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一種晶體硅太陽能電池雙層減反射膜及其制備方法

文檔序號(hào):6949945閱讀:174來源:國(guó)知局
專利名稱:一種晶體硅太陽能電池雙層減反射膜及其制備方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種減反射膜及其制備方法,具體涉及一種應(yīng)用于晶體硅太陽能電池 表面的減反射膜及其制備方法。
背景技術(shù)
當(dāng)今世界,常規(guī)能源的持續(xù)使用帶來了能源緊缺以及環(huán)境惡化等一系列經(jīng)濟(jì)和社 會(huì)問題,發(fā)展太陽能電池是解決上述問題的途經(jīng)之一。因此,世界各國(guó)都在積極開發(fā)太陽能 電池,而高轉(zhuǎn)換效率、低成本是太陽能電池發(fā)展的主要趨勢(shì),也是技術(shù)研究者追求的目標(biāo)目前,晶體硅太陽能電池制造包括如下步驟⑴硅片清洗制絨;(2)擴(kuò)散制備PN 結(jié);(3)刻蝕去除硅片四周的PN結(jié);(4)清洗去除磷硅玻璃;(5)制備減反射膜;(6)絲網(wǎng)印 刷背電極銀菜,背電場(chǎng)鋁菜,正電極銀漿;(7)背電極、背場(chǎng)及正面電極共燒合金化;(8)測(cè) 試分選。其中,步驟(5)的減反射膜又稱增透膜,最簡(jiǎn)單的增透膜是單層膜,它是鍍?cè)诠鈱W(xué) 零件光學(xué)表面上的一層折射率較低的薄膜。如果膜層的光學(xué)厚度是某一波長(zhǎng)的四分之一, 相鄰兩束光的光程差恰好為η,即振動(dòng)方向相反,疊加的結(jié)果使光學(xué)表面對(duì)該波長(zhǎng)的反射 光減少。適當(dāng)選擇膜層折射率,這時(shí)光學(xué)表面的反射光可以完全消除。一般情況下,采用單 層增透膜很難達(dá)到理想的增透效果,為了在單波長(zhǎng)實(shí)現(xiàn)零反射,或在較寬的光譜區(qū)達(dá)到好 的增透效果,往往采用雙層、三層甚至更多層數(shù)的減反射膜?,F(xiàn)有技術(shù)中,大規(guī)模生產(chǎn)采用的是PECVD法制備SiNx膜,但其反射率還不是很低。 減反射膜是應(yīng)用最廣、產(chǎn)量最大的一種光學(xué)薄膜,因此,它至今仍是光學(xué)薄膜技術(shù)中重要的 研究課題,研究的重點(diǎn)是尋找新材料,設(shè)計(jì)新膜系,改進(jìn)淀積工藝,使之用最少的層數(shù),最簡(jiǎn) 單、最穩(wěn)定的工藝,獲得盡可能高的成品率,達(dá)到最理想的效果。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明目的是提供一種晶體硅太陽能電池雙層減反射膜及其制備方法,使減反射 膜降低電池表面對(duì)光的反射,提高晶體硅太陽能電池的光電轉(zhuǎn)化效率。為達(dá)到上述目的,本發(fā)明采用的技術(shù)方案是一種晶體硅太陽能電池雙層減反射 膜,該減反射膜是由兩層膜構(gòu)成,第一層膜設(shè)在晶體硅太陽能電池的硅片襯底的表面,第 二層膜設(shè)在第一層膜的表面,第一層膜為二氧化硅薄膜,其厚度為10 20nm,折射率為
1.45 1. 47 ;第二層膜為二氧化鈦薄膜,其厚度為50 60nm,折射率為2. 15 2. 45。上述技術(shù)方案中,第一層膜和第二層膜的綜合膜厚為60 80nm,綜合折射率
2.06 2. 18。一種晶體硅太陽能電池雙層減反射膜的制備方法,包括如下步驟按照電池常規(guī)前道工序處理方法,對(duì)硅片進(jìn)行硅片清洗制絨、擴(kuò)散制備PN結(jié)、刻 蝕去除硅片四周的PN結(jié)、清洗去除磷硅玻璃,然后包括以下步驟(1)采用熱氧化方法在硅片襯底的表面生長(zhǎng)一層二氧化硅薄膜,薄膜的折射率為1. 45 1· 47,厚度為 10 20nm ;(2)采用溶膠凝膠法在步驟(1)的二氧化硅薄膜表面形成折射率為2. 15 2. 45、厚度為50 60nm的二氧化鈦薄膜;(3)在上述二氧化鈦薄膜上印刷正反面電極、背場(chǎng),后進(jìn)行燒結(jié)操作。