專利名稱：地址生成和檢測方法、再現(xiàn)和記錄裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種記錄有地址的記錄介質(zhì)、例如進(jìn)行光盤的地址生成和檢測的方法、從記錄介質(zhì)進(jìn)行數(shù)據(jù)的記錄再現(xiàn)的再現(xiàn)裝置、記錄裝置。
背景技術(shù)：
在專利文獻(xiàn)1的圖6中，示出Blu-ray Disc的地址信息的相關(guān)性，公開有段落
的記載“地址單元編號(AUN)如圖6所示，與物理扇區(qū)編號相關(guān)聯(lián)，并且與物理 ADIP(Address In I^re-groove 地址預(yù)刻)地址相關(guān)聯(lián)，所以用作搜索記錄位置用的參照信息。”。根據(jù)圖，就分配1個(gè)地址給扇區(qū)單位的數(shù)據(jù)的物理扇區(qū)編號(Physical Sector Number,PSN)與埋入抖動(wobble)的物理 ADIP 地址(Physical ADIP Address,PAA)的關(guān)系而言，為32*PSN = 3*PAA的關(guān)系，但PSN的位31至位27的5個(gè)位未分配對應(yīng)于PAA的位。專利文獻(xiàn)1 日本特開2008-41243號公報(bào)在專利文獻(xiàn)1的位分配中，當(dāng)PSN比以前用27位表現(xiàn)的數(shù)據(jù)量多的情況下，應(yīng)埋入抖動的PAA的位數(shù)會不足。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種變更了抖動地址(wobble address)的位擴(kuò)展或位分配的記錄介質(zhì)的地址生成和檢測方法、再現(xiàn)和記錄裝置。為了解決上述問題，從光盤中檢測地址的位分配識別信息，選擇現(xiàn)有的抖動地址的位分配與變更后的位分配并進(jìn)行控制，檢測光盤上的物理位置地址。本發(fā)明提供一種記錄介質(zhì)的地址生成方法，該記錄介質(zhì)具有記錄具有多個(gè)記錄層和多個(gè)簇結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)的區(qū)域和表示記錄介質(zhì)中的物理記錄位置的地址，該地址生成方法中，上述地址是由表示上述多個(gè)記錄層的編號的層編號地址、表示上述多個(gè)簇的數(shù)據(jù)位置的簇編號地址和對上述簇的簇內(nèi)進(jìn)行計(jì)數(shù)的計(jì)數(shù)值構(gòu)成的地址，具有由h位的層編號地址、i位的簇編號地址、j位的計(jì)數(shù)值構(gòu)成的第1位分配；和由(h-k)位的層編號地址、(i+k) 位的簇編號地址和j位的計(jì)數(shù)值構(gòu)成的第2位分配的任意一個(gè)，其中，h、i、j、k為自然數(shù)， 根據(jù)上述記錄介質(zhì)中存儲的位分配識別信息，選擇上述第1位分配與第2位分配，生成地址。本發(fā)明還提供一種記錄介質(zhì)的地址檢測方法，該記錄介質(zhì)具有記錄具有多個(gè)記錄層和多個(gè)簇結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)的區(qū)域和表示記錄介質(zhì)中的物理記錄位置的地址，該地址檢測方法中，上述地址是由表示上述多個(gè)記錄層的編號的層編號地址、表示上述多個(gè)簇的數(shù)據(jù)位置的簇編號地址和對上述簇的簇內(nèi)進(jìn)行計(jì)數(shù)的計(jì)數(shù)值構(gòu)成的地址，具有由h位的層編號地址、i位的簇編號地址、j位的計(jì)數(shù)值構(gòu)成的第1位分配；和由(h_k)位的層編號地址、(i+k) 位的簇編號地址和j位的計(jì)數(shù)值構(gòu)成的第2位分配的任意一個(gè)，其中，h、i、j、k為自然數(shù)， 根據(jù)上述記錄介質(zhì)中存儲的位分配識別信息，選擇上述第1位分配與第2位分配，檢測地址。