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光半導(dǎo)體器件的制作方法

文檔序號:7003377閱讀:131來源:國知局
專利名稱:光半導(dǎo)體器件的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及光半導(dǎo)體器件,特別是涉及在僅傳感可見光、測定其亮度、即所謂的能見度照度測定等中使用的光半導(dǎo)體器件。
已有技術(shù)近年來,在能見度照度測定等中使用的光半導(dǎo)體器件,使用光電二極管(以下稱為PD)和對來自PD的光信號進(jìn)行放大、運(yùn)算處理的放大·運(yùn)算處理電路成為單芯片化的光敏元件。如

圖1所示,在p型硅襯底1的表面形成n型區(qū)2,在此n型區(qū)2的表面形成p型區(qū)3。在縱向形成的兩處PN結(jié)中形成兩個PD(PD14,PD25)。
Si晶片中的光吸收比例依賴于距表面的深度,但是如圖9所示,該光吸收比例的深度依賴性因波長而不同。由于上述兩個PN結(jié)距襯底表面的距離不同,所以例如圖3所示,每個PD的光譜敏感度特性不同。在圖3中,光電二極管PD1在波長600nm附近具有最大敏感度,位置比光電二極管PD1更深的光電二極管PD2在900nm附近具有最大敏感度。
利用放大·運(yùn)算處理電路對這種光譜敏感度特性不同的光電二極管PD1、PD2的輸出進(jìn)行運(yùn)算處理,從而利用光電二極管PD2輸出的紅外成分,去除光電二極管PD1輸出之中的紅外成分,測定與能見度對應(yīng)的照度。
具有這種特性的光敏元件10,如圖10A~圖10D和圖11所示,安裝在玻璃環(huán)氧樹脂襯底15等上,通過固化實(shí)現(xiàn)粘結(jié)。光敏元件10的端子與金線13鍵合后,形成管殼,同時為了保護(hù)光敏元件10,利用透明環(huán)氧樹脂14進(jìn)行轉(zhuǎn)移模塑后,進(jìn)行分離。然后,光敏元件10在金屬化部16與外部電路連接。
因此,在這種光半導(dǎo)體器件中,因從光半導(dǎo)體器件側(cè)面、光敏元件的切割面入射的紅外光、在光敏元件內(nèi)的1000nm附近的紅外光的蔓延而產(chǎn)生載流子。結(jié)果,如圖8所示,光敏元件10在能見度峰值(500nm)以外,還有以1000nm為中心的900~1200nm其余紅外光成分的次峰值。亦即,由于已有的光半導(dǎo)體器件在能見度照度測定中傳感其余的紅外成分,所以不能測定與能見度對應(yīng)的照度。
總之,由于在這種紅外區(qū)具有峰值,所以作為能見度照度傳感所用的光半導(dǎo)體器件,產(chǎn)生了不適當(dāng)。例如,在室內(nèi)照明用的熒光燈和大致接近太陽光的A光源的兩種光源中進(jìn)行照度傳感。兩種光源的照度相同時,光輸出電流值本來無差異,光源比(A光源/熒光燈)是1倍。但是,在上述紅外區(qū)具有次峰值的特性的光半導(dǎo)體器件,在紅外區(qū)具有敏感度,通過傳感A光源的紅外區(qū)的成分,輸出電流值增大,從而使光源比劣化。而且,裝載光敏元件的襯底如果使用平坦且易于反射的材料(例如白色玻璃環(huán)氧樹脂襯底),則通過對來自襯底的光反射,紅外區(qū)的成分也被反射,光源比進(jìn)一步劣化。
如上所述,由于已有的光半導(dǎo)體器件具有在紅外區(qū)存在敏感度的特性,所以在應(yīng)用于利用能見度的照度傳感用途時,存在輸出還依賴于紅外光的問題。
發(fā)明的內(nèi)容因此,本發(fā)明的目的在于消除這種已有光半導(dǎo)體器件的缺點(diǎn),提供一種能夠抑制紅外區(qū)的敏感度,更高精度地控制光譜敏感度特性的光半導(dǎo)體器件。
