技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種使用單一探針測(cè)試芯片的多個(gè)連接墊的測(cè)試裝置，該測(cè)試裝置包含一測(cè)試電路、多個(gè)短路元件以及多個(gè)測(cè)試探針。該測(cè)試電路用來產(chǎn)生一控制信號(hào)至至少一芯片，使該至少一芯片產(chǎn)生多個(gè)測(cè)試信號(hào)。該多個(gè)短路元件形成于該至少一芯片周圍的切割道上，其中該多個(gè)短路元件的每一者用來短路該至少一芯片的多個(gè)連接墊，且該多個(gè)連接墊包含一待測(cè)連接墊及至少一非待測(cè)連接墊。該多個(gè)測(cè)試探針耦接于該多個(gè)短路元件及該測(cè)試電路，用來通過該多個(gè)短路元件，從該待測(cè)連接墊接收該多個(gè)測(cè)試信號(hào)，使該測(cè)試電路根據(jù)該多個(gè)測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生一測(cè)試結(jié)果。

技術(shù)研發(fā)人員：賴鴻尉;李宗潤
受保護(hù)的技術(shù)使用者：新特系統(tǒng)股份有限公司
文檔號(hào)碼：201610084286
技術(shù)研發(fā)日：2016.02.14
技術(shù)公布日：2017.03.22