本發(fā)明還提供一種從記錄介質(zhì)再現(xiàn)數(shù)據(jù)的再現(xiàn)裝置，該記錄介質(zhì)具有記錄具有多個(gè)記錄層和多個(gè)簇結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)的區(qū)域和表示記錄介質(zhì)中的物理記錄位置的地址，該再現(xiàn)裝置中，上述地址是由表示上述多個(gè)記錄層的編號的層編號地址、表示上述多個(gè)簇的數(shù)據(jù)位置的簇編號地址和對上述簇的簇內(nèi)進(jìn)行計(jì)數(shù)的計(jì)數(shù)值構(gòu)成的地址，具有由h位的層編號地址、i位的簇編號地址、j位的計(jì)數(shù)值構(gòu)成的第1位分配；和由(h-k)位的層編號地址、 (i+k)位的簇編號地址和j位的計(jì)數(shù)值構(gòu)成的第2位分配的任意一個(gè)，其中，h、i、j、k為自然數(shù)，具有對應(yīng)于上述第1位分配來檢測地址的第1地址再現(xiàn)單元；和對應(yīng)于上述第2位分配來檢測地址的第2地址再現(xiàn)單元，根據(jù)上述記錄介質(zhì)中存儲的位分配識別信息，選擇上述第1再現(xiàn)單元和第2再現(xiàn)單元的檢測結(jié)果，檢測出地址，再現(xiàn)數(shù)據(jù)。本發(fā)明還提供一種在記錄介質(zhì)中記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置，該記錄介質(zhì)具有記錄具有多個(gè)記錄層和多個(gè)簇結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)的區(qū)域和表示記錄介質(zhì)中的物理記錄位置的地址，該記錄裝置中，上述地址是由表示上述多個(gè)記錄層的編號的層編號地址、表示上述多個(gè)簇的數(shù)據(jù)位置的簇編號地址和對上述簇的簇內(nèi)進(jìn)行計(jì)數(shù)的計(jì)數(shù)值構(gòu)成的地址，具有由h位的層編號地址、i位的簇編號地址、j位的計(jì)數(shù)值構(gòu)成的第1位分配；和由(h-k)位的層編號地址、 (i+k)位的簇編號地址和j位的計(jì)數(shù)值構(gòu)成的第2位分配的任意一個(gè)，其中，h、i、j、k為自然數(shù)，具有對應(yīng)于上述第1位分配來檢測地址的第1地址再現(xiàn)單元；和對應(yīng)于上述第2位分配來檢測地址的第2地址再現(xiàn)單元，根據(jù)上述記錄介質(zhì)中存儲的位分配識別信息，選擇上述第1再現(xiàn)單元和第2再現(xiàn)單元的檢測結(jié)果，檢測出地址，記錄數(shù)據(jù)。通過本發(fā)明，除現(xiàn)有技術(shù)中的位分配的記錄介質(zhì)的地址檢測外，還能夠進(jìn)行變更了位擴(kuò)展或位分配后的記錄介質(zhì)的地址檢測。


圖1是作為本發(fā)明第1實(shí)施例的光盤記錄再現(xiàn)裝置(之1)。圖2是現(xiàn)有的多層光盤的地址相關(guān)圖。圖3是本發(fā)明第1實(shí)施例的多層光盤的地址相關(guān)圖。圖4是本發(fā)明第2實(shí)施例的多層光盤的地址相關(guān)圖(之1)。圖5是本發(fā)明第2實(shí)施例的多層光盤的地址相關(guān)圖(之2)。圖6是本發(fā)明第3實(shí)施例的多層光盤的地址相關(guān)圖(之1)。圖7是本發(fā)明第3實(shí)施例的多層光盤的地址相關(guān)圖(之2)。圖8是本發(fā)明第4實(shí)施例的多層光盤的地址相關(guān)圖。圖9是現(xiàn)有技術(shù)中、本發(fā)明第2實(shí)施例(之1)的多層光盤的ADIP地址構(gòu)造圖。圖10是作為本發(fā)明第1實(shí)施例的光盤記錄再現(xiàn)裝置(之2)。符號說明101 光盤；102 拾取器；103 主軸電機(jī)；104 第1地址再現(xiàn)電路；105 第2地址再現(xiàn)電路；106 選擇電路；