一種光半導(dǎo)體器件,具備帶有光接受部的光敏元件,所述光接受部包括在可見光區(qū)具有峰值波長敏感度的第一光電二極管和在紅外區(qū)具有峰值波長敏感度的第二光電二極管,在p型襯底表面形成n型區(qū),在此n型區(qū)表面形成p型區(qū),所述第一光電二極管是設(shè)置在所述n型區(qū)與所述p型區(qū)的界面的;所述第二光電二極管是設(shè)置在所述p型襯底與所述n型區(qū)的界面的,其特征在于所述p型襯底的電阻率R是1≤R≤3(Ωcm)。
所述的光半導(dǎo)體器件,其特征在于,設(shè)所述光敏元件的芯片厚度為dc,則dc≤0.2mm。
所述的光半導(dǎo)體器件,其特征在于,設(shè)所述光半導(dǎo)體器件的封裝厚度為dp,則滿足dc/dp≤0.25。
一種光半導(dǎo)體器件,包括帶有光接受部的光敏元件,所述光接受部包括在可見光區(qū)具有峰值波長敏感度的第一光電二極管和在紅外區(qū)具有峰值波長敏感度的第二光電二極管;覆蓋所述光敏元件的透明樹脂;裝載所述光敏元件的安裝底盤;與外部電路連接的裝置;其特征在于,設(shè)所述安裝底盤的尺寸為tm,所述光敏元件的芯片尺寸為tc,Δt=(tm-tc)/2時,滿足0≤Δt≤0.1(mm)一種光半導(dǎo)體器件,具備光敏元件,所述光敏元件包括光接受部,其具有在可見光區(qū)具有峰值波長敏感度的第一光電二極管和在紅外區(qū)具有峰值波長敏感度的第二光電二極管;放大運(yùn)算處理電路,對來自所述第一光電二極管的輸出電流Ip1和來自所述第二光電二極管的輸出電流Ip2進(jìn)行放大·運(yùn)算處理及輸出;其特征在于,減法倍率系數(shù)為α,放大系數(shù)為β時,由Iout=β(Ip1-αIp2)
所獲得的來自所述放大運(yùn)算電路的輸出Iout中,減法倍率系數(shù)α為0.3≤α≤0.55。
所述的光半導(dǎo)體器件,其特征在于,所述光接受部的光接受面積S為S≤0.25mm2。
一種光半導(dǎo)體器件,具備帶有光接受部的光敏元件,所述光接受部包括在可見光區(qū)具有峰值波長敏感度的第一光電二極管和在紅外區(qū)具有峰值波長敏感度的第二光電二極管,在p型襯底表面形成n型區(qū),在此n型區(qū)表面形成p型區(qū),所述第一光電二極管是設(shè)置在所述n型區(qū)與所述p型區(qū)的界面的;所述第二光電二極管是設(shè)置在所述p型襯底與所述n型區(qū)的界面的,其特征在于,在所述光接受部上,通過蒸鍍折射率不同的多種膜,層疊形成濾光器,并且,所述p型襯底的電阻率R為1≤R≤3(Ωcm)。
所述的光半導(dǎo)體器件,其特征在于,設(shè)所述光敏元件的芯片厚度為dc,則dc≤0.2mm。
所述的光半導(dǎo)體器件,其特征在于,設(shè)所述光半導(dǎo)體器件的封裝厚度為dp,則滿足dc/dp≤0.25。
所述的光半導(dǎo)體器件,其特征在于,所述濾光器由二氧化鈦(TiO2)薄膜和二氧化硅(SiO2)薄膜交互層疊形成。
一種光半導(dǎo)體器件,具備光敏元件,所述光敏元件包括光接受部,包括在可見光區(qū)具有峰值波長敏感度的第一光電二極管和在紅外區(qū)具有峰值波長敏感度的第二光電二極管;放大運(yùn)算處理電路,對來自所述第一光電二極管的輸出電流Ip1和來自所述第二光電二極管的輸出電流Ip2進(jìn)行放大·運(yùn)算處理及輸出;
其特征在于,在所述光接受部上,通過蒸鍍折射率不同的多種膜,層疊形成濾光器,并且,減法倍率系數(shù)為α,放大系數(shù)為β時,由Iout=β(Ip1-αIp2)所獲得的來自所述放大運(yùn)算電路的輸出Iout中,減法倍率系數(shù)α為0.3≤α≤0.55。
所述的光半導(dǎo)體器件,其特征在于,所述濾光器由二氧化鈦(TiO2)薄膜和二氧化硅(SiO2)薄膜交互層疊形成。
