專利名稱：用于改進(jìn)磁頭定位的系統(tǒng)和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及磁盤驅(qū) 動器，更具體地，涉及使用伺服模式改進(jìn)用于讀和寫的磁頭定位的系統(tǒng)和方法。
背景技術(shù)：
對于磁盤介質(zhì)，旋轉(zhuǎn)架用于多個目的，包括磁盤介質(zhì)表征、測試和開發(fā)。為了進(jìn)行這些操作，為了對磁道讀和寫，它們要求讀寫磁頭在各個磁道偏移量的準(zhǔn)確和精確定位。另夕卜，盡管對旋轉(zhuǎn)架的大多數(shù)測試在偏移量O寫，但是特定測試也要求讀寫磁頭在偏移-磁道位置準(zhǔn)確和精確的定位以便寫。因此，通過在閉環(huán)系統(tǒng)中使用伺服和伺服標(biāo)記(也稱為“伺服模式”)的組合，幫助針對旋轉(zhuǎn)架的磁頭的定位。伺服標(biāo)記被寫在每個磁盤的小的扇區(qū)中并且用于準(zhǔn)確地將磁頭定位在不同的讀或者寫偏移量。不幸地，伺服模式的質(zhì)量可能極大地影響從旋轉(zhuǎn)架的一些實(shí)質(zhì)測量結(jié)果的可重復(fù)性。一般地，旋轉(zhuǎn)架(例如，來自Guzik Technical Enterprises)中的現(xiàn)有伺服器的磁頭定位在大范圍的讀或者寫偏移量上改變，并且從伺服器到伺服器寫不可重復(fù)。此外，盡管開發(fā)了改進(jìn)磁頭定位準(zhǔn)確性的途徑(例如Guzik Servo Improvement Package),但是這些方案具有諸如明顯增加旋轉(zhuǎn)架的操作時間的缺陷。


通過示例在附圖中例示了本發(fā)明而非用于限制。應(yīng)注意的是在一定的偏移量范圍測量磁道的信號幅值被稱為測量磁道的曲線；在下文磁道的曲線將被理解為指示(reference)針對給定磁道的信號幅值測量值的集合，其中每個信號幅值在對于給定磁道的不同的偏移量測量。對于附圖圖I是例示根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施方式的改進(jìn)針對讀的磁頭定位的準(zhǔn)確性的示例方法的流程圖；圖2是例示測量到的讀偏移量磁道曲線與“理想”讀偏移量磁道曲線(即，在給定的讀偏移量的理想的近似)相比較的曲線圖；圖3是例示根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施方式可以使用的示例偏移量的圖；圖4是例示根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施方式可以使用的示例磁道曲線的曲線圖；圖5是例示根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施方式經(jīng)采樣的磁道曲線如何被合并到單個基準(zhǔn)磁道曲線的曲線圖；圖6是例示根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施方式的磁道曲線的讀偏移量與基準(zhǔn)磁道曲線的讀偏移量的比較的曲線圖；圖7是例示根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施方式計算的單個平均讀偏移量變化率的集合的示例的曲線圖；圖8是例示使用本發(fā)明的一實(shí)施方式的用于讀的磁頭定位的示例改進(jìn)的曲線圖；圖9是例示根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施方式的改進(jìn)針對寫的磁頭定位的準(zhǔn)確性的示例方法的流程圖；圖10是例示原始寫偏移量和經(jīng)校正的寫偏移量之間誤差的曲線圖；圖11是例示根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施方式計算的單個平均寫偏移量變化量的集合的示例的曲線圖；以及圖12是例示使用本發(fā)明的一實(shí)施方式的用于寫的磁頭定位的示例改進(jìn)的曲線圖。
具體實(shí)施方式
在以下描述中，闡述了多個細(xì)節(jié)以提供對本發(fā)明的不同實(shí)施方式的徹底理解。然而對于本領(lǐng)域技術(shù)人員明顯的是不需要采用這些具體細(xì)節(jié)來實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的不同實(shí)施方式。在一些例子中，未詳細(xì)描述已知的部件或者方法以避免不必要地混淆本發(fā)明的各個實(shí)施方式。本發(fā)明的實(shí)施方式提供為了寫和讀目的，使用已有伺服模式來改進(jìn)磁頭定位的系統(tǒng)和方法。本發(fā)明的不同實(shí)施方式基于已有伺服模式進(jìn)行讀偏移量或者寫偏移量的校準(zhǔn)，接著相應(yīng)地產(chǎn)生讀偏移量校正表或者讀偏移量校正表。校正表隨后被用于校正針對給定伺服模式的讀偏移量或者寫偏移量，因而改進(jìn)用于讀偏移量定位或者寫偏移量定位的伺服模式的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。隨著一些實(shí)施方式的使用，實(shí)現(xiàn)了使用已有伺服器的磁頭定位的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性，而無論伺服模式被如何寫(即，使用已有的伺服模式)。當(dāng)磁頭定位的可重復(fù)性實(shí)現(xiàn)時，諸如旋轉(zhuǎn)架(spinstands)的裝置可以更好地重復(fù)獲取測量值，諸如磁道寬度(MTW)、侵略者磁道(agressor tracks)的加權(quán)和信噪比(wsSNRfinal)、侵略者磁道的誤碼率(ERfinal)、擠壓和挑選的(squeeze and shingled)誤碼率(ShER)。根據(jù)用于改進(jìn)磁頭定位以便讀的的一個實(shí)施方式，方法使用已有伺服模式來校準(zhǔn)讀偏移量的范圍并且產(chǎn)生讀偏移量校正表。