1.一種電子設(shè)備，包括：
存儲器，所述存儲器具有經(jīng)受瞬態(tài)故障和永久故障的多個存儲器位置；以及
故障檢測電路，所述故障檢測電路耦接于所述存儲器并且被配置成用于
在第一時間讀取所述多個存儲器位置并且在所述第一時間基于讀取所述多個存儲器位置確定包括所述瞬態(tài)和永久故障的第一故障計數(shù)和故障映射簽名，
存儲所述第一故障計數(shù)和故障映射簽名，
在第二時間讀取所述多個存儲器位置并且在所述第二時間基于讀取所述多個存儲器位置確定包括所述瞬態(tài)和永久故障的第二故障計數(shù)和故障映射簽名，并且
將所述存儲的第一故障計數(shù)和故障映射簽名與所述第二故障計數(shù)和故障映射簽名進(jìn)行比較以確定永久故障計數(shù)。
2.如權(quán)利要求1所述的電子設(shè)備，其中，所述故障檢測電路進(jìn)一步包括指示器，所述指示器被配置成用于基于所述永久故障計數(shù)超過閾值而生成指示。
3.如權(quán)利要求1所述的電子設(shè)備，其中，所述故障檢測電路包括：
存儲器控制器，所述存儲器控制器被配置成用于讀取所述多個存儲器位置；以及
存儲器錯誤處置器，所述存儲器錯誤處置器耦接于所述存儲器控制器。
4.如權(quán)利要求3所述的電子設(shè)備，其中，所述存儲器控制器包括：
循環(huán)冗余校驗(CRC)電路，所述CRC電路被配置成用于檢測所述瞬態(tài)和永久故障；以及
錯誤計數(shù)器，所述錯誤計數(shù)器耦接于所述CRC電路并且被配置成用于確定所述瞬態(tài)和永久故障的所述第一和第二計數(shù)。
5.如權(quán)利要求4所述的電子設(shè)備，其中，所述故障檢測電路進(jìn)一步包括處理器，所述處理器耦接于所述CRC電路和所述錯誤計數(shù)器以將所述存儲的第一故障計數(shù)和故障映射簽名與所述第二故障計數(shù)和故障映射簽名進(jìn)行比較從而基于所述存儲的第一故障計數(shù)和故障映射簽名與所述第二故障計數(shù)和故障映射簽名之間的改變確定所述永久故障計數(shù)。
6.如權(quán)利要求3所述的電子設(shè)備，其中，所述存儲器控制器被配置成用于在所述存儲器內(nèi)的不同塊之上以三重復(fù)制存儲所述第一故障計數(shù)和故障映射簽名以及所述永久故障計數(shù)。
7.如權(quán)利要求4所述的電子設(shè)備，其中，所述CRC電路被配置成用于針對每個瞬態(tài)和永久故障計算漸進(jìn)式簽名。
8.如權(quán)利要求1所述的電子設(shè)備，其中，所述第一時間包括所述存儲器的掉電事件。
9.如權(quán)利要求1所述的電子設(shè)備，其中，所述第二時間包括所述存儲器的上電事件。
10.如權(quán)利要求1所述的電子設(shè)備，其中，每個瞬態(tài)和永久故障具有與其相關(guān)聯(lián)的存儲器地址和校正子。
11.如權(quán)利要求1所述的電子設(shè)備，其中，每個瞬態(tài)故障包括單比特或雙比特可校正的錯誤，而每個永久故障包括三比特不可校正的錯誤。
12.如權(quán)利要求1所述的電子設(shè)備，其中，所述存儲器包括非易失性存儲器。
13.一種用于具有經(jīng)受瞬態(tài)故障和永久故障的多個存儲器位置的存儲器的故障檢測設(shè)備，所述故障檢測設(shè)備包括：
存儲器控制器和與其協(xié)同操作的存儲器錯誤處置器，并且被配置成用于
在第一時間讀取所述多個存儲器位置并且在所述第一時間基于讀取所述多個存儲器位置確定包括所述瞬態(tài)和永久故障的第一故障計數(shù)和故障映射簽名，
