專利名稱：Ic實驗裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種IC實驗裝置及IC實驗裝置的誤動作防止方法，該IC試驗裝置用于試驗由半導(dǎo)體集成電路(以下稱為IC)構(gòu)成的半導(dǎo)體器件如存儲IC、邏輯IC等。
現(xiàn)有IC試驗裝置之一例的概略結(jié)構(gòu)如圖2所示。如圖所示，IC試驗裝置大體上分，由IC試驗器100及信息處理器400構(gòu)成，其中，IC試驗器100產(chǎn)生外加于被試驗IC的試驗圖形信號、地址信號、控制信號、期待值信號等，并根據(jù)自被試驗IC讀出的應(yīng)答輸出信號判定被試驗IC的優(yōu)劣；信息處理器400將被試驗IC自輸入器部向試驗部搬送，并使其與IC插座電接觸，試驗結(jié)束后，將已試驗IC從試驗部向卸載器部搬出，在該卸載器部，根據(jù)試驗結(jié)果將已試驗IC分類。
IC試驗器100包括以電纜KB1相互電連接的另體的試驗頭200，在例示的IC試驗裝置中，該試驗頭200配置于信息處理器400的試驗部下部的規(guī)定的位置上。試驗頭200通常包括激勵器群和比較電路儀群，其中，激勵器群用于將在IC試驗器100產(chǎn)生的試驗圖形信號或地址信號外加于被試驗IC；比較儀群將由被試驗IC讀出的應(yīng)答輸出信號與期待值信號比較；來自比較儀群的輸出信號通過電纜KB1被送往IC試驗器100。
在試驗頭200的上部可拆裝地安裝有和使試驗頭內(nèi)的激勵器群及比較儀群與被試驗IC的引線端子電接觸的IC插座SK之間電連接的被稱作測定部的部件(以下單稱為測定部)300。規(guī)定個數(shù)的IC插座SK安裝于該測定部300的上面，配置于信息處理器400的試驗部。
信息處理器400將被試驗IC搬送到該試驗部后，使其與IC插座SK接觸，使IC試驗器100通過電纜KB1、試驗頭200、測定部300及IC插座SK將規(guī)定的試驗圖形信號外加于被試驗IC上，從而進(jìn)行被試驗IC的試驗。試驗結(jié)束的已試驗IC由信息處理器400從IC插座SK取下，由試驗部向卸載器部搬送。
IC試驗器100按照存儲在主控制器101里的試驗程序而動作，通過裝在測定部300的IC插座對被試驗IC進(jìn)行試驗。也就是說，從IC試驗器100通過電纜KB1、試驗頭200、測定部300將試驗圖形信號外加到和IC插座接觸的被試驗IC上，通過測定部300將其應(yīng)答信號送入試驗頭200，由該試驗頭200內(nèi)部的比較儀群比較被試驗IC的應(yīng)答信號和由IC試驗器100供給的期待值信號，通過電纜KB1將其比較結(jié)果傳送到IC試驗器100。IC試驗器100根據(jù)應(yīng)答信號和期待值信號的比較結(jié)果，進(jìn)行特定被試驗IC的不良區(qū)域等的判定動作。
下面，就為什么將測定部300可拆裝地安裝于試驗頭200進(jìn)行說明。
被試驗IC的品種有很多種。因此，在試驗例如插腳數(shù)不同的IC時，必須更換到裝有適合于各IC的IC插座的測定部300。
另外，IC的插腳數(shù)由于因IC的品種不同而從數(shù)十個插腳到數(shù)百個插腳不同，所以可一次試驗的IC數(shù)、即，可同時測定的IC數(shù)[下面稱為同測數(shù)(number of sim ultaneous tests)]會大幅度變動。具體地說明如下，從IC試驗器100可將試驗圖形信號、或電源電壓、器件控制信號等供給被試驗IC的信道數(shù)一般地準(zhǔn)備有1000信道左右、具體地為1024信道。將這1024信道的信號路徑適當(dāng)?shù)胤峙涞礁鱅C插座SK而進(jìn)行試驗。為此，試驗插腳數(shù)少的IC時可增多同測數(shù)，但，試驗插腳數(shù)到數(shù)百插腳的IC時，同測數(shù)就不得不減少。
根據(jù)以上理由，就要準(zhǔn)備裝有各種插腳數(shù)的IC插座的測定部300，根據(jù)被試驗IC的品種(規(guī)格)將這些測定部300裝入試驗頭200，試驗品種(規(guī)格)不同的IC。
圖3A至圖9顯示各種型號的測定部的例子。圖3A、圖3B及圖3C為分別顯示稱作型號No.5(TYPE＝5)的測定部300的結(jié)構(gòu)的平面圖。另外，在圖3A至圖9的各圖中，用測定部300內(nèi)的虛線顯示的方形表示IC插座SK的安裝位置，其內(nèi)部附有的數(shù)字表示附于各IC插座SK(也對應(yīng)于與各IC插座SK接觸的被試驗IC的序號)的序號。
