專利名稱：光學(xué)拾取器及其制造方法和控制方法,以及光盤裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于針對(duì)諸如光盤之類的光學(xué)記錄介質(zhì)執(zhí)行信息的記錄和/或再現(xiàn) 的光學(xué)拾取器、使用該光學(xué)拾取器的光盤裝置、光學(xué)拾取器制造方法和光學(xué)拾取器控制方 法。
背景技術(shù)：
在現(xiàn)有技術(shù)中，具有CD (緊致盤)作為信息信號(hào)的記錄介質(zhì)，其使用具有約785nm 波長(zhǎng)的光束。此外，具有諸如DVD (數(shù)字萬(wàn)用盤)之類的光盤，其使用具有約660nm波長(zhǎng)的 光束。與CD相比，DVD實(shí)現(xiàn)了高密度記錄。此外，具有能夠進(jìn)行高密度記錄的光盤(此后， 稱為高密度記錄光盤)，其使用從藍(lán)紫色半導(dǎo)體激光器發(fā)射的具有約405nm波長(zhǎng)的光束來(lái) 執(zhí)行信號(hào)的記錄和/或再現(xiàn)，這與DVD相比實(shí)現(xiàn)了更高密度的記錄。作為這種高密度記錄 光盤，例如提出了諸如BD (藍(lán)光盤，其為注冊(cè)商標(biāo))之類的光盤，其具有用于保護(hù)其上記錄 信號(hào)的記錄層的薄保護(hù)層(覆層)。作為在用于將信息信號(hào)記錄到諸如BD之類的光盤上或使被記錄在光盤中的信息 信號(hào)再現(xiàn)的光學(xué)拾取器中使用的物鏡，考慮到塑料制成的物鏡與玻璃制成的物鏡相比在制 造性和輕重量方面占優(yōu)，塑料物鏡已經(jīng)得到了研究。塑料物鏡具有如下特性其折射率由于熱而顯著變化，并因此可以根據(jù)其使用的 環(huán)境而產(chǎn)生顯著不必要的像差。具體而言，在現(xiàn)有技術(shù)中與玻璃物鏡相比，在塑料物鏡中由 于溫度變化導(dǎo)致的球面像差的變化較為明顯，這導(dǎo)致記錄特性的劣化。因此，使用塑料物鏡的光學(xué)拾取器通常采用如下方法準(zhǔn)直透鏡在光軸方向上移 動(dòng)以產(chǎn)生倍率球面像差，從而對(duì)由于溫度變化引起的球面像差進(jìn)行校正。但是，在以此方式通過(guò)驅(qū)動(dòng)準(zhǔn)直透鏡來(lái)校正球面像差的情況下，存在如下問(wèn)題作 為由于倍率變化引起的副作用，由于透鏡傾斜引起的慧形像差的敏感度(此后稱為透鏡傾 斜慧形像差敏感度)顯著地變化。另一方面，在現(xiàn)有技術(shù)中的光學(xué)拾取器采用如下方法通過(guò)以靜態(tài)或動(dòng)態(tài)的方式 調(diào)節(jié)物鏡的傾斜度來(lái)校正由于物鏡或除物鏡以外的光學(xué)部件產(chǎn)生的慧形像差以及由于其 組裝精度產(chǎn)生的慧形像差。更具體而言，對(duì)保持物鏡的致動(dòng)器在傾斜方向上的傾斜度進(jìn)行 靜態(tài)或動(dòng)態(tài)的調(diào)節(jié)以執(zhí)行對(duì)這種初始慧形像差等的校正。在使用環(huán)境的溫度范圍內(nèi)，存在如上所述塑料物鏡的透鏡傾斜慧形像差敏感度根 據(jù)其材料或形狀而顯著變化的問(wèn)題，并且可以是在從0°c到約常溫的兩倍的狀況下。因此， 在低溫或高溫環(huán)境下，難以通過(guò)經(jīng)由致動(dòng)器驅(qū)動(dòng)調(diào)節(jié)傾斜度來(lái)校正慧形像差，因此盤記錄 特性會(huì)劣化。日本未經(jīng)審查的專利申請(qǐng)公開(kāi)2008-112575是現(xiàn)有技術(shù)的示例。

發(fā)明內(nèi)容
期望提供光學(xué)拾取器、光盤裝置、光學(xué)拾取器制造方法和光學(xué)拾取器控制方法，其中光學(xué)拾取器使用塑料物鏡來(lái)增強(qiáng)制造性和減輕重量，并減小由于環(huán)境溫度變化引起的慧 形像差以提高記錄和/或再現(xiàn)特性。
根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例，提供了一種光學(xué)拾取器，包括第一和第二物鏡，其 被配置為分別將具有不同波長(zhǎng)的光束聚焦到具有不同厚度的保護(hù)層的第一和第二光盤上； 慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過(guò)所述第一和/或第二物鏡的光束中產(chǎn)生慧形像差； 準(zhǔn)直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源與所述第一物鏡之間的光路上，并被配置 為變換經(jīng)過(guò)所述準(zhǔn)直透鏡的光束的發(fā)散角；以及準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動(dòng)單元，其被配置為使所述準(zhǔn) 直透鏡沿著光軸方向移動(dòng)，并改變進(jìn)入所述第一物鏡的光束的角度以校正球面像差，其中， 與所述第一物鏡對(duì)應(yīng)的所述第一光盤的保護(hù)層厚度小于與所述第二物鏡對(duì)應(yīng)的所述第二 光盤的保護(hù)層厚度；其中，所述第一物鏡在環(huán)境溫度是0°c至70°C、對(duì)應(yīng)的所述第一光盤的 保護(hù)層厚度是70 μ m至105 μ m、并且對(duì)應(yīng)的所述光束的波長(zhǎng)λ 1是398nm至414nm的條件 下滿足透鏡傾斜慧形像差靈敏度為0至0. 3[ λ rms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是 在通過(guò)使所述準(zhǔn)直透鏡移動(dòng)來(lái)校正所產(chǎn)生的球面像差的狀態(tài)下通過(guò)使所述第一物鏡傾斜 而在光束中產(chǎn)生的慧形像差的比率；其中，所述第一物鏡由塑料制成并被安裝為使得由將 所述光束導(dǎo)引到所述第一物鏡的導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)導(dǎo)引的所述光束的光軸與所述第一物鏡的 光軸基本一致；其中，所述光學(xué)拾取器相對(duì)于所述光盤以最優(yōu)地校正由于所述第一物鏡對(duì) 于所述第一光盤導(dǎo)致的初始慧形像差的角度傾斜；并且其中，當(dāng)再現(xiàn)所述第一光盤時(shí)，不使 用所述慧形像差產(chǎn)生單元，而當(dāng)再現(xiàn)所述第二光盤時(shí)，使用所述慧形像差產(chǎn)生單元以獲得 最優(yōu)再現(xiàn)環(huán)境。此外，根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)示例實(shí)施例，提供了一種光盤裝置，其包括通過(guò)將光束 發(fā)射到被驅(qū)動(dòng)而轉(zhuǎn)動(dòng)的光盤上來(lái)執(zhí)行信息信號(hào)的記錄和/或再現(xiàn)的光學(xué)拾取器。這里，所 述光學(xué)拾取器包括第一和第二物鏡，其被配置為分別將具有不同波長(zhǎng)的光束聚焦到具有 不同厚度的保護(hù)層的第一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過(guò)所述第一 和/或第二物鏡的光束中產(chǎn)生慧形像差；準(zhǔn)直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源 與所述第一及第二物鏡之間的光路上，并被配置為變換經(jīng)過(guò)所述準(zhǔn)直透鏡的光束的發(fā)散 角；以及準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動(dòng)單元，其被配置為使所述準(zhǔn)直透鏡沿著光軸方向移動(dòng)，并改變進(jìn)入 所述物鏡的光束的角度以校正球面像差，其中，與所述第一物鏡對(duì)應(yīng)的所述第一光盤的保 護(hù)層厚度小于與所述第二物鏡對(duì)應(yīng)的所述第二光盤的保護(hù)層厚度；其中，所述第一物鏡在 環(huán)境溫度是0°c至70°C、對(duì)應(yīng)的所述第一光盤的保護(hù)層厚度是70 μ m至105 μ m、并且對(duì)應(yīng) 的所述光束的波長(zhǎng)λ 1是398nm至414nm的條件下滿足透鏡傾斜慧形像差靈敏度為0至 0. 3[Xrms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通過(guò)使所述準(zhǔn)直透鏡移動(dòng)來(lái)校正所產(chǎn) 生的球面像差的狀態(tài)下通過(guò)使所述第一物鏡傾斜而在光束中產(chǎn)生的慧形像差的比率；其 中，所述第一物鏡由塑料制成并被安裝為使得由將所述光束導(dǎo)引到所述第一物鏡的導(dǎo)光光 學(xué)系統(tǒng)導(dǎo)引的所述光束的光軸與所述第一物鏡的光軸基本一致；其中，所述光學(xué)拾取器和 其上要安裝所述光盤的盤安裝單元中的至少一者傾斜，使得所述光學(xué)拾取器和安裝在所述 盤安裝單元上的所述光盤相對(duì)于彼此以最優(yōu)地校正由于所述第一物鏡對(duì)于所述第一光盤 導(dǎo)致的初始慧形像差的角度傾斜；并且其中，當(dāng)再現(xiàn)所述第一光盤時(shí)，不使用所述慧形像差 產(chǎn)生單元，而當(dāng)再現(xiàn)所述第二光盤時(shí)，使用所述慧形像差產(chǎn)生單元以獲得最優(yōu)再現(xiàn)環(huán)境。此外，根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)示例實(shí)施例，提供了一種制造光學(xué)拾取器的方法。這里，所述光學(xué)拾取器包括第一和第二物鏡，其被配置為分別將具有不同波長(zhǎng)的光束聚焦到具有不同厚度的保護(hù)層的第一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過(guò)所述 第一和/或第二物鏡的光束中產(chǎn)生慧形像差；準(zhǔn)直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的 光源與所述第一物鏡之間的光路上，并被配置為變換經(jīng)過(guò)所述準(zhǔn)直透鏡的光束的發(fā)散角； 以及準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動(dòng)單元，其被配置為使所述準(zhǔn)直透鏡沿著光軸方向移動(dòng)，并改變進(jìn)入所述 第一物鏡的光束的角度以校正球面像差，其中，與所述第一物鏡對(duì)應(yīng)的所述第一光盤的保 護(hù)層厚度小于與所述第二物鏡對(duì)應(yīng)的所述第二光盤的保護(hù)層厚度，并且其中，所述第一物 鏡在環(huán)境溫度是0°c至70°C、對(duì)應(yīng)的所述第一光盤的保護(hù)層厚度是70 μ m至105 μ m、并且 對(duì)應(yīng)的所述光束的波長(zhǎng)λ 1是398nm至414nm的條件下滿足透鏡傾斜慧形像差靈敏度為0 至0. 3[ λ rms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通過(guò)使所述準(zhǔn)直透鏡移動(dòng)來(lái)校正所 產(chǎn)生的球面像差的狀態(tài)下通過(guò)使所述第一物鏡傾斜而在光束中產(chǎn)生的慧形像差的比率。在 制造具有由塑料制成的所述第一物鏡的所述光學(xué)拾取器時(shí)，所述方法包括以下步驟將導(dǎo) 光光學(xué)系統(tǒng)安裝到基體構(gòu)件，所述導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)將所述光束導(dǎo)引到所述第一物鏡；將所述 第一物鏡保持于透鏡保持器，使得由所述導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)導(dǎo)引到所述第一物鏡的所述光束的 光軸與所述第一物鏡的光軸基本一致；調(diào)節(jié)所述光學(xué)拾取器，使得所述光學(xué)拾取器相對(duì)于 所述光盤以最優(yōu)地校正由于所述第一物鏡對(duì)于所述第一光盤導(dǎo)致的初始慧形像差的角度 傾斜；以及計(jì)算使用所述慧形像差產(chǎn)生單元最優(yōu)地校正由于所述第二物鏡對(duì)于所述第二光 盤導(dǎo)致的初始慧形像差的慧形像差校正量，并將計(jì)算得到的所述慧形像差校正量存儲(chǔ)在存 儲(chǔ)單元中。 此外，根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)示例實(shí)施例，提供了一種控制光學(xué)拾取器的方法。這 里，所述光學(xué)拾取器包括第一和第二物鏡，其被配置為分別將具有不同波長(zhǎng)的光束聚焦到 具有不同厚度的保護(hù)層的第一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過(guò)所述 第一和/或第二物鏡的光束中產(chǎn)生慧形像差；準(zhǔn)直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的 光源與所述第一物鏡之間的光路上，并被配置為變換經(jīng)過(guò)所述準(zhǔn)直透鏡的光束的發(fā)散角； 以及準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動(dòng)單元，其被配置為使所述準(zhǔn)直透鏡沿著光軸方向移動(dòng)，并改變進(jìn)入所述 第一物鏡的光束的角度以校正球面像差，其中，與所述第一物鏡對(duì)應(yīng)的所述第一光盤的保 護(hù)層厚度小于與所述第二物鏡對(duì)應(yīng)的所述第二光盤的保護(hù)層厚度；其中，所述第一物鏡在 環(huán)境溫度是0°c至70°C、對(duì)應(yīng)的所述第一光盤的保護(hù)層厚度是70 μ m至105 μ m、并且對(duì)應(yīng) 的所述光束的波長(zhǎng)λ 1是398nm至414nm的條件下滿足透鏡傾斜慧形像差靈敏度為0至 0. 3[Xrms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通過(guò)使所述準(zhǔn)直透鏡移動(dòng)來(lái)校正所產(chǎn) 生的球面像差的狀態(tài)下通過(guò)使所述第一物鏡傾斜而在光束中產(chǎn)生的慧形像差的比率；并且 其中，所述第一物鏡由塑料制成并被安裝為使得由將所述光束導(dǎo)引到所述第一物鏡和所述 第二物鏡的導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)導(dǎo)引的所述光束的光軸與所述第一物鏡的光軸基本一致。在控制 所述光學(xué)拾取器使得所述光學(xué)拾取器相對(duì)于所述光盤以最優(yōu)地校正由于所述第一物鏡對(duì) 于所述第一光盤導(dǎo)致的初始慧形像差的角度傾斜時(shí)，所述方法包括以下步驟識(shí)別所安裝 的光盤的類型；當(dāng)通過(guò)所述識(shí)別步驟識(shí)別出所述光盤是所述第一光盤時(shí)，在不使用所述慧 形像差產(chǎn)生單元的情況下對(duì)于所述第一光盤執(zhí)行信息信號(hào)的再現(xiàn)；以及當(dāng)通過(guò)所述識(shí)別步 驟識(shí)別出所述光盤是所述第二光盤時(shí)，使用所述慧形像差產(chǎn)生單元來(lái)對(duì)于所述第二光盤執(zhí) 行信息信號(hào)的再現(xiàn)。
此外，根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)示例實(shí)施例，提供了一種光學(xué)拾取器，包括單個(gè)物鏡， 其被配置為分別將具有不同波長(zhǎng)的光束聚焦到具有不同厚度的保護(hù)層的第一和第二光盤 上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過(guò)所述物鏡的光束中產(chǎn)生慧形像差；準(zhǔn)直透鏡，其 被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源與所述物鏡之間的光路上，并被配置為變換經(jīng)過(guò)所述準(zhǔn) 直透鏡的光束的發(fā)散角；以及準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動(dòng)單元，其被配置為使所述準(zhǔn)直透鏡沿著光軸方 向移動(dòng)，并改變進(jìn)入所述第一物鏡的光束的角度以校正球面像差，其中，所述第一光盤的保 護(hù)層厚度小于所述第二光盤的保護(hù)層厚度；其中，所述物鏡在環(huán)境溫度是0°c至70°C、對(duì)應(yīng) 的所述第一光盤的保護(hù)層厚度是70 y m至105 y m、并且與所述第一光盤對(duì)應(yīng)的所述光束的 波長(zhǎng)入1是398nm至414nm的條件下滿足透鏡傾斜慧形像差靈敏度為0至0. 3 [入rms/° ]， 所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通過(guò)使所述準(zhǔn)直透鏡移動(dòng)來(lái)校正所產(chǎn)生的球面像差的 狀態(tài)下通過(guò)使所述物鏡傾斜而在光束中產(chǎn)生的慧形像差的比率；其中，所述物鏡由塑料制 成并被安裝為使得由將所述光束導(dǎo)引到所述物鏡的導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)導(dǎo)引的所述光束的光軸 與所述物鏡的光軸基本一致；其中，所述光學(xué)拾取器相對(duì)于所述光盤以最優(yōu)地校正由于所 述物鏡對(duì)于所述第一光盤導(dǎo)致的初始慧形像差的角度傾斜；并且其中，當(dāng)再現(xiàn)所述第一光 盤時(shí)，不使用所述慧形像差產(chǎn)生單元，而當(dāng)再現(xiàn)所述第二光盤時(shí)，使用所述慧形像差產(chǎn)生單 元以獲得最優(yōu)再現(xiàn)環(huán)境。此外，根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)示例實(shí)施例，提供了一種光盤裝置，其包括通過(guò)將光束 發(fā)射到被驅(qū)動(dòng)而轉(zhuǎn)動(dòng)的光盤上來(lái)執(zhí)行信息信號(hào)的記錄和/或再現(xiàn)的光學(xué)拾取器。這里，所 述光學(xué)拾取器包括單個(gè)物鏡，其被配置為分別將具有不同波長(zhǎng)的光束聚焦到具有不同厚 度的保護(hù)層的第一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過(guò)所述物鏡的光束 中產(chǎn)生慧形像差；準(zhǔn)直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源與所述物鏡之間的光路 上，并被配置為變換經(jīng)過(guò)所述準(zhǔn)直透鏡的光束的發(fā)散角；以及準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動(dòng)單元，其被配 置為使所述準(zhǔn)直透鏡沿著光軸方向移動(dòng)，并改變進(jìn)入所述物鏡的光束的角度以校正球面像 差，其中，所述第一光盤的保護(hù)層厚度小于所述第二光盤的保護(hù)層厚度；其中，所述物鏡在 環(huán)境溫度是0°c至70°C、對(duì)應(yīng)的所述第一光盤的保護(hù)層厚度是70 i! m至105 i! m、并且與所述 第一光盤對(duì)應(yīng)的所述光束的波長(zhǎng)\ 1是398nm至414nm的條件下滿足透鏡傾斜慧形像差靈 敏度為0至0. 3[ X rms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通過(guò)使所述準(zhǔn)直透鏡移動(dòng) 來(lái)校正所產(chǎn)生的球面像差的狀態(tài)下通過(guò)使所述物鏡傾斜而在光束中產(chǎn)生的慧形像差的比 率；其中，所述物鏡由塑料制成并被安裝為使得由將所述光束導(dǎo)引到所述物鏡的導(dǎo)光光學(xué) 系統(tǒng)導(dǎo)引的所述光束的光軸與所述物鏡的光軸基本一致；其中，所述光學(xué)拾取器和其上要 安裝所述光盤的盤安裝單元中的至少一者傾斜，使得所述光學(xué)拾取器和安裝在所述盤安裝 單元上的所述光盤相對(duì)于彼此以最優(yōu)地校正由于所述物鏡對(duì)于所述第一光盤導(dǎo)致的初始 慧形像差的角度傾斜；并且其中，當(dāng)再現(xiàn)所述第一光盤時(shí)，不使用所述慧形像差產(chǎn)生單元， 而當(dāng)再現(xiàn)所述第二光盤時(shí)，使用所述慧形像差產(chǎn)生單元以獲得最優(yōu)再現(xiàn)環(huán)境。此外，根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)示例實(shí)施例，提供了一種制造光學(xué)拾取器的方法。這 里，所述光學(xué)拾取器包括單個(gè)物鏡，其被配置為分別將具有不同波長(zhǎng)的光束聚焦到具有不 同厚度的保護(hù)層的第一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過(guò)所述物鏡的 光束中產(chǎn)生慧形像差；準(zhǔn)直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源與所述物鏡之間的 光路上，并被配置為變換經(jīng)過(guò)所述準(zhǔn)直透鏡的光束的發(fā)散角；以及準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動(dòng)單元，其被配置為使所述準(zhǔn)直透鏡沿著光軸方向移動(dòng)，并改變進(jìn)入所述物鏡的光束的角度以校正球面 像差，其中，所述第一光盤的保護(hù)層厚度小于所述第二光盤的保護(hù)層厚度，并且其中，所述 物鏡在環(huán)境溫度是0°c至70°C、對(duì)應(yīng)的所述第一光盤的保護(hù)層厚度是70 i! m至105 i! m、并 且與所述第一光盤對(duì)應(yīng)的所述光束的波長(zhǎng)\ 1是398nm至414nm的條件下滿足透鏡傾斜 慧形像差靈敏度為0至0. 3[ X rms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通過(guò)使所述準(zhǔn) 直透鏡移動(dòng)來(lái)校正所產(chǎn)生的球面像差的狀態(tài)下通過(guò)使所述物鏡傾斜而在光束中產(chǎn)生的慧 形像差的比率。在制造具有由塑料制成的所述物鏡的所述光學(xué)拾取器時(shí)，所述方法包括以 下步驟將導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)安裝到基體構(gòu)件，所述導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)將所述光束導(dǎo)引到所述物鏡； 將所述物鏡保持于透鏡保持器，使得由所述導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)導(dǎo)引到所述物鏡的所述光束的光 軸與所述物鏡的光軸基本一致；調(diào)節(jié)所述光學(xué)拾取器，使得所述光學(xué)拾取器相對(duì)于所述光 盤以最優(yōu)地校正由于所述物鏡對(duì)于所述第一光盤導(dǎo)致的初始慧形像差的角度傾斜；以及計(jì) 算使用所述慧形像差產(chǎn)生單元最優(yōu)地校正由于所述物鏡對(duì)于所述第二光盤導(dǎo)致的初始慧 形像差的慧形像差校正量，并將計(jì)算得到的所述慧形像差校正量存儲(chǔ)在存儲(chǔ)單元中。此外，根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)示例實(shí)施例，提供了一種控制光學(xué)拾取器的方法。這 里，所述光學(xué)拾取器包括單個(gè)物鏡，其被配置為分別將具有不同波長(zhǎng)的光束聚焦到具有不 同厚度的保護(hù)層的第一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過(guò)所述物鏡的 光束中產(chǎn)生慧形像差；準(zhǔn)直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源與所述物鏡之間的 光路上，并被配置為變換經(jīng)過(guò)所述準(zhǔn)直透鏡的光束的發(fā)散角；以及準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動(dòng)單元，其被 配置為使所述準(zhǔn)直透鏡沿著光軸方向移動(dòng)，并改變進(jìn)入所述物鏡的光束的角度以校正球面 像差，其中，所述第一光盤的保護(hù)層厚度小于所述第二光盤的保護(hù)層厚度；其中，所述物鏡 在環(huán)境溫度是0°c至70°C、對(duì)應(yīng)的所述第一光盤的保護(hù)層厚度是70 i! m至105 i! m、并且與所 述第一光盤對(duì)應(yīng)的所述光束的波長(zhǎng)\ 1是398nm至414nm的條件下滿足透鏡傾斜慧形像差 靈敏度為0至0. 3 [ X rms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通過(guò)使所述準(zhǔn)直透鏡移 動(dòng)來(lái)校正所產(chǎn)生的球面像差的狀態(tài)下通過(guò)使所述物鏡傾斜而在光束中產(chǎn)生的慧形像差的 比率；并且其中，所述物鏡由塑料制成并被安裝為使得由將所述光束導(dǎo)引到所述物鏡的導(dǎo) 光光學(xué)系統(tǒng)導(dǎo)引的所述光束的光軸與所述物鏡的光軸基本一致。在控制所述光學(xué)拾取器使 得所述光學(xué)拾取器相對(duì)于所述光盤以最優(yōu)地校正由于所述物鏡對(duì)于所述第一光盤的導(dǎo)致 的初始慧形像差的角度傾斜時(shí)，所述方法包括以下步驟識(shí)別所安裝的光盤的類型；當(dāng)通 過(guò)所述識(shí)別步驟識(shí)別出所述光盤是所述第一光盤時(shí)，在不使用所述慧形像差產(chǎn)生單元的情 況下對(duì)于所述第一光盤執(zhí)行信息信號(hào)的再現(xiàn)；以及當(dāng)通過(guò)所述識(shí)別步驟識(shí)別出所述光盤是 所述第二光盤時(shí)，使用所述慧形像差產(chǎn)生單元來(lái)對(duì)于所述第二光盤執(zhí)行信息信號(hào)的再現(xiàn)。根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，物鏡由塑料制成以增強(qiáng)制造性和減輕重量，并且減小了由 于環(huán)境溫度變化引起的慧形像差以改善記錄和/或再現(xiàn)特性。


