內(nèi)存測試方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種內(nèi)存測試方法，其主要包括以下步驟：a.選擇若干組測試條件及相應(yīng)需測試的參數(shù)；b.計算提供到內(nèi)存模塊進(jìn)行測試的信號的頻率、電壓、上升斜率及下降斜率；c.設(shè)定頻率產(chǎn)生器產(chǎn)生的信號的頻率、電壓、上升斜率及下降斜率；d.設(shè)定需量測的信號的參數(shù)；e.將步驟c中設(shè)定好頻率、電壓、上升斜率及下降斜率的信號傳送至內(nèi)存模塊中進(jìn)行測試；f.判斷是否量測到信號輸出，若否，則繼續(xù)量測；若是，則存儲量測的信號的參數(shù)值；以及g.判斷是否按設(shè)定的測試條件將測試參數(shù)測試完畢，若否，則返回步驟b，若是，則顯示測試完畢后量測的參數(shù)值，并判斷是否通過測試。本發(fā)明不僅節(jié)省測試時間，而且測試過程中出錯少，測試效率高。
【專利說明】內(nèi)存測試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種測試方法，尤其涉及一種性能優(yōu)良的內(nèi)存測試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]內(nèi)存是電腦的主要組成部分，直接決定電腦系統(tǒng)性能，一旦內(nèi)存出現(xiàn)故障，便會造成系統(tǒng)讀寫錯誤，導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失，因而對內(nèi)存進(jìn)行測試尤為重要。
[0003]傳統(tǒng)的內(nèi)存測試方法弊端較多，不僅測試時間長，而且測試步驟繁瑣。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]鑒于上述問題，本發(fā)明提供了一種不僅省時，而且出錯少、測試效率高的內(nèi)存測試方法。
[0005]為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明采用了如下的技術(shù)方案:一種內(nèi)存測試方法，其主要適用于對主板的內(nèi)存模塊進(jìn)行測試，其中，該方法主要包括以下步驟:
[0006]步驟a.選擇若干組測試條件及相應(yīng)需測試的參數(shù)；
[0007]步驟b.計算提供到內(nèi)存模塊進(jìn)行測試的信號的頻率、電壓、上升斜率及下降斜率；
[0008]步驟c.設(shè)定頻率產(chǎn)生器產(chǎn)生的信號的頻率、電壓、上升斜率及下降斜率；
[0009]步驟d.設(shè)定需量測的信號的參數(shù)；
[0010]步驟e.將步驟c中設(shè)定好頻率、電壓、上升斜率及下降斜率的信號傳送至內(nèi)存模塊中進(jìn)行測試；
[0011]步驟f.判斷是否量測到信號輸出，若否，則繼續(xù)量測；若是，則存儲量測的信號的參數(shù)值；以及
[0012]步驟g.判斷是否按設(shè)定的測試條件將測試參數(shù)測試完畢，若否，則返回步驟b，若是，則顯示測試完畢后量測的參數(shù)值，并判斷是否通過測試。
[0013]較佳的，本發(fā)明提供了一種內(nèi)存測試方法，其中，所述步驟g中將量測的參數(shù)值制作成表格顯示。
[0014]較佳的，本發(fā)明提供了一種內(nèi)存測試方法，其中，所述步驟c中所述頻率產(chǎn)生器產(chǎn)生的信號為方波。
[0015]較佳的，本發(fā)明提供了一種內(nèi)存測試方法，其中，所述步驟a中所述需測試的參數(shù)主要包括頻率、電壓、上升斜率及下降斜率。
[0016]較佳的，本發(fā)明提供了一種內(nèi)存測試方法，其中，所述步驟e所述的信號傳送至內(nèi)存模塊中依據(jù)英特爾測試規(guī)范進(jìn)行測試。
[0017]相較于先前技術(shù)，本發(fā)明提供了一種內(nèi)存測試方法，不僅節(jié)省測試時間，而且測試過程中出錯少，測試效率高。
【專利附圖】

【附圖說明】[0018]圖1為本發(fā)明的流程圖【具體實施方式】
