1.一種集成電路存儲(chǔ)器的測試設(shè)備，包括PCB電路板，其特征在于：所述PCB電路板上焊接有單片機(jī)組件、電源適配器、操作鍵盤、測試程序存儲(chǔ)器、操作系統(tǒng)程序存儲(chǔ)器、顯示屏、測試控制組件及測試接口組件，所述單片機(jī)組件通過所述PCB電路板上的導(dǎo)線分別與所述電源適配器、所述操作鍵盤、所述測試程序存儲(chǔ)器、所述操作系統(tǒng)程序存儲(chǔ)器、所述顯示屏及所述測試接口組件電連接，所述測試控制組件通過所述PCB電路板上的導(dǎo)線分別與所述測試接口組件及所述單片機(jī)組件電連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路存儲(chǔ)器的測試設(shè)備，其特征在于：所述單片機(jī)組件包括IC插座及單片機(jī)，所述單片機(jī)安裝在所述IC插座上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路存儲(chǔ)器的測試設(shè)備，其特征在于：所述測試接口組件包括測試活動(dòng)插座，所述測試活動(dòng)插座為24腳的IC插座。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路存儲(chǔ)器的測試設(shè)備，其特征在于：所述顯示屏為LCD液晶顯示模塊。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路存儲(chǔ)器的測試設(shè)備，其特征在于：所述PCB電路板上焊接有機(jī)械手控制電路組件。