地址檢測電路及包括其的存儲器的制造方法
【專利摘要】一種地址檢測電路包括：第一至第N地址儲存單元，其適用于儲存地址；第一至第N計算單元，每個計算單元適用于在將地址儲存在地址儲存單元當中的對應地址儲存單元中或輸入有儲存在對應地址儲存單元中的地址時執(zhí)行計數(shù)操作；控制單元，其適用于將輸入地址順序地儲存在地址儲存單元中，且在地址儲存單元每個都儲存地址時將輸入地址儲存在地址儲存單元當中的選定地址儲存單元中；以及檢測單元，其適用于基于計算單元的輸出而檢測儲存在地址儲存單元中的地址當中被輸入了參考數(shù)目的次數(shù)或更多次的地址。
【專利說明】地址檢測電路及包括其的存儲器
[0001]相關申請的交叉引用
[0002]本申請要求2013年9月25日提交的韓國專利申請第10_2013_0113882號的優(yōu)先權，其全部內(nèi)容以全文引用的方式并入本文中。

【技術領域】
[0003]本發(fā)明的示例性實施例涉及半導體設計技術，更具體而言，涉及一種地址檢測電路、一種存儲器及一種存儲系統(tǒng)。

【背景技術】
[0004]隨著存儲器的集成度增加，存儲器(諸如動態(tài)隨機存取存儲器“DRAM”)中包括的字線之間的空間減小。由于字線之間的減小空間，相鄰的字線之間的耦合效應增加。因此，當存儲器的特定字線在刷新操作之間被激活了過多次或頻繁地被激活時，與相鄰于該特定字線的字線連接的存儲器單元的數(shù)據(jù)可能劣化。此現(xiàn)象稱為字線干擾或行打擊(rowhammer)。由于字線干擾，即使在待刷新的存儲器單元的保持時間之內(nèi)，存儲器儲器單元的數(shù)據(jù)也可能劣化。
[0005]圖1是說明存儲器中包括的單元陣列的一部分的圖，以用于描述字線干擾。
[0006]在圖1中，BL及BL+1表示位線，WLK-1、WLK及WLK+1表示順序地安置于單元陣列內(nèi)的三個字線。在字線WLK-1、WLK及WLK+1當中，具有“HIGH_ACT”的WLK對應于頻繁激活字線、高激活字線或具有大的激活數(shù)目的字線(即以高頻率被激活)，且WLK-1及WLK+1對應于與頻繁激活字線WLK相鄰安置的相鄰字線。此外，CELL_K-1、CELL_K及CELL_K+1分別表示連接至字線WLK-1、WLK及WLK+1的存儲器單元。存儲器單元CELL_K_1、CELL_K及CELL_K+1分別包括單元晶體管TR_K-1、TR_K及TR_K+1以及單元電容器CAP_K_1、CAP_K及CAP_K+1。
[0007]當激活或預充電(S卩，去激活)頻繁激活字線WLK時，相鄰字線WLK-1及WLK+1的電壓由于頻繁激活字線WLK與相鄰字線WLK-1及WLK+1之間所產(chǎn)生的耦合效應而增加或減小。因此，充入單元電容器CAP_K-1及CAP_K+1中的電荷量受到影響，使得儲存在存儲器單元CELL_K-1及CELL_K+1中的數(shù)據(jù)可能劣化。
[0008]此外，當字線在激活狀態(tài)與預充電狀態(tài)之間切換時產(chǎn)生的電磁波將電子引入至與相鄰字線相連的存儲器單元所包括的單元電容器中或使電子從所述單元電容器放電，由此使存儲器單元的數(shù)據(jù)劣化。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0009]本發(fā)明的各種實施例針對一種地址檢測電路及一種存儲器以及一種存儲系統(tǒng)，所述地址檢測電路可通過將儲存用以檢測頻繁激活字線的地址的數(shù)目最小化而減小電路面積。
[0010]本發(fā)明的其它實施例針對一種地址檢測電路及一種存儲器以及一種存儲系統(tǒng)，所述地址檢測電路可刷新與頻繁激活字線相鄰安置的相鄰字線，由此防止由于字線干擾所致的數(shù)據(jù)劣化。
[0011]在本發(fā)明的實施例中，一種地址檢測電路可包括:第一至第N地址儲存單元，其適用于儲存地址；第一至第N計算單元，每個計算單元適用于在將地址儲存在地址儲存單元當中的對應地址儲存單元中或輸入有儲存在對應地址儲存單元中的地址時執(zhí)行計數(shù)操作；控制單元，其適用于將輸入地址順序地儲存在地址儲存單元中，且在所有的地址儲存單元每個都儲存地址時將輸入地址儲存在地址儲存單元當中的選定地址儲存單元中；及檢測單元，其適用于基于計算單元的輸出而檢測儲存在地址儲存單元中的地址當中的被輸入了參考數(shù)目的次數(shù)或更多次的地址。
[0012]在本發(fā)明的實施例中，一種存儲器可包括:第一至第N字線，每個字線連接至一個或更多個存儲器單元；地址檢測單元，其包括第一至第N地址儲存單元，且適用于在激活操作期間將輸入地址順序地儲存在地址儲存單元中、通過在將地址儲存在地址儲存單元中或輸入有所儲存的地址時執(zhí)行計數(shù)操作而產(chǎn)生第一至第N計算值、在所有的地址儲存單元每個都儲存地址時將輸入地址儲存在選定地址儲存單元中、且基于計算值而檢測被輸入了參考數(shù)目的次數(shù)或更多次的地址；及控制單元，其適用于響應于在設定周期輸入的刷新命令而順序地刷新字線，且在由地址檢測單元檢測到地址時響應于刷新命令而刷新與由地址檢測單元所檢測到的地址相對應的字線相鄰的一個或更多個字線。
[0013]在本發(fā)明的實施例中，一種存儲系統(tǒng)可包括:存儲器，其包括每個都連接至一個或更多個存儲器單元的第一至第N字線，且適用于在激活操作期間儲存及激活字線當中的對應于輸入地址的字線、在刷新操作期間順序地刷新字線、且在目標刷新操作期間刷新由輸入地址選擇的字線；地址檢測電路，其包括第一至第N地址儲存單元，且適用于在激活操作期間將輸入地址順序地儲存在地址儲存單元中、通過在將地址儲存在地址儲存單元中或輸入所儲存的地址時進行計數(shù)而產(chǎn)生第一至第N計算值、在所有的地址儲存單元每個都儲存地址時將輸入地址儲存在選定地址儲存單元中、且基于計算值而檢測被輸入了參考數(shù)目的次數(shù)或更多次的地址；及存儲器控制器，其適用于在激活操作期間將激活命令傳輸至存儲器、在刷新操作期間將刷新命令傳輸至存儲器、且在目標刷新操作期間將激活命令、預充電命令及所檢測到的地址傳輸至存儲器。
[0014]N可等于或大于通過將在設定周期期間執(zhí)行的激活操作的總數(shù)目除以參考數(shù)目而獲得的值。
[0015]地址檢測電路可被包括在存儲器或存儲器控制器中。
[0016]當所有的地址儲存單元每個都儲存地址且輸入有與儲存在地址儲存單元中的地址不同的地址時，地址檢測電路在最小計算值為計算值當中的最小值的情況下從計算值減去最小計算值、通過累加最小計算值而產(chǎn)生累加值、選擇對應于計算值當中的最小計算值的地址儲存單元，且地址檢測電路檢測儲存在地址儲存單元當中的對應計算值與累加值的總和等于或大于對應于參考數(shù)目的參考值的地址儲存單元中的地址。
[0017]當所有的地址儲存單元每個都儲存地址時，地址檢測電路:從計算值減去單位值；在所有的地址儲存單元每個都儲存地址時，從儲存在其中的值減去單位值，其中所儲存的值的初始值為對應于參考數(shù)目的參考值；選擇地址儲存單元當中的對應于等于初始值的計算值的地址儲存單元，且地址檢測電路檢測儲存在地址儲存單元當中的對應于等于或大于所儲存的值的計算值的地址儲存單元中的地址。
[0018]地址檢測電路產(chǎn)生對應于輸入地址的總數(shù)目的總輸入值，且當所有的地址儲存單元每個都儲存地址時，地址檢測電路從計算值減去單位值、產(chǎn)生通過從將總輸入值除以設定值而獲得的值減去單位值的累加值而獲得的參考值、選擇地址儲存單元當中的對應于等于初始值的計算值的地址儲存單元，且檢測儲存在地址儲存單元當中的對應于等于或大于參考值的計算值的地址儲存單元中的地址。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0019]圖1是說明存儲器中包括的單元陣列的一部分的圖，以用于描述字線干擾；
[0020]圖2是說明根據(jù)本發(fā)明的實施例的地址檢測電路的框圖；
[0021]圖3是說明根據(jù)本發(fā)明的實施例的地址檢測電路的框圖；
[0022]圖4是用于描述圖3中所示的地址檢測電路的操作的圖；
[0023]圖5是說明根據(jù)本發(fā)明的實施例的地址檢測電路的框圖；
[0024]圖6是用于描述圖5中所示的地址檢測電路的操作的圖；
[0025]圖7是說明根據(jù)本發(fā)明的實施例的地址檢測電路的框圖；
[0026]圖8是用于描述圖7中所示的地址檢測電路的操作的圖；
[0027]圖9是說明根據(jù)本發(fā)明的實施例的存儲器的框圖；以及
[0028]圖10是說明根據(jù)本發(fā)明的實施例的存儲系統(tǒng)的框圖。

【具體實施方式】
