專利名稱：一種存儲器的自檢測電路和方法
一種存儲器的自檢測電路和方法
技術(shù)領域：
本發(fā)明涉及系統(tǒng)芯片領域，特別是涉及一種存儲器的自檢測電路和方法。背景技術(shù)：
在現(xiàn)有的系統(tǒng)級芯片(簡稱SoC，System on Chip)設計中，經(jīng)常會出現(xiàn)在同一個封裝內(nèi)同時封入功能控制芯片與存儲單元，如同步動態(tài)隨機存儲器(SynchronousDynamic Random Access Memory,簡稱SDRAM)。如圖1所示，圖1為帶有SDRAM封裝系統(tǒng) 芯片的示意圖。通常，在封裝之后，需要對內(nèi)部的SDRAM，以及SDRAM和功能芯片 之間的連線進行測試，以保證正常的工作。而此時SDRAM與功能芯片之間的連線由于 在封裝的內(nèi)部，是無法通過直接觀測的方法進行測試的，因此，需要在功能芯片中增加 自檢測電路，以檢查存儲器單元的良好性和連接的正確性?，F(xiàn)有的技術(shù)中對上述的測試有兩種做法，一種是構(gòu)建自檢測電路，另一種是不 構(gòu)建自檢測電路。構(gòu)建自檢測電路通常是直接構(gòu)成了對物理介質(zhì)(如SDRAM)的直接 訪問的檢查，通過對存儲物理介質(zhì)進行寫和讀的操作并進行對比，以檢查寫的數(shù)據(jù)和讀 的數(shù)據(jù)是否一致來確定物理介質(zhì)和連線是否存在隱患。這種做法不夠靈活，一旦在芯片 中固化為邏輯電路，每次測試都會完成固定的向量，為了測試完備通常要消耗較長的時 間。后者是直接通過功能芯片中的CPU對存儲介質(zhì)進行訪問。這種方式盡管比較靈活， 可以對需要訪問的存儲器進行精確的訪問、比較，但是若要對全部的存儲器介質(zhì)進行測 試需要的時間要大大多于自檢測方式。帶有自檢測電路的芯片如圖2所示，自檢測電路單元內(nèi)部有多路選擇器，在正 常的工作模式下，將CPU與存儲器直接相連；在測試時，自檢測電路自動生成測試向量 和控制信號，得到從SDRAM中讀取的數(shù)據(jù)并將測試向量和讀取的數(shù)據(jù)進行比較，比較 的結(jié)果通過管腳向測試儀器進行傳遞。不帶有自檢測電路的芯片如圖3所示，CPU直接對SDRAM進行訪問，根據(jù)讀 回來的結(jié)果通過管腳想測試儀器進行結(jié)果的傳遞。因此有必要提出一種新的技術(shù)方案來解決上述問題。
發(fā)明內(nèi)容
本部分的目的在于概述本發(fā)明的實施例的一些方面以及簡要介紹一些較佳實施例。 在本部分以及本申請的說明書摘要和發(fā)明名稱中可能會做些簡化或省略以避免使本部 分、說明書摘要和發(fā)明名稱的目的模糊，而這種簡化或省略不能用于限制本發(fā)明的范 圍。本發(fā)明的目的在于提供一種存儲器的自檢測電路，其可以提高測試的靈活性以 及測試速度。根據(jù)本發(fā)明的一方面，本發(fā)明提供一種存儲器的自檢測電路，其包括數(shù)據(jù)生成 器、數(shù)據(jù)比較器、地址生成器、地址選擇器、寄存器組、控制信號發(fā)生器以及測試接 口，其中所述寄存器組中存有測試方式、地址范圍、地址生成方式以及數(shù)據(jù)生成方式， 所述控制信號發(fā)生器將生成的控制信號發(fā)送給所述數(shù)據(jù)生成器和地址生成器，所述數(shù)據(jù)生成器按照所述數(shù)據(jù)生成方式生成測試數(shù)據(jù)并將所述測試數(shù)據(jù)發(fā)送給所述數(shù)據(jù)比較器和 測試接口，所述測試接口將所述測試數(shù)據(jù)存入存儲器中，所述地址生成器根據(jù)所述地址 范圍和地址方式生成測試地址并將所述測試地址發(fā)送給所述地址選擇器，所述地址選擇 器根據(jù)所述測試地址和所述存儲器中的地址進行匹配，所述測試接口根據(jù)所述寄存器組 中的測試方式以及測試地址從所述存儲器中讀取數(shù)據(jù)，所述數(shù)據(jù)比較器比較所述測試數(shù) 據(jù)和從測試接口讀取的數(shù)據(jù)。