根據(jù)本發(fā)明的光半導(dǎo)體器件,具備帶有光接受部的光敏元件,所述光接受部包括在可見光區(qū)具有峰值波長敏感度的第一光電二極管和在紅外區(qū)具有峰值波長敏感度的第二光電二極管,所述第一光電二極管是通過在p型襯底表面形成n型區(qū),在此n型區(qū)表面形成p型區(qū),設(shè)置在所述n型區(qū)與所述p型區(qū)的界面的;所述第二光電二極管是設(shè)置在所述p型襯底與所述n型區(qū)的界面的,其特征在于所述p型襯底的電阻率R是1≤R≤3(Ωcm)。
附圖的簡要說明圖1是本發(fā)明的實(shí)施例使用的PD1、PD2的剖面圖。
圖2是本發(fā)明的實(shí)施例使用的光敏元件的電路圖。
圖3是本發(fā)明的實(shí)施例使用的PD1、PD2的光譜敏感度特性圖。
圖4是本發(fā)明的實(shí)施例使用的一種光敏元件的俯視圖。
圖5A~圖5D是本發(fā)明的實(shí)施例的光半導(dǎo)體器件的結(jié)構(gòu)圖。
圖6A、圖6B是本發(fā)明的實(shí)施例的光半導(dǎo)體器件的平面圖和剖面圖。
圖7A、圖7B是本發(fā)明的實(shí)施例的光半導(dǎo)體器件的光譜敏感度特性圖。
圖8是已有的光半導(dǎo)體器件的光譜敏感度特性圖。
圖9展示了Si晶片中的光吸收深度對波長的依賴性。
圖10A~圖10D展示了已有的光半導(dǎo)體器件。
圖11展示了已有的光半導(dǎo)體器件。
圖12是在本發(fā)明的實(shí)施例中,將光接受部設(shè)置的濾光器構(gòu)成為薄膜層疊結(jié)構(gòu)時,光電二極管PD1、PD2的光譜敏感度特性圖。
發(fā)明實(shí)施例的詳細(xì)說明以下,參照圖1至圖8對本發(fā)明的實(shí)施例予以說明。
如圖1所示,在p型硅襯底1表面上形成n型區(qū)2、p型區(qū)3,形成具有PD14、PD25的光接受部。而且,在表面形成濾光器6。而且與這種光接受部同時還形成放大·運(yùn)算電路。如圖2所示,在該放大·運(yùn)算電路中,作為光接受部的PD1、PD2將光信號變換為電信號Ip1、Ip2,將這些電信號經(jīng)過初級放大電路、差分電路、運(yùn)算電路、放大電路從而輸出。而且,PD1、PD2的光譜敏感度特性與已有技術(shù)同樣地展示在圖3中。
如圖4所示,配置光接受部7、放大·運(yùn)算電路8、鍵合焊盤9,切割之后,形成光敏元件10。然后,如圖5A、圖5B的外觀圖、圖6A、圖6B的平面圖和剖面圖所示,將光敏元件10安置在安裝底盤(マウントベツド)12上,光敏元件10的端子與金屬引線框架11和金線13鍵合。之后,采用透明環(huán)氧樹脂14進(jìn)行模塑,形成保護(hù)光敏元件10的管殼,形成光半導(dǎo)體器件。而且,在露出的金屬制引線框架11的外引線處與外部電路連接。
在這種光半導(dǎo)體器件中,PD1、PD2的輸出電流為Ip1、Ip2,通過圖2所示的放大·運(yùn)算電路進(jìn)行運(yùn)算處理,全部輸出電流Iout如下;Iout=m×Ip1-n×(Ip1+Ip2)即如下所示Iout=β(Ip1-αIp2)α減法倍率系數(shù)(n/(m-n))β放大系數(shù)(m-n)
而且,放大系數(shù)β是根據(jù)要求的輸出電流而設(shè)定的值。光接受部的光接受面積S是0.1225mm2(0.35mm平方)。
對于如此形成的封裝A,以及將同樣的光敏元件安裝在玻璃環(huán)氧樹脂襯底、進(jìn)行轉(zhuǎn)移模塑的封裝B,求出減法倍率系數(shù)和改變p型硅襯底的電阻率時的光源比、以及與峰值強(qiáng)度對應(yīng)的紅外成分的峰值相對強(qiáng)度,如表1所列。
表1


以往,對減法倍率系數(shù)α未做任何考慮,即設(shè)α=1,但是通過將減法倍率系數(shù)α設(shè)定在如下范圍0.3≤α≤0.55可以降低光源比和紅外成分。而且,在光接受面積S在0.25mm2以下,0.0765≤S≤0.1225(mm2)時,該減法倍率系數(shù)α的范圍特別有效。