[0029]下面將參照附圖更詳細地描述各種實施例。然而，本發(fā)明可以用不同的方式實施，而不應解釋為局限于本文所列的實施例。確切地說，提供這些實施例使得本公開充分與完整，并將向本領域技術人員充分地傳達本發(fā)明的范圍。在本公開中，附圖標記直接對應于本發(fā)明的不同附圖與實施例中的相似部分。也應當注意的是，在本說明書中，“連接/耦接”不僅表示一個部件與另一個部件直接耦接，還表示經(jīng)由中間部件與另一個部件間接耦接。另夕卜，只要未在句中特意提及，單數(shù)形式可以包括復數(shù)形式。
[0030]在以下描述中，頻繁激活字線或目標行可表示激活數(shù)目滿足設定條件的字線，頻繁輸入地址可表示對應于頻繁激活字線的地址。
[0031]圖2是說明根據(jù)本發(fā)明的實施例的地址檢測電路的框圖。
[0032]如圖2中所示，地址檢測電路可包括第一地址儲存單元210_1至第N地址儲存單元210_N、第一計算單元220_1至第N計算單元220_N、控制單元230及檢測單元240。地址檢測電路可對儲存在每個地址儲存單元中的地址與輸入命令IN_CMD —起被輸入了多少次進行計數(shù)，且檢測輸入計數(shù)數(shù)目滿足設定條件的地址。
[0033]第一地址儲存單元210_1至第N地址儲存單元210_N中的每個可儲存一個地址且輸出所儲存的地址。第一地址儲存單元210_1至第N地址儲存單元210_1^可產(chǎn)生第一占用信號USE_1至第N占用信號USE_N，且可在地址儲存在其中時激活相應的占用信號。第一地址儲存單元210_1至第N地址儲存單元210_N可分別對應于第一使能信號EN_1至第N使能信號EN_N。當激活輸入命令IN_CMD及對應的使能信號時，第一地址儲存單元210_1至第N地址儲存單元210_N中的每個可儲存輸入地址IN_ADD。
[0034]第一計算單元220_1至第N計算單元220_N可分別對應于第一地址儲存單元210_1至第N地址儲存單元210_N。當將地址儲存在相應的地址儲存單元中或輸入了儲存在相應的地址儲存單元中的地址時，第一計算單元220_1至第N計算單元220_N可執(zhí)行計數(shù)操作以分別產(chǎn)生第一計算值CAL_1至第N計算值CAL_N。當激活對應的地址儲存單元的使能信號時，第一計算單元220_1至第N計算單元220_N中的每個可使計算值增加單位值，舉例而言，“I”。當激活輸入命令IN_CMD且對應的地址儲存單元的輸出等于輸入地址IN_CMD時,第一計算單元220_1至第N計算單元220_N中的每個可使計算值增加單位值。
[0035]針對此操作，第一計算單元220_1至第N計算單元220_N可分別包括第一比較器221_1至第N比較器221_N以及第一計算器222_1至第N計算器222_N。第一比較器221_1至第N比較器221_N可分別產(chǎn)生第一比較信號CMP_1至第N比較信號CMP_N。當激活輸入命令IN_CMD且對應的地址儲存單元的輸出等于輸入地址IN_ADD時，第一比較器221_1至第N比較器221_N中的每個可激活比較信號。第一計算器222_1至第N計算器222_N可分別產(chǎn)生第一計算值CAL_1至第N計算值CAL_N。當激活對應的地址儲存單元的使能信號或激活對應的比較信號時，第一計算器222_1至第N計算器222_N中的每個可增加計算值。
[0036]第一地址儲存單元210_1至第N地址儲存單元210_N以及第一計算單元220_1至第N計算單元220_N可分別接收第一復位信號RST_1至第N復位信號RST_N。第一地址儲存單元210_1至第N地址儲存單元210_N以及第一計算單元220_1至第N計算單元220_N中的每個可在對應的復位信號被激活時復位。
[0037]控制單元230可控制輸入地址IN_ADD被順序地儲存在第一地址儲存單元210_1至第N地址儲存單元210_N中。當所有的第一地址儲存單元210_1至第N地址儲存單元210_N每個都儲存地址時，控制單元230可控制輸入地址IN_ADD被順序地儲存在第一地址儲存單元210_1至第N地址儲存單元210_N當中的選定的地址儲存單元中?？刂茊卧?30可響應于輸入命令IN_CMD而在第一地址儲存單元210_1至第N地址儲存單元210_N當中選擇地址儲存單元來儲存輸入地址IN_ADD，且激活對應于選定的地址儲存單元的使能信號。
[0038]控制單元230可選擇與第一占用信號USE_1至第N占用信號USE_N當中的去激活占用信號相對應的地址儲存單元。當激活第一至第N比較信號中的任何一個時，控制單元230可去激活第一使能信號EN_1至第N使能信號EN_N。當激活比較信號時，輸入地址IN_ADD不必儲存在地址儲存單元中，這是因為所儲存的地址等于輸入地址IN_ADD。
[0039]當去激活第一占用信號USE_1至第N占用信號USE_N中的兩個或更多個占用信號時，控制單元230可選擇與去激活占用信號中的領先占用信號相對應的地址儲存單元。舉例而言，當去激活第二占用信號USE_2、第三占用信號USE_3及第八占用信號USE_8時，控制單元230可選擇與去激活占用信號當中的第二占用信號USE_2相對應的第二地址儲存單元210_2。因此，當去激活所有的第一占用信號USE_1至第N占用信號USE_N時，控制單元230可順序地選擇第一地址儲存單元210_1至第N地址儲存單元210_N。當激活所有的第一占用信號USE_1至第N占用信號USE_N時，控制單元230可根據(jù)設定條件而選擇地址儲存單元。下文將參考圖3至圖8描述設定條件。
[0040]當激活檢測信號DET時，控制單元230可將與第一比較信號CMP_1至第N比較信號CMP_N當中的激活比較信號相對應的地址儲存單元及計算單元初始化。當初始化地址儲存單元時，其可表示擦除儲存在地址儲存單元中的地址且去激活對應的占用信號。當初始化計算單元時，其可表示計算值被設定為初始值，舉例而言，對應于“O”的值。初始化的計算單元可重新開始執(zhí)行計數(shù)操作?？刂茊卧?30產(chǎn)生第一復位信號RST_1至第N復位信號RST_N。當激活檢測信號DET時，控制單元230可激活對應于激活比較信號的復位信號。[0041 ] 檢測單元240可基于從第一至第N計算單元輸出的第一計算值CAL_1至第N計算值CAL_N而檢測儲存在第一至第N地址儲存單元中的地址當中的被輸入了參考次數(shù)或更多次的地址。檢測單元240可將第一計算值CAL_1至第N計算值CAL_N與參考值REF_VAL進行比較、在第一計算值CAL_1至第N計算值CAL_N中的任何一個等于或大于參考值REF_VAL時激活檢測值DET、且將儲存在與等于或大于參考值REF_VAL的計算值相對應的地址儲存單元中的地址輸出作為頻繁輸入地址DET_ADD。
[0042]可通過將設定周期期間輸入的地址的總數(shù)目除以參考數(shù)目而設定地址檢測電路中包括的地址儲存單元的數(shù)目N。這是因為在設定周期期間可被輸入等于或大于參考數(shù)目的數(shù)目的地址的數(shù)目，等于或小于通過將總輸入數(shù)目除以參考數(shù)目而獲得的值(即，N彡總輸入數(shù)目/參考數(shù)目)。設定周期時段可取決于設計者而不同。當存儲器中包括地址檢測電路時，設定周期可表示將存儲器的單元陣列所包括的所有的第一至第N字線刷新所需的時間“tRFC”。參考數(shù)目可取決于設計者而不同。當存儲器中包括地址檢測電路時，參考數(shù)目可表示在設定周期期間字線干擾可影響相鄰字線的、字線的激活-預充電操作的數(shù)目。
[0043]舉例而言，當設定周期為64ms時，則在設定周期期間可執(zhí)行16個激活-預充電操作，即，總輸入數(shù)目為106。此外，存儲器所包括的每個字線可以用如下方式來設計:即使當相鄰字線在設定周期期間被激活-預充電1.28 X 15次時，即，參考數(shù)目為1.28X 105，連接至字線的存儲器單元的數(shù)據(jù)也不劣化。因此，存儲器可檢測激活-預充電操作的數(shù)目在設定周期期間等于或大于參考數(shù)目的字線，且刷新與檢測到的字線相鄰的字線。此時，可在設定周期期間執(zhí)行激活-預充電操作比參考數(shù)目更多次的字線的數(shù)目等于或小于“總輸入數(shù)目/參考數(shù)目”。因此，由于“總輸入數(shù)目/參考數(shù)目”大約為7.8 ( S卩，10711.28 X 15)，因此在設定周期期間可出現(xiàn)最多七個頻繁激活字線。因此，在設定周期期間可儲存七個或八個地址以檢測所有的頻繁激活字線或目標行。
