工作周期補償器與時鐘補償方法
【專利摘要】本發(fā)明的一個方面是提供了一種時鐘補償方法，用來補償系統(tǒng)時鐘信號的系統(tǒng)工作周期。在一實施例中，該時鐘補償方法包含下列步驟：通過延遲鎖定回路鎖定系統(tǒng)工作周期的工作周期中央點；檢測系統(tǒng)時鐘信號的當(dāng)前系統(tǒng)工作周期；計算工作周期校正量，其中工作周期校正量為當(dāng)前系統(tǒng)工作周期與目標(biāo)工作周期之間的間距；以及根據(jù)工作周期校正量超出臨界量與否改變輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性。本發(fā)明還公開了一種工作周期補償器。
【專利說明】工作周期補償器與時鐘補償方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種集成電路，尤其涉及一種工作周期補償器與其方法。

【背景技術(shù)】
[0002]近年來隨著工藝過程進(jìn)步，各種在集成電路上的環(huán)境退化的問題逐漸受到重視。舉例而言，負(fù)偏壓溫度不穩(wěn)定性(Negative bias temperature instability, NBTI)退化導(dǎo)致了 P型金屬氧化物半導(dǎo)體場效晶體管(metal oxide semiconductor field-effecttransistor, MOSFET)的臨界電壓產(chǎn)生變異，且此變異對集成電路的穩(wěn)定性與運行效能造成影響。例如，若NBTI退化發(fā)生在動態(tài)隨機(jī)存取存儲器(dynamic random accessmemory, DRAM)中的時鐘產(chǎn)生電路，則自此時鐘產(chǎn)生電路產(chǎn)生的時鐘信號的工作周期可能會偏移。甚至，在某些情況下，NBTI退化可能會使DRAM運行失效。
[0003]請參照圖1，圖1為NBTI退化對系統(tǒng)時鐘信號的影響的示意圖。在一開始(即時間O的坐標(biāo)軸),原始的等效系統(tǒng)操作工作周期范圍(effective in-system operationalduty cycle range, EIS0DCR) 100，標(biāo)記為 EISODCR0，其中 EISODCR0 = DC0±DCK，DC0 為系統(tǒng)時鐘信號的內(nèi)部工作周期中央點，且土DCk為系統(tǒng)時鐘信號的工作周期范圍。
[0004]受到NBTI退化的影響后，在時間X時對應(yīng)的等效系統(tǒng)操作工作周期范圍120，標(biāo)記為EISODCRx，其中EISODCRx = DCtl土DCk±DCDX，DCDx為NBTI退化所造成的偏移時間。換句話說，NBTI退化使內(nèi)部工作周期等效地偏移了 DCDx的時間長度，此段偏移可能會造成某些潛在的時序問題。
[0005]因而，迄今為止，熟悉此領(lǐng)域者無不窮其努力找尋其解決之道，以改善上述的問題癥結(jié)。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]為了解決上述的問題，本發(fā)明公開的內(nèi)容提供了一種工作周期補償器以補償各種環(huán)境退化造成的影響。工作周期補償器包含輸入緩沖器、輸出緩沖器、延遲鎖定回路、工作周期控制模塊以及雙模極性控制單元。輸入緩沖器用來產(chǎn)生輸入?yún)⒖紩r鐘信號。輸出緩沖器用來產(chǎn)生系統(tǒng)時鐘信號。延遲鎖定回路電性連接在輸入緩沖器與輸出緩沖器之間，且延遲鎖定回路用來鎖定系統(tǒng)時鐘信號的系統(tǒng)工作周期的工作周期中央點。工作周期控制模塊包含工作周期檢測單元與工作周期補償單元。工作周期檢測單元用來檢測系統(tǒng)時鐘信號的當(dāng)前系統(tǒng)工作周期。工作周期補償單元用來根據(jù)當(dāng)前系統(tǒng)工作周期與目標(biāo)工作周期的間距計算工作周期校正量，且工作周期補償單元根據(jù)工作周期校正量超出臨界量與否產(chǎn)生補償信號。雙模極性控制單元用來根據(jù)補償信號改變輸入緩沖器上的輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性。
[0007]根據(jù)本發(fā)明的一實施例，其中前述的延遲鎖定回路包含工作周期校正器。工作周期校正器用來校正自工作周期檢測單元檢測到的工作周期錯誤。
[0008]根據(jù)本發(fā)明的一實施例，其中前述的雙模極性控制單元在工作周期校正量保持在臨界量以內(nèi)時切換輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性。
