專利名稱：精密伺服系統(tǒng)和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本技術(shù)大體上涉及逐位全息數(shù)據(jù)存儲技術(shù)。更具體地，該技術(shù)涉及用于在全息光盤中并行復(fù)制的方法和系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
由于計算能力進步，計算技術(shù)已經(jīng)進入新的應(yīng)用領(lǐng)域，例如消費視頻、數(shù)據(jù)存檔、 文件存儲、成像和電影制作等。這些應(yīng)用提供對開發(fā)具有增加的存儲容量和提高的數(shù)據(jù)速率的數(shù)據(jù)存儲技術(shù)的持續(xù)推動力。數(shù)據(jù)存儲技術(shù)發(fā)展的一個示例可以是光學(xué)存儲系統(tǒng)的日益更高的存儲容量。例如，在二十世紀(jì)八十年代早期開發(fā)的壓縮盤具有大約650-700MB數(shù)據(jù)或大約74-80min雙聲道音頻節(jié)目的容量。相比之下，在二十世紀(jì)九十年代早期開發(fā)的數(shù)字多功能盤(DVD)格式具有大約4. 7GB (單層)或8. 5GB (雙層)的容量。此外，已經(jīng)開發(fā)甚至更高容量存儲技術(shù)以滿足日益增長的需求，例如滿足更高分辨率的視頻格式的需求。例如，高容量記錄格式(例如Blu-ray Disc 等)能夠在單層光盤中容納約25GB或在雙層光盤中容納50GB。隨著計算技術(shù)持續(xù)發(fā)展，可期望具有甚至更高容量的存儲介質(zhì)。例如，全息存儲系統(tǒng)和微全息存儲系統(tǒng)是其他開發(fā)中的存儲技術(shù)(其可在存儲行業(yè)中實現(xiàn)提高的容量要求)的示例。全息存儲是采用全息圖的形式的數(shù)據(jù)存儲，該全息圖是通過在光敏存儲介質(zhì)中兩束光相交形成的三維干涉圖樣的圖像。已經(jīng)尋求基于頁面的全息技術(shù)和逐位全息技術(shù)兩者。在基于頁面的全息數(shù)據(jù)存儲中，包含數(shù)字編碼數(shù)據(jù)(例如，多個位)的信號束疊加在存儲介質(zhì)的體積內(nèi)的參考束上，這導(dǎo)致化學(xué)反應(yīng)，其調(diào)制在該體積內(nèi)的介質(zhì)的折射率。每個比特因此一般存儲為干涉圖樣的一部分。在逐位全息術(shù)或微全息數(shù)據(jù)存儲中，每個比特寫為微全息圖或布拉格反射光柵，其典型地由兩個反向傳播聚焦記錄束產(chǎn)生。然后通過使用讀取束反射離開微全息圖來重構(gòu)記錄束而檢索該數(shù)據(jù)。逐位全息系統(tǒng)可能夠記錄更近的間隔和層聚焦的微全息圖，從而提供比先前的光學(xué)系統(tǒng)高得多的存儲容量。然而，當(dāng)激光在該數(shù)據(jù)層上的軌道之間聚焦時，由于沒有獲得反射信號的事件，當(dāng)前不存在直接在數(shù)據(jù)層上聚焦的準(zhǔn)確技術(shù)。因此，需要有這樣的技術(shù)，由此可在這樣的黑障(blackout)期間檢測伺服信號。

發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明的實施例，公開當(dāng)讀取記錄的全息光盤或在預(yù)格式化的全息光盤中記錄時用于伺服的方法。該方法包括檢測從全息光盤的目標(biāo)數(shù)據(jù)層的目標(biāo)數(shù)據(jù)軌道反射的初級束的初級信號，其中輻射初級束具有第一波長。該方法還包括將該初級信號的功率與功率閾值比較。該方法還包括在初級信號的功率低于功率閾值的情況下檢測從全息光盤的參考層反射的跟蹤束的跟蹤信號，其中輻射跟蹤束具有不同于該第一波長的第二波長。該方法還包括基于初級信號或跟蹤信號產(chǎn)生伺服誤差信號。該方法進一步包括基于初級伺服誤差信號或跟蹤伺服誤差信號致動光學(xué)子系統(tǒng)使得初級束聚焦在目標(biāo)數(shù)據(jù)層上。