[0019]請參照圖1所示，為本發(fā)明的流程圖。本發(fā)明提供了一種內(nèi)存測試方法，不僅節(jié)省測試時間，而且測試過程中出錯少，測試效率高。
[0020]其中，該內(nèi)存測試方法主要適用于對主板的內(nèi)存模塊進(jìn)行測試,其主要包括以下步驟:
[0021]步驟101.選擇若干組測試條件及相應(yīng)需測試的參數(shù)；
[0022]步驟102.計算提供到內(nèi)存模塊進(jìn)行測試的信號的頻率、電壓、上升斜率及下降斜率；
[0023]步驟103.設(shè)定頻率產(chǎn)生器產(chǎn)生的信號的頻率、電壓、上升斜率及下降斜率；
[0024]步驟104.設(shè)定需量測的信號的參數(shù)；
[0025]步驟105.將步驟103中設(shè)定好頻率、電壓、上升斜率及下降斜率的信號傳送至內(nèi)存模塊中進(jìn)行測試；
[0026]步驟106.判斷是否量測到信號輸出，若否，則繼續(xù)量測；若是，則到步驟107:存儲量測的信號的參數(shù)值；以及
[0027]步驟108.判斷是否按設(shè)定的測試條件將測試參數(shù)測試完畢，若否，則返回步驟102，若是，則到步驟109:顯示測試完畢后量測的參數(shù)值，并判斷是否通過測試。
[0028]又，所述步驟108中將量測的參數(shù)值制作成表格顯示，所述步驟103中所述頻率產(chǎn)生器產(chǎn)生的信號為方波，所述步驟101中所述需測試的參數(shù)主要包括頻率、電壓、上升斜率及下降斜率，所述步驟105所述的信號傳送至內(nèi)存模塊中依據(jù)英特爾測試規(guī)范進(jìn)行測試。
[0029]該頻率產(chǎn)生器產(chǎn)生方波訊號，此方波訊號依照英特爾測試規(guī)范條件輸入最大值、最小值及Fdge time (邊緣時間)，產(chǎn)生的方波訊號送入存儲有上述內(nèi)存測試方法程序的測試治具，該測試治具即仿真動態(tài)負(fù)載，并將該測試治具插接于待測主板中的內(nèi)存插槽上，以便依據(jù)英特爾測試規(guī)范條件進(jìn)行測試。
【權(quán)利要求】
1.一種內(nèi)存測試方法，其主要適用于對主板的內(nèi)存模塊進(jìn)行測試，其特征在于，該方法主要包括以下步驟: 步驟a.選擇若干組測試條件及相應(yīng)需測試的參數(shù)； 步驟b.計算提供到內(nèi)存模塊進(jìn)行測試的信號的頻率、電壓、上升斜率及下降斜率； 步驟c.設(shè)定頻率產(chǎn)生器產(chǎn)生的信號的頻率、電壓、上升斜率及下降斜率； 步驟d.設(shè)定需量測的信號的參數(shù)； 步驟e.將步驟c中設(shè)定好頻率、電壓、上升斜率及下降斜率的信號傳送至內(nèi)存模塊中進(jìn)行測試； 步驟f.判斷是否量測到信號輸出，若否，則繼續(xù)量測；若是，則存儲量測的信號的參數(shù)值；以及 步驟g.判斷是否按設(shè)定的測試條件將測試參數(shù)測試完畢，若否，則返回步驟b，若是，則顯示測試完畢后量測的參數(shù)值，并判斷是否通過測試。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)存測試方法，所述步驟g中將量測的參數(shù)值制作成表格顯/Jn ο
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)存測試方法，所述步驟c中所述頻率產(chǎn)生器產(chǎn)生的信號為方波。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)存測試方法，所述步驟a中所述需測試的參數(shù)主要包括頻率、電壓、上升斜率及下降斜率。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)存測試方法，所述步驟e信號傳送至內(nèi)存模塊中依據(jù)英特爾測試規(guī)范進(jìn)行測試。
【文檔編號】G11C29/08GK103943151SQ201310024901
【公開日】2014年7月23日 申請日期:2013年1月23日 優(yōu)先權(quán)日:2013年1月23日
【發(fā)明者】陳育鉦, 張家維 申請人:昆達(dá)電腦科技(昆山)有限公司, 神達(dá)電腦股份有限公司