技術編號:6764662
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明提供了一種,其主要包括以下步驟a.選擇若干組測試條件及相應需測試的參數(shù);b.計算提供到內存模塊進行測試的信號的頻率、電壓、上升斜率及下降斜率;c.設定頻率產生器產生的信號的頻率、電壓、上升斜率及下降斜率;d.設定需量測的信號的參數(shù);e.將步驟c中設定好頻率、電壓、上升斜率及下降斜率的信號傳送至內存模塊中進行測試;f.判斷是否量測到信號輸出,若否,則繼續(xù)量測;若是,則存儲量測的信號的參數(shù)值;以及g.判斷是否按設定的測試條件將測試參數(shù)測試完畢,若否,則返...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。
該類技術無源代碼,用于學習原理,如您想要源代碼請勿下載。