圖3A表示同測數(shù)SUM為32個(SUM＝32)，IC插座SK以4行(row)×8列(column)(下面記作4×8)排列著的測定部300，圖3B表示同測數(shù)SUM為16個(SUM＝16)，IC插座SK以4×4排列著的測定部300，圖3C表示同測數(shù)SUM為8個(SUM＝8)，IC插座SK以4×2排列著的測定部300。另外，在圖3B圖及圖3C中，附有0的部分表示IC插座SK不存在。作為圖3A、圖3B及圖3C所示的TYPE＝5的測定部300的特征的共同項目為IC插座SK全部以4行配置和將IC插座SK的序號布置于橫向(horitontaldireation)這兩點。
與此相對，圖4A、圖4B以及圖4C為分別顯示稱作型號No.4(TYPE＝4)的測定部300的結(jié)構(gòu)的平面圖。圖4A表示同測數(shù)SUM為32個(SUM＝32)，IC插座SK以4×8排列的測定部300，圖4B表示同測數(shù)SUM為16個(SUM＝16)，IC插座SK以4×4排列著的測定部300，圖4C表示同測數(shù)SUM為8個(SUM＝8)，IC插座SK以4×2排列著的測定部300。和圖3A、圖3B、圖3C所示的TYPE＝5的測定部的不同點在于在TYPE＝4的測定部將IC插座SK的序號布置于縱向(vertical direction)。另外，IC插座SK的序號的布置由各用戶的希望而決定，沒有技術(shù)性差異。
圖5為表示稱作型號No.3(TYPE＝3)的測定部300的結(jié)構(gòu)的平面圖。該TYPE＝3的測定部300同測數(shù)SUM為8個(SUM＝8)，IC插座SK以2×4排列。該TYPE＝3的測定部300特征在于IC插座SK的安裝位置和序號布置為交錯狀，只有圖5所示的1種。
圖6A、圖6B以及圖6C為分別表示稱作型號No.2(TYPE＝2)的測定部300的結(jié)構(gòu)的平面圖。圖6A表示同測數(shù)SUM為16個(SUM＝16)，IC插座SK以2×8排列著的測定部300，圖6B表示同測數(shù)SUM為8個，IC插座SK以2×4排列著的測定部300，圖6C表示同測數(shù)SUM為4個(SUM＝4)，IC插座SK以2×2排列著的測定部300。在TYPE＝2的測定部300，IC插座SK的序號的布置全部為橫向。
圖7A、圖7B以及圖7C為分別表示稱作型號No.1(TYPE＝1)的測定部300的結(jié)構(gòu)的平面圖。圖7A表示同測數(shù)SUM為16個(SUM＝16)，IC插座SK以2×8排列著的測定部300，圖7B表示同測數(shù)SUM為8個(SUM＝8)，IC插座SK以2×4排列著的測定部300，圖7C表示同測數(shù)SUM為4個(SUM＝4)，IC插座SK以2×2排列著的測定部300。在該TYPE＝1的測定部300，IC插座SK的序號的布置全部在縱向。
圖8及圖9表示特殊的測定部例。圖8表示稱作型號No.6(TYPE＝6)的測定部300，同測數(shù)SUM為8個(SUM＝8)，IC插座SK以橫向1行(1×8)排列著。
圖9表示稱作型號No.7(TYPE＝7)的測定部300，同測數(shù)SUM為16個(SUM＝16)，IC插座SK以橫向2行(2×8)排列著。
這樣，測定部300備有各種型號，使這些各型號的測定部300對應(yīng)被試驗IC的品種而選擇安裝于試驗頭200，進(jìn)行被試驗IC的試驗。
開始試驗被試驗IC前的預(yù)準(zhǔn)備事項如下。
(1)選擇裝載有與被試驗IC的插腳數(shù)一致的IC插座SK的測定部300，裝入試驗頭200。
(2)IC試驗器100的主控制器101(參照圖2)上，裝入有試驗程序，該試驗程序按安裝的測定部300的型號對被試驗IC分配序號，具有識別被試驗IC的功能。
(3)為了在信息處理器400進(jìn)行按安裝的測定部300的型號將被試驗IC送入IC插座SK的動作，將IC插座SK的排列4×8，4×4，4×2…等設(shè)定于信息處理器400的設(shè)定器401(參照圖2)。
進(jìn)行以上的準(zhǔn)備后，進(jìn)行被試驗IC的試驗，目前由于沒有辦法確認(rèn)試驗頭200上安裝著哪種型號的測定部300，所以，更換測定部300時，操作者必須無誤地對IC試驗器100進(jìn)行所述(2)的操作，并對信息處理器400進(jìn)行所述(3)的操作。
