專利名稱：光記錄介質(zhì)、記錄/再現(xiàn)光記錄介質(zhì)的方法和裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種具有擺動(dòng)槽(wobbled groove)的光記錄介質(zhì)，尤其涉及一種高密度記錄信號(hào)的新穎的光記錄介質(zhì)。本發(fā)明還涉及一種記錄和/或再現(xiàn)這種光記錄介質(zhì)的方法和裝置。
用于例如所謂可寫小型光盤(compact disc recordalbe，CD-R)系統(tǒng)的CD-R盤具有擺動(dòng)槽。通過調(diào)制擺動(dòng)信號(hào)記錄包括地址信息在內(nèi)的扇區(qū)信息。
具體地說，在CD-R記錄和/或再現(xiàn)裝置中，把記錄和/或再現(xiàn)光點(diǎn)會(huì)聚合于槽上來檢測(cè)載波為22kHz的擺動(dòng)信號(hào)。通過FM解調(diào)擺動(dòng)信號(hào)來檢測(cè)包括地址信息的數(shù)據(jù)串。
在地址排列在扇區(qū)的導(dǎo)入端的系統(tǒng)中，地址信息和記錄信息分時(shí)記錄，所以記錄的信號(hào)變成不連續(xù)信號(hào)。用本系統(tǒng)，數(shù)據(jù)可以連續(xù)記錄。該特征對(duì)于重點(diǎn)放在與信號(hào)連續(xù)記錄的只讀光盤可互換的應(yīng)用上是有價(jià)值的。
在通過調(diào)制擺動(dòng)信號(hào)來記錄地址信息的方法中，如果相鄰槽之間的距離，即光道間距減小，則擺動(dòng)信號(hào)從相鄰槽的泄漏就增加，因此，降低了擺動(dòng)信號(hào)的S/N比(信噪比)。不僅不能正確地解調(diào)地址信息，而且旋轉(zhuǎn)控制光盤所需的擺動(dòng)信號(hào)的載波也變得難以檢測(cè)，這妨礙了對(duì)盤進(jìn)行旋轉(zhuǎn)控制。
由于必須減小道距以高密度地記錄信號(hào)，因此盡管道距很窄，還是必須正確地再現(xiàn)地址信息。
而且，在上述系統(tǒng)中，從再現(xiàn)地址信息取得的盤上的記錄和/或再現(xiàn)點(diǎn)其位置的正確性，依賴于在載波頻率并且基本上是在載波的波長(zhǎng)的數(shù)量級(jí)上。另一方面，載波頻率(即擺動(dòng)頻率)需要選擇成較低值，以避免對(duì)記錄信號(hào)的不利影響。在CD-R的情況下，擺動(dòng)頻率為22kHz，在盤上的波長(zhǎng)為54μm。
如果數(shù)據(jù)是不連續(xù)地記錄的，即有間斷，并且數(shù)據(jù)接著記錄在非記錄部分上，則必需把數(shù)據(jù)記錄在盤的正確位置上。如果不能進(jìn)行正確的記錄，則需要提供所謂的間隙以吸收從一個(gè)記錄數(shù)據(jù)單位到另一個(gè)記錄數(shù)據(jù)單位的記錄位置的誤差，避免記錄數(shù)據(jù)之間重疊。
由于間隙減小了光盤的記錄容量，所以間隙長(zhǎng)度需要盡可能地減小。然而，上述的準(zhǔn)確度不夠。
因此，本發(fā)明的目的在于提供一種光記錄介質(zhì)，在這種記錄介質(zhì)中，盡管道距較窄，但仍能正確地獲得地址信息和光盤旋轉(zhuǎn)控制信息，使得信號(hào)能高密度地記錄。
本發(fā)明的另一目的在于提供一種記錄/再現(xiàn)光盤的方法和裝置。
在一個(gè)方面，本發(fā)明提供一種具有擺動(dòng)槽的光記錄介質(zhì)，凹坑以預(yù)置的間隔形成在擺動(dòng)槽圈之間的區(qū)域內(nèi)。
在另一方面，本發(fā)明提供一種記錄和/或再現(xiàn)具有擺動(dòng)槽的光記錄介質(zhì)信號(hào)的方法，凹坑以預(yù)置的間隔形成在擺動(dòng)槽轉(zhuǎn)圈之間的區(qū)域內(nèi)。記錄方法包括用從槽得到的擺動(dòng)信號(hào)控制光記錄介質(zhì)的旋轉(zhuǎn)，用從凹坑檢測(cè)到的凹坑信號(hào)檢測(cè)記錄信號(hào)在光記錄介質(zhì)上的位置。