該方法可以開始于確定磁頭的讀-寫偏移量(即，讀在偏移量O寫的信號幅值的磁頭位置)，之后可以用于自動調(diào)整得到的讀偏移量校正表。另外，該方法可以首先擦除要被校準(zhǔn)的讀偏移量的范圍上存在的全部信號，因而確保沒有非期望的信號負(fù)面地影響校準(zhǔn)處理。當(dāng)讀偏移量的范圍被清除了全部信號時，方法(I)寫要被校準(zhǔn)的讀偏移量上的一系列磁道(即，寫磁道到要被校準(zhǔn)的讀偏移量的范圍內(nèi)的多個寫偏移量)，其中每個磁道被寫到范圍內(nèi)的不同偏移量，以及(2)在讀偏移量的范圍內(nèi)的不同讀偏移量測量每個磁道的信號幅值。根據(jù)一些實(shí)施方式，該方法通過以下進(jìn)行該寫和測量(a)對該系列中的當(dāng)前磁道的全部扇區(qū)寫；(b)在讀偏移量的范圍內(nèi)的特定讀偏移量測量當(dāng)前磁道的信號幅值；(C)擦除當(dāng)前磁道；以及(d)針對該系列中的其它磁道重復(fù)相同步驟。在其它實(shí)施方式中，該系列中的磁道可以在讀偏移量的范圍內(nèi)的不同偏移量被寫入為重疊磁道，從而每個重疊的磁道不毀壞其相鄰的重疊磁道。例如，該方法可以通過以下進(jìn)行讀和測量(a)寫該系列中的全部重疊磁道從而僅僅每個重疊磁道的指定扇區(qū)被寫，并且每個重疊磁道具有被寫的排他的扇區(qū)的集合；以及(b)在讀偏移量的范圍內(nèi)的不同讀偏移量測量該系列中的每個重疊磁道的信號幅值，其中指定扇區(qū)的信號幅值被測量。例如，該方法可以(1)僅僅激活被指派到第一重疊磁道的扇區(qū)，對第一重疊磁道的那些扇區(qū)寫；
(2)將磁頭移動磁道寬度的一部分到范圍內(nèi)的下一個偏移量；(3)僅僅激活被指派到下一個重疊磁道的扇區(qū)，對下一個重疊磁道的那些扇區(qū)寫；(4)重復(fù)步驟(2)- (3)直至全部重疊磁道被寫為止，覆蓋要被校準(zhǔn)的讀偏移量的范圍；(5)將磁頭定位到讀偏移量的范圍內(nèi)的當(dāng)前讀偏移量以測量第一磁道的第一采樣信號幅值；(6)測量被指派到第一重疊磁道的扇區(qū)的平均信號幅值并且存儲到第一重疊磁道的曲線中；(7)針對第二重復(fù)磁道接著第三重疊磁道等等重復(fù)步驟(6)直至在當(dāng)前讀偏移量針對全部重疊磁道的采樣信號幅值被測量為止。(8 )將磁頭移動到下一個讀偏移量，接著重復(fù)步驟(6 )和(7 )直至針對全部重疊磁道測量了采樣信號幅值為止；以及(9)針對校準(zhǔn)范圍內(nèi)的不同 讀偏移量重復(fù)步驟(8)直至全部重疊磁道被測量為止。針對該系列中的每個磁道的得到的磁道曲線在此被共同稱為原始磁道曲線，因為其包含未校正的讀偏移量(即，原始讀偏移量)的信號幅值測量值。在寫和測量階段之后，該方法對先前操作中測量的磁道信號幅值采樣。具體地，針對每個原始磁道曲線，該方法計算在原始磁道曲線中的測量信號幅值的一系列預(yù)定幅值電平處的讀偏移量(例如，在給定原始磁道曲線中即針對給定磁道的最大測量信號幅值的20%到90%之間以2%的間隔計算信號幅值處的偏移量)。或者，針對每個原始磁道曲線，該方法選擇在原始磁道曲線中的測量信號幅值的一系列預(yù)定幅值電平處的那些讀偏移量(即，讀偏移量不被計算但是基于信號幅值電平滿足要求)。這樣得到針對該系列中的每個磁道的經(jīng)采樣的磁道曲線。該方法將全部經(jīng)采樣的磁道曲線合并以構(gòu)建基準(zhǔn)磁道曲線，其與每個磁道的原始磁道曲線結(jié)合使用以計算針對該磁道的讀偏移量變化量的集合。當(dāng)針對該系列中的每個磁道獲取了讀偏移量變化量的集合時，讀偏移量變化量的全部集合被合并為平均偏移量變化量的單個集合。從此平均偏移量變化量的單個集合，可以構(gòu)建讀定位誤差查找表以便磁頭的伺服定位。根據(jù)本發(fā)明的這些實(shí)施方式和其它方法，用于為了讀而定位磁頭的任何給定伺服模式，提供了改進(jìn)的準(zhǔn)確性，并且多個伺服寫的旋轉(zhuǎn)架測量值的可重復(fù)性得到改進(jìn)，而無需附加硬件。圖I是例示根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施方式的改進(jìn)針對讀的磁頭定位的準(zhǔn)確性的示例方法100的流程圖。如在圖2中觀察到的，類似于方法100的方法能夠校正讀偏移量誤差，其例示未校正的測量讀偏移量(原始)磁道曲線236和相比較的“理想”讀偏移量磁道曲線233之間的誤差。假定要校準(zhǔn)的讀偏移量的范圍已清除了全部信號，方法100開始于操作103在要校準(zhǔn)的讀偏移量的范圍上寫一系列磁道(即，寫一磁道到該范圍內(nèi)的多個讀偏移量)。如此處描述的，被寫的系列磁道可以是重疊的磁道的系列。圖3例示了據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的偏移量如何被寫入重疊磁道的不例。如圖所例不的，對于磁道203,已在不同偏移量206在磁道203的不同扇區(qū)209寫信號。曲線圖211例示針對每個扇區(qū)209的偏移量215的范圍上測量的信號幅值212，其中每個扇區(qū)209的最大信號幅值位于對應(yīng)于扇區(qū)209的偏移量206。如此處先前提到的，盡管圖3示出針對每一個偏移量不同扇區(qū)被寫，但是在一些實(shí)施方式中，在移動到下一個磁道之前，磁道的全部扇區(qū)被寫、測量和擦除。接著，在操作106，針對該系列磁道中的每一個磁道，方法100在讀偏移量的范圍上測量一系列信號幅值(即，針對每一個磁道，測量讀偏移量的范圍內(nèi)的不同讀偏移量處的信號幅值)。
