專利名稱：高低溫、高低電壓內(nèi)存模擬測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及半導(dǎo)體模組技術(shù)，特別是涉及ー種高低溫、高低電壓內(nèi)存模擬測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
電腦用內(nèi)存在很多領(lǐng)域已經(jīng)是必不可少的ー個(gè)配件，但是市場(chǎng)上同類產(chǎn)品的性能與穩(wěn)定性無法得到保障，電腦使用過程中經(jīng)常出現(xiàn)藍(lán)屏、報(bào)錯(cuò)等死機(jī)現(xiàn)象，原因在于內(nèi)存沒有進(jìn)行全面的測(cè)試。隨著內(nèi)存容量與頻率的提高，其發(fā)熱量也隨之大大提高，因此，在長(zhǎng)時(shí)間使用或者高溫環(huán)境使用中，內(nèi)存芯片容易出現(xiàn)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)錯(cuò)誤的情況，甚至有的不合格產(chǎn)品出現(xiàn)芯片燒毀的情況。內(nèi)存正常工作電壓為I. 5V，如果電源輸出電壓不能保持穩(wěn)定，很容易造成電腦數(shù)據(jù)交換錯(cuò)誤，造成非常大的損失。電腦內(nèi)存DRAM(Dynamic Random Access Memory,動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器)芯片內(nèi)部存在幾億個(gè)晶體管，內(nèi)存沒有經(jīng)過嚴(yán)格的全面的測(cè)試，不能講不良的產(chǎn)品選別出來，那消費(fèi)者使用過程中報(bào)錯(cuò)，死機(jī)現(xiàn)象等數(shù)據(jù)存儲(chǔ)錯(cuò)誤的現(xiàn)象就會(huì)經(jīng)常發(fā)生。

實(shí)用新型內(nèi)容(一 )要解決的技術(shù)問題本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是如何確保電腦用內(nèi)存芯片在高低溫、高低電壓變化情形下能夠正常工作。( ニ )技術(shù)方案為了解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型提供ー種高低溫、高低電壓內(nèi)存模擬測(cè)試系統(tǒng)，其包括多個(gè)測(cè)試板，其分別連接被測(cè)內(nèi)存，用于測(cè)試被測(cè)內(nèi)存；控制顯示器，分別與所述多個(gè)測(cè)試板相連，用于顯示所述多個(gè)測(cè)試板的測(cè)試結(jié)果。其中，每個(gè)所述測(cè)試板上連接有溫度控制模塊，用于調(diào)整每個(gè)所述測(cè)試板的測(cè)試溫度。其中，每個(gè)所述測(cè)試板上連接有電壓控制模塊，用于調(diào)整每個(gè)所述測(cè)試板的測(cè)試電壓。其中，還包括多個(gè)電壓及溫度顯示模塊，分別與每個(gè)所述測(cè)試板的溫度控制模塊和電壓控制模塊相連，以顯示每個(gè)測(cè)試板的測(cè)試溫度和測(cè)試電壓。其中，還包括電源，與所述多個(gè)測(cè)試板和控制顯示器相連，進(jìn)行供電。其中，還包括電源主開關(guān)，與所述電源相連，用于控制電源的開或關(guān)；多個(gè)電源分開關(guān)，分別與每個(gè)測(cè)試板相連，控制每個(gè)測(cè)試板供電的通或斷。(三)有益效果上述技術(shù)方案所提供的高低溫、高低電壓內(nèi)存模擬測(cè)試系統(tǒng)，該系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)批量化生產(chǎn)需要，在有限的空間內(nèi)最大化安裝測(cè)試板數(shù)量；一臺(tái)控制顯示器，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)所有測(cè)試板控制，實(shí)現(xiàn)同一程序、同一標(biāo)準(zhǔn)；測(cè)試溫度實(shí)時(shí)查看，測(cè)試電壓實(shí)時(shí)查看；測(cè)試板可根據(jù)產(chǎn)品的不同更換或者更新，實(shí)用性強(qiáng)，能夠保證內(nèi)存使用的穩(wěn)定性。

圖I是本實(shí)用新型實(shí)施例的高低溫、高低電壓內(nèi)存模擬測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖和實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式
作進(jìn)ー步詳細(xì)描述。以下實(shí)施例用于說明本實(shí)用新型，但不用來限制本實(shí)用新型的范圍。圖I示出了本實(shí)施例的高低溫、高低電壓內(nèi)存模擬測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖，參照?qǐng)D示，其包括多個(gè)測(cè)試板，其分別連接被測(cè)內(nèi)存，用于測(cè)試被測(cè)內(nèi)存；控制顯示器，分別與所述多個(gè)測(cè)試板相連，用于顯示所述多個(gè)測(cè)試板的測(cè)試結(jié)果。為了測(cè)試內(nèi)存在不同溫度和電壓條件下的穩(wěn)定性，每個(gè)所述測(cè)試板上連接有溫度 控制模塊，用于調(diào)整每個(gè)所述測(cè)試板的測(cè)試溫度；每個(gè)所述測(cè)試板上還連接有電壓控制模塊，用于調(diào)整每個(gè)所述測(cè)試板的測(cè)試電壓。并且，為了測(cè)試方便，還設(shè)置有多個(gè)電壓及溫度顯示模塊，分別與每個(gè)所述測(cè)試板的溫度控制模塊和電壓控制模塊相連，以顯示每個(gè)測(cè)試板的測(cè)試溫度和測(cè)試電壓。本實(shí)施例測(cè)試系統(tǒng)還包括電源，與所述多個(gè)測(cè)試板和控制顯示器相連，進(jìn)行供電。為了能夠?qū)崿F(xiàn)整體控制和獨(dú)立控制，本實(shí)施例測(cè)試系統(tǒng)設(shè)置有電源主開關(guān)，與所述電源相連，用于控制電源的開或關(guān)；還設(shè)置有多個(gè)電源分開關(guān)，分別與每個(gè)測(cè)試板相連，控制每個(gè)測(cè)試板供電的通或斷。