進一步的，所述寄存 器組中的測試方式包括數(shù)據(jù)測試和連接測試。更進一步的，當測試方式為連接測試時，所述數(shù)據(jù)生成器均生成固定的測試數(shù) 據(jù)，所述地址生成器在不同比較次數(shù)中按照一位熱碼方式或多位熱碼方式生成不同的測 試地址以進行測試；或所述地址生成器均生成固定的測試地址，然后數(shù)據(jù)生成器在不同 比較次數(shù)中按照一位熱碼方式或多位熱碼方式生成不同的數(shù)據(jù)以進行測試；或地址生成 器和數(shù)據(jù)生成器在不同比較次數(shù)中分別按照多位熱碼方式生成不同的測試地址和測試數(shù) 據(jù)以進行測試。進一步的，所述寄存器組中的地址范圍根據(jù)所述存儲器中的行數(shù)、列數(shù)和頁數(shù) 進行配置，或根據(jù)存儲器中的部分行、部分列和部分頁進行配置。進一步的，所述數(shù)據(jù)生成器生成的數(shù)據(jù)和所述地址生成器生成的測試地址一一 映射。根據(jù)本發(fā)明的另一方面，本發(fā)明提供一種存儲器的自檢測方法，其包括配置 測試方式、地址范圍、地址生成方式以及數(shù)據(jù)生成方式；根據(jù)配置的測試方式、地址范 圍、地址生成方式以及數(shù)據(jù)生成方式生成一一對應的測試數(shù)據(jù)和測試地址，將測試數(shù)據(jù) 發(fā)送給所述存儲器中，將測試地址與存儲器進行行列匹配；比較具有相同地址的測試數(shù) 據(jù)和存儲器中讀取的數(shù)據(jù)。進一步的，所述測試方式包括連接測試和數(shù)據(jù)測試。進一步的，當測試方式為連接測試時，均生成固定的測試數(shù)據(jù)，在不同比較次 數(shù)中按照一位熱碼方式或多位熱碼方式生成不同的測試地址；或均生成固定的測試地 址，在不同比較次數(shù)中按照一位熱碼方式或多位熱碼方式生成不同的測試數(shù)據(jù)。進一步的，當測試方式為連接測試時，在不同比較次數(shù)中按照多位熱碼方式分 別生成不同的測試數(shù)據(jù)和測試地址。進一步的，根據(jù)所述存儲器中數(shù)據(jù)的行數(shù)、列數(shù)和頁數(shù)進行所述地址范圍的配 置，或根據(jù)所述存儲器中數(shù)據(jù)的部分行、部分列和部分頁進行所述地址范圍的配置。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明通過測試儀對自檢測的電路內(nèi)部的寄存器進行配置， 按照所述配置并通過編程以生成不同的測試數(shù)據(jù)和地址來進行對存儲器的測試，使其自 檢測電路的測試更加靈活。

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例的技術(shù)方案，下面將對實施例描述中所需要使用的 附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于 本領域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得 其它的附圖。其中
圖1為帶有SDRAM的封裝芯片；圖2為帶有自檢測電路的功能芯片； 圖3為不帶有自檢測電路的功能芯片； 圖4為本發(fā)明中存儲器的自檢測電路圖；和 圖5為本發(fā)明中存儲器的自檢測方法的流程圖。
具體實施方式
