存儲器地址的測試方法及測試裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種存儲器地址的測試方法，其包括將所述存儲器的地址空間轉換為二進制的M位地址；指定所述二進制的M位地址中特定的N位均為1時或特定的N位均為0時所對應的地址為所述地址空間中需跳過測試的地址；將該N位地址分配至第一地址組，將剩余M-N位地址分配至第二地址組；以及將所述第一地址組的N位地址和所述第二地址組的M-N位地址按所述二進制的M位地址的位階順序，以特定規(guī)則對所述第一地址組和第二地址組遍歷以對對應的地址進行測試。本發(fā)明使得測試機臺能夠對存儲器空間地址進行測試的時候跳過特定地址。
【專利說明】存儲器地址的測試方法及測試裝置

【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及存儲器測試【技術領域】，尤其涉及一種存儲器地址的測試方法及測試裝置。

【背景技術】
[0002]存儲器作為能夠存放數(shù)據(jù)、指令、程序等信息，并能根據(jù)需要讀取或存取這些信息的集成電路元器件，正得到越來越廣泛的應用。為了保證存儲器能夠穩(wěn)定可靠地工作，需要對其進行許多必要的測試。大多數(shù)測試機臺，如Mosaid機臺，雖然可以對各種存儲器如DRAM或SRAM提供功能、時序等測試，但在進行測試時是依次對存儲器地址空間中的各個地址進行測試，不支持對存儲器地址空間中某些特定地址跳過的測試方式。具體來說，通常Mosaid機臺會將存儲器的地址空間劃分為前后兩部分，前半部分的地址和后半部分的地址分別從最小地址遍歷至最大地址來對每個地址進行測試，但如果想要跳過某些特定地址不對其測試，依據(jù)現(xiàn)有的測試機臺則無法實現(xiàn)。
[0003]因此，有必要提出一種存儲器測試方法，能夠實現(xiàn)利用測試機臺對存儲器空間地址進行測試的時候跳過特定地址。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術的缺陷，提供一種能夠跳過存儲器地址空間中特定地址的存儲器測試方法。
[0005]本發(fā)明是通過以下技術方案實現(xiàn)的:
[0006]一種存儲器地址的測試方法，其包括以下步驟:
[0007]S1:將所述存儲器的地址空間轉換為二進制的M位地址；
[0008]S2:指定所述二進制的M位地址中特定的N位均為I時或特定的N位均為O時所對應的地址為所述地址空間中需跳過測試的地址，M、N和M-N為正整數(shù)；
[0009]S3:將該N位地址分配至第一地址組，將剩余M-N位地址分配至第二地址組；
[0010]S4:將所述第一地址組的N位地址和所述第二地址組的M-N位地址按所述二進制的M位地址的位階順序，以特定規(guī)則對所述第一地址組和第二地址組遍歷以對對應的地址進行測試；
[0011]其中所述特定規(guī)則為:對于所述第一地址組，對除N位均為I或均為O的地址外的其他各地址進行遍歷；對于所述第二地址組，對全部地址進行遍歷。
[0012]優(yōu)選的，對于所述第一地址組，當指定所述二進制的M位地址中N位均為I時對應的地址為需跳過測試的地址時，從該第一地址組的最小地址至僅小于最大地址的次最大地址依次遍歷，當指定所述二進制的M位地址中N位均為O時對應的地址為需跳過測試的地址時從該第一地址組的僅大于所述最小地址的次最小地址至所述最大地址依次遍歷。
[0013]優(yōu)選的，對于所述第二地址組從其最小地址至其最大地址依次遍歷。
[0014]優(yōu)選的，在所述第一地址組中，該特定的N位地址從低位至高位依次排列；在所述第二地址組中，該剩余的M-N位地址從低位至高位依次排列。
[0015]優(yōu)選的，若步驟S2中指定所述二進制的M位地址中最高位為I時所對應的地址為需跳過測試的地址，該需跳過測試的地址為所述存儲器全部地址的第2m/2?2m-1個地址；若步驟S2中指定所述二進制的M位地址中最高位為O時所對應的地址為需跳過測試的地址，該需跳過測試的地址為所述存儲器全部地址的第O?2m/2-1個地址。
[0016]優(yōu)選的，若步驟S2中指定所述二進制的M位地址中最低位為I時所對應的地址為需跳過測試的地址，該需跳過測試的地址為所述存儲器全部地址的奇數(shù)位的地址；若步驟S2中指定所述二進制的M位地址中最低位為O時所對應的地址為需跳過測試的地址，該需跳過測試的地址為所述存儲器全部地址的偶數(shù)位的地址。
[0017]進一步的，本發(fā)明還提供了一種存儲器地址的測試裝置，包括:
[0018]轉換模塊，用于將所述存儲器的地址空間轉換為二進制的M位地址；
[0019]指定模塊，用于指定所述二進制的M位地址中特定的N位均為I時或特定的N位均為O時所對應的地址為所述地址空間中需跳過測試的地址，M、N和M-N為正整數(shù)；