107 位分配識別電路；108 數(shù)據(jù)記錄再現(xiàn)電路；109 主機(jī)；110 微機(jī)；201 物理扇區(qū)編號(Physical Sector Number :PSN)；202 :地址單元編號(Address Unit Number :AUN)；203 物理 ADIP 地址(Physical ADIP Address :PAA)；301 :物理扇區(qū)編號(Physical Sector Number :PSN)；302 :地址單元編號(Address Unit Number :AUN)；303 物理 ADIP 地址(Physical ADIP Address :PAA)；401 :物理扇區(qū)編號(Physical Sector Number :PSN)；402 :地址單元編號(Address Unit Number :AUN)；403 物理 ADIP 地址(Physical ADIP Address :PAA)；501 :物理扇區(qū)編號(Physical Sector Number :PSN)；502 :地址單元編號(Address Unit Number :AUN)；503 物理 ADIP 地址(Physical ADIP Address :PAA)；504 物理 ADIP 地址(Physical ADIP Address :PAAW)；505 加擾電路；506 “異”門；601 物理扇區(qū)編號(Physical Sector Number :PSN)；602 :地址單元編號(Address Unit Number :AUN)；603 物理 ADIP 地址(Physical ADIP Address :PAA)；701 :物理扇區(qū)編號(Physical Sector Number :PSN)；702 :地址單元編號(Address Unit Number :AUN)；703 物理 ADIP 地址(Physical ADIP Address :PAA)；704 物理 ADIP 地址(Physical ADIP Address :PAAW)；801 :物理扇區(qū)編號(Physical Sector Number :PSN)；802 :地址單元編號(Address Unit Number :AUN)；803 物理 ADIP 地址(Physical ADIP Address :PAA)；901 :現(xiàn)有的ADIP數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；902 擴(kuò)展ADIP數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；1001 地址再現(xiàn)電路。
具體實(shí)施例方式下面，參照附圖來說明本發(fā)明的實(shí)施例。圖1是作為本發(fā)明第1實(shí)施例的從光盤再現(xiàn)數(shù)據(jù)、記錄數(shù)據(jù)的記錄再現(xiàn)裝置的一例。101表示光盤，102表示拾取器，103表示主軸電機(jī)，104表示第1地址再現(xiàn)電路，105表示第2地址再現(xiàn)電路，106表示選擇電路，107表示位分配識別電路，108表示數(shù)據(jù)記錄再現(xiàn)電路，109表示外部主機(jī)，110表示統(tǒng)一管理系統(tǒng)整體的微機(jī)。圖1的光盤101作為具有圖2 或圖3所示地址相關(guān)圖的光盤進(jìn)行說明。圖2是現(xiàn)有的Blu-ray每層25GB的光盤中的地址相關(guān)圖，201是作為扇區(qū)的物理扇區(qū)編號的物理扇區(qū)編號(Physical Sector Number 下面稱為PSN)，202是作為埋入簇單位的數(shù)據(jù)中的地址的地址單元編號(Address Unit Number 下面稱為AUN)，203是作為基于抖動的物理的ADIP地址的物ADIP地址(Physical ADIP Address 下面稱為PAA)。