本發(fā)明的詳細描述主要通過程序、步驟、邏輯塊、過程或其他象征性的描述來直接 或間接地模擬本發(fā)明技術(shù)方案的運作。為透徹的理解本發(fā)明，在接下來的描述中陳述了 很多特定細節(jié)。而在沒有這些特定細節(jié)時，本發(fā)明則 可能仍可實現(xiàn)。所屬領域內(nèi)的技術(shù) 人員使用此處的這些描述和陳述向所屬領域內(nèi)的其他技術(shù)人員有效的介紹他們的工作本 質(zhì)。換句話說，為避免混淆本發(fā)明的目的，由于熟知的方法和程序已經(jīng)容易理解，因此 它們并未被詳細描述。此處所稱的“一個實施例”或“實施例”是指可包含于本發(fā)明至少一個實現(xiàn)方 式中的特定特征、結(jié)構(gòu)或特性。在本說明書中不同地方出現(xiàn)的“在一個實施例中”并非 均指同一個實施例，也不是單獨的或選擇性的與其他實施例互相排斥的實施例。此外， 表示一個或多個實施例的方法、流程圖或功能框圖中的模塊順序并非固定的指代任何特 定順序，也不構(gòu)成對本發(fā)明的限制。本發(fā)明提供一種存儲器自檢測電路，其通過測試儀對自檢測電路內(nèi)部的寄存器 對測試方法、測試數(shù)據(jù)以及測試地址進行配置，按照所述配置并通過編程以生成不同的 測試數(shù)據(jù)和地址來進行對存儲器的測試，使其自檢測電路的測試更加靈活。其具體結(jié)構(gòu) 可參見圖4所示。圖4為本發(fā)明中存儲器的自檢測電路圖，其包括數(shù)據(jù)生成器410、數(shù)據(jù)比較器 420、地址生成器430、地址選擇器440、寄存器組450、控制信號發(fā)生器460以及測試接 Π 470。所述數(shù)據(jù)生成器410用于生成測試數(shù)據(jù)，并將所述測試數(shù)據(jù)同時發(fā)送給所述數(shù) 據(jù)比較器420和測試接口 470。所述測試數(shù)據(jù)可以為一串數(shù)字數(shù)據(jù)，如123514567849， 當然，所述測試數(shù)據(jù)也可以為一串字符數(shù)據(jù)，如skbcj02D，且其測試數(shù)據(jù)的長度可自 由伸縮。這樣則提高了本發(fā)明中自檢測電路測試的靈活性。這里，所述數(shù)據(jù)生成器410 可以根據(jù)所述寄存器組450中配置的數(shù)據(jù)生成方式生成測試數(shù)據(jù)，如可以按照一位熱碼 的方式生成測試數(shù)據(jù)，也可以按照多位熱碼的方式生成測試數(shù)據(jù)。通常，可以根據(jù)軟 件、硬件或軟硬件結(jié)合的方式來實現(xiàn)其生成測試數(shù)據(jù)的功能。所述數(shù)據(jù)比較器420接收所述數(shù)據(jù)生成器410生成的測試數(shù)據(jù)以及從所述測試接 口 470中讀取的存儲器490中的數(shù)據(jù)，并將所述測試數(shù)據(jù)和存儲器中讀取的數(shù)據(jù)進行比 較。最后將比較結(jié)果發(fā)送給測試接口 470。所述地址生成器430用于生成測試地址，并將所述測試地址發(fā)送給所述地址選 擇器440。這里所述地址生成器430根據(jù)所述寄存器組450保存的地址范圍以及地址生成 方式以生成測試地址，如可以按照一位熱碼的方式生成測試地址，也可以按照多位熱碼 的方式生成測試地址。其生成的測試地址一般為存儲器490中的部分或全部地址。在實際應用中，所述數(shù)據(jù)生成器410生成的測試數(shù)據(jù)可以和地址生成器430生成 的測試地址一一映射，即一個數(shù)據(jù)對應一個測試地址。
所述地址選擇器440在接收到所述測試地址后，根據(jù)所述測試地址以及所述存 儲器490的行列特征進行行列的匹配。以保證測試地址能在存儲器490中有相對應的地 址。且所述地址選擇器440還可以選擇其中的某一測試地址。在一個實施例中，當所述地址選擇器440配置好一個地址后，所述測試接口則 從所述存儲器490中讀取所述地址對應的數(shù)據(jù)并放入到所述數(shù)據(jù)比較器420中，所述數(shù)據(jù) 比較器420將對應所述地址的測試數(shù)據(jù)與所述讀取的數(shù)據(jù)進行比較。因為所述數(shù)據(jù)生成器410生成的測試數(shù)據(jù)如果要寫入到所述寄存器490中，則 需要地址的指引，即如果每個數(shù)據(jù)對應的地址確定了則可以將所述數(shù)據(jù)放入到所述地址 對應的位置。