專利名稱:CuInSe的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明屬于光伏電池技術(shù)領(lǐng)域,提供了一種CuInSe2半導(dǎo)體薄膜太陽(yáng)電池光吸收層的制備工藝。
背景技術(shù):
CuInSe2是一種具有黃銅礦結(jié)構(gòu)的直接帶隙半導(dǎo)體化合物,其禁帶寬度為1.04eV,室溫下性能穩(wěn)定。研究中,人們通過(guò)成功制備合金化合物Cu(In,Ga)Se2和CuIn(S,Se)2,將原有CuInSe2光伏材料的禁帶寬度增大,使其更接近光伏轉(zhuǎn)換最佳值1.4eV,用其制備的薄膜太陽(yáng)電池在提高轉(zhuǎn)換效率的同時(shí)獲得了更高的開(kāi)路電壓(主要文獻(xiàn)有Marianna Kemell,Mikko Ritala,Markku Leskel.“Thin Film Deposition Methods forCuInSe2Solar Cells”.Critical Reviews in Solid State and Materials Sciences,2005,301-31)。
太陽(yáng)電池光吸收層CuInSe2薄膜的制備方法多種多樣,真空制備技術(shù)是目前最成熟的方法。在真空條件下,利用“三步共蒸工藝”制備的薄膜太陽(yáng)能電池,其光電轉(zhuǎn)化效率已經(jīng)超過(guò)20%。但是由于精密的真空設(shè)備需要很大的初始投資,而且真空沉積技術(shù)的產(chǎn)率不具優(yōu)勢(shì),不能夠連續(xù)生產(chǎn),使得太陽(yáng)電池的成本較高,難以推廣應(yīng)用,因此越來(lái)越多的研究人員把目光投向低成本工藝。使用濺射法、絲網(wǎng)印刷法、刮刀涂敷法等低成本的“粒子沉積”技術(shù),將前驅(qū)體料漿沉積在基體上形成前驅(qū)體層,進(jìn)而硒化成為CuInSe2薄膜。這組技術(shù)工藝簡(jiǎn)單,制備成本低廉(Bülent M “Lowcost techniques for the preparation of Cu(In,Ga)(Se,S)2absorber layers”.Thin Solid Films,2000,361-362514-519)。
但是,前驅(qū)體層的硒化通常需要在H2Se氣氛中進(jìn)行,H2Se是一種劇毒的氣體,會(huì)帶來(lái)環(huán)境污染,并且不利于生成操作。同時(shí),目前“粒子沉積”技術(shù)制備的CuInSe2薄膜不夠致密,使得材料的缺陷增加(M Kaelin,D Rudmann,A N Tiwari.“Low costprocessing of CIGS thin film solar cells.Solar Energy”,2004,77749-756)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種CuInSe2半導(dǎo)體薄膜太陽(yáng)電池光吸收層的制備工藝。在成功制備出純凈CuInSe2吸收層的基礎(chǔ)上,簡(jiǎn)化了工藝步驟,并且在制備過(guò)程中不使用有毒氣體,使之更適合于實(shí)際生產(chǎn)。
本發(fā)明的構(gòu)成按照CuInSe2的化學(xué)計(jì)量比混合化學(xué)純度的Cu粒In粒,壓制成具有一定尺寸的壓坯,封存在真空度1×10-3pa的石英管中,通過(guò)感應(yīng)熔煉使之形成Cu-In合金錠。破碎Cu-In合金錠,并與Se粉混合后球磨48~96小時(shí),形成黑色的前驅(qū)體漿料,將漿料涂敷在金屬鉬、導(dǎo)電玻璃或者鍍有一層金屬鉬薄膜的鈉鈣玻璃基體上形成前驅(qū)體薄膜,干燥后對(duì)前驅(qū)體薄膜施加2~20Mpa的壓強(qiáng)使其致密,或者不施加壓強(qiáng),然后在H2氣氛中熱處理0.5~3小時(shí),熱處理溫度是450~600℃。