圖1是圖示根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光盤裝置的框圖；圖2是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光學(xué)拾取器的立體圖；圖3是圖示根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例保持被包括在光學(xué)拾取器中的物鏡的透鏡保持 器和支撐透鏡保持器的支撐體的平面圖4是圖示根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例被包括在光學(xué)拾取器中的光學(xué)系統(tǒng)的平面圖；圖5是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光學(xué)拾取器的剖視圖，其示意性地圖示了被包括在 光學(xué)拾取器中的第一光學(xué)系統(tǒng)的一部分；圖6A和6B是圖示根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例被包括在光學(xué)拾取器中的第一物鏡與第一 導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)之間的關(guān)系，其中圖6A是圖示第一物鏡的光軸和第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)的光軸 被布置為彼此一致的狀態(tài)的圖，圖6B是圖示在用于與本實(shí)施例比較的比較示例中，第一物 鏡的光軸和第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)的光軸被布置為彼此傾斜的狀態(tài)的圖；圖7是圖示以相對(duì)于光盤的相對(duì)角度調(diào)節(jié)根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光學(xué)拾取器的 狀態(tài)的圖；圖8是圖示在根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光學(xué)拾取器如圖6A和圖7所示構(gòu)造的情況 下當(dāng)使用第二物鏡是由物鏡驅(qū)動(dòng)單元在傾斜方向上驅(qū)動(dòng)第二物鏡的狀態(tài)的圖；圖9A-9B是圖示當(dāng)將光學(xué)拾取器中包括的第一和第二物鏡安裝在透鏡保持器中 時(shí)使慧形像差朝向徑向配置的平面圖；圖10是圖示根據(jù)環(huán)境溫度變化來(lái)改變透鏡傾斜慧形像差靈敏度的狀態(tài)的圖，其 圖示了在常溫以及高溫和低溫環(huán)境下所產(chǎn)生的慧形像差量相對(duì)于透鏡傾斜量的關(guān)系；圖11是圖示根據(jù)光學(xué)拾取器與光盤之間的相對(duì)傾斜角度改變慧形像差量的狀態(tài) 的圖，其圖示了所產(chǎn)生的慧形像差量相對(duì)于盤傾斜量的關(guān)系；圖12是光盤裝置的立體圖，用于圖示用于調(diào)節(jié)根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光學(xué)拾取 器的偏斜的偏斜調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)；圖13是用于將在根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光學(xué)拾取器中由于溫度變化引起的慧形 像差的改變與如圖6B所示調(diào)節(jié)的現(xiàn)有技術(shù)中的光學(xué)拾取器進(jìn)行比較，其圖示了最優(yōu)盤傾 斜量相對(duì)于溫度變化而產(chǎn)生的變化；圖14A至14C是圖示在根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光學(xué)拾取器中包括的第一和第二 物鏡的光束經(jīng)過(guò)區(qū)域中產(chǎn)生的溫度梯度的圖，其中圖14A是圖示在物鏡和透鏡保持器的區(qū) 域中的溫度分布的立體圖；圖14B是圖示在物鏡和透鏡保持器的區(qū)域中的溫度分布的平面 圖；并且圖14C圖示了在透鏡保持器的區(qū)域的截面位置中的溫度變化，其中縱軸表示在經(jīng) 過(guò)第一和第二物鏡的光軸的直線上的徑向位置，而橫軸表示溫度；圖15A至15C是用于圖示線圈電流量與慧形像差之間的關(guān)系的圖，其中圖15A圖 示了線圈電流量機(jī)器頻率，圖15B圖示了線圈電流量與慧形像差之間的關(guān)系，并且圖15C圖 示了慧形像差及其頻率；圖16A和16B是用于圖示在根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光學(xué)拾取器中的各個(gè)物鏡的安 裝方向的圖，其中圖16A圖示了各個(gè)物鏡被安裝為使得在各個(gè)物鏡中產(chǎn)生的各種慧形像差 指向徑向的狀態(tài)，并且圖16B圖示了根據(jù)光學(xué)拾取器和光盤的相對(duì)角度的調(diào)節(jié)來(lái)減小第一 光盤的電流慧形像差和第三光盤的離軸慧形像差的狀態(tài)；圖17A至17D是用于圖示計(jì)算在根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光學(xué)拾取器中、在使用第 一和第二物鏡的各個(gè)情況下使慧形像差減小的最優(yōu)相對(duì)角度的方法的圖，其中圖光線17a 圖示了通過(guò)圖17B中的測(cè)量裝置獲得的分布，圖17B圖示了包括干涉儀或波前傳感器的測(cè) 量裝置，而圖17C圖示了通過(guò)圖17D中的測(cè)量裝置獲得的分布，圖17D圖示了對(duì)光點(diǎn)進(jìn)行監(jiān) 控的測(cè)量裝置；
圖18是用于圖示計(jì)算在根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光學(xué)拾取器中、在使用第一和第 二物鏡的各個(gè)情況下使慧形像差減小的最優(yōu)相對(duì)角度的方法的圖，其圖示了波動(dòng)、RF幅值、 TE幅值和誤差率；圖19是用于圖示根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光學(xué)拾取器的制造方法的流程圖；圖20是用于圖示根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光學(xué)拾取器的控制方法的記錄和/或再 現(xiàn)方法的流程圖；圖21是圖示根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例的光學(xué)拾取器中包括的光學(xué)系統(tǒng)的平面 圖；圖22是圖示在圖21的光學(xué)拾取器中包括的物鏡的示例的剖視圖；圖23A至23C是用于圖示在圖21的光學(xué)拾取器中包括的物鏡與導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)之 間的關(guān)系的圖，其中圖23A圖示了物鏡的光軸和導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)的光軸彼此一致的狀態(tài)，圖 23B圖示了以相對(duì)于光盤的相對(duì)角度調(diào)節(jié)光學(xué)拾取器的狀態(tài)，并且圖23C圖示了在對(duì)于第 一波長(zhǎng)如圖23A和圖23B所示構(gòu)造關(guān)系的情況下，當(dāng)使用第二波長(zhǎng)等時(shí)由物鏡驅(qū)動(dòng)單元沿 著傾斜方向驅(qū)動(dòng)物鏡的狀態(tài)；并且圖24是圖示在根據(jù)本發(fā)明的又一實(shí)施例的光學(xué)拾取器中包括的光學(xué)系統(tǒng)的平面 圖。
具體實(shí)施例方式以下將按照以下順序參照附圖來(lái)說(shuō)明根據(jù)
具體實(shí)施例方式1.光盤裝置的總體構(gòu)造2.光學(xué)拾取器的總體構(gòu)造(第一實(shí)施例)3.物鏡的透鏡傾斜慧形像差敏感度的溫度特性4.初始慧形像差的校正5.光學(xué)拾取器的相對(duì)于光盤的相對(duì)角度調(diào)節(jié)6.光學(xué)拾取器的作用和效果7.物鏡的慧形像差的方向和安裝方向8.光學(xué)拾取器的制造方法9.光學(xué)拾取器的控制方法10.光學(xué)拾取器的另一示例(第二實(shí)施例)11.光學(xué)拾取器的又一示例(第三實(shí)施例)12.光盤裝置的效果1.光盤裝置的總體構(gòu)造此后，將參照

使用根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光學(xué)拾取器的光盤裝置。如圖1所示，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光盤裝置1包括光學(xué)拾取器3，其對(duì)光盤2執(zhí) 行信息的記錄和/或再現(xiàn)；以及芯軸電動(dòng)機(jī)光線4，其是用于使光盤2轉(zhuǎn)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)單元。此 外，光盤裝置1包括進(jìn)給電動(dòng)機(jī)5，其使光學(xué)拾取器3在光盤2的徑向上進(jìn)給。光盤裝置1 是能夠針對(duì)其中層疊有不同格式的記錄層的三種光盤類型進(jìn)行記錄和/或再現(xiàn)的、實(shí)現(xiàn)三 種標(biāo)準(zhǔn)之間的兼容的光盤裝置。上述光盤2是能夠使用具有約405nm波長(zhǎng)(藍(lán)紫色)的半導(dǎo)體激光器作為光源進(jìn)行高密度記錄的諸如BD (藍(lán)光盤(注冊(cè)商標(biāo)))之類的高密度記錄第一光盤11。第一光盤11具有約IOOym的覆層(稱為“保護(hù)層”)并受到約400至410nm的第一波長(zhǎng)的光束通過(guò) 覆層進(jìn)行的照射。第一光盤包括具有單個(gè)記錄層的光盤(覆層的厚度約100 μ m)和具有 兩個(gè)記錄層的所謂雙層光盤，并還可以包括多個(gè)記錄層。在雙層光盤的情況下，記錄層LO 的覆層的厚度是約100 μ m,并且記錄層Ll的覆層的厚度是約75 μ m。此外，光盤2是使用約655nm波長(zhǎng)的半導(dǎo)體激光器作為光源的諸如DVD (數(shù)字萬(wàn)用 盤)、DVD-R(可記錄)、DVD-RW(可復(fù)寫)或DVD+RW(可復(fù)寫)之類的第二光盤12。第二光 盤12具有約0. 6mm的覆層，并受到約650至660nm的第二波長(zhǎng)的光束通過(guò)覆層進(jìn)行的照射。 多個(gè)記錄層可以安裝在第二光盤12中。此外，光盤2是使用約785nm波長(zhǎng)的半導(dǎo)體激光器作為光源的諸如⑶(緊致盤)、 ⑶-R(可記錄)或⑶-RW(可復(fù)寫)之類的第三光盤13。第三光盤13具有約1.2mm的覆層， 并受到約760至SOOnm的第二波長(zhǎng)的光束通過(guò)覆層進(jìn)行的照射。此后，將并不特定為第一至第三光盤11、12和13的光盤簡(jiǎn)稱為光盤2。在光盤裝置1中，由基于來(lái)自系統(tǒng)控制器7 (其是盤類型識(shí)別單元)的命令受到控 制的伺服控制單元9根據(jù)盤的類型來(lái)驅(qū)動(dòng)芯軸電動(dòng)機(jī)4和進(jìn)給電動(dòng)機(jī)5。根據(jù)例如第一光 盤11、第二光盤12和第三光盤13來(lái)以預(yù)定的轉(zhuǎn)數(shù)驅(qū)動(dòng)芯軸電動(dòng)機(jī)4和進(jìn)給電動(dòng)機(jī)5。光學(xué)拾取器3是具有兼容三種波長(zhǎng)的光學(xué)系統(tǒng)的光學(xué)拾取器，并且用具有不同補(bǔ) 償?shù)墓馐ㄟ^(guò)光盤的保護(hù)層來(lái)照射具有不同標(biāo)準(zhǔn)的光盤的記錄層。光學(xué)拾取器3檢測(cè)來(lái)自 記錄層的光束的反射光。光學(xué)拾取器3根據(jù)檢測(cè)到的反射光來(lái)輸出與各光束對(duì)應(yīng)的信號(hào)。光盤裝置1包括基于從光學(xué)拾取器3輸出的信號(hào)來(lái)產(chǎn)生聚焦誤差信號(hào)、尋軌誤差 信號(hào)和RF信號(hào)等的前置放大器14。此外，光盤裝置1包括用于對(duì)來(lái)自前置放大器14的信 號(hào)進(jìn)行解調(diào)或?qū)?lái)自外部計(jì)算機(jī)17等的信號(hào)進(jìn)行調(diào)制的信號(hào)調(diào)制解調(diào)器以及誤差校正編 碼模塊(此后，稱為信號(hào)調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊)15。此外，光盤裝置1包括接口 16、D/A及 A/D轉(zhuǎn)換器18、音視頻處理單元19、以及音視頻信號(hào)輸入輸出單元20。前置放大器14基于從光電檢測(cè)器輸出的信號(hào)使用象散法來(lái)產(chǎn)生聚焦誤差信號(hào)， 并還使用三光束法、DPD、DPP等來(lái)產(chǎn)生尋軌誤差信號(hào)。此外，前置放大器14產(chǎn)生RF信號(hào)并 將RF信號(hào)輸出到信號(hào)調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15。此外，前置放大器14將聚焦誤差信號(hào)和尋 軌誤差信號(hào)輸出到伺服控制單元9。當(dāng)針對(duì)第一光盤11執(zhí)行數(shù)據(jù)記錄時(shí)，信號(hào)調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15對(duì)從接口 16或 D/A及A/D轉(zhuǎn)換器18輸出的數(shù)字信號(hào)進(jìn)行如下處理。即，當(dāng)針對(duì)第一光盤第一光盤11記錄 數(shù)據(jù)時(shí)，信號(hào)調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15通過(guò)諸如LDC-ECC和BIS之類的誤差校正方法對(duì)所 輸入的數(shù)字信號(hào)進(jìn)行誤差校正處理。然后，信號(hào)調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15執(zhí)行諸如1-7PP 之類的調(diào)制處理。而且，當(dāng)針對(duì)第二光盤12記錄數(shù)據(jù)時(shí)，信號(hào)調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15根 據(jù)諸如PC (乘積碼)之類的誤差校正方法執(zhí)行誤差校正處理，并接著執(zhí)行諸如8-16調(diào)制之 類的調(diào)制處理。此外，當(dāng)針對(duì)第三光盤13記錄數(shù)據(jù)時(shí)，信號(hào)調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15根據(jù) 諸如CIRC之類的誤差校正方法執(zhí)行誤差校正處理，并接著執(zhí)行諸如8-14調(diào)制之類的調(diào)制 處理。此外，信號(hào)調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15向激光器控制單元21輸出調(diào)制數(shù)據(jù)。此外，當(dāng) 針對(duì)各光盤執(zhí)行再現(xiàn)時(shí)，信號(hào)調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15基于從前置放大器14輸入的RF信 號(hào)來(lái)執(zhí)行與調(diào)制方法相對(duì)應(yīng)的解調(diào)處理。此外，信號(hào)調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15執(zhí)行誤差校正處理以將數(shù)據(jù)輸出到接口 16或D/A及A/D轉(zhuǎn)換器18。當(dāng)通過(guò)數(shù)據(jù)壓縮記錄數(shù)據(jù)時(shí)，可以在信號(hào)調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15與接口16或D/ A及A/D轉(zhuǎn)換器18之間安裝壓縮解壓?jiǎn)卧?。在此情況下，通過(guò)MPEG2或MPEG4來(lái)壓縮數(shù)據(jù)。聚焦誤差信號(hào)或?qū)ぼ壵`差信號(hào)從前置放大器14輸入到伺服控制單元9。伺服控 制單元9產(chǎn)生聚焦伺服信號(hào)或?qū)ぼ壦欧盘?hào)使得聚焦誤差信號(hào)或?qū)ぼ壵`差信號(hào)變?yōu)?，并 基于伺服信號(hào)控制用于驅(qū)動(dòng)物鏡的諸如雙軸致動(dòng)器之類的物鏡驅(qū)動(dòng)單元。此外，通過(guò)來(lái)自 前置放大器14的輸出來(lái)檢測(cè)同步信號(hào)等，并因此借助于CLV (恒定線速度)、CAV (恒定角速 度)或其組合來(lái)伺服控制芯軸電動(dòng)機(jī)。激光器控制單元21控制光學(xué)拾取器3的激光源。具體而言，在具體示例中，激光 器控制單元21執(zhí)行控制使得激光源的輸出功率在記錄模式和再現(xiàn)模式下不同。此外，激光 器控制單元21執(zhí)行控制使得根據(jù)光盤2的類型改變激光源的輸出功率。激光器控制單元 21根據(jù)由盤類型識(shí)別單元22檢測(cè)到的光盤2的類型切換光學(xué)拾取器3的激光源。盤類型識(shí)別單元22可以檢測(cè)第一光盤11、第二光盤12和第三光盤13之間來(lái)自表 面反射的反射光量的變化、形狀和外觀的區(qū)別等，并可以檢測(cè)光盤2的不同格式。用于形成光盤裝置1的每個(gè)模塊被配置為使得根據(jù)盤類型識(shí)別單元22中的檢測(cè) 結(jié)果來(lái)執(zhí)行基于被安裝的光盤2的規(guī)格進(jìn)行的信號(hào)處理。系統(tǒng)控制器7根據(jù)盤類型識(shí)別單元22中識(shí)別的光盤2的類型來(lái)控制整個(gè)裝置。 此外，系統(tǒng)控制器7基于位于光盤的最內(nèi)圈的預(yù)主凹坑或槽中記錄的地址信息或內(nèi)容表 (TOC)、根據(jù)來(lái)自用戶的操作輸入來(lái)控制各部分。即，系統(tǒng)控制器7基于上述信息來(lái)指定光 盤的記錄位置或再現(xiàn)位置以用于執(zhí)行記錄和再現(xiàn)，并根據(jù)指定位置控制各部分。具有這種構(gòu)造的光盤裝置1通過(guò)芯軸電動(dòng)機(jī)4使光盤2轉(zhuǎn)動(dòng)。此外，光盤裝置1 根據(jù)來(lái)自伺服控制單元9的控制信號(hào)來(lái)控制進(jìn)給電動(dòng)機(jī)5的驅(qū)動(dòng)，并將光學(xué)拾取器3移動(dòng) 到與光盤2的期望記錄軌道相對(duì)應(yīng)的位置，來(lái)因而針對(duì)光盤2執(zhí)行信息的記錄和再現(xiàn)。具體而言，當(dāng)由光盤裝置1執(zhí)行信息的記錄和再現(xiàn)時(shí)，伺服控制單元9借助于CAV 或CLV或其組合來(lái)使光盤2轉(zhuǎn)動(dòng)。光學(xué)拾取器3通過(guò)其光源發(fā)射光束并通過(guò)其光電檢測(cè)器 檢測(cè)從光盤2返回的光束，并產(chǎn)生聚焦誤差信號(hào)或?qū)ぼ壵`差信號(hào)。此外，光學(xué)拾取器3基于 聚焦誤差信號(hào)或?qū)ぼ壵`差信號(hào)來(lái)由物鏡驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)物鏡，以執(zhí)行聚焦伺服和尋軌伺服。此外，當(dāng)由光盤裝置1記錄信息時(shí)，來(lái)自外部計(jì)算機(jī)17的信號(hào)通過(guò)接口 16輸入到 信號(hào)調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15。信號(hào)調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15將上述預(yù)定的誤差校正編碼 添加到從接口 16或D/A及A/D轉(zhuǎn)換器18輸入的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)，并執(zhí)行預(yù)定的調(diào)制處理以接著 產(chǎn)生記錄信號(hào)。激光器控制單元21基于在信號(hào)調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15中產(chǎn)生的記錄信 號(hào)來(lái)控制光學(xué)拾取器3的激光源，以在預(yù)定光盤中記錄信息。此外，當(dāng)由光盤裝置1再現(xiàn)光盤2中記錄的信息時(shí)，信號(hào)調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15 對(duì)由光電檢測(cè)器檢測(cè)到的信號(hào)執(zhí)行解調(diào)處理。如果由信號(hào)調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15解調(diào)得 到的記錄信號(hào)被用于計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，則記錄信號(hào)通過(guò)接口 16輸出到外部計(jì)算機(jī)17。因 此，外部計(jì)算機(jī)17可以基于光盤2中記錄的信號(hào)進(jìn)行操作。此外，如果由信號(hào)調(diào)制解調(diào)器 &ECC模塊15解調(diào)的記錄信號(hào)被用于音視頻，則記錄信號(hào)在D/A及A/D轉(zhuǎn)換器18中從數(shù)字 轉(zhuǎn)換為模擬，以供應(yīng)到音視頻處理單元19。在音視頻處理單元19中執(zhí)行音視頻處理，并通 過(guò)音視頻信號(hào)輸入輸出單元20輸出到外部揚(yáng)聲器或監(jiān)視器(未示出)。
