專利名稱：用于光盤記錄的時(shí)序校準(zhǔn)的電路、架構(gòu)、裝置、系統(tǒng)、算法及方法與軟件的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明一般涉及對(duì)光存儲(chǔ)介質(zhì)進(jìn)行寫入的技術(shù)領(lǐng)域。更具體地，本發(fā)明的實(shí)施例 涉及用于校準(zhǔn)對(duì)光存儲(chǔ)介質(zhì)進(jìn)行寫入的時(shí)序偏移的方法及裝置。
背景技術(shù)：
光存儲(chǔ)技術(shù)包括廣泛的且越來(lái)越多樣化的盤及應(yīng)用規(guī)范。例如，盤規(guī)范包括用于 預(yù)錄型盤的⑶-ROM和DVD-ROM、用于一次寫入型盤的⑶-R、DVD-R、DVD+R、可記錄藍(lán)光光 盤(BD-R)等等，以及用于可重寫型盤的CD-RW、DVD-RW、DVD-RAM、DVD+RW、BD-RE等等。盤 格式規(guī)范一般定義了盤的物理特性(例如，機(jī)械特性、光信號(hào)特性、物理布置、寫入方法以 及測(cè)試條件)。應(yīng)用規(guī)范包括用于視頻內(nèi)容的視頻DVD(DVD-Video)、用于音頻內(nèi)容的音頻 DVD (DVD-Audio)、以及用于實(shí)時(shí)視頻記錄的DVD-VR和DVD+VR(例如，用于攝錄機(jī)和個(gè)人視 頻錄像機(jī)(PVR))。在許多光盤規(guī)范中，光盤可以包括兩個(gè)區(qū)域，包括用戶數(shù)據(jù)區(qū)和盤信息(引入， lead-in)區(qū)。用戶數(shù)據(jù)區(qū)一般用來(lái)寫入應(yīng)用數(shù)據(jù)，該應(yīng)用數(shù)據(jù)包括視頻、音頻、信息表、文件 系統(tǒng)數(shù)據(jù)等等。盤信息(引入)區(qū)一般包括如盤大小、盤類型、盤布局等等數(shù)據(jù)。在一些光 盤規(guī)范(例如，⑶-R、DVD-R、DVD+R、BD-R等等)中，盤通常僅可被寫入一次。在其它盤規(guī)范 或格式(例如，⑶_R/W、DVD+RW、BD-RE等等)中，數(shù)據(jù)可被寫入盤中多于一次。光存儲(chǔ)介質(zhì)通常將數(shù)據(jù)作為“凹坑”(pit)(或“標(biāo)記”)和岸面(land)(或“間隔”) 的序列而存儲(chǔ)于數(shù)據(jù)承載表面上，在制造期間通過(guò)應(yīng)用金屬層而使得該數(shù)據(jù)承載表面是反 射的。“岸面”一般是軌道(track)的非凹坑的部分。只讀存儲(chǔ)介質(zhì)中的凹坑一般是在形成 盤時(shí)被模制于數(shù)據(jù)承載表面中的?？捎涗浶团c可重寫型盤一般被制作成空白的，并且在模 制期間僅包括預(yù)先形成的溝槽(groove)或“預(yù)置溝槽”(pre-groove)(在多數(shù)情況中，還包 括有限量的壓制數(shù)據(jù))。數(shù)據(jù)使用相同的凹坑-岸面原理被存儲(chǔ)在可記錄型或可重寫型光存儲(chǔ)介質(zhì)上，然 而凹坑一般是通過(guò)對(duì)應(yīng)用于盤基板上的專門相變材料層進(jìn)行燒制而被添加的。為了寫入可 記錄型或可重寫型盤，光盤的光學(xué)拾取頭除了配備有讀取激光器以外，一般還配備有較高 功率的寫入激光器。替代地，一個(gè)激光器一般可以通過(guò)對(duì)于讀取操作以較低功率輸出進(jìn)行 操作并且對(duì)于寫入操作以較高功率輸出范圍進(jìn)行操作，來(lái)執(zhí)行兩種功能。用于燒制凹坑特征(pit feature)的功率量對(duì)這些特征的形狀是至關(guān)重要的。這 些凹坑特征的幾何形狀影響了讀回系統(tǒng)的讀回性能。各家廠商利用不同的材料來(lái)生產(chǎn)可記