本發(fā)明所述的Cu-In合金粉與Se粉混合的質(zhì)量比例為1~1.1。
本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于采用熔煉合金的方法,先形成一定的合金相,并且相比于其他單元素逐一添加到體系中的方法,盡可能的避免了元素的損失,確保了嚴(yán)格的化學(xué)計(jì)量比。形成脆性的合金相,有利于后續(xù)階段球磨出含有顆粒粒度比較小的漿料。Cu-In合金顆?;旌蟂e粉,在球磨過(guò)程中充分混合,形成均勻的混合物,因而涂敷后的前驅(qū)體膜中含有符合化學(xué)計(jì)量比的Se,相比于其他硒化方法,更易于形成均勻的吸收層,并且無(wú)需有毒的H2Se和Se氣氛,操作上簡(jiǎn)單實(shí)用。
圖1是本發(fā)明制得的前驅(qū)體漿料涂敷在金屬鉬基體上在H2氣氛下450℃熱處理1小時(shí)后得到的CuInSe2薄膜的X射線衍射圖,其前軀體薄膜沒(méi)有被施加壓強(qiáng)。橫坐標(biāo)為衍射角度,縱坐標(biāo)為相對(duì)強(qiáng)度。
圖2是本發(fā)明制得的前驅(qū)體漿料涂敷在金屬鉬基體上在H2氣氛下550℃熱處理1小時(shí)后得到的CuInSe2薄膜的X射線衍射圖,其前軀體薄膜被施加8Mpa壓強(qiáng)。橫坐標(biāo)為衍射角度,縱坐標(biāo)為相對(duì)強(qiáng)度。
圖3是本發(fā)明制得的前驅(qū)體漿料涂敷在金屬鉬基體上在H2氣氛下450℃熱處理1小時(shí)后得到的CuInSe2薄膜的電子顯微鏡照片,其前軀體薄膜沒(méi)有被施加壓強(qiáng)。
圖4是本發(fā)明制得的前驅(qū)體漿料涂敷在金屬鉬基體上在H2氣氛下550℃熱處理1小時(shí)后得到的CuInSe2薄膜的電子顯微鏡照片,其前軀體薄膜被施加8Mpa壓強(qiáng)。
具體實(shí)施例方式
Cu-In合金的熔煉(1)首先取原子比為Cu∶In=1∶1的金屬Cu和金屬In顆粒,混合后壓制成Φ10mm的圓柱壓坯,由于In比較軟,因此易于壓制,壓力不需要很大。
(2)將壓坯密封在石英管中,由于在密封過(guò)程中需要抽氣,而且真空度需要控制在1×10-3pa以下,因此可添加適當(dāng)?shù)奈鼩鈩?br>
(3)利用感應(yīng)熔煉的方法,電壓控制在220V,當(dāng)熔體沸騰后3~5分鐘,停止加熱,自然冷卻到室溫,得到銀白色的Cu-In合金。
前驅(qū)體料漿的球磨(1)將熔煉好的Cu-In合金錠置于Al2O3研缽中破碎,然后將破碎后的Cu-In合金粉末以Cu-In合金∶Se粉=1~1.1的重量配比混合Se粉,并以10克混合粉30克無(wú)水乙醇的比例混合后,置于行星式球磨機(jī)中球磨48~96小時(shí),制成前驅(qū)體漿料。
(2)將前驅(qū)體漿料涂敷在金屬鉬基體或者導(dǎo)電玻璃或者鍍有一層金屬鉬薄膜的鈉鈣玻璃基體上,干燥后形成前驅(qū)體薄膜,待進(jìn)一步處理。
例1在金屬鉬基體上CuInSe2吸收層的H2氣氛低溫(450℃)制備(1)不對(duì)在金屬鉬基體上形成的前驅(qū)體薄膜施加壓強(qiáng)處理。將在金屬鉬基體上的前驅(qū)體薄膜置于電阻爐中,通H2排除空氣,驗(yàn)純3次后,在50℃預(yù)熱10分鐘。
(2)按照5℃/min的速率由50℃升溫至210℃,保溫1小時(shí)。
(3)按照5℃/min的速率由210℃升溫至450℃,保溫1小時(shí)后隨爐冷卻至室溫取出,得到藍(lán)黑色的吸收層。