2.光學(xué)拾取器的總體構(gòu)造(第一實(shí)施例)接著，將相機(jī)說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光學(xué)拾取器3。此后，光學(xué)拾取器3針對(duì) 三種類型的光盤11、12和13執(zhí)行信息信號(hào)的記錄或再現(xiàn)，但是這不是限制性的，而是被用 作示例。例如，可以針對(duì)兩種不同類型的光盤11和12執(zhí)行記錄和再現(xiàn)。 根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光學(xué)拾取器3包括第一和第二光源31和32，第一和第二光 源31和32包括發(fā)射具有上述不同波長(zhǎng)的多種光束的半導(dǎo)體激光器等。此外，光學(xué)拾取器 3包括作為對(duì)從光盤2的信號(hào)記錄表面反射的反射光束進(jìn)行檢測(cè)的光檢測(cè)元件的光電二極 管。此外，光學(xué)拾取器3包括將來(lái)自第一和第二光源31和32的光束導(dǎo)引到光盤2并將在 光盤2中反射的光束導(dǎo)引到光檢測(cè)元件的光學(xué)系統(tǒng)。這里，第一光源31包括發(fā)射具有第一波長(zhǎng)的光束的發(fā)光單元，第一波長(zhǎng)是與第一 光盤11對(duì)應(yīng)的約405nm的設(shè)計(jì)波長(zhǎng)。第二光源32包括發(fā)射具有第二波長(zhǎng)的光束的發(fā)光單 元，第二波長(zhǎng)是與第二光盤12對(duì)應(yīng)的約655nm的設(shè)計(jì)波長(zhǎng)。此外，第二光源32包括發(fā)射具 有第三波長(zhǎng)的光束的發(fā)光單元，第三波長(zhǎng)是與第三光盤13對(duì)應(yīng)的約785nm的設(shè)計(jì)波長(zhǎng)。在 第二光源32中，第二波長(zhǎng)發(fā)光單元和第三波長(zhǎng)發(fā)光單元在與將在下文說(shuō)明的第二物鏡34 的慧形像差的方向?qū)?yīng)的方向上并行布置。如圖2所示，光學(xué)拾取器3安裝在拾取器基體50上，拾取器基體50是各種部件的 安裝基體，并被安裝為在光盤裝置1的殼體內(nèi)沿著光盤2的徑向R移動(dòng)。拾取器基體50用 作所謂滑動(dòng)基體，并與主軸62和副軸63耦合，主軸62和副軸63是安裝在光盤裝置1的機(jī) 殼內(nèi)的導(dǎo)引軸。拾取器基體50被支撐在主軸62和副軸63上以在其徑向上移動(dòng)。圖2和 隨后的圖中的箭頭RI表示徑向中朝向內(nèi)周的方向，并且箭頭R0表示徑向中朝向外周的方 向。此外，如圖3所示，光學(xué)拾取器3包括保持多個(gè)物鏡33和34的透鏡保持器52，其 使從光源發(fā)射的光束聚焦并使聚焦的光束向光盤出射。透鏡保持器52用作致動(dòng)器驅(qū)動(dòng)單 元并通過(guò)用作制動(dòng)器支撐單元的支撐體53上的多個(gè)用作支撐臂的支持懸架54被支撐為在 尋軌方向或聚焦方向上進(jìn)行位移。這里，支撐體53被布置為距透鏡保持器52具有在切線 方向Tz上的間隔，并安裝在拾取器基體50上。此外，作為支撐臂的懸架54將透鏡保持器 52支撐為相對(duì)支撐體53沿著聚焦方向F和尋軌方向T移動(dòng)。透鏡保持器52、支撐體53和懸架54與將在下文說(shuō)明的各個(gè)線圈56、57a至57d以 及磁體58組合形成了物鏡驅(qū)動(dòng)單元51。物鏡驅(qū)動(dòng)單元51沿著聚焦方向F和尋軌方向T驅(qū) 動(dòng)物鏡33和34。此外，物鏡驅(qū)動(dòng)單元51用作傾斜校正機(jī)構(gòu)，其沿著傾斜方向Tir驅(qū)動(dòng)對(duì) 第一和第二物鏡33和34進(jìn)行支撐的透鏡保持器52以成為傾斜。以此方式，物鏡驅(qū)動(dòng)單元 51是能夠沿著聚焦方向、尋軌方向和傾斜方向驅(qū)動(dòng)透鏡保持器52和由透鏡保持器52支撐 的物鏡的所謂三軸致動(dòng)器。此外，第一和第二物鏡33和34形成光學(xué)拾取器3的光學(xué)系統(tǒng)的一部分。第一物 鏡33是具有與0. 85的相對(duì)孔徑(NA)的由塑料制成的單個(gè)物鏡。第二物鏡34是對(duì)于第二 波長(zhǎng)具有約0. 6至0. 65的相對(duì)孔徑(NA)并且具有第三波長(zhǎng)具有約0. 45至0. 53的相對(duì)孔 徑(NA)的由塑料制成的單個(gè)物鏡。塑料的第一和第二物鏡33和34相比現(xiàn)有技術(shù)的玻璃透 鏡可以提高制造性或減輕重量。將在此后說(shuō)明的光學(xué)拾取器3的構(gòu)造被配置為解決在與諸 如BD之類的高密度記錄光盤對(duì)應(yīng)的第一物鏡33由塑料制成的情況下產(chǎn)生的問(wèn)題。因此，第二物鏡34不限于塑料，例如可以由玻璃形成。 在光學(xué)拾取器3中，多個(gè)物鏡33和34與徑向R(尋軌方向T)平行地布置，但是物 鏡的數(shù)量不限于此。例如，多個(gè)物鏡可以沿著切向Tz布置。作為將從第一和第二光源31和32發(fā)射的光束導(dǎo)引到光盤2的光學(xué)系統(tǒng)，以第一 和第二光學(xué)系統(tǒng)為例。第一光學(xué)系統(tǒng)將從第一光源31發(fā)射的第一波長(zhǎng)的光束通過(guò)物鏡33 導(dǎo)引到作為第一光盤11的光盤2。如圖4所示，這樣的第一光學(xué)系統(tǒng)包括將第一波長(zhǎng)的光 束導(dǎo)引到第一物鏡33的第導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28，以及第一物鏡33。第二光學(xué)系統(tǒng)將從第二光源32發(fā)射的光束 通過(guò)第二物鏡34導(dǎo)引到作為第二或第三光盤12或13的光盤2。如圖4所示，這樣的第二 光學(xué)系統(tǒng)包括將第二和第三波長(zhǎng)的光束導(dǎo)引到第二物鏡34的第二導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)29，以及 第二物鏡34。首先，將參照?qǐng)D4說(shuō)明形成第一光學(xué)系統(tǒng)的第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28。第一導(dǎo)光光學(xué) 系統(tǒng)28包括第一光柵35，第一光柵35使從第一光源31發(fā)射的第一波長(zhǎng)的光束衍射并將 衍射光束劃分為至少三束以檢測(cè)尋軌誤差信號(hào)等。此外，第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28包括第一準(zhǔn) 直透鏡36，第一準(zhǔn)直透鏡36是將由第一光柵35延伸的光束的發(fā)散角變換為期望角度的例 如近似平行光束的發(fā)散角變換元件。此外，第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28包括第一立起反射鏡41， 第一立起反射鏡41使由第一準(zhǔn)直透鏡36變換的近似平行光束反射，并將反射光束朝向第 一物鏡33和光盤2導(dǎo)引。此外，第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28包括四分之一波片49，四分之一波 片49安裝在第一立起反射鏡41與物鏡33之間并對(duì)入射光束提供1/4波長(zhǎng)的相位差(見(jiàn) 圖5)。圖4是用于圖示各個(gè)光學(xué)部件和物鏡位置關(guān)系的平面圖，其為了圖4中的圖示簡(jiǎn)單 的目的沒(méi)有圖示四分之一波片49，但是四分之一波片49被安排在圖5中示出。形成第一光 學(xué)系統(tǒng)的物鏡33將由第一立起反射鏡41建立并通過(guò)四分之一波片49的光束聚焦在光盤 的記錄表面上。此外，第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28包括偏振分束器38，偏振分束器38安裝在第一 光柵35與第一準(zhǔn)直透鏡36之間。第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28的第一偏振分束器38用于將由物 鏡33聚焦并由光盤反射的光束的光路與由第一光源31發(fā)射的光束的光路分離。此外，第 一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28包括第一光電檢測(cè)器39，第一光電檢測(cè)器39接收并檢測(cè)由偏振分束器 38分出的返回光束。此外，第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28包括多透鏡40，多透鏡40安裝在偏振分 束器38與第一光電檢測(cè)器39之間并將由偏振分束器38分出的防范會(huì)光束聚焦到第一光 電檢測(cè)器39的感光表面上。第一光電檢測(cè)器39在感光表面中感測(cè)由多透鏡40聚焦的光 束，并將信息信號(hào)(RF信號(hào))輸出到前置放大器14，檢測(cè)諸如尋軌誤差信號(hào)和聚焦誤差信號(hào) 之類的各種信號(hào)，并將信號(hào)輸出到伺服控制單元9。被包括在第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28中的第一準(zhǔn)直透鏡36移動(dòng)以校正由例如溫度變 化、覆層的厚度誤差等所產(chǎn)生的球面像差，并根據(jù)第一物鏡33的位置變換入射到第一物鏡 33的光束的發(fā)散角。換言之，第一準(zhǔn)直透鏡36可沿光軸方向運(yùn)動(dòng)。驅(qū)動(dòng)第一準(zhǔn)直透鏡36 以使其沿著光軸方向移動(dòng)的準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動(dòng)單元48安裝在光學(xué)拾取器3中。準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動(dòng) 單元48可以例如通過(guò)進(jìn)給電動(dòng)機(jī)使導(dǎo)引螺桿轉(zhuǎn)動(dòng)，以使第一準(zhǔn)直透鏡36移動(dòng)。準(zhǔn)直透鏡 驅(qū)動(dòng)單元48可以如物鏡驅(qū)動(dòng)單元那樣通過(guò)與在磁體和線圈中流動(dòng)的電流協(xié)作來(lái)使第一準(zhǔn) 直透鏡36移動(dòng)。此外，可以使用線性電動(dòng)機(jī)等。第一準(zhǔn)直透鏡36移動(dòng)使得光束在與平行 光相比在略微匯聚的匯聚光束的狀態(tài)下或者略微發(fā)散的發(fā)散光束的狀態(tài)下進(jìn)入第一物鏡33，從而減小所產(chǎn)生的球面像差。以此方式，準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動(dòng)單元48通過(guò)使第一準(zhǔn)直透鏡36 沿著光軸方向移動(dòng)、改變進(jìn)入物鏡33的光束的角度和改變?nèi)肷浔堵?，?lái)對(duì)球面像差進(jìn)行校 正。執(zhí)行用于根據(jù)溫度變化或覆層厚度的誤差來(lái)調(diào)節(jié)第一準(zhǔn)直透鏡36的位置的計(jì)算 的控制單元27被安裝在光學(xué)拾取器3中。RF信號(hào)從第一光電檢測(cè)器39輸入到控制單元 27?？刂茊卧?7監(jiān)視輸入的RF信號(hào)的波動(dòng)量，并驅(qū)動(dòng)準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動(dòng)單元48以使第一準(zhǔn)直 透鏡36移動(dòng)，從而執(zhí)行球面像差校正。為了根據(jù)溫度變化執(zhí)行第一準(zhǔn)直透鏡36的位置調(diào) 節(jié)，可以與物鏡相鄰地安裝溫度檢測(cè)元件。在此情況下，來(lái)自溫度檢測(cè)元件的溫度信號(hào)被輸 入到控制單元27。在此情況下，控制單元27基于溫度信號(hào)或溫度信號(hào)的波動(dòng)量以及RF信 號(hào)來(lái)驅(qū)動(dòng)準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動(dòng)單元48，以執(zhí)行球面像差校正。在光學(xué)拾取器針對(duì)具有多個(gè)記錄層的光盤執(zhí)行信息信號(hào)的記錄和再現(xiàn)的情況下， 第一準(zhǔn)直透鏡36移動(dòng)到對(duì)于各記錄層合適的位置。此時(shí)，第一準(zhǔn)直透鏡36通過(guò)經(jīng)由聚焦 搜索檢測(cè)表面反射率的變化并讀取信息信號(hào)來(lái)移動(dòng)到對(duì)于各記錄層合適的位置。此時(shí)，第 一準(zhǔn)直透鏡36移動(dòng)到根據(jù)每個(gè)記錄層的位置以減小由于從每個(gè)記錄層到光盤的光入射側(cè) 的表面的厚度(稱為“覆層厚度”)的不同導(dǎo)致的球面像差。即，第一準(zhǔn)直透鏡36和準(zhǔn)直 透鏡驅(qū)動(dòng)單元48可以針對(duì)多個(gè)記錄層中的每個(gè)層合適地形成光束的光束點(diǎn)。以此方式，第 一準(zhǔn)直透鏡36等可以被驅(qū)動(dòng)以沿著光軸方向移動(dòng)來(lái)改變引向第一物鏡33的光束的入射倍 率，從而減小由溫度變化或覆層厚度的變化導(dǎo)致的球面像差，并形成合適的光束點(diǎn)。如上所述，第一準(zhǔn)直透鏡36和準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動(dòng)單元48用作改變對(duì)于第一物鏡33的 光束入射倍率的入射倍率改變單元。這里，被包括在光學(xué)拾取器3中的入射倍率改變單元 不限于此，而可以是所謂光束擴(kuò)展器、或液晶元件等。如上所述，被包括在第一光學(xué)系統(tǒng)的第一物鏡33由被安裝在光學(xué)拾取器3中的物 鏡驅(qū)動(dòng)單元51保持以移動(dòng)。由物鏡驅(qū)動(dòng)單元51基于尋軌誤差信號(hào)和聚焦誤差信號(hào)(根據(jù) 由第一光電檢測(cè)器39檢測(cè)到的來(lái)自光盤2的返回光所產(chǎn)生)來(lái)使物鏡33進(jìn)行位移。因此， 第一物鏡33可以在與光盤2相鄰地間隔的方向(聚焦方向)和光盤2的徑向(尋軌方向) 的雙軸方向上進(jìn)行位移。物鏡33使光束聚焦，使得來(lái)自第一發(fā)光單元的光束被定常地聚焦 在光盤2的記錄表面上，并使得聚焦光束遵循光盤2的記錄表面上形成的記錄軌道。物鏡 驅(qū)動(dòng)單元51用作使透鏡保持器52沿著傾斜方向傾斜但在使用第一物鏡33的情況下不執(zhí) 行沿著傾斜方向傾斜的傾斜校正機(jī)構(gòu)。換言之，當(dāng)對(duì)第一光盤進(jìn)行記錄和再現(xiàn)時(shí)，不使用傾 斜校正機(jī)構(gòu)，并且即使物鏡及其周邊部件的溫度環(huán)境發(fā)生變化，也維持其當(dāng)前狀態(tài)。即，物 鏡驅(qū)動(dòng)單元51不執(zhí)行透鏡保持器52在傾斜方向上的傾斜。此外，當(dāng)通過(guò)記錄沖或制造誤差的轉(zhuǎn)換導(dǎo)致光盤2的覆層厚度的變化時(shí)，或者當(dāng) 存在環(huán)境溫度變化時(shí)，已經(jīng)通過(guò)使準(zhǔn)直透鏡36向光軸方向移動(dòng)而改變了入射倍率的光束 進(jìn)入第一物鏡33。第一物鏡33通過(guò)入射倍率的變化來(lái)恒定地校正(即減小)球面像差。此外，如圖5和圖6A所示，第一物鏡33被安裝為使得有第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28導(dǎo) 引的光束的光軸L28與第一物鏡33的光軸L33基本一致。這里，如上所述，第一導(dǎo)光光學(xué) 系統(tǒng)28表示在與第一光盤對(duì)應(yīng)的第一光學(xué)系統(tǒng)中，除了被安裝為在物鏡驅(qū)動(dòng)單元51中得 到驅(qū)動(dòng)的第一物鏡33之外的光學(xué)部件。第一物鏡33的光軸表示將形成了第一物鏡33的 入射側(cè)和出射側(cè)的光學(xué)表面連接到軸線。當(dāng)將第一物鏡33安裝在透鏡保持器52中時(shí)，不像現(xiàn)有技術(shù)中那樣通過(guò)考慮導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)、物鏡等等初始慧形像差進(jìn)行傾斜調(diào)節(jié)來(lái)安裝第 一物鏡33，而是將第一物鏡33安裝為與第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28的光軸一致。關(guān)于此，在現(xiàn) 有技術(shù)的“物鏡的組裝調(diào)節(jié)”中，如圖6B所示的比較示例進(jìn)行調(diào)節(jié)。在如圖6B所示的比較 示例的情況下，物鏡133的光軸L133通過(guò)初試慧形像差而相對(duì)于導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)128的光軸 L128傾斜，并被組裝在透鏡保持器52中。同時(shí)，在如圖6A所示的光學(xué)拾取器3中，第一物 鏡33調(diào)節(jié)第一物鏡33的光軸以將第一物鏡33在不偏移的基準(zhǔn)狀態(tài)下安裝在透鏡保持器 52中。具體而言，第一物鏡33被安裝為使得有第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28導(dǎo)引并進(jìn)入第一物鏡 33的光束的光軸與第一物鏡33的光軸基本一致。這里，基本一致包括安裝誤差的范圍，并 且在有第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28導(dǎo)引并進(jìn)入第一物鏡33的光束的光軸與第一物鏡33的光軸 之間的角度在O士0.25°的情況下可以充分獲得將在下文說(shuō)明的效果?？梢酝ㄟ^(guò)使光學(xué)拾 取器3相對(duì)于光盤沿著相對(duì)傾斜方向傾斜來(lái)去除導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)或物鏡33的各種光學(xué)部件 的所謂初始慧形像差，其將在下文說(shuō)明。 以此方式，當(dāng)具有第一光學(xué)系統(tǒng)的光學(xué)拾取器3形成光盤裝置1時(shí)，如圖7所示調(diào) 節(jié)光學(xué)拾取器3的傾斜角度，從而防止當(dāng)使用第一物鏡33時(shí)產(chǎn)生的初始慧形像差。具體而 言，下文將在“5.光學(xué)拾取器的相對(duì)于光盤的相對(duì)角度調(diào)節(jié)”中詳細(xì)說(shuō)明光學(xué)拾取器3的傾 斜角度的調(diào)節(jié)。此外，當(dāng)使用第一物鏡33來(lái)再現(xiàn)具有厚度tl的覆層的光盤時(shí)，物鏡驅(qū)動(dòng)單 元51不用做傾斜校正機(jī)構(gòu)。在此情況下，即使第一物鏡33或其周邊部件的溫度環(huán)境發(fā)生 變化，光學(xué)拾取器3也在維持其當(dāng)前狀態(tài)的同時(shí)執(zhí)行記錄和再現(xiàn)。接著，將參照?qǐng)D4說(shuō)明被包括在第二光學(xué)系統(tǒng)中的第二導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)29。第二導(dǎo) 光光學(xué)系統(tǒng)29至少包括第二光柵43，第二光柵43使第二光源32發(fā)射的第二和第三波長(zhǎng)的 光束衍射，并將衍射光束劃分為至少三束。此外，第二導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)29包括第二準(zhǔn)直透鏡 44，第二準(zhǔn)直透鏡44將有第二光柵43衍射的光束的發(fā)散角變換為近似平行光束。此外，第 二導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)29包括彎折反射鏡45，彎折反射鏡45反射由第二準(zhǔn)直透鏡44變換的近似 平行光束，并將光束的光路改變?cè)谂c聚焦方向F基本垂直的平面中。此外，第二導(dǎo)光光學(xué)系 統(tǒng)29包括第二立起反射鏡42，第二立起反射鏡42再次反射從彎折反射鏡45反射的光束， 并將再次反射的光束朝向第二物鏡34和光盤2導(dǎo)引。如上述第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)中那樣， 在第二導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)29中，四分之一波片可以安裝在第二立起反射鏡42與第二物鏡34之 間。此外，被包括在第二光學(xué)系統(tǒng)中的第二物鏡34將由第二立起反射鏡42立起的光束聚 焦在光盤的信號(hào)記錄表面上。此外，第二導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)29包括分束器46，分束器46被安 裝在第二光柵43與第二準(zhǔn)直透鏡44之間的光路上。