[0020]分配模塊，用于將該特定的N位地址分配至第一地址組，將剩余M-N位地址分配至第二地址組；以及
[0021]測試模塊，用于將所述第一地址組的N位地址和所述第二地址組的M-N位地址按所述二進制的M位地址的位階順序，以特定規(guī)則對所述第一地址組和第二地址組遍歷并對對應的地址進行測試；其中所述特定規(guī)則為:對于所述第一地址組，對除N位均為I或均為O的地址外的其他各地址進行遍歷；對于所述第二地址組，對全部地址進行遍歷。
[0022]優(yōu)選的，當所述指定模塊指定所述二進制的M位地址中N位均為I時對應的地址為需跳過測試的地址時，所述測試模塊從該第一地址組的最小地址至僅小于最大地址的次最大地址依次遍歷，當所述指定模塊指定所述二進制的M位地址中N位均為O時對應的地址為需跳過測試的地址時，所述測試模塊從該第一地址組的僅大于所述最小地址的次最小地址至所述最大地址依次遍歷。
[0023]優(yōu)選的，所述測試模塊從所述第二地址組的最小地址至其最大地址依次遍歷。
[0024]優(yōu)選的，所述分配模塊將所述第一地址組中的該特定的N位地址從低位至高位依次排列；將所述第二地址組中的該剩余的M-N位地址從低位至高位依次排列。
[0025]本發(fā)明的有益效果在于，通過將地址空間轉換為二進制的地址位并對地址位的重新分組，將原本跳躍性分散在地址空間中的不進行測試的特殊地址轉換至連續(xù)的地址，能夠根據(jù)需求僅對需要測試的存儲器地址測試，有效降低了測試成本提高了測試效率。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0026]圖1是本發(fā)明一實施例存儲器地址的測試方法的流程圖；
[0027]圖2是本發(fā)明一實施例存儲器地址的測試裝置的方塊圖。

【具體實施方式】
[0028]為使本發(fā)明的內(nèi)容更加清楚易懂，以下結合說明書附圖，對本發(fā)明的內(nèi)容作進一步說明。當然本發(fā)明并不局限于該具體實施例，本領域內(nèi)的技術人員所熟知的一般替換也涵蓋在本發(fā)明的保護范圍內(nèi)。
[0029]圖1所示為本發(fā)明存儲器地址的測試方法的流程圖，以下將結合圖2以一具體實施例詳細描述本發(fā)明能夠跳過特定地址的存儲器地址的測試方法，該實施例中應用Mosaid機臺對存儲器地址進行測試。
[0030]首先，執(zhí)行步驟S1:將存儲器的地址空間轉換為二進制的M位地址。該步驟中，根據(jù)存儲器地址空間的大小進行二進制轉換，得到M位地址。本實施例中，以存儲器地址空間具有128個地址(O~127)為例，轉換成二進制的6位地址AO~A5 (000000~111111)。
[0031]接著，進行步驟S2:指定二進制的M位地址中特定的N位均為I時或特定的N位均為O時所對應的地址為地址空間中需跳過測試的地址。該步驟中，在二進制的M位地址中，以其中特定某一位或幾位地址均為I或均為O時所對應的地址作為不需要進行測試的地址。而特定的N位地址可以是連續(xù)分布的，也可以是分散跳躍式分布在地址空間中的。本實施例中假設6位地址AO~A5中最低位AO和最高位A5均為I時所對應的地址需跳過測試。
[0032]之后，進行步驟S3:將該特定的N位地址分配至第一地址組，將剩余M-N位地址分配至第二地址組。這里的M、N和M-N都是正整數(shù)。該步驟中，對M位地址進行拆分，將其中特定的N位地址和剩余的M-N位地址分成兩組。較佳的，在第一地址組和第二地址組中，特定的N位地址仍從低位至高位依次排列，剩余的M-N位地址也是從低位至高位依次排列。本實施例中，將AO和A5分配至第一地址組，將Al~A4分配至第二地址組。
[0033]然后，進行步驟S4:將第一地址組的N位地址和第二地址組的M-N位地址按二進制的M位地址的位階順序，并以特定規(guī)則對第一地址組和第二地址組遍歷以對對應的地址進行測試。
[0034]該步驟中，首先需保證第一地址組的N位地址和第二地址組的M-N位地址所形成的M位地址與步驟SI中的M位地址的位階順序應一致，如在本實施例中雖然將AO和A5分配至第一地址組，將Al~A4分配至第二地址組，但進行地址測試時六位地址仍按照AO~A5的位階順序排列來得到實際地址。但對于第一地址組和第二地址組來說，則是按照特定規(guī)則分別遍歷(或訪問)，對遍歷結果結合后得到不同的地址，并對該些地址進行測試。具體來說，特定規(guī)則為:對于第一地址組，對除N位均為I或均為O的地址外的其他各地址進行遍歷；對于第二地址組，對全部地址進行遍歷。因此，將第一地址組和第二地址組的遍歷結果重新組合后，所得到的地址可以排除需跳過測試的地址。在一較佳實施例中，當指定二進制的M位地址中N位均為I時對應的地址為需跳過測試的地址時，從該第一地址組的最小地址至僅小于最大地址的次最大地址(即最大地址-1)依次遍歷，當指定二進制的M位地址中N位均為O時對應的地址為需跳過測試的地址時從該第一地址組的僅大于最小地址的次最小地址(最小地址+1)至最大地址依次遍歷。而對于第二地址組，則從其最小地址至其最大地址依次遍歷。
