技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供了一種提高待測(cè)物質(zhì)質(zhì)譜檢測(cè)靈敏度的方法和系統(tǒng)，所述方法包括：將離子化的待測(cè)物質(zhì)通過四極桿進(jìn)樣；四極桿的射頻電壓設(shè)置為第一預(yù)設(shè)值；第一預(yù)設(shè)值使得特定質(zhì)荷比的待測(cè)物質(zhì)離子通過四極桿達(dá)到離子阱；離子阱的射頻電壓設(shè)置為第二預(yù)設(shè)值，離子阱的前極板電壓設(shè)置為第三預(yù)設(shè)值并持續(xù)第一預(yù)設(shè)時(shí)間，離子阱的后極板電壓設(shè)置為第四預(yù)設(shè)值；第三預(yù)設(shè)值不同于第四預(yù)設(shè)值；當(dāng)?shù)谝活A(yù)設(shè)時(shí)間結(jié)束時(shí)，將前極板電壓由所述第三預(yù)設(shè)值變化至第四預(yù)設(shè)值并持續(xù)第二預(yù)設(shè)時(shí)間；當(dāng)?shù)诙A(yù)設(shè)時(shí)間結(jié)束時(shí)，將離子阱的射頻電壓降為0，特定質(zhì)荷比的待測(cè)物質(zhì)離子從離子阱中彈出。本發(fā)明有利于檢測(cè)出低濃度物質(zhì)，提高了質(zhì)譜及相關(guān)聯(lián)用方法檢測(cè)靈敏度。

技術(shù)研發(fā)人員：徐偉;郭丹
受保護(hù)的技術(shù)使用者：北京理工大學(xué)
文檔號(hào)碼：201510532687
技術(shù)研發(fā)日：2015.08.27
技術(shù)公布日：2017.03.08