第二導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)29的分束器46將 由第二物鏡34聚焦并由光盤反射的返回光束的光路與從第二光源32發(fā)射的光束的光路分 離。第二導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)29包括第二光電檢測(cè)器47，第二光電檢測(cè)器47接收并檢測(cè)由分束 器46分出的返回光束。此外，第二光電檢測(cè)器47在接收表面中接收光束，將信息信號(hào)(RF 信號(hào))輸出到前置放大器14，檢測(cè)諸如尋軌誤差信號(hào)和聚焦誤差信號(hào)之類的各種信號(hào)，并 將信號(hào)輸出到伺服控制單元9。如上所述，包括第二光學(xué)系統(tǒng)的第二物鏡34被安裝在光學(xué)拾取器3中的物鏡驅(qū)動(dòng) 單元51保持以進(jìn)行移動(dòng)。通過(guò)物鏡驅(qū)動(dòng)單元51基于由第二光電檢測(cè)器47檢測(cè)到的來(lái)自 光盤2的光盤2的返回光束所產(chǎn)生的尋軌誤差信號(hào)和聚焦誤差信號(hào)，來(lái)使第二物鏡34進(jìn)行 位移。因此，第二物鏡34沿著聚焦方向和尋軌方向的雙軸方向進(jìn)行位移。第二物鏡34對(duì)光束進(jìn)行聚焦，以定常地將來(lái)自第二和第三發(fā)光單元的光束聚焦在光盤2的記錄表面上， 并使得聚焦光束遵循形成在光盤2的記錄表面上的記錄軌道。第二物鏡34可以沿著第二 物鏡34的傾斜方向以及上述雙軸方向傾斜，并可以如圖8所示通過(guò)物鏡驅(qū)動(dòng)單元51沿著 傾斜方向Tir傾斜。換言之，第二物鏡34以預(yù)先確定的預(yù)定最優(yōu)角度被物鏡驅(qū)動(dòng)單元51 沿傾斜角度傾斜以如下所述最大程度地減小慧形像差。沿著傾斜方向傾斜的第二物鏡34 可以將光學(xué)拾取器3設(shè)定為使得在兩個(gè)物鏡被安裝在透鏡保持器52中的情況下，第一物鏡 33處于如圖7所示的最優(yōu)狀態(tài)。即，在光學(xué)拾取器3被如圖7所示設(shè)定的狀態(tài)下使用第二 物鏡34時(shí)，第二物鏡34受到傾斜驅(qū)動(dòng)，從而在最優(yōu)狀態(tài)下執(zhí)行記錄和再現(xiàn)。這里，在使用 對(duì)應(yīng)透鏡的情況下第二物鏡34受到靜態(tài)傾斜驅(qū)動(dòng)，但是第二物鏡34可以受到動(dòng)態(tài)傾斜驅(qū) 動(dòng)。例如，可以通過(guò)物鏡驅(qū)動(dòng)單元51基于由第二光電檢測(cè)器47檢測(cè)到的RF信號(hào)等使第二 物鏡34沿著傾斜方向傾斜。利用這樣的構(gòu)造，第二物鏡34可以進(jìn)一步減小慧形像差。此 外，作為上述傾斜校正機(jī)構(gòu)的物鏡驅(qū)動(dòng)單元51在進(jìn)入第二物鏡34的光束中產(chǎn)生用于抵銷 的慧形像差，以減小慧形像差。即，物鏡驅(qū)動(dòng)單元51用做慧形像差產(chǎn)生單元，但是可以通過(guò) 如下文所述安裝液晶元件等來(lái)調(diào)節(jié)慧形像差。以此方式，物鏡驅(qū)動(dòng)單元51在使用第一物鏡33的情況下不執(zhí)行沿著傾斜方向的 傾斜，而在使用第二物鏡34的情況下執(zhí)行沿著傾斜方向的傾斜。換言之，當(dāng)對(duì)于第二光盤 執(zhí)行記錄和再現(xiàn)時(shí)，使用作為傾斜校正機(jī)構(gòu)的物鏡驅(qū)動(dòng)單元51來(lái)使透鏡保持器52傾斜，以 獲得最優(yōu)記錄環(huán)境。這里，如圖2所示，傾斜方向表示所謂徑向傾斜方向Tir，其是繞與上述聚焦方向F 和尋軌方向T垂直的切向Tz為中心的軸線轉(zhuǎn)動(dòng)方向。即，第二物鏡34可以沿著所謂切向 傾斜方向(其是繞尋軌方向?yàn)橹行牡妮S線轉(zhuǎn)動(dòng)方向)被驅(qū)動(dòng)。但是，因?yàn)槿缦挛乃鑫镧R 33和34的慧形像差沿著徑向布置在光學(xué)拾取器3中，所以需要沿著徑向傾斜方向Tir驅(qū)動(dòng) 物鏡。此外，在動(dòng)態(tài)進(jìn)行傾斜校正的情況下，可以沿著四軸方向驅(qū)動(dòng)物鏡，其中可以沿著徑 向傾斜方向和切向傾斜方向驅(qū)動(dòng)物鏡。第二光學(xué)系統(tǒng)可以被構(gòu)造為驅(qū)動(dòng)準(zhǔn)直透鏡，并可以被構(gòu)造為與上述第一光學(xué)系統(tǒng) 相似校正溫度變化時(shí)的球面像差等。除了這樣的構(gòu)造，當(dāng)工具環(huán)境溫度變化存在入射倍率 的變化時(shí)，可以通過(guò)物鏡驅(qū)動(dòng)單元51使第二物鏡34沿著傾斜方向傾斜，從而去除慧形像差。此外，第二物鏡34優(yōu)選地被安裝為使得由第二導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)29導(dǎo)引到光束的光 軸與第二物鏡34的光束的光軸基本一致。這里，如下文所述，因?yàn)閮蓚€(gè)物鏡被安裝在透鏡 保持器52中，所以首先調(diào)節(jié)上述第一物鏡33的光軸。在以上說(shuō)明中，在與第一光盤對(duì)應(yīng)的第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28以及與第二和第三光 盤對(duì)應(yīng)的第二導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)29中的每一者中安裝專用的光學(xué)部件，但是此構(gòu)造不是限制 性的，而是用做示例。即，可以在第一和第二光學(xué)系統(tǒng)中共用兼容的光學(xué)部件。但是，上述第一物鏡33和第二物鏡34被組裝在透鏡保持器52中，使得慧形像差 的方向基本恒定。以此方式，安裝有兩個(gè)或更多個(gè)物鏡的光學(xué)拾取器3具有如下特征各個(gè) 物鏡33和34的慧形像差的方向被構(gòu)造為基本相同，從而將第一物鏡33和第二物鏡34組 裝在作為致動(dòng)器的物鏡驅(qū)動(dòng)單元51中。利用這樣的構(gòu)造，如圖7所示，光學(xué)拾取器3傾斜， 使得第一物鏡33處于最優(yōu)狀態(tài)，這也可以使第二物鏡34有利地進(jìn)行工作(見(jiàn)圖16B)。換言之，可以有效地減小兩個(gè)物鏡的距最優(yōu)傾斜位置的誤差波動(dòng)。
此外，在根據(jù)本實(shí)施例的光學(xué)拾取器3中，如圖9所示，第一物鏡33和第二物鏡34 中的每一者被組裝在透鏡保持器52中，使得慧形像差沿著徑向方向(例如朝向外側(cè)R0)布 置。可選地，第一物鏡33和第二物鏡34可以被構(gòu)造為使得慧形像差朝向內(nèi)側(cè)RI布置。這里，將對(duì)具體安裝方法進(jìn)行說(shuō)明。第一物鏡33和第二物鏡34檢測(cè)沿著周向以預(yù) 定劃分?jǐn)?shù)量分別劃分的區(qū)域中慧形像差所指向的區(qū)域。例如，第一物鏡33和第二物鏡34檢 測(cè)在與光軸垂直的平表面中被均等劃分的區(qū)域中慧形像差所指向的區(qū)域，因此將對(duì)應(yīng)區(qū)域 的中間位置的方向認(rèn)定為慧形像差的方向。表示慧形像差的方向的諸如門切口(gate-cut) 之類的認(rèn)定單元W和N2被安裝在第一物鏡33和第二物鏡34中除了光束經(jīng)過(guò)的有效區(qū)域 之外的區(qū)域中。在附圖中，附圖中的區(qū)域Rl表示第一物鏡33的對(duì)于第一波長(zhǎng)的光束的有 效區(qū)域，區(qū)域R2和R3分別表示第二物鏡34的對(duì)于第二和第三波長(zhǎng)的光束的有效區(qū)域。在 使用由塑料制成的物鏡的情況下，因?yàn)樽鳛槠渲圃煲蛩氐男颓皇呛愣ǖ?，所以?duì)于每一批 產(chǎn)品而言慧形像差的方向是基本恒定的，因此，可以構(gòu)思在每一批所制造的透鏡中測(cè)量多 個(gè)慧形像差的方向。在此情況下，對(duì)于其中門切口附和N2所安裝的方向，檢測(cè)門切口 m 和N2的中間位置相對(duì)于方向Cl和C2的角度θ 1、θ 2。這里，認(rèn)定慧形像差沿著相對(duì)于門 切口附和Ν2偏離了預(yù)定角度Θ1和θ 2的方向布置，因此，第一物鏡33和第二物鏡34被 組裝在透鏡保持器52中。表示這樣的慧形像差的認(rèn)定單元不限于門切口，而可以設(shè)置為比 例線(scale line)。此外，認(rèn)定單元可以被構(gòu)造為包括門切口和比例線兩者，并可以在這 種情況下以更高的精度進(jìn)行安裝。此外，基于認(rèn)定單元m和N2，將其中慧形像差的方向Cl 和C2被認(rèn)定的第一物鏡33和第二物鏡34組裝在透鏡保持器52中，使得慧形像差的方向 指向徑向。但是，如圖3和5所示，產(chǎn)生沿著尋軌方向T (其基本是光盤2的徑向)的驅(qū)動(dòng)力的 尋軌線圈56被安裝在其上保持上述物鏡33和34的透鏡保持器52中。此外，產(chǎn)生沿著接 近和原理光盤的聚焦方向的驅(qū)動(dòng)力的聚焦線圈57a至57d被安裝在透鏡保持器52中。與 尋軌線圈56以及聚焦線圈57a至57d相對(duì)地布置在拾取器基體50上的磁體58向?qū)ぼ壘€ 圈56和聚焦線圈57a至57d提供了預(yù)定磁場(chǎng)。驅(qū)動(dòng)電流被供應(yīng)到尋軌線圈56以及聚焦線圈57a至57d。如果電流被供應(yīng)到各個(gè) 線圈，則物鏡驅(qū)動(dòng)單元51驅(qū)動(dòng)以通過(guò)供應(yīng)到各個(gè)線圈的電流與來(lái)自磁體的磁場(chǎng)的相互作 用使透鏡保持器52沿著尋軌方向T和聚焦方向F進(jìn)行位移。結(jié)果，由透鏡保持器52支撐的第一物鏡33和第二物鏡34被驅(qū)動(dòng)以沿著聚焦方向 F和/或?qū)ぼ壏较騎進(jìn)行位移。即，執(zhí)行聚焦控制，使得通過(guò)第一物鏡33和第二物鏡34入 射到光盤的光束被聚焦在光盤的信號(hào)記錄表面上。此外，執(zhí)行尋軌控制，使得經(jīng)過(guò)第一物鏡 33和第二物鏡34的光束遵循形成在光盤中的記錄軌道。此外，物鏡驅(qū)動(dòng)單元51引起與尋軌方向T平行地布置的聚焦線圈57a和57d與聚 焦線圈57b和57c的驅(qū)動(dòng)力的差異，從而驅(qū)動(dòng)透鏡保持器52沿著徑向傾斜方向Tir進(jìn)行位 移。結(jié)果，由透鏡保持器52支撐的第二物鏡34被驅(qū)動(dòng)以沿著傾斜方向進(jìn)行位移，因此 可以減小在使用第二物鏡34來(lái)聚焦光束的情況下的慧形像差。即，由于通過(guò)第二物鏡34 入射到光盤的光束造成的光點(diǎn)形狀可以被調(diào)節(jié)為最優(yōu)狀態(tài)。
這里，通過(guò)使聚焦線圈57a至57d的驅(qū)動(dòng)力產(chǎn)生差異來(lái)進(jìn)行傾斜驅(qū)動(dòng)，但是該構(gòu)造 不是限制性的，而是用做示例。此外，可以安裝傾斜線圈和傾斜線圈磁體，并因而可以執(zhí)行 各種傾斜控制。具有這種構(gòu)造的光學(xué)拾取器3根據(jù)所安裝的光盤的類型，從被安裝在第一光源31 和第二光源32中的發(fā)光單元發(fā)射屬于第一至第三波長(zhǎng)的光束中的具有與光盤的類型相對(duì) 應(yīng)的波長(zhǎng)的光束。此外，光學(xué)拾取器3基于由第一光電檢測(cè)器39和第二光電檢測(cè)器47檢測(cè) 到的返回光束所產(chǎn)生的聚焦伺服信號(hào)和尋軌伺服信號(hào)，來(lái)驅(qū)動(dòng)第一物鏡33或第二物鏡34。 因此，光學(xué)拾取器3執(zhí)行聚焦伺服和尋軌伺服。在光學(xué)拾取器3中，第一物鏡33和第二物 鏡34被驅(qū)動(dòng)以進(jìn)行位移，并移動(dòng)到對(duì)于光盤2的信號(hào)記錄表面的聚焦位置。因此，光學(xué)拾 取器3在光束被聚焦在光盤2的記錄軌道上的情況下對(duì)于光盤2執(zhí)行信息信號(hào)的記錄或再 現(xiàn)。此外，光學(xué)拾取器3通過(guò)使用由塑料制成的第一物鏡33作為其部件提高了制造性 或減輕了重量。此外，光學(xué)拾取器3解決了由于通過(guò)使用與諸如BD之類的高密度記錄光盤 對(duì)應(yīng)的塑料第一物鏡33而根據(jù)溫度變化產(chǎn)生的透鏡傾斜慧形像差的變化所導(dǎo)致的問(wèn)題。 關(guān)于此，此后將對(duì)“3.物鏡的透鏡傾斜慧形像差敏感度的溫度特性”進(jìn)行說(shuō)明。3.物鏡的透鏡傾斜慧形像差敏感度的溫度特性接著，將說(shuō)明被包括在根據(jù)本實(shí)施例的光學(xué)拾取器3中的第一物鏡33的透鏡傾斜 慧形像差靈敏度的溫度特性。如前所述，與玻璃產(chǎn)品相比，塑料物鏡具有由于環(huán)境溫度變化導(dǎo)致的顯著的球面 像差變化，并引起記錄和再現(xiàn)特性的劣化。具體而言，在能夠以大數(shù)值孔徑進(jìn)行高密度記錄 的光盤中，這樣的特性劣化會(huì)引起顯著的問(wèn)題。關(guān)于此，如上所述，通過(guò)驅(qū)動(dòng)第一準(zhǔn)直透鏡 36來(lái)改變?nèi)肷涞降谝晃镧R33的光束的入射角度，即，通過(guò)改變?nèi)肷浔堵?，可以校正球面?差。此時(shí)，通過(guò)改變光束相對(duì)于第一物鏡33的入射角度，改變當(dāng)物鏡傾斜(稱為“透鏡傾 斜”)時(shí)產(chǎn)生的慧形像差量。具體而言，如圖10所示，如果透鏡傾斜慧形像差靈敏度在約35°C的常溫的情況下 處于由LN表示的狀態(tài)，則透鏡傾斜慧形像差靈敏度在約70°C的情況下減小到LH。另一方 面，在約0°C的低溫情況下，透鏡傾斜慧形像差靈敏度增大到LC。以此方式，圖10表示在相 同透鏡傾斜角度的情況下產(chǎn)生的慧形像差根據(jù)驅(qū)動(dòng)準(zhǔn)直透鏡而產(chǎn)生的入射倍率的變化而 顯著地變化。換言之，與透鏡傾斜角度相對(duì)應(yīng)的慧形像差隨著環(huán)境溫度變化而顯著地變化。此外，如果與現(xiàn)有技術(shù)的玻璃透鏡相似地將這樣的塑料物鏡在物鏡傾斜以校正慧 形像差的狀態(tài)下安裝在致動(dòng)器的透鏡保持器中，則發(fā)生以下問(wèn)題。即，在安裝現(xiàn)有技術(shù)的物 鏡時(shí)，使用物鏡傾斜以安裝在透鏡保持器中來(lái)去除由物鏡或包括在導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)中的部件 產(chǎn)生或者由這些部件的組裝精度產(chǎn)生的慧形像差。這已經(jīng)參照?qǐng)D6B進(jìn)行了說(shuō)明。因此，在 常溫的情況下，可以將慧形像差設(shè)定為幾乎0。即，在常溫的情況下，要校正的慧形像差量和 由物鏡的傾斜調(diào)節(jié)產(chǎn)生的慧形像差量相同。但是，如圖10所示，因?yàn)橥哥R傾斜慧形像差靈敏度根據(jù)由于溫度變化引起的入射 倍率的變化而變化，所以在高溫和低溫環(huán)境下，由物鏡的傾斜調(diào)節(jié)產(chǎn)生的慧形像差量如實(shí) 線LH和LC表示發(fā)生變化。此外，如在高溫和低溫環(huán)境中，在透鏡傾斜慧形像差靈敏度發(fā)生 變化的情況下，結(jié)果仍存在慧形像差，或者產(chǎn)生更顯著的慧形像差。
關(guān)于此，更具體而言，假定由包括在光學(xué)拾取器中的光學(xué)部件產(chǎn)生或者由部件的 組裝誤差產(chǎn)生的慧形像差為Y。在此情況下，物鏡沿著抵消慧形像差的方向傾斜了透鏡傾 斜量a，以安裝在透鏡保持器中，其中使用0 1/a作為常溫靈敏度，透鏡傾斜量a滿足Y =3 1。在此情況下，在高溫的情況下，慧形像差被少校正了(日1' -0 1)的量。此外，在 低溫的情況下，慧形像差被多校正了(0 1" -0 1)的量。在過(guò)多量或不足量變大的情況下， 光盤的記錄和再現(xiàn)特性劣化。如圖6A所示，根據(jù)本實(shí)施例的光學(xué)拾取器3被布置在透鏡保持器52中，使得通過(guò) 第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28導(dǎo)引到第一物鏡33的光束的光軸與第一物鏡33的光軸一致。S卩，第 一物鏡33相對(duì)于透鏡保持器52不傾斜地布置。因此，在不會(huì)根據(jù)上述溫度變化影響透鏡 傾斜慧形像差靈敏度的情況下，可以防止由于溫度變化引起的慧形像差的變化。接著，在如 圖6A所示的構(gòu)造中，將在“4.初始慧形像差的校正”中對(duì)象有技術(shù)中如圖6B所示通過(guò)使物 鏡傾斜來(lái)減小初始慧形像差的減小方法進(jìn)行說(shuō)明。4.初始慧形像差的校正在光學(xué)拾取器3中，通過(guò)在形成光盤裝置1時(shí)調(diào)節(jié)光盤2和光學(xué)拾取器3的相對(duì) 傾斜來(lái)執(zhí)行初始慧形像差的校正。具體而言，在形成光盤裝置1時(shí)光學(xué)拾取器3執(zhí)行如圖 7所示的沿著光學(xué)拾取器3的偏斜方向SK的偏斜調(diào)節(jié)，以調(diào)節(jié)光盤2和光學(xué)拾取器3的相 對(duì)傾斜，并限制初始慧形像差。這里，偏斜方向SK對(duì)應(yīng)于上述傾斜方向Tir并與傾斜方向 Tir相似沿著繞切向Tz為中心的軸線旋轉(zhuǎn)方向傾斜。即，當(dāng)光盤2和光學(xué)拾取器3相對(duì)傾 斜時(shí)產(chǎn)生慧形像差，并且在傾斜角度與慧形像差量之間存在特定關(guān)系。將在“5.光學(xué)拾取 器的相對(duì)于光盤的相對(duì)角度調(diào)節(jié)”中對(duì)沿著光學(xué)拾取器3的傾斜方向調(diào)節(jié)偏斜角度進(jìn)行說(shuō) 明。此外，為了調(diào)節(jié)這種相對(duì)傾斜，對(duì)其上安裝光盤2的盤安裝單元進(jìn)行偏斜調(diào)節(jié)。 即，盤安裝單元67的盤安裝基準(zhǔn)表面67a可以相對(duì)于光學(xué)拾取器3傾斜。在此情況下，光 學(xué)拾取器3和安裝在盤安裝單元67中的光盤以如下所述的角度相對(duì)傾斜所述角度使得盤 安裝單元傾斜來(lái)最優(yōu)地校正慧形像差。這里，將與上述圖10相比，參照?qǐng)D11詳細(xì)說(shuō)明對(duì)光盤2和光學(xué)拾取器3的相對(duì)傾 斜進(jìn)行調(diào)節(jié)并校正初始慧形像差的處理。所產(chǎn)生的慧形像差的量相對(duì)于相對(duì)傾斜的比率被 稱為盤傾斜靈敏度。這里，圖10和11圖示了在第一光盤的覆層的厚度tl是100 i! m的情況 下在球面像差校正之后慧形像差的量。具體而言，圖10圖示了透鏡傾斜慧形像差靈敏度， 圖11圖示了盤傾斜慧形像差靈敏度。由光學(xué)拾取器3中包括的光學(xué)部件或者這些部件的組裝誤差所產(chǎn)生的慧形像差 如上所述由Y表示。在此情況下，透鏡傾斜量a被設(shè)定為零，接著在組裝光學(xué)拾取器時(shí)執(zhí) 行以下調(diào)節(jié)。即，光學(xué)拾取器3沿著徑向傾斜方向Tir傾斜，光學(xué)拾取器3沿著通過(guò)盤傾斜 量S抵消慧形像差的方向傾斜，其中利用由圖11中的實(shí)線LD表示的盤傾斜靈敏度32/ 6，盤傾斜量S滿足Y= 0 2。關(guān)于此，如上所述，光盤傾斜基準(zhǔn)表面可以傾斜，使得光盤傾 斜。在此情況下，因?yàn)閍竺0，(3 1' -3 1)竺0并且(3 1〃 -3 1)竺0。通常，盤傾斜靈 敏度根據(jù)溫度而基本恒定。通過(guò)采用如圖7所示的方法，即使存在溫度變化慧形像差也不 顯著變化，因此可以優(yōu)選地維持對(duì)于光盤的記錄和再現(xiàn)特性。但是，如圖7所示，光學(xué)拾取器3在約士0.5°的范圍內(nèi)受到傾斜調(diào)節(jié)，使得光學(xué)拾取器3以如下角度相對(duì)于光盤2相對(duì)傾斜，所述角度使得最優(yōu)地校正由于第一物鏡33引 起的對(duì)于第一光盤的初始慧形像差。具體而言，光學(xué)拾取器3被安裝為使得當(dāng)?shù)谝晃镧R33 的中心軸線與光盤安裝基準(zhǔn)表面之間的角度在約90士0. 5°的范圍內(nèi)時(shí)最優(yōu)地校正慧形像 差。此后，將對(duì)在約士0.5°的范圍內(nèi)最優(yōu)地校正慧形像差的處理進(jìn)行說(shuō)明。在與具有第一波長(zhǎng)X 1和覆層厚度tl的第一光盤對(duì)應(yīng)的第一物鏡中，將光學(xué)拾取 器3的慧形像差是0. 05 A rms且各傾斜靈敏度如下的情況作為示例進(jìn)行說(shuō)明。作為另一個(gè) 條件，高溫透鏡傾斜靈敏度是0.01入rms/°，常溫透鏡傾斜靈敏度是0.08入rms/°，低溫 透鏡傾斜靈敏度是0. 15入rms/°，而盤傾斜靈敏度是0. 10入rms/°。在現(xiàn)有技術(shù)中，如圖 6B所示，在常溫下，透鏡傾斜0. 05/0. 08 = 0. 625°來(lái)校正慧形像差。在此情況下，因?yàn)樵?高溫下校正約0. 625X0.01 = 0. 006 A rms的慧形像差，所以產(chǎn)生了 0. 044 A rms的慧形像 差校正不足量。此外，因?yàn)樵诘蜏叵滦Ｕs0.625X0. 15 = 0. 094 A rms的慧形像差，所以 產(chǎn)生了 0. 044 A rms的慧形像差校正過(guò)多量。這里，如果將標(biāo)準(zhǔn)化的光盤的傾斜量0士0.35°轉(zhuǎn)換為盤傾斜靈敏度，則其為 0. 035 Arms 0在對(duì)于通常的馬雷查爾極限(Marechal limit) 0. 07 X rms考慮光盤的影響的 情況下，需要將光學(xué)拾取器的像差減小到馬雷查爾極限的一半或更小。但是，因?yàn)楫a(chǎn)生了超 過(guò)60%的像差，所以盤讀取能力會(huì)劣化超過(guò)馬雷查爾極限。在光盤讀取能力劣化的情況下， 可以構(gòu)思利用作為傾斜校正機(jī)構(gòu)的物鏡驅(qū)動(dòng)單元51來(lái)動(dòng)態(tài)地校正慧形像差。但是，因?yàn)橥?鏡傾斜靈敏度在高溫下較低，所以即使傾斜校正機(jī)構(gòu)動(dòng)態(tài)地操作也難以校正慧形像差。在光學(xué)拾取器3中，如圖6A所示，在不使第一物鏡33傾斜的情況下，如圖7所示 的光盤的光盤安裝基準(zhǔn)表面與光學(xué)拾取器之間的相對(duì)角度傾斜了慧形像差量/盤傾斜靈 敏度，即0.05/0. 1 = 0.5°。利用這種構(gòu)造，校正了光學(xué)拾取器3的慧形像差。在此情況下，在與具有第二波長(zhǎng)\ 2和覆層厚度t2的第二光盤對(duì)應(yīng)的第二物鏡 中，光學(xué)拾取器3的慧形像差相對(duì)于在光盤安裝基準(zhǔn)表面和光學(xué)拾取器的相對(duì)傾斜時(shí)產(chǎn)生 的慧形像差的關(guān)系不是彼此一致的。在此情況下，利用作為傾斜校正機(jī)構(gòu)的物鏡驅(qū)動(dòng)單元 51,優(yōu)選地在最優(yōu)再現(xiàn)條件下維持光盤讀取能力。5.光學(xué)拾取器的相對(duì)于光盤的相對(duì)角度調(diào)節(jié)接著，將參照?qǐng)D12對(duì)用于調(diào)節(jié)光學(xué)拾取器與光盤之間的相對(duì)角度的方法進(jìn)行說(shuō) 明。具體而言，如圖12所示，在光盤裝置1中安裝有主軸62和副軸63，主軸62和副軸63 作為被插入到拾取器基體50中并支撐拾取器基體50沿著光盤的徑向的移動(dòng)的導(dǎo)引軸，光 學(xué)拾取器3安裝在拾取器基體50上。