根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例，提供當(dāng)讀取記錄的全息光盤或在預(yù)格式化的全息光盤中記錄時用于伺服的系統(tǒng)。該系統(tǒng)包括第一檢測器，其配置成檢測從全息光盤的目標(biāo)數(shù)據(jù)層的目標(biāo)數(shù)據(jù)軌道反射的初級束的初級信號，其中該初級束具有第一波長。該系統(tǒng)還包括第二檢測器，其配置成檢測從全息光盤的參考層反射的跟蹤束的跟蹤信號，其中該跟蹤束具有不同于該第一波長的第二波長。該系統(tǒng)還包括處理子系統(tǒng)，其包括配置成將該初級信號的功率測量與功率閾值比較的比較器。該處理子系統(tǒng)還包括至少一個伺服誤差發(fā)生器，其配置成基于該初級信號產(chǎn)生初級伺服誤差信號或基于該跟蹤信號產(chǎn)生跟蹤伺服誤差信號。該處理子系統(tǒng)進一步包括伺服控制器，其配置成在功率測量大于或等于閾值的情況下基于該初級伺服誤差信號產(chǎn)生致動信號，或在功率測量小于閾值的情況下基于該跟蹤伺服誤差信號產(chǎn)生致動信號。該系統(tǒng)進一步包括光學(xué)子系統(tǒng)，其配置成基于該致動信號致動使得初級束聚焦在目標(biāo)數(shù)據(jù)層上。根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例，提供當(dāng)讀取記錄的全息光盤或在預(yù)格式化的全息光盤中記錄時用于伺服的方法。該方法包括檢測從全息光盤的參考層反射的跟蹤束的跟蹤信號，其中輻射跟蹤束具有第一波長并且該參考層具有部分二向色涂層或部分金屬化涂層中的至少一個。該方法還包括基于該跟蹤信號產(chǎn)生跟蹤伺服誤差信號。該方法還包括基于該跟蹤伺服誤差信號獲得跟蹤跑出曲線(rim-out profile) 0該方法還包括基于該跟蹤伺服誤差信號致動光學(xué)子系統(tǒng)使得跟蹤束聚焦在該參考層上。該方法還包括檢測從全息光盤的目標(biāo)數(shù)據(jù)層反射的輻射初級束的初級信號，其中該輻射初級束具有第二波長，其不同于輻射跟蹤束的第一波長。該方法還包括基于該初級信號產(chǎn)生初級伺服誤差信號。該方法進一步包括基于初級伺服誤差信號和獲得的跟蹤跑出曲線致動光學(xué)子系統(tǒng)以將初級束聚焦在數(shù)據(jù)層上。根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例，提供當(dāng)讀取記錄的全息光盤或在預(yù)格式化的全息光盤中記錄時用于伺服的系統(tǒng)。該系統(tǒng)包括第一檢測器，其配置成檢測從全息光盤的參考層反射的跟蹤束的跟蹤信號，其中該輻射跟蹤束具有第一波長并且該參考層包括部分二向色涂層或部分金屬化涂層中的至少一個。該系統(tǒng)還包括第二檢測器，其配置成檢測從全息光盤的目標(biāo)數(shù)據(jù)層反射的輻射初級束的初級信號，其中該輻射初級束具有第二波長，其不同于輻射跟蹤束的第一波長。該系統(tǒng)還包括處理子系統(tǒng)，其耦合于該第一檢測器和該第二檢測器。該處理子系統(tǒng)還包括處理子系統(tǒng)，其耦合于第一檢測器和第二檢測器。該處理子系統(tǒng)包括至少一個伺服誤差發(fā)生器，其配置成基于該初級信號產(chǎn)生初級伺服誤差信號或基于該跟蹤信號產(chǎn)生跟蹤伺服誤差信號。該處理子系統(tǒng)還包括跟蹤伺服控制器，其配置成基于該跟蹤伺服誤差信號產(chǎn)生跟蹤致動信號和跟蹤跑出曲線。該處理子系統(tǒng)還包括初級伺服控制器，其配置成產(chǎn)生初級致動信號(其基于該初級伺服誤差信號)和跟蹤跑出曲線。該系統(tǒng)還包括光學(xué)子系統(tǒng)，其配置成基于該初級致動信號和該跟蹤致動信號而致動，并且基于獲得的跟蹤跑出曲線將初級束聚焦在目標(biāo)數(shù)據(jù)層上。


