端子2a、2b或引腳3a、3b之前的電連接內(nèi)。然而這不是優(yōu)選的解決方案。

在該情況下，在先前描述的第一優(yōu)選實施例中用于檢測第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的引腳3a、3b上的電壓的構(gòu)件和用于將第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2的微型開關(guān)4a、4b設(shè)置在斷開位置中的構(gòu)件可以在集成電路1的外部。這同樣適用于用于檢測與第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的引腳3a、3b的電接觸的構(gòu)件以及用于設(shè)置第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的微型開關(guān)5a、5b的位置以便閉合這些微型開關(guān)5a、5b的構(gòu)件。

給集成電路1配備第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的目的本質(zhì)上是能夠在不必使用第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2的情況下對集成電路1執(zhí)行測試，這本來例如需要拆焊其用于正常操作的外部電力供應(yīng)以便實現(xiàn)與向集成電路1發(fā)送刺激脈沖的測試裝置的連接。

現(xiàn)在將更具體地參考圖3，同時針對未圖示在圖3中的數(shù)字標(biāo)記考慮圖1和圖2來詳細描述用于測試集成電路的方法的步驟。

標(biāo)記為11的步驟代表開始使用集成電路1。在正常操作中，因此沒有實施測試過程，使用集成電路1外部的電力供應(yīng)源對形成第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2的一部分、分別為正極和接地的兩個電力供應(yīng)端子2a、2b供電，假設(shè)該端子的相關(guān)聯(lián)的微型開關(guān)4a、4b閉合。這被示出在步驟12處。同時，第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的微型開關(guān)5a、5b處于斷開位置。這被示出在步驟13處。

如果在第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的引腳3a、3b上沒有檢測到電壓，這由分支n表示，則維持第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2的微型開關(guān)4a、4b的閉合狀態(tài)和第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的微型開關(guān)5a、5b的斷開狀態(tài)。

另一方面，一旦在第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的引腳3a、3b上檢測到電壓，這由對該問題14指示“是”的響應(yīng)y代表，則執(zhí)行操作以根據(jù)步驟15斷開第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2的微型開關(guān)4a、4b，以及根據(jù)步驟16閉合第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的微型開關(guān)5a、5b。

如果在第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2的端子2a、2b上檢測到電壓，這由來自問題17的分支y代表，則重復(fù)步驟12和13，換句話說，第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2的微型開關(guān)4a、4b閉合，并且第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的微型開關(guān)5a、5b斷開。

只要跨第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2的端子2a、2b沒有檢測到電壓，這由來自問題17的分支n代表，則第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的微型開關(guān)5a、5b的閉合狀態(tài)持續(xù)，并且因此，第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2的微型開關(guān)4a、4b的斷開狀態(tài)持續(xù)。

隨后，在問題18處，如果響應(yīng)為“是”y，即如果在第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的引腳3a、3b上檢測到電壓，則這意味著測試仍在進行中，并且重復(fù)步驟15和16。

由于有可能第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的引腳3a、3b由其間留有時間間隔的電脈沖供電，因此有可能考慮等待時間，在該等待時間以下不考慮檢測第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的引腳3a、3b上的零電壓。

在該問題18處，如果響應(yīng)為“否”n，即在第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的引腳3a、3b上沒有檢測到電壓，則這意味著測試操作完成。于是這已經(jīng)達到由19代表的用于測試集成電路1的方法的結(jié)束。

根據(jù)用于測試這種集成電路1或容納在符合本發(fā)明的電子板中的集成電路1的一種方法，測試刺激脈沖由測試裝置發(fā)送到集成電路1。為了該目的，測試裝置在測試期間經(jīng)由保持在閉合位置的第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3電連接到集成電路1，第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3與第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2并聯(lián)，第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2在測試期間斷開。

在一個有利的實施例中，該方法包括用于將測試裝置連接到第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的分別為正極和接地的引腳3a、3b的步驟。同時，一旦進行該連接，就實現(xiàn)第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2的斷開和第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的閉合。

該方法隨后包括用于通過經(jīng)由第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3將刺激脈沖從測試裝置發(fā)送到集成電路1來實施測試的步驟。這執(zhí)行測試本身以便發(fā)現(xiàn)集成電路1是否正確地操作。

在完成測試之后，實現(xiàn)第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的斷開和第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2的閉合，這在測試裝置與第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的分別為正極和接地的引腳3a、3b斷開的同時、或剛好之前或剛好之后執(zhí)行。在測試裝置與引腳3a、3b斷開之后閉合第一電力供應(yīng)系統(tǒng)2是優(yōu)選的。

本發(fā)明還涉及一種用于實施這種方法的測試設(shè)備。常規(guī)地，測試設(shè)備包括：刺激脈沖發(fā)生器，將刺激脈沖發(fā)送到集成電路1；用于接收刺激脈沖之后來自集成電路1的響應(yīng)的構(gòu)件；以及構(gòu)件10a、10b，用于與集成電路的第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的每個端子3a、3b電接觸并且在測試電力供應(yīng)上提及。

電接觸構(gòu)件10a、10b可以采取以下形式：由所述裝置承載的、可以定位在每個引腳3a、3b上的可容易移除的接觸機構(gòu)。實際上，在本發(fā)明的一個優(yōu)選實施例中，第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3和輔助外部連接10之間的接觸僅僅是暫時的，例如僅持續(xù)集成電路的測試時間。因此，有利的是電接觸構(gòu)件10a、10b可容易移除。

優(yōu)選地，每個接觸機構(gòu)可以采取夾子的形式，該夾子配備有兩個夾爪，該夾爪在它們之間夾持集成電路1的第二電力供應(yīng)系統(tǒng)3的相應(yīng)引腳3a、3b。作為替代，電接觸構(gòu)件10a、10b可以采取焊接到每個引腳3a、3b并連接到脈沖發(fā)生器的電線的形式。