此外，光盤裝置1包括偏斜調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)64，偏斜調(diào)節(jié)機(jī) 構(gòu)64安裝在主軸62和主軸62中每一者的相對(duì)兩個(gè)端部。每個(gè)偏斜調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)64均包括例 如彈簧65和調(diào)節(jié)螺栓66，彈簧65從聚焦方向F的上側(cè)支撐主軸62和副軸63中相應(yīng)一者 的，調(diào)節(jié)螺栓66與主軸62和副軸63中的相應(yīng)一者的下部接觸并向?qū)бS中的相應(yīng)一者施 壓以調(diào)節(jié)主軸62和副軸63中相應(yīng)一者的豎直高度。根據(jù)主軸62和副軸63中每一者的相 對(duì)兩側(cè)的高度受到偏斜調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)64的調(diào)節(jié)，光學(xué)拾取器3在調(diào)節(jié)徑向傾斜方向的傾斜角度 的情況下以預(yù)定的安裝高度安裝在光盤裝置1中。例如，在觀察光學(xué)拾取器3的輸出時(shí)，偏 斜調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)64的調(diào)節(jié)螺栓進(jìn)行轉(zhuǎn)動(dòng)以調(diào)節(jié)作為導(dǎo)引軸的主軸62和副軸63中相應(yīng)一者的 相對(duì)兩側(cè)的高度，因此，對(duì)光學(xué)拾取器3進(jìn)行調(diào)節(jié)。用于確定偏斜量的方法不限于此，其將 參照?qǐng)D17和18進(jìn)行說(shuō)明。即，根據(jù)借助于偏斜調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)64進(jìn)行的徑向傾斜方向的偏斜角，光學(xué)拾取器3在上述限制初始慧形像差的狀態(tài)下安裝在光盤裝置1中。偏斜調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)的構(gòu) 造不限于上述示例，而可以采用能夠進(jìn)行光學(xué)拾取器3的偏斜調(diào)節(jié)的任意構(gòu)造。此外，可以 采用其中可以對(duì)其上安裝光盤的盤安裝單元進(jìn)行偏斜調(diào)節(jié)的構(gòu)造。即，盤安裝單元67的盤 安裝基準(zhǔn)表面67a可以相對(duì)于光學(xué)拾取器3傾斜。6.光學(xué)拾取器的作用和效果如上所述，根據(jù)本實(shí)施例的光學(xué)拾取器3對(duì)應(yīng)于諸如BD之類的高密度記錄，并在 塑料第一物鏡33的光軸與第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28的光軸一致的狀態(tài)下安裝在透鏡保持器52 中。這里，第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28的光軸表示由第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28導(dǎo)引并入射到第一物鏡 33的光束的光軸。此外，相對(duì)于盤安裝基準(zhǔn)表面67a，光學(xué)拾取器3被調(diào)節(jié)為傾斜以校正第 一物鏡33的初始慧形像差。以此方式，在考慮第一物鏡33的透鏡傾斜慧形像差靈敏度的溫 度特性的情況下對(duì)光學(xué)拾取器3進(jìn)行構(gòu)造。利用這樣的構(gòu)造，當(dāng)存在環(huán)境溫度變化事，光學(xué) 拾取器3可以減少慧形像差的改變，即可以在減少慧形像差的狀態(tài)下執(zhí)行記錄和再現(xiàn)。因 此，光學(xué)拾取器3通過(guò)利用塑料的第一物鏡33提高了制造性并減輕了重量，并且利用在考 慮了透鏡傾斜慧形像差靈敏度的波動(dòng)的情況下的構(gòu)造，即使在存在環(huán)境溫度變化時(shí)也實(shí)現(xiàn) 了優(yōu)選地記錄和再現(xiàn)特性。對(duì)于這樣的構(gòu)造，將參照?qǐng)D13對(duì)減少慧形像差的波動(dòng)的情況進(jìn)行說(shuō)明。圖13是圖 示具有如參照?qǐng)D6A所述的構(gòu)造的第一物鏡33以及作為比較示例的如參照?qǐng)D6B所述的第 一物鏡133的情況下盤傾斜量根據(jù)溫度變化而變化的圖。橫軸表示溫度變化，縱軸表示通 過(guò)將慧形像差的剩余量轉(zhuǎn)換為盤傾斜量而獲得的值。換言之，由縱軸表示抵消剩余慧形像 差的盤傾斜量。標(biāo)記LT133表示在比較示例的情況下的傾斜變化，并且基于溫度的傾斜變 化在這樣的比較示例中較大。這意味著在比較示例的構(gòu)造中，在高溫情況下必須更大程度 地執(zhí)行傾斜校正，其可能超過(guò)根據(jù)物鏡驅(qū)動(dòng)單元的構(gòu)造的需要傾斜變化。此外，這意味著在 低溫下傾斜校正角度可以較小，但是靈敏度變高，因此不可以執(zhí)行精細(xì)的調(diào)節(jié)，或者可以在 由于沖擊等改變角度的情況下產(chǎn)生極顯著的慧形像差。此外，圖中的標(biāo)記LT33表示在如用 于形成上述光學(xué)拾取器3的第一物鏡33中的構(gòu)造的情況下的傾斜變化，并表示在本實(shí)施例 中基于溫度的傾斜變化較小。這意味著在本實(shí)施例中傾斜靈敏度的變化較小。這里，如圖 中的標(biāo)記Zti所示，存在與0 °的偏差，但是如圖7所示，可以通過(guò)調(diào)節(jié)光學(xué)拾取器3與光盤 安裝基準(zhǔn)表面之間的相對(duì)角度來(lái)校正該偏差量。換言之，利用如圖6A和7所示的構(gòu)造，在 常溫下慧形像差的剩余量可以變小，并且可以減少由于溫度變化引起的慧形像差的改變。即，光學(xué)拾取器3被布置為使得在工作狀態(tài)下入射第一物鏡33的光束與將形成第 一物鏡33的光入射側(cè)和光出射側(cè)的光學(xué)表面的中心連接的軸線平行，并在工作狀態(tài)下維 持該關(guān)系。光學(xué)拾取器3可以防止環(huán)境溫度下慧形像差的變化。因此，光學(xué)拾取器3可以 防止當(dāng)使用與高密度記錄光盤對(duì)應(yīng)的第一物鏡33時(shí)在高溫和低溫環(huán)境下記錄和再現(xiàn)能力 的劣化。此外，光學(xué)拾取器3在再現(xiàn)第一光盤時(shí)即使環(huán)境溫度變化也不使用作為傾斜校 正 機(jī)構(gòu)的物鏡驅(qū)動(dòng)單元51，并在再現(xiàn)第二光盤時(shí)驅(qū)動(dòng)傾斜校正機(jī)構(gòu)以使透鏡保持器52傾斜 來(lái)獲得最優(yōu)再現(xiàn)環(huán)境。此外，光學(xué)拾取器3的第一物鏡33在環(huán)境溫度是0°C至70°C、第一光盤的保護(hù)層 厚度是70 μ m至105 μ m、并且光束的波長(zhǎng)λ 1是398nm至414nm的條件下滿足預(yù)定的靈敏度。在這樣的條件下，在通過(guò)移動(dòng)第一準(zhǔn)直透鏡36來(lái)校正所產(chǎn)生的球面像差的狀態(tài)下，第 一物鏡33傾斜從而具有在具有對(duì)應(yīng)的第一波長(zhǎng)\ 1的光束中產(chǎn)生的慧形像差的比率范圍 內(nèi)的特征。具體而言，在這樣的條件下，作為與透鏡傾斜對(duì)應(yīng)的慧形像差的比率的透鏡傾斜 慧形像差靈敏度滿足0至0.3入rms/°。這是因?yàn)?，透鏡在該條件下具有超過(guò)0. 3入rms/° 的透鏡傾斜慧形像差靈敏度的情況下，在使得光束的光軸和透鏡的光軸彼此一致時(shí)產(chǎn)生 的制造誤差等可以忽略。此外，這還因?yàn)椋@樣的透鏡被配置為使得由于時(shí)間變化或環(huán)境 變化引起的光束的光軸與透鏡的光軸之間的相對(duì)變化可以忽略。此外，這還因?yàn)椋@樣的 透鏡被配置為當(dāng)透鏡保持器沿著聚焦方向和尋軌方向發(fā)生位移時(shí)由于透鏡保持器的姿態(tài) 變化引起的光束的光軸與透鏡的光軸之間的相對(duì)變化可以忽略。以此方式，在上述條件 下，優(yōu)選地，透鏡傾斜慧形像差靈敏度是0至0.3入rms/°。此外，在上述條件下具有0至 0. 3入rms/°的透鏡傾斜慧形像差靈敏度的物鏡可以通過(guò)如參照?qǐng)D6A和7所述的構(gòu)造來(lái)獲 得上述效果。7.物鏡的慧形像差的方向和安裝方向接著，在光學(xué)拾取器3中，將對(duì)如參照?qǐng)D9說(shuō)明的在第一物鏡33和第二物鏡34的 慧形像差指向徑向方向的情況下的優(yōu)點(diǎn)進(jìn)行說(shuō)明。如上所述，在光學(xué)拾取器3中產(chǎn)生的慧 形像差包括物鏡本身的慧形像差、準(zhǔn)直透鏡或其他光學(xué)部件的慧形像差、以及通過(guò)光學(xué)部 件的組裝誤差產(chǎn)生的慧形像差。此外，在由塑料制成的物鏡中，需要考慮在光束經(jīng)過(guò)區(qū)域中 存在溫度梯度的情況下產(chǎn)生的慧形像差。即，當(dāng)在經(jīng)過(guò)區(qū)域中存在溫度梯度時(shí)，折射率對(duì)于 各個(gè)區(qū)域不同，因此產(chǎn)生慧形像差。此外，由于用于驅(qū)動(dòng)透鏡致動(dòng)器的線圈產(chǎn)生的熱以及通 過(guò)光盤的旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生的風(fēng)阻損耗，而產(chǎn)生溫度梯度。這里，將參照?qǐng)D14A至14C對(duì)在光學(xué)拾取器3中包括的第一物鏡33和第二物鏡34 的光束經(jīng)過(guò)區(qū)域中產(chǎn)生的溫度梯度進(jìn)行說(shuō)明。參照?qǐng)D14A和14B，相比與DVD等對(duì)應(yīng)的第二 物鏡34，在與例如BD等對(duì)應(yīng)的第一物鏡33中產(chǎn)生非對(duì)稱溫度分布。在物鏡中產(chǎn)生非對(duì)稱 溫度分布的情況下，折射率對(duì)于各分布位置產(chǎn)生變化。在存在如圖14A和14B所示的分布 的情況下，在徑向上產(chǎn)生慧形像差。此外，在線圈如圖3所示布置的情況下，產(chǎn)生如圖14A 和14B所示的溫度分布。在圖14A中，標(biāo)記AT01至AT05分別表示預(yù)定溫度范圍的區(qū)域。 這里，標(biāo)記AT05表示最高溫度，標(biāo)記AT04、AT03和AT02分別表示逐漸降低的溫度，并且標(biāo) 記AT01表示最低溫度。在圖14B中，標(biāo)記AT11至AT15分別表示預(yù)定溫度范圍的區(qū)域。這 里，標(biāo)記AT15表示最高溫度，標(biāo)記AT14、AT13和AT12分別表示逐漸降低的溫度，并且標(biāo)記 AT11表示最低溫度。圖14C圖示了在徑向上物鏡溫度分布的截面。在圖14C中，橫軸表示 截面位置，縱軸表示溫度。在圖14C中，在與第一物鏡33對(duì)應(yīng)的截面位置中存在具有臺(tái)階 溫度差的溫度分布。由以下四個(gè)因素決定了在物鏡中產(chǎn)生的溫度差。第一因素是在保持物鏡的透鏡保 持器的形狀。第二因素是每個(gè)線圈與物鏡之間的相對(duì)位置關(guān)系。第三因素是在線圈中流動(dòng) 的電流的量。第四因素是可以由光盤的旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生的風(fēng)阻損耗。這里，因?yàn)榈谌偷谒囊蛩?是隨著其工作狀態(tài)而顯著變化的，所以基于物鏡的溫度差的慧形像差產(chǎn)生量可以不具有恒 定值。但是，慧形像差的產(chǎn)生方向主要由第一和第二因素決定。因此，可以通過(guò)根據(jù)第三 和第四因素而根據(jù)經(jīng)驗(yàn)假定的平均電流量和風(fēng)阻損耗計(jì)算得到的慧形像差量，來(lái)增大芯軸電動(dòng)機(jī)的光盤安裝基準(zhǔn)表面與光學(xué)拾取器的主軸和副軸的基準(zhǔn)表面之間的相對(duì)角度。因 此，可以減少基于透鏡溫度的慧形像差的影響。將參照?qǐng)D15A至15C對(duì)此進(jìn)行說(shuō)明。圖15A至15C圖示了根據(jù)線圈電流量與慧形 像差之間的關(guān)系的慧形像差分布。圖15A圖示了由橫軸表示的線圈電流量和由縱軸表示的 頻率分布。圖15B圖示了線圈電流量與慧形像差之間的關(guān)系，其中橫軸表示線圈電流量的 平方值，縱軸表示慧形像差。線圈電流量的平方值與所產(chǎn)生的熱量成正比，并且慧形像差與 盤傾斜成正比。圖15C圖示了根據(jù)圖15A與圖15B之間的關(guān)系獲得的分布，其中橫軸表示 包括風(fēng)阻損耗的慧形像差量，而縱軸表示其頻率。圖中的虛線表示平均慧形像差量。根據(jù)本實(shí)施例的光學(xué)拾取器3具有如下特性光學(xué)拾取器3安裝在透鏡保持器52 中，使得第一物鏡33和第二物鏡34的慧形像差指向同一方向，并沿著徑向。對(duì)于這樣的構(gòu) 造，如圖7所示，由于在其中減小第一物鏡33的初始慧形像差的方向0 p上的相對(duì)傾斜，第 二物鏡34的初始慧形像差也可以得到一定程度的減小。即，在使用第二物鏡34的情況下 如參照?qǐng)D8所述的傾斜角度減小的狀態(tài)下，實(shí)現(xiàn)優(yōu)選地記錄和/或再現(xiàn)特性。此外，光學(xué)拾取器3具有如下特性由于第一物鏡33和第二物鏡34的溫度差引起 的慧形像差的方向被設(shè)定在光盤的內(nèi)周和外周方向(徑向)上。具體而言，第一物鏡33和 第二物鏡34沿著徑向布置，并且線圈布置在第一物鏡33和第二物鏡34的切向方向的相對(duì) 兩側(cè)。利用這樣的構(gòu)造，可以將由于第一物鏡33和第二物鏡34的溫度差引起慧形像差的 方向設(shè)定為徑向。因此，光學(xué)拾取器3可以在平均意義上抵消由于溫度差引起的慧形像差， 從而減少其影響。換言之，光學(xué)拾取器與光盤之間的相對(duì)角度被確定為傾斜，以預(yù)測(cè)由在實(shí) 際工作狀態(tài)下在物鏡附近產(chǎn)生的熱量或溫度分布所造成的慧形像差，并最大程度地減小在 這種使用狀態(tài)下的慧形像差。因此，光學(xué)拾取器3可以防止當(dāng)使用與高密度記錄光盤對(duì)應(yīng) 的第一物鏡33時(shí)由于諸如透鏡附近的線圈之類的熱源引起的記錄和/或再現(xiàn)特性的劣化。 此外，光學(xué)拾取器3具有這樣的構(gòu)造以及物鏡的慧形像差在內(nèi)周和外周方向上相同的上述 構(gòu)造。因此，光學(xué)拾取器3可以通過(guò)針對(duì)第一物鏡33的如圖7所示的相對(duì)角度調(diào)節(jié)來(lái)校正 慧形像差，并可以針對(duì)第二物鏡34通過(guò)如圖8所示借助于物鏡驅(qū)動(dòng)單元51進(jìn)行的傾斜調(diào) 節(jié)來(lái)校正慧形像差。此外，光學(xué)拾取器3具有如下特性在第二光源32中用于第二波長(zhǎng)\ 2的發(fā)光單 元和用于第三波長(zhǎng)、3的發(fā)光單元沿著與第二物鏡34的慧形像差的方向?qū)?yīng)的方向平行 地布置。具體而言，用于DVD等所用的第二波長(zhǎng)的發(fā)光單元布置在第二光學(xué)系統(tǒng)的光軸上， 并且用于CD等所用的第三波長(zhǎng)的發(fā)光單元布置為離開(kāi)第二光學(xué)系統(tǒng)的光軸。此外，對(duì)于 這種發(fā)光點(diǎn)以離軸方式布置的發(fā)光單元，光束以傾斜方式入射第二物鏡34以將所產(chǎn)生的 離軸慧形像差的方向朝向光盤內(nèi)周和外周方向(徑向)配置。換言之，當(dāng)將第二光源32形 成為用于DVD或CD的雙波長(zhǎng)激光器時(shí)，考慮到以下因素來(lái)布置以離軸布置方式使用的發(fā) 光點(diǎn)。即，離軸慧形像差沿著其中在第一物鏡33中由通過(guò)光學(xué)拾取器的相對(duì)角度的偏斜調(diào) 節(jié)方向產(chǎn)生的慧形像差來(lái)抵消離軸慧形像差的方向布置。因此，光學(xué)拾取器3可以通過(guò)如 圖7所示的調(diào)節(jié)減小由于離軸布置的影響引起的慧形像差，并且在使用第三波長(zhǎng)和第二物 鏡34的情況下可以通過(guò)如圖8所示借助于物鏡驅(qū)動(dòng)單元51進(jìn)行的傾斜調(diào)節(jié)來(lái)校正慧形像 差。利用物鏡本身的慧形像差的方向、由溫度變化引起的慧形像差的方向、以及離軸慧形像 差的方向沿著徑向上彼此一致的上述構(gòu)造，光學(xué)拾取器3可以同時(shí)校正在以離軸方式布置的光路中的離軸慧形像差，以及獲得上述效果。即，光學(xué)拾取器3對(duì)光學(xué)拾取器3進(jìn)行偏斜 調(diào)節(jié)，以對(duì)于第一物鏡33進(jìn)行最優(yōu)化，從而減小由于第二光源32的用于第二和第三波長(zhǎng)的 各個(gè)發(fā)光點(diǎn)的離軸布置的影響所產(chǎn)生的慧形像差。將參照?qǐng)D16A和16B對(duì)此進(jìn)一步說(shuō)明。如圖16A所示，第一物鏡33和第二物鏡34 可以舉例表示為D1至D5的像差。在光學(xué)拾取器3中，每個(gè)像差的方向被配置在徑向上。 即，首先，當(dāng)?shù)谝徊ㄩL(zhǎng)XI的光束經(jīng)過(guò)第一物鏡33時(shí)，產(chǎn)生慧形像差D1。慧形像差D2是由 第一物鏡33中的溫度差產(chǎn)生的慧形像差平均值(這里，稱為“電流慧形像差”)。當(dāng)?shù)诙?長(zhǎng)入2經(jīng)過(guò)第二物鏡34時(shí)，產(chǎn)生慧形像差D3。當(dāng)?shù)谌ㄩL(zhǎng)X 3經(jīng)過(guò)第二物鏡34時(shí)，產(chǎn)生慧 形像差D4?；坌蜗癫頓5是當(dāng)?shù)诙鈱W(xué)系統(tǒng)中第二光源32的用于第三波長(zhǎng)的發(fā)光單元34b 以離軸方式布置時(shí)在第三波長(zhǎng)的光束中產(chǎn)生的離軸慧形像差。在光學(xué)拾取器3中，第二光源32的用于第三波長(zhǎng)的發(fā)光單元34b被布置為使慧形 像差D2和D5的方向?qū)?zhǔn)，從而獲得以下效果。即，利用這樣的構(gòu)造，在第一波長(zhǎng)的光束中產(chǎn) 生的慧形像差和在第三波長(zhǎng)的光束中產(chǎn)生的慧形像差變得相對(duì)較小。這樣的構(gòu)造表示使用 第一波長(zhǎng)的情況和使用第三波長(zhǎng)的情況的相對(duì)盤傾斜變小。光學(xué)拾取器3通過(guò)這樣的構(gòu)造 以及如參照?qǐng)D7所述對(duì)于第一物鏡33執(zhí)行最優(yōu)相對(duì)角度調(diào)節(jié)的構(gòu)造而具有以下效果。艮口， 如圖16B所示，在光學(xué)拾取器3中，調(diào)節(jié)盤安裝基準(zhǔn)表面與光學(xué)拾取器之間的相對(duì)角度e p 以去除慧形像差D1和D2。因此，光學(xué)拾取器3可以減小在第二物鏡34的第三波長(zhǎng)的光束 中產(chǎn)生的傾斜剩余量。換言之，在使用第三波長(zhǎng)的光束的情況下，光學(xué)拾取器3可以通過(guò)物 鏡驅(qū)動(dòng)單元51來(lái)減小傾斜角度。8.光學(xué)拾取器的制造方法接著，將對(duì)根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光學(xué)拾取器3的制造方法進(jìn)行說(shuō)明。光學(xué)拾取器3的制造方法包括如圖19所示的步驟S1至S6。在步驟S1，將第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28和第二導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)29安裝在作為基體構(gòu)件 的拾取器基體50中。換言之，在步驟S1，安裝用于形成第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28和第二導(dǎo)光光 學(xué)系統(tǒng)29的光學(xué)部件。具體而言，在步驟S1，調(diào)節(jié)并布置位于第一立起反射鏡41和第二立起反射鏡42上 的第一光源31和第二光源32，使得第一和第二波長(zhǎng)的光束的光軸相對(duì)于光學(xué)拾取器3的主 軸副軸基準(zhǔn)表面豎直地立起。此外，根據(jù)同樣的觀點(diǎn)來(lái)調(diào)節(jié)并布置其他光學(xué)部件。主軸副 軸基準(zhǔn)表面是包括對(duì)光學(xué)拾取器3進(jìn)行導(dǎo)引的主軸62和副軸63的中心線的平坦表面。在步驟S1，將第一光源31的用于第一波長(zhǎng)的發(fā)光點(diǎn)調(diào)節(jié)為位于第一導(dǎo)光光學(xué)系 統(tǒng)28的光軸上。將第一光源31的用于第一波長(zhǎng)的發(fā)光點(diǎn)調(diào)節(jié)為使得在經(jīng)過(guò)各個(gè)光學(xué)部件 的光軸之后由第一立起反射鏡41反射的光束被定為為相對(duì)于主軸副軸基準(zhǔn)表面豎直地立 起。此外，將第二光源32的用于第二波長(zhǎng)的發(fā)光點(diǎn)34a調(diào)節(jié)為位于第二導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)29 的光軸上。此外，調(diào)節(jié)第二光源32的用于第二波長(zhǎng)的發(fā)光點(diǎn)34a，使得由在經(jīng)過(guò)各個(gè)光學(xué)部 件的光軸之后由第二立起反射鏡42反射的光束定位為相對(duì)于主軸副軸基準(zhǔn)表面豎直地立 起。但是，第二光源32的用于第三波長(zhǎng)的發(fā)光點(diǎn)34b相對(duì)于位于光軸上的用于第二波長(zhǎng)的 發(fā)光點(diǎn)以離軸的方式定位，并且被調(diào)節(jié)為沿著作為第二物鏡34的慧形像差的方向的徑向 定位(見(jiàn)圖16A和16B)。此外，將用于形成第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28和第二導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)29 的其他部件布置為使得從第一光源31和第二光源32發(fā)射的光束經(jīng)過(guò)其他部件的中心。