如此處先前描述的，在一些實(shí)施方式中，系列磁道的寫和測量可以包括(a)對系列中的當(dāng)前磁道的全部扇區(qū)寫；(b)在讀偏移量的范圍內(nèi)的特定讀偏移量測量當(dāng)前磁道的信號幅值；(C)擦除當(dāng)前磁道；以及(d)針對系列中的其它磁道重復(fù)相同步驟。在其它實(shí)施方式中，(I)僅僅激活被指派到第一重疊磁道的扇區(qū)，對第一重疊磁道的那些扇區(qū)寫；(2)將磁頭移動磁道寬度的一部分到范圍內(nèi)的下一個偏移量；(3)僅僅激活被指派到下一個重疊磁道的扇區(qū)，對下一個重疊磁道的那些扇區(qū)寫；(4)重復(fù)步驟(2) - (3)直至全部重疊磁道被寫為止，覆蓋要被校準(zhǔn)的讀偏移量的范圍；(5)將磁頭定位到寫偏移量的范圍內(nèi)的當(dāng)前讀偏移量，以測量第一磁道的第一采樣信號幅值；(6)測量被指派到第一重疊磁道的扇區(qū)的平均信號幅值，并且存儲到第一重疊磁道的曲線中；(7)針對第二重復(fù)磁道接著第三重疊磁道等等，重復(fù)步驟(6)直至在當(dāng)前讀偏移量針對全部重疊磁道的采樣信號幅值被測量為止。(8 )將磁頭移動到下一個讀偏移量，接著重復(fù)步驟(6 )和(7 )直至針對全部重疊磁道測量了采樣信號幅值為止；以及(9)針對校準(zhǔn)范圍內(nèi)的不同讀偏移量重復(fù)步驟(8)直至全部重疊磁道被測量為止。圖4是例示針對多個重疊磁道的示例磁道曲線的曲線圖，每個曲線代表不同的磁 道曲線。如之前提到的，每個磁道曲線包含在不同讀偏移量處的針對給定磁道的一系列的信號幅值測量值；信號幅值測量值用曲線上的數(shù)據(jù)點(diǎn)表示。每個曲線表示給定磁道的原始磁道曲線，其中每個磁道在不同的原始讀偏移量被寫。如之前提到的，讀偏移量被認(rèn)為是原始的，因為還未校正。曲線上的數(shù)據(jù)點(diǎn)表示具體原始讀偏移量處的信號幅值測量值。接著，在操作109，每個原始磁道曲線在預(yù)定信號幅值電平處被采樣，因而得到針對每個原始磁道曲線的經(jīng)采樣的磁道曲線。如此處先前描述的，方法100可以通過進(jìn)行方法以下進(jìn)行其采樣針對每個原始磁道曲線，方法100計算預(yù)定信號幅值電平的系列中的每個預(yù)定信號幅值電平處的讀偏移量，其中基于存儲在當(dāng)前原始磁道曲線中的測量到的信號幅值計算每個讀偏移量。例如，預(yù)定信號幅值電平的系列，被設(shè)置在原始磁道曲線中的最大測量到信號幅值的20%到90%之間以5%間隔的信號幅值電平處，對于給定的原始磁道曲線，將在原始磁道曲線的最大測量到的信號幅值的20、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%和90%處計算讀偏移量。最終，針對每個給定磁道，將基于給定磁道的原始磁道曲線計算的經(jīng)采樣的讀偏移量存儲在針對該給定磁道的經(jīng)采樣的磁道曲線中。再次參照圖4，線403表示針對一給定實(shí)施方式的示例預(yù)定信號幅值電平。通過使用原始磁道曲線中的實(shí)際經(jīng)測量的信號幅值(用沿著圖4中例示的曲線的數(shù)據(jù)點(diǎn)表示)，方法100可以計算每個預(yù)定信號幅值電平處的讀偏移量。應(yīng)注意的是因為針對每個給定磁道，信號幅值測量值被取到給定磁道的中心的左側(cè)和給定磁道的中心的右側(cè)，所以針對每個預(yù)定信號幅值電平計算兩個讀偏移量一針對曲線的左斜坡的左采樣讀偏移量(例如，左采樣讀偏移量406)和針對曲線的右斜坡的右采樣讀偏移量(例如，右采樣讀偏移量409)(即，左采樣讀偏移量在最大測量信號幅值的左側(cè)，右采樣讀偏移量在最大測量信號幅值的右側(cè))。針對每個預(yù)定信號幅值電平，將這兩個偏移量存儲在給定磁道的經(jīng)采樣的磁道曲線中；它們在此經(jīng)常稱為針對特定預(yù)定信號幅值電平的左采樣讀偏移量和右采樣讀偏移量。繼續(xù)參照圖1，在操作112，方法100使用從操作109得到的全部經(jīng)采樣的磁道曲線來構(gòu)建單個基準(zhǔn)磁道曲線。方法100可以例如通過針對每個預(yù)定信號幅值電平，平均全部經(jīng)采樣的磁道曲線的左采樣讀偏移量，以及平均全部經(jīng)采樣的磁道曲線的右采樣讀偏移量，來構(gòu)建該基準(zhǔn)磁道曲線。圖5提供例示在預(yù)定信號幅值電平503，第一經(jīng)采樣的磁道曲線(即，曲線)506的左采樣讀偏移量512和右采樣讀偏移量515如何與第二經(jīng)采樣的磁道曲線(即，曲線)509的左采樣讀偏移量518和右采樣讀偏移量521相比較的曲線圖。盡管未例示，這些左采樣讀偏移量和右采樣讀偏移量的系列被平均到一起來創(chuàng)建基準(zhǔn)磁道曲線。再次參照如圖1，方法100繼續(xù)操作115，其中針對每個原始磁道曲線，通過比較給定原始磁道曲線和基準(zhǔn)磁道曲線并且計算差的集合，來計算針對給定的原始磁道曲線的讀偏移量變化量的集合。例如，針對原始磁道曲線中的落入用于經(jīng)采樣的磁道曲線幅值范圍內(nèi)的每個測量的信號幅值(即，落入操作109中使用的預(yù)定信號幅值電平內(nèi))，計算(a)針對該測量的信號幅值的采樣的磁道曲線中的讀偏移量和(b)針對該測量的信號幅值的基準(zhǔn)磁道曲線中的讀偏移量之間的差。原始磁道曲線的原始讀偏移量和對應(yīng)的基準(zhǔn)磁道曲線的讀偏移量之間的差，提供針對給定信號幅值電平的相對位置讀偏移量誤差(即，伺服器誤差)。在一些實(shí)施方式中，這些計算產(chǎn)生針對每個原始磁道曲線的(x，y)對的集合(讀偏移量變化量的集合)，其中X=原始讀偏移量，y=讀偏移量變化量。
圖6是例示根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的原始磁道曲線603 (為數(shù)據(jù)點(diǎn))的原始讀偏移量與基準(zhǔn)磁道曲線606的讀偏移量的相比較的差別的曲線圖。如所例示的，針對每個磁道曲線(原始磁道曲線和基準(zhǔn)磁道曲線)，存在左讀偏移量609的集合和右讀偏移量612的