當(dāng)下列詳細(xì)說明參照附圖(其中類似的符號在整個附圖中代表類似的部件)閱讀時，本發(fā)明的這些和其他特征、方面和優(yōu)勢將變得更好理解，其中圖1是根據(jù)本發(fā)明的實施例的示范性全息數(shù)據(jù)存儲光盤的示意表示。
圖2是根據(jù)本發(fā)明的實施例的示范性微全息記錄系統(tǒng)的框圖表示。圖3是根據(jù)本發(fā)明的實施例當(dāng)讀取記錄的全息光盤或在預(yù)格式化的全息光盤中記錄時用于伺服的系統(tǒng)的框圖表示。圖4是根據(jù)本發(fā)明的實施例當(dāng)讀取記錄的全息光盤或在預(yù)格式化的全息光盤中記錄時用于伺服的另一個示范性系統(tǒng)10的框圖表示。圖5是在圖4中獲得的示范性模擬跑出曲線的圖形表示。
具體實施例方式如下文詳細(xì)論述的，本發(fā)明的實施例包括用于精確伺服的系統(tǒng)和方法。該系統(tǒng)和方法包括能夠直接將激光聚焦在全息光盤的數(shù)據(jù)層/軌道上、消除黑障期的技術(shù)。如本文使用的，術(shù)語“黑障”指由于激光聚焦在數(shù)據(jù)層上的軌道之間或?qū)又g的區(qū)域上而不存在來自反射初級束的反射信號的期間。術(shù)語“初級束”指用于讀取記錄的全息光盤的讀取束或用于通過在預(yù)格式化的全息光盤中擦除而進行記錄的記錄束。本技術(shù)的一個或多個實施例將在下文描述。為了提供這些實施例的簡潔說明，不是實際實現(xiàn)的所有特征都在該說明書中描述。應(yīng)該意識到在任何這樣的實際實現(xiàn)的開發(fā)中，如在任何工程或設(shè)計項目中，必須做出許多具體實現(xiàn)的決定以實現(xiàn)開發(fā)者的具體目標(biāo)， 例如遵守系統(tǒng)相關(guān)和業(yè)務(wù)相關(guān)的約束等(其可在實現(xiàn)之間變化)。此外，應(yīng)該意識到這樣的開發(fā)努力可能是復(fù)雜并且耗時的，但對于具有該公開的利益的普通技術(shù)人員仍將是設(shè)計、 建造和制造的例行任務(wù)。逐位全息數(shù)據(jù)存儲系統(tǒng)典型地牽涉通過在記錄介質(zhì)(例如，全息光盤)內(nèi)部發(fā)射兩個重疊并且干涉的束而記錄。數(shù)據(jù)位由微觀大小的局部全息圖樣(其稱為微全息圖)的存在或缺乏而代表，當(dāng)由聚焦光束照射時該微全息圖充當(dāng)體積光反射器。例如，在圖1中圖示的全息光盤10代表數(shù)據(jù)位可如何在光盤10的層中組織。一般地，全息光盤10是圓形的、 大致上平的光盤，其中一個或多個數(shù)據(jù)存儲層11嵌入透明塑料膜中。這些數(shù)據(jù)層可包括任何數(shù)量的材料的修改區(qū)(其大致上局部化在適當(dāng)深度以及可反射光)，例如用于逐位全息數(shù)據(jù)存儲的微全息圖等。在一些實施例中，這些數(shù)據(jù)層可嵌入全息可記錄的材料中，該材料響應(yīng)于撞擊光盤10的光束的照射強度。例如，在不同的實施例中，光盤10材料可以是閾值響應(yīng)的或線性響應(yīng)的。這些數(shù)據(jù)層在厚度上可以在近似0. 05 μ m至5 μ m之間并且可具有近似0. 5 μ m至250 μ m之間的分隔。參考層13包括部分二向色涂層或部分金屬化涂層或包括其兩者，并且在圖3-5中引用。采用微全息圖15的形式的數(shù)據(jù)可一般在從光盤10的外邊緣到內(nèi)界限的信息區(qū)中存儲在連續(xù)螺旋軌道或多個軌道12中，但可使用同心圓或螺旋軌道或其他配置。主軸孔14 可尺寸化以圍繞全息系統(tǒng)中的主軸嚙合，使得光盤10可旋轉(zhuǎn)以便進行數(shù)據(jù)記錄和/或讀取。