又由于地址選擇器440生成的測試地址與所述數(shù)據(jù)生成器410生成的數(shù)據(jù) 一一對應，而測試地址為寄存器490中部分或全部地址，這樣所述數(shù)據(jù)生成器410生成的 測試數(shù)據(jù)便可以寫入到寄存器490中。由此可知，當所述數(shù)據(jù)選擇器410中的測試數(shù)據(jù) 與地址生成器430生成的測試地址一一對應，且地址生成器430生成的測試地址與寄存器 490中的地址一一對應，而寫入到寄存器490中的數(shù)據(jù)與寄存器490中的地址一一對應， 這樣，可進一步推斷當所述在寄存器490的連接方式和內(nèi)部均沒有問題的情況下，所 述數(shù)據(jù)比較器420中的數(shù)據(jù)應該與寄存器490中的數(shù)據(jù)是相同的，且均與地址生成器430 中的地址——對應。所述寄存器組450用于存放外部測試儀480配置的測試方式、地址范圍、地址生 成方式以及數(shù)據(jù)生成方式。其中所述測試方式包括連接測試和數(shù)據(jù)測試，地址范圍可以 根據(jù)封裝的存儲器490的行數(shù)、列數(shù)以及頁數(shù)進行配置，也可以通過存儲器490的部分 行、部分列和部分頁進行配置，即可以配置成較小的地址范圍以僅測試其中的某一塊， 以達到抽樣測試的目的。在一個實施例中，所述地址范圍可以為存儲器490的所有地址，這樣則可以通 過存儲器490中所有的數(shù)據(jù)進行測試。在另一個實施例中，所述地址范圍可以僅為存儲 器的一部分地址，如當存儲器490為8行8列時，僅取其內(nèi)部的第2行數(shù)據(jù)來進行測試。
通常，所述地址生成器430根據(jù)所述地址范圍生成對應的測試地址。由于所述 寄存器組450中存放的地址范圍時通過所述封裝的存儲器的行數(shù)、列數(shù)以及頁數(shù)進行配 置的，而地址生成器430又是根據(jù)所述地址范圍生成對應地址的，所以地址選擇器440是 可以根據(jù)地址生成器430生成的地址和所述存儲器490中行列特征進行配置的。所述配置的測試方式、地址范圍、數(shù)據(jù)生成方式以及地址生成方式可以根據(jù)測 試方式而定，如可以根據(jù)存儲器的連接的實際情況選擇合適的連接測試方法。比如，在 連接測試時，可以固定數(shù)據(jù)，然后測試地址按照一位熱碼或多位熱碼變化生成以進行測 試；或固定地址，然后測試數(shù)據(jù)按照一位熱碼或多位熱碼變換生成以進行測試。當然， 在實際應用中，其還可以利用別的方式實現(xiàn)對測試地址和測試數(shù)據(jù)的配置。且在具體應 用中，可以根據(jù)存儲器的連接選擇不同的配置方式。所述控制信號發(fā)生器460用于發(fā)送控制信號，其為整個系統(tǒng)的控制部分，包括 負載存儲器的控制命令，測試接口 470對存儲器的讀寫操作，比較器結(jié)果的輸出以及送 到數(shù)據(jù)比較器420內(nèi)的時序匹配等。如所述控制信號發(fā)生器460對數(shù)據(jù)生成器410和地址生成器430輸入控制信號以 使其對應生成測試數(shù)據(jù)和地址；所述控制信號發(fā)生器460在對數(shù)據(jù)比較器420進行數(shù)據(jù)比較時，可以獲知將要比較的測試數(shù)據(jù)，并根據(jù)所述測試數(shù)據(jù)對應的地址后命令測試接口 從所述存儲器490中對應的地址讀取數(shù)據(jù)，從而實現(xiàn)對應于同一個地址的測試數(shù)據(jù)以及 存儲器490中的數(shù)據(jù)的比較。所述測試接口 470負責接受從測試儀480配置給所述寄存器組450的值，并向所 述測試儀480發(fā)送測試結(jié)果，對所述存儲器490進行讀寫操作等。如所述測試接口 470 接收到 所述數(shù)據(jù)生成器410生成的測試數(shù)據(jù)后寫入到所述存儲器490中，并根據(jù)所述地址 選擇器440中配置的地址從所述存儲器490對應的位置讀取數(shù)據(jù)以發(fā)送到所述數(shù)據(jù)比較器 420 中。