在另一方面，本發(fā)明提供一種記錄和/或再現(xiàn)裝置，它包括具有擺動(dòng)槽和以預(yù)置的間隔形成在擺動(dòng)槽圈之間的區(qū)域內(nèi)的凹坑的光記錄介質(zhì)、檢測(cè)所述槽的擺動(dòng)信號(hào)的檢測(cè)裝置以及檢測(cè)凹坑的凹坑信號(hào)的檢測(cè)裝置，其中由從槽檢測(cè)到的擺動(dòng)信號(hào)控制光記錄介質(zhì)的旋轉(zhuǎn)，用從凹檢測(cè)到的凹坑信號(hào)檢測(cè)記錄信號(hào)在光記錄介質(zhì)上的位置。
采用本發(fā)明的上述結(jié)構(gòu)，盡管道距較窄，但仍能正確地獲得地址信息和光記錄介質(zhì)的旋轉(zhuǎn)控制信息，因此有助于高密度記錄。
同時(shí)還可以改進(jìn)光記錄介質(zhì)的響應(yīng)速度和旋轉(zhuǎn)控制的可靠性。例如，如果僅由臺(tái)階預(yù)刻凹坑(land pre-pit)來控制CLV盤的旋轉(zhuǎn)，假如由于隨機(jī)訪問造成線速度的顯著變化，則暫時(shí)不能檢測(cè)到這些預(yù)刻凹坑，所以要消耗大量的時(shí)間，一直到再次檢測(cè)到預(yù)刻凹坑，恢復(fù)旋轉(zhuǎn)控制為止。同時(shí)利用擺動(dòng)凹坑和凹坑信號(hào)解決了這一不便之處。
另外，本發(fā)明可以更準(zhǔn)確地取得地址信息，并具有比傳統(tǒng)技術(shù)更高的時(shí)間精度。
而且，對(duì)于本發(fā)明的光記錄介質(zhì)，如果用單光束光點(diǎn)來讀取擺動(dòng)信號(hào)和地址信號(hào)，則可以檢測(cè)到全部對(duì)應(yīng)于記錄信號(hào)的重放信號(hào)、伺服信號(hào)(聚焦伺服和跟蹤伺服信號(hào))、擺動(dòng)信號(hào)和地址信號(hào)，因此簡(jiǎn)化了記錄/再現(xiàn)裝置，并使記錄/再現(xiàn)裝置的制造成本降低。


圖1是凹坑形成在擺動(dòng)中心線的例子的示意圖。
圖2是擺動(dòng)量最大，并且凹坑已形成在靠近相鄰槽位置上的例子的示意圖。
圖3是在實(shí)施本發(fā)明的光記錄介質(zhì)內(nèi)的槽和凹坑一例的主要部分的示意性平面圖。
圖4是從一凹坑獲得的脈沖信號(hào)的波形圖。
圖5示出了同步型式和數(shù)據(jù)凹坑的一般調(diào)制。
圖6示出了地址信息記錄格式的例子。
圖7是信號(hào)再現(xiàn)電路的例子的電路圖。
圖8是當(dāng)擺動(dòng)信號(hào)頻率和凹坑信號(hào)頻率彼此為整數(shù)倍關(guān)系時(shí)重放信號(hào)一例的波形圖。
圖9是當(dāng)擺動(dòng)信號(hào)和凹坑信號(hào)彼此同相時(shí)重放信號(hào)一例的波形圖。
圖10是在擺動(dòng)信號(hào)和凹坑信號(hào)內(nèi)都記錄同步信號(hào)的重放信號(hào)一例的波形圖。
圖11是當(dāng)擺動(dòng)信號(hào)和凹坑信號(hào)彼此同相時(shí)的時(shí)序圖。
圖12是再現(xiàn)裝置內(nèi)的重放電路一例的方框圖。
圖13是當(dāng)在擺動(dòng)信號(hào)和凹坑信號(hào)內(nèi)記錄同步信號(hào)時(shí)的時(shí)序圖。
圖14是把預(yù)刻凹坑串導(dǎo)入端判別信號(hào)作為擺動(dòng)信號(hào)插入時(shí)的時(shí)序圖。
圖15是槽和凹坑的一種改進(jìn)的示意性平面圖。
根據(jù)本發(fā)明的光記錄介質(zhì)具有擺動(dòng)的預(yù)刻槽，凹坑以預(yù)置的間隔形成在這些槽之間限定的區(qū)域內(nèi)。把槽的擺動(dòng)信號(hào)和凹坑的凹坑信號(hào)結(jié)合，以進(jìn)行高密度記錄。
凹坑形成在相鄰槽之間限定的區(qū)域內(nèi)，即臺(tái)階(land)上。這些凹坑可以是一般凹坑的形式，或者可以連續(xù)地形成在相鄰槽之間，作為互連相鄰臺(tái)階的臺(tái)階中的切口。
這些凹坑包含包括同步凹坑或者地址凹坑在內(nèi)的扇區(qū)信息，地址信息從扇區(qū)信息獲得。然而，在本發(fā)明中，該扇區(qū)信息并不總是必需的，從而只需提供同步凹坑或者地址凹坑。同步凹坑表示扇區(qū)信息的開始位置，由兩個(gè)彼此靠近的凹坑形成，或者形成為具有凹坑長(zhǎng)度與其它凹坑長(zhǎng)度不同的凹坑，因此由于它們與余下的凹坑不同而可以檢測(cè)到它們。