該主軸的旋轉(zhuǎn)可由反饋系統(tǒng)控制以在記錄和/或讀取過程期間維持恒定線速度或恒定角速度。此外，光盤主軸、記錄光學(xué)和/或讀取光學(xué)可由平移臺移動或在光盤的徑向中滑移以允許光學(xué)系統(tǒng)橫跨光盤的整個半徑記錄或讀取。在圖2的框圖中提供對全息光盤10記錄微全息圖的示范性系統(tǒng)20。該全息系統(tǒng) 20包括一個或多個初級束21，其具有第一波長；和跟蹤束22，其具有不同于該第一波長的第二波長。該初級束21和該跟蹤束22可穿過光學(xué)和致動器系統(tǒng)觀，其可包括各種光學(xué)器件和致動器裝置，其配置成將聚焦的初級束和跟蹤束30聚焦到光盤10的特定位置。例如， 光學(xué)和致動器系統(tǒng)觀可將聚焦束30聚焦到光盤10中的特定數(shù)據(jù)層或數(shù)據(jù)軌道12(圖1) 上。微全息圖可在全息光盤10中記錄在干涉圖樣的照亮點中。在一些實施例中，記錄的微全息圖可使用聚焦的反射初級束；34從光盤10檢索。聚焦的初級束和跟蹤束34的反射(稱為數(shù)據(jù)反射36)可在初級檢測器38和跟蹤檢測器42處接收以用于伺服和信號檢測。 檢測的數(shù)據(jù)44進一步輸入處理子系統(tǒng)46用于數(shù)據(jù)分析。處理子系統(tǒng)46還計算致動信號 48以控制或致動光學(xué)和致動器系統(tǒng)用于提高束21、22在光盤10上的聚焦或?qū)?zhǔn)。圖3是當(dāng)讀取記錄的全息光盤或在預(yù)格式化的全息光盤10(圖1)中記錄時用于伺服的系統(tǒng)80的框圖表示。該系統(tǒng)80包括第一檢測器84，其檢測從全息光盤10的目標(biāo)數(shù)據(jù)層的目標(biāo)數(shù)據(jù)軌道反射的初級束的初級束信號86，其中該初級束(未示出)包括第一波長。在特定實施例中，檢測該初級束的功率分布。第二檢測器88檢測從光盤10的參考層13反射的跟蹤束(未示出)的跟蹤信號90。該參考層包括部分二向色涂層或部分金屬化涂層中的至少一個。在特定實施例中，該二向色涂層包括氧化物和氮化物的多個介電層。 在另一個實施例中，該金屬化涂層包括鋁或金或銀或它們的混合合金中的一個。在特定實施例中，該跟蹤束具有不同于該第一波長的第二波長。在特定實施例中，該初級束的該第一波長包括在約375nm至650nm之間的范圍中的波長。在另一個實施例中，該跟蹤束的該第二波長在約400nm至約SOOnm之間的范圍中。在再另一個實施例中，該第一檢測器和該第二檢測器包括象限檢測器。耦合于該第一檢測器84的處理子系統(tǒng)92將初級信號86的功率94與功率閾值比較，如由框96所指。并行地，處理子系統(tǒng)92內(nèi)的伺服誤差發(fā)生器98基于初級信號86產(chǎn)生初級伺服誤差信號100。相似地，跟蹤伺服誤差信號102基于跟蹤信號 90來產(chǎn)生。在功率94大于閾值的情況下，初級伺服誤差信號100輸入伺服控制器104，其產(chǎn)生致動信號105。該致動信號105輸入一個或多個致動器106，其致動光學(xué)子系統(tǒng)108以將初級束聚焦在期望的數(shù)據(jù)軌道或?qū)由?。在功?4小于閾值的情況下，跟蹤伺服誤差信號102 輸入該伺服控制器104。該伺服控制器104基于跟蹤伺服誤差信號102產(chǎn)生致動信號105， 其進一步輸入該一個或多個致動器106以致動該光學(xué)子系統(tǒng)106用于將該初級束21 (圖2) 精確聚焦在目標(biāo)數(shù)據(jù)層上。在示范性實施例中，該光學(xué)子系統(tǒng)108包括物鏡。應(yīng)該注意到本發(fā)明的實施例不限于用于執(zhí)行本發(fā)明的處理任務(wù)的任意特定處理器。