口 O再次返回圖1，方法100繼續(xù)操作118，其中在操作115產(chǎn)生的讀偏移量變化量的集合被合并為平均讀偏移量變化量的單個集合。將讀偏移量變化量的集合合并為平均讀偏移量變化量的單個集合，可以例如使用平方差的和進(jìn)行。圖7提供例示根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式計算的得到的單個平均讀偏移量變化率的集合的示例的曲線圖。在一些實(shí)施方式中，合并可以涉及(a)從讀偏移量變化量的集合選擇讀偏移量變化量的第一集合作為平均讀偏移量變化量的集合，其中讀偏移量變化量的第一集合對應(yīng)于原始磁道曲線的集合中的第一原始磁道曲線；(b)從讀偏移量變化量的集合選擇讀偏移量變化量的第二集合，其中讀偏移量變化量的第二集合對應(yīng)于原始磁道曲線的集合中的第二原始磁道曲線；(C)移位讀偏移量變化量的第二集合，從而得到的經(jīng)移位的讀偏移量變化量的第二集合，使得讀偏移量變化量的第二集合和平均讀偏移量變化量的集合之間的平方差的和最小化；以及(d)平均得到的經(jīng)移位的讀偏移量變化量的第二集合中的每個讀偏移量變化量和平均讀偏移量變化量的集合中的匹配的讀偏移量變化量，因而得到平均讀偏移量變化量的新集合代替平均讀偏移量變化量的集合。隨后，按照以下針對隨后的讀偏移量變化量的集合重復(fù)上述選擇、移位和平均操作(e)從讀偏移量變化量的集合選擇讀偏移量變化量的下一個集合，其中讀偏移量變化量的下一個集合對應(yīng)于原始磁道曲線的集合中的下一個原始磁道曲線；(f)移位讀偏移量變化量的下一個集合，從而得到的經(jīng)移位的讀偏移量變化量的下一個集合，使得讀偏移量變化量的下一個集合和平均讀偏移量變化量的新集合之間的平方差的和最小化；(g)以及平均得到的經(jīng)移位的讀偏移量變化量的下一個集合中的每個讀偏移量變化量和平均讀偏移量變化量的集合中的匹配的讀偏移量變化量，因而得到平均讀偏移量變化量的另一個新集合代替平均讀偏移量變化量的集合。最終，當(dāng)類似地處理(即，合并)了讀偏移量變化量的全部集合時，得到的平均讀偏移量變化量的最后新集合是平均讀偏移量變化量的最終集
口 O在一些實(shí)施方式中，移位讀偏移量變化量的集合(a set of read offset deltas)涉及使用最小二乘 (LSQ)法，其中針對具有匹配的每個原始偏移量，使用各個偏移量變化量值的均等加權(quán)計算平均偏移量變化量。例如，目標(biāo)可以是將以曲線Cm^1表示的讀偏移量變化量的集合移位達(dá)量0 _1;從而與用曲線Cm，N表示的讀偏移量變化量的另一個集合重疊的區(qū)域“盡可能好”。為此，使用LSQ，方法可以將曲線Cm, N的每個點(diǎn)“盡可能好”地匹配到曲線Cm^上的對應(yīng)點(diǎn)，接著，確定0 _1;從而曲線Cm, N的每個點(diǎn)和曲線Cm, η上的每個對應(yīng)點(diǎn)之間的距離被最小化。這可以表示為以下，其中S是需要被最小化的、Cni^和0^之間的距離的平方和S=E [Cnij N-(Cnij N !+Cnj^1) ]2.當(dāng)確定了 Oiw時，曲線C111H被向上移位以實(shí)現(xiàn)與曲線Cm，N的“盡可能好”的交疊，并且經(jīng)移位CniI1與曲線Cm，N平均以均等加權(quán)(B卩，以均等重要性對待兩個曲線)。平均結(jié)果變?yōu)樾虑€Cm，N。隨后，方法進(jìn)行到Cm，N_2表示的讀偏移量變化量的下一個集合并且通過重復(fù)類似于針對曲線Cni^進(jìn)行的操作確定0 _2。當(dāng)確定了 0N，N_2時，用于移位曲線并且曲線cm，N_2的經(jīng)移位的版本與新曲線cm，N平均。然而，由于曲線Cm，N已包含對曲線平均的結(jié)果，所以相對于經(jīng)移位的曲線cm，N_2而被給予雙倍加權(quán)(即，曲線cm,N更重要)。針對讀偏移量變化量的其它集合類似地重復(fù)這些操作，曲線cm，N的加權(quán)針對每個操作增加(即，當(dāng)將曲線Cm，N與經(jīng)移位的曲線Cm，N_3進(jìn)行平均時，曲線Cm，N將被給予加權(quán)3)。應(yīng)注意的是不具有匹配的那些原始偏移量被吸收而不改變。當(dāng)獲得了平均讀偏移量變化量的單個集合(a single set of average readoffset deltas)時，方法100可以在操作121將該集合轉(zhuǎn)換為讀偏移量校正表。例如，方法100可以產(chǎn)生誤差查找表。該表可以隨后用于在目標(biāo)(經(jīng)校正的)讀偏移量和為了達(dá)到該目標(biāo)而需要的原始(未校正)讀偏移量設(shè)置之間轉(zhuǎn)換。相反地，給定原始偏移量值，該表可以用于計算磁頭的實(shí)際讀偏移量。當(dāng)讀偏移量值在表的樣本之間時，可以使用差值來計算讀偏移量值?？蛇x地，在一些實(shí)施方式中，平均偏移量變化量被磁頭的讀-寫偏移量進(jìn)一步移位了，從而在讀-寫偏移量處的讀偏移量變化量是O。使用本發(fā)明的實(shí)施方式創(chuàng)建的讀偏移量校正的示例效果在圖8中示出，其提供例示針對讀取的磁頭定位的示例改進(jìn)的曲線圖。對于針對寫的改進(jìn)磁頭定位，一個實(shí)施方式提供使用已有伺服模式來校準(zhǔn)一個范圍的寫偏移量并且產(chǎn)生寫偏移量校正表的方法。該方法可以開始于首先擦除要被校準(zhǔn)的寫偏移量的范圍上存在的全部信號，因而確保沒有非期望的信號負(fù)面地影響校準(zhǔn)處理。當(dāng)在寫偏移量的范圍被清除了全部信號時，該方法(I)寫要被校準(zhǔn)的寫偏移量上的一系列磁道(即，寫磁道到要被校準(zhǔn)的寫偏移量的范圍內(nèi)的多個偏移量)，其中每個磁道被寫到范圍內(nèi)的不同偏移量，以及(2)在寫偏移量的范圍內(nèi)的不同讀偏移量，測量每個磁道的信號幅值。對于一些實(shí)施方式，該方法可以通過以下進(jìn)行寫和測量(a)對系列中的當(dāng)前磁道的全部扇區(qū)寫，包括以在預(yù)定偏移量(例如O)寫的基準(zhǔn)磁道；(b)在寫偏移量的范圍內(nèi)的特定讀偏移量，測量當(dāng)前磁道的信號幅值并且將信號幅值存儲到磁道的曲線，包括針對寫偏移量O的基準(zhǔn)磁道曲線；(C)擦除當(dāng)前磁道；以及(d)針對系列中的其它磁道重復(fù)相同步驟。應(yīng)注意的是在一些實(shí)施方式中，基準(zhǔn)磁道可以是在校準(zhǔn)讀-寫磁頭的讀偏移量的方法中使用的相同的基準(zhǔn)磁道。在進(jìn)一步實(shí)施方式中，該系列中的磁道可以以在寫偏移量的范圍內(nèi)的不同偏移量被寫入為重疊磁道，從而每個重疊的磁道不毀壞其相鄰的重疊磁道。該方法可以例如通過以下進(jìn)行寫和測量Ca)對系列中的全部重疊磁道寫，包括偏移量O處的基準(zhǔn)磁道，使得僅僅每個重置磁道的指定扇區(qū)被與，并且每個重置磁道具有被與的排他的扇區(qū)的集合；以及(b)在寫偏移量的范圍內(nèi)的不同讀偏移量，測量系列中的每個重疊磁道的信號幅值，其中指定扇區(qū)的信號幅值被測量。例如，該方法可以(1)僅僅激活被指派到第一重疊磁道的扇區(qū)，對第一重疊磁道的那些扇區(qū)寫；(2)將磁頭移動磁道寬度的一部分到范圍內(nèi)的下一個偏移量；(3)僅僅激活被指派到下一個重疊磁道的扇區(qū)，對下一個重疊磁道的那些扇區(qū)寫；(4)重復(fù)步驟(2)- (3)直至全部重疊磁道被寫為止，覆蓋要被校準(zhǔn)的寫偏移量的范圍；(5)將磁頭定位到寫偏移量的范圍內(nèi)的當(dāng)前讀偏移量以測量第一磁道的第一采樣信號幅值；