在步驟S2，將第一物鏡33和第二物鏡34保持在物鏡驅(qū)動(dòng)單元51的透鏡保持器 52中。 具體而言，在步驟S2，將第一物鏡33和第二物鏡34布置為使得各自慧形像差的方 向沿著徑向(例如，沿著向外方向)彼此一致，并被保持在物鏡驅(qū)動(dòng)單元51的透鏡保持器 52中。此外，此時(shí)，使第一物鏡33和第二物鏡34的光軸盡可能平行地安裝。因此，如下文 所述，將第一物鏡33的光軸調(diào)節(jié)為使得第二物鏡34的光軸也可以成為期望狀態(tài)。在步驟S3，如圖6A所示，將物鏡驅(qū)動(dòng)單元51安裝在光學(xué)拾取器3中，使得第一物 鏡33的光軸與第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28的光軸一致。即，調(diào)節(jié)物鏡的光軸。在步驟S3，將作為致動(dòng)器保持單元的支撐體53安裝在光學(xué)拾取器3的拾取器基 體50中，以將物鏡驅(qū)動(dòng)單元51安裝在光學(xué)拾取器3中。當(dāng)安裝物鏡驅(qū)動(dòng)單元51時(shí)，傾斜 校正機(jī)構(gòu)處于關(guān)閉狀態(tài)。將物鏡驅(qū)動(dòng)單元51調(diào)節(jié)為使得在作為致動(dòng)器操作單元的透鏡保 持器52沒(méi)有相對(duì)于支撐體53沿著傾斜方向發(fā)生位移的狀態(tài)下第一物鏡33的光軸與從第 一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28導(dǎo)引的光束的光軸一致。透鏡保持器52沒(méi)有沿著傾斜方向發(fā)生位移的 狀態(tài)表示在使用第一物鏡33的情況下成為透鏡保持器52和支撐體53的基準(zhǔn)的位置關(guān)系。 例如，這樣的狀態(tài)表示相對(duì)于透鏡保持器52沒(méi)有相對(duì)于支撐體53發(fā)生位移的狀態(tài)，透鏡保 持器52沿著光軸方向發(fā)生位移的狀態(tài)。因此，第二物鏡34的光軸變得與第二導(dǎo)光光學(xué)系 統(tǒng)29的光軸近似一致，但是首先將執(zhí)行高密度記錄和再現(xiàn)的第一物鏡33的光軸調(diào)節(jié)為最 優(yōu)狀態(tài)。具體而言，將第一物鏡33的光軸調(diào)節(jié)為相對(duì)于光學(xué)拾取器3的主軸副軸基準(zhǔn)表面 豎直。換言之，將該光軸調(diào)節(jié)為使得具有與透鏡的光軸垂直的表面的透鏡外周與主軸副軸 基準(zhǔn)表面平行。在步驟S2和S3，調(diào)節(jié)物鏡。在這些步驟中，將第一物鏡33保持在光學(xué)拾取器3的 透鏡保持器52中，使得通過(guò)第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28導(dǎo)向第一物鏡33的光束的光軸與第一物 鏡33的光軸近似一致。在步驟S4，測(cè)量光學(xué)拾取器的安裝角度。這里，安裝角度表示用于調(diào)節(jié)光學(xué)拾取 器3與光盤安裝基本表面之間的相對(duì)角度的安裝角度，即偏斜量。在步驟S4中，測(cè)量在使 用第一物鏡33的情況下光學(xué)拾取器3與光盤安裝基準(zhǔn)表面之間的相對(duì)角度的最優(yōu)值。這里，將參照?qǐng)D17A至17D對(duì)用于計(jì)算需要偏斜量的方法進(jìn)行說(shuō)明。例如，在步驟 S4，使用如圖17B所示包括干涉儀或波前傳感器的測(cè)量裝置71來(lái)獲得如圖17A所示的輸 出。測(cè)量裝置71測(cè)量經(jīng)過(guò)光學(xué)拾取器3 (第一物鏡33如上所述安裝在光學(xué)拾取器3中) 的第一物鏡33的光束的慧形像差(入rms)。測(cè)量裝置71根據(jù)慧形像差及其盤傾斜靈敏度 來(lái)計(jì)算最優(yōu)相對(duì)角度。這里，獲得如下關(guān)系最優(yōu)相對(duì)角度(° )是慧形像差Urms)/盤 傾斜靈敏度U rms/° )。此外，將參照?qǐng)D17C和17D對(duì)另一種用于計(jì)算需要偏斜量的方法進(jìn)行說(shuō)明。在此 方法中，使用如圖17D所示能夠執(zhí)行光點(diǎn)測(cè)量的測(cè)量裝置72來(lái)獲得如圖17C所示的輸出。 如圖17C所示，測(cè)量裝置72測(cè)量在使其中第一物鏡33如上所述安裝的光學(xué)拾取器3傾斜 的情況下經(jīng)過(guò)第一物鏡33的光束的光點(diǎn)的形狀。測(cè)量裝置72測(cè)量第一環(huán)72a的幅值得到 平衡的角度作為最優(yōu)相對(duì)角度。此外，將參照?qǐng)D18對(duì)另一種用于計(jì)算需要偏斜量的方法進(jìn)行說(shuō)明。在此方法中， 0PU評(píng)估裝置在改變光學(xué)拾取器與光盤安裝基準(zhǔn)表面之間的相對(duì)角度的情況下測(cè)量波動(dòng)(jitter)等。將其中使波動(dòng)最小最優(yōu)的相對(duì)角度計(jì)算作為最優(yōu)相對(duì)角度0p。在如圖18 所示的情況下，可以檢測(cè)出了波動(dòng)之外的其他信號(hào)，例如，可以將在RF信號(hào)或?qū)ぼ壵`差信 號(hào)的幅值變?yōu)樽畲蟮那闆r下的相對(duì)角度計(jì)算作為最優(yōu)角度。此外，可以將當(dāng)誤差率變得最 小時(shí)的角度？)檢測(cè)作為最優(yōu)角度。在步驟S4，利用任意方法，計(jì)算在使用第一物鏡33的情況下的最優(yōu)角度。此外，對(duì) 于步驟S6，測(cè)量并檢測(cè)在使用第二物鏡34的情況下的最優(yōu)角度。在步驟S5，安裝光學(xué)拾取器。在步驟S5，偏斜調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)64調(diào)節(jié)對(duì)光學(xué)拾取器3進(jìn) 行支撐的主軸62和副軸63的高度，使得盤安裝基準(zhǔn)表面67a與光學(xué)拾取器3之間的相對(duì) 角度成為在步驟S4中計(jì)算得到的最優(yōu)角度。光學(xué)拾取器3在最優(yōu)相對(duì)角度的狀態(tài)下安裝 在光盤裝置1中。在步驟S4和S5中，調(diào)節(jié)光學(xué)拾取器的安裝角度。在這些步驟中，調(diào)節(jié)光學(xué)拾取器 3，使得光學(xué)拾取器的安裝角度成為相對(duì)于光盤的最優(yōu)相對(duì)角度。這里，將光學(xué)拾取器3調(diào) 節(jié)為在使用第一物鏡的情況下具有最優(yōu)角度。關(guān)于此，步驟S4和步驟S5可以被配置為相 同。具體而言，在此情況下，例如在改變光學(xué)拾取器3與盤基準(zhǔn)表面之間的相對(duì)角度的同時(shí) 直接測(cè)量光學(xué)拾取器的像差，接著調(diào)節(jié)光學(xué)拾取器3使得像差成為最優(yōu)。步驟S6是最優(yōu)狀態(tài)計(jì)算存儲(chǔ)步驟，其中計(jì)算并存儲(chǔ)當(dāng)使用第二物鏡34時(shí)代最優(yōu) 傾斜角度。在步驟S6，測(cè)量裝置71和72等基于步驟S4中的測(cè)量結(jié)果來(lái)計(jì)算當(dāng)使用第二 物鏡34時(shí)代最優(yōu)傾斜角度。即，在S4中，計(jì)算當(dāng)使用第一物鏡33時(shí)光學(xué)拾取器3的最優(yōu) 相對(duì)角度和當(dāng)使用第二物鏡34時(shí)光學(xué)拾取器3的最優(yōu)相對(duì)角度。測(cè)量裝置71和72等基 于兩個(gè)最優(yōu)相對(duì)角度，計(jì)算在如圖7所示以0 p傾斜的光學(xué)拾取器3中，當(dāng)使用第二物鏡 34時(shí)如圖8所示的最優(yōu)傾斜角度0A。計(jì)算得到的最優(yōu)傾斜角度e A是如下所述的傾斜角 度其使得利用作為傾斜校正機(jī)構(gòu)的物鏡驅(qū)動(dòng)單元51來(lái)最優(yōu)地校正由于第二物鏡34引起 的對(duì)于第二和第三光盤的初始慧形像差。在此步驟，光學(xué)拾取器3的作為存儲(chǔ)單元的內(nèi)部 存儲(chǔ)器26存儲(chǔ)傾斜角度0A。當(dāng)執(zhí)行記錄和再現(xiàn)時(shí)，如圖8所示，在使用第二物鏡34的情 況下，基于存儲(chǔ)在內(nèi)部存儲(chǔ)器26中的傾斜角度0 A，光學(xué)拾取器3通過(guò)物鏡驅(qū)動(dòng)單元51來(lái) 使第二物鏡34傾斜。這里，計(jì)算在步驟S4計(jì)算的第二物鏡34的最優(yōu)傾斜角度，并給予最 優(yōu)傾斜角度計(jì)算器資額角度9A，但是這不是限制性的而是用作示例。即，例如，在如圖7所 示安裝的光學(xué)拾取器3中，傾斜可以如圖8所示變化，因此，當(dāng)由第二物鏡34聚焦的光束的 像差變?yōu)樽钚r(shí)的角度可以被設(shè)定為傾斜角度9 A。這里，關(guān)于傾斜角度e A的信息被存儲(chǔ) 在光學(xué)拾取器3中的內(nèi)部存儲(chǔ)器26中，但是這不是限制性的而是用作示例。即，作為存儲(chǔ) 傾斜角度e A的存儲(chǔ)單元，可以使用在光盤裝置1的系統(tǒng)控制器7中包括的存儲(chǔ)器或者與 系統(tǒng)控制器7連接的存儲(chǔ)器。以此方式，在光學(xué)拾取器3不具有存儲(chǔ)器的情況下，例如使用 二維條形碼等作為存儲(chǔ)單元來(lái)存儲(chǔ)在步驟S4計(jì)算得到的最優(yōu)傾斜角度e A以用于信息傳 輸。具體而言，能夠可選地讀取包括傾斜角度eA的信息的二維條形碼等通過(guò)制造設(shè)備產(chǎn) 生以粘附在光學(xué)拾取器3的殼體的表面上。當(dāng)光學(xué)拾取器3被組裝在光盤裝置1中時(shí)，可 以通過(guò)制造設(shè)備讀取條形碼，從而將信息存儲(chǔ)在光盤裝置1的存儲(chǔ)單元(存儲(chǔ)器)中。根據(jù)上述光學(xué)拾取器制造方法，可以制造具有如下效果的光學(xué)拾取器3 在用于 上述高密度記錄光盤的物鏡由塑料制成的情況下，減小隨著溫度變化帶來(lái)的慧形像差的改 變。制造方法尤其包括步驟S3，以實(shí)現(xiàn)在使用第一物鏡33的情況下減小隨著溫度變化帶來(lái)的慧形像差的改變。此外，制造方法尤其包括步驟S6，以減小通過(guò)其中第一物鏡33被如上所述最優(yōu)化的光學(xué)拾取器而使用第二物鏡針對(duì)第二和第三光盤引起的慧形像差。9.光學(xué)拾取器的控制方法接著，將參照?qǐng)D20對(duì)光學(xué)拾取器3的控制方法進(jìn)行說(shuō)明。具體而言，具有上述光 學(xué)拾取器3的光盤裝置1執(zhí)行如圖20的流程圖所示的記錄和再現(xiàn)方法，并在記錄和在線中 執(zhí)行光學(xué)拾取器3的控制。記錄和再現(xiàn)方法對(duì)應(yīng)于步驟Sll至S17。在步驟S11，如果將光盤2安裝在光盤裝置1的盤安裝單元并操控用于記錄或再 現(xiàn)的開(kāi)始按鈕，則系統(tǒng)控制器7驅(qū)動(dòng)激光器控制單元21，使得從第一光源31或第二光源32 發(fā)射光束。此外，在步驟Sll中，系統(tǒng)控制器7驅(qū)動(dòng)伺服控制單元9中的芯軸電動(dòng)機(jī)4以使 得安裝在盤安裝單元中的光盤2旋轉(zhuǎn)。接著，在步驟S12中，光學(xué)拾取器3和盤類型識(shí)別單元22檢測(cè)由于表面反射率、形 狀和外觀等引起的反射光量的不同，以從而檢測(cè)并識(shí)別光盤2。根據(jù)光盤識(shí)別步驟的結(jié)果， 在使用第一波長(zhǎng)的光束的情況下，不使用物鏡驅(qū)動(dòng)單元51的傾斜校正功能，在使用第二和 第三波長(zhǎng)的光束的情況下，使用物鏡驅(qū)動(dòng)單元51的傾斜校正功能。此外，在步驟S12，在識(shí) 別為所安裝的光盤是第一光盤11的情況下，處理進(jìn)行到步驟S13。此外，在步驟S12，在識(shí) 別為所安裝的光盤不是第一光盤11的情況下，處理進(jìn)行到步驟S15。在所安裝的光盤不是 第一光盤11的情況下，所安裝的光盤對(duì)應(yīng)于第二和第三光盤。關(guān)于此，所安裝的光盤可以 對(duì)應(yīng)于第二光盤12和第三光盤13中的任一者。在步驟S13，調(diào)節(jié)光學(xué)拾取器3的各個(gè)部件(第一最優(yōu)化調(diào)節(jié))以利用第一物鏡33 執(zhí)行對(duì)于第一光盤的記錄和再現(xiàn)。在步驟S13，控制單元27執(zhí)行控制，使得從第一光源31 發(fā)射第一波長(zhǎng)的光束，其具有與記錄或再現(xiàn)對(duì)應(yīng)的強(qiáng)度。此外，控制單元27在系統(tǒng)控制器 7的控制下控制準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動(dòng)單元48，以將第一準(zhǔn)直透鏡36移動(dòng)到預(yù)定位置。此時(shí)，第一 準(zhǔn)直透鏡36根據(jù)由盤類型識(shí)別單元22檢測(cè)到的光盤2的類型而移動(dòng)到基準(zhǔn)位置。此外， 控制單元27通過(guò)準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動(dòng)單元48使第一準(zhǔn)直透鏡36沿著光軸方向略微地移動(dòng)以校 正球面像差。具體而言，控制單元27使第一準(zhǔn)直透鏡36沿著增強(qiáng)由第一光電檢測(cè)器39檢 測(cè)到的RF信號(hào)的質(zhì)量水平的方向(即，沿著使由第一光電檢測(cè)器39檢測(cè)到的RF信號(hào)的波 動(dòng)量變得最小的方向)移動(dòng)。在此步驟中，伺服控制單元9基于聚焦誤差信號(hào)驅(qū)動(dòng)物鏡驅(qū) 動(dòng)單元51，以使第一物鏡33沿著聚焦方向移動(dòng)，從而執(zhí)行聚焦控制。在此步驟中，控制單元 27不使用物鏡驅(qū)動(dòng)單元51的傾斜校正功能。換言之，物鏡驅(qū)動(dòng)單元51不沿著傾斜方向驅(qū) 動(dòng)透鏡保持器52和第一物鏡33。然后，處理進(jìn)行到步驟S14。在步驟S14，控制單元27開(kāi)始對(duì)于光盤2進(jìn)行信息信號(hào)的記錄或再現(xiàn)。此時(shí)，光 學(xué)拾取器3在不使用傾斜校正機(jī)構(gòu)的狀態(tài)下對(duì)于第一光盤執(zhí)行信息信號(hào)的記錄和再現(xiàn)。此 夕卜，在此步驟，伺服控制單元9基于尋軌誤差信號(hào)驅(qū)動(dòng)物鏡驅(qū)動(dòng)單元51，以使得第一物鏡33 沿著尋軌方向移動(dòng)，從而執(zhí)行尋軌控制。在由系統(tǒng)控制器7判定為記錄和再現(xiàn)操作完成的 情況下，處理進(jìn)行到步驟S17。在步驟S15，調(diào)節(jié)光學(xué)拾取器3的每個(gè)部件(第二最優(yōu)化調(diào)節(jié))，以使用第二物鏡 34對(duì)于第二或第三光盤執(zhí)行記錄和再現(xiàn)。此后，將說(shuō)明對(duì)于第二光盤執(zhí)行記錄和再現(xiàn)的情 況。在對(duì)于第三光盤執(zhí)行記錄和再現(xiàn)的情況，與后述情況相似，執(zhí)行與第三光盤對(duì)應(yīng)的最優(yōu) 化調(diào)節(jié)，并使用傾斜校正機(jī)構(gòu)來(lái)執(zhí)行記錄和再現(xiàn)。在步驟S15，控制單元27執(zhí)行控制，使得從第二光源32的用于第二波長(zhǎng)的發(fā)光單元發(fā)射第二波長(zhǎng)的光束，其具有與記錄或再現(xiàn)對(duì) 應(yīng)的強(qiáng)度。在步驟S15，例如，控制單元27基于存儲(chǔ)在內(nèi)部存儲(chǔ)器26中的如圖8所示的最優(yōu) 傾斜角度來(lái)驅(qū)動(dòng)物鏡驅(qū)動(dòng)單元51，以前沿著傾斜方向驅(qū)動(dòng)透鏡保持器52和第二物鏡34。第 二物鏡34在如上所述減小慧形像差的狀態(tài)下如圖8所示傾斜。在此步驟，伺服控制單元9 基于聚焦誤差信號(hào)驅(qū)動(dòng)物鏡驅(qū)動(dòng)單元51，以使第二物鏡34沿著聚焦方向移動(dòng)，從而執(zhí)行聚 焦控制。處理進(jìn)行到步驟S16。在步驟S16，光學(xué)拾取器3開(kāi)始對(duì)于光盤2進(jìn)行信息信號(hào)的記錄或再現(xiàn)。此時(shí)，光 學(xué)拾取器3使用作為傾斜校正機(jī)構(gòu)的物鏡驅(qū)動(dòng)單元51以對(duì)于第二光盤執(zhí)行信息信號(hào)的記 錄或再現(xiàn)。此外，在動(dòng)態(tài)地執(zhí)行傾斜校正的情況下，伺服控制單元9確定透鏡傾斜校正的量 以減小對(duì)于光盤2的翹曲引起的慧形像差，并驅(qū)動(dòng)物鏡驅(qū)動(dòng)單元51使第二物鏡34沿著傾 斜方向發(fā)生位移。此外，在此步驟中，伺服控制單元9基于尋軌誤差信號(hào)來(lái)驅(qū)動(dòng)物鏡驅(qū)動(dòng)單 元51，以使得第二物鏡34沿著尋軌方向移動(dòng)，從而執(zhí)行尋軌控制。在由系統(tǒng)控制器7判定 為記錄和再現(xiàn)操作完成的情況下，處理進(jìn)行到步驟S17。在步驟S17，激光器控制單元21停止從第一光源31或第二光源32發(fā)射光束，并且 伺服控制單元9停止芯軸電動(dòng)機(jī)4的驅(qū)動(dòng)。根據(jù)如圖20所示的上述處理，可以基于光盤的類型，針對(duì)所使用的各物鏡，在最 優(yōu)化慧形像差時(shí)分別執(zhí)行記錄和再現(xiàn)，因此實(shí)現(xiàn)了優(yōu)選地記錄和再現(xiàn)特性。即，包括步驟S12至S16的光學(xué)拾取器控制方法具有如下特性在使用第一物鏡的 情況下和在使用第二物鏡的情況下判定是否使用物鏡驅(qū)動(dòng)單元51的傾斜校正功能。即，在 對(duì)于第一光盤執(zhí)行記錄或再現(xiàn)的情況下，如圖7所示，光學(xué)拾取器3在不使用傾斜校正機(jī)構(gòu) 的狀態(tài)下對(duì)于第一光盤執(zhí)行信息信號(hào)的記錄或再現(xiàn)。另一方面，在對(duì)于第二和第三光盤執(zhí) 行記錄或再現(xiàn)的情況下，如圖8所示，光學(xué)拾取器3使用傾斜校正機(jī)構(gòu)對(duì)于第二和第三光盤 執(zhí)行信息信號(hào)的記錄或再現(xiàn)。上述光學(xué)拾取器方法減少了由使用塑料透鏡作為用于高密度記錄的物鏡的光學(xué) 拾取器3在存在環(huán)境溫度變化的情況下的慧形像差，從而實(shí)現(xiàn)了期望的記錄和再現(xiàn)特性。如上所述，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光學(xué)拾取器3使用由塑料制成的物鏡來(lái)增強(qiáng)制 造性并減輕重量，并且減小了在存在環(huán)境溫度變化的情況下的慧形像差，而實(shí)現(xiàn)了期望的 記錄和再現(xiàn)特性。即，光學(xué)拾取器3實(shí)現(xiàn)了制造性或重量減輕，并同時(shí)實(shí)現(xiàn)了期望的記錄和 再現(xiàn)特性。在以上說(shuō)明中，對(duì)具有兩個(gè)物鏡的光學(xué)拾取器3進(jìn)行了說(shuō)明，但是本發(fā)明的實(shí)施 例不限于此，而可以應(yīng)用于僅具有一個(gè)物鏡的光學(xué)拾取器。10.光學(xué)拾取器的另一示例(第二實(shí)施例)將參照?qǐng)D21對(duì)作為根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光學(xué)拾取器的另一個(gè)示例的具有單個(gè) 物鏡的光學(xué)拾取器80進(jìn)行說(shuō)明。這里，因?yàn)榫哂胁煌瑪?shù)量物鏡的此實(shí)施例的構(gòu)造與上述光 學(xué)拾取器3的相同，所以將相似的附圖標(biāo)記給予相似的元件，并可以省略其詳細(xì)說(shuō)明。光學(xué)拾取器80包括第一光源31、第二光源32和分束器81，分束器81是將來(lái)自第 一光源31和第二光源32的光束的光路組合的光路組合元件。此外，光學(xué)拾取器80包括替 代上述第一物鏡33和第一準(zhǔn)直透鏡36的物鏡82和準(zhǔn)直透鏡83，物鏡82和準(zhǔn)直透鏡83被配置為具有與第一物鏡33和第一準(zhǔn)直透鏡36相同的功能以對(duì)于三個(gè)波長(zhǎng)共用。此外，光 學(xué)拾取器80包括替代上述偏振分束器38、多透鏡40和光電檢測(cè)器39的偏振分束器84、多 透鏡85和光電檢測(cè)器86，偏振分束器84、多透鏡85和光電檢測(cè)器86被配置為與上述偏振 分束器38、多透鏡40和光電檢測(cè)器39具有相同功能以對(duì)于三個(gè)波長(zhǎng)共用。與第一準(zhǔn)直透鏡36相似，用于沿著光軸方向驅(qū)動(dòng)第一準(zhǔn)直透鏡36的準(zhǔn)直透鏡驅(qū) 動(dòng)單元48被安裝在準(zhǔn)直透鏡83中。準(zhǔn)直透鏡83和準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動(dòng)單元48可以減小基于溫 度變化、覆層的厚度變化或盤的類型所產(chǎn)生的球面像差，從而形成合適的光束點(diǎn)。物鏡82是將具有三個(gè)不同波長(zhǎng)的光束聚焦在具有不同覆層的第一至第三光盤的 信號(hào)記錄表面上的物鏡。如圖22所示，物鏡82例如包括具有折射功能的第一元件82A以 及具有衍射功能的第二元件82B，并通過(guò)保持器82c將第一元件82A和第二元件82B組合 而具有三波長(zhǎng)兼容性。物鏡82例如在安裝在第二元件82B中的衍射單元82B1和82B2對(duì) 于第一波長(zhǎng)LB1不衍射的狀態(tài)下借助于第一元件82A的折射功能來(lái)將第一波長(zhǎng)的光束適 當(dāng)?shù)鼐劢乖诘谝还獗P的信號(hào)記錄表面lis上。物鏡82例如被構(gòu)造為使得安裝在第二元件 82B的光入射表面中的衍射單元82B1對(duì)于第二波長(zhǎng)LB2執(zhí)行預(yù)定的衍射。物鏡82通過(guò)第 一元件82A的預(yù)定衍射和折射操作來(lái)適當(dāng)?shù)貙⒌诙ㄩL(zhǎng)的光束聚焦在第二光盤的信息記 錄表面12s上。此外，物鏡82被構(gòu)造為使得安裝在第二元件82B的光入射表面中的衍射單 元82B2對(duì)于第三波長(zhǎng)執(zhí)行預(yù)定的衍射。物鏡82通過(guò)第一元件82A的衍射操作來(lái)適當(dāng)?shù)貙?第二波長(zhǎng)的光束LB3聚焦在第三光盤的信息記錄表面13s上。這里，由于第二元件82B引 起的衍射操作不限于此，并且可以對(duì)于第一波長(zhǎng)執(zhí)行預(yù)定衍射操作。此外，安裝在第二元件 82B中的衍射單元例如具有在多個(gè)區(qū)域的每個(gè)中的輪匝帶(zona orbicularis)形狀的衍 射結(jié)構(gòu)，并可以被構(gòu)造為使得在每個(gè)區(qū)域?qū)τ诟鞑ㄩL(zhǎng)的光束執(zhí)行預(yù)定衍射操作。物鏡通過(guò) 第二元件82B的衍射功能和第一元件82A的折射功能實(shí)現(xiàn)了三波長(zhǎng)兼容性。具有三波長(zhǎng)兼 容性的物鏡不限于上述兩組構(gòu)造，例如，具有上述衍射功能的衍射單元可以被安裝為疊置 在具有折射功能的非球表面的透鏡的表面上。與第一物鏡33相似，物鏡82由塑料制成，并被保持以通過(guò)物鏡驅(qū)動(dòng)單元51而進(jìn) 行移動(dòng)。由物鏡驅(qū)動(dòng)單元51基于通過(guò)來(lái)自光盤2的反射光(其由光電檢測(cè)器86檢測(cè))所 產(chǎn)生的尋軌誤差信號(hào)和聚焦誤差信號(hào)來(lái)使物鏡82發(fā)生位移。物鏡82使來(lái)自第一至第三 發(fā)光單元的光束遵循形成在對(duì)應(yīng)光盤的記錄表面中的記錄軌道。安裝在光學(xué)拾取器80中 的物鏡驅(qū)動(dòng)單元51在對(duì)于第一光盤執(zhí)行記錄或再現(xiàn)時(shí)不執(zhí)行使物鏡82沿著傾斜方向的傾 斜。