本發(fā)明涉及智能卡測試的技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種多智能卡測試系統(tǒng)和方法。

背景技術(shù)：

隨著智能卡的興起，小型化的智能卡廣泛應(yīng)用在身份識別、信息加解密、注鑰、電子設(shè)備內(nèi)部存儲等領(lǐng)域。智能卡的測試隨著智能卡的廣泛應(yīng)用，也逐漸成為智能卡企業(yè)的重要一環(huán)。

目前，智能卡的測試方法大致有兩種，一種是一臺計算機(jī)一次對一個智能卡進(jìn)行操作，這種方法的測試效率低且對計算機(jī)性能產(chǎn)生了極大的浪費(fèi)；另一種是用一臺計算機(jī)直接連接多個讀卡器進(jìn)行測試，這種方法不利于計算機(jī)系統(tǒng)的穩(wěn)定，兩種方法都會極大地增加企業(yè)的測試成本，智能卡的測試效率普遍較低。因此，有必要提供一種可以單次測量多個智能卡設(shè)備的測試平臺方案，同時測量的智能卡數(shù)量可以靈活擴(kuò)展，且平臺對計算機(jī)的性能要求低，以解決現(xiàn)有方法測試成本高的問題。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

鑒于上述的分析，本發(fā)明旨在提供一種多智能卡測試系統(tǒng)和方法，用以解決現(xiàn)有技術(shù)中一臺計算機(jī)一次只能對一個智能卡進(jìn)行操作，導(dǎo)致測試效率低、測試成本高的問題。

本發(fā)明的目的主要是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的：

一種多智能卡測試系統(tǒng)，包括計算機(jī)、測試單元和級聯(lián)單元。

其中，計算機(jī)用于顯示和存儲測試信息，測試單元用于智能卡的測試。

每一個級聯(lián)單元的下游連接測試單元或連接另一級聯(lián)單元；級聯(lián)單元通過多級連接組成級聯(lián)單元網(wǎng)絡(luò)，級聯(lián)單元網(wǎng)絡(luò)連接在測試單元和計算機(jī)之間。

級聯(lián)單元包括集線器、上行接口A、多個下行接口A，集線器連接在上行接口A和下行接口A之間；集線器包括上行接口B、多個下行接口B。

集線器的上行接口B連接級聯(lián)單元的上行接口A，進(jìn)而連接到計算機(jī)或者上一級級聯(lián)單元；集線器的下行接口B連接級聯(lián)單元的下行接口A，通過下行接口A連接測試單元，或者下一級級聯(lián)單元。

進(jìn)一步的，測試系統(tǒng)通過控制級聯(lián)單元網(wǎng)絡(luò)中級聯(lián)單元的層級和數(shù)量，來控制連接的測試單元的數(shù)量。

進(jìn)一步的，計算機(jī)包括顯示模塊和存儲模塊；顯示模塊用于實時顯示智能卡的測試信息；存儲模塊將實時測試信息記錄、存儲起來。

優(yōu)選的，級聯(lián)單元采用USB-HUB的形式，包括USB-Hub、上行USB接口和多個下行USB接口；USB-Hub進(jìn)一步包括上行接口和多個下行接口。

進(jìn)一步的，測試單元包括測試單元底板和測試單元子板；

測試單元底板連接測試單元子板，并為測試單元子板提供通信通道；

測試單元底板包括USB接口和USB-Hub模塊，USB-Hub模塊的下行接口通過測試單元子板的USB接口連接測試單元子板；USB-Hub模塊的上行接口通過測試單元底板的USB接口連接級聯(lián)單元；

測試單元子板包括USB接口、主控制器、片選模塊、多個智能卡接口和多個指示器；其中，主控制器用于進(jìn)行智能卡選擇、測試和通信的控制，主控制器連接USB接口和片選模塊；片選模塊，連接在主控制器和智能卡接口之間，用于選通進(jìn)行測試的智能卡，并將選擇結(jié)果傳輸給主控制器；智能卡接口，用于連接智能卡；指示器，設(shè)置在智能卡接口上，用于指示智能卡的測試狀態(tài)。

上述主控制器包括控制模塊、測試模塊和通信模塊；

其中，控制模塊，用于讀取智能卡狀態(tài)，控制多智能卡測試順序和進(jìn)程；

測試模塊，用于測試智能卡的各個功能模塊，判斷測試結(jié)果；

通信模塊，用于控制模塊和顯示模塊、存儲模塊之間的通信。

主控制器通過其控制模塊來控制片選模塊選擇和切換進(jìn)行測試的智能卡，并根據(jù)測試模塊的測試情況和結(jié)果來判斷智能卡的測試是否通過，進(jìn)而控制指示器的顯示；同時控制模塊控制通信模塊將每個智能卡的測試信息上傳到計算機(jī)。