若操作者不進(jìn)行這些操作，試驗就不能正常地進(jìn)行，最壞的時候，會使信息處理器400的IC供給機構(gòu)或者安裝在測定部300的IC插座SK等破損。而且，由于誤認(rèn)IC插座SK的序號，在卸載器部根據(jù)試驗結(jié)果對已試驗IC進(jìn)行分類時，會產(chǎn)生錯誤分類這樣的重大事故等不良情況。
本發(fā)明的目的之一在于提供一種可防止根據(jù)操作者的誤操作所引起的誤動作的IC試驗裝置以及IC試驗裝置誤動作的防止方法。
本發(fā)明的另一目的是提供一種IC試驗裝置及IC試驗裝置的誤動作防止方法，使得在對應(yīng)于裝在試驗頭上的測定部的操作不進(jìn)行時，不進(jìn)行試驗。
本發(fā)明的再一目的是提供一種IC試驗裝置及IC試驗裝置的誤動作防止方法，使得在將某種型號的測定部裝在試驗頭上后，只要不對IC試驗器及信息處理器進(jìn)行與該型號的測定部對應(yīng)的操作，IC試驗器就不起動。
為了實現(xiàn)所述目的，本發(fā)明的第一方面，提供一種IC試驗裝置，在具有IC試驗器和信息處理器的IC試驗裝置中具有型號信號發(fā)信機構(gòu)，它設(shè)在測定部，將表示裝有IC插座的該測定部的型號的型號信號發(fā)出；型號信號接收機構(gòu)，設(shè)在所述IC試驗器上，接收表示所述測定部的型號的型號信號；至少將所述接收的型號信號傳送到所述信息處理器的機構(gòu)；判定機構(gòu)，設(shè)在所述信息處理器上，根據(jù)由所述IC試驗器傳來的型號信號，判定是否將正確的測定部型號設(shè)定在了所述信息處理器上；將表示由所述判定機構(gòu)輸出的判定結(jié)果的電信號傳送到所述IC試驗器的機構(gòu)；起動·停止控制機構(gòu)，在由所述信息處理器傳來的、表示判定結(jié)果的電信號為表示信息處理器設(shè)定不良的電信號時，阻止所述IC試驗器的起動。
所述測定部可拆卸地裝在試驗頭上；所述IC試驗器通過所述試驗頭、所述測定部及所述IC插座將試驗圖形信號外加在被試驗IC上，同時，自該被試驗IC讀出應(yīng)答信號，比較該應(yīng)答信號和期待值信號，判定被試驗IC的優(yōu)劣；所述信息處理器將被試驗IC搬送到所述測定部，并將試驗結(jié)束后的已試驗IC從所述測定部搬出，根據(jù)試驗結(jié)果將已試驗IC分類。
在優(yōu)選的一實施例中，所述IC試驗器將所述型號信號和IC的同測數(shù)傳送到所述信息處理器，其中，IC的同測數(shù)為由該IC試驗器存儲的試驗程序指定的、同時測定IC的個數(shù)；所述信息處理器的判定機構(gòu)根據(jù)由所述IC試驗器傳來的所述型號信號及同測數(shù)，判定正確的測定部的型號是否設(shè)定在了該信息處理器上及正確的試驗程序是否存儲在了所述IC試驗器上，正確時輸出優(yōu)良信號，不正確時輸出不良信號；所述IC試驗器包括在所述判定機構(gòu)的判定輸出全部為優(yōu)良信號時產(chǎn)生IC試驗器的起動命令，在所述制定機構(gòu)的判定輸出至少1個為不良信號時產(chǎn)生阻止IC試驗器起動的起動停止命令的起動·停止控制機構(gòu)。
在所述信息處理器上設(shè)定有裝在所述試驗頭上的測定部的IC插座的排列，所述信息處理器的判定機構(gòu)根據(jù)由所述IC試驗器傳送來的所述型號信號及同測數(shù)判定設(shè)定在該信息處理器上的IC插座的排列與裝在所述測定部的IC插座的排列是否一致。
在一具體例中，所述信息處理器具有可由型號信號和同測數(shù)特定裝在所述測定部的IC插座的排列的參照表，所述信息處理器的判定機構(gòu)由自所述IC試驗器傳送來的所述型號信號和同測數(shù)，使用所述參照表特定裝在所述試驗頭的測定部的IC插座的排列，判定設(shè)定在該信息處理器的IC插座的排列與裝在所述測定部的IC插座的排列是否一致。
另外，所述信息處理器的判定機構(gòu)在由于所述參照表不存在由所述IC試驗器傳送來的所述型號信號和同測數(shù)的對應(yīng)關(guān)系，而不能特定裝在所述試驗頭上的測定部的IC插座的排列時，判定存儲在所述IC試驗器的試驗程序為不正確。
在一變形例中，所述IC試驗器根據(jù)接收的所述型號信號和由存儲在該IC試驗器的試驗程序指定的IC的同測數(shù)判定所述測定部的型號、所述測定部的IC插座的排列及同測數(shù)是否與所述試驗程序?qū)?yīng)，在對應(yīng)關(guān)系一致時，將所述IC插座的排列傳送到所述信息處理器；所述信息處理器的判定機構(gòu)判定自所述IC試驗器傳來的所述IC插座的排列和設(shè)定在該信息處理器的IC插座的排列是否一致。