[0009]根據(jù)本發(fā)明的一實施例，其中在工作周期校正量超過臨界量時，且在當(dāng)前系統(tǒng)工作周期大于目標(biāo)工作周期的情況下，前述的雙模極性控制單元改變輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性至第一電壓電平。
[0010]根據(jù)本發(fā)明的一實施例，其中在工作周期校正量超過臨界量時，且在當(dāng)前系統(tǒng)工作周期小于目標(biāo)工作周期的情況下，前述的雙模極性控制單元改變輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性至第二電壓電平。
[0011]根據(jù)本發(fā)明的一實施例，其中前述的目標(biāo)工作周期大約為50%，且臨界量大約為
5% ο
[0012]本發(fā)明的另一個方面是提供一種用于補償系統(tǒng)時鐘信號的系統(tǒng)工作周期的方法，且此方法包含下列步驟:通過延遲鎖定回路鎖定系統(tǒng)工作周期的工作周期中央點；檢測系統(tǒng)時鐘信號的當(dāng)前系統(tǒng)工作周期；計算工作周期校正量，其中工作周期校正量為當(dāng)前系統(tǒng)工作周期與目標(biāo)工作周期之間的間距；以及根據(jù)工作周期校正量超出臨界量與否改變輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性。
[0013]根據(jù)本發(fā)明的一實施例，前述的根據(jù)工作周期校正量超出臨界量與否改變輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性的步驟還包含在工作周期校正量保持在臨界量內(nèi)的情況下，切換輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性。
[0014]根據(jù)本發(fā)明的一實施例，前述的根據(jù)工作周期校正量超出臨界量與否改變輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性的步驟還包含在工作周期校正量超過臨界量以及當(dāng)前系統(tǒng)工作周期大于目標(biāo)工作周期的情況下,改變輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性至第一電壓電平。
[0015]根據(jù)本發(fā)明的一實施例，前述的根據(jù)工作周期校正量超出臨界量與否改變輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性的步驟還包含在工作周期校正量超過臨界量以及當(dāng)前系統(tǒng)工作周期小于該目標(biāo)工作周期的情況下，改變輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性至第二電壓電平。
[0016]以下將以實施方式對上述的說明作詳細(xì)的描述，并對本發(fā)明的技術(shù)方案提供更進(jìn)一步的解釋。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0017]為讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征、優(yōu)點與實施例能更明顯易懂，【專利附圖】

【附圖說明】如下:
[0018]圖1為NBTI退化對系統(tǒng)時鐘信號的影響的示意圖；
[0019]圖2為依照本發(fā)明的一實施例的一種工作周期補償器的示意圖；
[0020]圖3為依照本發(fā)明的一實施例的多級串聯(lián)的邏輯門的示意圖；以及
[0021]圖4為根據(jù)本發(fā)明的一實施例的方法流程圖。

【具體實施方式】
[0022]下文為實施例配合附圖所作的詳細(xì)說明，但所提供的實施例并非用來限制本發(fā)明所涵蓋的范圍，而結(jié)構(gòu)操作的描述并非用來限制其執(zhí)行的順序，任何由元件重新組合的結(jié)構(gòu)，所產(chǎn)生具有均等功效的裝置，皆為本發(fā)明所涵蓋的范圍。此外，附圖僅以說明為目的，并未依照原尺寸作圖。為便于理解，下述說明中相同元件將以相同的符號標(biāo)示來說明。
[0023]關(guān)于本文中所使用的“第一”、“第二”、…等，并非特別指稱次序或順位的意思，亦非用來限定本發(fā)明，其僅僅是為了區(qū)別以相同技術(shù)用語描述的元件或操作而已。
[0024]關(guān)于本文中所使用的“約”、“大約”或“大致” 一般通常是指數(shù)值的誤差或范圍在百分之二十以內(nèi)，較好地是在百分之十以內(nèi)，而更佳地則是在百分之五以內(nèi)。文中若無明確說明，其所提及的數(shù)值皆視作為近似值，例如“約”、“大約”或“大致”所表示的誤差或范圍，或其他近似值。
[0025]另外，關(guān)于本文中所使用的“耦接”或“連接”，均可指兩個或多個元件相互直接作實體或電性接觸，或是相互間接作實體或電性接觸，亦可指兩個或多個元件相互操作或動作。