換言之，當(dāng)對(duì)于第一光盤執(zhí)行記錄和再現(xiàn)時(shí)，不使用傾斜就校正機(jī)構(gòu)，即使物鏡及其周 圍部件的溫度環(huán)境發(fā)生變化，仍維持其當(dāng)前狀態(tài)。另一方面，當(dāng)對(duì)于第二和第三光盤執(zhí)行記錄和再現(xiàn)時(shí)，與上述第二物鏡34相似， 物鏡驅(qū)動(dòng)單元51用做傾斜校正機(jī)構(gòu)。即，在第二和第三波長(zhǎng)的光束入射的情況下，如圖23C 所示，物鏡驅(qū)動(dòng)單元51使物鏡82沿著對(duì)應(yīng)傾斜方向傾斜預(yù)定最優(yōu)角度0 A，使得最大程度 地減小慧形像差。換言之，當(dāng)對(duì)于第二和第三光盤執(zhí)行記錄和再現(xiàn)時(shí)，使用傾斜校正機(jī)構(gòu)， 并因此可以獲得最優(yōu)的記錄環(huán)境和再現(xiàn)環(huán)境。此外，在使用第二和第三光盤的情況下的傾 斜驅(qū)動(dòng)可以是靜態(tài)的或動(dòng)態(tài)的。如上所述，能夠在使用第二和第三波長(zhǎng)的情況下沿著傾斜方向傾斜的物鏡82在 安裝了對(duì)于多個(gè)波長(zhǎng)具有兼容性的兼容物鏡的構(gòu)造中具有以下效果。這樣的構(gòu)造可以允許物鏡82在如圖23B所示使用第一波長(zhǎng)的情況下以最優(yōu)狀態(tài)安裝。即，在兼容物鏡中，可以 存在在每個(gè)波長(zhǎng)的情況下改變對(duì)于慧形像差的最優(yōu)安裝角度的情況。此外，可以存在由于 第一至第三波長(zhǎng)的光束所經(jīng)過(guò)的光學(xué)部件的制造誤差或布置誤差等在各波長(zhǎng)的光束中產(chǎn) 生的慧形像差發(fā)生變化的情況。此外，在兼容物鏡由塑料制成的情況下，考慮到透鏡傾斜慧 形像差靈敏度的溫度特性，需要首先在使用與高密度記錄對(duì)應(yīng)的第一波長(zhǎng)的情況下調(diào)節(jié)安 裝角度。因此，參照?qǐng)D23B如下文所述對(duì)光學(xué)拾取器80進(jìn)行偏斜調(diào)節(jié)，使得減小對(duì)于第一 波長(zhǎng)的初始慧形像差。利用這樣的構(gòu)造，如果使用在此狀態(tài)下的物鏡82，則會(huì)對(duì)于第二和第 三波長(zhǎng)產(chǎn)生慧形像差。關(guān)于此，在使用第二和第三波長(zhǎng)的情況下，能夠沿著傾斜方向傾斜的 物鏡82即使在使用第二和第三波長(zhǎng)的情況下也允許在最優(yōu)狀態(tài)下進(jìn)行記錄和再現(xiàn)。此外，物鏡82被安裝為使得與參照?qǐng)D6A所述的實(shí)施例相似，導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)與光軸 對(duì)準(zhǔn)。即，如圖23A所示，物鏡82被安裝為使得由導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)87導(dǎo)引的第一波長(zhǎng)的光束 的光軸L87與物鏡82的光軸L82近似一致。這里，導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)87表示除了安裝在物鏡 驅(qū)動(dòng)單元51中以被驅(qū)動(dòng)的物鏡82之外的光學(xué)部件。物鏡82對(duì)于第一波長(zhǎng)具有與上述第 一物鏡33幾乎相同的特性。即，在上述條件下對(duì)于第一波長(zhǎng)的透鏡傾斜慧形像差靈敏度被 設(shè)定為 0 至 0.3[Xrms/° ]。在具有這種構(gòu)造的光學(xué)拾取器80中，根據(jù)所安裝的光盤的類型，從安裝在第一光 源31和第二光源32中的發(fā)光單元發(fā)射在第一至第三波長(zhǎng)的光束中與所安裝的光盤的類型 相對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)的光束。此外，光學(xué)拾取器80基于通過(guò)由第一光電檢測(cè)器86檢測(cè)到的返回 光束所產(chǎn)生的聚焦伺服信號(hào)和尋軌伺服信號(hào)來(lái)使物鏡82發(fā)生位移。如上所述，通過(guò)聚焦在 光盤2的記錄軌道上的伺服信號(hào)來(lái)使物鏡82發(fā)射位移，光學(xué)拾取器80執(zhí)行信息信號(hào)的記 錄或再現(xiàn)。因?yàn)楣鈱W(xué)拾取器80中包括的物鏡82的對(duì)于第一光盤和第一波長(zhǎng)的透鏡傾斜慧形 像差靈敏度的溫度特性與如在“3.物鏡的透鏡傾斜慧形像差敏感度的溫度特性”中說(shuō)明的 第一物鏡33相同，所以將省略其詳細(xì)說(shuō)明。接著，在光學(xué)拾取器80中，將對(duì)初始慧形像差的校正、光學(xué)拾取器的相對(duì)角度調(diào) 節(jié)、以及光學(xué)拾取器的功能和效果進(jìn)行說(shuō)明，其與以上所述的“4.初始慧形像差的校正”、 “5.光學(xué)拾取器的相對(duì)于光盤的相對(duì)角度調(diào)節(jié)”和“6.光學(xué)拾取器的作用和效果”基本相 同。在光學(xué)拾取器80中，通過(guò)在形成光盤裝置1時(shí)調(diào)節(jié)光盤2與光學(xué)拾取器80之間 的相對(duì)傾斜來(lái)執(zhí)行對(duì)于第一波長(zhǎng)的初始慧形像差的校正。即，如圖23B所示，與參照?qǐng)D7的 說(shuō)明相似，對(duì)光學(xué)拾取器80進(jìn)行偏斜調(diào)節(jié)，從而限制初始慧形像差。此時(shí)，因?yàn)槲镧R82對(duì) 于雙波長(zhǎng)和三波長(zhǎng)共用，所以對(duì)于與作為高密度記錄光盤的第一光盤對(duì)應(yīng)的第一波長(zhǎng)執(zhí)行 偏斜調(diào)節(jié)以限制初始像差。根據(jù)本實(shí)施例的光學(xué)拾取器80具有如下特性塑料物鏡82對(duì)應(yīng)于諸如BD之類的 高密度記錄，并在物鏡82的光軸與導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)87的光軸一致的狀態(tài)下安裝在透鏡保持 器52中。此外，光學(xué)拾取器80具有如下特性相對(duì)于盤安裝基準(zhǔn)表面67a，將光學(xué)拾取器80 調(diào)節(jié)以傾斜，使得校正物鏡82對(duì)于第一波長(zhǎng)的初始慧形像差。以此方式，考慮到物鏡82的 透鏡傾斜慧形像差靈敏度的溫度特性來(lái)構(gòu)造光學(xué)拾取器80。利用這樣的構(gòu)造，光學(xué)拾取器 80可以在使用作為短波長(zhǎng)的第一波長(zhǎng)的光束時(shí)在存在環(huán)境溫度變化的情況下減小慧形像差的改變，并因此可以在減小慧形像差的狀態(tài)下執(zhí)行記錄和再現(xiàn)。因此，光學(xué)拾取器80采 用與高密度記錄光盤相對(duì)應(yīng)的塑料物鏡82，從而增強(qiáng)制造性或減輕重量。此外，光學(xué)拾取器 80采用考慮了透鏡傾斜慧形像差靈敏度的改變的構(gòu)造，從而即使在存在環(huán)境溫度變化的情 況下也實(shí)現(xiàn)了期望的記錄和再現(xiàn)特性。此外，在光學(xué)拾取器80中，除了物鏡的數(shù)量為一個(gè)之外，物鏡的慧形像差的方向 和安裝方向與“7.物鏡的慧形像差的方向和安裝方向”中相同。此外，除了物鏡的數(shù)量為 一個(gè)之外，光學(xué)拾取器80的制造方法與“8.光學(xué)拾取器的制造方法”中基本相同。在步驟 S4,與使用第一物鏡33和第二物鏡34的情況下的最優(yōu)角度計(jì)算不同的是，計(jì)算在使用第一 和第二波長(zhǎng)的情況下的最優(yōu)角度。在步驟S5，在使用第一波長(zhǎng)的情況下將光學(xué)拾取器80調(diào) 節(jié)為最優(yōu)，并且其被安裝至光盤裝置1。此外，在步驟S6，計(jì)算在使用第二波長(zhǎng)的情況下的 最優(yōu)傾斜角度以存儲(chǔ)在內(nèi)部存儲(chǔ)器26中。根據(jù)這樣的光學(xué)拾取器制造方法，可以制作具有如下效果的光學(xué)拾取器80 在將 塑料透鏡用做高密度記錄所用的兼容物鏡的情況下慧形像差隨著溫度變化產(chǎn)生的改變得 到減小。此外，除了物鏡的數(shù)量為一個(gè)之外，光學(xué)拾取器80的控制方法與“9.光學(xué)拾取器 的控制方法”中相同。在步驟S14，光學(xué)拾取器80在不使用傾斜校正機(jī)構(gòu)的狀態(tài)下對(duì)于第 一光盤發(fā)射第一波長(zhǎng)的光束以執(zhí)行信息信號(hào)的記錄和再現(xiàn)。即，物鏡82不沿著傾斜方向傾 斜。在步驟S16，光學(xué)拾取器80利用作為傾斜校正機(jī)構(gòu)的物鏡驅(qū)動(dòng)單元51對(duì)于第二光盤發(fā) 射第二波長(zhǎng)的光束以執(zhí)行信息信號(hào)的記錄和再現(xiàn)。即，如圖23C所示，物鏡82沿著傾斜方 向傾斜。根據(jù)這樣的光學(xué)拾取器控制方法，借助于使用塑料透鏡(其是高密度記錄所用的 兼容物鏡)的光學(xué)拾取器80來(lái)減小由于環(huán)境溫度變化引起的慧形像差，從而實(shí)現(xiàn)了期望的 記錄和再現(xiàn)特性。如上所述，根據(jù)本實(shí)施例的光學(xué)拾取器80采用塑料物鏡82，以增強(qiáng)制造性并減輕 重量，來(lái)減小由于環(huán)境溫度變化引起的慧形像差，從而實(shí)現(xiàn)期望的記錄和再現(xiàn)特性。即，光 學(xué)拾取器80實(shí)現(xiàn)了制造性和重量減輕，并還是先了期望的記錄和再現(xiàn)特性。此外，光學(xué)拾 取器80通過(guò)共用光學(xué)系統(tǒng)或光學(xué)部件實(shí)現(xiàn)了小型化。在上述光學(xué)拾取器3和光學(xué)拾取器80中，在執(zhí)行第二和第三光盤的記錄和再現(xiàn)時(shí) 通過(guò)作為傾斜校正機(jī)構(gòu)的物鏡驅(qū)動(dòng)單元51來(lái)使物鏡傾斜，以減小慧形像差，但是這不是限 制性的，而是用做示例。即，作為傾斜校正機(jī)構(gòu)的物鏡驅(qū)動(dòng)單元51通過(guò)使物鏡傾斜來(lái)在由 物鏡聚焦的光束中產(chǎn)生慧形像差，以調(diào)節(jié)信號(hào)記錄表面上的慧形像差。換言之，光學(xué)拾取器 3和光學(xué)拾取器80包括作為對(duì)由物鏡聚焦的光束的慧形像差進(jìn)行調(diào)節(jié)的慧形像差調(diào)節(jié)單 元的物鏡驅(qū)動(dòng)單元51，但是安裝在光學(xué)拾取器中的慧形像差調(diào)節(jié)單元不限于此。即，本發(fā)明 可以應(yīng)用于具有液晶元件作為慧形像差調(diào)節(jié)單元的光學(xué)拾取器。11.光學(xué)拾取器的又一示例(第三實(shí)施例)此后，將參照?qǐng)D24對(duì)根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光學(xué)拾取器的又一示例并包括液晶 元件作為慧形像差調(diào)節(jié)單元的光學(xué)拾取器90進(jìn)行說(shuō)明。這里，因?yàn)槌税惭b液晶元件且物 鏡驅(qū)動(dòng)單元51是所謂雙軸致動(dòng)器之外，光學(xué)拾取器90的其余構(gòu)造與光學(xué)拾取器3相同，所 以將相似的附圖標(biāo)記給予相似的元件，并會(huì)省略其詳細(xì)說(shuō)明。
如圖24所示，光學(xué)拾取器90包括第一光源31和第二光源32、以及第一物鏡33和 第二物鏡34。此外，與光學(xué)拾取器3相似，光學(xué)拾取器90包括物鏡驅(qū)動(dòng)單元51，物鏡驅(qū)動(dòng) 單元51包括透鏡保持器52、支撐體53和懸架54等。但是，為方便解釋，在光學(xué)拾取器90 中使用的物鏡驅(qū)動(dòng)單元51是僅能夠沿著尋軌方向和沿著聚焦方向驅(qū)動(dòng)物鏡的所謂雙軸致 動(dòng)器。此外，光學(xué)拾取器90包括作為第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28的如下部件第一光柵35、第 一準(zhǔn)直透鏡36、第一立起反射鏡41、四分之一波片49、偏振分束器38、第一光電檢測(cè)器39 和多透鏡40。此外，光學(xué)拾取器90包括作為第二導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)91的如下部件第二光柵43、第 二準(zhǔn)直透鏡44、彎折反射鏡45、第二立起反射鏡42、分束器46和第二光電檢測(cè)器47。此外， 光學(xué)拾取器90包括作為第二導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)91的部件的、安裝在第二準(zhǔn)直透鏡44與彎折反 射鏡45之間的液晶元件92。液晶元件92包括具有能夠產(chǎn)生慧形像差的電極圖案的一對(duì)電 極，以及通過(guò)對(duì)準(zhǔn)層等夾置于一對(duì)電極之間的液晶分子。這樣的液晶元件92可以在預(yù)定電 流施加到液晶元件92時(shí)在經(jīng)過(guò)液晶元件92的光束中產(chǎn)生預(yù)定強(qiáng)度的慧形像差，從而調(diào)節(jié) 光盤的慧形像差。換言之，液晶元件92產(chǎn)生將通過(guò)如圖7所示對(duì)光學(xué)拾取器本身的相對(duì)偏 斜調(diào)節(jié)得到的慧形像差抵消的慧形像差，從而減小慧形像差。由于第二導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)91或 第二物鏡34的制造誤差或布置誤差產(chǎn)生的慧形像差可以被包括在抵消慧形像差中。與其中第二物鏡34如圖8所示沿著傾斜方向傾斜的光學(xué)拾取器3不同，包括液晶 元件92的光學(xué)拾取器90向入射第二和第三光盤的光束提供了預(yù)定的慧形像差。慧形像差 的量與當(dāng)在上述光學(xué)拾取器3中第二物鏡34傾斜了適當(dāng)傾斜角度θ A時(shí)產(chǎn)生的慧形像差 量相同。因此，在第二和第三光盤的記錄和/或再現(xiàn)時(shí)，光學(xué)拾取器90可以利用液晶元件 92在最優(yōu)狀態(tài)下執(zhí)行記錄和/或再現(xiàn)。具有上述構(gòu)造構(gòu)造的90根據(jù)所安裝的光盤的類型，從安裝在第一光源31和第二 光源32中的發(fā)光單元發(fā)射在具有第一至第三波長(zhǎng)的光束中具有與所安裝的光盤的類型相 對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)的光束。此外，光學(xué)拾取器90基于通過(guò)由第一和第二光電檢測(cè)器39和47檢測(cè) 到的返回光束所產(chǎn)生的聚焦伺服信號(hào)和尋軌伺服信號(hào)來(lái)驅(qū)動(dòng)第一物鏡33和第二物鏡34以 發(fā)生位移。因此，在如上所述通過(guò)伺服信號(hào)驅(qū)動(dòng)各透鏡以發(fā)生位移時(shí)，光學(xué)拾取器90對(duì)于 光盤2執(zhí)行信息信號(hào)的記錄或再現(xiàn)。在這樣的光學(xué)拾取器90中，因?yàn)橥哥R傾斜慧形像差靈敏度的溫度特性、慧形像差 校正量、光學(xué)拾取器的相對(duì)角度調(diào)節(jié)、以及光學(xué)拾取器的功能和效果與上述“3.物鏡的透 鏡傾斜慧形像差敏感度的溫度特性”至“6.光學(xué)拾取器的作用和效果”中相同，所以將省略 其詳細(xì)說(shuō)明。此外，光學(xué)拾取器90具有如下特性光學(xué)拾取器90對(duì)應(yīng)于諸如BD之類的高 密度記錄，并且由塑料制成的第一物鏡33在第一物鏡33和第一導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)28的光軸彼 此一致的狀態(tài)下由透鏡保持器52保持。此外，光學(xué)拾取器90具有如下特性相對(duì)于盤安裝 基準(zhǔn)表面67a，將光學(xué)拾取器90調(diào)節(jié)以傾斜，使得校正第一物鏡33的初始慧形像差。以此 方式，考慮到第一物鏡33的透鏡傾斜慧形像差靈敏度的溫度特性來(lái)構(gòu)造光學(xué)拾取器90。利 用這樣的構(gòu)造，即使在存在環(huán)境溫度變化時(shí)，光學(xué)拾取器90也減小了慧形像差的改變，并 因此可以在減小慧形像差的狀態(tài)下執(zhí)行記錄和再現(xiàn)。因此，光學(xué)拾取器90采用塑料第一物 鏡33以增強(qiáng)制造性或減輕重量，并采用考慮了透鏡傾斜慧形像差靈敏度的改變的構(gòu)造，從而即使在存在環(huán)境溫度變化的情況下也實(shí)現(xiàn)了期望的記錄和再現(xiàn)特性。此外，光學(xué)拾取器90在執(zhí)行第一光盤的再現(xiàn)時(shí)即使環(huán)境溫度發(fā)生變化也不使用 作為慧形像差產(chǎn)生單元的液晶元件92，而在第二和第三光盤的再現(xiàn)時(shí)驅(qū)動(dòng)液晶元件92以 產(chǎn)生慧形像差來(lái)獲得最優(yōu)再現(xiàn)環(huán)境。因此，光學(xué)拾取器90可以對(duì)于第二和第三光盤在減小 慧形像差的狀態(tài)下執(zhí)行記錄和再現(xiàn)。此外，在光學(xué)拾取器90中，通過(guò)液晶元件92的安裝， 物鏡驅(qū)動(dòng)單元51可以被構(gòu)造為雙軸致動(dòng)器，而不是三軸致動(dòng)器，從而可以實(shí)現(xiàn)裝置的簡(jiǎn)化 和小型化。此外，在光學(xué)拾取器90中，物鏡的慧形像差的方向和安裝方向與“7.物鏡的慧形 像差的方向和安裝方向”中相同。此外，除了安裝液晶元件替代傾斜校正機(jī)構(gòu)之外，光學(xué)拾 取器90的制造方法與“8.光學(xué)拾取器的制造方法”中基本相同。在步驟S6，與在使用第二 物鏡34的情況下的最優(yōu)傾斜角度計(jì)算不同的是，計(jì)算在使用第二物鏡34的情況下在液晶 元件92中產(chǎn)生的慧形像差量。該慧形像差量與如圖8所示由最優(yōu)傾斜角度0 A產(chǎn)生的慧形 像差量相同。此外，在步驟S6，將計(jì)算得到的慧形像差量存儲(chǔ)在諸如存儲(chǔ)器26等等存儲(chǔ)單 元中。根據(jù)光學(xué)拾取器制造方法，在使用上述高密度記錄光盤所用的塑料物鏡的情況下，可 以制造具有如下效果的光學(xué)拾取器90 減小隨著溫度變化引起的慧形像差的改變。此外， 除了安裝液晶元件替代傾斜校正機(jī)構(gòu)之外，光學(xué)拾取器90的制造方法與“9.光學(xué)拾取器的 控制方法”中基本相同。在步驟S14，光學(xué)拾取器90在作為慧形像差產(chǎn)生單元的液晶元件 92不使用的狀態(tài)下對(duì)于第一光盤發(fā)射第一波長(zhǎng)的光束以執(zhí)行信息信號(hào)的記錄和再現(xiàn)。此 外，在步驟S16，光學(xué)拾取器90在使用作為慧形像差產(chǎn)生單元的光學(xué)拾取器90來(lái)減小慧形 像差的狀態(tài)下對(duì)于第二光盤發(fā)射第二波長(zhǎng)的光束以執(zhí)行信息信號(hào)的記錄和再現(xiàn)。根據(jù)光學(xué) 拾取器控制方法，借助于使用作為高密度記錄所用的物鏡的塑料透鏡的光學(xué)拾取器90，減 小由于環(huán)境溫度變化引起的慧形像差以實(shí)現(xiàn)優(yōu)選的記錄和再現(xiàn)特性。如上所述，根據(jù)本實(shí)施例的光學(xué)拾取器90采用塑料物鏡以增強(qiáng)制造性或減輕重 量，并減小由于環(huán)境溫度變化引起的慧形像差以實(shí)現(xiàn)優(yōu)選的記錄和再現(xiàn)特性。即，光學(xué)拾取 器90實(shí)現(xiàn)了制造性或重量減輕，并實(shí)現(xiàn)了優(yōu)選的記錄和再現(xiàn)特性。此外，光學(xué)拾取器90中 的物鏡驅(qū)動(dòng)單元51可以被構(gòu)造為雙軸致動(dòng)器，從而與三軸致動(dòng)器相比實(shí)現(xiàn)構(gòu)造的簡(jiǎn)化和 小型化。此前，對(duì)根據(jù)對(duì)于光學(xué)拾取器3的修改示例的、設(shè)置有作為慧形像差產(chǎn)生單元的 液晶元件92的光學(xué)拾取器90進(jìn)行了說(shuō)明，但是可以作為光學(xué)拾取器80的修改示例安裝液 晶元件。在此情況下，例如，將上述液晶元件92安裝在準(zhǔn)直透鏡83與立起反射鏡41之間， 因此，物鏡驅(qū)動(dòng)單元51被設(shè)置為雙軸致動(dòng)器。這樣的光學(xué)拾取器具有光學(xué)拾取器80和光 學(xué)拾取器90兩者的效果。12.光盤裝置的效果此外，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光盤裝置1包括對(duì)于被驅(qū)動(dòng)旋轉(zhuǎn)的光盤2發(fā)射光束 以執(zhí)行信息信號(hào)的記錄和/或再現(xiàn)的光學(xué)拾取器，并利用上述光學(xué)拾取器3等作為該光學(xué) 拾取器。因此，光盤裝置1實(shí)現(xiàn)了制造性或重量減輕，并還實(shí)現(xiàn)了隨著溫度變化引起的慧形 像差的減小，從而實(shí)現(xiàn)優(yōu)選的記錄和再現(xiàn)特性。本發(fā)明包含與2009年4月27日遞交給日本專利局的日本在先專利申請(qǐng) JP2009-108248中揭示的主題相關(guān)的主題，其全文通過(guò)引用結(jié)合于此。
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本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該理解的是，只要在所附權(quán)利要求及其等同方案的范圍內(nèi)， 可以根據(jù)設(shè)計(jì)要求和其他因素進(jìn)行各種修改、組合、子組合和替換。
權(quán)利要求