上述技術(shù)方案中,二氧化硅薄膜和二氧化鈦薄膜的綜合膜厚為60 80nm,綜合折 射率2. 06 2. 18。上述技術(shù)方案中,所述步驟(1)的工藝溫度為800 900°C,反應(yīng)氣體N2流量為 10 30L/min,O2流量為10 30L/min,反應(yīng)時(shí)間為10 60min。上述技術(shù)方案中,所述步驟(2)包括如下步驟(1)將鈦酸鹽前軀體與醇類溶劑混合,攪拌形成透明溶液,再滴加蒸餾水,攪拌得 到淡黃色溶膠;(2)將二氧化鈦粒子加入上述溶膠中,超聲分散處理30 60min,形成二氧化鈦粒 子充分分散的涂覆漿體;(3)將上述二氧化鈦涂覆漿體采用絲網(wǎng)印刷方法在二氧化硅薄膜表面印刷二氧化 鈦薄膜,形成折射率為2. 15 2. 45、厚度為50 60nm的二氧化鈦薄膜。上述技術(shù)方案中,所述步驟(1)中的鈦酸鹽前軀體為鈦酸正丁酯、鈦酸異丙酯或 四氯化鈦,所述醇類為無水乙醇、異丙醇或正丁醇。上述技術(shù)方案中,所述步驟(2)中二氧化鈦粒子和步驟(1)的溶膠的重量比為 1 15 30?,F(xiàn)有技術(shù)中,TiO2薄膜的制備方法很多,本發(fā)明在熱氧化的SiO2薄膜表面采用溶 膠凝膠法制備TiO2薄膜,采用鈦酸鹽前軀體,醇類和水來形成溶膠,此鈦酸鹽前軀體經(jīng)過水 解和聚合的過程形成溶膠,鈦酸鹽前軀體水解形成水解相,水解相與醇鹽發(fā)生聚合反應(yīng)形 成新的TiO2網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu),再通過后續(xù)的絲網(wǎng)燒結(jié)形成銳鈦礦晶型的TiO2薄膜。其中,溶膠凝膠法是一種廣泛應(yīng)用于薄膜沉積的方法,其具有設(shè)備簡(jiǎn)單,對(duì)樣品的 尺寸沒有要求,不需要特殊的高壓或真空的環(huán)境,且制備得到的薄膜均勻性好等優(yōu)點(diǎn)。上文中,所述晶體硅可以是單晶硅或多晶硅。由于上述技術(shù)方案的采用,與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明具有如下優(yōu)點(diǎn)1.本發(fā)明得到了由二氧化硅薄膜和二氧化鈦薄膜組成的雙層氮化硅膜,該減反射 膜可以明顯降低電池表面對(duì)光的反射,提高晶體硅太陽能電池的光電轉(zhuǎn)化效率;與現(xiàn)有的 氮化硅減反射膜相比,本發(fā)明的太陽能電池在光譜范圍300 1200nm之間的反射率降低 10%以上,取得了顯著的效果。2.本發(fā)明采用的溶膠凝膠法具有設(shè)備簡(jiǎn)單、對(duì)樣品的尺寸沒有要求、不需要特殊 的高壓或真空的環(huán)境等優(yōu)點(diǎn),且制備得到的薄膜均勻性較好。3.本發(fā)明的制備方法簡(jiǎn)單,適合規(guī)?;a(chǎn)。


圖1是本實(shí)施例一的反射率對(duì)比曲線圖;圖2是本實(shí)施例二的反射率對(duì)比曲線圖;圖3是本實(shí)施例三的反射率對(duì)比曲線具體實(shí)施例方式下面結(jié)合實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步描述實(shí)施例一 一種晶體硅太陽能電池雙層減反射膜的制備方法,包括如下步驟按照電池常規(guī) 前道工序處理方法,對(duì)硅片進(jìn)行硅片清洗制絨、擴(kuò)散制備PN結(jié)、刻蝕去除硅片四周的PN結(jié)、 清洗去除磷硅玻璃,然后包括以下步驟第一步在硅片表面先采用熱氧化方法生長(zhǎng)一層SiO2薄膜,反應(yīng)氣體N2為IOL/ min,O2為15L/min,工藝溫度為880°C,時(shí)間20min,形成一層折射率為1. 46,厚度為IOnm的 SiO2薄膜;第二步取一定量的鈦酸正丁酯緩慢滴加到正丁醇中,其溶液濃度為0. 5mol/L, 將此溶液采用磁力攪拌器攪拌0. 5h后,再滴加1 3mL蒸餾水,攪拌得到淡黃色溶膠;第三步將TiO2粒子以1 15質(zhì)量比添加到上述溶膠中,超聲分散處30min,形成 TiO2粒子充分分散的涂覆漿體;第四步將上述TiO2漿體采用絲網(wǎng)印刷方法在SiO2薄膜表面印刷TiO2薄膜,折射 率為2. 3,薄膜的厚度為60nm;從而在硅片表面形成綜合折射率為2. 