亚洲成年人黄色一级片,日本香港三级亚洲三级,黄色成人小视频,国产青草视频,国产一区二区久久精品,91在线免费公开视频,成年轻人网站色直接看

平坦化半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法

文檔序號(hào):6996402閱讀:163來源:國(guó)知局
專利名稱:平坦化半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于微電子元器件制造領(lǐng)域,特別是平坦化半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法。
背景技術(shù)
隨著微電子制造工藝的進(jìn)步,圖形的精細(xì)程度越來越高,線寬越來越小。隨之對(duì)硅片的平整度要求也越來越高。完整的電路是由分離的器件通過特定的電學(xué)通路連接起來的,因此在集成電路制造中必須能夠把器件隔離開來,這些器件隨后還要能夠互連以形成所需要的特定的電路結(jié)構(gòu)。隔離不好會(huì)造成漏電、擊穿低、閂鎖效應(yīng)等。因此隔離技術(shù)是集成電路制造中一項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)。對(duì)于0.35微米及以上工藝節(jié)點(diǎn)的普通CMOS (互補(bǔ)金屬氧化物(PM0S管和NMOS管)共同構(gòu)成的互補(bǔ)型MOS集成電路制造工藝),普遍使用LOCOS (局部氧化隔離工藝)作為元件與元件之間的電隔離。LOCOS結(jié)構(gòu)的制作過程是利用SiN薄膜掩蔽氧化層的特點(diǎn),先在器件的有源區(qū)覆蓋一層SiN,接著在暴露的隔離區(qū)場(chǎng)區(qū)通過濕氧氧化生長(zhǎng)一層較厚的氧化層,最后去除SiN層,形成有源區(qū),在有源區(qū)中制作器件。如何減小LOCOS工藝對(duì)硅片平整度帶來的負(fù)面影響是一個(gè)非常重要的問題?,F(xiàn)有的做法有PBL (Poly Buffered L0C0S,多晶襯墊L0C0Q等方法,其缺點(diǎn)是硅片平整度不高。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供了一種平坦化半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法, 可以比現(xiàn)有的L0C0S工藝顯著的提高硅片平整度。本發(fā)明的技術(shù)方案是包括以下工藝流程
(a)提供一硅襯底,使用四甲基氫氧化氨在硅襯底刻蝕出凹槽;
(b)在凹槽區(qū)氧化出一層200A- 2000A的氧化層;
(c)在氧化層生長(zhǎng)一層氧化硅,將凹槽填平;
(d)把凹槽以外的氧化硅去除。作為優(yōu)選,所述(d)步驟的方法為化學(xué)機(jī)械研磨法。


圖1是腐蝕出凹槽的硅襯底示意圖; 圖2是凹槽區(qū)制作出氧化層示意圖3是氧化硅生成狀態(tài)示意圖; 圖4是凹槽以外的氧化硅去除后示意圖。圖中標(biāo)號(hào)如下1-硅襯底,2-凹槽,3-氧化硅。
具體實(shí)施例方式以下結(jié)合附圖,對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)的描述。平坦化半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法,其技術(shù)特征是包括以下工藝流程(a)提供一硅襯底,使用四甲基氫氧化氨(TMAH)在硅襯底刻蝕出凹槽,如圖1所示。(b)在凹槽區(qū)氧化出一層200A - 2000A的氧化硅,如圖2所示。(c)生長(zhǎng)氧化硅,將凹槽填平,如圖3所示。(d)用化學(xué)機(jī)械研磨法把凹槽以外的氧化硅去除,如圖4所示。本發(fā)明不限于本實(shí)施例提供的技術(shù)方案,本領(lǐng)域技術(shù)人員可以推導(dǎo)出多種方案, 凡是本構(gòu)思下的各種技術(shù)方案都在本申請(qǐng)權(quán)利要求書保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.平坦化半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法,其技術(shù)特征是包括以下工藝流程(a)提供一硅襯底,使用四甲基氫氧化氨在硅襯底刻蝕出凹槽;(b)在凹槽區(qū)氧化出一層200A- 2000A的氧化硅;(c)生長(zhǎng)氧化硅,將凹槽填平;(d)把凹槽以外的氧化硅去除。
2.按照權(quán)利要求1所述的平坦化半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法,其特征在于所述(d)步驟的方法為化學(xué)機(jī)械研磨法。
全文摘要
平坦化半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法,屬于微電子元器件制造領(lǐng)域,包括以下工藝流程提供一硅襯底,使用四甲基氫氧化氨在硅襯底刻蝕出凹槽;在凹槽區(qū)氧化出一層200A–2000A的氧化層;在氧化層生長(zhǎng)一層氧化硅,將凹槽填平;把凹槽以外的氧化硅去除。本發(fā)明可比現(xiàn)有的LOCOS工藝顯著的提高硅片平整度。
文檔編號(hào)H01L21/762GK102157373SQ20111005624
公開日2011年8月17日 申請(qǐng)日期2011年3月9日 優(yōu)先權(quán)日2011年3月9日
發(fā)明者龔?fù)?申請(qǐng)人:無錫邦普氿順微電子有限公司
網(wǎng)友詢問留言 已有0條留言
  • 還沒有人留言評(píng)論。精彩留言會(huì)獲得點(diǎn)贊!
1