一種光學(xué)拾取器，包括第一和第二物鏡，其被配置為分別將具有不同波長(zhǎng)的光束聚焦到具有不同厚度的保護(hù)層的第一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過(guò)所述第一和/或第二物鏡的光束中產(chǎn)生慧形像差；準(zhǔn)直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源與所述第一物鏡之間的光路上，并被配置為變換經(jīng)過(guò)所述準(zhǔn)直透鏡的光束的發(fā)散角；以及準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動(dòng)單元，其被配置為使所述準(zhǔn)直透鏡沿著光軸方向移動(dòng)，并改變進(jìn)入所述第一物鏡的光束的角度以校正球面像差，其中，與所述第一物鏡對(duì)應(yīng)的所述第一光盤的保護(hù)層厚度小于與所述第二物鏡對(duì)應(yīng)的所述第二光盤的保護(hù)層厚度；其中，所述第一物鏡在環(huán)境溫度是0℃至70℃、對(duì)應(yīng)的所述第一光盤的保護(hù)層厚度是70μm至105μm、并且對(duì)應(yīng)的所述光束的波長(zhǎng)λ1是398nm至414nm的條件下滿足透鏡傾斜慧形像差靈敏度為0至0.3[λrms/°]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通過(guò)使所述準(zhǔn)直透鏡移動(dòng)來(lái)校正所產(chǎn)生的球面像差的狀態(tài)下通過(guò)使所述第一物鏡傾斜而在光束中產(chǎn)生的慧形像差的比率；其中，所述第一物鏡由塑料制成并被安裝為使得由將所述光束導(dǎo)引到所述第一物鏡的導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)導(dǎo)引的所述光束的光軸與所述第一物鏡的光軸基本一致；其中，所述光學(xué)拾取器相對(duì)于所述光盤以最優(yōu)地校正由于所述第一物鏡對(duì)于所述第一光盤導(dǎo)致的初始慧形像差的角度傾斜；并且其中，當(dāng)再現(xiàn)所述第一光盤時(shí)，不使用所述慧形像差產(chǎn)生單元，而當(dāng)再現(xiàn)所述第二光盤時(shí)，使用所述慧形像差產(chǎn)生單元以獲得最優(yōu)再現(xiàn)環(huán)境。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取器，其中，所述慧形像差產(chǎn)生單元具有保持所述第 一和第二物鏡的透鏡保持器，所述慧形像差產(chǎn)生單元是沿著傾斜方向驅(qū)動(dòng)所述透鏡保持器 并使所述透鏡保持器傾斜的傾斜校正機(jī)構(gòu)，并且其中，當(dāng)再現(xiàn)所述第一光盤時(shí)，不使用所述 傾斜校正機(jī)構(gòu)，而當(dāng)再現(xiàn)所述第二光盤時(shí)，使用所以傾斜校正機(jī)構(gòu)使所述透鏡保持器傾斜 以獲得所述最優(yōu)再現(xiàn)環(huán)境。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取器，其中，所述慧形像差產(chǎn)生單元是液晶元件。
4.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的光學(xué)拾取器，其中，所述第一和第二物鏡朝向所述光盤的 徑向布置，使得所述第一和第二物鏡的慧形像差具有相同的方向。
5.一種光盤裝置，其包括通過(guò)將光束發(fā)射到被驅(qū)動(dòng)而轉(zhuǎn)動(dòng)的光盤上來(lái)執(zhí)行信息信號(hào)的 記錄和/或再現(xiàn)的光學(xué)拾取器，所述光學(xué)拾取器包括第一和第二物鏡，其被配置為分別將具有不同波長(zhǎng)的光束聚焦到具有不同厚度的保護(hù) 層的第一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過(guò)所述第一和/或第二物鏡的光束中產(chǎn)生慧形像差；準(zhǔn)直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源與所述第一及第二物鏡之間的光路 上，并被配置為變換經(jīng)過(guò)所述準(zhǔn)直透鏡的光束的發(fā)散角；以及準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動(dòng)單元，其被配置為使所述準(zhǔn)直透鏡沿著光軸方向移動(dòng)，并改變進(jìn)入所述 物鏡的光束的角度以校正球面像差，其中，與所述第一物鏡對(duì)應(yīng)的所述第一光盤的保護(hù)層厚度小于與所述第二物鏡對(duì)應(yīng)的 所述第二光盤的保護(hù)層厚度；其中，所述第一物鏡在環(huán)境溫度是0°C至70°C、對(duì)應(yīng)的所述第一光盤的保護(hù)層厚度是 70 ii m至105 ii m、并且對(duì)應(yīng)的所述光束的波長(zhǎng)入1是398nm至414nm的條件下滿足透鏡傾 斜慧形像差靈敏度為0至0. 3[ X rms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通過(guò)使所述 準(zhǔn)直透鏡移動(dòng)來(lái)校正所產(chǎn)生的球面像差的狀態(tài)下通過(guò)使所述第一物鏡傾斜而在光束中產(chǎn) 生的慧形像差的比率；其中，所述第一物鏡由塑料制成并被安裝為使得由將所述光束導(dǎo)引到所述第一物鏡的 導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)導(dǎo)引的所述光束的光軸與所述第一物鏡的光軸基本一致；其中，所述光學(xué)拾取器和其上要安裝所述光盤的盤安裝單元中的至少一者傾斜，使得 所述光學(xué)拾取器和安裝在所述盤安裝單元上的所述光盤相對(duì)于彼此以最優(yōu)地校正由于所 述第一物鏡對(duì)于所述第一光盤導(dǎo)致的初始慧形像差的角度傾斜；并且其中，當(dāng)再現(xiàn)所述第一光盤時(shí)，不使用所述慧形像差產(chǎn)生單元，而當(dāng)再現(xiàn)所述第二光盤 時(shí)，使用所述慧形像差產(chǎn)生單元以獲得最優(yōu)再現(xiàn)環(huán)境。
6. 一種制造光學(xué)拾取器的方法， 所述光學(xué)拾取器包括第一和第二物鏡，其被配置為分別將具有不同波長(zhǎng)的光束聚焦到具有不同厚度的保護(hù) 層的第一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過(guò)所述第一和/或第二物鏡的光束中產(chǎn)生慧形像差；準(zhǔn)直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源與所述第一物鏡之間的光路上，并被 配置為變換經(jīng)過(guò)所述準(zhǔn)直透鏡的光束的發(fā)散角；以及準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動(dòng)單元，其被配置為使所述準(zhǔn)直透鏡沿著光軸方向移動(dòng)，并改變進(jìn)入所述 物鏡的光束的角度以校正球面像差，其中，與所述第一物鏡對(duì)應(yīng)的所述第一光盤的保護(hù)層厚度小于與所述第二物鏡對(duì)應(yīng)的 所述第二光盤的保護(hù)層厚度，并且其中，所述第一物鏡在環(huán)境溫度是0°C至70°C、對(duì)應(yīng)的所述第一光盤的保護(hù)層厚度是 70 ii m至105 ii m、并且對(duì)應(yīng)的所述光束的波長(zhǎng)入1是398nm至414nm的條件下滿足透鏡傾 斜慧形像差靈敏度為0至0. 3[ X rms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通過(guò)使所述 準(zhǔn)直透鏡移動(dòng)來(lái)校正所產(chǎn)生的球面像差的狀態(tài)下通過(guò)使所述第一物鏡傾斜而在光束中產(chǎn) 生的慧形像差的比率，在制造具有由塑料制成的所述第一物鏡的所述光學(xué)拾取器時(shí)，所述方法包括以下步驟將導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)安裝到基體構(gòu)件，所述導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)將所述光束導(dǎo)引到所述第一物鏡；將所述第一物鏡保持于透鏡保持器，使得由所述導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)導(dǎo)引到所述第一物鏡的 所述光束的光軸與所述第一物鏡的光軸基本一致；調(diào)節(jié)所述光學(xué)拾取器，使得所述光學(xué)拾取器相對(duì)于所述光盤以最優(yōu)地校正由于所述第 一物鏡對(duì)于所述第一光盤導(dǎo)致的初始慧形像差的角度傾斜；以及計(jì)算使用所述慧形像差產(chǎn)生單元最優(yōu)地校正由于所述第二物鏡對(duì)于所述第二光盤導(dǎo) 致的初始慧形像差的慧形像差校正量，并將計(jì)算得到的所述慧形像差校正量存儲(chǔ)在存儲(chǔ)單 元中。
7.—種控制光學(xué)拾取器的方法， 所述光學(xué)拾取器包括第一和第二物鏡，其被配置為分別將具有不同波長(zhǎng)的光束聚焦到具有不同厚度的保護(hù) 層的第一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過(guò)所述第一和/或第二物鏡的光束中產(chǎn)生慧形像差；準(zhǔn)直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源與所述第一物鏡之間的光路上，并被 配置為變換經(jīng)過(guò)所述準(zhǔn)直透鏡的光束的發(fā)散角；以及準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動(dòng)單元，其被配置為使所述準(zhǔn)直透鏡沿著光軸方向移動(dòng)，并改變進(jìn)入所述 第一物鏡的光束的角度以校正球面像差，其中，與所述第一物鏡對(duì)應(yīng)的所述第一光盤的保護(hù)層厚度小于與所述第二物鏡對(duì)應(yīng)的 所述第二光盤的保護(hù)層厚度；其中，所述第一物鏡在環(huán)境溫度是0°C至70°C、對(duì)應(yīng)的所述第一光盤的保護(hù)層厚度是 70 ii m至105 ii m、并且對(duì)應(yīng)的所述光束的波長(zhǎng)入1是398nm至414nm的條件下滿足透鏡傾 斜慧形像差靈敏度為0至0. 3[ X rms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通過(guò)使所述 準(zhǔn)直透鏡移動(dòng)來(lái)校正所產(chǎn)生的球而像差的狀態(tài)下通過(guò)使所述第一物鏡傾斜而在光束中產(chǎn) 生的慧形像差的比率；并且其中，所述第一物鏡由塑料制成并被安裝為使得由將所述光束導(dǎo)引到所述第一物鏡和 所述第二物鏡的導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)導(dǎo)引的所述光束的光軸與所述第一物鏡的光軸基本一致；在控制所述光學(xué)拾取器使得所述光學(xué)拾取器相對(duì)于所述光盤以最優(yōu)地校正由于所述 第一物鏡對(duì)于所述第一光盤導(dǎo)致的初始慧形像差的角度傾斜時(shí)，所述方法包括以下步驟 識(shí)別所安裝的光盤的類型；當(dāng)通過(guò)所述識(shí)別步驟識(shí)別出所述光盤是所述第一光盤時(shí)，在不使用所述慧形像差產(chǎn)生 單元的情況下對(duì)于所述第一光盤執(zhí)行信息信號(hào)的再現(xiàn)；以及當(dāng)通過(guò)所述識(shí)別步驟識(shí)別出所述光盤是所述第二光盤時(shí)，使用所述慧形像羞產(chǎn)生單元 來(lái)對(duì)于所述第二光盤執(zhí)行信息信號(hào)的再現(xiàn)。
8.一種光學(xué)拾取器，包括單個(gè)物鏡，其被配置為分別將具有不同波長(zhǎng)的光束聚焦到具有不同厚度的保護(hù)層的第 一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過(guò)所述物鏡的光束中產(chǎn)生慧形像差； 準(zhǔn)直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源與所述物鏡之間的光路上，并被配置 為變換經(jīng)過(guò)所述準(zhǔn)直透鏡的光束的發(fā)散角；以及準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動(dòng)單元，其被配置為使所述準(zhǔn)直透鏡沿著光軸方向移動(dòng)，并改變進(jìn)入所述 物鏡的光束的角度以校正球面像差，其中，所述第一光盤的保護(hù)層厚度小于所述第二光盤的保護(hù)層厚度； 其中，所述物鏡在環(huán)境溫度是0°C至70°C、對(duì)應(yīng)的所述第一光盤的保護(hù)層厚度是70 y m 至105 u m、并且與所述第一光盤對(duì)應(yīng)的所述光束的波長(zhǎng)\ 1是398nm至414nm的條件下滿 足透鏡傾斜慧形像差靈敏度為0至0. 3[ X rms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通 過(guò)使所述準(zhǔn)直透鏡移動(dòng)來(lái)校正所產(chǎn)生的球面像差的狀態(tài)下通過(guò)使所述物鏡傾斜而在光束 中產(chǎn)生的慧形像差的比率；其中，所述物鏡由塑料制成并被安裝為使得由將所述光束導(dǎo)引到所述物鏡的導(dǎo)光光學(xué) 系統(tǒng)導(dǎo)引的所述光束的光軸與所述物鏡的光軸基本一致；其中，所述光學(xué)拾取器相對(duì)于所述光盤以最優(yōu)地校正由于所述物鏡對(duì)于所述第一光盤 導(dǎo)致的初始慧形像差的角度傾斜；并且其中，當(dāng)再現(xiàn)所述第一光盤時(shí)，不使用所述慧形像差產(chǎn)生單元，而當(dāng)再現(xiàn)所述第二光盤 時(shí)，使用所述慧形像差產(chǎn)生單元以獲得最優(yōu)再現(xiàn)環(huán)境。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的光學(xué)拾取器，其中，所述慧形像差產(chǎn)生單元具有保持所述物 鏡的透鏡保持器，所述慧形像差產(chǎn)生單元是沿著傾斜方向驅(qū)動(dòng)所述透鏡保持器并使所述透 鏡保持器傾斜的傾斜校正機(jī)構(gòu)，并且其中，當(dāng)再現(xiàn)所述第一光盤時(shí)，不使用所述傾斜校正機(jī) 構(gòu)，而當(dāng)再現(xiàn)所述第二光盤時(shí)，使用所以傾斜校正機(jī)構(gòu)使所述透鏡保持器傾斜以獲得所述 最優(yōu)再現(xiàn)環(huán)境。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的光學(xué)拾取器，其中，所述慧形像差產(chǎn)生單元是液晶元件。
11.一種光盤裝置，其包括通過(guò)將光束發(fā)射到被驅(qū)動(dòng)而轉(zhuǎn)動(dòng)的光盤上來(lái)執(zhí)行信息信號(hào) 的記錄和/或再現(xiàn)的光學(xué)拾取器，所述光學(xué)拾取器包括單個(gè)物鏡，其被配置為分別將具有不同波長(zhǎng)的光束聚焦到具有不同厚度的保護(hù)層的第 一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過(guò)所述物鏡的光束中產(chǎn)生慧形像差； 準(zhǔn)直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源與所述物鏡之間的光路上，并被配置 為變換經(jīng)過(guò)所述準(zhǔn)直透鏡的光束的發(fā)散角；以及準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動(dòng)單元，其被配置為使所述準(zhǔn)直透鏡沿著光軸方向移動(dòng)，并改變進(jìn)入所述 物鏡的光束的角度以校正球面像差，其中，所述第一光盤的保護(hù)層厚度小于所述第二光盤的保護(hù)層厚度； 其中，所述物鏡在環(huán)境溫度是0°C至70°C、對(duì)應(yīng)的所述第一光盤的保護(hù)層厚度是70 y m 至105 u m、并且與所述第一光盤對(duì)應(yīng)的所述光束的波長(zhǎng)\ 1是398nm至414nm的條件下滿 足透鏡傾斜慧形像差靈敏度為0至0. 3[ X rms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通 過(guò)使所述準(zhǔn)直透鏡移動(dòng)來(lái)校正所產(chǎn)生的球面像差的狀態(tài)下通過(guò)使所述物鏡傾斜而在光束 中產(chǎn)生的慧形像差的比率；其中，所述物鏡由塑料制成并被安裝為使得由將所述光束導(dǎo)引到所述物鏡的導(dǎo)光光學(xué) 系統(tǒng)導(dǎo)引的所述光束的光軸與所述物鏡的光軸基本一致；其中，所述光學(xué)拾取器和其上要安裝所述光盤的盤安裝單元中的至少一者傾斜，使得 所述光學(xué)拾取器和安裝在所述盤安裝單元上的所述光盤相對(duì)于彼此以最優(yōu)地校正由于所 述物鏡對(duì)于所述第一光盤導(dǎo)致的初始慧形像差的角度傾斜；并且其中，當(dāng)再現(xiàn)所述第一光盤時(shí)，不使用所述慧形像差產(chǎn)生單元，而當(dāng)再現(xiàn)所述第二光盤 時(shí)，使用所述慧形像差產(chǎn)生單元以獲得最優(yōu)再現(xiàn)環(huán)境。
12.一種制造光學(xué)拾取器的方法， 所述光學(xué)拾取器包括單個(gè)物鏡，其被配置為分別將具有不同波長(zhǎng)的光束聚焦到具有不同厚度的保護(hù)層的第 一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過(guò)所述物鏡的光束中產(chǎn)生慧形像差； 準(zhǔn)直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源與所述物鏡之間的光路上，并被配置 為變換經(jīng)過(guò)所述準(zhǔn)直透鏡的光束的發(fā)散角；以及準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動(dòng)單元，其被配置為使所述準(zhǔn)直透鏡沿著光軸方向移動(dòng)，并改變進(jìn)入所述 物鏡的光束的角度以校正球面像差，其中，所述第一光盤的保護(hù)層厚度小于所述第二光盤的保護(hù)層厚度，并且 其中，所述物鏡在環(huán)境溫度是0°C至70°C、對(duì)應(yīng)的所述第一光盤的保護(hù)層厚度是70 y m 至105 u m、并且與所述第一光盤對(duì)應(yīng)的所述光束的波長(zhǎng)\ 1是398nm至414nm的條件下滿 足透鏡傾斜慧形像差靈敏度為0至0. 3[ X rms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通 過(guò)使所述準(zhǔn)直透鏡移動(dòng)來(lái)校正所產(chǎn)生的球面像差的狀態(tài)下通過(guò)使所述物鏡傾斜而在光束 中產(chǎn)生的慧形像差的比率，在制造具有由塑料制成的所述物鏡的所述光學(xué)拾取器時(shí)，所述方法包括以下步驟 將導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)安裝到基體構(gòu)件，所述導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)將所述光束導(dǎo)引到所述物鏡； 將所述物鏡保持于透鏡保持器，使得由所述導(dǎo)光光學(xué)系統(tǒng)導(dǎo)引到所述物鏡的所述光束 的光軸與所述物鏡的光軸基本一致；調(diào)節(jié)所述光學(xué)拾取器，使得所述光學(xué)拾取器相對(duì)于所述光盤以最優(yōu)地校正由于所述物 鏡對(duì)于所述第一光盤導(dǎo)致的初始慧形像差的角度傾斜；以及計(jì)算使用所述慧形像差產(chǎn)生單元最優(yōu)地校正由于所述物鏡對(duì)于所述第二光盤導(dǎo)致的 初始慧形像差的慧形像差校正量，并將計(jì)算得到的所述慧形像差校正量存儲(chǔ)在存儲(chǔ)單元 中。
13.—種控制光學(xué)拾取器的方法， 所述光學(xué)拾取器包括單個(gè)物鏡，其被配置為分別將具有不同波長(zhǎng)的光束聚焦到具有不同厚度的保護(hù)層的第 一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過(guò)所述物鏡的光束中產(chǎn)生慧形像差； 準(zhǔn)直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源與所述物鏡之間的光路上，并被配置 為變換經(jīng)過(guò)所述準(zhǔn)直透鏡的光束的發(fā)散角；以及準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動(dòng)單元，其被配置為使所述準(zhǔn)直透鏡沿著光軸方向移動(dòng)，并改變進(jìn)入所述 物鏡的光束的角度以校正球面像差，其中，所述第一光盤的保護(hù)層厚度小于所述第二光盤的保護(hù)層厚度； 其中，所述物鏡在環(huán)境溫度是0°C至70°C、對(duì)應(yīng)的所述第一光盤的保護(hù)層厚度是70 y m 至105 u m、并且與所述第一光盤對(duì)應(yīng)的所述光束的波長(zhǎng)\ 1是398nm至414nm的條件下滿 足透鏡傾斜慧形像差靈敏度為0至0. 3[ X rms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通過(guò)使所述準(zhǔn)直透鏡移動(dòng)來(lái)校正所產(chǎn)生的球面像差的狀態(tài)下通過(guò)使所述物鏡傾斜而在光束 中產(chǎn)生的慧形像差的比率；并且其中，所述物鏡由塑料制成并被安裝為使得由將所述光束導(dǎo)引到所述物鏡的導(dǎo)光光學(xué) 系統(tǒng)導(dǎo)引的所述光束的光軸與所述物鏡的光軸基本一致；在控制所述光學(xué)拾取器使得所述光學(xué)拾取器相對(duì)于所述光盤以最優(yōu)地校正由于所述 物鏡對(duì)于所述第一光盤的導(dǎo)致的初始慧形像差的角度傾斜時(shí)，所述方法包括以下步驟 識(shí)別所安裝的光盤的類型；當(dāng)通過(guò)所述識(shí)別步驟識(shí)別出所述光盤是所述第一光盤時(shí)，在不使用所述慧形像差產(chǎn)生 單元的情況下對(duì)于所述第一光盤執(zhí)行信息信號(hào)的再現(xiàn)；以及當(dāng)通過(guò)所述識(shí)別步驟識(shí)別出所述光盤是所述第二光盤時(shí)，使用所述慧形像差產(chǎn)生單元 來(lái)對(duì)于所述第二光盤執(zhí)行信息信號(hào)的再現(xiàn)。
全文摘要
本發(fā)明提供了光學(xué)拾取器及其制造方法和控制方法，以及光盤裝置。光學(xué)拾取器包括第一和第二物鏡，其將不同波長(zhǎng)的光束聚焦到具有不同厚度的保護(hù)層的第一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其在光束中產(chǎn)生慧形像差；準(zhǔn)直透鏡，其位于光源與第一物鏡之間；以及準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動(dòng)單元。塑料的第一光盤的保護(hù)層厚度小于第二光盤的保護(hù)層厚度。第一物鏡具有的透鏡傾斜慧形像差靈敏度為0至0.3[λrms/°]。光束的光軸與第一物鏡的光軸基本一致。光學(xué)拾取器相對(duì)于光盤以最優(yōu)地校正對(duì)于第一光盤的初始慧形像差的角度傾斜。當(dāng)再現(xiàn)所述第二光盤時(shí)，使用慧形像差產(chǎn)生單元以獲得最優(yōu)再現(xiàn)環(huán)境。
文檔編號(hào)G11B7/13GK101872625SQ20101015420
公開(kāi)日2010年10月27日 申請(qǐng)日期2010年4月20日 優(yōu)先權(quán)日2009年4月27日
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