技術(shù)編號：6767045
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了一種存儲器地址的測試方法，其包括將所述存儲器的地址空間轉(zhuǎn)換為二進(jìn)制的M位地址；指定所述二進(jìn)制的M位地址中特定的N位均為1時或特定的N位均為0時所對應(yīng)的地址為所述地址空間中需跳過測試的地址；將該N位地址分配至第一地址組，將剩余M-N位地址分配至第二地址組；以及將所述第一地址組的N位地址和所述第二地址組的M-N位地址按所述二進(jìn)制的M位地址的位階順序，以特定規(guī)則對所述第一地址組和第二地址組遍歷以對對應(yīng)的地址進(jìn)行測試。本發(fā)明使得測試機(jī)臺能夠?qū)Υ鎯ζ骺臻g...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
該類技術(shù)無源代碼，用于學(xué)習(xí)原理，如您想要源代碼請勿下載。