[0044]雖然在設定周期期間僅以最多八個地址來對輸入的數(shù)目計數(shù)，但可檢測所有的頻繁輸入地址。當在所有的地址儲存單元每個都儲存地址的狀態(tài)中輸入新地址時，可取代輸入的數(shù)目正在被計數(shù)的地址當中的較不可能變?yōu)轭l繁輸入地址的地址而儲存所述新地址。另外，可對所儲存的地址被輸入了多少次進行計數(shù)。將參考圖3至圖8描述用于選擇較不可能變?yōu)轭l繁輸入地址的地址的方法。
[0045]根據(jù)本發(fā)明的實施例的地址檢測電路可考慮在設定周期期間出現(xiàn)的最大數(shù)目的頻繁激活字線而將地址儲存單元的數(shù)目最小化。因此，可最小化地址檢測電路的電路面積，且可有效地檢測頻繁輸入地址。
[0046]圖3是根據(jù)本發(fā)明的實施例的地址檢測電路的框圖。
[0047]如圖3中所示，地址檢測電路可包括第一地址儲存單元310_1至第N地址儲存單元310_N、第一計算單元320_1至第N計算單元320_N、控制單元330及檢測單元340。
[0048]第一地址儲存單元310_1至第N地址儲存單元310_N以與圖2中所示的第一地址儲存單元210_1至第N地址儲存單元210_N相同的方式操作。然而，當激活第一初始化信號INIT_1至第N初始化信號INIT_N當中的對應的初始化信號時，第一地址儲存單元310_1至第N地址儲存單元310_N中的每個還可擦除儲存在其中的地址且去激活對應的占用信號。
[0049]第一計算單元320_1至第N計算單元320_N對應于第一地址儲存單元310_1至第N地址儲存單元310_N，且可通過以與圖2中所示的第一計算單元220_1至第N計算單元220_N相同的方式執(zhí)行計數(shù)操作而分別產(chǎn)生第一計算值CAL_1至第N計算值CAL_N。第一計算單元320_1至第N計算單元320_N可分別產(chǎn)生第一初始化信號INIT_1至第N初始化信號INIT_N。當在激活地址完整信號FULL_ADD的狀態(tài)中初始化對應的計算值時，第一計算單元320_1至第N計算單元320_N中的每個可激活初始化信號。當所有的第一地址儲存單元310_1至第N地址儲存單元310_N每個都儲存地址時，第一計算單元320_1至第N計算單元320_N可在輸入有與儲存在第一地址儲存單元310_1至第N地址儲存單元310_N中的地址不同的地址時通過從對應的計算值減去最小計算值CAL_MIN而獲得的值來更新對應的計算值。
[0050]針對此操作，第一計算單元320_1至第N計算單元320_N可分別包括第一比較器321_1至第N比較器321_N以及第一計算器322_1至第N計算器322_N。第一比較器321_1至第N比較器321_N可分別產(chǎn)生第一比較信號CMP_1至第N比較信號CMP_N。當激活輸入命令IN_CMD時，第一比較器321_1至第N比較器321_N中的每個可在對應的地址儲存單元的輸出等于輸入地址IN_ADD時激活對應的比較信號。
[0051]第一計算器322_1至第N計算器322_N可分別產(chǎn)生第一計算值CAL_1至第N計算值CAL_N。當激活對應的使能信號或激活對應的比較信號時，第一計算器322_1至第N計算器322_N中的每個可增加計算值。在激活地址完整信號FULL_ADD及總和比較信號CMP_SUMB的情況下，第一計算器322_1至第N計算器322_N中的每個可以通過從計算值減去最小計算值CAL_MIN而獲得的值來更新計算值。
[0052]第一地址儲存單元310_1至第N地址儲存單元310_N以及第一計算單元320_1至第N計算單元320_N中的每個可在對應的復位信號被激活時復位。
[0053]控制單元330可基于第一占用信號USE_1至第N占用信號USE_N而選擇地址儲存單元，類似于圖2中所示的控制單元220?？刂茊卧?30可在所有的第一地址儲存單元310_1至第N地址儲存單元310_N每個都儲存地址時(即，在所有的第一占用信號USE_1至第N占用信號USE_N都被激活時)激活地址完整信號FULL_ADD，且在輸入有與儲存在第一地址儲存單元310_1至第N地址儲存單元310_N中的地址不同的地址時選擇與第一計算單元320_1至第N計算單元320_N當中的具有最小輸出值的計算單元相對應的地址儲存單元?？刂茊卧?30可激活對應于選定地址儲存單元的使能信號。當去激活所有的第一比較信號CMP_1至第N比較信號CMP_N時，控制單元330可激活總和比較信號CMP_SUMB。當所有的第一地址儲存單元310_1至第N地址儲存單元310_N每個都儲存地址時，每當輸入有與儲存在第一地址儲存單元310_1至第N地址儲存單元310_N中的地址不同的地址時，控制單元330可通過累加最小輸出值(S卩，最小計算值CAL_MIN)而產(chǎn)生累加值CUMUL_VAL。控制單元330可產(chǎn)生第一復位信號RST_1至第N復位信號RST_N。當激活檢測信號DET時，控制單元330可激活對應于激活比較信號的復位信號。
[0054]控制單元330可包括信號發(fā)生部331、最小輸出值檢測部332及累加值發(fā)生部333。信號發(fā)生部331可激活第一使能信號EN_1至第N使能信號EN_N中的對應于去激活占用信號的使能信號。信號發(fā)生部331可在所有的第一比較信號CMP_1至第N比較信號CMP_N都被去激活時激活總和比較信號CMP_SUMPB，且可在所有的第一占用信號USE_1至第N占用信號USE_N都被激活時激活地址完整信號FULL_ADD。當去激活第一占用信號USE_1至第N占用信號USE_N中的兩個或更多個占用信號時，信號發(fā)生部331可激活對應于去激活占用信號當中的領先占用信號的使能信號。
[0055]當激活總和比較信號CMP_SUMPB及地址完整信號FULL_ADD時，最小輸出值檢測部332可將第一計算值CAL_1至第N計算值CAL_N中的最小值輸出為最小計算值CAL_MIN。
[0056]累加值發(fā)生部333可在總和比較信號CMP_SUMB及地址完整信號FULL_ADD被激活時通過累加最小計算值CAL_MIN而產(chǎn)生累加值CUMUL_VAL。在所有的第一至第N地址儲存單元每個都儲存地址的情況下，每當輸入有與儲存在第一地址儲存單元310_1至第N地址儲存單元310_N中的地址不同的地址時，可通過累加第一計算值CAL_1至第N計算值CAL_N中的最小值而獲得累加值CUMUL_VAL。
[0057]檢測單元340可檢測儲存在與第一至第N計算值CAL_1至CAL_4當中的累加值CUMUL_VAL和對應計算值的總和等于或大于參考值REF_VAL的計算值相對應的地址儲存單元中的地址。參考值REF_VAL對應于參考數(shù)目。檢測單元340可將通過將累加值CUMUL_VAL與第一計算值CAL_1至第N計算值CAL_N中的每個相加而獲得的值和參考值REF_VAL進行比較、輸出儲存在對應于等于或大于參考值REF_VAL的值的地址儲存單元中的頻繁輸入地址DET_ADD、以及激活檢測信號DET。通過將累加值CUMUL_VAL與第一計算值CAL_1至第N計算值CAL_N中的每個相加而獲得的值可等于或大于輸入儲存在地址儲存單元中的地址的次數(shù)。因此，儲存在對應計算值與累加值的總和等于或大于參考值REF_VAL的地址儲存單元中的地址可包括被輸入了參考數(shù)目次或更多次的地址。
[0058]地址檢測電路中包括的地址儲存單元的數(shù)目N可等于或大于通過將在設定周期期間輸入的地址的總數(shù)目除以參考數(shù)目而獲得的值。圖4是用于描述圖3中所示的地址檢測電路的操作的圖。在以下描述中，圖3中所示的地址檢測電路包括四個地址儲存單元(即，N = 4),且參考數(shù)目為100。
[0059]圖4說明將地址儲存在第一地址儲存單元310_1至第四地址儲存單元310_4中且產(chǎn)生第一計算值CAL_1至第四計算值CAL_4的過程。
[0060]由附圖標記310_1至310_4表示的塊可分別指示第一地址儲存單元310_1至第四地址儲存單元310_4。當?shù)刂穬Υ鎲卧磧Υ娴刂窌r，對應于地址儲存單元的塊可由“空”表示。由附圖標記320_1至320_4表示的塊可分別指示第一計算單元320_1至第四計算單元320_4。塊內(nèi)指示相應計算單元的數(shù)目可分別表示計算值CAL_1至CAL_4。由附圖標記333表示的塊可指示累加值發(fā)生部333。塊內(nèi)指示累加值發(fā)生部333的數(shù)目可表示累加值⑶MUL_VAL。
[0061]在初始化狀態(tài)中，在(A)中，第一地址儲存單元310_1至第四地址儲存單元310_4可未儲存地址，且對應于第一計算單元310_1至第四計算單元310_4的第一計算值CAL_1至第四計算值CAL_4可設定為初始值，舉例而言，“O”。