另一方面，槽可以具有單一頻率的擺動(dòng)信號(hào)，或者可以具有已由調(diào)制記錄有地址數(shù)據(jù)的扇區(qū)信息。
扇區(qū)信息是與記錄數(shù)據(jù)的扇區(qū)或者一組記錄數(shù)據(jù)扇區(qū)的一個(gè)簇相關(guān)聯(lián)的信號(hào)，扇區(qū)信號(hào)包括同步信號(hào)和/或地址數(shù)據(jù)。
上述槽或凹坑可以可選擇組合的方式使用，例如，具有單一頻率擺動(dòng)信號(hào)的槽與同步凹坑或者地址凹坑的組合，具有為記錄扇區(qū)信息(諸如同步信號(hào)或者地址數(shù)據(jù))而調(diào)制的擺動(dòng)信號(hào)的槽與同步凹坑或地址凹坑組合，或者具有記錄扇區(qū)信息而調(diào)制的擺動(dòng)信號(hào)的槽與預(yù)置間隔的凹坑的組合都可以使用。
在這些組合中，如果使用具有單一頻率的擺動(dòng)信號(hào)的槽與同步凹坑或地址凹坑組合，則同步信息和地址信息可以由這些同步凹坑和地址凹坑可靠地產(chǎn)生，而光盤旋轉(zhuǎn)控制信息則肯定可以由擺動(dòng)信號(hào)產(chǎn)生。
如果擺動(dòng)信號(hào)是單頻信號(hào)，任何來自一相鄰槽的泄漏信號(hào)的頻率與檢測(cè)用的信號(hào)頻率嚴(yán)格一致，所以泄漏的影響取檢測(cè)用的擺動(dòng)信號(hào)幅度作緩慢變化的形式，因此不容易檢測(cè)到檢測(cè)用的單一頻率。
如果使用具有為記錄扇區(qū)信息(諸如同步信號(hào)或地址數(shù)據(jù))而調(diào)制的擺動(dòng)信號(hào)的槽，與同步凹坑或地址凹坑的組合，就可以在槽和凹坑內(nèi)雙份記錄同步信息或地址信息，因此保證了提高的準(zhǔn)確度的可靠性。
如果，當(dāng)使用槽和凹坑的組合時(shí)，凹坑位置相對(duì)于槽隨機(jī)形成，則擔(dān)心得到的重放信號(hào)的信號(hào)電平隨凹坑位置變化，使得難以正確地檢測(cè)凹坑。還擔(dān)心再現(xiàn)裝置中產(chǎn)生時(shí)鐘的電路結(jié)構(gòu)變得復(fù)雜。
為了克服該缺點(diǎn)，理想的是如下式所確定的，使擺動(dòng)頻率fw(平均頻率)與凹坑頻率fp之間的關(guān)系成整數(shù)倍關(guān)系M fx＝N fp其中M和N為整數(shù)。
用不同的話來說，擺動(dòng)周期Tw與凹坑周期Tp彼此成整數(shù)關(guān)系M Tw＝N Tp其中M和N為整數(shù)。
同時(shí)，擺動(dòng)周期Tw為平均擺動(dòng)周期，凹坑周期Tp為一間隔，如果凹坑以等于多倍預(yù)置間隔的一間隔形成，則它等于該預(yù)置的整數(shù)倍間隔。另一方面，如果兩連續(xù)凹坑為同步凹坑，則認(rèn)為這兩個(gè)凹坑為單個(gè)凹坑，在設(shè)置凹坑周期Tp時(shí)忽略這兩個(gè)凹坑之間的間隔。
如果擺動(dòng)頻率fw與凹坑頻率fp如上所述彼此成整數(shù)倍關(guān)系，則可以把基準(zhǔn)時(shí)鐘統(tǒng)一成一個(gè)，或者使用單個(gè)壓控振蕩器，因此，簡(jiǎn)化了記錄和/或再現(xiàn)裝置的時(shí)鐘發(fā)生電路。
另外，可以利用PLL從擺動(dòng)信號(hào)產(chǎn)生與凹坑周期同步的信號(hào)，從而能正確地檢測(cè)凹坑。
另一種做法，擺動(dòng)相位與凹坑相位可以彼此匹配，以進(jìn)行正確的凹坑檢測(cè)。
即，通過把凹坑位置與擺動(dòng)的預(yù)置相位相關(guān)聯(lián)，并且以不變的擺動(dòng)量(槽的曲折量度)形成凹坑，可以穩(wěn)定凹坑檢測(cè)信號(hào)，以正確地檢測(cè)凹坑。
在這種情況下，如圖1所示，凹坑P可以形成于槽G的擺動(dòng)中心位置(對(duì)應(yīng)于最小擺動(dòng)量的位置)處。另一種做法，如圖2所示，也可把凹坑P形成在靠近相鄰槽、對(duì)應(yīng)于最大擺動(dòng)量的位置上。在前一種情況下，來自其它槽的干擾最小，而在后一情況下，僅用沒有除去擺動(dòng)信號(hào)分量的信號(hào)電平就能檢測(cè)凹坑。