本發(fā)明第二方面提供一種IC試驗裝置的誤動作防止方法，其中IC試驗裝置具有IC試驗器和信息處理器，該方法包括下述步驟將表示裝有IC插座的測定部的型號的型號信號自該測定部發(fā)出的步驟；由所述IC試驗器接收所述型號信號的步驟；至少將所述接收的型號信號傳送到所述信息處理器的步驟；根據(jù)由所述IC試驗器傳來的型號信號，判定是否將正確的測定部型號設(shè)定在了所述信息處理器上的步驟；將表示判定結(jié)果的電信號傳送到所述IC試驗器的步驟；在表示所述判定結(jié)果的電信號為表示信息處理器設(shè)定不良的電信號時，阻止所述IC試驗器的起動的步驟。
所述判定的步驟根據(jù)自所述IC試驗器傳送來的所述型號信號，判定設(shè)定在所述信息處理器的IC插座的排列與裝在所述測定部的IC插座的排列是否一致。
在優(yōu)選的一實施例中，將所述型號信號傳送到所述信息處理器的步驟包括將同測數(shù)和所述型號信號一起傳送到所述信息處理器的步驟，其中同測數(shù)為由所述IC試驗器存儲的試驗程序指定的、同時測定IC的個數(shù)；所述判定步驟包括根據(jù)由所述IC試驗器傳來的所述型號信號及同測數(shù)，判定正確的測定部的型號是否設(shè)定在了所述信息處理器上及正確的試驗程序是否存儲在了所述IC試驗器上，正確時輸出優(yōu)良信號，不正確時輸出不良信號的步驟；阻止所述IC試驗器起動的步驟包括在所述判定步驟輸出的信號全部為優(yōu)良信號時產(chǎn)生所述IC試驗器的起動命令，在至少一個為不良信號時，產(chǎn)生阻止所述IC試驗器起動的起動停止命令的步驟。
判定是否將正確的測定部型號設(shè)定在了所述信息處理器上的步驟根據(jù)由所述IC試驗器傳送來的所述型號信號及同測數(shù)判定設(shè)定在所述信息處理器上的IC插座的排列與裝在所述測定部的IC插座的排列是否一致。
在一具體例中，判定是否將正確的測定部型號設(shè)定在了所述信息處理器上的步驟使用可由型號信號和同測數(shù)特定裝在所述測定部的IC插座的排列的參照表，由自所述IC試驗器傳送來的所述型號信號和同測數(shù)，特定所述測定部的IC插座的排列，判定設(shè)定在所述信息處理器的IC插座的排列與裝在所述測定部的IC插座的排列是否一致。
判定正確的試驗程序是否存儲在了所述IC試驗器上的步驟在由于所述參照表不存在與由所述IC試驗器傳送來的所述型號信號和同測數(shù)的對應(yīng)關(guān)系，而不能特定所述測定部的IC插座的排列時，判定存儲在所述IC試驗器的試驗程序為不正確。
在一變形例中，還包括下述步驟，該步驟由所述IC試驗器根據(jù)接收的所述型號信號和由存儲在該IC試驗器的試驗程序指定的IC的同測數(shù)判定所述測定部的型號、所述測定部的IC插座的排列及同測數(shù)是否與所述試驗程序?qū)?yīng)，在對應(yīng)關(guān)系一致時，將所述IC插座的排列傳送到所述信息處理器；所述判定步驟判定自所述IC試驗器傳來的所述IC插座的排列和設(shè)定在所述信息處理器的IC插座的排列是否一致。
根據(jù)所述本發(fā)明的結(jié)構(gòu)，只要不伴隨著測定部的更換正規(guī)地進(jìn)行對IC試驗器及信息處理器的操作，判定機構(gòu)就不判定為優(yōu)良，故不會在該操作的情況下使IC試驗器起動。
因此，不會發(fā)生在誤操作的情況下進(jìn)行試驗而使信息處理器破損的事故，也不會發(fā)生錯認(rèn)試驗結(jié)果而將已試驗IC分類的事故。因此，可提供容易操作，且可靠性高的IC試驗裝置。
附圖的簡要說明如下

圖1為表示本發(fā)明的IC試驗裝置的一實施例的方塊圖；圖2為表示現(xiàn)有的IC試驗裝置的一例的方塊圖；圖3A、圖3B、圖3C為用于說明用于IC試驗裝置的測定部的型號之一的圖；圖4、圖4B、圖4C為用于說明測定部的其他型號的圖；圖5為用于說明測定部的其他型號的圖；圖6A、圖6B、圖6C為用于說明測定部的其他型號的圖；圖7A、圖7B、圖7C為用于說明測定部的其他型號的圖；圖8為用于說明測定部的其他型號的圖；圖9為用于說明測定部的其他型號的圖。
下面參照圖1及表1詳細(xì)說明本發(fā)明的優(yōu)選實施例，其中表1為用于圖1所示的IC試驗裝置的參照表之一例。另外，為了使說明簡單，在圖1中，對與圖2對應(yīng)的部分或構(gòu)件使用同一符號進(jìn)行表示，只要沒必要就省略其說明。