[0062]當輸入地址時，在第一地址儲存單元310_1中將地址儲存為地址ADDR_1，且第一計算值CAL_1增加“I”。然后，當輸入與儲存在第一地址儲存單元310_1中的地址相同的地址時，第一計算值CAL_1增加“I”。當輸入與儲存在第一地址儲存單元310_1中的地址ADDR_1不同的地址時，在第二地址儲存單元310_2中將輸入地址儲存為地址ADDR_2，且第二計算值CAL_2增加“ I ”。當輸入與儲存在地址儲存單元中的地址ADDR_1及ADDR_2中的每個相同的地址時，對應的計算值CAL_1或CAL_2增加“I”。當輸入與儲存在地址儲存單元中的地址ADDR_1及ADDR_2不同的地址時，將輸入地址儲存在下一地址儲存單元310_3中，且第三計算值CAL_3增加“ I ”。
[0063]這樣，當輸入與儲存在地址儲存單元中的地址相同的地址時，地址檢測電路使對應的計算值增加“I”。此外，當輸入與儲存在地址儲存單元中的地址不同的地址時，地址檢測電路將地址儲存在下一個空的地址儲存單元中。當所有的第一地址儲存單元310_1至第四地址儲存單元310_4每個都儲存地址時，激活地址完整信號FULL_ADD (B)。當在激活地址完整信號FULL_ADD之后輸入與儲存在第一地址儲存單元310_1至第四地址儲存單元310_4中的地址不同的地址ADDR_X時，利用通過從相應的計算值減去最小計算值CAL_MIN而獲得的值來更新第一計算值CAL_1至第四計算值CAL_4。舉例而言，在(C)中，當?shù)谝挥嬎阒礐AL_1至第四計算值CAL_4分別為67、36、54及23時，最小計算值CAL_MIN對應于23。當輸入不同于地址ADDR_1至ADDR_4的輸入地址ADDR_X時，第一計算單元320_1至第四計算單元320_4中的每個利用通過從計算值減去最小計算值CAL_MIN而獲得的值來更新對應的計算值，且累加值發(fā)生部333通過累加CAL_MIN而產(chǎn)生累加值CUMUL_VAL。因此，第一計算值CAL_1至第四計算值CAL_4分別更新至44、13、31及0，且累加值(^1^1^￥41^變?yōu)?3。在(D)中，計算值對應于初始值“O”的第四地址儲存單元310_4被初始化，控制單元330選擇第四地址儲存單元310_4來儲存輸入地址(即，ADDR_X)，且第四計算值CAL_4變?yōu)椤癐”。
[0064]此外，根據(jù)地址ADDR_1至ADDR_3及ADDR_X的后續(xù)輸入，(E)表示第一計算值CAL_1至第四計算值CAL_4分別為55、18、38及22的時候。
[0065]當輸入不同于地址ADDR_1至ADDR_3及ADDR_X的地址ADDR_Y時，最小計算值CAL_MIN變?yōu)?8。因此，第一計算值CAL_1至第四計算值CAL_4分別更新至37、0、20及4，且累加值CUMUL_VAL變?yōu)?1。在(F)中，第二地址儲存單元310_2被初始化，控制單元330選擇第二地址儲存單元310_2來儲存輸入地址(即，ADDR_Y)，且第二計算值CAL_2變?yōu)椤?I ”。
[0066]然后，當連續(xù)地輸入對應于ADDR_1、ADDR_3、ADDR_X及ADDR_Y的地址使得對應于地址ADDR_1的第一計算值CAL_1變?yōu)?9時，第一計算值CAL_1與累加值CUMUL_VAL的總和變?yōu)?00。因此，檢測單元340激活檢測信號DET，且將地址ADDR_1輸出為頻繁輸入地址DET_ADD(G)。然后，初始化第一地址儲存單元310_1及第一計算單元320_1。
[0067]當所有的儲存單元每個都儲存地址時，根據(jù)本發(fā)明的實施例的地址檢測電路可選擇地址儲存單元并儲存輸入地址。因此，地址儲存單元的數(shù)目可最小化。因此，可以有效檢測頻繁輸入地址，同時最小化地址檢測電路的電路面積。
[0068]圖5是根據(jù)本發(fā)明的實施例的地址檢測電路的框圖。
[0069]如圖5中所示，地址檢測電路可包括第一地址儲存單元510_1至第N地址儲存單元510_N、第一計算單元520_1至第N計算單元520_N、控制單元530及檢測單元540。
[0070]第一地址儲存單元510_1至第N地址儲存單元510_N以與圖2中所示的第一地址儲存單元210_1至第N地址儲存單元210_N相同的方式操作。然而，當激活第一初始化信號INIT_1至第N初始化信號INIT_N當中的對應初始化信號時，第一地址儲存單元510_1至第N地址儲存單元510_N中的每個還可擦除儲存在其中的地址且去激活對應的占用信號。
[0071]第一計算單元520_1至第N計算單元520_N可對應于第一地址儲存單元510_1至第N地址儲存單元510_N且通過以與圖2中所示的第一計算單元220_1至第N計算單元220_N相同的方式來執(zhí)行計數(shù)操作而分別產(chǎn)生第一計算值CAL_1至第N計算值CAL_N。第一計算單元520_1至第N計算單元520_N可分別產(chǎn)生第一初始化信號INIT_1至第N初始化信號INIT_N，且當計算值在地址完整信號FULL_ADD被激活時變?yōu)槌跏贾禃r可激活初始化信號。當所有的第一地址儲存單元510_1至第N地址儲存單元510_N每個都儲存地址時，第一計算單元520_1至第N計算單元520_N中的每個可以利用通過從計算值減去單位值而獲得的值來更新計算值。即，每當激活地址完整信號FULL_ADD時，第一計算單元520_1至第N計算單元520_N中的每個可從計算值減去I。
[0072]針對此操作，第一計算單元520_1至第N計算單元520_N可分別包括第一比較器521_1至第N比較器521_N以及第一計算器522_1至第N計算器522_N。第一比較器521_1至第N比較器521_N可分別產(chǎn)生第一比較信號CMP_1至第N比較信號CMP_N。當激活輸入命令IN_CMD時，在對應的地址儲存單元的輸出等于輸入地址IN_ADD的情況下，第一比較信號521_1至第N比較器521_N中的每個可激活對應的比較信號。
[0073]第一計算器522_1至第N計算器522_N可分別產(chǎn)生第一計算值CAL_1至第N計算值CAL_N。當激活對應的使能信號或激活對應的比較信號時，第一計算器522_1至第N計算器522_N中的每個可增加計算值。每當激活地址完整信號FULL_ADD時，第一計算器522_1至第N計算器522_N中的每個可使計算值減小I。
[0074]第一地址儲存單元510_1至第N地址儲存單元510_N以及第一計算單元520_1至第N計算單元520_N中的每個可在對應的復位信號被激活時復位。
[0075]控制單元530可基于第一占用信號USE_1至第N占用信號USE_N而選擇地址儲存單元，類似于圖2中所示的控制單元220。控制單元530可在所有的第一地址儲存單元510_1至第N地址儲存單元510_N每個都儲存地址時(即，在所有的第一占用信號USE_1至第N占用信號USE_N都被激活時)激活地址完整信號FULL_ADD，且在第一地址儲存單元510_1至第N地址儲存單元510_N當中選擇與計算值對應于初始值的計算單元相對應的地址儲存單元。初始值是初始化第一計算單元520_1至第N計算單元520_N時的輸出值，舉例而言，“O”?？刂茊卧?30可激活對應于選定地址儲存單元的使能信號。控制單元530將參考值REF_VAL儲存為對應于參考數(shù)目的初始值，且每當所有的第一地址儲存單元510_1至第N地址儲存單元510_N每個都儲存地址時，可以利用通過從所儲存的值減去單位值而獲得的值來更新所儲存的值。
[0076]控制單元530可包括信號發(fā)生部531及儲存部532。信號發(fā)生部531可激活對應于去激活占用信號的使能信號。當激活所有的第一占用信號USE_1至第N占用信號USE_N時，信號發(fā)生部531可激活地址完整信號FULL_ADD。當去激活第一占用信號USE_1至第N占用信號USE_N當中的兩個或更多個占用信號時，信號發(fā)生部531可激活對應于去激活占用信號當中的領先占用信號的使能信號?？刂茊卧?30可產(chǎn)生第一復位信號至第N復位信號。當激活檢測信號DET時，控制單元530可激活對應于激活比較信號的復位信號。
[0077]儲存部532可將對應于參考數(shù)目的參考值REF_VAL儲存為初始值，且每當激活地址完整信號FULL_ADD時利用從所儲存的值減去單位值(舉例而言，“I”)而獲得的值來更新所儲存的值。儲存部532可輸出所儲存的值ST0_VAL。