術(shù)語“處理子系統(tǒng)”(當(dāng)該術(shù)語在本文使用時)意在指示任何能夠執(zhí)行對于執(zhí)行本發(fā)明的任務(wù)必需的運算或計算的機器。術(shù)語“處理器”意在指示任何能夠接受結(jié)構(gòu)化輸入并且根據(jù)規(guī)定的規(guī)則處理該輸入以產(chǎn)生輸出的機器。還應(yīng)該注意到如本文使用的短語“配置成” 意思是處理器裝配有用于執(zhí)行本發(fā)明的任務(wù)的硬件和軟件的組合，如將由本領(lǐng)域內(nèi)技術(shù)人員理解的那樣。圖4是用于伺服全息光盤10(圖1)的另一個示范性系統(tǒng)110的框圖表示。由系統(tǒng)110采用的技術(shù)與系統(tǒng)80的不同在于跟蹤束最初聚焦在參考層上，并且獲得跟蹤跑出曲線使跟蹤束能夠聚焦在參考層上。接著，初級束基于獲得的跟蹤跑出曲線來聚焦。在圖示的實施例中，在獲悉階段，第一檢測器112檢測從全息光盤10的參考層 13(圖1)反射的跟蹤束的跟蹤信號113，其中該跟蹤束具有第一波長并且該參考層包括部分二向色涂層或部分金屬化涂層中的至少一個。檢測的該跟蹤信號113輸入包括伺服誤差發(fā)生器134的處理子系統(tǒng)132。該伺服誤差發(fā)生器134產(chǎn)生跟蹤伺服誤差信號135，其輸入跟蹤伺服控制器136中，該跟蹤伺服控制器136產(chǎn)生獲悉的/觀察到的跟蹤跑出曲線140， 其進一步輸入初級伺服控制器142。該跟蹤伺服控制器136還對于一個或多個致動器146 產(chǎn)生跟蹤致動信號144。這些致動器146基于該跟蹤致動信號144致動光學(xué)子系統(tǒng)148 (等同于圖2中的光學(xué)和致動器系統(tǒng)觀)以將跟蹤束聚焦到光盤10的參考層13(圖1)上。此外，由第二檢測器巧4檢測的初級信號152輸入伺服誤差發(fā)生器156(其產(chǎn)生初級伺服誤差信號158)中。在一個實施例中，檢測初級束的功率分布。該初級伺服誤差信號158輸入初級伺服控制器142。初級伺服控制器142基于獲悉的跟蹤跑出曲線140產(chǎn)生初級致動信號 164。該初級致動信號164輸入一個或多個致動器146，其致動光學(xué)子系統(tǒng)148以將初級束聚焦在目標(biāo)數(shù)據(jù)層上。在一個實施例中，第一檢測器112和第二檢測器IM包括象限檢測器。如在圖4中的，在特定實施例中，跟蹤束的第一波長包括在約400nm至約SOOnm之間的范圍中的波長。 在另一個實施例中，初級束的第二波長在約375nm至約650nm之間的范圍中。圖5是在圖4中論述的示范性模擬獲悉的跟蹤跑出曲線160的圖形表示。該跑出曲線等同于在圖4中論述獲悉的跟蹤跑出曲線140。X軸152代表時間(以秒計)并且Y 軸1 代表標(biāo)準(zhǔn)化振幅。曲線圖156圖示由跟蹤激光或初級激光在一段時間上跨越的軌道 158。此外，曲線圖162(在圖5中標(biāo)號162)圖示在不同的軌道158上在各種時間間隔處獲得的初級伺服誤差信號164。在各種軌道158上描繪示范性實際跟蹤跑出曲線166，并且基于跟蹤伺服誤差信號產(chǎn)生模擬獲悉的跑出曲線160，如在圖4中論述的。此外，殘余跑出誤差168基于初級伺服誤差信號而產(chǎn)生以評估伺服性能。該模擬示出初級束聚焦在目標(biāo)數(shù)據(jù)層上且具有+/-0. 2微米的誤差。在上文描述的用于精確伺服的系統(tǒng)和方法的各種實施例因此提供實現(xiàn)直接聚焦在全息光盤(其中記錄數(shù)據(jù))的層/軌道上的便捷和高效的手段的方法。直接在數(shù)據(jù)層上伺服提供讀取信號的提高的信噪比并且消除在復(fù)制期間對數(shù)據(jù)層間距的嚴(yán)格要求以及復(fù)雜的讀取光學(xué)設(shè)計以在讀取期間與層間距匹配。要理解，不是必須上文描述的所有這樣的目的或優(yōu)勢可根據(jù)任何特別實施例實現(xiàn)。