5錄型光存儲(chǔ)介質(zhì)與可重寫型光存儲(chǔ)介質(zhì)。因此，用于一種介質(zhì)的適當(dāng)寫入功率水平對(duì)于另 一介質(zhì)可能太高或太低，即使這兩種介質(zhì)是根據(jù)相同的規(guī)范制造出來(lái)的也是如此。因此，多 數(shù)光存儲(chǔ)介質(zhì)規(guī)范包括某種用于讓廠商指定最佳功率水平的機(jī)制。然而，甚至廠商所指定 的功率水平都可能由于介質(zhì)和/或記錄設(shè)備中的常規(guī)工藝變化或者記錄設(shè)備中的操作變 化而不是最佳的。因此，多數(shù)光存儲(chǔ)介質(zhì)規(guī)范還定義了一個(gè)或多個(gè)介質(zhì)區(qū)域，用于通過(guò)以 各種功率水平寫入數(shù)據(jù)并且讀回該數(shù)據(jù)來(lái)確定最佳寫入功率水平，從而執(zhí)行最佳功率校準(zhǔn) (OPC)。如果數(shù)據(jù)是以多個(gè)會(huì)話(session)方式被寫入介質(zhì)的和/或是利用多個(gè)不同記錄 設(shè)備被寫在同一介質(zhì)上，則OPC操作可用的空間量可能是有限的并且OPC操作可能需要多 次運(yùn)行。因此，希望光存儲(chǔ)介質(zhì)記錄設(shè)備盡可能獲得最精確的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。如上所述，數(shù)據(jù)一般通過(guò)在盤上產(chǎn)生標(biāo)記與間隔而被寫入光存儲(chǔ)介質(zhì)。每個(gè)標(biāo)記 和/或間隔都有“運(yùn)行長(zhǎng)度(run-length) ” (例如數(shù)據(jù)“ 11100011 ”包括一個(gè)3T標(biāo)記、一 個(gè)3T間隔、以及一個(gè)2T標(biāo)記)。許多傳統(tǒng)的光存儲(chǔ)格式根據(jù)運(yùn)行長(zhǎng)度受限碼(rim-length limited code)來(lái)對(duì)寫入盤中的數(shù)據(jù)進(jìn)行編碼，以使得每一個(gè)標(biāo)記和間隔都有一個(gè)最小和 /或最大運(yùn)行長(zhǎng)度。一些寫入誤差(包括時(shí)序偏移誤差與幅度變化)與特定運(yùn)行長(zhǎng)度轉(zhuǎn)變 (transition)(例如，從3T標(biāo)記到2T間隔的轉(zhuǎn)變、從6T間隔轉(zhuǎn)變到3T標(biāo)記的轉(zhuǎn)變等等) 相對(duì)應(yīng)。在示例性O(shè)PC系統(tǒng)中，如美國(guó)專利申請(qǐng)公報(bào)No. 2007-0201331 (其相關(guān)部分通過(guò)引 用結(jié)合于此)中所述的，根據(jù)預(yù)定式樣(pattern)并使用預(yù)定的各種功率水平、時(shí)序偏移和 /或其它可調(diào)整的寫入特性將數(shù)據(jù)寫入光存儲(chǔ)盤(或其它光存儲(chǔ)介質(zhì))中。例如，可選擇式 樣以包括各種運(yùn)行長(zhǎng)度轉(zhuǎn)變。因此該系統(tǒng)可以通過(guò)將從盤中讀取的數(shù)據(jù)的讀回特性與預(yù)定 式樣數(shù)據(jù)和已知的寫入特性相關(guān)聯(lián)來(lái)確定每種轉(zhuǎn)變類型的最佳寫入特性。此外，傳統(tǒng)的讀取光存儲(chǔ)介質(zhì)的方法和裝置執(zhí)行時(shí)序恢復(fù)(timing recovery)以 便使讀取操作與從介質(zhì)讀回的數(shù)據(jù)同步。例如，可以利用時(shí)序恢復(fù)來(lái)確定讀回信號(hào)中哪一 個(gè)或/或哪多個(gè)取樣與存儲(chǔ)在介質(zhì)上的數(shù)據(jù)相對(duì)應(yīng)。當(dāng)傳統(tǒng)時(shí)序恢復(fù)做出不正確的判斷 時(shí)，讀回信號(hào)可能被錯(cuò)誤地解釋。在OPC讀取操作期間，正確地與讀回信號(hào)同步尤其重要， 以使得校準(zhǔn)測(cè)量是精確的。因此，還希望在讀取在各種條件下寫入的數(shù)據(jù)(例如，利用若干 不同寫入功率水平、時(shí)序偏移等寫入光存儲(chǔ)介質(zhì)的校準(zhǔn)式樣數(shù)據(jù))的同時(shí)，提供對(duì)讀回信 號(hào)的有效校正(例如，減小時(shí)間和/或幅度的抖動(dòng))。在相關(guān)的示例性O(shè)PC系統(tǒng)中，如在2009年1月13日提出的美國(guó)專利申請(qǐng) No. 12/352，950 (其相關(guān)部分通過(guò)引用結(jié)合于此)中所述的，為了恢復(fù)讀回信號(hào)的時(shí)序，時(shí) 序恢復(fù)回路(loop)利用了預(yù)定讀回式樣以及低頻轉(zhuǎn)變(例如，諸如6T/6T轉(zhuǎn)變之類的長(zhǎng)運(yùn) 行長(zhǎng)度之間的轉(zhuǎn)變)的相對(duì)穩(wěn)定性。