如果把包括同步信息或地址信息的扇區(qū)信息記錄在擺動(dòng)信號(hào)內(nèi)，并且凹坑包括了諸如同步凹坑或地址凹坑的扇區(qū)信息，則理想的是擺動(dòng)信號(hào)的同步信息和扇區(qū)信息，尤其是同步凹坑彼此成預(yù)置的位置關(guān)系。例如，擺動(dòng)的同步信號(hào)沿再現(xiàn)方向在領(lǐng)先同步凹坑一個(gè)凹坑周期內(nèi)記錄。
通過前面對(duì)擺動(dòng)信號(hào)的凹坑地址同步部分的位置的理解，可以更正確地檢測(cè)凹坑地址同步，因此可以更可靠地讀出凹坑地址。
對(duì)于記錄/再現(xiàn)上述的光記錄介質(zhì)，利用從擺動(dòng)槽檢測(cè)到的信號(hào)控制光盤旋轉(zhuǎn)，用從形成在臺(tái)階上的凹坑檢測(cè)到的信息控制記錄信號(hào)的位置。
利用推挽(push-pull)方法，用同一光束的光點(diǎn)可以同時(shí)讀出擺動(dòng)信號(hào)和凹坑信號(hào)，簡(jiǎn)化了記錄/再現(xiàn)裝置的結(jié)構(gòu)。
現(xiàn)在參照附圖，更詳細(xì)地解釋本發(fā)明的較佳實(shí)施例。
第一實(shí)施例本實(shí)施例的光盤為一次寫入型盤，直徑為12厘米，它具有有機(jī)染料記錄膜，在該記錄膜上可以用波長(zhǎng)為636nm的激光束進(jìn)行記錄。
光盤由聚碳酸酯制成，通過注射成形做出導(dǎo)槽和導(dǎo)槽相鄰圈之間的臺(tái)階。
槽的厚度約為.25μm，深度約為70nm，從內(nèi)圈向外圈形成連續(xù)的螺旋槽，凹的間隔或者軌距約為0.74μm。
單一頻率的擺動(dòng)信號(hào)作為控制光盤每分鐘轉(zhuǎn)數(shù)和記錄信號(hào)的時(shí)鐘頻率的信息加以記錄。擺動(dòng)意味著槽沿盤徑向稍稍彎曲。
在本實(shí)施例中，彎曲寬度為20nm，彎曲周期約為30μm。因此，如果光盤以3.5米/秒的線速度旋轉(zhuǎn)以再現(xiàn)擺動(dòng)信號(hào)，則頻率約為120kHz。
在槽的相鄰圈之間的臺(tái)階上，形成有用于記錄地址信息的凹坑(地址槽)，如導(dǎo)槽一樣，槽寬度約為0.3μm，深度約為70nm。
參見圖3，圖3示意性地示出了導(dǎo)槽和地址凹坑，地址凹坑2以預(yù)置的間隔形在擺動(dòng)導(dǎo)槽1的相鄰圈之間的區(qū)域內(nèi)。地址凹坑2連續(xù)地在槽的相鄰圈之間形成，作為沿光盤的徑向延伸的槽。
地址凹坑與信息的1/0相關(guān)聯(lián)，以約為0.2mm的間隔形成。即，在對(duì)應(yīng)于信息1的位置上形成地址凹坑，而在對(duì)應(yīng)于信息0的位置上不形成地址凹坑。因此，有無地址凹坑相應(yīng)于信息的1/0。
圖4示出了光束B的光點(diǎn)沿槽掃描獲得的信號(hào)。具體地說，由內(nèi)圈側(cè)地址凹坑獲得一種極性的脈沖，，而由外圈側(cè)地址凹坑獲得另一種極性的脈沖。只要根據(jù)這兩種脈沖之一檢測(cè)地址信息就可以了。
在本記錄系統(tǒng)中，可以假設(shè)如果信息的0連續(xù)產(chǎn)生，則持續(xù)產(chǎn)生沒有地址凹坑的狀態(tài)，造成難以檢測(cè)到地址凹坑。在本實(shí)施例中，對(duì)記錄信息事先進(jìn)行雙相調(diào)制，相鄰的0數(shù)最大為2。
然而，由于在同步信號(hào)內(nèi)設(shè)置有超出規(guī)定的型式000111，以便于對(duì)同步信號(hào)的檢測(cè)，則在同步信號(hào)范圍內(nèi)存在這樣一個(gè)部分，在該部分上對(duì)于三個(gè)連續(xù)的通道位不記錄地址凹坑。
圖5示出了數(shù)據(jù)位調(diào)制的和同步形式的例子。同步型為0110001110001110，因此，含有三個(gè)連續(xù)的0和1通道位，這在調(diào)制規(guī)則內(nèi)是沒有的。
這樣調(diào)制數(shù)據(jù)位，使0和1分別對(duì)應(yīng)于1-0和0-1，所以在數(shù)據(jù)部分對(duì)于三個(gè)或者更多通道位不會(huì)連續(xù)含有1或者0。
