專利名稱：自動化內(nèi)存電特性測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及半導(dǎo)體器件，特別是涉及ー種自動化內(nèi)存電特性測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
電腦內(nèi)存通過表面貼裝技術(shù)進(jìn)行組裝，將幾十個原輔材料組合在一起，如何檢驗其組裝以后的性能相當(dāng)重要。市場上內(nèi)存在安裝中會有很大一部分無法開機(jī)運(yùn)行，更嚴(yán)重的內(nèi)部短路點(diǎn)情況會將電腦主板燒毀等現(xiàn)象也有發(fā)生。另ー方面，由于大量的焊接點(diǎn)可能存在虛焊、脫焊等情況，經(jīng)過一段時間的使用后必然出現(xiàn)不良，給客戶造成極大的損失。內(nèi)存需要將基本信息燒錄至SPD(SH)是SERIAL PRESENCE DETECT的縮寫，中文意思是模組存在的串行檢測，也即是通過IIC串行接ロ的EEPROM(Electrically ErasableProgrammable Read-Only Memory,電可擦可編程只讀存儲器)對內(nèi)存插槽中的模組存在的信息檢查)，不同種類、不同頻率、不同容量內(nèi)存的基本信息不同，因此，燒錄錯誤將會造成不可彌補(bǔ)的損失，SPD信息燒錄的準(zhǔn)確性、高效性是很多內(nèi)存生產(chǎn)廠商的頑疾。

實用新型內(nèi)容(一 )要解決的技術(shù)問題本實用新型要解決的技術(shù)問題是如何實現(xiàn)對內(nèi)存電特性的測試，以提高內(nèi)存在后續(xù)使用中的穩(wěn)定性。( ニ )技術(shù)方案為了解決上述技術(shù)問題，本實用新型提供一種自動化內(nèi)存電特性測試系統(tǒng)，其包括測試器，其上設(shè)置有多個被測內(nèi)存插座，用于插接被測內(nèi)存并進(jìn)行測試；電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器，與所述測試器相連，為所述測試器供電，并接收所述測試器的測量結(jié)果進(jìn)行轉(zhuǎn)換；處理器，與所述電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器相連，由所述電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器供電，并接收所述電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換的測量結(jié)果。其中，還包括控制器，分別與所述電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器和測試器相連，用于控制所述測試器對內(nèi)存進(jìn)行測試以及控制電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的結(jié)果轉(zhuǎn)換。其中，所述電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器與所述測試器之間通過系統(tǒng)總線相連。其中，所述處理器與所述電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器之間通過通用接ロ總線相連。其中，所述控制器分別通過監(jiān)控器電纜與所述電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器和測試器相連。(三)有益效果上述技術(shù)方案所提供的自動化內(nèi)存電特性測試系統(tǒng)，能夠?qū)Σ煌N類內(nèi)存進(jìn)行全面電特性測試與sro信息燒錄；控制器能夠自動下載測試程序，對內(nèi)存每個引腳進(jìn)行電特性測試與讀寫操作，組立性不良檢出率100% ;通過自動識別內(nèi)存種類，對內(nèi)存SPD自動燒錄內(nèi)存基本信息與測試結(jié)果；能夠全自動對產(chǎn)品進(jìn)行測試，完成良品、不良品區(qū)分放置，避免產(chǎn)品發(fā)生混合；效率化生產(chǎn)，可以同時測試多達(dá)12個產(chǎn)品，提高生產(chǎn)效率，從而適應(yīng)現(xiàn)代化生產(chǎn)需求。
圖I是本實用新型實施例的自動化內(nèi)存電特性測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖和實施例，對本實用新型的具體實施方式
作進(jìn)ー步詳細(xì)描述。以下實施例用于說明本實用新型，但不用來限制本實用新型的范圍。圖I示出了本實施例的自動化內(nèi)存電特性測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖，參照圖示,其包括測試器，其上設(shè)置有多個被測內(nèi)存插座，用于插接被測內(nèi)存并進(jìn)行測試；電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器，與所述測試器相連，為所述測試器供電，并接收所述測試器的測量結(jié)果進(jìn)行轉(zhuǎn)換；處理器，與所述電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器相連，由所述電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器供電，并接收所述電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換的測量結(jié)果。還包括控制器，分別與所述電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器和測試器相連，用于控制所述測試器對內(nèi)存進(jìn)行測試以及控制電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的結(jié)果轉(zhuǎn)換。具體地，所述電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器與所述測試器之間通過系統(tǒng)總線相連；所述處理器與所述電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器之間通過通用接ロ總線相連；所述控制器分別通過監(jiān)控器電纜與所述電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器和測試器相連。