從而，例如，本領(lǐng)域內(nèi)技術(shù)人員將認(rèn)識到本文描述的系統(tǒng)和技術(shù)可采用這樣的方式體現(xiàn)或進行以便實現(xiàn)或優(yōu)化如本文教導(dǎo)的一個優(yōu)勢或一組優(yōu)勢，而不必實現(xiàn)如可在本文中教導(dǎo)或啟示的其他目的或優(yōu)勢。此外，技術(shù)人員將認(rèn)識到來自不同實施例的各種特征的互換性。相似地，描述的各種特征以及對于每個特征的其他已知的等同物可以由本領(lǐng)域內(nèi)技術(shù)人員中混合和匹配以根據(jù)本公開的原理構(gòu)建另外的系統(tǒng)和技術(shù)。盡管本發(fā)明僅連同有限數(shù)量的實施例詳細(xì)描述，應(yīng)該容易理解本發(fā)明不限于這樣公開的實施例。相反，本發(fā)明可以修改以包含此前未描述的許多變化、改動、替代或等同設(shè)置，但其與本發(fā)明的精神和范圍相當(dāng)。另外，盡管描述了本發(fā)明的各種實施例，要理解本發(fā)明的方面可僅包括描述的實施例中的一些。因此，本發(fā)明不視為由前面的描述限制，而僅由附上的權(quán)利要求的范圍限制。
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權(quán)利要求
1.一種當(dāng)讀取記錄的全息光盤(10)或在預(yù)格式化的全息光盤(10)中記錄時用于伺服的方法，所述方法包括檢測從所述全息光盤的目標(biāo)數(shù)據(jù)層的目標(biāo)數(shù)據(jù)軌道反射的初級束的初級信號，輻射的所述初級束包括第一波長；將所述初級信號的功率測量與功率閾值比較；在所述初級信號的所述功率測量低于所述功率閾值的情況下，檢測從所述全息光盤的參考層反射的跟蹤束的跟蹤信號，輻射的跟蹤束包括第二波長； 基于所述初級信號或所述跟蹤信號產(chǎn)生伺服誤差信號；以及基于所述初級伺服誤差信號或所述跟蹤伺服誤差信號致動光學(xué)子系統(tǒng)使得所述初級束聚焦在所述目標(biāo)數(shù)據(jù)層上。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述檢測初級信號包括檢測來自反射初級束的反射功率分布。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述檢測跟蹤信號包括檢測來自反射跟蹤束的反射功率分布。
4.一種當(dāng)讀取記錄的全息光盤(10)或在預(yù)格式化的全息光盤(10)中記錄時用于伺服的系統(tǒng)(80)，所述系統(tǒng)(80)包括第一檢測器(84)，其配置成檢測從所述全息光盤的目標(biāo)數(shù)據(jù)層的目標(biāo)數(shù)據(jù)軌道反射的初級束的初級信號(86)，所述初級束包括第一波長；第二檢測器(88)，其配置成檢測從所述全息光盤的參考層反射的跟蹤束的跟蹤信號 (90)，所述跟蹤束包括第二波長； 處理子系統(tǒng)(92)，其包括配置成將所述初級信號的功率測量與功率閾值比較的比較器； 至少一個伺服誤差發(fā)生器(98)，其配置成基于所述初級信號產(chǎn)生初級伺服誤差信號或基于所述跟蹤信號產(chǎn)生跟蹤伺服誤差信號；和伺服控制器(104)，其配置成在所述功率測量大于或等于所述閾值的情況下基于所述初級伺服誤差信號產(chǎn)生致動信號，或在所述功率測量小于所述閾值的情況下基于所述跟蹤伺服誤差信號產(chǎn)生致動信號(105)；以及光學(xué)子系統(tǒng)(108)，其配置成基于所述致動信號(10 致動使得所述初級束聚焦在所述目標(biāo)數(shù)據(jù)層上。
5.如權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)(80)，其中所述參考層包括部分二向色涂層或部分金屬化涂層中的至少一個。