[0078]檢測單元540可檢測儲存在與第一計算值CAL_1至第N計算值CAL_N當中的等于或大于從控制單元530輸出的所儲存的值STO_VAL的計算值相對應的地址儲存單元中的地址。檢測單元540可將第一計算值CAL_1至第N計算值CAL_N與從控制單元530輸出的所儲存的值STO_VAL進行比較、輸出儲存在與等于或大于所儲存的值STO_VAL的計算值相對應的地址儲存單元中的頻繁輸入地址DET_ADD、以及激活檢測信號DET。每當激活地址完整信號FULL_ADD時，地址檢測電路從第一計算值CAL_1至第N計算值CAL_N以及儲存在儲存部532中的初始值減去“I”。因此，儲存在與等于或大于所儲存的值STO_VAL的計算值相對應的地址儲存單元中的地址可包括被輸入了參考數(shù)目次數(shù)或更多次的地址。
[0079]地址檢測電路中包括的地址儲存單元的數(shù)目N可對應于通過將在設定周期期間輸入的地址的總數(shù)目除以參考數(shù)目而獲得的值。
[0080]圖6是用于描述圖5中所示的地址檢測電路的操作的圖。在以下描述中，圖5中所示的地址檢測電路包括四個地址儲存單元(即，N = 4)，且參考數(shù)目為100。圖6說明將地址儲存在第一地址儲存單元510_1至第四地址儲存單元510_4中的過程及產(chǎn)生第一計算值CAL_1至第四計算值CAL_4的過程。
[0081]由附圖標記510_1至510_4表示的塊可分別指示第一地址儲存單元510_1至第四地址儲存單元510_4。當?shù)刂穬Υ鎲卧磧Υ娴刂窌r，對應于地址儲存單元的塊可由“空”表示。由附圖標記520_1至520_4表示的塊可分別指示第一計算單元520_1至第四計算單元520_4。塊內(nèi)指示計算單元的數(shù)目可分別表示計算值CAL_1至CAL_4。由附圖標記532表示的塊可指示儲存部532。塊內(nèi)指示儲存部532的數(shù)目可表示所儲存的值ST0_VAL。在初始化狀態(tài)中，在(A)中，第一地址儲存單元510_1至第四地址儲存單元510_4未儲存地址，且對應于第一計算單元510_1至第四計算單元510_4的第一計算值CAL_1至第四計算值CAL_4可設定為初始值，舉例而言，“O”。
[0082]以與如上文參考圖4所描述的將地址儲存在第一地址儲存單元310_1至第三地址儲存單元310_3中的過程相同的方式執(zhí)行將地址儲存在處于初始化狀態(tài)中的第一地址儲存單元510_1至第四地址儲存單元510_4中的過程。假設將地址儲存在第一地址儲存單元510_1至第三地址儲存單元510_3中，且第一計算值CAL_1至第三計算值CAL_3分別為89、78及2。當輸入不同于地址ADDRl至ADDR3的地址時，在(B)中將輸入地址儲存在第四地址儲存單元510_4中，且第四計算值CAL_4被計數(shù)為I。由于所有的第一至第四地址儲存單元每個都儲存地址，因此激活地址完整信號FULL_ADD，利用88、77、1及O來更新第一計算值CAL_1至第四計算值CAL_4、且初始化第四地址儲存單元510_4。在(C)中利用從100減去I而獲得的99來更新儲存在儲存單元532中的值。
[0083]當輸入不同于地址ADDR_1至ADDR_3的地址ADDR_X時，在⑶中將輸入地址儲存在第四地址儲存單元510_4中，且第四計算值CAL_4被計數(shù)為“I”。由于所有的第一地址儲存單元510_1至第四地址儲存單元510_4每個都儲存地址，因此激活地址完整信號FULL_ADD,分別利用87、76、0及O來更新第一計算值CAL_1至第四計算值CAL_4、且初始化第三地址儲存單元510_3至第四地址儲存單元510_4。在(E)中利用從99減去I而獲得的98來更新儲存在儲存部531中的值。控制單元530儲存輸入至初始化的地址儲存單元當中的領先地址儲存單元的地址。
[0084]當在(F)中在第一計算值CAL_1至第四計算值CAL_4分別為83、69、56及O且儲存在儲存部532中的所儲存的值ST0_VAL為84的狀態(tài)中輸入與地址ADDR_1相同的地址時，利用84來更新第一計算值CAL_1。由于第一計算值CAL_1變得等于或大于所儲存的值STO_VAL,因此檢測單元540激活檢測信號DET，且在(G)中將地址ADDR_1輸出為頻繁輸入地址DET_ADD。初始化第一地址儲存單元510_1及第一計算單元520_1。
[0085]當所有的儲存單元每個都儲存地址時，根據(jù)本發(fā)明的實施例的地址檢測電路可選擇地址儲存單元且儲存輸入地址。因此，地址儲存單元的數(shù)目可最小化。因此，可以有效檢測頻繁輸入地址，同時最小化地址檢測電路的電路面積。
[0086]圖7是說明根據(jù)本發(fā)明的實施例的地址檢測電路的框圖。
[0087]如圖7中所示，地址檢測電路包括第一地址儲存單元710_1至第N地址儲存單元710_N、第一計算單元720_1第N計算單元720_N、控制單元730及檢測單元740。
[0088]第一地址儲存單元710_1至第N地址儲存單元710_N以與圖2中所示的第一地址儲存單元210_1至第N地址儲存單元210_N相同的方式操作。然而，當激活第一初始化信號INIT_1至第N初始化信號INIT_N當中的對應的初始化信號時，第一地址儲存單元710_1至第N地址儲存單元710_N中的每個還可擦除儲存在其中的地址且去激活對應的占用信號。
[0089]第一計算單元720_1至第N計算單元720_N具有與圖5中所示的地址檢測電路的第一計算單元520_1至第N計算單元520_N相同的配置及操作。
[0090]控制單元730可基于第一占用信號USE_1至第N占用信號USE_N而選擇地址儲存單元，類似于圖2中所示的控制單元220?？刂茊卧?30可在所有的第一地址儲存單元710_1至第N地址儲存單元710_N每個都儲存地址時(即，在所有的第一占用信號USE_1至第N占用信號USE_N都被激活時)激活地址完整信號FULL_ADD，且在第一地址儲存單元710_1至第N地址儲存單元710_N當中選擇與具有對應于初始值的計算值的計算單元相對應的地址儲存單元。初始值是初始化第一計算單元720_1至第N計算單元720_N時的輸出值，舉例而言，“O”。控制單元730可激活對應于選定地址儲存單元的使能信號。控制單元730可對輸入地址的總數(shù)目計數(shù)，且產(chǎn)生對應于輸入地址的總數(shù)目的總輸入值T0TAL_VAL。此外，每當所有的第一地址儲存單元710_1至第N地址儲存單元710_N每個都儲存地址時，控制單元730可通過累加單位值而產(chǎn)生累加值CUMUL_VAL。控制單元730可通過每當輸入命令IN_CMD被激活時執(zhí)行計數(shù)而產(chǎn)生總輸入值T0TAL_VAL，且可通過每當?shù)刂吠暾盘朏ULL_ADD被激活時執(zhí)行計數(shù)而產(chǎn)生累加值CUMUL_VAL。
[0091]控制單元730可產(chǎn)生第一復位信號RST_1至第N復位信號RST_N，且在檢測信號DET被激活時激活對應于激活比較信號的復位信號。
[0092]控制單元730可包括信號發(fā)生部731、總輸入值發(fā)生部732及累加值發(fā)生部733。信號發(fā)生部731可以與圖5中所示的信號發(fā)生部531相同的方式操作?？傒斎胫蛋l(fā)生部732可通過每當輸入命令IN_CMD被激活時進行計數(shù)而產(chǎn)生總輸入值T0TAL_VAL。累加值發(fā)生部733可通過每當?shù)刂吠暾盘朏ULL_ADD被激活時進行計數(shù)而產(chǎn)生累加值CUMUL_VAL。
[0093]檢測單元740可檢測儲存在與第一計算值CAL_1至第N計算值CAL_4當中的等于或大于累加值CUMUL_VAL與總輸入值T0TAL_VAL除以設定值所獲得的比較值之間的差的計算值相對應的地址儲存單元中的地址。用于參考，比較值可對應于“總輸入值T0TAL_VAL/設定值-累加值CUMUL_VAL”。檢測單元740可將第一計算值CAL_1至第N計算值CAL_4與比較值進行比較、輸出儲存在與等于或大于比較值的計算值相對應的地址儲存單元中的頻繁輸入地址DET_ADD、且激活檢測信號DET。當比較值等于或大于偏移值0FFSET_VAL時，檢測單元740可執(zhí)行檢測操作。在圖7中，可能不能檢測到被輸入了固定次數(shù)或更多次的地址，但可檢測到所儲存的地址當中被輸入了大量次數(shù)的地址。
[0094]地址檢測電路中包括的地址儲存單元的數(shù)目N可等于或大于在設定周期期間輸入的地址的總數(shù)目除以參考數(shù)目而獲得的值。
[0095]圖8是用于描述圖7中所示的地址檢測電路的操作的圖。在以下描述中，圖7中所示的地址檢測電路包括四個地址儲存單元(即，N = 4)，參考數(shù)目為100，對應于偏移值0FFSET_VAL的偏移為50，且設定值為3。圖8說明將地址儲存在第一地址儲存單元710_1至第四地址儲存單元710_4中的過程及產(chǎn)生第一計算值CAL_1至第四計算值CAL_4的過程。
