1.一種閃存編程操作的初始化方法，包括：
使用編程非遮蔽方案，提供多個脈沖編程電壓以對該閃存的多個存儲單元進行多個編程操作，其中所述脈沖編程電壓的電壓值依次遞增；
在各該編程操作后依據(jù)一編程驗證電壓對所述存儲單元執(zhí)行對應(yīng)的一編程驗證操作，并依據(jù)該編程驗證操作的驗證結(jié)果以記錄各該編程操作所對應(yīng)的脈沖編程電壓的電壓值為一記錄編程電壓值；
在所述編程操作后，提供多個脈沖讀取電壓以對所述存儲單元進行多個讀取操作，其中所述脈沖讀取電壓的電壓值依次遞增；
依據(jù)各該讀取操作的讀取結(jié)果來記錄對應(yīng)的各該脈沖讀取電壓的電壓值為一記錄讀取電壓值；以及
依據(jù)該記錄編程電壓值、該記錄讀取電壓值以及該編程驗證電壓的電壓值來獲得一起始編程電壓值及一編程脈沖電壓遞增值。
2.如權(quán)利要求1所述的編程操作的初始化方法，其中依據(jù)該編程驗證操作的驗證結(jié)果以記錄各該編程操作所對應(yīng)的脈沖編程電壓的電壓值為該記錄編程電壓值的步驟包括：
當(dāng)該編程驗證操作驗證出臨界值小于該編程驗證電壓的所述存儲單元的數(shù)量小于一預(yù)設(shè)參考值時，記錄該編程驗證操作對應(yīng)的編程操作所對應(yīng)的脈沖編程電壓的電壓值為該記錄編程電壓值。
3.如權(quán)利要求1所述的編程操作的初始化方法，其中依據(jù)各該讀取操作的讀取結(jié)果來記錄對應(yīng)的各該脈沖讀取電壓的電壓值為該記錄讀取電壓值的步驟包括：
當(dāng)各該讀取操作中，臨界值大于對應(yīng)的各該脈沖讀取電壓的電壓值的存儲單元的數(shù)量小于一預(yù)設(shè)參考值時，記錄對應(yīng)的各該脈沖讀取電壓的電壓值為該記錄讀取電壓值。
4.如權(quán)利要求1所述的編程操作的初始化方法，其中依據(jù)該記錄編程電壓值、該記錄讀取電壓值以及該編程驗證電壓的電壓值來獲得該起始編程電壓值的步驟包括：
設(shè)定該起始編程電壓值＝Vn–RDm+PVn+Voffset，
其中，Vn為該記錄編程電壓值，RDm為該記錄讀取電壓值，PVn為一般性編程驗證操作的電壓值，Voffest為預(yù)設(shè)的一偏移電壓值。
5.如權(quán)利要求4所述的編程操作的初始化方法，其中該偏移電壓值大于、小于或等于0伏特，其中該偏移電壓值依據(jù)所述存儲單元編程電壓臨界值預(yù)期分布及所述存儲單元抹除編程后預(yù)期衰減量來決定。
6.如權(quán)利要求1所述的編程操作的初始化方法，其中還包括：
依據(jù)該記錄讀取電壓值、該編程驗證電壓的電壓值以及預(yù)設(shè)的一編程次數(shù)以計算出一編程脈沖電壓遞增值。
7.如權(quán)利要求4所述的編程操作的初始化方法，其中還包括：
儲存該記錄編程電壓值、該記錄讀取電壓值、該編程驗證電壓的電壓值以及該一般性編程驗證操作的電壓值至該閃存的控制器中。
8.一種閃存裝置，包括：
多個存儲單元，組成一存儲單元陣列；
一感測電路，耦接該存儲單元陣列；以及
一控制器，耦接該感測電路及所述存儲單元，
其中，該控制器耦接至一測試裝置，且該測試裝置執(zhí)行：
提供多個脈沖編程電壓以對該閃存的多個存儲單元進行多個編程操作，其中所述脈沖編程電壓的電壓值依次遞增；
在各該編程操作后依據(jù)一編程驗證電壓對所述存儲單元執(zhí)行對應(yīng)的一編程驗證操作，并依據(jù)該編程驗證操作的驗證結(jié)果以記錄各該編程操作所對應(yīng)的脈沖編程電壓的電壓值為一記錄編程電壓值；
在所述編程操作后，提供多個脈沖讀取電壓以對所述存儲單元進行多個讀取操作，其中所述脈沖讀取電壓的電壓值依次遞增；
依據(jù)各該讀取操作的讀取結(jié)果來記錄對應(yīng)的各該脈沖讀取電壓的電壓值為一記錄讀取電壓值；以及
依據(jù)該記錄編程電壓值、該記錄讀取電壓值以及該編程驗證電壓的電壓值來獲得一起始編程電壓值。
9.如權(quán)利要求8所述的閃存裝置，其中該測試裝置為外接測試裝置或外接控制單元。
10.如權(quán)利要求8所述的閃存裝置，其中該測試裝置當(dāng)該編程驗證操作驗證出臨界值小于該編程驗證電壓的所述存儲單元的數(shù)量小于一預(yù)設(shè)參考 值時，記錄該編程驗證操作對應(yīng)的編程操作所對應(yīng)的脈沖編程電壓的電壓值為該記錄編程電壓值。
11.如權(quán)利要求8所述的閃存裝置，其中該測試裝置當(dāng)各該讀取操作中，臨界值大于對應(yīng)的各該脈沖讀取電壓的電壓值的存儲單元的數(shù)量小于一預(yù)設(shè)參考值時，記錄對應(yīng)的各該脈沖讀取電壓的電壓值為該記錄讀取電壓值。
12.如權(quán)利要求8所述的閃存裝置，其中該測試裝置設(shè)定該起始編程電壓值＝Vn–RDm+PVn+Voffset，
其中，Vn為該記錄編程電壓值，RDm為該記錄讀取電壓值，PVn為一一般性編程驗證操作的電壓值，Voffest為預(yù)設(shè)的一偏移電壓值。
13.如權(quán)利要求8所述的閃存裝置，其中該測試裝置還依據(jù)該記錄讀取電壓值、該編程驗證電壓的電壓值以及預(yù)設(shè)的一編程次數(shù)以計算出一編程脈沖電壓遞增值。
14.如權(quán)利要求12所述的閃存裝置，儲存該記錄編程電壓值、該記錄讀取電壓值、該編程驗證電壓的電壓值、該偏移電壓值、一般性編程驗證操作的電壓值、該起始編程電壓值及該編程脈沖電壓遞增值至該閃存的控制器中。