在一個實施例中，當外接的測試儀480向所述寄存器組450配置的測試方式為連 接測試或數(shù)據(jù)測試，且在所述控制信號發(fā)生器460發(fā)送控制信號后，所述數(shù)據(jù)生成器410 接收到所述控制信號后產(chǎn)生測試數(shù)據(jù)，并將所述測試數(shù)據(jù)發(fā)送給所述數(shù)據(jù)比較器420和 測試接口 470，所述地址生成器430根據(jù)寄存器中的地址范圍生成地址并將其發(fā)送到所述 地址選擇器440中，所述測試接口 470根據(jù)地址選擇器中選擇的地址將對應的數(shù)據(jù)寫入到 存儲器對應所述地址的位置，此時數(shù)據(jù)生成器410生成的數(shù)據(jù)和地址生成器430生成的地 址有一一映射的關(guān)系，這樣在連接正確的情況下，所述數(shù)據(jù)比較器420中的測試數(shù)據(jù)應 該與所述存儲器490中同一個地址對應的數(shù)據(jù)是相同的。所述測試接口 470從所述存儲 器490中讀取數(shù)據(jù)，并將所述數(shù)據(jù)發(fā)送給所述數(shù)據(jù)比較器420，所述數(shù)據(jù)比較器420則將 所述測試接口 470發(fā)送來的數(shù)據(jù)與測試數(shù)據(jù)中和其有相同地址的數(shù)據(jù)進行比較。一般的，對于不同的測試方式，可以根據(jù)生成不同的測試數(shù)據(jù)或測試地址進行 測試。如在進行連接方式的測試時，通常由兩種測試方法。一種測試方法是先固定測試數(shù)據(jù)，即將生成的數(shù)據(jù)定位成同一個數(shù)據(jù)，如測試 數(shù)據(jù)為55555，把生成的測試地址按照一位熱碼方式進行測試。在一個實施例中，固定的測試數(shù)據(jù)為55，將第一位地址選為熱碼進行測試時， 如選擇00和10進行測試，即第二位不變。當對地址00進行測試時，如果兩個地址線均 連接正常，從存儲器490中讀取的數(shù)據(jù)應該均為55，則所述數(shù)據(jù)比較器420比較得到的 結(jié)果應該是相同的。而當一位地址線異常時，從存儲器490中得到的數(shù)據(jù)則不為55，所 述數(shù)據(jù)比較器420比較得到的結(jié)果不相同，此時表明存儲器490的連接有誤，發(fā)送錯誤信 息，停止測試。另一種測試方法是先固定地址數(shù)據(jù)，即將生成的地址定位為同一個地址，如 00，則測試數(shù)據(jù)按照一位熱碼方式進行測試，即數(shù)據(jù)生成器410在不同比較次數(shù)的測試 過程中，可以固定變化測試數(shù)據(jù)中的一位，而其它位的數(shù)據(jù)始終保持不變。如第一次生 成的測試數(shù)據(jù)為22，第二次變化第一位的數(shù)據(jù)后為32 (即第二位保持不變)，則第一次 測試比較測試數(shù)據(jù)22和存儲器490中讀取的數(shù)據(jù)，如果數(shù)據(jù)比較器420在兩次比較結(jié)構(gòu) 均有誤的話，則表明數(shù)據(jù)線連接有誤，停止測試，否則繼續(xù)對其他位進行一位熱碼方式 的測試，直到所有測試結(jié)果均正確，則發(fā)送成功信號，停止測試。。如果測試方式為數(shù)據(jù)測試，則將測試數(shù)據(jù)寫入到存儲器490中然后讀出來比較 結(jié)果。與傳統(tǒng)的內(nèi)建數(shù)據(jù)測試方式類似，但傳統(tǒng)的方法中的測試數(shù)據(jù)是不能變化的，即 電路固化成多少就是多少，不靈活。而本發(fā)明中的測試數(shù)據(jù)可以通過編程控制測試數(shù)據(jù) 的生成，比較靈活。