[0096]由附圖標記710_1至710_4表示的塊可分別指示第一地址儲存單元710_1至第四地址儲存單元710_4。當?shù)刂穬Υ鎲卧磧Υ娴刂窌r，對應于地址儲存單元的地址可由“空”表示。由附圖標記720j至720_4表示的塊可分別指示第一計算單元720_1至第四計算單元720_4。塊內(nèi)指示計算單元的數(shù)目可分別表示計算值CAL_1至CAL_4。由附圖標記732表示的塊可指示總輸入值發(fā)生部732，且由附圖標記733表示的塊可指示累加值發(fā)生部733。塊內(nèi)指示總輸入值發(fā)生部732的數(shù)目可表示總輸入值T0TAL_VAL，且塊內(nèi)指示累加值發(fā)生部733的數(shù)目可表示累加值CUMUL_VAL。
[0097]在初始化狀態(tài)中，在⑷中，第一地址儲存單元710_1至第四地址儲存單元710_4可未儲存地址，且對應于第一計算單元710_1至第四計算單元710_4的第一計算值CAL_1至第四計算值CAL_4可設定為初始值，舉例而言，“O”。
[0098]以與如上文參考圖4所描述的將地址儲存在第一地址儲存單元310_1至第三地址儲存單元310_3中的過程相同的方式執(zhí)行將地址儲存在處于初始化狀態(tài)中的第一地址儲存單元710_1至第四地址儲存單元710_4中的過程。
[0099]假設將地址儲存在第一地址儲存單元710_1至第三地址儲存單元710_3中且第一計算值CAL_1至第三計算值CAL_3分別為16、20及24，即，總輸入值T0TAL_VAL為80。當輸入不同于地址ADDR_1至ADDR_3的地址ADDR_4時，在⑶中將輸入地址儲存在第四地址儲存單元710_4中，且第四計算值CAL_4被計數(shù)為“I”。由于地址儲存在第一地址儲存單元710_1至第四地址儲存單元710_4中，因此激活地址完整信號FULL_ADD，分別利用15、19、23及O來更新第一計算值CAL_1至第四計算值CAL_4，且初始化第四地址儲存單元510_4。在(C)中，總輸入值T0TAL_VAL被計數(shù)為81，且累加值CUMUL_VAL被計數(shù)為“I”?？刂茊卧?30將輸入地址儲存在初始化的地址儲存單元當中的領先地址儲存單元中。
[0100]當?shù)谝挥嬎阒礐AL_1至第四計算值CAL_4分別為53、52、54及O且累加值CUMUL_VAL為6時，比較值可設定為5，其是總輸入值T0TAL_VALUE183(即，53+52+54+0+6*4)除以“3”且從除法結果減去累加值CUMUL_VAL而獲得的，如在⑶中。此時，當輸入地址ADDR_3時，檢測單元540激活檢測信號DET且將地址ADD_3輸出為頻繁輸入地址DET_ADD，這是因為在(E)中第三計算值CAL_3變得等于或大于比較值55。初始化地址儲存單元710_3及計算單元520_3。
[0101]當所有的儲存單元每個都儲存地址時，根據(jù)本發(fā)明的實施例的地址檢測電路可根據(jù)恰當條件來選擇地址儲存單元且儲存輸入地址。因此，地址儲存單元的數(shù)目可最小化。因此，可以有效檢測頻繁輸入地址，同時最小化地址檢測電路的電路面積。
[0102]圖9是說明根據(jù)本發(fā)明的實施例的存儲器的框圖。
[0103]參考圖9，存儲器可包括命令輸入單元910、地址輸入單元920、命令譯碼器930、刷新控制單元940、目標刷新控制單元950、地址檢測單元960、地址計數(shù)單元970、行控制單元980及單元陣列990。圖9僅說明與存儲器中的激活操作及刷新操作相關的組件，而未說明與本發(fā)明的實施例不直接相關的操作(諸如讀取操作及寫入操作)的相關組件。
[0104]命令輸入單元910可接收從存儲器控制器施加的命令CMD，地址輸入單元920可接收從存儲器控制器施加的地址ADD。命令CMD及地址ADD包括多位信號。
[0105]命令譯碼器930可將經(jīng)由命令輸入單元210輸入的命令CMD譯碼且產(chǎn)生激活命令ACT、刷新命令REF或預充電命令PRE。當輸入命令信號CMD的組合對應于激活命令ACT時，命令譯碼器930激活激活命令ACT，當輸入命令信號CMD的組合對應于刷新命令REF時，命令譯碼器930激活刷新命令REF，且當輸入命令信號CMD的組合對應于預充電命令PRE時，命令譯碼器930激活預充電命令PRE。另外，命令譯碼器930可將輸入命令信號CMD譯碼以產(chǎn)生預充電、讀取或寫入命令。然而，由于預充電命令、讀取命令及寫入命令與本發(fā)明的實施例不直接相關，因此本文中省略對其的說明及描述。
[0106]刷新控制單元940可在刷新命令REF被激活時激活第一激活信號REF_ACT1，且在目標刷新信號TRR被激活且刷新命令信號REF被激活時激活第二激活信號REF_ACT2。當在激活第一刷新激活信號REF_ACT1或第二刷新激活信號REF_ACT2之后過去設定時間時，刷新控制單元940可激活刷新預充電信號REF_PRE。
[0107]目標刷新控制單元950可在檢測信號DET被激活時激活目標刷新信號TRR，且使用從地址檢測單元960輸出的頻繁輸入地址DET_ADD來產(chǎn)生目標地址TAR_ADD。目標地址TAR_ADD可包括與對應于所檢測到的頻繁輸入地址DET_ADD的字線相鄰的字線相對應的地址。目標地址TAR_ADD可具有通過將I與所檢測到的頻繁輸入地址DET_ADD相加或從所檢測到的頻繁輸入地址DET_ADD減去I而獲得的值。當在激活目標刷新信號TRR之后激活刷新命令REF設定次數(shù)時，目標刷新控制單元950可去激活目標刷新信號TRR。此時，設定次數(shù)可設定為2，且目標刷新控制單元950可在目標刷新信號TRR被激活的時段期間順序地輸出通過將I與所檢測到的頻繁輸入地址DET_ADD相加而獲得的值及從所檢測到的頻繁輸入地址DET_ADD減去I而獲得的值。
[0108]地址檢測單元960可響應于激活命令ACT及輸入地址IN_ADD而產(chǎn)生檢測信號DET及所檢測到的頻繁輸入地址DET_ADD。地址檢測單元960可包括圖2、圖3、圖5及圖7中的一個所示的地址檢測電路。激活命令ACT可對應于參考圖2至圖8所描述的輸入命令IN_CMD。地址檢測單元960可在激活命令ACT被激活時儲存輸入地址IN_ADD，在輸入地址IN_ADD等于所儲存的地址時根據(jù)參考圖2至圖8所描述的方法來執(zhí)行計數(shù)操作以激活檢測信號DET，且輸出所檢測到的頻繁輸入地址DET_ADD。由于所檢測到的頻繁輸入地址是與激活命令ACT —起輸入的地址，因此所檢測到的字線可包括頻繁激活字線。
[0109]地址計數(shù)單元970可在第一刷新激活信號REF_ACT1被激活時執(zhí)行計數(shù)操作，且使用計數(shù)結果來產(chǎn)生計數(shù)地址CNT_ADD。當?shù)刂返闹翟黾覫時，其可意味著改變地址以在之前選擇第K個字線WLK的情況下選擇第(K+1)個字線。行地址單元980可使用計數(shù)地址CNT_ADD來順序地刷新字線WLl至WLM。
[0110]行控制單元980可在激活命令ACT被激活時激活對應于輸入地址IN_ADD的字線，在第一刷新激活信號REF_ACT1被激活時激活對應于計數(shù)地址CNT_ADD的字線，且在第二刷新激活信號REF_ACT2被激活時激活對應于目標地址TAR_ADD的字線。行控制單元980可在預充電命令PRE或刷新預充電信號REF_PRE被激活時將被激活的字線預充電。
[0111]單元陣列990可包括第一字線WLl至第N字線WLM且第一至第N字線每個都連接至一個或更多個存儲器單元MC。單元陣列990中包括的字線WLl至WLM可順序地配置。在圖9中，未說明位線。
[0112]當激活激活命令ACT時，激活對應于輸入地址IN_ADD的字線，且可訪問(即，讀取或寫入)與激活字線連接的存儲器單元MC的一部分或全部。當激活刷新命令REF時，可激活-預充電對應于計數(shù)地址CNT_ADD的字線。當激活-預充電字線時，可刷新連接至字線的存儲器單元MC的數(shù)據(jù)。當由地址檢測單元960激活檢測信號DET且輸出所檢測到的頻繁輸入地址DET_ADD時，激活目標刷新信號TRR以執(zhí)行目標刷新操作。當激活目標刷新信號TRR且激活刷新命令REF時，可激活-預充電(B卩，刷新)對應于目標地址TAR_ADD的字線。
[0113]根據(jù)本發(fā)明的實施例的存儲器可最小化地址檢測單元960的電路面積，且有效檢測頻繁輸入地址。此外，存儲器可使用所檢測到的頻繁輸入地址來執(zhí)行目標刷新操作，由此防止由字線干擾所導致的數(shù)據(jù)劣化。
[0114]圖10是根據(jù)本發(fā)明的實施例的存儲系統(tǒng)的框圖。