使用本實施例的自動化內(nèi)存電特性測試系統(tǒng)進(jìn)行電特性測試時，通過控制器來控制測試程序的下載，顯示測試結(jié)果，保存詳細(xì)測試結(jié)果信息；電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器部分用于提供各個設(shè)備的電源，并且完成與處理器之間的數(shù)據(jù)交換，實現(xiàn)處理器自動抓取與區(qū)分內(nèi)存；測試器部分用于測試內(nèi)存，并且具有對sro進(jìn)行燒錄的功能。該系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)批量化生產(chǎn)需要，自動化實現(xiàn)產(chǎn)品的測試與區(qū)分，一臺控制器，能夠?qū)崿F(xiàn)對多個測試頭進(jìn)行控制，即安裝在測試器上的多個內(nèi)存在同一程序、同一標(biāo)準(zhǔn)下進(jìn)行測試。測試器部分可以根據(jù)不同類型產(chǎn)品進(jìn)行更換測試頭，提高其通用性，該系統(tǒng)最多一次可以對12個測試頭進(jìn)行同時測試，并且可以任意開啟關(guān)閉其中的測試頭。由以上實施例可以看出，本實用新型實施例能夠?qū)Σ煌N類內(nèi)存進(jìn)行全面電特性測試與sro信息燒錄；控制器能夠自動下載測試程序，對內(nèi)存每個引腳進(jìn)行電特性測試與讀寫操作，組立性不良檢出率100% ;通過自動識別內(nèi)存種類，對內(nèi)存SPD自動燒錄內(nèi)存基本信息與測試結(jié)果；能夠全自動對產(chǎn)品進(jìn)行測試，完成良品、不良品區(qū)分放置，避免產(chǎn)品發(fā)生混合；效率化生產(chǎn)，可以同時測試多達(dá)12個產(chǎn)品，提高生產(chǎn)效率，從而適應(yīng)現(xiàn)代化生產(chǎn)需求。以上所述僅是本實用新型的優(yōu)選實施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實用新型技術(shù)原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和替換，這些改進(jìn)和替換也應(yīng)視為本實用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.一種自動化內(nèi)存電特性測試系統(tǒng)，其特征在于，包括測試器，其上設(shè)置有多個被測內(nèi)存插座，用于插接被測內(nèi)存并進(jìn)行測試；電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器，與所述測試器相連，為所述測試器供電，并接收所述測試器的測量結(jié)果進(jìn)行轉(zhuǎn)換；處理器，與所述電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器相連，由所述電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器供電，并接收所述電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換的測量結(jié)果。
2.如權(quán)利要求I所述的自動化內(nèi)存電特性測試系統(tǒng)，其特征在于，還包括控制器，分別與所述電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器和測試器相連，用于控制所述測試器對內(nèi)存進(jìn)行測試以及控制電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的結(jié)果轉(zhuǎn)換。
3.如權(quán)利要求2所述的自動化內(nèi)存電特性測試系統(tǒng)，其特征在于，所述電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器與所述測試器之間通過系統(tǒng)總線相連。
4.如權(quán)利要求2所述的自動化內(nèi)存電特性測試系統(tǒng)，其特征在于，所述處理器與所述電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器之間通過通用接口總線相連。
5.如權(quán)利要求2所述的自動化內(nèi)存電特性測試系統(tǒng)，其特征在于，所述控制器分別通過監(jiān)控器電纜與所述電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器和測試器相連。
專利摘要本實用新型公開了一種自動化內(nèi)存電特性測試系統(tǒng)，包括測試器，其上設(shè)置有多個被測內(nèi)存插座，用于插接被測內(nèi)存并進(jìn)行測試；電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器，與所述測試器相連，為所述測試器供電，并接收所述測試器的測量結(jié)果進(jìn)行轉(zhuǎn)換；處理器，與所述電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器相連，由所述電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器供電，并接收所述電源及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換的測量結(jié)果。本實用新型能夠?qū)Σ煌N類內(nèi)存進(jìn)行全面電特性測試與SPD信息燒錄；通過自動識別內(nèi)存種類，對內(nèi)存SPD自動燒錄內(nèi)存基本信息與測試結(jié)果；能夠全自動對產(chǎn)品進(jìn)行測試，完成良品、不良品區(qū)分放置，避免產(chǎn)品發(fā)生混合；效率化生產(chǎn)，可以同時測試多達(dá)12個產(chǎn)品，提高生產(chǎn)效率，從而適應(yīng)現(xiàn)代化生產(chǎn)需求。
文檔編號G11C29/56GK202650548SQ201220183118
公開日2013年1月2日 申請日期2012年4月27日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月27日
發(fā)明者沈澤斌, 陶宗明, 王一, 劉欣, 蔡燕, 唐奇勝 申請人:海太半導(dǎo)體(無錫)有限公司