本實(shí)施例測(cè)試系統(tǒng)通過各種編碼，對(duì)內(nèi)存每ー個(gè)單元進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫，內(nèi)存芯片不良類型檢出率達(dá)到99. 7%以上；本系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)內(nèi)存在高低溫(10°C 65°C )環(huán)境下高速數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，確保內(nèi)訓(xùn)產(chǎn)品在極端環(huán)境下的工作穩(wěn)定性；本系統(tǒng)對(duì)內(nèi)存電壓進(jìn)行自動(dòng)階梯式變化(I. 42V I. 58V)，確保測(cè)試過的產(chǎn)品在電壓變換的情況下也能正常工作；本系統(tǒng)能夠根據(jù)產(chǎn)品種類，自動(dòng)匹配下載測(cè)試程序，自動(dòng)設(shè)置測(cè)試條件，且將測(cè)試詳細(xì)結(jié)果寫入內(nèi)存Sro(SH)是SERIAL PRESENCE DETECT的縮寫，中文意思是模組存在的串行檢測(cè)，也即是通過IIC 串行接 ロ 的 EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory,電可擦可編程只讀存儲(chǔ)器)對(duì)內(nèi)存插槽中的模組存在的信息檢查)中，使得產(chǎn)品信息可追溯性。由以上實(shí)施例可以看出，本實(shí)用新型實(shí)施例能夠?qū)崿F(xiàn)批量化生產(chǎn)需要，在有限的空間內(nèi)最大化安裝測(cè)試板數(shù)量；一臺(tái)控制顯示器，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)所有測(cè)試板控制，實(shí)現(xiàn)同一程序、同一標(biāo)準(zhǔn)；測(cè)試溫度實(shí)時(shí)查看，測(cè)試電壓實(shí)時(shí)查看；測(cè)試板可根據(jù)產(chǎn)品的不同更換或者更新，實(shí)用性強(qiáng)，能夠保證內(nèi)存使用的穩(wěn)定性。以上所述僅是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型技術(shù)原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和替換，這些改進(jìn)和替換也應(yīng)視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.一種高低溫、高低電壓內(nèi)存模擬測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括多個(gè)測(cè)試板，其分別連接被測(cè)內(nèi)存，用于測(cè)試被測(cè)內(nèi)存；控制顯示器，分別與所述多個(gè)測(cè)試板相連，用于顯示所述多個(gè)測(cè)試板的測(cè)試結(jié)果。
2.如權(quán)利要求I所述的高低溫、高低電壓內(nèi)存模擬測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，每個(gè)所述測(cè)試板上連接有溫度控制模塊，用于調(diào)整每個(gè)所述測(cè)試板的測(cè)試溫度。
3.如權(quán)利要求2所述的高低溫、高低電壓內(nèi)存模擬測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，每個(gè)所述測(cè)試板上連接有電壓控制模塊，用于調(diào)整每個(gè)所述測(cè)試板的測(cè)試電壓。
4.如權(quán)利要求3所述的高低溫、高低電壓內(nèi)存模擬測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，還包括多個(gè)電壓及溫度顯示模塊，分別與每個(gè)所述測(cè)試板的溫度控制模塊和電壓控制模塊相連，以顯示每個(gè)測(cè)試板的測(cè)試溫度和測(cè)試電壓。
5.如權(quán)利要求I所述的高低溫、高低電壓內(nèi)存模擬測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，還包括電源，與所述多個(gè)測(cè)試板和控制顯示器相連，進(jìn)行供電。
6.如權(quán)利要求5所述的高低溫、高低電壓內(nèi)存模擬測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，還包括電源主開關(guān)，與所述電源相連，用于控制電源的開或關(guān)；多個(gè)電源分開關(guān)，分別與每個(gè)測(cè)試板相連，控制每個(gè)測(cè)試板供電的通或斷。
專利摘要本實(shí)用新型公開了高低溫、高低電壓內(nèi)存模擬測(cè)試系統(tǒng)，其包括多個(gè)測(cè)試板，其分別連接被測(cè)內(nèi)存，用于測(cè)試被測(cè)內(nèi)存；控制顯示器，分別與所述多個(gè)測(cè)試板相連，用于顯示所述多個(gè)測(cè)試板的測(cè)試結(jié)果。本實(shí)用新型能夠?qū)崿F(xiàn)批量化生產(chǎn)需要，在有限的空間內(nèi)最大化安裝測(cè)試板數(shù)量；一臺(tái)控制顯示器，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)所有測(cè)試板控制，實(shí)現(xiàn)同一程序、同一標(biāo)準(zhǔn)；測(cè)試溫度實(shí)時(shí)查看，測(cè)試電壓實(shí)時(shí)查看；測(cè)試板可根據(jù)產(chǎn)品的不同更換或者更新，實(shí)用性強(qiáng)，能夠保證內(nèi)存使用的穩(wěn)定性。
文檔編號(hào)G11C29/56GK202650549SQ20122018313
公開日2013年1月2日 申請(qǐng)日期2012年4月27日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月27日
發(fā)明者沈澤斌, 陶宗明, 王一, 劉欣, 蔡燕, 唐奇勝 申請(qǐng)人:海太半導(dǎo)體(無錫)有限公司