18,綜合膜厚為70nm的Si02/Ti02雙層減反 射薄膜;第五步在上述二氧化鈦薄膜上印刷正反面電極、背場(chǎng),后進(jìn)行燒結(jié)操作。對(duì)比例一按照電池常規(guī)前道工序處理方法,對(duì)硅片進(jìn)行硅片清洗制絨、擴(kuò)散制備PN結(jié)、刻 蝕去除硅片四周的PN結(jié)、清洗去除磷硅玻璃,然后用PECVD法制備SiNx減反射膜,其折射 率為2. 1,膜厚SOnm ;然后采用常規(guī)工藝制備得到太陽能電池。采用D8積分反射儀對(duì)上述實(shí)施例一和對(duì)比例一進(jìn)行鍍膜后硅片表面光反射率測(cè) 試,測(cè)定結(jié)果參見圖1所示,其中,A為對(duì)比例一的常規(guī)電池片的反射率曲線,B為本實(shí)施例 一的雙層膜反射率曲線,可見,在光譜范圍300 1200nm之間,本實(shí)施例一的太陽能電池的 反射率比對(duì)比例一的太陽能電池的反射率低出12%左右。實(shí)施例二一種晶體硅太陽能電池雙層減反射膜的制備方法,包括如下步驟按照電池常規(guī) 前道工序處理方法,對(duì)硅片進(jìn)行硅片清洗制絨、擴(kuò)散制備PN結(jié)、刻蝕去除硅片四周的PN結(jié)、 清洗去除磷硅玻璃,然后包括以下步驟第一步在硅片表面先采用熱氧化方法生長(zhǎng)一層SiO2薄膜,反應(yīng)氣體N2為20L/ min, O2為30L/min,工藝溫度為880°C,時(shí)間40min,形成一層折射率為1. 46,厚度為20nm的 SiO2薄膜;第二步取一定量的鈦酸異丙酯緩慢滴加到異丙醇中,其溶液濃度為0. 4mol/L, 將此溶液采用磁力攪拌器攪拌0. 5h后,再滴加1 3mL蒸餾水,攪拌得到淡黃色溶膠;第三步將TiO2粒子以1 20質(zhì)量比添加到上述溶膠中,超聲分散處30min,形成 TiO2粒子充分分散的涂覆漿體;第四步將上述TiO2漿體采用絲網(wǎng)印刷方法在SiO2薄膜表面印刷TiO2薄膜,折射率為2. 3,薄膜的厚度為50nm;
從而在硅片表面形成綜合折射率為2. 06,綜合膜厚為70nm的Si02/Ti02雙層減反 射薄膜;第五步在上述二氧化鈦薄膜上印刷正反面電極、背場(chǎng),后進(jìn)行燒結(jié)操作。將本實(shí)施例與對(duì)比例一進(jìn)行鍍膜后硅片表面光反射率測(cè)試,測(cè)定結(jié)果參見圖2所 示,其中,C為對(duì)比例一的常規(guī)電池片的反射率曲線,D為本實(shí)施例二的雙層膜反射率曲線, 可見,在光譜范圍300 1200nm之間,本實(shí)施例的反射率比對(duì)比例一的反射率低出15%左
右ο實(shí)施例三一種晶體硅太陽能電池雙層減反射膜的制備方法,包括如下步驟按照電池常規(guī) 前道工序處理方法,對(duì)硅片進(jìn)行硅片清洗制絨、擴(kuò)散制備PN結(jié)、刻蝕去除硅片四周的PN結(jié)、 清洗去除磷硅玻璃,然后包括以下步驟第一步在硅片表面先采用熱氧化方法生長(zhǎng)一層SiO2薄膜,反應(yīng)氣體N2為30L/ min, O2為30L/min,工藝溫度為840°C,時(shí)間60min,形成一層折射率為1. 46,厚度為20nm的 SiO2薄膜;第二步取一定量的四氯化鈦緩慢滴加到無水乙醇中,其溶液濃度為0. 3mol/L, 將此溶液采用磁力攪拌器攪拌0. 5h后,再滴加1 3mL蒸餾水,攪拌得到淡黃色溶膠;第三步將TiO2粒子以1 20質(zhì)量比添加到上述溶膠中,超聲分散處30min,形成 TiO2粒子充分分散的涂覆漿體;第四步將上述TiO2漿體采用絲網(wǎng)印刷方法在SiO2薄膜表面印刷TiO2薄膜,折射 率為2. 3,薄膜的厚度為50nm;從而在硅片表面形成綜合折射率為2. 06,綜合膜厚為70nm的Si02/Ti02雙層減反 射薄膜;第五步在上述二氧化鈦薄膜上印刷正反面電極、背場(chǎng),后進(jìn)行燒結(jié)操作。將本實(shí)施例與對(duì)比例一進(jìn)行鍍膜后硅片表面光反射率測(cè)試,測(cè)定結(jié)果參見圖3所 示,其中,E為對(duì)比例一的常規(guī)電池片的反射率曲線,F(xiàn)為本實(shí)施例三的雙層膜反射率曲線, 可見,在光譜范圍300 1200nm之間,本實(shí)施例的反射率比對(duì)比例一的反射率低出10%左