上述僅僅對連接方式的測試進行了兩種測試方法的描述，當然，在實際應用 中，還可以利用其他方式進行測試，只要利用寄存器組對數(shù)據(jù)生成方式和地址生成方式 分別進行不同的配置均屬于本發(fā)明保護的范圍。綜上所述，本發(fā)明通過測試儀對自檢測電路內(nèi)部的寄存器進行配置，按照所述 配置并通過編程以生成不同的測試數(shù)據(jù)和地址來進行對存儲器的測試，使其自檢測電路 的測試更加靈活。本發(fā)明還提供一種存儲器自檢測方法，其具體可參見圖5所示。圖5為本發(fā)明中存儲器自檢測方法的流程圖，其存儲器自檢測方法包括 步驟510，配置測試方式、地址范圍、地址生成方式以及數(shù)據(jù)生成方式。通常所述測 試方式包括連接測試和數(shù)據(jù)測試；所述地址范圍則一般根據(jù)所述存儲器中的行數(shù)、列數(shù) 和頁數(shù)進行配置，其也可以通過存儲器中的部分行數(shù)、部分列數(shù)和部分頁數(shù)進行配置以 得到一個較小的地址范圍，從而達到抽樣的測試目的；所述地址生成方式可以為一位熱 碼方式生成測試地址，也可以為多位熱碼方式生成測試地址，當然也可以通過其他的方 式生成測試地址；所述數(shù)據(jù)生成方式可以為一位熱碼方式生成測試數(shù)據(jù)，也可以為多位 熱碼方式生成測試數(shù)據(jù)，當然也可以通過其他方式生成測試數(shù)據(jù)。所述配置的測試方式、地址范圍、數(shù)據(jù)生成方式以及地址生成方式可以根據(jù)測 試方式而定，如可以根據(jù)存儲器的連接的實際情況選擇合適的連接測試方法。比如，在 連接測試時，可以固定數(shù)據(jù)，然后測試地址按照一位熱碼或多位熱碼變化生成以進行測 試；或固定地址，然后測試數(shù)據(jù)按照一位熱碼或多位熱碼變換生成以進行測試。當然， 在實際應用中，其還可以利用別的方式實現(xiàn)對測試地址和測試數(shù)據(jù)的配置。且在具體應 用中，可以根據(jù)存儲器的連接選擇不同的配置方式。步驟520，根據(jù)配置的測試方式、地址范圍、地址生成方式以及數(shù)據(jù)生成方式生 成一一對應的測試數(shù)據(jù)和測試地址，將所述測試數(shù)據(jù)方發(fā)送給所述存儲器中，將所述測 試地址與存儲器進行行列配置。步驟530，比較具有相同地址的測試數(shù)據(jù)和存儲器中讀取的數(shù)據(jù)。由上可知，所 述測試數(shù)據(jù)與生成的所述地址一一對應，輸入到存儲器中的數(shù)據(jù)域存儲器中的地址一一 對應，而生成的所述地址與存儲器進行了行列配置，所述理論上，在存儲器的連接以及 本身沒有問題時，比較所述測試數(shù)據(jù)和存儲器中相同地址的數(shù)據(jù)是相同的。通常，在進行測試時，需要進行多次測試，如果測試方式為連接測試時，則可 以通過兩種方式實現(xiàn)。一種方法是在多次測試時，均固定生成的測試數(shù)據(jù)，即每次數(shù)據(jù)均為一串相 同的數(shù)據(jù)，如55555，然后地址按照一位熱碼的方式生成，如在第一次測試時，生成的地 址為00000，在第二次測試時生成的地址為10000，即僅讓一位發(fā)生變化，而其他位保持 不變。這樣在進行比較時，如果比較的測試數(shù)據(jù)和存儲器中的數(shù)據(jù)在兩次比較中結(jié)果均 不同，則表示第一位地址線連接有誤，發(fā)送錯誤信號，并停止測試，否則直到地址線均 比較完畢，發(fā)送成功信號，停止測試。另一種方式是在多次測試時，均固定生成的地址，即每次生成的地址為相同 的地址，如000000，然后測試數(shù)據(jù)按照一位熱碼的方式生成，如在第一次測試時，生成 的數(shù)據(jù)為355555，第二次測試時，生成的數(shù)據(jù)為655555，即僅讓一位數(shù)據(jù)發(fā)生變化，而其他位保持不變。