表1
圖1是表示本發(fā)明的IC試驗裝置之一實施例的方塊圖。在本實施例中，在要裝于試驗頭200的各測定部300，設(shè)有將其裝在試驗頭200上時發(fā)出表示該測定部的型號(TYPE)的電信號的型號信號發(fā)信器301。該型號信號發(fā)信器301可以使用例如如下結(jié)構(gòu)的接點信號發(fā)信器，該接點信號發(fā)信器利用使用磁傾角開關(guān)(DIPswith裝入DIP型的IC組件的開關(guān))的設(shè)定器或端子板上的跨接線的連接發(fā)出由H邏輯信號和L邏輯信號構(gòu)成的多位邏輯信號，利用該多位邏輯信號將測定部300的型號NO作為電信號發(fā)出。
裝在各測定部300的型號信號發(fā)信器301通過將特定的1個測定部300裝在試驗頭200上，和IC插座SK一起電連接于試驗頭200上，進(jìn)而，通過電纜KB1電連接于設(shè)在IC試驗器100的型號信號讀入器102上。該型號信號讀入器102讀入由裝在測定部300的型號信號發(fā)信器301發(fā)出的型號信號TYPE。型號信號讀入器102將讀入的型號信號TYPE送到傳送裝置103。
IC試驗器100的主控制器101預(yù)先輸入有試驗程序，從該試驗程序抽出設(shè)定在該試驗程序的同測數(shù)SUM并輸入傳送裝置103。輸入傳送裝置103的同測數(shù)SUM和型號信號TYPE一起通過電纜KB2被傳送到信息處理器400。
在本實施例中，在信息處理器400除設(shè)定器401外，還設(shè)有判定裝置402、參照表403即表1所示的參照表、返送器404及警報發(fā)生器405。由IC試驗器100送來的型號信號TYPE和同測數(shù)SUM被輸入信息處理器400的判定裝置402。
判定裝置402參照表1所示的參照表，由輸入的型號信號TYPE和同測數(shù)SUM特定裝在試驗頭200的測定部300的IC插座SK的排列。
若具體地說明，則參照表如表1所示，以對應(yīng)關(guān)系存儲有型號信號TYPE和同測數(shù)SUM，當(dāng)決定型號信號TYPE和同測數(shù)SUM時，可從該參照表讀取IC插座SK的排列。
例如，在型號信號TYPE為TYPE＝1，同測數(shù)SUM為SUM＝16時，IC插座SK由表1可知，被特定為2×8(2行×8列)的排列。其結(jié)果，可特定它為圖7A所示的測定部的結(jié)構(gòu)。
在型號信號TYPE為TYPE＝4，同測數(shù)SUM為SUM＝32時，IC插座SK由表1可知，被特定為4×8(4行×8列)的排列，其結(jié)果，可特定它為圖4A所示的測定部的結(jié)構(gòu)。
在型號信號TYPE為TYPE＝5，同測數(shù)SUM為SUM＝8時，IC插座SK由表1可知，被特定為4×2(4行×2列)的排列。其結(jié)果，可特定它為圖3C所示的測定部的結(jié)構(gòu)。
這樣，通過由IC試驗器100送來型號信號TYPE和同測數(shù)SUM，在信息處理器400側(cè)可以特定裝在試驗頭200的測定部300的IC插座SK的排列。因此，通過比較由表1所示的參照表特定的IC插座SK的排列和設(shè)定于信息處理器400的設(shè)定器401的IC插座的排列可以判定設(shè)定在信息處理器400的IC插座的排列和實際安裝的測定部300的IC插座的排列是否一致。
進(jìn)而，在表1所示的參照表不存在由IC試驗器100向信息處理器400送來的型號信號TYPE和同測數(shù)SUM的對應(yīng)關(guān)系時，就可以判明預(yù)先輸入IC試驗器100的主控制器101的試驗程序和裝在試驗頭200的測定部300的型號不對應(yīng)。也就是說，在雖然型號信號TYPE為TYPE＝4或5，而由試驗程序抽出的同測數(shù)SUM為SUM＝4或2時，對應(yīng)于TYPE＝4或5的同測數(shù)在表1所示的參照表不存在，故可以判定輸入IC試驗器100的主控制器101的試驗程序不正確。
因此，在信息處理器側(cè)就可以進(jìn)行設(shè)定在該信息處理器400的設(shè)定器401的IC插座的排列與實際安裝的測定部300的IC插座的排列是否一致的判定及輸入IC試驗器100的主控制器101的試驗程序是否正確的判定。