優(yōu)選的，上述指示器采用三色LED燈進(jìn)行智能卡的測試狀態(tài)的顯示。

本發(fā)明還提供一種使用上述多智能卡測試系統(tǒng)進(jìn)行多智能卡測試的方法，包括以下步驟：

測試單元上主控制器的控制模塊向片選模塊發(fā)出控制指令，指示片選模塊對需要測試的智能卡進(jìn)行選擇；

片選模塊接收到控制模塊的指令后，對連接到智能卡接口的智能卡進(jìn)行測試選擇，并將選擇結(jié)果傳輸給測試模塊；

測試模塊接收到片選模塊的選擇結(jié)果后，對選擇的智能卡進(jìn)行測試；

測試完成后，測試結(jié)果傳輸給控制模塊，由控制模塊根據(jù)測試情況來判斷智能卡的測試是否通過，進(jìn)而發(fā)出控制指令控制指示器的變化；

控制模塊還控制通信模塊，將智能卡的測試信息通過USB接口，經(jīng)過級聯(lián)單元網(wǎng)絡(luò)上傳到計算機(jī)；

計算機(jī)對每個智能卡的測試結(jié)果進(jìn)行顯示，并將測試信息存儲在計算機(jī)中。

上述智能卡可以是TF智能卡、或SM卡、或SD卡、或CF卡、或MMC卡、或MS卡、或XD卡。

本發(fā)明有益效果如下：

本發(fā)明提供了一種多智能卡測試系統(tǒng)和方法，通過采用級聯(lián)單元級聯(lián)的方法，使得測試系統(tǒng)的可擴(kuò)展性強(qiáng)；測試單元的測試單元子板采用相互獨(dú)立的設(shè)置，既可以均分整個測試平臺的系統(tǒng)運(yùn)行壓力，也能提高系統(tǒng)運(yùn)行效率；多個測試單元子板運(yùn)行時，可以同時測試多個智能卡，有效地提高單位時間的測試效率。通過采用本發(fā)明提出的系統(tǒng)和方法，可以通過級聯(lián)模塊和測試單元的組合、擴(kuò)展，讓企業(yè)更靈活的組織智能卡的測試。

本發(fā)明的其他特征和優(yōu)點(diǎn)將在隨后的說明書中闡述，并且，部分的從說明書中變得顯而易見，或者通過實施本發(fā)明而了解。本發(fā)明的目的和其他優(yōu)點(diǎn)可通過在所寫的說明書、權(quán)利要求書、以及附圖中所特別指出的結(jié)構(gòu)來實現(xiàn)和獲得。

附圖說明

附圖僅用于示出具體實施例的目的，而并不認(rèn)為是對本發(fā)明的限制，在整個附圖中，相同的參考符號表示相同的部件。

圖1為多智能卡測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為級聯(lián)單元的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為USB-HUB形式的級聯(lián)單元的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4為測試單元底板的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖5為測試單元子板的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖來具體描述本發(fā)明的優(yōu)選實施例，其中，附圖構(gòu)成本申請一部分，并與本發(fā)明的實施例一起用于闡釋本發(fā)明的原理。

本發(fā)明的一個具體實施例，公開了一種多智能卡測試系統(tǒng)，具體以TF智能卡(TransFlash Card，或Micro SD Card，微型安全數(shù)字卡)的測試為例進(jìn)行說明，如圖1所示，包括：計算機(jī)1、測試單元2、級聯(lián)單元3。

其中，通過級聯(lián)單元3通過多級連接組成級聯(lián)單元網(wǎng)絡(luò)4，級聯(lián)單元網(wǎng)絡(luò)將測試單元2和計算機(jī)1連接在一起。每一個級聯(lián)單元的下游可以直接連接測試單元，也可以連接另一級聯(lián)單元。級聯(lián)單元通過多級連接組成級聯(lián)單元網(wǎng)絡(luò)，級聯(lián)單元網(wǎng)絡(luò)連接在測試單元和計算機(jī)之間。通過控制級聯(lián)單元網(wǎng)絡(luò)4中級聯(lián)單元3的層級和數(shù)量，來控制連接的測試單元2的數(shù)量，從而實現(xiàn)多智能卡測試系統(tǒng)的靈活配置，進(jìn)而提高了測試系統(tǒng)的可擴(kuò)展性。