這樣在進行比較時，如果比較的測試數(shù)據(jù)和存儲器中的數(shù)據(jù)在兩次比 較中結(jié)果均相同，則表示連接正確，繼續(xù)比較其他數(shù)據(jù)直到所有數(shù)據(jù)比較結(jié)束均正確， 則發(fā)送成功信號，停止測試；否則表示連接錯誤，發(fā)送錯誤信號并停止測試。上述兩種方式分別對測試地址和測試數(shù)據(jù)進行一位熱碼的測試，在實際應用 中，還可以將測試地址和測試數(shù)據(jù)都按照多位碼變化的方式測試。根據(jù)所述數(shù)據(jù)生成方 式以及地址生成方式生成的所述測試數(shù)據(jù)和測試地址可以是多樣化的，并不僅僅局限于 一位熱碼或多位熱碼的生成方式，其具體的生產(chǎn)需要根據(jù)存儲器490的具體連接而定。 但只要是根據(jù)配置后的數(shù)據(jù)生成方式以及地址生成方式生成測試數(shù)據(jù)以及測試地址的方 法均屬于本發(fā)明的技術(shù)范圍。如果測試方式為數(shù)據(jù)測試，則將測試數(shù)據(jù)寫入到存儲器中然后讀出來比較結(jié) 果。與傳統(tǒng)的內(nèi)建數(shù)據(jù)測試方式類似，但傳統(tǒng)的方法中的測試數(shù)據(jù)是不能變化的，即電 路固化成多少就是多少，不靈活。而本發(fā)明中的測試數(shù)據(jù)可以通過編程控制測試數(shù)據(jù)的 生成，比較靈活。綜上所述，本發(fā)明通過對測試方式、測試數(shù)據(jù)的生成方式以及測試地址的生產(chǎn) 方式進行配置，可以根據(jù)測試方式靈活的得到需要的測試數(shù)據(jù)和測試地址已完成不同的 測試，使得所述存儲器的自檢測更加靈活多變，且提高了測試速度。上述說明已經(jīng)充分揭露了本發(fā)明的具體實施方式
。需要指出的是，熟悉該領域 的 技術(shù)人員對本發(fā)明的具體實施方式
所做的任何改動均不脫離本發(fā)明的權(quán)利要求書的范 圍。相應地，本發(fā)明的權(quán)利要求的范圍也并不僅僅局限于前述具體實施方式
。
權(quán)利要求
1.一種存儲器的自檢測電路，其包括數(shù)據(jù)生成器、數(shù)據(jù)比較器、地址生成器、地址 選擇器、寄存器組、控制信號發(fā)生器以及測試接口，其特征在于所述寄存器組中存有測試方式、地址范圍、地址生成方式以及數(shù)據(jù)生成方式，所述 控制信號發(fā)生器將生成的控制信號發(fā)送給所述數(shù)據(jù)生成器和地址生成器，所述數(shù)據(jù)生成 器按照所述數(shù)據(jù)生成方式生成測試數(shù)據(jù)并將所述測試數(shù)據(jù)發(fā)送給所述數(shù)據(jù)比較器和測試 接口，所述測試接口將所述測試數(shù)據(jù)存入存儲器中，所述地址生成器根據(jù)所述地址范圍 和地址方式生成測試地址并將所述測試地址發(fā)送給所述地址選擇器，所述地址選擇器根 據(jù)所述測試地址和所述存儲器中的地址進行匹配，所述測試接口根據(jù)所述寄存器組中的 測試方式以及測試地址從所述存儲器中讀取數(shù)據(jù)，所述數(shù)據(jù)比較器比較所述測試數(shù)據(jù)和 從測試接口讀取的數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲器的自檢測電路，其特征在于所述寄存器組中的測 試方式包括數(shù)據(jù)測試和連接測試。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的存儲器的自檢測電路，其特征在于當測試方式為連接測 試時，所述數(shù)據(jù)生成器均生成固定的測試數(shù)據(jù)，所述地址生成器在不同比較次數(shù)中按照 一位熱碼方式或多位熱碼方式生成不同的測試地址以進行測試；或所述地址生成器均生 成固定的測試地址，然后數(shù)據(jù)生成器在不同比較次數(shù)中按照一位熱碼方式或多位熱碼方 式生成不同的數(shù)據(jù)以進行測試；或地址生成器和數(shù)據(jù)生成器在不同比較次數(shù)中分別按照 多位熱碼方式生成不同的測試地址和測試數(shù)據(jù)以進行測試。