所述判定在信息處理器400的判定裝置402進(jìn)行，該判定裝置402的判定結(jié)果被供給到警報發(fā)生器405，并通過返送器404及電纜KB3送到設(shè)在IC試驗器100的起動·停止控制器104。該起動·停止控制器104當(dāng)從信息處理器400送來表示設(shè)定在信息處理器400的IC插座的排列和測定部300的IC插座的排列一致(即表示信息處理器的設(shè)定正確)的設(shè)定良好信號OK時，發(fā)出起動命令(起動信號)，并把它傳給主控制器101，使試驗開始。
與此相對，在信息處理器400的判定裝置402發(fā)生表示設(shè)定于信息處理器400上的IC插座的排列和測定部300的IC插座的排列不一致(即顯示信息處理器的設(shè)定錯誤)這樣的設(shè)定不良信號NG時，信息處理器400的警報發(fā)生器405被起動而產(chǎn)生警報，同時，IC試驗器100的起動·停止控制器104發(fā)出起動停止命令(起動停止信號)，并將該命令傳給主控制器101，通知信息處理器400的設(shè)定錯誤。這樣，主控制器101阻止起動，因而，IC試驗器100不能開始試驗。同時，主控制器101使顯示器105顯示信息處理器的設(shè)定不良。另外，也可以根據(jù)需要起動IC試驗器100的警報發(fā)生器106使其發(fā)出警報。
另外，在所述實施例中，對于型號No.1、No.2、No.4及No.5的測定部分別由1個型號信號(TYPE＝1、2、4或5)總稱3個種類的測定部，但若型號信號發(fā)生器301的可發(fā)信的位數(shù)有空余，也可以對所有的型號(TYPE)的測定部給予型號No。這樣，在對所有的型號的測定部給予型號No時，在IC試驗器100上可以判定測定部300的型號No和IC插座的排列和同測數(shù)SUM之全部是否和試驗程序相對應(yīng)。
這種情況下，在IC試驗器100側(cè)，判定測定部300和試驗程序的對應(yīng)關(guān)系是否相一致，如果其判定結(jié)果為優(yōu)良，則將IC插座的排列傳送到信息處理器400，在信息處理器400側(cè)只要比較設(shè)定于該信息處理器400的IC插座的排列和由IC試驗器100送來的插座排列，便可進(jìn)行雙重判定，可進(jìn)一步提高可靠度。
由以上說明可知，根據(jù)本發(fā)明，對應(yīng)被試驗IC的品種的變更而更換安裝于試驗頭的測定部時，由于各測定部具有型號信號發(fā)信機構(gòu)，所以，可從安裝的測定部發(fā)出型號信號并讀取該信號。并且，通過將該型號信號和從試驗程序中抽出的同測數(shù)傳送到信息處理器，在信息處理器側(cè)由型號信號和同測數(shù)根據(jù)參照表可知道安裝于試驗頭的測定部的IC插座的排列。因此，在信息處理器側(cè)可判定由該參照表讀取的IC插座的排列和設(shè)定于信息處理器的設(shè)定器的IC插座的排列是否一致，所以，能夠判定設(shè)定于信息處理器的IC插座的排列是否正確。
另外，在由IC試驗器送到信息處理器的同側(cè)數(shù)為不存在于型號信號的數(shù)值時，因這意味著輸入試驗器的試驗程序與裝于試驗頭的測定部的型號不適合，所以，也可以判定IC試驗器的主控制器上是否輸入有正確的程序。
而且，只要所述判定結(jié)果全部為優(yōu)良，則IC試驗器被起動，開始試驗，但在所述判定結(jié)果有即使是1個不良時，由于IC試驗器阻止該起動，所以不會產(chǎn)生誤動作。
這樣，根據(jù)本發(fā)明，在誤設(shè)定情況下IC試驗器被起動而使信息處理器的結(jié)構(gòu)部分破損、或使IC誤分類等事故不會發(fā)生，所以具有可以提供操作容易、且可靠性高的IC試驗裝置的顯著的優(yōu)點。
以上，雖然就圖示本發(fā)明的優(yōu)選實施例進(jìn)行了敘述，但，本領(lǐng)域的技術(shù)人員很清楚，在本發(fā)明的要旨范圍內(nèi)，對所述的實施例可以進(jìn)行各種變形、變更及改良。因此，本發(fā)明不限于例示的實施例，還包括由權(quán)利要求書所限定的本發(fā)明范圍內(nèi)的所有變形、變更及改良。
權(quán)利要求
1.一種IC試驗裝置，具有IC試驗器和信息處理器，其特征在于，所述IC試驗裝置包括型號信號發(fā)信機構(gòu)，它設(shè)在測定部，將表示裝有IC插座的該測定部的型號的型號信號發(fā)出；型號信號接收機構(gòu)，設(shè)在所述IC試驗器上，接收表示所述測定部的型號的型號信號；至少將所述接收的型號信號傳送到所述信息處理器的機構(gòu)；判定機構(gòu)，設(shè)在所述信息處理器上，根據(jù)由所述IC試驗器傳來的型號信號，判定是否將正確的測定部型號設(shè)定在了所述信息處理器上；將表示由所述判定機構(gòu)輸出的判定結(jié)果的電信號傳送到所述IC試驗器的機構(gòu)；起動·停止控制機構(gòu)，在由所述信息處理器傳來的、表示判定結(jié)果的電信號為表示信息處理器設(shè)定不良的電信號時，阻止所述IC試驗器的起動。