而且,以往出于作為光半導(dǎo)體器件可靠性的提高、長使用壽命化的目的,光敏元件的襯底是采用4~6Ωcm的高電阻率p型襯底。但是,在本實(shí)施例中,相反通過控制p型襯底的晶格缺陷數(shù)量、采用2~3Ωcm的低電阻率襯底,可以降低光源比和紅外成分。這樣,襯底電阻率R越低,就越要考慮光譜敏感度特性向比吸收帶隙更高的光子能量、即向短波長側(cè)偏移。
而且,為了降低光源比、紅外成分,襯底電阻率R越低越好。但是,如果襯底電阻率R小于1Ωcm,則不能起到PD的功能。另一方面,如果超過3Ωcm,則不能獲得充分的效果,所以以1~3Ωcm為好。
而且,通過調(diào)整p型雜質(zhì)的摻雜量,襯底的電阻率可以達(dá)到期望的值。
在同樣形成的光半導(dǎo)體器件中,如圖5所示,求出改變光敏元件的芯片厚度dc時的光源比、紅外成分的相對強(qiáng)度,如表2所列。另外,光半導(dǎo)體器件的封裝厚度dp是0.7mm,金屬引線框架的厚度是0.1~0.15mm。
表2


已有的光敏元件的芯片厚度dc經(jīng)過拋光為0.3mm,光半導(dǎo)體器件的封裝厚度dp約為0.55~0.7mm,與此對應(yīng),芯片厚度dc/封裝厚度dp(芯片厚度比)為40~55%左右。但是,通過使芯片厚度dc在0.2mm以下(現(xiàn)有的在0.05mm以上),可以降低光源比和紅外成分。芯片厚度比如果為dc/dp,則在0.25以下為好(現(xiàn)有的在0.07以上),在0.2以下更好。
通過將芯片厚度比(dc/dp)做到0.25以下,則可以防止因透明環(huán)氧樹脂14與光敏元件10以及金屬引線框架11之間的膨脹系數(shù)不同所產(chǎn)生的開裂。
再有,在同樣形成的光半導(dǎo)體器件(封裝A)中,求出裝載光敏元件的金屬引線框架的安裝底盤尺寸變化時的光源比、紅外成分的相對強(qiáng)度,如表3所列。這里,安裝底盤是引線框架裝載光敏元件3的部分,如圖6A以及相當(dāng)于圖6A的A-A處的剖面圖的圖6B所示,實(shí)質(zhì)上相當(dāng)于一邊長度的是安裝底盤尺寸tm。而且,芯片尺寸如果為tc,則Δt為Δt=(tm-tc)/2Δt相當(dāng)于光敏元件10裝載于安裝底盤12中央時,安裝底盤12的邊緣與光敏元件10的邊緣距離。而且,Δt隨位置而不同的情形,將其最大值作為Δt。芯片尺寸tc是1.1mm。
表3


這樣,通過使Δt在0.1mm以下,可以抑制光源比和紅外成分。這樣,由于要抑制包含來自安裝底盤的紅外成分的光的反射,所以理想的是使芯片尺寸tc和安裝底盤尺寸tm相等。再有,在安裝底盤12的周邊0.1mm以內(nèi)的范圍,不設(shè)置使光反射的物體更好。
而且,在這里,安裝底盤12作為金屬引線框架11的光敏元件裝載部分,但即是在BGA襯底等中也是同樣,具有同樣地抑制從光敏元件邊緣到安裝底盤邊緣的距離的效果。此時,襯底的安裝底盤12以外的區(qū)域,必須是不反射光的材料,顏色(黑色)是必要的。
再有,在本發(fā)明的實(shí)施例中,對芯片尺寸tc為1.1mm的情形進(jìn)行了說明,但即使芯片尺寸tc為1.1mm以下,如果Δt在0.1mm以下,則可以充分降低紅外成分。但是,Δt=0.1mm以下的情形,芯片尺寸大的情形能夠相對地降低紅外成分是不言而喻的。
在如此形成的光半導(dǎo)體器件中,測定光譜敏感度的結(jié)果如圖7A、圖7B所示。而且,圖7A是光譜敏感度特性圖,展示的是襯底電阻率R低(2~3Ωcm)的情形中,減法倍率系數(shù)α最佳化時(封裝B),對應(yīng)于波長的相對敏感度。圖7B是光譜敏感度特性圖,展示的是進(jìn)一步改善封裝,芯片厚度比、Δt最佳化時,對應(yīng)于波長的相對敏感度。
