專利名稱：提高led芯片圖形識(shí)別能力的方法及其系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及LED發(fā)光二極管自動(dòng)化生產(chǎn)或測(cè)試機(jī)臺(tái)圖形識(shí)別技術(shù)，尤其是一種提 高LED芯片圖形識(shí)別能力的方法及其系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
發(fā)光二極管的生產(chǎn)、檢測(cè)流程中使用的自動(dòng)化機(jī)具包括粘晶機(jī)(Die Bonder), 邦定機(jī)(Wire Bonder)及芯片檢測(cè)機(jī)(Chip Prober)等均需要圖形識(shí)別(Pattern Recognition)功能，以判別芯片的正確位置并引導(dǎo)機(jī)臺(tái)動(dòng)作。為提高鑒別率及計(jì)算器處理 速度均采用單色的C⑶作為影像攝取工具，因此僅能判讀影像的灰階(Gray Level) 0LED芯片上的結(jié)構(gòu)以金屬電極最為明顯易判讀，因此在執(zhí)行影像識(shí)別時(shí)一向以 金屬電極的圖形為依據(jù)。但芯片表面粗化(Surface Roughen)及圖案基板(Patterned SapphireSubstrate)等提高芯片亮度新技術(shù)的采用往往造成CXD影像灰階的變化導(dǎo)致金 屬電極不易區(qū)分。目前一般采用單色光源，利用金屬電極表面的黃金對(duì)不同波長(zhǎng)反射率不同的特性 改變其反射亮度以造成灰階的差異化，但其差異不大并且不同芯片表面的灰階不同仍然造 成批量生產(chǎn)中的困擾。因此需要一個(gè)更好的方案可造成更大的灰階差異并且適用于各種芯 片。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明目的是加大LED發(fā)光二極管芯片上金屬電極與其它部分灰階差 異并能適用于各種芯片，方便LED發(fā)光二極管的生產(chǎn)、檢測(cè)流程中進(jìn)行圖形識(shí)別 (PatternRecognition)，以判別芯片的正確位置并引導(dǎo)機(jī)臺(tái)動(dòng)作，而提供一種提高LED芯 片圖形識(shí)別能力的方法及其系統(tǒng)。本發(fā)明技術(shù)方案提高LED芯片圖形識(shí)別能力的方法，以線形偏振光源為照明光 源，在CCD成像裝置前設(shè)置有第二偏光鏡以改變金屬電極之影像灰階；線形偏振光源為采用無(wú)特殊偏振方向——圓形偏振之典型入射光源，于該光源前 設(shè)置第一偏光鏡，讓一特定方向分亮之光通過(guò)而形成線形偏振入射光。提高LED芯片圖形識(shí)別能力的系統(tǒng)，包括無(wú)特殊偏振方向——圓形偏振之典型入 射光源、CXD成像裝置，在無(wú)特殊偏振方向——圓形偏振之典型入射光源前設(shè)置有形成線形 偏振入射光的第一偏光鏡，在CCD成像裝置前設(shè)置有改變金屬電極之影像灰階的第二偏光 鏡；第二偏光鏡與第一偏光鏡偏振方向既可以垂直也可以平行；第二偏光鏡與第一偏光鏡鏡面均包覆經(jīng)碘浸染的聚乙烯醇膜。若以線形偏振的光源入射于芯片表面，無(wú)論粗化的芯片表面或圖案基板其散射出 來(lái)光線的偏振方向?qū)⑸y成幾乎是接近圓形對(duì)稱的橢圓形偏振，而相對(duì)較平坦的金屬電極 則維持原來(lái)的線形偏振或很接近入射光源的極狹長(zhǎng)橢圓形偏振，再置一偏光鏡于CCD前則可以明顯改變金屬電極影像的亮度達(dá)到差異化的。本發(fā)明有益效果通過(guò)加大LED發(fā)光二極管芯片上金屬電極與其它部分灰階 差異，使之能適用于各種芯片，方便LED發(fā)光二極管的生產(chǎn)、檢測(cè)流程中進(jìn)行圖形識(shí)別 (PatternRecognition)，以判別芯片的正確位置并引導(dǎo)機(jī)臺(tái)動(dòng)作，顯著提高芯片鑒別率和 生產(chǎn)效率，降低廢品率和生產(chǎn)成本。
具體實(shí)施例方式實(shí)施例一采用無(wú)特殊偏振方向(圓形偏振)之典型入射光源，置第一偏光鏡于該光源前讓 一特定方向分亮之光通過(guò)而形成線形偏振入射光，金屬電極之反射光之偏振明顯較芯片其 它面積集中于入射光之偏振方向；置第二偏光鏡于CCD前，其偏振方向與第一偏光鏡偏振 方向垂直，則金屬電極之反射光幾乎無(wú)法通過(guò)而造成較深之影像而區(qū) 別于其它區(qū)域。此處 之第一及第二偏光鏡可采用如液晶(LCD)使用之透過(guò)式偏光膜或其它反射式偏光鏡均可。實(shí)施例二同實(shí)施例一，但其第二偏光鏡之偏振方向平行于第一偏光鏡偏振方向，則金屬電 極之反射光幾乎全數(shù)通過(guò)而造成較明亮之影像而區(qū)別于其它區(qū)域。
權(quán)利要求
提高LED芯片圖形識(shí)別能力的方法，其特征是以線形偏振光源為照明光源，在CCD成像裝置前設(shè)置有第二偏光鏡以改變金屬電極之影像灰階。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述提高LED芯片圖形識(shí)別能力的方法，其特征是線形偏振光源 為采用無(wú)特殊偏振方向——圓形偏振之典型入射光源，于該光源前設(shè)置第一偏光鏡，讓一 特定方向分亮之光通過(guò)而形成線形偏振入射光。
3.提高LED芯片圖形識(shí)別能力的系統(tǒng)，包括無(wú)特殊偏振方向——圓形偏振之典型入射 光源、CXD成像裝置，其特征是在無(wú)特殊偏振方向——圓形偏振之典型入射光源前設(shè)置有 形成線形偏振入射光的第一偏光鏡，在CXD成像裝置前設(shè)置有改變金屬電極之影像灰階的 第二偏光鏡。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述提高LED芯片圖形識(shí)別能力的系統(tǒng)，其特征是第二偏光鏡與 第一偏光鏡偏振方向既可以垂直也可以平行。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述提高LED芯片圖形識(shí)別能力的系統(tǒng)，其特征是第二偏光鏡與 第一偏光鏡鏡面均包覆經(jīng)碘浸染的聚乙烯醇膜。
全文摘要
本發(fā)明涉及LED發(fā)光二極管自動(dòng)化生產(chǎn)或測(cè)試機(jī)臺(tái)圖形識(shí)別技術(shù)，尤其是一種提高LED芯片圖形識(shí)別能力的方法及其系統(tǒng)。本發(fā)明采用線形偏振光源及偏光鏡造成金屬電極與芯片其它表面CCD影像的灰階差異，以提高圖形識(shí)別能力，引導(dǎo)機(jī)臺(tái)動(dòng)作，顯著提高芯片鑒別率和生產(chǎn)效率，降低廢品率和生產(chǎn)成本。
文檔編號(hào)H01L33/00GK101866997SQ201010186840
公開(kāi)日2010年10月20日 申請(qǐng)日期2010年5月27日 優(yōu)先權(quán)日2010年5月27日
發(fā)明者張曉飛, 王大文 申請(qǐng)人:大余眾能光電科技有限公司