(6)測量被指派到第一重疊磁道的扇區(qū)的平均信號幅值，并且存儲到第一重疊磁道的曲線中；(7 )針對第二重復(fù)磁道接著第三重疊磁道等等重復(fù)步驟(6 )，直至在當(dāng)前讀偏移量針對 全部重疊磁道的采樣信號幅值被測量為止。(8)將磁頭移動到下一個讀偏移量，接著重復(fù)步驟(6)和(7)直至針對全部重疊磁道測量了采樣信號幅值為止；以及(9)針對校準(zhǔn)范圍內(nèi)的不同讀偏移量重復(fù)步驟(8)直至全部重疊磁道被測量為止。如此處先前提到的，針對系列中的每個磁道的得到的磁道曲線在此被共同稱為原始磁道曲線，因為其包含未校正的讀偏移量(即，原始讀偏移量)的信號幅值測量值。在寫和測量階段之后，該方法將原始磁道曲線中的原始讀偏移量轉(zhuǎn)換為它們的經(jīng)校正的讀偏移量值，因而得到針對每個原始磁道曲線的經(jīng)校正的磁道曲線。接著，針對每個經(jīng)校正的磁道曲線，該方法通過計算在以經(jīng)校正的磁道曲線中的測量到的信號幅值的、一系列預(yù)定幅值電平處的、經(jīng)校正的磁道曲線和基準(zhǔn)磁道曲線之間的差(例如，計算針對給定磁道最大信號幅值、或者全部經(jīng)校正的磁道曲線上的平均最大信號幅值的、20%到90%之間的以2%間隔的信號幅值處的差)，來計算每個磁道的經(jīng)校正的磁道曲線內(nèi)的寫定位誤差，因而得到針對每個經(jīng)校正的磁道曲線的寫偏移量變化量的集合。當(dāng)針對該系列中的每個磁道獲取了寫偏移量變化量的集合時，寫偏移量變化量的全部集合被合并為平均偏移量變化量的單個集合。從此平均寫偏移量變化量的單個集合，可以構(gòu)建寫定位誤差查找表以用于磁頭的伺服定位。圖9是例示根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的改進(jìn)針對寫的磁頭定位的準(zhǔn)確性的示例方法900的流程圖。通過使用類似于方法900的方法，能夠校正寫偏移量誤差，如在圖10中觀察到的，其例示未校正的測量寫偏移量(原始)1006和相比較的經(jīng)校正的寫偏移量1003之間的誤差。類似于圖I的方法100，圖9的方法900假定要校準(zhǔn)的寫偏移量的范圍已經(jīng)被清除全部信號。方法900開始于操作903，通過在要校準(zhǔn)的寫偏移量的范圍上寫一系列磁道(SP，對范圍內(nèi)的多個寫偏移量寫磁道)，包括在寫偏移量O的基準(zhǔn)磁道。如參照方法100提到的，被寫的磁道的系列可以是重疊的磁道的系列。圖3是例示據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施方式的示例的圖，其中示出了對于重疊磁道偏移量如何被寫。如所例示的，對于磁道203，已在不同偏移量在磁道203的不同扇區(qū)209寫信號。曲線圖211例示針對每個扇區(qū)209的偏移量215的范圍上的測量信號幅值212，每個扇區(qū)209的最大信號幅值位于對應(yīng)于扇區(qū)209的偏移量206。如此處先前描述的，盡管圖3示出針對每一個偏移量不同扇區(qū)被寫，但是在一些實(shí)施方式中，在移動到下一個磁道之前磁道的全部扇區(qū)被寫、測量和擦除。方法900接著繼續(xù)操作906、909和912。在操作906期間，針對系列磁道中的每一個磁道，方法900在寫偏移量的范圍上測量一系列信號幅值(B卩，針對每一個磁道，測量寫偏移量的范圍內(nèi)的不同讀偏移量處的信號幅值)。這包括針對在操作901寫的用于基準(zhǔn)磁道的原始磁道。在一些實(shí)施方式中，類似于圖I的方法100的操作106進(jìn)行操作906。在操作909，方法900使用讀偏移量校正表校正每個原始磁道曲線，因而得到針對每個原始磁道曲線(即，針對每個磁道)的經(jīng)校正的磁道曲線。這包括針對在操作901寫的基準(zhǔn)磁道的原始磁道曲線的校正。在一些實(shí)施方式中，所利用的讀偏移量校正表可以是根據(jù)圖I的方法100產(chǎn)生的。在操作912，每個經(jīng)校正的磁道曲線在預(yù)定信號幅值電平處被采樣，因而得到針對 每個原始磁道曲線的經(jīng)采樣的磁道曲線。這包括針對在操作901寫的基準(zhǔn)磁道的經(jīng)采樣的 磁道。類似于圖I中的方法100的操作109，方法900可以通過進(jìn)行以下來進(jìn)行采樣針對每個經(jīng)校正的磁道曲線，方法900計算在預(yù)定信號幅值電平的系列中的每個預(yù)定信號幅值電平處的讀偏移量，其中基于存儲在當(dāng)前經(jīng)校正的磁道曲線中的測量到的信號幅值計算每個讀偏移量。最終，針對每個給定磁道，將基于給定磁道的經(jīng)校正的磁道曲線計算的經(jīng)采樣的讀偏移量，存儲在針對該給定磁道的經(jīng)采樣的磁道曲線中。在操作915，針對在操作912期間產(chǎn)生的每個經(jīng)采樣的磁道曲線(不包括基準(zhǔn)磁道的經(jīng)采樣的磁道曲線，因為在寫偏移量O寫的磁道總具有經(jīng)校正的寫偏移量0)，通過比較給定的經(jīng)采樣的磁道曲線和在操作901寫并且在操作906測試的基準(zhǔn)磁道的經(jīng)采樣的磁道曲線(即，基準(zhǔn)經(jīng)采樣的的磁道曲線)，并且計算差的集合，來計算針對給定的經(jīng)采樣的磁道曲線的寫偏移量變化量的集合。