本實(shí)用新型涉及一種用于檢測(cè)二極管后端的電阻的檢測(cè)裝置，屬于整流橋內(nèi)嵌電阻的檢測(cè)，尤其是一種二極管后端電阻檢測(cè)裝置。

背景技術(shù)：

現(xiàn)有電阻檢測(cè)儀器僅能檢測(cè)單一電路中的電阻阻值的大小，對(duì)于電路中串聯(lián)其它的電氣元件的電路，如整流橋電路中所測(cè)電阻前端串聯(lián)一個(gè)二極管，就如法檢測(cè)出整個(gè)電路中二極管后端電阻阻值的準(zhǔn)確值。如果要獲取二極管后端電阻的準(zhǔn)確值，避免在生產(chǎn)過(guò)程中出現(xiàn)混料的情況，就必須對(duì)電阻進(jìn)行單獨(dú)檢測(cè)，這樣打過(guò)膠的整流器就必須把膠除去后再檢測(cè)，這樣就會(huì)降低生產(chǎn)效率，抬升成本，造成資源浪費(fèi)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的主要目的是為了克服上述不足，提供一種二極管后端電阻檢測(cè)裝置。該二極管后端電阻檢測(cè)裝置能提高生產(chǎn)效率，并且能準(zhǔn)確測(cè)出電路中二極管后端電阻的阻值，從而降低成本，節(jié)約資源。

本實(shí)用新型的目的是這樣實(shí)現(xiàn)的：一種二極管后端電阻檢測(cè)裝置，包括處理器、AD模擬量-數(shù)字量轉(zhuǎn)化芯片、測(cè)試電路、報(bào)警電路、OLED顯示屏、電源、復(fù)位電路，其特征在于：AD模擬量-數(shù)字量轉(zhuǎn)化芯片、測(cè)試電路、報(bào)警電路、OLED顯示屏、電源和復(fù)位電路與處理器相連。

所述的測(cè)試電路檢測(cè)電路在整個(gè)電路中的分電壓降模擬量，通過(guò)AD芯片對(duì)該電壓降模擬量進(jìn)行采集，并將采集到的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為數(shù)字量信號(hào)輸送給處理器，處理器根據(jù)設(shè)計(jì)出的算法，分析該數(shù)字量信號(hào)中二極管和所測(cè)電阻所占比例，并計(jì)算出所測(cè)電阻的阻值；處理器在計(jì)算出阻值后將該阻值數(shù)據(jù)與所要求阻值數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，如果超出所要求數(shù)據(jù)范圍處理器就會(huì)驅(qū)動(dòng)報(bào)警電路報(bào)警，否則提示OK；處理器計(jì)算出阻值后以SPI通信的方式，將阻值數(shù)據(jù)輸送到OLED顯示屏上。

由于采用上述技術(shù)方案，本實(shí)用新型的有益效果是：該二極管后端電阻檢測(cè)裝置能提高生產(chǎn)效率，并且能準(zhǔn)確測(cè)出電路中二極管后端電阻的阻值，從而降低成本，節(jié)約資源。

附圖說(shuō)明

下面結(jié)合附圖及實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說(shuō)明。

圖1為本實(shí)用新的結(jié)構(gòu)框圖。

具體實(shí)施方式

如圖1所示，本實(shí)用新型包括處理器、AD模擬量-數(shù)字量轉(zhuǎn)化芯片、測(cè)試電路、報(bào)警電路、OLED顯示屏、電源、復(fù)位電路，AD模擬量-數(shù)字量轉(zhuǎn)化芯片、測(cè)試電路、報(bào)警電路、OLED顯示屏、電源和復(fù)位按鈕與處理器相連。

所述的測(cè)試電路檢測(cè)電路在整個(gè)電路中的分電壓降模擬量，通過(guò)AD模擬量-數(shù)字量轉(zhuǎn)化芯片對(duì)該電壓降模擬量進(jìn)行采集，并將采集到的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為數(shù)字量信號(hào)輸送給處理器，處理器根據(jù)設(shè)計(jì)出的算法，分析該數(shù)字量信號(hào)中二極管和所測(cè)電阻所占比例，并計(jì)算出所測(cè)電阻的阻值；處理器在計(jì)算出阻值后將該阻值數(shù)據(jù)與所要求阻值數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，如果超出所要求數(shù)據(jù)范圍處理器就會(huì)驅(qū)動(dòng)報(bào)警電路報(bào)警，否則提示OK；處理器計(jì)算出阻值后以SPI通信的方式，將阻值數(shù)據(jù)輸送送到OLED顯示屏上。