例2在金屬鉬基體上CuInSe2吸收層的H2氣氛高溫(550℃)制備(1)對(duì)在金屬鉬基體上形成的前驅(qū)體薄膜施加8Mpa壓強(qiáng)使其致密,然后去除壓強(qiáng),將在金屬鉬基體上的前驅(qū)體薄膜置于電阻爐中,通H2排除空氣,驗(yàn)純3次后,在50℃預(yù)熱10分鐘。
(2)按照5℃/min的速率由50℃升溫至210℃,保溫1小時(shí)。
(3)按照5℃/min的速率由210℃升溫至550℃,保溫1小時(shí)后隨爐冷卻至室溫取出,得到藍(lán)黑色的吸收層。
例3在導(dǎo)電玻璃基體上CuInSe2吸收層的H2氣氛低溫(450℃)制備(1)對(duì)在導(dǎo)電玻璃基體上形成的前驅(qū)體薄膜施加2Mpa壓強(qiáng)使其致密,然后去除壓強(qiáng),將在導(dǎo)電玻璃基體上的前驅(qū)體薄膜置于電阻爐中,通H2排除空氣,驗(yàn)純3次后,在50℃預(yù)熱10分鐘。
(2)按照5℃/min的速率由50℃升溫至180℃,保溫1小時(shí)。
(3)按照5℃/min的速率由180℃升溫至450℃,保溫2小時(shí)后隨爐冷卻至室溫取出,得到藍(lán)黑色的吸收層。
例4在鍍有一層金屬鉬薄膜的鈉鈣玻璃基體上CuInSe2吸收層的H2氣氛高溫(550℃)制備(1)對(duì)鍍有一層金屬鉬薄膜的鈉鈣玻璃基體上形成的前驅(qū)體薄膜施加2Mpa壓強(qiáng)使其致密,然后去除壓強(qiáng),將在鍍有一層金屬鉬薄膜的鈉鈣玻璃基體上的前驅(qū)體薄膜置于電阻爐中,通H2排除空氣,驗(yàn)純3次后,在50℃預(yù)熱10分鐘。
(2)按照5℃/min的速率由50℃升溫至210℃,保溫1小時(shí)。
(3)按照5℃/min的速率由210℃升溫至550℃,保溫1小時(shí)后隨爐冷卻至室溫取出,得到藍(lán)黑色的吸收層。
例5熱處理后樣品的XRD檢測(cè)涂敷于金屬鉬基體上的前驅(qū)體薄膜在H2氣氛下經(jīng)450℃和550℃熱處理后,CuInSe2的(101)、(112)、(211)、(200/204)和(116/312)晶面衍射峰十分明顯,薄膜以(112)晶面擇優(yōu)取向生長(zhǎng)。在H2氣氛中經(jīng)450℃和550℃熱處理后得到了十分純凈的CuInSe2單相。
權(quán)利要求
1.一種CuInSe2半導(dǎo)體薄膜太陽(yáng)電池光吸收層的制備工藝,其特征在于按照CuInSe2的化學(xué)計(jì)量比混合化學(xué)純度的Cu粒和In粒,壓制成壓坯,封存在真空度1×10-3pa的石英管中,通過(guò)感應(yīng)熔煉使之形成Cu-In合金錠;將Cu-In合金錠破碎Cu-In合金粉,并與Se粉混合后球磨48~96小時(shí),形成黑色的前驅(qū)體漿料;將漿料涂敷在金屬鉬、導(dǎo)電玻璃或者鍍有一層金屬鉬薄膜的鈉鈣玻璃基體上形成前驅(qū)體薄膜,干燥后對(duì)前驅(qū)體薄膜不施加壓強(qiáng),或者施加2~20Mpa的壓強(qiáng)使其致密,然后在H2氣氛中熱處理0.5~3小時(shí),熱處理溫度是450~600℃。
2.按照權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于Cu-In合金粉與Se粉混合的質(zhì)量比例為1~1.1。
全文摘要
一種CuInSe
文檔編號(hào)H01L31/18GK101079456SQ200710117800
公開(kāi)日2007年11月28日 申請(qǐng)日期2007年6月25日 優(yōu)先權(quán)日2007年6月25日
發(fā)明者果世駒, 聶洪波, 王延來(lái), 楊永剛 申請(qǐng)人:北京科技大學(xué)