因此，預(yù)定數(shù)據(jù)可以包括具有長(zhǎng)運(yùn)行長(zhǎng)度的“導(dǎo)引邊緣 (guide edge)”。當(dāng)OPC系統(tǒng)檢測(cè)到在這些導(dǎo)引邊緣之一的時(shí)序偏移時(shí)，該偏移可以用來(lái)調(diào) 整讀回時(shí)序。例如，時(shí)序偏移或其衍生物可以被提供來(lái)當(dāng)作輸入到傳統(tǒng)的鎖相回路(PLL) 的誤差。PLL通常不會(huì)立即對(duì)偏移誤差作出反應(yīng)。結(jié)果，PLL漂移和/或時(shí)序恢復(fù)過(guò)程中的 其它人為因素將會(huì)影響導(dǎo)引邊緣與非導(dǎo)引邊緣(non-guide edge)兩者的時(shí)序偏移。但是， 可能希望精確地測(cè)量由光存儲(chǔ)介質(zhì)中的變化和/或所使用的寫入特性所導(dǎo)致的時(shí)序偏移。 因此，希望減少因時(shí)序回路中的漂移或者與介質(zhì)中的變化和/或?qū)懭胩匦詿o(wú)關(guān)的其它因素所導(dǎo)致的任何時(shí)序偏移。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的實(shí)施例涉及用于校正利用光存儲(chǔ)介質(zhì)的讀取和/或?qū)懭氩僮鞯姆椒?、?件和裝置。該方法一般包括以下步驟讀取光存儲(chǔ)介質(zhì)的區(qū)域以產(chǎn)生讀回信號(hào)；測(cè)量多個(gè) 數(shù)據(jù)邊緣(包括一個(gè)或多個(gè)非導(dǎo)引邊緣)的時(shí)序偏移；以及基于多個(gè)邊緣中的至少一個(gè)邊 緣的所測(cè)得偏移相對(duì)于預(yù)定偏移來(lái)存儲(chǔ)用于多個(gè)邊緣中的至少一個(gè)邊緣的偏移校正。在一示例性實(shí)施例中，可以通過(guò)基于離一個(gè)或多個(gè)導(dǎo)引邊緣的比特距離線性地提 取非導(dǎo)引邊緣的偏移校準(zhǔn)值，來(lái)計(jì)算出偏移校正。也可以基于在前導(dǎo)引邊緣(preceding guide edge)和在后導(dǎo)引邊緣(succeeding guide edge)的所測(cè)得時(shí)序偏移來(lái)計(jì)算該偏移 校正。因此，可以基于離在前導(dǎo)引邊緣的比特距離和離在后導(dǎo)引邊緣的比特距離來(lái)線性提 取偏移校正。替代地，也可以基于至少第一和第二非導(dǎo)引邊緣的所測(cè)得偏移來(lái)從非導(dǎo)引邊 緣計(jì)算偏移校正。裝置可以包括讀取模塊，其被配置用來(lái)讀取光存儲(chǔ)介質(zhì)的區(qū)域；測(cè)量模塊，其被 配置用來(lái)測(cè)量時(shí)序偏移；以及邏輯，其被配置用來(lái)計(jì)算用于多個(gè)邊緣中的至少一個(gè)的偏移 校正。讀取光存儲(chǔ)介質(zhì)的區(qū)域產(chǎn)生了讀回信號(hào)，該讀回信號(hào)包括多個(gè)邊緣，這些邊緣包括一 個(gè)或多個(gè)非導(dǎo)引邊緣。測(cè)量至少第一非導(dǎo)引邊緣以及至少第二邊緣(該第二邊緣可能是第 二非導(dǎo)引邊緣或第一導(dǎo)引邊緣)的時(shí)序偏移。這(一個(gè)或多個(gè))時(shí)序校正是基于第一和第 二邊緣中的至少一者的所測(cè)得偏移的。在一示例性實(shí)施例中，光盤的校準(zhǔn)區(qū)域被寫入預(yù)定式樣數(shù)據(jù)。因此，可以處理已知 的式樣數(shù)據(jù)以確定何時(shí)測(cè)量讀回信道(readback channel)(例如，在所期望的轉(zhuǎn)變邊緣期 間或左右)以及何時(shí)產(chǎn)生測(cè)量指令(例如，指示測(cè)量電路或其它組件在預(yù)定的時(shí)刻測(cè)量讀 回信道)。例如，可以處理該式樣數(shù)據(jù)以定位導(dǎo)引邊緣并產(chǎn)生用于所期望轉(zhuǎn)變的導(dǎo)引邊緣測(cè) 量指令。