從圖中可知，PAA分配為3位的層編號(layer number)、19位的簇編號(sequence number)、2位的簇內(nèi)計(jì)數(shù)(intra-RUB number)，向到8層為止的層編號與每層32G字節(jié)(64K字節(jié)X219)的數(shù)據(jù)容量的數(shù)據(jù)分配地址。但是，在每層超過32G字節(jié)的高密度光盤的情況下，簇編號地址則不能由19位表現(xiàn)。因此，圖3中示出將簇編號地址擴(kuò)展為20位，將層編號地址削減為2位的實(shí)例。此時(shí)，可向到4層為止的層編號與每層64G 字節(jié)(64K字節(jié)X22°)的數(shù)據(jù)容量的數(shù)據(jù)分配地址。這樣，無論是否相同物理構(gòu)造的光盤， 在現(xiàn)有的光盤(圖2、與高密度光盤(圖幻雙方存在的情況下，必需對應(yīng)于雙方進(jìn)行地址檢測。因此，在圖1的記錄再現(xiàn)裝置中，構(gòu)成第1地址再現(xiàn)電路104，作為基于現(xiàn)有光盤(圖 2)的位分配的地址檢測，構(gòu)成第2地址再現(xiàn)電路105，作為基于高密度光盤(圖3)的位分配的地址檢測，利用從光盤上的信息讀取的每層的記錄容量，選擇各檢測結(jié)果，進(jìn)行控制。說明圖1的記錄再現(xiàn)裝置中的數(shù)據(jù)記錄再現(xiàn)動作。從圖2或圖3所示的位分配構(gòu)成的光盤101中，經(jīng)拾取器102，讀取伺服信號或光盤101上的媒體的識別信息，進(jìn)行媒體判別。從光盤內(nèi)周的BCA區(qū)域或盤信息區(qū)域，經(jīng)數(shù)據(jù)記錄再現(xiàn)電路108讀取光盤的種類、標(biāo)準(zhǔn)的版本或?qū)訑?shù)、記錄容量等信息，將信息存儲在位分配識別電路107中。在本實(shí)施例的情況下，由于圖2與圖3的差異源于每層的記錄容量不同，所以通過存儲每層的記錄容量來進(jìn)行。因此，從光盤101經(jīng)拾取器102讀取的抖動信號輸入第1地址再現(xiàn)電路104和第2地址再現(xiàn)電路105中。第1地址再現(xiàn)電路104執(zhí)行圖2所示現(xiàn)有光盤的位分配所對應(yīng)的地址檢測，第2地址再現(xiàn)電路105執(zhí)行圖3所示的高密度光盤的位分配所對應(yīng)的地址檢測。因此，通過對應(yīng)于位分配識別電路107中存儲的記錄容量，由選擇電路106選擇檢測地址后進(jìn)行輸出，能夠檢測對數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄再現(xiàn)的位置。在本實(shí)施例中，使用兩個(gè)地址再現(xiàn)電路104、 105來說明，但也可如圖10那樣，僅由1個(gè)地址再現(xiàn)電路1001構(gòu)成，在地址再現(xiàn)電路1001 內(nèi)，從PAA位23-2的地址，對應(yīng)于位分配識別電路107中存儲的記錄容量，也能夠選擇至層編號地址、簇編號地址的地址變換。另外，雖然對通過利用硬件處理來實(shí)現(xiàn)地址變換進(jìn)行了說明，但從微機(jī)110等取得位分配識別電路107中存儲的記錄容量信息、從檢測到PAA位 23-2的地址利用微機(jī)將地址變換為層編號地址、簇編號地址等軟件處理同樣也能夠?qū)崿F(xiàn)。如上所述，在相同物理構(gòu)造的光盤中，地址的位分配不同的2種光盤通過從盤中讀取每層的記錄容量后選擇地址的檢測方法，能夠容易地特定物理位置。圖4是作為第2實(shí)施例的記錄再現(xiàn)裝置中使用的光盤101的地址相關(guān)圖的實(shí)例。 