右ο
權(quán)利要求
一種晶體硅太陽能電池雙層減反射膜,該減反射膜是由兩層膜構(gòu)成,第一層膜設(shè)在晶體硅太陽能電池的硅片襯底的表面,第二層膜設(shè)在第一層膜的表面,其特征在于第一層膜為二氧化硅薄膜,其厚度為10~20nm,折射率為1.45~1.47;第二層膜為二氧化鈦薄膜,其厚度為50~60nm,折射率為2.15~2.45。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶體硅太陽能電池雙層減反射膜,其特征在于第一層膜和 第二層膜的綜合膜厚為60 80nm,綜合折射率2. 06 2. 18。
3.一種晶體硅太陽能電池雙層減反射膜的制備方法,包括如下步驟按照電池常規(guī)前道工序處理方法,對(duì)硅片進(jìn)行硅片清洗制絨、擴(kuò)散制備PN結(jié)、刻蝕去 除硅片四周的PN結(jié)、清洗去除磷硅玻璃,其特征在于,然后包括以下步驟(1)采用熱氧化方法在硅片襯底的表面生長(zhǎng)一層二氧化硅薄膜,薄膜的折射率為 1. 45 1. 47,厚度為 10 20nm ;(2)采用溶膠凝膠法在步驟(1)的二氧化硅薄膜表面形成折射率為2.15 2. 45、厚度 為50 60nm的二氧化鈦薄膜;(3)在上述二氧化鈦薄膜上印刷正反面電極、背場(chǎng),后進(jìn)行燒結(jié)操作。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的制備方法,其特征在于二氧化硅薄膜和二氧化鈦薄膜的綜 合膜厚為60 80nm,綜合折射率2. 06 2. 18。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的制備方法,其特征在于所述步驟(1)的工藝溫度為800 900°C,反應(yīng)氣體N2流量為10 30L/min,02流量為10 30L/min,反應(yīng)時(shí)間為10 60min。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的制備方法,其特征在于,所述步驟(2)包括如下步驟(1)將鈦酸鹽前軀體與醇類溶劑混合,攪拌形成透明溶液,再滴加蒸餾水,攪拌得到淡 黃色溶膠;(2)將二氧化鈦粒子加入上述溶膠中,超聲分散處理30 60min,形成二氧化鈦粒子充 分分散的涂覆漿體;(3)將上述二氧化鈦涂覆漿體采用絲網(wǎng)印刷方法在二氧化硅薄膜表面印刷二氧化鈦薄 膜,形成折射率為2. 15 2. 45、厚度為50 60nm的二氧化鈦薄膜。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的制備方法,其特征在于所述步驟(1)中的鈦酸鹽前軀體為 鈦酸正丁酯、鈦酸異丙酯或四氯化鈦,所述醇類為無水乙醇、異丙醇或正丁醇。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的制備方法,其特征在于所述步驟(2)中二氧化鈦粒子和步 驟(1)的溶膠的重量比為1 15 30。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種晶體硅太陽能電池雙層減反射膜,該減反射膜是由兩層膜構(gòu)成,第一層膜設(shè)在晶體硅太陽能電池的硅片襯底的表面,第二層膜設(shè)在第一層膜的表面,第一層膜為二氧化硅薄膜,其厚度為10~20nm,折射率為1.45~1.47;第二層膜為二氧化鈦薄膜,其厚度為50~60nm,折射率為2.15~2.45。本發(fā)明的減反射膜可以明顯降低電池表面對(duì)光的反射,提高晶體硅太陽能電池的光電轉(zhuǎn)化效率。
文檔編號(hào)H01L31/0216GK101969075SQ20101024943
公開日2011年2月9日 申請(qǐng)日期2010年8月10日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月10日
發(fā)明者張鳳, 王栩生, 章靈軍 申請(qǐng)人:蘇州阿特斯陽光電力科技有限公司;阿特斯(中國(guó))投資有限公司
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