圖6示出了扇區(qū)信息的記錄格式的例子。扇區(qū)信息由總計(jì)208個(gè)通道位組成，開頭16個(gè)通道位表示同步型式。8字節(jié)地址數(shù)據(jù)后面跟4字節(jié)由Reed-Solomon碼作誤差校正奇偶位。
在本記錄格式中，由于可以用四字節(jié)的奇偶位校正多至2個(gè)字節(jié)，所以如果扇區(qū)信息的208個(gè)通道位中有兩個(gè)通道位有誤差，則可以正確地檢測(cè)出地址數(shù)據(jù)。
下面，解釋上述光盤的信號(hào)再現(xiàn)。具體地說，解釋用一個(gè)光束光點(diǎn)同時(shí)讀出槽的擺動(dòng)信號(hào)和凹坑的地址信號(hào)的方法。
參見圖7，圖7是信號(hào)再現(xiàn)電路的方框圖，由會(huì)聚在槽1上的光束光點(diǎn)B來的返回光束通過四段PIN二極管檢測(cè)器A、B、C和D進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，并進(jìn)行I-V轉(zhuǎn)換，以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于各二極管的信號(hào)A、B、C和D。
對(duì)于這些信號(hào)，信號(hào)之和(A+B+C+D)表示記錄信號(hào)的重放信號(hào)。和信號(hào)由均衡器電路11對(duì)記錄、再現(xiàn)的頻率響應(yīng)進(jìn)行補(bǔ)償，并由二進(jìn)制轉(zhuǎn)換電路12轉(zhuǎn)換成二進(jìn)制信號(hào)，以產(chǎn)生重放信號(hào)，通過由相位比較器13和壓控振蕩器(VCO)14組成的PLL電路由該重放信號(hào)產(chǎn)生重放數(shù)據(jù)的時(shí)鐘。
如果根據(jù)信號(hào)A、B、C和D計(jì)算A-B+C-D，則獲得像散系統(tǒng)的聚焦誤差信號(hào)。
聚焦誤差信號(hào)通過相位補(bǔ)償電路15送至聚焦驅(qū)動(dòng)電路16，從該電路輸出控制物鏡聚焦位置的聚焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)。
如果根據(jù)信號(hào)A、B、C和D計(jì)算A+B-C-D，則獲得推挽系統(tǒng)的跟蹤誤差信號(hào)。由于該信號(hào)為對(duì)應(yīng)于沿徑向槽和光束光點(diǎn)B的相對(duì)位置的信號(hào)，所以同時(shí)再現(xiàn)了槽的擺動(dòng)信號(hào)。在形成地址凹坑的位置上，根據(jù)地址凹坑相對(duì)于槽是在內(nèi)圈側(cè)還是在外圈側(cè)，檢測(cè)出正脈沖或負(fù)脈沖。這些正或負(fù)脈沖類似地包括在信號(hào)(A+B-C-D)內(nèi)。
首先，該信號(hào)(A+B-C-D)通過低通濾波器(LPF)17，以僅取出跟蹤誤差信號(hào)，把該跟蹤誤差信號(hào)通過相位補(bǔ)償電路18送到跟蹤驅(qū)動(dòng)電路19，以輸出跟蹤驅(qū)動(dòng)信號(hào)。
為了檢測(cè)由地址凹坑產(chǎn)生的脈沖信號(hào)，用高通濾波器(HPF)20來抑制小于130kH的信號(hào)，以避免由例如擺動(dòng)彎曲引起的低頻范圍的噪聲的影響。
由于擺動(dòng)信號(hào)為窄帶信號(hào)，所以可以利用能通過窄帶的帶通濾波器(BPF)21獲得S/N比最佳的擺動(dòng)信號(hào)。二進(jìn)制轉(zhuǎn)換電路22把得到的擺動(dòng)信號(hào)轉(zhuǎn)換成二進(jìn)制信號(hào)。頻率比較器電路23把得到的雙電平數(shù)據(jù)與基準(zhǔn)頻率比較，產(chǎn)生主軸電動(dòng)機(jī)的控制信號(hào)。
如上所述，本實(shí)施例可以利用一個(gè)四段PIN二極管檢測(cè)器產(chǎn)生信號(hào)再現(xiàn)所需的所有信號(hào)。
第二實(shí)施例在本實(shí)施例中，說明擺動(dòng)凹坑的各種組合。
在第一個(gè)例子中，說明單頻擺動(dòng)和與擺動(dòng)信號(hào)的頻率具有整數(shù)關(guān)系的凹坑。