[0115]如圖10中所示，存儲系統(tǒng)可包括存儲器1010及存儲器控制器1020。存儲器1010可包括具有第一字線WLl至第N字線WLM的單元陣列1011。存儲器控制器1020可包括地址檢測電路1021、命令發(fā)生單元1022及地址發(fā)生單元1023。
[0116]存儲器控制器1020可通過將命令CMD及地址ADD施加至存儲器1010而控制存儲器1010的操作，且在讀取或寫入操作期間與存儲器1010交換數(shù)據(jù)DATA。存儲器控制器1020可傳輸命令CMD以將刷新命令REF、激活命令ACT或預充電命令PRE輸入至存儲器1010。當輸入激活命令ACT時，存儲器控制器1020可將地址ADD傳輸至存儲器1010以選擇單元陣列及要激活的字線。當輸入刷新命令REF時，使用在存儲器1010內(nèi)部產(chǎn)生的地址CNT_ADD或儲存在存儲器1010中的地址ST0_ADD。因此，存儲器控制器1020不必將地址ADD傳輸至存儲器1010。
[0117]存儲器1010可在輸入命令CMD對應于激活命令ACT時激活對應于輸入地址ADD的字線，且可響應于讀取或寫入命令而從連接至激活字線的存儲器單元讀取數(shù)據(jù)或將數(shù)據(jù)寫入所述存儲器單元。當從存儲器控制器1020施加讀取及寫入命令時，存儲器1010與存儲器控制器1020交換數(shù)據(jù)DATA。存儲器1010可在命令CMD對應于預充電命令PRE時將激活字線預充電。當命令CMD對應于刷新命令REF時，存儲器1010可激活-預充電與在存儲器內(nèi)部產(chǎn)生的計數(shù)地址(舉例而言，參考圖9所描述的計數(shù)地址CNT_ADD)相對應的字線。
[0118]命令發(fā)生單元1022可產(chǎn)生所需要的命令CMD且將所產(chǎn)生的命令CMD傳輸至存儲器1010，且地址發(fā)生單元1023可產(chǎn)生所需要的地址ADD且將所產(chǎn)生的地址ADD傳輸至存儲器1010。地址檢測電路1021可在傳輸至存儲器1010的命令CMD對應于激活命令ACT時接收并儲存地址ADD，且可基于通過對所儲存的地址傳輸至存儲器1010的次數(shù)計數(shù)而獲得的結果來產(chǎn)生檢測信號DET及所檢測到的頻繁輸入地址DET_ADD。地址檢測電路1021可對應于圖2、圖3、圖5及圖7中的一個所示的地址檢測電路。激活命令ACT可對應于參考圖2至圖8所描述的輸入命令IN_CMD。所檢測到的頻繁輸入地址可包括與激活命令ACT —起傳輸至存儲器1010的地址，所檢測到的字線可包括頻繁激活字線。
[0119]當激活檢測信號DET時，存儲器控制器1020可控制存儲器1010進入目標刷新模式。針對此操作，命令發(fā)生單元1022可產(chǎn)生用于設定存儲器1010的操作模式的命令(下文，稱為設置命令)，且地址發(fā)生單元1023可產(chǎn)生用于將存儲器1010的操作模式設定為目標刷新模式的地址。設置命令CMD及地址ADD傳輸至存儲器1010，且存儲器1010進入目標刷新模式。在存儲器1010進入目標刷新模式之后，命令發(fā)生單元1022可交替地產(chǎn)生激活命令及預充電命令三次。地址發(fā)生單元1023可產(chǎn)生所檢測到的頻繁輸入地址DET_ADD及與對應于所檢測到的頻繁輸入地址DET_ADD的字線相鄰的字線相對應的地址。用于參考，相鄰字線的地址可具有通過將I與所檢測到的頻繁輸入地址DET_ADD相加或從所檢測到的頻繁輸入地址DET_ADD減去I而獲得的值。所產(chǎn)生的地址ADD可與激活命令CMD —起傳輸至存儲器1010。存儲器1010可響應于所傳輸?shù)拿頒MD及所傳輸?shù)牡刂稟DD而順序地激活-預充電對應于所檢測到的頻繁輸入地址DET_ADD的字線及相鄰于所述字線的兩個字線。當完成目標刷新操作時，可結束存儲器1010的目標刷新模式。
[0120]圖10說明存儲器控制器1020中包括地址檢測電路1021的時候，但地址檢測電路1021可取決于設計而被包括在存儲器1010中。因此，存儲器1010可將檢測信號DET及所檢測到的頻繁輸入地址DET_ADD傳輸至存儲器控制器1020，且根據(jù)存儲器控制器1020的控制而執(zhí)行目標刷新操作。
[0121]根據(jù)本發(fā)明的實施例的存儲系統(tǒng)可有效檢測頻繁輸入地址，同時最小化地址檢測電路的電路面積。此外，存儲器可使用所檢測到的頻繁輸入地址來執(zhí)行目標刷新操作，由此防止由字線干擾所導致的數(shù)據(jù)劣化。
[0122]根據(jù)本發(fā)明的實施例，可以最小化用于檢測頻繁激活字線所需的地址的數(shù)目，由此最小化用于檢測頻繁激活字線的電路的電路面積。
[0123]此外，與所檢測到的字線相鄰的字線可被刷新以防止由字線干擾所導致的數(shù)據(jù)劣化。
[0124]盡管本公開包含諸多細節(jié)，但這些細節(jié)不應被解釋為是對任何發(fā)明或要求保護的范圍的限制，而是解釋為對可特定于特定發(fā)明的特定實施例的特征的描述。本公開中在單獨實施例的上下文中所描述的特定特征也可以組合形式實施在單個實施例中。相反地，在單個實施例的上下文中描述的各種特征也可單獨地或以任何適合的子組合實施于多個實施例中。此外，雖然特征可在上文描述為在特定實施例中起作用且甚至最初如此要求保護，但在某些情況下來自所要求保護的組合的一個或更多個特征從組合中去除，且所要求保護的組合可針對子組合或子組合的變化形式。雖然可在圖中以特定次序繪示操作，但這不應被理解為需要以所示的特定次序或順序的次序來執(zhí)行這些操作，或執(zhí)行所有的所示的操作以達成期望的結果。此外，本公開中所描述的實施例中的各種系統(tǒng)組件的分離不應理解為在所有的實施例中需要這樣的分離。
[0125]雖然已參考特定的實施例描述了本發(fā)明，但是本領域技術人員應當清楚的是，在不脫離所附權利要求所限定的本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可以進行各種變化和修改。
[0126]通過以上實施例可以看出，本申請?zhí)峁┝艘韵碌募夹g方案。
[0127]技術方案1.一種地址檢測電路，包括:
[0128]第一至第N地址儲存單元，適用于儲存地址；
[0129]第一至第N計算單元，每個計算單元適用于:當將地址儲存在所述地址儲存單元當中的對應地址儲存單元中、或輸入有儲存在所述對應地址儲存單元中的地址時，執(zhí)行計數(shù)操作；
[0130]控制單元，適用于:將輸入地址順序地儲存在所述地址儲存單元中，且在所有的所述地址儲存單元每個都儲存地址時，將所述輸入地址儲存在所述地址儲存單元當中的選定地址儲存單元中；以及
[0131]檢測單元，適用于:基于所述計算單元的輸出，檢測儲存在所述地址儲存單元中的地址當中的被輸入了參考數(shù)目的次數(shù)或更多次的地址。
[0132]技術方案2.如技術方案I所述的地址檢測電路，其中，所述地址儲存單元分別產(chǎn)生第一至第N占用信號，且其中儲存有地址的地址儲存單元激活所述占用信號當中的對應占用信號。
[0133]技術方案3.如技術方案I所述的地址檢測電路，其中，初始化所述計算單元當中的對應于所述選定地址儲存單元的計算單元，且初始化的計算單元從初始值計數(shù)。
[0134]技術方案4.如技術方案I所述的地址檢測電路，其中，N等于或大于通過將在設定周期期間輸入的地址的總數(shù)目除以所述參考數(shù)目而獲得的值。
[0135]技術方案5.如技術方案I所述的地址檢測電路，其中，當所有的所述地址儲存單元每個都儲存地址時，在輸入有與儲存在所述地址儲存單元中的地址不同的地址的情況下，所述控制單元選擇所述計算單元當中的與具有最小輸出值的計算單元相對應的地址儲存單元。
[0136]技術方案6.如技術方案5所述的地址檢測電路，其中，當所有的所述地址儲存單元每個都儲存地址時，在輸入有與儲存在所述地址儲存單元中的地址不同的地址且所述最小輸出值為所述計算單元的輸出值當中的最小值的情況下，每個計算單元輸出通過從其輸出值減去所述最小輸出值而獲得的值，以及
[0137]在所有的所述地址儲存單元每個都儲存地址的情況下，當輸入有與儲存在所述地址儲存單元中的地址不同的地址時，所述控制單元通過累加所述最小輸出值而產(chǎn)生累加值。
[0138]技術方案7.如技術方案5所述的地址檢測電路，其中，所述檢測單元檢測儲存在與所述計算單元當中的所述累加值與所述輸出值的總和等于或大于對應于所述參考數(shù)目的參考值的計算單元相對應的地址儲存單元中的地址。
[0139]技術方案8.如技術方案I所述的地址檢測電路，其中，當所有的所述地址儲存單元每個都儲存地址時，每個計算單元輸出通過從其輸出值減去單位值而獲得的值，以及