[0026]環(huán)境退化可能會使集成電路產(chǎn)生可靠度的問題。例如，前述的NBTI退化、正偏壓溫度不穩(wěn)定性(positive bias temperature instability, PBTI )、頻道引發(fā)二次電子(channel initiated secondary electron, CHISEL)以及柵極引發(fā)的漏極漏電流(gateinduced drain leakage,GIDL)等等皆為各種可能會影響集成電路的效能參數(shù)的環(huán)境退化問題。為了較為簡潔的示例，以下各實施例僅以NBTI退化為例，但本發(fā)明并不以此為限。
[0027]請參照圖2，圖2為依照本發(fā)明的一實施例的一種工作周期補償器的示意圖。工作周期補償器200包含輸入緩沖器210、輸出緩沖器220、延遲鎖定回路230、工作周期控制模塊240以及雙模極性控制單元250。輸入緩沖器210用來產(chǎn)生輸入?yún)⒖紩r鐘信號，其中此輸入?yún)⒖紩r鐘信號具有雙模極性，譬如為邏輯I與邏輯O。輸出緩沖器220用來產(chǎn)生系統(tǒng)時鐘信號。延遲鎖定回路230電性連接在輸入緩沖器210與輸出緩沖器220之間，且延遲鎖定回路230用來鎖定系統(tǒng)時鐘信號的系統(tǒng)工作周期的工作周期中央點。工作周期控制模塊240電性連接至輸出緩沖器220，且工作周期控制模塊240包含工作周期檢測單元242以及工作周期補償單元244。工作周期檢測單元242用來檢測系統(tǒng)時鐘信號的當(dāng)前系統(tǒng)工作周期。工作周期補償單元244用來根據(jù)當(dāng)前系統(tǒng)工作周期與目標(biāo)工作周期的間距計算工作周期校正量，且工作周期補償單元244根據(jù)工作周期校正量超出臨界量與否產(chǎn)生補償信號。舉例而言，假設(shè)目標(biāo)工作周期設(shè)置為50%，臨界量設(shè)置為5%，且自工作周期檢測單元242檢測的當(dāng)前工作周期為60%。根據(jù)當(dāng)前工作周期，工作周期補償單元244計算出工作周期校正量為10%，并產(chǎn)生對應(yīng)的補償信號，例如為邏輯I。相反地，若假設(shè)工作周期檢測單元242檢測的當(dāng)前工作周期為53%，根據(jù)當(dāng)前工作周期，工作周期補償單元244計算出工作周期補償量為3%，且此時工作周期補償量小于前述的臨界量，故產(chǎn)生對應(yīng)的補償信號，如邏輯O。而雙模極性控制單元250用來根據(jù)補償信號改變輸入緩沖器210上的輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性。
[0028]再者，前述的延遲鎖定回路230可進(jìn)一步地還包含工作周期校正器232。工作周期校正器232用來校正工作周期檢測單元242檢測到的工作周期錯誤。舉例來說，工作周期錯誤可為工藝過程變異造成的時鐘信號失真等等。
[0029]在一實施例中，雙模極性控制單元250在該工作周期校正量超過臨界量以及在當(dāng)前系統(tǒng)工作周期大于該目標(biāo)工作周期的情況下，改變輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性至第一電壓電平。舉例而言，假設(shè)目標(biāo)工作周期設(shè)置為50%，臨界量設(shè)置為5%，且工作周期檢測單元242檢測的當(dāng)前工作周期為60%。根據(jù)當(dāng)前工作周期，工作周期補償單元244計算出工作周期校正量為10%，且此時工作周期補償量大于前述的臨界量，故工作周期補償單元244產(chǎn)生對應(yīng)的補償信號邏輯I。再者，當(dāng)系統(tǒng)的電路為偶數(shù)級串聯(lián)的邏輯門電路時，可將第一電壓電平設(shè)置為高電壓電平(譬如設(shè)置為邏輯I)來校正系統(tǒng)工作周期。或者，當(dāng)系統(tǒng)的電路為奇數(shù)級串聯(lián)的邏輯門時，可將第一電壓電平設(shè)置為低電壓電平(譬如設(shè)置為邏輯O)來校正系統(tǒng)工作周期。
[0030]請參照圖3，圖3為依照前述實施例的多級串聯(lián)的邏輯門的示意圖。偶數(shù)級串聯(lián)的邏輯門電路300包含四個串聯(lián)的反相器301?304。如先前所述，NBTI退化(或任一等效的環(huán)境退化)會造成P型MOSFET的臨界電壓產(chǎn)生變異。輸入邏輯I的信號至反相器301會讓反相器302與反相器304的輸入信號為邏輯0，然而在NBTI退化的影響下，使得反相器302與反相器304的P型MOSFET的臨界電壓上升。因此，反相器302與反相器304的拉升能力減弱，導(dǎo)致了偶數(shù)級串聯(lián)的邏輯門電路300的輸出具有較長的上升時間，亦即導(dǎo)致偶數(shù)級串聯(lián)的邏輯門電路300的輸出工作周期縮短了。因此，在本實施例中，在系統(tǒng)的電路為偶數(shù)級串聯(lián)的邏輯門時，第一高電壓電平可設(shè)置為高電壓電平以補償NBTI退化的影響。