與圖8所示的已有光半導(dǎo)體器件(α=1,高襯底電阻率的封裝B)的光譜敏感度特性相比,可知圖7A、圖7B所示的光譜敏感度特性得以大幅度改善。特別是在圖7B中,得到在紅外區(qū)幾乎無敏感度殘存的良好光譜敏感度特性。雖然圖7A中在紅外區(qū)還殘存一定的敏感度,但是可以獲得良好的光譜敏感度特性,可知即使在封裝B中各參數(shù)的最佳化也是有效的。
而且,在封裝B中,印制襯底必須是不反射光的材料,顏色(黑色)是必要的。
即使在圖1所示的光接受部的結(jié)構(gòu)圖中,如果濾光器6具有阻斷紅外光線成分的特性,則可進(jìn)一步降低紅外區(qū)中的敏感度,獲得可更高精度地控制光譜敏感度特性的光半導(dǎo)體器件。
濾光器6例如是由高折射率的二氧化鈦(TiO2)薄膜和低折射率的二氧化硅(SiO2)薄膜交互層疊制成的。二氧化鈦薄膜和二氧化硅薄膜的厚度例如是0.24μm,每個交互75層,例如通過蒸鍍進(jìn)行層疊,制成全層有150層,總膜厚度為36μm的濾光器。
通過蒸鍍二氧化鈦和二氧化硅進(jìn)行層疊時的蒸鍍條件,例如是真空度為1Pa~2×10-4Pa,襯底溫度為120℃~350℃,使用電阻加熱或者電子槍作為蒸發(fā)源。
而且,作為濾光器6的全層疊膜的總數(shù),根據(jù)必要的特性在從50層到150層左右的范圍內(nèi)選擇。通過蒸鍍在光接受部直接形成這樣的層疊結(jié)構(gòu)的濾光器。
光接受部具有如上所述形成的層疊結(jié)構(gòu)的濾光器時,光電二極管PD1和光電二極管PD2所產(chǎn)生的光譜敏感度特性如圖12所示。光電二極管PD1的特性是B1,光電二極管PD2的特性是B2。這些特性B1、B2與圖3所示特性相比可知,在使用層疊結(jié)構(gòu)濾光器的情形,波長為650nm左右以上的波長時,光譜敏感度降低,波長在800nm以上時光譜敏感度接近為零,敏感度基本成為一定。
如上所述,如果在光接受部直接設(shè)置由折射率不同的薄膜交互層疊的濾光器,則無論光的入射范圍和入射角度如何,均可獲得更良好的光譜敏感度特性。
如果在光接受部通過蒸鍍設(shè)置該層疊結(jié)構(gòu)的濾光器,則在布線襯底上通過回流焊進(jìn)行表面安裝時,因焊接時產(chǎn)生的熱量導(dǎo)致的剝離、或者固定部分老化的危險(xiǎn)很小,可以獲得可靠性高的光半導(dǎo)體器件。
根據(jù)本發(fā)明,可以提供能夠抑制紅外區(qū)的敏感度、更高精度地控制光譜敏感度特性的光半導(dǎo)體器件。
權(quán)利要求
1.一種光半導(dǎo)體器件,具備帶有光接受部的光敏元件,所述光接受部包括在可見光區(qū)具有峰值波長敏感度的第一光電二極管和在紅外區(qū)具有峰值波長敏感度的第二光電二極管,在p型襯底表面形成n型區(qū),在此n型區(qū)表面形成p型區(qū),所述第一光電二極管是設(shè)置在所述n型區(qū)與所述p型區(qū)的界面的;所述第二光電二極管是設(shè)置在所述p型襯底與所述n型區(qū)的界面的,其特征在于所述p型襯底的電阻率R是1≤R≤3(Ωcm)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的光半導(dǎo)體器件,其特征在于,設(shè)所述光敏元件的芯片厚度為dc,則dc≤0.2mm。
3.根據(jù)權(quán)利要求2的光半導(dǎo)體器件,其特征在于,設(shè)所述光半導(dǎo)體器件的封裝厚度為dp,則滿足dc/dp≤0.25。
4.一種光半導(dǎo)體器件,包括帶有光接受部的光敏元件,所述光接受部包括在可見光區(qū)具有峰值波長敏感度的第一光電二極管和在紅外區(qū)具有峰值波長敏感度的第二光電二極管;覆蓋所述光敏元件的透明樹脂;裝載所述光敏元件的安裝底盤;與外部電路連接的裝置;其特征在于,設(shè)所述安裝底盤的尺寸為tm,所述光敏元件的芯片尺寸為tc,Δt=(tm-tc)/2時,滿足0≤Δt≤0.1(mm)