與第1實(shí)施例一樣，舉例說明現(xiàn)有的光盤(圖2)與高密度光盤(圖4)的切換。圖4中，在現(xiàn)有PAAM位結(jié)構(gòu)的地址擴(kuò)展1位，為25位結(jié)構(gòu)。在設(shè)PAA地址為25位的情況下，必需改變埋入抖動中的地址結(jié)構(gòu)。圖9示出包含ADIP地址的ADIP數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。圖9 (a)示出現(xiàn)有結(jié)構(gòu)，由圖2的PAA地址的位分配所對應(yīng)的PAA23-0的M位的ADIP address、和作為存儲盤信息等的輔助區(qū)域的12位的AUX data構(gòu)成。但是，在對應(yīng)于圖4的高密度光盤將PAA 地址擴(kuò)展為25位的情況下，必需確保1位的數(shù)據(jù)存儲的區(qū)域。因此，作為一例，圖9(b)示出擴(kuò)展時(shí)的構(gòu)造，不將輔助區(qū)域用作為AUX data的區(qū)域，而單純作為地址的區(qū)域來分配。在此，說明圖1的記錄再現(xiàn)裝置中現(xiàn)有光盤(圖2、與高密度光盤(圖4)的數(shù)據(jù)記錄再現(xiàn)動作。與第1實(shí)施例一樣，將從盤101讀取的每層的記錄容量存儲在位分配識別電路107中，從盤101經(jīng)拾取器102讀取的抖動信號輸入到第1地址再現(xiàn)電路104和第2地址再現(xiàn)電路105。第1地址再現(xiàn)電路104中執(zhí)行圖9(a)的M位地址構(gòu)造和圖2的位分配所示的現(xiàn)有光盤所對應(yīng)的地址檢測，第2地址再現(xiàn)電路105中執(zhí)行圖9(b)的25位地址構(gòu)造和圖3所示的位分配所示的高密度光盤所對應(yīng)的地址檢測。因此，通過對應(yīng)于位分配識別電路107中存儲的記錄容量，由選擇電路106選擇檢測地址而進(jìn)行輸出，能夠檢測出對數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄再現(xiàn)的位置。另外，在本實(shí)施例的圖9(b)中，為了確保PAA位M的存儲區(qū)域， 使用現(xiàn)有技術(shù)中作為AUX data區(qū)域的部位來存儲，由此進(jìn)行說明，但位配置不限于本實(shí)施例，將追加位的信息不作為位本身存儲，而是作為特殊的模式埋入AUX data區(qū)域中，或抖動地址構(gòu)造自身也改變，增加ADIP address存儲區(qū)域而重新構(gòu)成，也同樣能夠?qū)崿F(xiàn)。另外，如圖5所示，使用虛擬位擴(kuò)展地址，埋入抖動中的地址位數(shù)不變化的情況下，也可同樣應(yīng)對。圖5的情況下，作為虛擬位，作為信息埋入其它位中，生成地址，檢測時(shí)使用復(fù)原的地址相關(guān)性。具體而言，將PAA位M作為確定加擾電路105的加擾處理0N/0FF 的控制位而輸入，將對低位(下游)2位的PAA位1-0實(shí)施加擾處理后的ADIP地址(圖9中 PAAff 504)埋入抖動中。因此，由于埋入抖動中的地址只需對位即可，所以不必大幅度改變 ADIP數(shù)據(jù)構(gòu)造。因此，同樣，第1地址再現(xiàn)電路104中執(zhí)行圖2的位分配所示的現(xiàn)有光盤所對應(yīng)的地址檢測，第2地址再現(xiàn)電路105中執(zhí)行圖5的位分配所示的高密度光盤所對應(yīng)的地址檢測。第2地址再現(xiàn)電路105中從由抖動檢測到的ADIP地址504的低位(下游)2位 (PAAff位1-0)的連續(xù)性中檢測出有無加擾，通過PAA位M的復(fù)原和PAAW位1-0的解擾， 可得到PAA位1-0。因此，對應(yīng)于位分配識別電路107中存儲的記錄容量，由選擇電路106 選擇檢測地址后輸出，由此能夠檢測出對數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄再現(xiàn)的位置。