[0031]另一方面，如圖3所示，奇數(shù)級串聯(lián)的邏輯門320包含了三個串聯(lián)的反相器321?323。輸入邏輯O的信號至反相器321會讓反相器323的輸入信號為邏輯0，然而在NBTI退化的影響下，使得反相器323的P型MOSFET的臨界電壓上升。因此，反相器323的拉升能力減弱，導(dǎo)致了奇數(shù)級串聯(lián)的邏輯門電路320的輸出具有較長的上升時間，亦即導(dǎo)致奇數(shù)級串聯(lián)的邏輯門電路320的輸出工作周期縮短了。因此，在本實施例中，在系統(tǒng)的電路為奇數(shù)級串聯(lián)的邏輯門時，第一高電壓電平可設(shè)置為低電壓電平以補償NBTI退化的影響。
[0032]在本發(fā)明另一實施例中，雙模極性控制單元250在該工作周期校正量超過臨界量以及在當(dāng)前系統(tǒng)工作周期小于目標(biāo)工作周期的情況下，改變輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性至第二電壓電平。舉例而言，假設(shè)目標(biāo)工作周期設(shè)置為50%，臨界量設(shè)置為5%，且自工作周期檢測單元242檢測的當(dāng)前工作周期為40%。根據(jù)當(dāng)前工作周期，工作周期補償單元244計算出工作周期校正量為10%，且此時工作周期補償量小于前述的臨界量，故工作周期補償單元244產(chǎn)生對應(yīng)的補償信號邏輯O。再者，當(dāng)系統(tǒng)的電路為偶數(shù)級串聯(lián)的邏輯門電路時，可將第二電壓電平設(shè)置為低電壓電平(亦即設(shè)置為邏輯O)來校正系統(tǒng)工作周期。或者，當(dāng)系統(tǒng)的電路為奇數(shù)級串聯(lián)的邏輯門時，可將第二電壓電平設(shè)置為高電壓電平(亦即設(shè)置為邏輯
I)來校正系統(tǒng)工作周期。
[0033]利用同樣的方式來做說明，舉例而言，輸入邏輯O的信號至反相器301會讓反相器301與反相器303的輸入信號為邏輯0，然而在NBTI退化的影響下，使得反相器301與反相器303的P型MOSFET的臨界電壓上升。因此，反相器301與反相器303的拉升能力減弱，導(dǎo)致了偶數(shù)級串聯(lián)的邏輯門電路300的輸出具有較長的下降時間，亦即導(dǎo)致偶數(shù)級串聯(lián)的邏輯門電路300的輸出工作周期增加了。因此，在本實施例中，在系統(tǒng)的電路為偶數(shù)級串聯(lián)的邏輯門時，第二高電壓電平可設(shè)置為低電壓電平以補償NBTI退化的影響。
[0034]同樣地，輸入邏輯I的信號至反相器321會讓反相器322的輸入信號為邏輯0，然而在NBTI退化的影響下，使得反相器322的P型MOSFET的臨界電壓上升。因此，反相器322的拉升能力下降，導(dǎo)致了奇數(shù)級串聯(lián)的邏輯門電路320的輸出具有較長的下降時間，亦即導(dǎo)致偶數(shù)級串聯(lián)的邏輯門電路320的輸出工作周期增加了。因此，在本實施例中，在系統(tǒng)的電路為奇數(shù)級串聯(lián)的邏輯門時，第二高電壓電平可設(shè)置為高電壓電平以補償NBTI退化的影響。
[0035]在本發(fā)明另一實施例中，雙模極性控制單元250在工作周期校正量保持在臨界量以內(nèi)時切換輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性。舉例而言，假設(shè)目標(biāo)工作周期設(shè)置為50%，臨界量設(shè)置為5%，且工作周期檢測單元242檢測的當(dāng)前工作周期為53%。根據(jù)當(dāng)前工作周期，工作周期補償單元244計算出工作周期校正量為3%，故工作周期補償單元244產(chǎn)生對應(yīng)的補償信號。雙模極性控制單元250根據(jù)對應(yīng)的補償信號輪流切換輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性，借此維持前述的當(dāng)前系統(tǒng)時鐘信號。
[0036]本發(fā)明的另一個方面提供了一種用于補償系統(tǒng)信號的系統(tǒng)工作周期的方法。請參照圖4，圖4為根據(jù)本發(fā)明的一實施例的方法流程圖。