2.如權(quán)利要求1所述的IC試驗裝置，其特征在于所述測定部可拆卸地裝在試驗頭上；所述IC試驗器通過所述試驗頭、所述測定部及所述IC插座將試驗圖形信號外加在被試驗IC上，同時，自該被試驗IC讀出應(yīng)答信號，比較該應(yīng)答信號和期待值信號，判定被試驗IC的優(yōu)劣；所述信息處理器將被試驗IC搬送到所述測定部，并將試驗完了的已試驗IC從所述測定部搬出，根據(jù)試驗結(jié)果將已試驗IC分類。
3.如權(quán)利要求1所述的IC試驗裝置，其特征在于所述IC試驗器將所述型號信號和IC的同測數(shù)一起傳送到所述信息處理器，其中，IC的同測數(shù)為由該IC試驗器存儲的試驗程序指定的、同時測定IC的個數(shù)；所述信息處理器的判定機構(gòu)根據(jù)由所述IC試驗器傳來的所述型號信號及同測數(shù)，判定正確的測定部的型號是否設(shè)定在了該信息處理器上及正確的試驗程序是否存儲在了所述IC試驗器上，正確時輸出優(yōu)良信號，不正確時輸出不良信號；所述IC試驗器包括在所述判定機構(gòu)的判定輸出全部為優(yōu)良信號時產(chǎn)生IC試驗器的起動命令，在所述判定機構(gòu)的判定輸出的至少一個為不良信號時產(chǎn)生阻止IC試驗器起動的起動停止命令的起動·停止控制機構(gòu)。
4.如權(quán)利要求2所述的IC試驗裝置，其特征在于所述IC試驗器將所述型號信號和IC的同測數(shù)一起傳送到所述信息處理器，其中，IC的同測數(shù)由該IC試驗器存儲的試驗程序指定；所述信息處理器的判定機構(gòu)根據(jù)由所述IC試驗器傳來的所述型號信號及同測數(shù)，判定正確的測定部的型號是否設(shè)定在了該信息處理器上及正確的試驗程序是否存儲在了所述IC試驗器上，正確時輸出優(yōu)良信號，不正確時輸出不良信號；所述IC試驗器包括在所述判定機構(gòu)的判定輸出全部為優(yōu)良信號時產(chǎn)生IC試驗器的起動命令，在所述判定機構(gòu)的判定輸出的至少一個為不良信號時產(chǎn)生阻止IC試驗器起動的起動停止命令的起動·停止控制機構(gòu)。
5.如權(quán)利要求4所述的IC試驗裝置，其特征在于在所述信息處理器上設(shè)定有裝在所述試驗頭上的測定部的IC插座的排列，所述信息處理器的判定機構(gòu)根據(jù)由所述IC試驗器傳送來的所述型號信號及同測數(shù)判定設(shè)定在該信息處理器上的IC插座的排列與裝在所述測定部的IC插座的排列是否一致。
6.如權(quán)利要求4所述的所述IC試驗裝置，其特征在于在所述信息處理器上設(shè)定有裝在所述試驗頭上的測定部的IC插座的排列，所述信息處理器具有可由型號信號和同測數(shù)特定裝在所述測定部的IC插座的排列的參照表，所述信息處理器的判定機構(gòu)由自所述IC試驗器傳送來的所述型號信號和同測數(shù)，使用所述參照表特定裝在所述試驗頭的測定部的IC插座的排列，判定設(shè)定在該信息處理器的IC插座的排列與裝在所述測定部的IC插座的排列是否一致。
7.如權(quán)利要求4所述的IC試驗裝置，其特征在于所述信息處理器的判定機構(gòu)當(dāng)因為由所述IC試驗器傳送來的所述型號信號和同測數(shù)的對應(yīng)關(guān)系在可由型號信號和同測數(shù)特定裝在所述測定部的IC插座的排列的參照表中不存在而不能特定裝在所述試驗頭上的測定部的IC插座的排列時，判定存儲在所述IC試驗器的試驗程序為不正確。
8.如權(quán)利要求1或2所述的IC試驗裝置，其特征在于所述IC試驗器根據(jù)接收的所述型號信號和由存儲在該IC試驗器的試驗程序指定的IC的同測數(shù)判定所述測定部的型號、所述測定部的IC插座的排列及同測數(shù)是否與所述試驗程序?qū)?yīng)，在對應(yīng)關(guān)系一致時，將所述IC插座的排列傳送到所述信息處理器；所述信息處理器的判定機構(gòu)判定自所述IC試驗器傳來的所述IC插座的排列和設(shè)定在所述信息處理器的IC插座的排列是否一致。