另外，虛擬位的位數(shù)、 配置虛擬位的位的位置、埋入加擾信息等信息的位位置、地址的位構(gòu)成、加擾等信息的埋入方法不限于本實(shí)施例，只要構(gòu)成為基于該地址生成方法的地址再現(xiàn)電路105，就同樣能夠?qū)崿F(xiàn)。如上所述，相同物理構(gòu)造的光盤中、地址的位分配不同的2種光盤中，通過從盤中讀取每層的記錄容量后選擇地址的檢測方法，可容易地特定物理位置。圖6是作為第3實(shí)施例的記錄再現(xiàn)裝置中使用的光盤101的地址相關(guān)圖的實(shí)例。 與第1實(shí)施例一樣，舉例說明現(xiàn)有的光盤(圖2)與高密度光盤(圖6)的切換。圖6中，對現(xiàn)有(圖2)的19位的簇編號、2位的簇內(nèi)計(jì)數(shù)，作為20位的簇編號、1位的簇內(nèi)計(jì)數(shù)，執(zhí)行位分配。在此，說明圖1的記錄再現(xiàn)裝置中現(xiàn)有光盤(圖2、與高密度光盤(圖6)的數(shù)據(jù)記錄再現(xiàn)動作。與第1實(shí)施例一樣，將從盤101讀取的每層的記錄容量存儲在位分配識別電路107中，從盤101經(jīng)拾取器102讀取的抖動信號輸入到第1地址再現(xiàn)電路104和第2地址再現(xiàn)電路105中。第1地址再現(xiàn)電路104中執(zhí)行圖2的位分配所示的現(xiàn)有光盤所對應(yīng)的地址檢測，第2地址再現(xiàn)電路105中執(zhí)行圖6的位分配所示的高密度光盤所對應(yīng)的地址檢測。 第2地址再現(xiàn)電路105中根據(jù)從抖動檢測到的ADIP地址603的低位(下游)1位(PAA位 0)的連續(xù)性來特定物理位置。例如，若僅由PAA位0看，則由于計(jì)數(shù)為0、1、0、0、1、0、...， 所以利用前后的連續(xù)性，能夠特定位置，或者由于低位(下游)2位的PAA位1-0計(jì)數(shù)為0、 1、0、2、3、2、0、1、0、...，所以同樣能夠進(jìn)行地址檢測、位置特定。因此，對應(yīng)于位分配識別電路107中存儲的記錄容量，利用選擇電路106選擇檢測地址而進(jìn)行輸出，由此能夠檢測對數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄再現(xiàn)的位置。另外，如圖7所示，在與圖5的實(shí)例一樣將虛擬位分配給PAA位1的情況下，利用 PAAff位1前后的連續(xù)性或PAAW位1-0的值檢測等，復(fù)原PAA位1，同樣能夠檢測地址。
如上所述，在為相同物理構(gòu)造的光盤而地址的位分配不同的2種光盤中，通過從盤中讀取每層的記錄容量后選擇地址的檢測方法，能夠容易地特定物理位置。圖8是作為第4實(shí)施例的記錄再現(xiàn)裝置中使用的光盤101的地址相關(guān)圖的實(shí)例。 與第1實(shí)施例一樣，舉例說明現(xiàn)有的光盤(圖2)與高密度光盤(圖8)的切換。在圖8中， 對現(xiàn)有(圖2)的3位層編號、19位的簇編號，將22位的簇編號作為對所有層的通用編號， 進(jìn)行位分配。在此，說明圖1的記錄再現(xiàn)裝置中現(xiàn)有光盤(圖2、與高密度光盤(圖8)的數(shù)據(jù)記錄再現(xiàn)動作。與第1實(shí)施例一樣，將從盤101讀取的每層的記錄容量存儲在位分配識別電路107中，從盤101經(jīng)拾取器102讀取的抖動信號輸入到第1地址再現(xiàn)電路104和第2 地址再現(xiàn)電路105中。第1地址再現(xiàn)電路104執(zhí)行圖2的位分配所示的現(xiàn)有光盤所對應(yīng)的地址檢測，第2地址再現(xiàn)電路105執(zhí)行圖8的位分配所示的高密度光盤所對應(yīng)的地址檢測。 第2地址再現(xiàn)電路105讀取的地址如圖8所示，為了作為通用的編號分配給所有層，將各層的開頭地址信息計(jì)算為偏置信息，從而可容易檢測層編號與每層的簇編號的地址。