圖8示出了在這種情況下獲得的信號(hào)，根據(jù)該圖，可以看出，在等于整數(shù)個(gè)擺動(dòng)信號(hào)Sw的周期Tw的時(shí)間間隔處檢測(cè)到凹坑信號(hào)Sp，即在等于整數(shù)個(gè)凹坑周期Tp的時(shí)間間隔處檢測(cè)到凹坑信號(hào)Sp。
在第二個(gè)例子中，凹坑與調(diào)制的擺動(dòng)信號(hào)同相形成。在本例中，凹坑形成在靠近相鄰槽的位置上，對(duì)應(yīng)于最大擺動(dòng)。如圖9所示，凹坑信號(hào)Sp位于擺動(dòng)信號(hào)Sw的頂點(diǎn)，并且只有根據(jù)凹坑信號(hào)Sp的信號(hào)電平才能檢測(cè)到凹坑。
在圖9中，凹坑信號(hào)Sp由形成在槽內(nèi)圈側(cè)上的凹坑在跟蹤期間產(chǎn)生。另一方面，凹坑信號(hào)Sp’由形成在槽外圈側(cè)的凹坑產(chǎn)生。
在第一個(gè)例子中，在用高通濾波器從凹坑信號(hào)中除去了擺動(dòng)信號(hào)后檢測(cè)到凹坑信號(hào)。在本例中，使擺動(dòng)信號(hào)通過高通濾波器，通過把包括擺動(dòng)信號(hào)的凹坑信號(hào)Sp與檢測(cè)電平L比較檢測(cè)出凹坑。其原因在于，如果擺動(dòng)信號(hào)的頻帶接近凹坑信號(hào)的頻帶，則可以想象，用高通濾波器來進(jìn)行頻率分離將遇到困難。
在本例中，槽的內(nèi)圈側(cè)上的凹坑在對(duì)應(yīng)于朝向內(nèi)圈的槽的最大擺動(dòng)的位置處被記錄。在這種情況下，外圈側(cè)的凹坑形成在朝向外圈側(cè)相鄰槽的內(nèi)圈側(cè)的最大擺動(dòng)位置處。
槽的指定一圈的擺動(dòng)信號(hào)和相鄰一圈的擺動(dòng)信號(hào)不必彼此一致。因此，如果內(nèi)圈側(cè)凹坑的凹坑信號(hào)Sp位于對(duì)應(yīng)于擺動(dòng)信號(hào)的值不變的位置處，則與槽的另一外圈相關(guān)地記錄的外圈側(cè)凹坑的凹坑信號(hào)Sp’位于與擺動(dòng)信號(hào)不相關(guān)的位置處。
參見圖9，形成在與擺動(dòng)信號(hào)不相關(guān)的位置處的外圈側(cè)凹坑的凹坑信號(hào)的峰值逐點(diǎn)變化，而記錄在不變擺動(dòng)位置處的內(nèi)圈側(cè)凹坑的凹坑信號(hào)Sp的峰值是不變的。
如果峰值恒定，盡管凹坑信號(hào)的幅值變化，但用簡(jiǎn)單的峰值保持電路就可以容易地檢測(cè)出峰值，所以，利用檢測(cè)到的峰值，就可以把凹坑檢測(cè)電平保持在最佳的電平上，以便進(jìn)行穩(wěn)定的凹坑檢測(cè)。這對(duì)于擺動(dòng)量基本上不變地形成凹坑的情況是一優(yōu)點(diǎn)。
而且，由于凹坑信號(hào)Sp位于擺動(dòng)信號(hào)Sw的頂點(diǎn)，所以可以容忍的檢測(cè)電平的變化寬度最大。這對(duì)于凹坑位置對(duì)應(yīng)于最大擺動(dòng)并靠近相鄰槽的情況是一優(yōu)點(diǎn)。
圖10示出了同步信號(hào)Sws記錄在擺動(dòng)信號(hào)內(nèi)，并且與同步凹坑Ssp組合的例子。
在這種情況下，可以預(yù)先從擺動(dòng)信號(hào)的同步信號(hào)Sws知道同步凹坑Ssp的位置，以保證更加可靠地檢測(cè)到同步凹坑Ssp。從上述擺動(dòng)和凹坑的各種組合中將得到下面的優(yōu)點(diǎn)。
首先，說明擺動(dòng)相位與凹坑同相的情況。
圖11示出了從這種光盤獲得的重放信號(hào)。重放信號(hào)由擺動(dòng)信號(hào)Sw和受到噪聲分量Sn影響的凹坑信號(hào)Sp組成。
圖12以框圖形式示出了再現(xiàn)擺動(dòng)信號(hào)和凹坑信號(hào)的再現(xiàn)裝置。
在該再現(xiàn)裝置中，擺動(dòng)信號(hào)Sw通過帶通濾波器31饋送到二進(jìn)制轉(zhuǎn)換電路32，而凹坑信號(hào)Sp通過高通濾波器33饋送到二進(jìn)制轉(zhuǎn)換電路34，以轉(zhuǎn)換成各自的二進(jìn)制信號(hào)。
如圖11B所示，二進(jìn)制轉(zhuǎn)換電路34輸出凹坑信號(hào)Sp和噪聲分量Sn。