例如，針對經(jīng)采樣的磁道曲線中的每個預(yù)定信號幅值，計算Ca)針對經(jīng)測量的信號幅值的經(jīng)采樣的磁道曲線中的采樣讀偏移量和(b)針對預(yù)定信號幅值電平的基準(zhǔn)磁道的經(jīng)采樣的磁道曲線中的采樣讀偏移量之間的差。得到的經(jīng)采樣的磁道曲線的采樣讀偏移量和對應(yīng)的基準(zhǔn)磁道的經(jīng)采樣的磁道曲線的采樣讀偏移量之間的差，提供針對給定信號幅值電平的相對位置寫偏移量誤差(即，伺服器誤差)。在一些實(shí)施方式中，這些計算產(chǎn)生針對每個原始磁道曲線的(x，y)對的集合(寫偏移量變化量的集合)，其中X=經(jīng)校正的寫偏移量，y=寫偏移量變化量。圖11提供例示根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式計算的得到的單個寫偏移量變化量的集合的示例的曲線圖。方法900繼續(xù)操作918，針對每個經(jīng)采樣的磁道曲線(不包括基準(zhǔn)磁道的經(jīng)采樣的磁道曲線，因為在寫偏移量O寫的磁道總具有經(jīng)校正的寫偏移量0)，給定的經(jīng)采樣的磁道曲線的寫偏移量變化量的集合中的全部寫偏移量變化量被平均，因而得到針對每個經(jīng)采樣的磁道曲線的經(jīng)校正的寫偏移量。在操作921期間，方法900將全部得到的經(jīng)校正的寫偏移量轉(zhuǎn)換為寫偏移量校正表。使用本發(fā)明的實(shí)施方式創(chuàng)建的寫偏移量校正的示例效果在圖12中示出，其提供例示針對讀取的磁頭定位的示例改進(jìn)的曲線圖。在一些實(shí)施方式中，按照以下進(jìn)行操作915、918和921 :針對每個非基準(zhǔn)采樣讀偏移量磁道，方法900 (I)計算經(jīng)采樣的磁道曲線中的采樣讀偏移量和對應(yīng)的基準(zhǔn)磁道的經(jīng)采樣的磁道曲線(在偏移量O寫)的采樣讀偏移量的差；以及(2)平均該差以計算針對給定的經(jīng)采樣的磁道曲線(即，針對給定磁道)的“實(shí)際”寫偏移量。這得到“實(shí)際”寫偏移量和與其相關(guān)聯(lián)的標(biāo)稱寫偏移量(nominal write offset)(目標(biāo)偏移量，在該目標(biāo)偏移量曲線被寫)。這些標(biāo)稱和實(shí)際寫偏移量對的集合包括寫偏移量校正表。本文件使用的術(shù)語和短語及其變形除非明確說應(yīng)理解為開放式的而與限定式相反。作為以上的示例，措辭“包括”應(yīng)理解為“包括而非限制”等；措辭“示例”用于提供所討論的項目的示例性示例，并非其窮舉或者限定列表；措辭“一”或者“一個”應(yīng)理解為“至少一個”、“一個或者更多個”等。以及諸如“現(xiàn)有”、“傳統(tǒng)”、“正常”、“標(biāo)準(zhǔn)”、“已知”的形容詞和類似含義的措辭不理解為將所描述的項目限制于給定時間段或者給定時間段可用的項目，相反應(yīng)理解為包括現(xiàn)在或者將來任何時間可用或者知道的現(xiàn)有、傳統(tǒng)、正常或者標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)。類似地，在本文件引用對一個本領(lǐng)域技術(shù)人員明顯或者已知的技術(shù)的情況下，這些技術(shù)包含對現(xiàn)在或者在將來任何時間的本領(lǐng)域技術(shù)人員明顯或者已知的技術(shù)。與連詞“和”連接的項目組不應(yīng)理解為要求每個項目在該組中存在，而應(yīng)理解為“和/或”除非相反明確說明。類似地，與連詞“或者”連接的項目組不應(yīng)理解為該組中要求 相互排斥，而應(yīng)理解為“和/或”除非相反明確說明。此外，盡管本發(fā)明的項目、元件或者部件可用以單個形式描述或者要求權(quán)利，復(fù)數(shù)也在其范圍內(nèi)除非對單個的限制明確說明。
權(quán)利要求
1.一種校正讀-寫磁頭的讀偏移量的方法，所述方法包括 在要校準(zhǔn)的讀偏移量的范圍上在磁盤上寫一系列磁道，其中相對于磁盤上的指定磁道每個磁道具有不同的偏移量， 從所述系列磁道測量原始磁道曲線的集合，其中所述系列磁道中的每個磁道具有所述原始磁道曲線的集合中的對應(yīng)的原始磁道曲線，并且所述對應(yīng)的原始磁道曲線包括在未校正的讀偏移量獲取的一系列信號幅值測量值； 在一系列信號幅值電平處對所述原始磁道曲線的集合進(jìn)行采樣，因而產(chǎn)生經(jīng)采樣的磁道曲線的集合； 從所述經(jīng)采樣的磁道曲線的集合構(gòu)建一基準(zhǔn)磁道曲線； 針對經(jīng)采樣的磁道曲線的集合中的每個經(jīng)采樣的磁道曲線，計算讀偏移量變化量的集合，其中讀偏移量變化量的每個集合包括所述基準(zhǔn)磁道曲線與所述原始磁道曲線的集合中的經(jīng)采樣的磁道曲線之間的差； 將所述讀偏移量變化量的集合合并為平均讀偏移量變化量的集合；以及 將所述平均讀偏移量變化量的集合轉(zhuǎn)換為讀偏移量校正表。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，所述方法還包括寫伺服模式。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，所述方法還包括確定預(yù)定的讀-寫偏移量。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，所述方法還包括擦除所述讀偏移量的范圍上的一系列磁道。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，其中，寫所述系列磁道和測量所述原始磁道曲線的集合包括 寫一信號到所述系列磁道中的信號幅值測量值的指定扇區(qū)；以及針對所述系列磁道中的每個磁道，從指定扇區(qū)的范圍測量信號幅值的系列，并且將信號幅值的系列存儲在磁道的原始磁道曲線中。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中，寫所述系列磁道和測量所述原始磁道曲線的集合進(jìn)一步包括 針對所述系列磁道中的每個磁道，將信號幅值的系列存儲到原始磁道曲線的集合中的一原始磁道曲線中，其中所述原始磁道曲線對應(yīng)于所述磁道。