6.一種當(dāng)讀取記錄的全息光盤(10)或在預(yù)格式化的全息光盤(10)中記錄時用于伺服的方法，所述方法包括檢測從所述全息光盤的參考層反射的跟蹤束的跟蹤信號，其中輻射的所述跟蹤束包括第一波長并且所述參考層包括部分二向色涂層或部分金屬化涂層中的至少一個； 基于所述跟蹤信號產(chǎn)生跟蹤伺服誤差信號； 基于所述跟蹤伺服誤差信號獲得跟蹤跑出曲線；基于所述跟蹤伺服誤差信號致動光學(xué)子系統(tǒng)使得所述跟蹤束聚焦在所述參考層上； 檢測從所述全息光盤的目標(biāo)數(shù)據(jù)層反射的輻射初級束的初級信號，所述輻射初級束包括第二波長；基于所述初級信號產(chǎn)生初級伺服誤差信號；基于所述初級伺服誤差信號和獲得的跟蹤跑出曲線致動所述光學(xué)子系統(tǒng)以將所述初級束聚焦在所述數(shù)據(jù)層上。
7.如權(quán)利要求6所述的方法，其中所述致動所述光學(xué)子系統(tǒng)包括基于分別從所述初級伺服誤差信號或所述跟蹤伺服誤差信號產(chǎn)生的初級致動信號或跟蹤致動信號而致動。
8.一種當(dāng)讀取記錄的全息光盤(10)或在預(yù)格式化的全息光盤(10)中記錄時用于伺服的系統(tǒng)(110)，所述系統(tǒng)包括第一檢測器(112)，其配置成檢測從所述全息光盤的參考層(1 反射的跟蹤束的跟蹤信號(113)，其中所述輻射跟蹤束包括第一波長并且所述參考層包括部分二向色涂層或部分金屬化涂層中的至少一個；第二檢測器(IM)，其配置成檢測從所述全息光盤的目標(biāo)數(shù)據(jù)層反射的輻射初級束的初級信號(152)，所述輻射初級束包括第二波長；處理子系統(tǒng)(13 ，其耦合于所述第一檢測器和所述第二檢測器，所述處理子系統(tǒng) (132)包括至少一個伺服誤差發(fā)生器(134)，其配置成基于所述初級信號產(chǎn)生初級伺服誤差信號或基于所述跟蹤信號產(chǎn)生跟蹤伺服誤差信號；跟蹤伺服控制器(136)，其配置成基于所述跟蹤伺服誤差信號產(chǎn)生跟蹤致動信號和跟蹤跑出曲線；初級伺服控制器(142)，其配置成產(chǎn)生基于該初級伺服誤差信號的初級致動信號和跟蹤跑出曲線；以及光學(xué)子系統(tǒng)，其配置成基于所述初級致動信號和所述跟蹤致動信號而致動，并且將所述初級束聚焦在所述目標(biāo)數(shù)據(jù)層上。
9.如權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)(110)，其中所述第二波長不同于所述第一波長。
10.如權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)(110)，其中所述第一檢測器和所述第二檢測器包括象限檢測器。
全文摘要
本發(fā)明涉及精密伺服系統(tǒng)和方法。公開當(dāng)讀取記錄的全息光盤或在預(yù)格式化的全息光盤中記錄時用于伺服的方法。該方法包括檢測從全息光盤的目標(biāo)數(shù)據(jù)層的目標(biāo)數(shù)據(jù)軌道反射的初級束的初級信號，其中輻射初級束具有第一波長。該方法還包括將該初級信號的功率測量與功率閾值比較。該方法還包括在初級信號的功率測量低于功率閾值的情況下檢測從全息光盤的參考層反射的跟蹤束的跟蹤信號，其中該輻射跟蹤束具有第二波長。該方法還包括基于初級信號或跟蹤信號產(chǎn)生伺服誤差信號。該方法進一步包括基于初級伺服誤差信號或跟蹤伺服誤差信號來致動光學(xué)子系統(tǒng)使得初級束聚焦在目標(biāo)數(shù)據(jù)層上。
文檔編號G11B7/0065GK102486924SQ201110403198
公開日2012年6月6日 申請日期2011年11月30日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月30日
發(fā)明者任志遠(yuǎn), 史曉蕾, 王雪峰 申請人:通用電氣公司