專利名稱:磁盤記錄信息可視化檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明屬于磁盤信息檢測方法,具體涉及一種磁盤表面磁化情況可視化檢測方法,將磁盤表面磁化信息表現(xiàn)為類似于通過物理照相工具得到的圖像,用于磁盤表面信息的分析。
背景技術(shù):
現(xiàn)有的磁盤檢測過程中,當(dāng)盤片出現(xiàn)問題時(shí),不能夠直接判斷其錯(cuò)誤產(chǎn)生的原因,必須打開驅(qū)動(dòng)器,借助物理工具對(duì)盤片進(jìn)行掃描、拍照得到磁盤表面磁化狀況的圖像。目前檢測磁盤表面磁化情況使用最廣泛的工具是MFM(磁力顯微鏡)。MFM使用一種受迫振動(dòng)的探針來掃描樣品表面,當(dāng)振動(dòng)探針接近一塊磁性樣品時(shí),與樣品中磁疇相互作用而感受到磁力,并使其共振頻率發(fā)生變化,從而改變其振幅。這樣檢測探針尖端的運(yùn)動(dòng),就可以進(jìn)而得到樣品表面的磁特性。很多研究部門對(duì)于MFM進(jìn)行了改善,改進(jìn)后的工具有HF-MFM(高頻MFM)等。這些工具雖然使硬盤數(shù)據(jù)可以保存下來留以分析時(shí)用,但也存在如下缺陷1、使用MFM需打開盤艙,使盤片暴露,這就需要凈房環(huán)境,使得使用地點(diǎn)受限;2、MFM需人工操作,且每次只能取出硬盤表面很小一部分?jǐn)?shù)據(jù)(通??蓽y范圍直徑為數(shù)十微米),如果需要硬盤表面大面積(以一英寸微硬盤為例,其盤片直徑為25.4毫米,即2.54*104微米)數(shù)據(jù)的取出,要耗費(fèi)大量人力、時(shí)間。
3、MFM設(shè)備使用成本過高。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種硬盤表面信息可視化檢測方法,目的在于不需要打開盤艙,即可將需要檢測的磁盤表面特定區(qū)域的磁化情況以適當(dāng)?shù)男问教崛 ⒋鎯?chǔ),并以圖像的形式再現(xiàn),以便于檢測。
本發(fā)明的一種硬盤表面信息可視化檢測方法,包括下述步驟(1)硬盤磁頭定位到所需采集區(qū)域,利用示波器連接硬盤,硬盤自身讀寫電路讀出該區(qū)域的信號(hào)數(shù)據(jù)并保存到計(jì)算機(jī)上;(2)信號(hào)處理通過自適應(yīng)濾波算法消除噪聲;(3)將經(jīng)過處理的電壓數(shù)據(jù)信號(hào)e(t)轉(zhuǎn)換為磁場強(qiáng)度信號(hào)m(t),磁頭的電磁信號(hào)轉(zhuǎn)換關(guān)系式為e(t)=hm(t)*m′(t),其中hm(t)是磁頭靈敏度函數(shù),m′(t)是磁場強(qiáng)度函數(shù)微分;(4)將磁場強(qiáng)度信號(hào)利用圖像處理技術(shù)進(jìn)行圖像還原,再現(xiàn)硬盤表面磁化狀況。
所述的硬盤表面信息可視化檢測方法,其特征在于所述磁頭定位、讀出信號(hào)數(shù)據(jù)并保存的步驟細(xì)分為下述步驟(1)設(shè)置示波器采集參數(shù),計(jì)算機(jī)連接示波器、硬盤接口,示波器連接硬盤讀寫電路;(2)由計(jì)算機(jī)向硬盤發(fā)送相關(guān)命令,關(guān)閉微硬盤的省電模式;(3)由計(jì)算機(jī)設(shè)置掃描參數(shù);(4)由計(jì)算機(jī)啟動(dòng)掃描線程,掃描當(dāng)前磁道,同時(shí),示波器將采集的數(shù)據(jù)保存,并傳送到計(jì)算機(jī);(5)檢查掃描是否完成,全部掃描完成,退出掃描過程,未完成轉(zhuǎn)步驟(4)。
本發(fā)明無須采用物理檢測工具,通過軟件成像,節(jié)省人力物力,成本低廉;不需要打開驅(qū)動(dòng)器,利用硬盤本身的磁頭掃描盤片,并對(duì)采集的信號(hào)進(jìn)行處理且成像,圖像比采用物理檢測工具M(jìn)FM得到的圖像更為清晰、準(zhǔn)確,且對(duì)操作地點(diǎn)沒有特殊要求,花費(fèi)時(shí)間少,不會(huì)損壞檢測后的硬盤。
圖1是本發(fā)明的流程圖;圖2是本發(fā)明具體步驟流程圖;圖3是磁記錄寫入過程圖;圖4是磁記錄讀出過程圖;圖5是磁記錄讀出電壓信號(hào)與磁記錄信號(hào)波形圖;圖6是本發(fā)明的實(shí)施結(jié)果圖。
具體實(shí)施例方式
下面結(jié)合附圖及實(shí)施舉例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說明如圖1所示,實(shí)施本發(fā)明的檢測方法包括下述步驟(1)通過向硬盤接口發(fā)送相應(yīng)命令,使硬盤磁頭定位到所需采集區(qū)域,不打開盤艙,利用硬盤自身讀寫電路讀出該區(qū)域的電信號(hào)數(shù)據(jù)并保存,即圖2的模塊5、6、7、8、9、10;(2)數(shù)據(jù)信號(hào)處理,將在利用硬盤自身讀寫電路讀信號(hào)過程中可能引入的噪聲用自適應(yīng)濾波方法進(jìn)行去除,即圖2的模塊11;(3)將經(jīng)過處理的電壓數(shù)據(jù)信號(hào)轉(zhuǎn)換為磁場強(qiáng)度信號(hào),磁頭的電磁信號(hào)轉(zhuǎn)換關(guān)系式為e(t)=hm(t)*m′(t),其中e(t)是讀出電壓強(qiáng)度函數(shù),hm(t)是磁頭靈敏度函數(shù),m′(t)是磁化狀態(tài)函數(shù)微分,即圖2的模塊12。