7.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，其中，寫所述系列磁道和測量所述原始磁道曲線的集合包括 寫一信號到一磁道的全部扇區(qū)； 在所述范圍的該磁道上測量信號幅值的系列；以及 將信號幅值的系列存儲到所述磁道的原始磁道曲線。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中，寫所述系列磁道和測量多個原始磁道曲線進(jìn)一步包括 從所述磁道的全部扇區(qū)擦除所述信號。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中，寫所述系列磁道和測量多個原始磁道曲線進(jìn)一步包括 寫一信號到所述系列磁道的中的下一個磁道的全部扇區(qū)； 從所述范圍的下一個磁道上測量平均信號幅值的系列；以及將平均信號幅值的系列存儲在所述下一個磁道的原始磁道曲線。
10.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，其中，在所述系列信號幅值電平處對原始磁道曲線的集合采樣包括 針對每個原始磁道曲線，確定所述系列信號幅值電平上的采樣讀偏移量的集合。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其中，確定預(yù)定系列幅值電平上的采樣讀偏移量的集合包括 針對系列信號幅值電平中的每個預(yù)定信號幅值電平，確定位于針對原始磁道曲線的最大信號幅值的左側(cè)的左采樣讀偏移量和位于針對原始磁道曲線的最大信號幅值的右側(cè)的右采樣讀偏移量。
12.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，其中，從所述經(jīng)采樣的磁道曲線的集合構(gòu)建基準(zhǔn)磁道曲線包括 針對所述系列信號幅值電平中的每個預(yù)定幅值電平 在預(yù)定信號幅值電平，對從經(jīng)采樣的磁道曲線的集合中的全部經(jīng)采樣的磁道曲線的每個經(jīng)采樣的磁道曲線的最大信號幅值的左側(cè)的全部采樣讀偏移量取平均，因而得到在預(yù)定信號幅值電平的針對基準(zhǔn)磁道曲線的平均左采樣讀偏移量；以及 在預(yù)定信號幅值電平，對從經(jīng)采樣的磁道曲線中的集合中的全部經(jīng)采樣的磁道曲線的每個經(jīng)采樣的磁道曲線的最大信號幅值的右側(cè)的全部采樣讀偏移量取平均，因而得到在預(yù)定信號幅值電平的針對基準(zhǔn)磁道曲線的平均右采樣讀偏移量。
13.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，其中，針對原始磁道曲線的集合中的每個原始磁道曲線，計算所述讀偏移量變化量的集合包括 針對原始磁道曲線中的每個讀偏移量，其中原始磁道曲線具有一信號幅值，所述信號幅值位于在基準(zhǔn)磁道曲線中存在的預(yù)定信號幅值電平的特定范圍內(nèi)，計算原始磁道曲線的讀偏移量和預(yù)定信號幅值電平處的基準(zhǔn)磁道曲線的讀偏移量之間的差。
14.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，其中，將讀偏移量變化量的集合合并為平均讀偏移量變化量的集合包括 從讀偏移量變化量的集合選擇讀偏移量變化量的第一集合，作為平均讀偏移量變化量的集合，其中讀偏移量變化量的第一集合對應(yīng)于原始磁道曲線的集合中的第一原始磁道曲線. 從讀偏移量變化量的集合選擇讀偏移量變化量的第二集合，其中讀偏移量變化量的第二集合對應(yīng)于原始磁道曲線的集合中的第二原始磁道曲線； 移位讀偏移量變化量的第二集合，從而得到的經(jīng)移位的讀偏移量變化量的第二集合，使得讀偏移量變化量的第二集合和平均讀偏移量變化量的集合之間的平方差的和最小化；以及 將得到的經(jīng)移位的讀偏移量變化量的第二集合中的每個讀偏移量變化量與平均讀偏移量變化量的集合中的一匹配的讀偏移量變化量進(jìn)行平均，因而得到平均讀偏移量變化量的另一新集合代替平均讀偏移量變化量的集合。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法，其中，將讀偏移量變化量的集合合并為平均讀偏移量變化量的集合，還包括針對從讀偏移量變化量的集合的讀偏移量變化量的每個隨后集合重復(fù)以下操作從讀偏移量變化量的集合選擇讀偏移量變化量的下一個集合，其中讀偏移量變化量的下一個集合對應(yīng)于原始磁道曲線的集合中的下一個原始磁道曲線； 移位讀偏移量變化量的下一個集合，從而得到的經(jīng)移位的讀偏移量變化量的下一個集合，使得讀偏移量變化量的下一個集合和平均讀偏移量變化量的新集合之間的平方差的和最小化；以及 將得到的經(jīng)移位的讀偏移量變化量的下一個集合中的每個讀偏移量變化量與平均讀偏移量變化量的集合中的一匹配的讀偏移量變化量進(jìn)行平均，因而得到平均讀偏移量變化量的另一個新集合代替平均讀偏移量變化量的集合。
16.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，其中，將平均讀偏移量變化量的集合轉(zhuǎn)換為讀偏移量校正表包括 以預(yù)定讀-寫偏移量移位平均偏移量變化量的集合。