計算機(jī)用于顯示和存儲測試信息，包括顯示模塊5和存儲模塊6；顯示模塊5用于實時顯示當(dāng)前測試的各個TF卡的實時測試信息，實時測試信息通過級聯(lián)單元網(wǎng)絡(luò)4傳輸?shù)接嬎銠C(jī)；存儲模塊6將實時測試信息記錄、存儲起來。具體地，在本實施方案中，以文本文檔的形式將測試信息存儲于計算機(jī)硬盤中。

級聯(lián)單元10，用于增加平臺的可擴(kuò)展性，是實現(xiàn)平臺可擴(kuò)展性的主要組件，如圖2。級聯(lián)單元包括集線器、上行接口A、多個下行接口A，集線器連接在上行接口A和下行接口A之間。集線器進(jìn)一步包括上行接口B、多個下行接口B；集線器的上行接口B連接級聯(lián)單元的上行接口A，進(jìn)而連接到計算機(jī)或者上一級級聯(lián)單元；集線器的下行接口B連接級聯(lián)單元的下行接口A，通過下行接口A連接測試單元，或者下一級級聯(lián)單元。

如圖3所示，本實施方案中的級聯(lián)單元采用USB-HUB的形式，具體包含有USB-Hub(Universal Serial Bus-Hub，串行總線集線器)11、上行USB接口8(上行接口A)和多個下行USB接口13(下行接口A)。USB-Hub進(jìn)一步包括上行接口9(上行接口B)和多個下行接口12(下行接口B)，上行接口9外接上行USB接口8，進(jìn)一步連接到計算機(jī)或者上一級級聯(lián)單元；下行接口12連接下行USB接口13，進(jìn)一步連接測試單元或者下一級測試單元。本實施方案中(圖2、圖3)，一個級聯(lián)單元具有1個上行接口和4個下行接口，這4個下行接口可以擴(kuò)展出了4個下一級級聯(lián)單元，或者4個測量單元。

測試單元，用于TF智能卡的測試，包括測試單元底板15(圖4)和測試單元子板21(圖5)。

測試單元底板15主要作用是連接測試單元子板21，并為測試單元子板21提供一個通信的通道。測試單元底板包括上行接口14(實施例具體采用USB接口)和USB-Hub模塊16。測試單元底板15中的USB-Hub模塊16中的下行接口18通過測試單元子板21的USB接口連接測試單元子板19。此處，USB-Hub模塊16中的下行接口18采用USB杰克，以與測試單元子板21的USB接口相適應(yīng)。本實施例中最多可以連接4個測試單元子板19；USB-Hub模塊16的上行接口17通過測試單元底板15的USB接口14連接級聯(lián)單元或者直接連接計算機(jī)。

測試單元在本實施例中的設(shè)計是以級聯(lián)單元采用USB-HUB形式為基礎(chǔ)，因此，測試單元與級聯(lián)單元相連接的接口(測試單元底板的上行接口14)采用USB接口的形式，以與實施例中的級聯(lián)單元相適應(yīng)，但本發(fā)明的測試單元底板的接口不限于USB接口，只要與級聯(lián)單元相適應(yīng)的接口均可。

測試單元子板21是測試TF智能卡的主要單元，包括USB接口20、主控制器22、片選模塊26、智能卡接口27和指示器28。

主控制器22，用于進(jìn)行智能卡選擇、測試和通信的控制，主控制器連接USB接口和片選模塊。主控制器22進(jìn)一步包括控制模塊23、測試模塊24、通信模塊25。

片選模塊，連接在主控制器和智能卡接口之間，用于選通進(jìn)行測試的智能卡，并將選擇結(jié)果傳輸給主控制器。

智能卡接口，用于連接智能卡，一個智能卡接口連接一張智能卡。

指示器，設(shè)置在智能卡接口上，由主控制器進(jìn)行控制，用于指示智能卡的測試狀態(tài)。本實施例優(yōu)選采用三色LED燈28進(jìn)行智能卡的測試狀態(tài)的顯示，三色LED燈具體設(shè)置在智能卡接口卡座旁邊。三色LED燈28的白燈常亮表示智能卡插入智能卡接口27；藍(lán)燈閃爍表示正在測試中；綠色常亮表示通過測試；紅色常亮表示未通過測試。

主控制器的控制模塊23，用于讀取智能卡狀態(tài)，控制多智能卡測試順序和進(jìn)程；

主控制器的測試模塊24，用于測試智能卡的各個功能模塊，判斷測試結(jié)果；

主控制器的通信模塊25，用于控制模塊和顯示模塊、存儲模塊之間的通信。

主控制器通過其控制模塊23來控制片選模塊26選擇和切換進(jìn)行測試的TF智能卡，并根據(jù)測試模塊24的測試情況和結(jié)果來判斷智能卡的測試是否通過，進(jìn)而控制三色LED28的顏色和亮滅；同時控制模塊23控制通信模塊25將每個智能卡的測試信息通過USB接口20上傳到計算機(jī)。