[0037]用于補償系統(tǒng)時鐘信號的系統(tǒng)工作周期的方法400包含通過延遲鎖定回路鎖定系統(tǒng)工作周期的工作周期中央點(亦即步驟410)。然后，檢測系統(tǒng)時鐘信號的當(dāng)前系統(tǒng)工作周期(亦即步驟420)，并計算工作周期校正量(亦即步驟430)，且此工作周期校正量為當(dāng)前系統(tǒng)工作周期與目標(biāo)工作周期之間的間距。接著，根據(jù)工作周期校正量超出臨界量與否改變輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性(亦即步驟440)。
[0038]在步驟440中，方法400還包含在工作周期校正量超過臨界量以及當(dāng)前系統(tǒng)工作周期大于目標(biāo)工作周期的情況下，改變輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性至第一電壓電平(亦即步驟 442)。
[0039]舉例而言，臨界量設(shè)置為5%,目標(biāo)工作周期設(shè)置為50%,而當(dāng)前系統(tǒng)工作周期為60%。由上述信息可得出工作周期校正量為10%，且此工作周期校正量大于前述的臨界量，此時若系統(tǒng)為偶數(shù)級串聯(lián)的邏輯門電路，可將輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性改變至邏輯I (亦即第一電壓電平)以補償當(dāng)前系統(tǒng)工作周期。
[0040]如先前所述，相反地，此時若系統(tǒng)為奇數(shù)級串聯(lián)的邏輯門電路，可將輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性改變至邏輯O (亦即第一電壓電平)以補償當(dāng)前系統(tǒng)工作周期。
[0041]同樣地,在步驟440中，方法400可進(jìn)一步地包含在該工作周期校正量超過臨界量以及當(dāng)前系統(tǒng)工作周期小于目標(biāo)工作周期的情況下，改變輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性至第二電壓電平。(亦即步驟444)
[0042]例如，假設(shè)目標(biāo)工作周期設(shè)置為50%，臨界量設(shè)置為5%，且當(dāng)前工作周期為40%，其中當(dāng)前工作周期小于目標(biāo)工作周期。此時若系統(tǒng)為偶數(shù)級串聯(lián)的邏輯門電路，可將輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性改變至邏輯O (亦即第二電壓電平)以補償當(dāng)前系統(tǒng)工作周期。
[0043]再者，在前述的例子中，若系統(tǒng)為奇數(shù)級串聯(lián)的邏輯門電路，可將輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性改變至邏輯I (亦即第二電壓電平)以補償當(dāng)前系統(tǒng)工作周期。
[0044]另外，在步驟440中，方法400可進(jìn)一步地包含在工作周期校正量保持在臨界量以內(nèi)的情況下，切換輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性(亦即步驟446)。例如，假設(shè)目標(biāo)工作周期設(shè)置為50%，臨界量設(shè)置為5%，且當(dāng)前工作周期為53%。此時對應(yīng)的工作周期校正量為3%，且此工作周期校正量在臨界量的范圍內(nèi)。因此可根據(jù)此工作周期校正量輪流切換輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性，以維持當(dāng)前系統(tǒng)工作周期。
[0045]綜上所述，本發(fā)明公開了一種工作周期補償器與其補償方法，雖然上述各實施例皆以NBTI的退化影響為示例，但本發(fā)明可適用于會造成系統(tǒng)時鐘信號影響的各種環(huán)境退化，例如前述的PBTI退化、CHISEL退化、GIDL退化等等。本發(fā)明所公開的工作周期補償器與其補償方法可改善時鐘產(chǎn)生電路的可靠度與效能。
[0046]雖然本發(fā)明已經(jīng)以實施方式公開如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何本領(lǐng)域普通技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作各種變動與潤飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視權(quán)利要求書所界定者為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種工作周期補償器，其特征在于，包含: 一輸入緩沖器，其用來產(chǎn)生一輸入?yún)⒖紩r鐘信號； 