[0035]下表為本實施例中第一地址組和第二地址組依次遍歷得到的結果。
[0036]

【權利要求】
1.一種存儲器地址的測試方法，其特征在于，包括以下步驟: 51:將所述存儲器的地址空間轉換為二進制的M位地址； 52:指定所述二進制的M位地址中特定的N位均為I時或特定的N位均為O時所對應的地址為所述地址空間中需跳過測試的地址，M、N和M-N為正整數(shù)； 53:將該N位地址分配至第一地址組，將剩余M-N位地址分配至第二地址組； 54:將所述第一地址組的N位地址和所述第二地址組的M-N位地址按所述二進制的M位地址的位階順序，以特定規(guī)則對所述第一地址組和第二地址組遍歷以對對應的地址進行測試; 其中所述特定規(guī)則為:對于所述第一地址組，對除N位均為I或均為O的地址外的其他各地址進行遍歷；對于所述第二地址組，對全部地址進行遍歷。
2.根據(jù)權利要求1所述的存儲器地址的測試方法，其特征在于，在所述第一地址組中，該特定的N位地址從低位至高位依次排列；在所述第二地址組中，該剩余的M-N位地址從低位至高位依次排列。
3.根據(jù)權利要求2所述的存儲器地址的測試方法，其特征在于，對于所述第一地址組，當指定所述二進制的M位地址中N位均為I時對應的地址為需跳過測試的地址時，從該第一地址組的最小地址至僅小于最大地址的次最大地址依次遍歷，當指定所述二進制的M位地址中N位均為O時對應的地址為需跳過測試的地址時從該第一地址組的僅大于所述最小地址的次最小地址至所述最大地址依次遍歷。
4.根據(jù)權利要求3所述的存儲器地址的測試方法，其特征在于，對于所述第二地址組從其最小地址至其最大地址依次遍歷。
5.根據(jù)權利要求1所述的存儲器地址的測試方法，其特征在于，若步驟S2中指定所述二進制的M位地址中最高位為I時所對應的地址為需跳過測試的地址，該需跳過測試的地址為所述存儲器全部地址的第2M/2?2m-1個地址；若步驟S2中指定所述二進制的則立地址中最高位為O時所對應的地址為需跳過測試的地址，該需跳過測試的地址為所述存儲器全部地址的第O?2m/2-1個地址。
6.根據(jù)權利要求1所述的存儲器地址的測試方法，其特征在于，若步驟S2中指定所述二進制的M位地址中最低位為I時所對應的地址為需跳過測試的地址，該需跳過測試的地址為所述存儲器全部地址的奇數(shù)位的地址；若步驟S2中指定所述二進制的M位地址中最低位為O時所對應的地址為需跳過測試的地址，該需跳過測試的地址為所述存儲器全部地址的偶數(shù)位的地址。
7.一種存儲器地址的測試裝置，其特征在于，包括: 轉換模塊，用于將所述存儲器的地址空間轉換為二進制的M位地址； 指定模塊，用于指定所述二進制的M位地址中特定的N位均為I時或特定的N位均為O時所對應的地址為所述地址空間中需跳過測試的地址，M、N和M-N為正整數(shù)； 分配模塊，用于將該特定的N位地址分配至第一地址組，將剩余M-N位地址分配至第二地址組；以及 測試模塊，用于將所述第一地址組的N位地址和所述第二地址組的M-N位地址按所述二進制的M位地址的位階順序，以特定規(guī)則對所述第一地址組和第二地址組遍歷并對對應的地址進行測試；其中所述特定規(guī)則為:對于所述第一地址組，對除N位均為I或均為O的地址外的其他各地址進行遍歷；對于所述第二地址組，對全部地址進行遍歷。
8.根據(jù)權利要求7所述的測試裝置，其特征在于，所述分配模塊將所述第一地址組中的該特定的N位地址從低位至高位依次排列；將所述第二地址組中的該剩余的M-N位地址從低位至高位依次排列。
9.根據(jù)權利要求8所述的測試裝置，其特征在于，當所述指定模塊指定所述二進制的M位地址中N位均為I時對應的地址為需跳過測試的地址時，所述測試模塊從該第一地址組的最小地址至僅小于最大地址的次最大地址依次遍歷，當所述指定模塊指定所述二進制的M位地址中N位均為O時對應的地址為需跳過測試的地址時,所述測試模塊從該第一地址組的僅大于所述最小地址的次最小地址至所述最大地址依次遍歷。
10.根據(jù)權利要求9所述的測試裝置，其特征在于，所述測試模塊從所述第二地址組的最小地址至其最大地址依次遍歷。
【文檔編號】G11C29/56GK104200847SQ201410428598
【公開日】2014年12月10日 申請日期:2014年8月27日 優(yōu)先權日:2014年8月27日
【發(fā)明者】柯遙 申請人:上海華力微電子有限公司