17.一種校正讀-寫磁頭的寫偏移量的方法，所述方法包括 在要校準(zhǔn)的寫偏移量的范圍上在磁盤上寫一系列磁道，其中所述系列磁道包括在預(yù)定偏移量寫的一個基準(zhǔn)磁道，以及其中相對于磁盤上的指定磁道每個磁道具有不同的偏移量; 從所述系列磁道測量原始磁道曲線的集合，其中所述原始磁道曲線的集合包括針對所述基準(zhǔn)磁道的一個基準(zhǔn)磁道曲線，并且其中所述系列磁道中的每個磁道具有原始磁道曲線的集合中的一對應(yīng)的原始磁道曲線，并且對應(yīng)的原始磁道曲線包括在未校正的讀偏移量獲取的一系列信號幅值測量值； 使用一讀偏移量校正表校正所述原始磁道曲線的集合，因而產(chǎn)生經(jīng)校正的磁道曲線的集合; 在一系列預(yù)定信號幅值電平，對所述經(jīng)校正的磁道曲線集合采樣，因而產(chǎn)生經(jīng)采樣的磁道曲線的集合； 針對所述經(jīng)采樣的磁道曲線的集合中的每個經(jīng)采樣的磁道曲線，計算寫偏移量變化量的集合，其中每個寫偏移量變化量的集合包括所述基準(zhǔn)磁道曲線與所述經(jīng)采樣的磁道曲線的集合中的一個經(jīng)采樣的磁道曲線之間的差； 針對每個經(jīng)采樣的磁道曲線，對經(jīng)采樣的磁道曲線的寫偏移量變化量的集合中的全部寫偏移量變化量取平均，因而產(chǎn)生一個經(jīng)校正的寫偏移量的集合，其中每個經(jīng)校正的寫偏移量對應(yīng)于所述經(jīng)采樣的磁道曲線的集合中的一個經(jīng)采樣的磁道曲線；以及 將經(jīng)校正的寫偏移量的集合轉(zhuǎn)換為一個寫偏移量校正表。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，所述方法還包括寫伺服模式。
19.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，所述方法還包括擦除寫偏移量的范圍上的一系列的磁道。
20.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其中，寫所述系列磁道和測量所述原始磁道曲線的集合包括 寫一信號到所述系列磁道中的信號幅值測量的指定扇區(qū)；以及 針對所述系列磁道中的每個磁道，從指定扇區(qū)測量信號幅值的系列，并且將信號幅值的系列存儲在磁道的原始磁道曲線中。
21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的方法，其中，寫所述系列磁道和測量原始磁道曲線的集合進(jìn)一步包括 針對所述系列磁道中的每個磁道，將信號幅值的系列存儲在原始磁道曲線的集合中的一個原始磁道曲線中，其中所述原始磁道曲線對應(yīng)于所述磁道。
22.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其中，寫所述系列磁道和測量所述原始磁道曲線的集合包括 寫一信號到一磁道的全部扇區(qū)； 在所述范圍的磁道上測量信號幅值的系列；以及 將信號幅值的系列存儲在所述磁道的原始磁道曲線。
23.根據(jù)權(quán)利要求22所述的方法，其中，寫所述系列磁道和測量多個原始磁道曲線進(jìn)一步包括 從所述磁道的全部扇區(qū)擦除所述信號。
24.根據(jù)權(quán)利要求22所述的方法，其中，寫所述系列磁道和測量多個原始磁道曲線進(jìn)一步包括 寫一信號到所述系列磁道中的下一個磁道的全部扇區(qū)； 從所述范圍的下一個磁道上測量平均信號幅值的系列；以及 將平均信號幅值的系列存儲在下一個磁道的原始磁道曲線。
25.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其中，在預(yù)定信號幅值電平的系列處對原始磁道曲線的集合采樣包括 針對每個原始磁道曲線，確定預(yù)定信號幅值電平的系列上的采樣讀偏移量的的集合。
26.根據(jù)權(quán)利要求25所述的方法，其中，確定預(yù)定幅值電平的系列上的采樣讀偏移量的集合包括 針對預(yù)定信號幅值電平的系列中的每個預(yù)定信號幅值電平，確定位于針對原始磁道曲線的最大信號幅值的左側(cè)的左采樣讀偏移量，和位于針對原始磁道曲線的最大信號幅值的右側(cè)的右采樣讀偏移量。
27.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其中，計算針對經(jīng)校正的磁道曲線的集合中的每個經(jīng)校正的磁道曲線的寫偏移量變化量的集合包括 針對原始磁道曲線中的每個寫偏移量，其中原始磁道曲線具有位于在基準(zhǔn)磁道曲線中存在的預(yù)定信號幅值電平的特定范圍內(nèi)的信號幅值，在預(yù)定信號幅值電平處計算原始磁道曲線的寫偏移量和基準(zhǔn)磁道曲線的寫偏移量之間的差。
28.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其中，在預(yù)定信號幅值電平的系列處對原始磁道曲線的集合采樣包括 針對每個原始磁道曲線，選擇預(yù)定信號幅值電平的系列中的每個預(yù)定信號幅值電平處的讀偏移量的集合。
29.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其中，所述預(yù)定偏移量是O。
30.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其中，在預(yù)定偏移量處的基準(zhǔn)磁道曲線是在針對所述讀-寫磁頭的讀偏移量校正期間的基準(zhǔn)磁道曲線。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種使用已有伺服模式改進(jìn)磁頭定位的準(zhǔn)確度的系統(tǒng)和方法。在一個實(shí)施方式中，提供了一種改進(jìn)讀磁頭定位的方法，所述方法包括在要校準(zhǔn)的讀偏移量的范圍上寫一系列磁道；從該系列磁道測量原始磁道曲線的集合；在一系列信號幅值電平處對原始磁道曲線的集合采樣；從所述經(jīng)采樣的磁道曲線的集合構(gòu)建基準(zhǔn)磁道曲線；從每個經(jīng)采樣的磁道曲線計算讀偏移量變化量的集合；將讀偏移量變化量的集合合并為平均讀偏移量變化量的集合；以及將平均讀偏移量變化量的集合轉(zhuǎn)換為讀偏移量校正表。還提供用于改進(jìn)磁盤寫磁頭定位的類似方法，其利用這種讀偏移量校正表來最終創(chuàng)建寫偏移量校正表。
文檔編號G11B5/58GK102800331SQ20121016693
公開日2012年11月28日 申請日期2012年5月25日 優(yōu)先權(quán)日2011年5月25日
發(fā)明者A·莫澤, H·H·基, S·E·蘭伯特, D·I·米爾卡 申請人:西部數(shù)據(jù)傳媒公司