一輸出緩沖器，其用來產(chǎn)生一系統(tǒng)時鐘信號； 一延遲鎖定回路，其電性連接在上述輸入緩沖器與上述輸出緩沖器之間，該延遲鎖定回路用來鎖定上述系統(tǒng)時鐘信號的系統(tǒng)工作周期的一工作周期中央點；以及一工作周期控制模塊，其包含: 一工作周期檢測單元，其用來檢測上述系統(tǒng)時鐘信號的一當(dāng)前系統(tǒng)工作周期；以及一工作周期補償單元，其用來根據(jù)上述當(dāng)前系統(tǒng)工作周期與一目標(biāo)工作周期之間的間距計算一工作周期校正量，且該工作周期補償單元根據(jù)該工作周期校正量超出一臨界量與否產(chǎn)生一補償信號；以及 一雙模極性控制單元，其用來根據(jù)上述補償信號改變上述輸入緩沖器的上述輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性。
2.如權(quán)利要求1所述的工作周期補償器，其特征在于，其中所述延遲鎖定回路包含一工作周期校正器，其用來校正自所述工作周期檢測單元檢測到的一工作周期錯誤。
3.如權(quán)利要求1所述的工作周期補償器，其特征在于，其中在所述工作周期校正量保持在所述臨界量以內(nèi)時，所述雙模極性控制單元切換所述輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性。
4.如權(quán)利要求1所述的工作周期補償器，其特征在于，其中在所述工作周期校正量超過所述臨界量時，且在所 述當(dāng)前系統(tǒng)工作周期大于所述目標(biāo)工作周期的情況下，所述雙模極性控制單兀改變所述輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性至一第一電壓電平。
5.如權(quán)利要求4所述的工作周期補償器，其特征在于，其中在所述工作周期校正量超過所述臨界量時，且在所述當(dāng)前系統(tǒng)工作周期小于所述目標(biāo)工作周期的情況下，所述雙模極性控制單元改變所述輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性至第二電壓電平。
6.如權(quán)利要求1所述的工作周期補償器，其特征在于，其中所述目標(biāo)工作周期為50%，且所述臨界量為5%。
7.—種時鐘補償方法，用于補償一系統(tǒng)時鐘信號的系統(tǒng)工作周期，其特征在于，包含: 通過一延遲鎖定回路鎖定上述系統(tǒng)工作周期的一工作周期中央點； 檢測上述系統(tǒng)時鐘信號的一當(dāng)前系統(tǒng)工作周期； 計算一工作周期校正量，其中該工作周期校正量為上述當(dāng)前系統(tǒng)工作周期與一目標(biāo)工作周期之間的間距；以及 根據(jù)上述工作周期校正量超出一臨界量與否改變一輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性。
8.如權(quán)利要求7所述的時鐘補償方法，其特征在于，其中在根據(jù)所述工作周期校正量超出一臨界量與否改變一輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性的步驟中還包含: 在所述工作周期校正量保持在所述臨界量以內(nèi)的情況下，切換所述輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性。
9.如權(quán)利要求7所述的時鐘補償方法，其特征在于，其中在根據(jù)所述工作周期校正量超出一臨界量與否改變一輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性的步驟中還包含: 在所述工作周期校正量超過所述臨界量以及所述當(dāng)前系統(tǒng)工作周期大于所述目標(biāo)工作周期的情況下，改變所述輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性至一第一電壓準(zhǔn)位。
10.如權(quán)利要求9所述的時鐘補償方法，其特征在于，其中在根據(jù)所述工作周期校正量超出一臨界量與否改變一輸入?yún)⒖紩r時鐘信號的極性的步驟中還包含: 在所述工作周期校正量超過所述臨界量以及所述當(dāng)前系統(tǒng)工作周期小于所述目標(biāo)工作周期的情況下，改變所述輸入?yún)⒖紩r鐘信號的極性至一第二電壓電平。
11.如權(quán)利要求7所述的時鐘補償方法，其特征在于，其中所述目標(biāo)工作周期為50%，且所述臨界量為 5%。
【文檔編號】G11C7/04GK104050993SQ201310472880
【公開日】2014年9月17日 申請日期:2013年10月11日 優(yōu)先權(quán)日:2013年3月15日
【發(fā)明者】馬炎濤 申請人:南亞科技股份有限公司