本發(fā)明的另一個具體實施例，公開了一種使用上述多智能卡測試系統(tǒng)進(jìn)行多智能卡測試的方法，具體以TF智能卡為例進(jìn)行說明。TF智能卡通過測試單元子板的智能卡接口連接到測試單元，測試單元通過由級聯(lián)單元組成的級聯(lián)單元網(wǎng)絡(luò)進(jìn)一步連接到計算機(jī)，其中，級聯(lián)單元網(wǎng)絡(luò)由多級級聯(lián)單元組成，每一個級聯(lián)單元可以直接連接測試單元，也可以連接另一級聯(lián)單元，

測試方法包括：

將已經(jīng)測試完成的智能卡從智能卡接口上取下，將需要進(jìn)行測試的智能卡連接到測試單元的智能卡接口上；

測試單元上主控制器的控制模塊向片選模塊發(fā)出控制指令，指示測試單元上的片選模塊對需要測試的智能卡進(jìn)行選擇；

片選模塊接收到控制模塊的指令后，對連接到智能卡接口的智能卡進(jìn)行測試選擇，并將選擇結(jié)果傳輸給測試單元上的測試模塊；其中可以選擇其中還未進(jìn)行測試的智能卡，也可以選擇智能卡接口上連接的前部智能卡；

測試模塊接收到片選模塊的選擇結(jié)果后，對選擇的智能卡進(jìn)行測試，測試可以是同時并行執(zhí)行，也可以單個進(jìn)行；

測試完成后，將測試結(jié)果傳輸給控制模塊，由控制模塊根據(jù)測試情況來判斷TF智能卡的測試是否通過，進(jìn)而發(fā)出控制指令控制指示器的變化，具體實施例通過控制三色LED28的顏色和亮滅實現(xiàn)；

控制模塊還控制測試單元上的通信模塊，將智能卡的測試信息通過USB接口，經(jīng)過級聯(lián)單元網(wǎng)絡(luò)上傳到計算機(jī)；

計算機(jī)的顯示模塊對每個智能卡的測試結(jié)果進(jìn)行顯示，并將測試信息存儲在計算機(jī)的存儲模塊中。

本發(fā)明提供的多智能卡測試系統(tǒng)，不僅可以在上述TF智能卡上進(jìn)行應(yīng)用，還可以應(yīng)用在SM卡(SmartMedia Card，智能媒體卡)、SD卡(Secure Digital Card，安全數(shù)字卡)、CF卡(CompactFlash Card，標(biāo)準(zhǔn)閃存卡)、MMC卡(Multi Media Card，多媒體卡)、MS卡(Memory Stick，記憶棒)、XD卡(Extreme Digital Card，極限數(shù)字卡)等其他類型的智能卡的測試上。在針對不同之類的智能卡進(jìn)行測試時，只需修改

圖中的智能卡接口27為對應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的卡接口即可。

此外，本發(fā)明提供的多智能卡測試系統(tǒng)中的級聯(lián)單元中的集線器具體采用的是USB-HUB形式，但本發(fā)明并不局限于此，類似設(shè)計替換成網(wǎng)口也可取得相同的效果，也可以作為本設(shè)計的替代方案。

綜上所述，本發(fā)明實施例提供了一種多智能卡測試系統(tǒng)和方法，通過采用級聯(lián)單元級聯(lián)的方法，使得測試系統(tǒng)的可擴(kuò)展性強(qiáng)；測試單元的測試單元子板采用相互獨(dú)立的設(shè)置，既可以均分整個測試平臺的系統(tǒng)運(yùn)行壓力，也能提高系統(tǒng)運(yùn)行效率；多個測試單元子板運(yùn)行時，可以同時測試多個智能卡，有效地提高單位時間的測試效率；且測試單元子板和級聯(lián)單元相互獨(dú)立，可以重復(fù)組合、擴(kuò)展，讓企業(yè)可以靈活組合測試產(chǎn)線，提高各測試產(chǎn)線的綜合測試效率。測試單元子板和級聯(lián)單元無論進(jìn)行多少擴(kuò)展，和計算機(jī)都僅通過一個借口相連，提高了測試系統(tǒng)的穩(wěn)定性。

本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解，實現(xiàn)上述實施例方法的全部或部分流程，可以通過計算機(jī)程序來指令相關(guān)的硬件來完成，所述的程序可存儲于計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)中。其中，所述計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)為磁盤、光盤、只讀存儲記憶體或隨機(jī)存儲記憶體等。

以上所述，僅為本發(fā)明較佳的具體實施方式，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。