還進(jìn)一步把擺動(dòng)信號(hào)Sw送到相位比較器35，以與由壓控振蕩器36的振蕩頻率的1/100分頻器37和1/M分頻器38進(jìn)行1/M×100分頻獲得的信號(hào)進(jìn)行相位比較。用相位比較器35檢測(cè)到的相信息控制壓控振蕩器35，形成鎖相環(huán)，結(jié)果，壓控振蕩器36輸出相當(dāng)于(M×100)乘以擺動(dòng)信號(hào)頻率Fw的頻率Fo。
如果擺動(dòng)頻率Fw與凹坑頻率Fp之間的關(guān)系為Fw×M＝Fp×N，則由Fo＝Fw×(M×100)給出的壓控振蕩器36的振蕩頻率等于(N×100)乘以凹坑頻率Fp。
因此，用1(N×100)計(jì)數(shù)器39對(duì)壓控振蕩器36的輸出進(jìn)行分頻，將獲得圖11C所示的相位信息，并把該相位信息輸出到凹坑相位檢測(cè)內(nèi)插電路40。
對(duì)圖11C所示的相位信息和二進(jìn)制轉(zhuǎn)換電路34的輸出進(jìn)行“與”運(yùn)算，如圖11D所示，可以消去噪聲分量，所以將輸出如圖11E所示的位數(shù)據(jù)時(shí)鐘和圖11F所示的位數(shù)據(jù)。
現(xiàn)在說明同步(sync)信號(hào)記錄在擺動(dòng)信號(hào)中并與同步凹坑組合的例子。
參見圖13，對(duì)于由(a)示出的擺動(dòng)信號(hào)進(jìn)行調(diào)頻，并進(jìn)行解調(diào)，以得到由(b)所示的信號(hào)。另一方面，在(c)所示的擺動(dòng)同步之后直接排列預(yù)置位pre-bit的同步，則在擺動(dòng)同步檢測(cè)之后可以檢測(cè)到預(yù)置位同步。
擺動(dòng)本身并不如預(yù)制凹坑(pre-pit)那樣精確。然而，用不由預(yù)制凹坑提供而由系統(tǒng)提供預(yù)制凹坑保護(hù)，可以改善預(yù)刻凹坑信號(hào)本身的安全性。
作為不同于選通的使用方法，如圖14所示，預(yù)刻凹坑串的導(dǎo)入端判別信號(hào)可以由擺動(dòng)插入。
其結(jié)果是不必用預(yù)制刻凹坑形成同步型式，因而提高了預(yù)制凹坑的準(zhǔn)確度。由于不必檢測(cè)預(yù)制凹坑同步型式，所以可以節(jié)省電路。另外，有控制電路是雙份的，所以提高了可靠性。
雖然上面已對(duì)本發(fā)明的較佳實(shí)施例進(jìn)行了描述，但應(yīng)注意，本發(fā)明不限于這些例示的實(shí)施例，而可以包含各種改動(dòng)或者組合。
例如，地址凹坑2可以設(shè)計(jì)成一般的凹坑。
如果扇區(qū)信息記錄在擺動(dòng)信號(hào)和凹坑兩者之上，則它們可以彼此獨(dú)立使用。例如，在記錄信號(hào)之前可以利用凹坑的地址信息，在記錄信號(hào)之后可以利用擺動(dòng)信號(hào)的調(diào)制狀態(tài)中記錄的地址信息。
權(quán)利要求
1.一種光記錄介質(zhì)，其特征在于，具有擺動(dòng)槽和以預(yù)置的間隔形成在擺動(dòng)槽圈之間的區(qū)域上的凹坑。
2.如權(quán)利要求1所述的光記錄介質(zhì)，其特征在于，擺動(dòng)頻率fw與凹坑頻率fp滿足下列關(guān)系M fw＝N fp其中M和N為整數(shù)。
3.如權(quán)利要求1所述的光記錄介質(zhì)，其特征在于，凹坑形成在基本上不變的擺動(dòng)位置處。
4.如權(quán)利要求3所述的光記錄介質(zhì)，其特征在于，凹坑形成在基本上擺動(dòng)最小的位置處。
5.如權(quán)利要求3所述的光記錄介質(zhì)，其特征在于，凹坑形成在靠近槽相鄰圈的基本上擺動(dòng)最大的位置處。
6.如權(quán)利要求1所述的光記錄介質(zhì)，其特征在于，凹坑徑向連續(xù)形成在槽相鄰圈之間。
7.如權(quán)利要求1所述的光記錄介質(zhì)，其特征在于，擺動(dòng)為單一頻率擺動(dòng)。
8.如權(quán)利要求1所述的光記錄介質(zhì)，其特征在于，扇區(qū)信息由凹坑記錄。
9.如權(quán)利要求8所述的光記錄介質(zhì)，其特征在于，所述凹坑具有同步凹坑和/或地址凹坑。