9.一種IC試驗裝置的誤動作防止方法，所述IC試驗裝置具有IC試驗器和信息處理器，這種IC試驗裝置的誤動作防止方法的特征在于，包括下述步驟將表示裝有IC插座的測定部的型號的型號信號自該測定部發(fā)出的步驟；由所述IC試驗器接收所述型號信號的步驟；至少將所述接收的型號信號傳送到所述信息處理器的步驟；根據(jù)由所述IC試驗器傳來的型號信號，判定是否將正確的測定部型號設(shè)定在了所述信息處理器上的步驟；將表示判定結(jié)果的電信號傳送到所述IC試驗器的步驟；在表示所述判定結(jié)果的電信號為表示信息處理器設(shè)定不良的電信號時，阻止所述IC試驗器的起動的步驟。
10.如權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于所述判定的步驟根據(jù)自所述IC試驗器傳送來的所述型號信號，判定設(shè)定在所述信息處理器的IC插座的排列與裝在所述測定部的IC插座的排列是否一致。
11.如權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于將所述型號信號傳送到所述信息處理器的步驟包括將IC的同測數(shù)和所述型號信號一起傳送到所述信息處理器的步驟，其中IC的同測數(shù)為由所述IC試驗器存儲的試驗程序指定的、同時測定IC的個數(shù)；所述判定的步驟包括根據(jù)由所述IC試驗器傳來的所述型號信號及同測數(shù)，判定正確的測定部的型號是否設(shè)定在了所述信息處理器上及正確的試驗程序是否存儲在了所述IC試驗器上，正確時輸出優(yōu)良信號，不正確時輸出不良信號的步驟；阻止所述IC試驗器起動的步驟包括在所述判定步驟輸出的信號全部為優(yōu)良信號時產(chǎn)生所述IC試驗器的起動命令，在至少一個為不良信號時，產(chǎn)生阻止所述IC試驗器起動的起動停止命令的步驟。
12.如權(quán)利要求11所述的方法，其特征在于判定是否將正確的測定部型號設(shè)定在了所述信息處理器上的步驟根據(jù)由所述IC試驗器傳送來的所述型號信號及同測數(shù)判定設(shè)定在所述信息處理器上的IC插座的排列與裝在所述測定部的IC插座的排列是否一致。
13.如權(quán)利要求11所述的方法，其特征在于判定是否將正確的測定部型號設(shè)定在了所述信息處理器上的步驟包括下述步驟，該步驟使用可由型號信號和同測數(shù)特定裝在所述測定部的IC插座的排列的參照表，由自所述IC試驗器傳送來的所述型號信號和同測數(shù)，特定所述測定部的IC插座的排列，判定設(shè)定在所述信息處理器的IC插座的排列與裝在所述測定部的IC插座的排列是否一致。
14.如權(quán)利要求11所述的方法，其特征在于判定正確的試驗程序是否存儲在了所述IC試驗器上的步驟包括下述步驟，該步驟當(dāng)因為由所述IC試驗器傳送來的所述型號信號和同測數(shù)的對應(yīng)關(guān)系在可由型號信號和同測數(shù)特定裝在所述測定部的IC插座的排列的參照表中不存在而不能特定所述測定部的IC插座的排列時，判定存儲在所述IC試驗器的試驗程序為不正確。
15.如權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于還包括下述步驟，該步驟由所述IC試驗器根據(jù)接收的所述型號信號和由存儲在該IC試驗器的試驗程序指定的IC的同測數(shù)判定所述測定部的型號、所述測定部的IC插座的排列及同測數(shù)是否與所述試驗程序?qū)?yīng)，在對應(yīng)關(guān)系一致時，將所述IC插座的排列傳送到所述信息處理器；所述判定的步驟判定自所述IC試驗器傳來的所述IC插座的排列和設(shè)定在所述信息處理器的IC插座的排列是否一致。
全文摘要
一種IC試驗裝置,用于防止伴隨更換裝在試驗頭的測定部而產(chǎn)生的事故。在信息處理器中,由判定裝置402自傳來的同測數(shù)和型號信號判定試驗程序是否正確以及設(shè)定在信息處理器的IC插座的排列和測定部的IC插座的排列是否一致,由設(shè)于IC試驗器的起動－停止控制器104,在判定結(jié)果全部優(yōu)良時產(chǎn)生起動命令,使試驗開始,在判定結(jié)果只要有一個不良時產(chǎn)生停止命令,阻止IC試驗器的起動。
文檔編號G11C29/56GK1229924SQ9910406
公開日1999年9月29日 申請日期1999年3月19日 優(yōu)先權(quán)日1998年3月20日
發(fā)明者大西武士 申請人:株式會社愛德萬測試