[0140]當所有的所述地址儲存單元每個都儲存地址時，所述控制單元從儲存在其中的值減去所述單位值，其中，所述儲存的值的初始值為對應于所述參考數(shù)目的參考值。
[0141]技術方案9.如技術方案8所述的地址檢測電路，其中，所述控制單元選擇所述地址儲存單元當中的與具有等于初始值的輸出值的計算單元相對應的地址儲存單元，其中，所述初始值為初始化所述計算單元時的輸出值。
[0142]技術方案10.如技術方案8所述的地址檢測電路，其中，所述檢測單元檢測儲存在與所述計算單元當中的具有等于或大于儲存在所述控制單元中的值的輸出值的計算單元相對應的地址儲存單元中的地址。
[0143]技術方案11.如技術方案I所述的地址檢測電路，其中，所述控制單元對輸入地址的所述總數(shù)目計數(shù)以產(chǎn)生對應于所述總輸入數(shù)目的總輸入值，且在所有的所述地址儲存單元每個都儲存地址時通過累加單位值而產(chǎn)生累加值，以及
[0144]當所有的所述地址儲存單元每個都儲存地址時，每個計算單元輸出通過從其輸出值減去所述單位值而獲得的值。
[0145]技術方案12.如技術方案11所述的地址檢測電路，其中，所述控制單元選擇所述地址儲存單元當中的與具有等于初始值的輸出值的計算單元相對應的地址儲存單元，其中，所述初始值為初始化所述計算單元時的輸出值。
[0146]技術方案13.如技術方案12所述的地址檢測電路，其中，所述檢測單元檢測儲存在與所述計算單元當中的具有等于或大于通過將所述總輸入值除以設定值而獲得的值和所述累加值之間的差的輸出值的計算單元相對應的地址儲存單元中的地址。
[0147]技術方案14.一種存儲器,包括:
[0148]第一至第N字線，每個字線連接至一個或更多個存儲器單元；
[0149]地址檢測單元，具有第一至第N地址儲存單元，適用于:在激活操作期間將輸入地址順序地儲存在所述地址儲存單元中、通過在將地址儲存在所述地址儲存單元中或輸入有所述儲存的地址時執(zhí)行計數(shù)操作而產(chǎn)生第一至第N計算值、在所有的所述地址儲存單元每個都儲存地址時將輸入地址儲存在選定地址儲存單元中、且基于所述計算值而檢測被輸入了參考數(shù)目的次數(shù)或更多次的地址；以及
[0150]控制單元，適用于:響應于在設定周期輸入的刷新命令而順序地刷新所述字線，且在由所述地址檢測單元檢測到地址時響應于所述刷新命令而刷新與對應于由所述地址檢測單元檢測到的地址的字線相鄰的一個或更多個字線。
[0151 ] 技術方案15.如技術方案14所述的存儲器，其中，所述存儲器產(chǎn)生計數(shù)地址，所述計數(shù)地址在刷新所述字線中的一個時改變。
[0152]技術方案16.如技術方案15所述的存儲器，其中，所述控制單元在所述激活操作期間激活對應于輸入地址的字線、響應于所述刷新命令而刷新對應于所述計數(shù)地址的字線、且在由所述地址檢測單元檢測到地址時響應于所述刷新命令而刷新所述一個或更多個相鄰字線。
[0153]技術方案17.如技術方案14所述的存儲器，其中，N等于或大于通過將在設定周期期間執(zhí)行的激活操作的總數(shù)目除以參考數(shù)目而獲得的值。
[0154]技術方案18.如技術方案14所述的存儲器，其中，當所有的所述地址儲存單元每個都儲存地址且輸入有與儲存在所述地址儲存單元中的地址不同的地址時，所述地址檢測單元在最小計算值為所述計算值當中的最小值的情況下從所述計算值減去所述最小計算值、通過累加所述最小計算值而產(chǎn)生累加值、選擇對應于所述計算值當中的最小計算值的地址儲存單元，以及
[0155]所述地址檢測單元檢測儲存在所述地址儲存單元當中的對應計算值與所述累加值的總和等于或大于對應于所述參考數(shù)目的參考值的地址儲存單元中的地址。
[0156]技術方案19.如技術方案14所述的存儲器，其中，當所有的所述地址儲存單元每個都儲存地址時，所述地址檢測單元:從所述計算值減去單位值；當所有的所述地址儲存單元每個都儲存地址時，從儲存在其中的值減去所述單位值，其中，所述儲存的值的初始值為對應于所述參考數(shù)目的參考值；選擇所述地址儲存單元當中的與等于初始值的計算值相對應的地址儲存單元，以及
[0157]所述地址檢測單元檢測儲存在所述地址儲存單元當中的與等于或大于所述儲存的值的計算值相對應的地址儲存單元中的地址。
[0158]技術方案20.如技術方案14所述的存儲器，其中，所述地址檢測單元產(chǎn)生對應于輸入地址的所述總數(shù)目的總輸入值，以及
[0159]當所有的所述地址儲存單元每個都儲存地址時，所述地址檢測單元從所述計算值減去單位值、在所有的所述地址儲存單元每個都儲存地址時產(chǎn)生通過從將所述總輸入值除以設定值而獲得的值減去所述單位值的累加值而獲得的參考值、選擇所述地址儲存單元當中的與等于初始值的計算值相對應的地址儲存單元，以及
[0160]所述地址檢測單元檢測儲存在所述地址儲存單元當中的與等于或大于所述參考值的計算值相對應的地址儲存單元中的地址。
【權利要求】
1.一種地址檢測電路，包括: 第一至第N地址儲存單元，適用于儲存地址； 第一至第N計算單元，每個計算單元適用于:當將地址儲存在所述地址儲存單元當中的對應地址儲存單元中、或輸入有儲存在所述對應地址儲存單元中的地址時，執(zhí)行計數(shù)操作； 控制單元，適用于:將輸入地址順序地儲存在所述地址儲存單元中，且在所有的所述地址儲存單元每個都儲存地址時，將所述輸入地址儲存在所述地址儲存單元當中的選定地址儲存單元中；以及 檢測單元，適用于:基于所述計算單元的輸出，檢測儲存在所述地址儲存單元中的地址當中的被輸入了參考數(shù)目的次數(shù)或更多次的地址。
2.如權利要求1所述的地址檢測電路，其中，所述地址儲存單元分別產(chǎn)生第一至第N占用信號，且其中儲存有地址的地址儲存單元激活所述占用信號當中的對應占用信號。
3.如權利要求1所述的地址檢測電路，其中，初始化所述計算單元當中的對應于所述選定地址儲存單元的計算單元，且初始化的計算單元從初始值計數(shù)。
4.如權利要求1所述的地址檢測電路，其中，N等于或大于通過將在設定周期期間輸入的地址的總數(shù)目除以所述參考數(shù)目而獲得的值。
5.如權利要求1所述的地址檢測電路，其中，當所有的所述地址儲存單元每個都儲存地址時，在輸入有與儲存在所述地址儲存單元中的地址不同的地址的情況下，所述控制單元選擇所述計算單元當中的與具有最小輸出值的計算單元相對應的地址儲存單元。
6.如權利要求5所述的地址檢測電路，其中，當所有的所述地址儲存單元每個都儲存地址時，在輸入有與儲存在所述地址儲存單元中的地址不同的地址且所述最小輸出值為所述計算單元的輸出值當中的最小值的情況下，每個計算單元輸出通過從其輸出值減去所述最小輸出值而獲得的值，以及 在所有的所述地址儲存單元每個都儲存地址的情況下，當輸入有與儲存在所述地址儲存單元中的地址不同的地址時，所述控制單元通過累加所述最小輸出值而產(chǎn)生累加值。
7.如權利要求5所述的地址檢測電路，其中，所述檢測單元檢測儲存在與所述計算單元當中的所述累加值與所述輸出值的總和等于或大于對應于所述參考數(shù)目的參考值的計算單元相對應的地址儲存單元中的地址。
8.如權利要求1所述的地址檢測電路，其中，當所有的所述地址儲存單元每個都儲存地址時，每個計算單元輸出通過從其輸出值減去單位值而獲得的值，以及 當所有的所述地址儲存單元每個都儲存地址時，所述控制單元從儲存在其中的值減去所述單位值，其中，所述儲存的值的初始值為對應于所述參考數(shù)目的參考值。
9.如權利要求8所述的地址檢測電路，其中，所述控制單元選擇所述地址儲存單元當中的與具有等于初始值的輸出值的計算單元相對應的地址儲存單元，其中，所述初始值為初始化所述計算單元時的輸出值。
10.一種存儲器，包括: 第一至第N字線，每個字線連接至一個或更多個存儲器單元； 地址檢測單元，具有第一至第N地址儲存單元，適用于:在激活操作期間將輸入地址順序地儲存在所述地址儲存單元中、通過在將地址儲存在所述地址儲存單元中或輸入有所述儲存的地址時執(zhí)行計數(shù)操作而產(chǎn)生第一至第N計算值、在所有的所述地址儲存單元每個都儲存地址時將輸入地址儲存在選定地址儲存單元中、且基于所述計算值而檢測被輸入了參考數(shù)目的次數(shù)或更多次的地址；以及 控制單元，適用于:響應于在設定周期輸入的刷新命令而順序地刷新所述字線，且在由所述地址檢測單元檢測到地址時響應于所述刷新命令而刷新與對應于由所述地址檢測單元檢測到的地址的字線相鄰的一個或更多個字線。
【文檔編號】G11C11/4063GK104464792SQ201410214611
【公開日】2015年3月25日 申請日期:2014年5月20日 優(yōu)先權日:2013年9月25日
【發(fā)明者】周珉鎬, 權奇昌 申請人:愛思開海力士有限公司