之后，通過對應(yīng)于位分配識別電路107中存儲的記錄容量，由選擇電路106選擇檢測地址后輸出，能夠檢測對數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄再現(xiàn)的位置。在本實(shí)施例中，使用兩個(gè)地址再現(xiàn)電路104、105來說明，但也可與第1實(shí)施例一樣，如圖10那樣僅由1個(gè)地址再現(xiàn)電路1001構(gòu)成，在地址再現(xiàn)電路1001內(nèi)，從PAA位23-2的地址，對應(yīng)于位分配識別電路107中存儲的記錄容量，選擇向?qū)泳幪柕刂?、簇編號地址的地址變換，也同樣能夠?qū)崿F(xiàn)。另外，雖然對通過利用硬件處理來實(shí)現(xiàn)地址變換進(jìn)行了說明，但也可利用從微機(jī)110等取得位分配識別電路107中存儲的記錄容量的信息，從檢測到PAA位23-2的地址利用微機(jī)將地址變換為層編號地址、簇編號地址等的軟件處理來得以實(shí)現(xiàn)。如上所述，在為相同物理構(gòu)造的光盤而地址的位分配不同的2種光盤中，通過從盤中讀取每層的記錄容量后選擇地址的檢測方法，能夠容易地特定物理位置。在此前的實(shí)施例中，舉例說明高密度光盤作為地址分配與現(xiàn)有光盤不同的盤，但不限于該規(guī)格，對可改寫的盤與追記型盤、不多于2層的盤與3層以上的多層盤等，物理構(gòu)造或地址的存儲構(gòu)造大致相同、僅向地址的物理位置的位分配不同的兩種或多種盤能夠同樣適用。作為此時(shí)的存儲到位分配識別電路107的信息，只要存儲能夠識別地址的位分配不同的適當(dāng)信息即可。另外，作為本實(shí)施例中進(jìn)行記錄的介質(zhì)，使用光盤進(jìn)行了說明，作為地址，使用埋入抖動中的地址進(jìn)行了說明，但不限于本實(shí)施例。另外，使用埋入抖動中的地址的檢測過程進(jìn)行了說明，但當(dāng)然利用不同的位分配識別地址生成、其位分配的信息向盤中的記錄等的地址的生成過程也是適用的。
權(quán)利要求
1.一種記錄介質(zhì)的地址生成方法，該記錄介質(zhì)具有記錄具有多個(gè)記錄層和多個(gè)簇結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)的區(qū)域和表示記錄介質(zhì)中的物理記錄位置的地址，該地址生成方法的特征在于所述地址，是由表示所述多個(gè)記錄層的編號的層編號地址、表示所述多個(gè)簇的數(shù)據(jù)位置的簇編號地址和對所述簇的簇內(nèi)進(jìn)行計(jì)數(shù)的計(jì)數(shù)值構(gòu)成的地址，具有由h位的層編號地址、i位的簇編號地址、j位的計(jì)數(shù)值構(gòu)成的第1位分配；和由h 位的層編號地址、(i+k)位的簇編號地址和j位的計(jì)數(shù)值構(gòu)成的、簇編號地址和計(jì)數(shù)值的一部分的位配置于(i+j)位的地址位的第2位分配的任意一個(gè)，其中，h、i、j、k為自然數(shù)， 根據(jù)位分配識別信息，基于所述第1位分配和第2位分配的任意一個(gè)，生成地址。
2.一種記錄介質(zhì)的地址檢測方法，該記錄介質(zhì)具有記錄具有多個(gè)記錄層和多個(gè)簇結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)的區(qū)域和表示記錄介質(zhì)中的物理記錄位置的地址，該地址檢測方法的特征在于所述地址，是由表示所述多個(gè)記錄層的編號的層編號地址、表示所述多個(gè)簇的數(shù)據(jù)位置的簇編號地址和對所述簇的簇內(nèi)進(jìn)行計(jì)數(shù)的計(jì)數(shù)值構(gòu)成的地址，具有由h位的層編號地址、i位的簇編號地址、j位的計(jì)數(shù)值構(gòu)成的第1位分配；和由h 位的層編號地址、(i+k)位的簇編號地址和j位的計(jì)數(shù)值構(gòu)成的、簇編號地址和計(jì)數(shù)值的一部分的位配置于(i+j)位的地址位的第2位分配的任意一個(gè)，其中，h、i、j、k為自然數(shù)，根據(jù)所述記錄介質(zhì)中存儲的位分配識別信息，基于所述第1位分配和第2位分配的任意一個(gè)，檢測地址。