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲器的自檢測電路，其特征在于所述寄存器組中的地 址范圍根據(jù)所述存儲器中的行數(shù)、列數(shù)和頁數(shù)進行配置，或根據(jù)存儲器中的部分行、部 分列和部分頁進行配置。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲器的自檢測電路，其特征在于所述數(shù)據(jù)生成器生成 的數(shù)據(jù)和所述地址生成器生成的測試地址一一映射。
6.—種存儲器的自檢測方法，其特征在于，其包括配置測試方式、地址范圍、地址生成方式以及數(shù)據(jù)生成方式；根據(jù)配置的測試方式、地址范圍、地址生成方式以及數(shù)據(jù)生成方式生成一一對應的 測試數(shù)據(jù)和測試地址，將測試數(shù)據(jù)發(fā)送給所述存儲器中，將測試地址與存儲器進行行列 匹配；比較具有相同地址的測試數(shù)據(jù)和存儲器中讀取的數(shù)據(jù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的存儲器的自檢測方法，其特征在于所述測試方式包括連 接測試和數(shù)據(jù)測試。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的存儲器的自檢測方法，其特征在于當測試方式為連接測 試時，均生成固定的測試數(shù)據(jù)，在不同比較次數(shù)中按照一位熱碼方式或多位熱碼方式生 成不同的測試地址；或均生成固定的測試地址，在不同比較次數(shù)中按照一位熱碼方式或 多位熱碼方式生成不同的測試數(shù)據(jù)。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的存儲器的自檢測方法，其特征在于當測試方式為連接測 試時，在不同比較次數(shù)中按照多位熱碼方式分別生成不同的測試數(shù)據(jù)和測試地址。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的存儲器的自檢測方法，其特征在于根據(jù)所述存儲器中數(shù) 據(jù)的行數(shù)、列數(shù)和頁數(shù)進行所述地址范圍的配置，或根據(jù)所述存儲器中數(shù)據(jù)的部分行、部分列和部分頁進行所述地址范圍的配置。
全文摘要
本發(fā)明提供一種存儲器的自檢測電路，其中所述寄存器組中存有測試方式、地址范圍、地址生成方式以及數(shù)據(jù)生成方式，所述控制信號發(fā)生器將生成的控制信號發(fā)送給所述數(shù)據(jù)生成器和地址生成器，所述數(shù)據(jù)生成器按照所述數(shù)據(jù)生成方式生成測試數(shù)據(jù)并將所述測試數(shù)據(jù)發(fā)送給所述數(shù)據(jù)比較器和測試接口，所述測試接口將所述測試數(shù)據(jù)存入存儲器中，所述地址生成器根據(jù)所述地址范圍和地址方式生成測試地址并將所述測試地址發(fā)送給所述地址選擇器，所述地址選擇器根據(jù)所述測試地址和所述存儲器中的地址進行匹配，所述測試接口根據(jù)所述寄存器組中的測試方式以及測試地址從所述存儲器中讀取數(shù)據(jù)，所述數(shù)據(jù)比較器比較所述測試數(shù)據(jù)和從測試接口讀取的數(shù)據(jù)。
文檔編號G11C29/18GK102013274SQ20101053984
公開日2011年4月13日 申請日期2010年11月10日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月10日
發(fā)明者董欣, 鄒楊 申請人:無錫中星微電子有限公司