5.一種光半導(dǎo)體器件,具備光敏元件,所述光敏元件包括光接受部,其具有在可見光區(qū)具有峰值波長敏感度的第一光電二極管和在紅外區(qū)具有峰值波長敏感度的第二光電二極管;放大運(yùn)算處理電路,對來自所述第一光電二極管的輸出電流Ip1和來自所述第二光電二極管的輸出電流Ip2進(jìn)行放大·運(yùn)算處理及輸出;其特征在于,減法倍率系數(shù)為α,放大系數(shù)為β時,由Iout=β(Ip1-αIp2)所獲得的來自所述放大運(yùn)算電路的輸出Iout中,減法倍率系數(shù)α為0.3≤α≤0.55。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)的光半導(dǎo)體器件,其特征在于,所述光接受部的光接受面積S為S≤0.25mm2。
7.一種光半導(dǎo)體器件,具備帶有光接受部的光敏元件,所述光接受部包括在可見光區(qū)具有峰值波長敏感度的第一光電二極管和在紅外區(qū)具有峰值波長敏感度的第二光電二極管,在p型襯底表面形成n型區(qū),在此n型區(qū)表面形成p型區(qū),所述第一光電二極管是設(shè)置在所述n型區(qū)與所述p型區(qū)的界面的;所述第二光電二極管是設(shè)置在所述p型襯底與所述n型區(qū)的界面的,其特征在于,在所述光接受部上,通過蒸鍍折射率不同的多種膜,層疊形成濾光器,并且,所述p型襯底的電阻率R為1≤R≤3(Ωcm)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7的光半導(dǎo)體器件,其特征在于,設(shè)所述光敏元件的芯片厚度為dc,則dc≤0.2mm。
9.根據(jù)權(quán)利要求8的光半導(dǎo)體器件,其特征在于,設(shè)所述光半導(dǎo)體器件的封裝厚度為dp,則滿足dc/dp≤0.25。
10.根據(jù)權(quán)利要求9的光半導(dǎo)體器件,其特征在于,所述濾光器由二氧化鈦(TiO2)薄膜和二氧化硅(SiO2)薄膜交互層疊形成。
11.一種光半導(dǎo)體器件,具備光敏元件,所述光敏元件包括光接受部,包括在可見光區(qū)具有峰值波長敏感度的第一光電二極管和在紅外區(qū)具有峰值波長敏感度的第二光電二極管;放大運(yùn)算處理電路,對來自所述第一光電二極管的輸出電流Ip1和來自所述第二光電二極管的輸出電流Ip2進(jìn)行放大·運(yùn)算處理及輸出;其特征在于,在所述光接受部上,通過蒸鍍折射率不同的多種膜,層疊形成濾光器,并且,減法倍率系數(shù)為α,放大系數(shù)為β時,由Iout=β(Ip1-αIp2)所獲得的來自所述放大運(yùn)算電路的輸出Iout中,減法倍率系數(shù)α為0.3≤α≤0.55。
12.根據(jù)權(quán)利要求11的光半導(dǎo)體器件,其特征在于,所述濾光器由二氧化鈦(TiO2)薄膜和二氧化硅(SiO2)薄膜交互層疊形成。
全文摘要
一種光半導(dǎo)體器件,具備光敏元件(10),帶有在可見光區(qū)和紅外區(qū)分別具有峰值波長敏感度的兩個光電二極管的光接受部(7),和對各個輸出進(jìn)行放大·運(yùn)算處理的放大運(yùn)算處理電路(8),光接受部(7)的襯底電阻率、與封裝厚度對應(yīng)的芯片厚度比、從光敏元件邊緣到安裝底盤邊緣的距離和放大運(yùn)算處理中的減法倍率系數(shù)(α)得以最佳化。
文檔編號H01L31/02GK1449059SQ0310861
公開日2003年10月15日 申請日期2003年3月31日 優(yōu)先權(quán)日2002年3月29日
發(fā)明者小川功, 巖崎隆, 藤野吉嗣 申請人:株式會社東芝
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