3.—種從記錄介質(zhì)再現(xiàn)數(shù)據(jù)的再現(xiàn)裝置，該記錄介質(zhì)具有記錄具有多個(gè)記錄層和多個(gè)簇結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)的區(qū)域和表示記錄介質(zhì)中的物理記錄位置的地址，該再現(xiàn)裝置的特征在于所述地址，是由表示所述多個(gè)記錄層的編號的層編號地址、表示所述多個(gè)簇的數(shù)據(jù)位置的簇編號地址和對所述簇的簇內(nèi)進(jìn)行計(jì)數(shù)的計(jì)數(shù)值構(gòu)成的地址，具有由h位的層編號地址、i位的簇編號地址、j位的計(jì)數(shù)值構(gòu)成的第1位分配；和由h 位的層編號地址、(i+k)位的簇編號地址和j位的計(jì)數(shù)值構(gòu)成的、簇編號地址和計(jì)數(shù)值的一部分的位配置于(i+j)位的地址位的第2位分配的任意一個(gè)，其中，h、i、j、k為自然數(shù)，所述再現(xiàn)裝置，具有對應(yīng)于所述第1位分配來檢測地址的第1地址再現(xiàn)單元；和對應(yīng)于所述第2位分配來檢測地址的第2地址再現(xiàn)單元，根據(jù)所述記錄介質(zhì)中存儲的位分配識別信息，基于所述第1再現(xiàn)單元和第2再現(xiàn)單元的檢測結(jié)果的任意一個(gè)，檢測出地址，再現(xiàn)數(shù)據(jù)。
4.一種在記錄介質(zhì)中記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置，該記錄介質(zhì)具有記錄具有多個(gè)記錄層和多個(gè)簇結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)的區(qū)域和表示記錄介質(zhì)中的物理記錄位置的地址，該記錄裝置的特征在于所述地址，是由表示所述多個(gè)記錄層的編號的層編號地址、表示所述多個(gè)簇的數(shù)據(jù)位置的簇編號地址和對所述簇的簇內(nèi)進(jìn)行計(jì)數(shù)的計(jì)數(shù)值構(gòu)成的地址，具有由h位的層編號地址、i位的簇編號地址、j位的計(jì)數(shù)值構(gòu)成的第1位分配；和由h 位的層編號地址、(i+k)位的簇編號地址和j位的計(jì)數(shù)值構(gòu)成的、簇編號地址和計(jì)數(shù)值的一部分的位配置于(i+j)位的地址位的第2位分配的任意一個(gè)，其中，h、i、j、k為自然數(shù)，所述記錄裝置，具有對應(yīng)于所述第1位分配來檢測地址的第1地址再現(xiàn)單元；和對應(yīng)于所述第2位分配來檢測地址的第2地址再現(xiàn)單元，根據(jù)所述記錄介質(zhì)中存儲的位分配識別信息，基于所述第1再現(xiàn)單元和第2再現(xiàn)單元的檢測結(jié)果的任意一個(gè)，檢測出地址，記錄數(shù)據(jù)。
全文摘要
本發(fā)明涉及地址生成和檢測方法、再現(xiàn)和記錄裝置。對埋入抖動中的地址構(gòu)造相同而地址的位分配不同的兩種盤進(jìn)行地址檢測。從盤中檢測出每層的記錄容量，選擇現(xiàn)有光盤中的抖動地址的位分配與高密度光盤中的位分配，進(jìn)行控制，檢測盤上的物理位置地址。
文檔編號G11B7/005GK102394072SQ20111030763
公開日2012年3月28日 申請日期2009年8月20日 優(yōu)先權(quán)日2009年2月24日
發(fā)明者廣瀬幸一, 池田政和, 福島秋夫 申請人:日立民用電子株式會社