10.如權(quán)利要求1所述的光記錄介質(zhì)，其特征在于，扇區(qū)信息通過調(diào)制擺動(dòng)信號(hào)記錄在槽中。
11.如權(quán)利要求10所述的光記錄介質(zhì)，其特征在于，扇區(qū)信息包括同步信息和/或地址數(shù)據(jù)。
12.如權(quán)利要求8所述的光記錄介質(zhì)，其特征在于，扇區(qū)信息通過調(diào)制擺動(dòng)信號(hào)記錄在槽中。
13.如權(quán)利要求12所述的光記錄介質(zhì)，其特征在于，扇區(qū)信息包括同步信息和/或地址數(shù)據(jù)。
14.如權(quán)利要求12所述的光記錄介質(zhì)，其特征在于，擺動(dòng)信號(hào)的扇區(qū)信息與凹坑的扇區(qū)信息的位置關(guān)系不變。
15.如權(quán)利要求14所述的光記錄介質(zhì)，其特征在于，包括在擺動(dòng)信號(hào)的扇區(qū)信息內(nèi)的同步信號(hào)沿信號(hào)再現(xiàn)方向領(lǐng)前于凹坑扇區(qū)信息。
16.如權(quán)利要求15所述的光記錄介質(zhì)，其特征在于，包括在擺動(dòng)信號(hào)的扇區(qū)信息內(nèi)的同步信號(hào)的位置在同步凹坑的一個(gè)凹坑周期內(nèi)。
17.一種對(duì)光記錄介質(zhì)記錄和/或再現(xiàn)信號(hào)的方法，所述光記錄介質(zhì)具有擺動(dòng)槽和以預(yù)置的間隔形成在擺動(dòng)槽圈之間的區(qū)域內(nèi)的凹坑，其特征在于，所述方法包含用槽的擺動(dòng)信號(hào)控制光記錄介質(zhì)的旋轉(zhuǎn)，以及用從凹坑檢測(cè)到的凹坑信號(hào)檢測(cè)記錄信號(hào)在光記錄介質(zhì)上的位置。
18.如權(quán)利要求17所述的光記錄介質(zhì)的記錄和/或再現(xiàn)方法，其特征在于，以推挽方法用單光束光點(diǎn)同時(shí)讀出擺動(dòng)信號(hào)和凹坑信號(hào)。
19.一種記錄和/或再現(xiàn)裝置，其特征在于，包含光記錄介質(zhì)，具有擺動(dòng)槽和凹坑以預(yù)置的間隔形成在擺動(dòng)槽的轉(zhuǎn)圈之間的區(qū)域內(nèi)的凹坑；用于檢測(cè)所述槽的擺動(dòng)信號(hào)的檢測(cè)裝置；以及用于檢測(cè)凹坑的凹坑信號(hào)的檢測(cè)裝置，其中，由從槽檢測(cè)到的擺動(dòng)信號(hào)控制光記錄介質(zhì)的旋轉(zhuǎn)，用從凹坑檢測(cè)到的凹坑信號(hào)檢測(cè)記錄信號(hào)在光記錄介質(zhì)上的位置。
20.如權(quán)利要求19所述的記錄和/或再現(xiàn)裝置，其特征在于，檢測(cè)所述槽的擺動(dòng)信號(hào)的檢測(cè)所述裝置和檢測(cè)凹坑的凹坑信號(hào)的檢測(cè)裝置都是用推挽方法以單光束光點(diǎn)同時(shí)讀出擺動(dòng)信號(hào)和凹坑信號(hào)的檢測(cè)裝置。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種盡管道距狹窄,仍能準(zhǔn)確地得到地址信息或光盤旋轉(zhuǎn)控制信息,并提供了高密度記錄信號(hào)的光記錄介質(zhì),以及一種記錄和/或再現(xiàn)這種光記錄介質(zhì)的方法和裝置。這種光記錄介質(zhì)具有擺動(dòng)槽和以預(yù)置的間隔形成在擺動(dòng)槽圈之間區(qū)域內(nèi)的凹坑。記錄/再現(xiàn)方法包括用槽擺動(dòng)信號(hào)控制光記錄介質(zhì)的旋轉(zhuǎn),用從凹坑檢測(cè)到的凹坑信號(hào)的檢測(cè)記錄信號(hào)在光記錄介質(zhì)上的位置。本發(fā)明還提供了一種利用上述方法的裝置。
文檔編號(hào)G11B7/007GK1173705SQ9710499
公開日1998年2月18日 申請(qǐng)日期1997年4月2日 優(yōu)先權(quán)日1996年4月2日
發(fā)明者秋山義行, 飯村紳一朗, 小川博司, 黑田和男, 鈴木敏雄, 井上章賢, 谷口昭史, 太田岑正 申請(qǐng)人:索尼株式會(huì)社, 先鋒電子株式會(huì)社, 先鋒視頻株式會(huì)社