(4)將磁信號(hào)數(shù)據(jù)利用圖像處理的有關(guān)方法進(jìn)行圖像還原,從而再現(xiàn)硬盤表面磁化情況,即圖2的模塊13。
如圖3所示,磁記錄的寫入過程為首先,數(shù)據(jù)信息要進(jìn)行編碼處理,形成的編碼信息bk再進(jìn)行寫電流調(diào)制,形成電流信號(hào)i(t),在磁頭和盤片上產(chǎn)生電磁效應(yīng),形成磁化翻轉(zhuǎn),最后在盤片上形成磁信號(hào)m(t)。
如圖4所示,單個(gè)磁化翻轉(zhuǎn)的讀出波形e(t)是磁頭靈敏度函數(shù)hm(t)與磁化狀態(tài)函數(shù)微分m′(t)求卷積的結(jié)果,即e(t)=hm(t)*m′(t)在本方法中,根據(jù)實(shí)際情況,hm(t)取常數(shù)1,故m(t)即對(duì)e(t)的積分,由此可由讀出的電壓信號(hào)函數(shù)推出盤片上的磁化信號(hào)強(qiáng)度函數(shù)m(t)。
如圖5所示,m(t)為磁盤上磁化函數(shù)曲線,而e(t)則為對(duì)應(yīng)的磁化翻轉(zhuǎn)的讀出波形。
圖6所示為磁盤上連續(xù)10個(gè)磁道上同一扇區(qū)的伺服區(qū)域的磁化狀況圖,其中顏色最亮的地方表示某種磁化極向(S到N或N到S)的磁場強(qiáng)度最大,而顏色最暗的地方表示相反極向的磁場強(qiáng)度最大。整個(gè)伺服區(qū)域的信息包括五部分1、同步信號(hào);2、同步信號(hào)結(jié)束標(biāo)志;3、扇區(qū)號(hào);4、磁道號(hào)(即Gray Code);5、用于準(zhǔn)確定位的四個(gè)Burst(A、B、C、D)。
權(quán)利要求
1.一種硬盤表面信息可視化檢測方法,包括下述步驟(1)硬盤磁頭定位到所需采集區(qū)域,利用硬盤自身讀寫電路讀出該區(qū)域的信號(hào)數(shù)據(jù)并保存到計(jì)算機(jī)上;(2)由計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)信號(hào)處理通過自適應(yīng)濾波算法消除噪聲;(3)將經(jīng)過處理的電壓數(shù)據(jù)信號(hào)e(t)轉(zhuǎn)換為磁場強(qiáng)度信號(hào)m(t),磁頭的電磁信號(hào)轉(zhuǎn)換關(guān)系式為e(t)=hm(t)*m′(t),其中hm(t)是磁頭靈敏度函數(shù),m′(t)是磁場強(qiáng)度信號(hào)函數(shù)微分;(4)將磁場強(qiáng)度信號(hào)利用圖像處理技術(shù)進(jìn)行圖像還原,再現(xiàn)硬盤表面磁化狀況。
2.如權(quán)利要求1所述的硬盤表面信息可視化檢測方法,其特征在于所述磁頭定位、讀出信號(hào)數(shù)據(jù)并保存的步驟細(xì)分為下述步驟(1)設(shè)置示波器采集參數(shù),計(jì)算機(jī)連接示波器、硬盤接口,示波器連接硬盤讀寫電路;(2)由計(jì)算機(jī)向硬盤發(fā)送相關(guān)命令,關(guān)閉微硬盤的省電模式;(3)由計(jì)算機(jī)設(shè)置掃描參數(shù);(4)由計(jì)算機(jī)啟動(dòng)掃描線程,掃描當(dāng)前磁道,同時(shí),示波器將采集的數(shù)據(jù)保存,并傳送到計(jì)算機(jī);(5)檢查掃描是否完成,全部掃描完成,退出掃描過程,未完成轉(zhuǎn)步驟(4)。
全文摘要
硬盤表面信息可視化檢測方法,屬于磁盤信息檢測方法,目的是不開盤艙,提取并再現(xiàn)磁盤表面信息,其步驟為(1)硬盤磁頭定位到所需采集區(qū)域,讀出該區(qū)域的信號(hào)數(shù)據(jù)并保存到計(jì)算機(jī);(2)數(shù)據(jù)信號(hào)處理通過自適應(yīng)濾波算法消除噪聲;(3)將經(jīng)過處理的電壓數(shù)據(jù)信號(hào)e(t)轉(zhuǎn)換為磁場強(qiáng)度信號(hào)m(t),磁頭的電磁信號(hào)轉(zhuǎn)換關(guān)系式為e(t)=h
文檔編號(hào)G01R33/12GK1967702SQ200610125078
公開日2007年5月23日 申請(qǐng)日期2006年11月20日 優(yōu)先權(quán)日2006年11月20日
發(fā)明者周功業(yè), 陳進(jìn)才, 羅慶, 梁兆斌 申請(qǐng)人:華中科技大學(xué)