存儲所述第一故障計數(shù)和故障映射簽名，
在第二時間讀取所述多個存儲器位置并且在所述第二時間基于讀取所述多個存儲器位置確定包括所述瞬態(tài)和永久故障的第二故障計數(shù)和故障映射簽名，并且
將所述存儲的第一故障計數(shù)和故障映射簽名與所述第二故障計數(shù)和故障映射簽名進(jìn)行比較以確定永久故障計數(shù)。
14.如權(quán)利要求13所述的故障檢測設(shè)備，進(jìn)一步包括指示器，所述指示器被配置成用于基于所述永久故障計數(shù)超過閾值而生成指示。
15.如權(quán)利要求13所述的故障檢測設(shè)備，其中，所述存儲器控制器包括：
循環(huán)冗余校驗(CRC)電路，所述CRC電路被配置成用于檢測所述瞬態(tài)和永久故障；以及
錯誤計數(shù)器，所述錯誤計數(shù)器耦接于所述CRC電路并且被配置成用于確定所述瞬態(tài)和永久故障的所述第一和第二計數(shù)。
16.如權(quán)利要求15所述的故障檢測設(shè)備，進(jìn)一步包括處理器，所述處理器耦接于所述CRC電路和所述錯誤計數(shù)器以將所述存儲的第一故障計數(shù)和故障映射簽名與所述第二故障計數(shù)和故障映射簽名進(jìn)行比較從而基于所述存儲的第一故障計數(shù)和故障映射簽名與所述第二故障計數(shù)和故障映射簽名之間的改變確定所述永久故障計數(shù)。
17.如權(quán)利要求13所述的故障檢測設(shè)備，其中，所述存儲器控制器被配置成用于在所述存儲器內(nèi)的不同塊之上以三重復(fù)制存儲所述第一故障計數(shù)和故障映射簽名以及所述永久故障計數(shù)。
18.如權(quán)利要求15所述的故障檢測設(shè)備，其中，所述CRC電路被配置成用于從每個瞬態(tài)和永久故障計算故障映射簽名。
19.如權(quán)利要求13所述的故障檢測設(shè)備，其中，所述第一時間包括所述存儲器的掉電事件。
20.如權(quán)利要求13所述的故障檢測設(shè)備，其中，所述第二時間包括所述存儲器的上電事件。
21.如權(quán)利要求13所述的故障檢測設(shè)備，其中，每個瞬態(tài)和永久故障具有與其相關(guān)聯(lián)的存儲器地址和校正子。
22.如權(quán)利要求13所述的故障檢測設(shè)備，其中，每個瞬態(tài)故障包括單比特或雙比特可校正的錯誤，而每個永久故障包括三比特不可校正的錯誤。
23.一種用于具有經(jīng)受瞬態(tài)故障和永久故障的多個存儲器位置的存儲器的故障檢測方法，所述方法包括：
在第一時間讀取多個存儲器位置；
在所述第一時間基于讀取所述多個存儲器位置確定包括所述瞬態(tài)和永久故障的第一故障計數(shù)和故障映射簽名；
存儲所述第一故障計數(shù)和故障映射簽名；
在第二時間讀取所述多個存儲器位置；
在所述第二時間基于讀取所述多個存儲器位置確定包括所述瞬態(tài)和永久故障的第二故障計數(shù)和故障映射簽名；并且
將所述存儲的第一故障計數(shù)和故障映射簽名與所述第二故障計數(shù)和故障映射簽名進(jìn)行比較以確定永久故障計數(shù)。
24.如權(quán)利要求23所述的方法，進(jìn)一步包括基于所述永久故障計數(shù)超過閾值而生成指示。
25.如權(quán)利要求23所述的方法，其中，在所述存儲器內(nèi)的不同塊之上以三重復(fù)制存儲所述第一和第二故障計數(shù)和故障映射簽名。