技術(shù)特征：

1.一種反射式天線陣列，其特征在于，包括可編程基板和超材料表面，所述超材料表面包括若干個(gè)有源天線單元，該有源天線單元包括超材料單元和連接在超材料單元之間的有源二極管；當(dāng)有源二極管的狀態(tài)排布不同時(shí)，超材料表面的“0”、“1”狀態(tài)分布不同；進(jìn)而將平面波反射形成所需要的輻射波束。

2.如權(quán)利要求1所述的反射式天線陣列，其特征在于，還包括激勵(lì)源和金屬支架，所述激勵(lì)源、可編程基板與超材料表面固定于該金屬支架上。

3.如權(quán)利要求1或2所述的反射式天線陣列，其特征在于，所述超材料單元的散射遠(yuǎn)場(chǎng)

其中，θ和分別為輻射波束的俯仰角和方位角；D為超材料單元的寬度；每個(gè)單元的相位為k為自由空間的波數(shù)；N、m、n為自然數(shù)。

4.如權(quán)利要求1所述的反射式天線陣列，其特征在于，所述激勵(lì)源為圓錐喇叭，所述圓錐喇叭的頂角θ＝2arctan(a/2L)，其中a為喇叭口面直徑，L為喇叭輻射長(zhǎng)度。

5.如權(quán)利要求4所述的反射式天線陣列，其特征在于，所述圓錐喇叭轉(zhuǎn)動(dòng)連接于金屬支架上，圓錐喇叭的轉(zhuǎn)動(dòng)角度為0-60°。

6.一種波束掃描方法，其特征在于，基于權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)反射式天線陣列實(shí)現(xiàn)，所述波束掃描方法包括如下步驟：

根據(jù)電磁逆算法設(shè)計(jì)相對(duì)應(yīng)的表面編碼；

將表面編碼寫(xiě)入FPGA控制板，控制二極管的通斷；

超表面單元相位發(fā)生變化，平面波由超表面反射后得到輻射波束。