該方法還可以包括響應(yīng)于測(cè)量指令來(lái)測(cè)量時(shí)序偏移和/或響應(yīng)于測(cè)量指令來(lái)計(jì) 算經(jīng)校正偏移。從光存儲(chǔ)介質(zhì)讀取的數(shù)據(jù)通常包括預(yù)定式樣數(shù)據(jù)。一般地，式樣數(shù)據(jù)在從介質(zhì)進(jìn) 行讀取之前是已知的，如此得以預(yù)測(cè)出讀回信號(hào)的預(yù)期形狀。因此，該方法可以包括在讀取 式樣數(shù)據(jù)之前將式樣數(shù)據(jù)寫入到光盤的區(qū)域中。在進(jìn)一步的實(shí)施例中，該方法包括根據(jù)校準(zhǔn)指令將式樣數(shù)據(jù)寫入到光存儲(chǔ)介質(zhì)的 區(qū)域中。校準(zhǔn)指令通常與式樣數(shù)據(jù)同步。因此，該方法可以包括接收比特流(bitstream)， 該比特流包括校準(zhǔn)指令以及式樣數(shù)據(jù)。例如，該比特流可以具有疊加在式樣數(shù)據(jù)上的校準(zhǔn) 指令。該方法的實(shí)施例還可以包括根據(jù)校準(zhǔn)指令來(lái)測(cè)量讀回信號(hào)的邊緣時(shí)序偏移(例 如，通過(guò)處理指令以及式樣數(shù)據(jù)來(lái)產(chǎn)生測(cè)量指令)，以及基于一個(gè)或多個(gè)經(jīng)校準(zhǔn)偏移來(lái)計(jì)算 用于將數(shù)據(jù)寫入光存儲(chǔ)介質(zhì)的寫入偏移(例如，最佳功率水平、時(shí)序偏移等等)。例如，該方 法可以包括基于式樣數(shù)據(jù)來(lái)對(duì)一個(gè)或多個(gè)測(cè)量結(jié)果與一個(gè)或多個(gè)預(yù)期值作比較。在進(jìn)一 步的實(shí)施例中，該方法可以包括將一個(gè)或多個(gè)測(cè)量結(jié)果與一個(gè)或多個(gè)校準(zhǔn)指令相關(guān)聯(lián)(例 如，將結(jié)果與在寫入期間由指令設(shè)定的功率水平或其它特性相關(guān)聯(lián))。替代地，該方法可以 包括將一個(gè)或多個(gè)測(cè)量結(jié)果與式樣數(shù)據(jù)中的一個(gè)或多個(gè)運(yùn)行長(zhǎng)度相關(guān)聯(lián)。
在另一個(gè)實(shí)施例中，處理該式樣數(shù)據(jù)可以包括分析該式樣數(shù)據(jù)以找出有用的測(cè)量 位置。例如，可以分析該式樣數(shù)據(jù)以找出特定的運(yùn)行長(zhǎng)度、標(biāo)記/間隔組合等等。因此，該 方法可以包括產(chǎn)生導(dǎo)引邊緣指令以對(duì)應(yīng)于標(biāo)記/間隔組合中的轉(zhuǎn)變。在一個(gè)示例性實(shí)施例 中，導(dǎo)引邊緣指令可以對(duì)應(yīng)于式樣數(shù)據(jù)中的6T標(biāo)記與6T間隔之間的轉(zhuǎn)變(反之亦然)。導(dǎo)引邊緣指令可以與讀回信號(hào)中的預(yù)期轉(zhuǎn)變同步(例如，其中，讀回信號(hào)包括式 樣數(shù)據(jù))。測(cè)量讀回信號(hào)的一個(gè)或多個(gè)特性可以包括測(cè)量導(dǎo)引邊緣指令與讀回信號(hào)中的轉(zhuǎn) 變之間的時(shí)序偏移(例如，其中，讀回信號(hào)應(yīng)該具有轉(zhuǎn)變，如由式樣數(shù)據(jù)所確定的)。在一示例性實(shí)施例中，該方法包括根據(jù)導(dǎo)引邊緣的時(shí)序偏移，調(diào)整鎖相回路(PLL) 的輸出(例如，加速或減慢該P(yáng)LL以減少讀回信號(hào)中的抖動(dòng))。例如，該方法可以包括根據(jù) 導(dǎo)引邊緣指令存儲(chǔ)多個(gè)時(shí)序偏移測(cè)量值并且根據(jù)所存儲(chǔ)的時(shí)序偏移測(cè)量值來(lái)計(jì)算PLL的 調(diào)整?？稍谂鋫溆型ㄓ梦⑻幚砥骱?或傳統(tǒng)數(shù)字信號(hào)處理器的系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)和/或執(zhí)行的 算法、(一個(gè)或多個(gè))計(jì)算機(jī)程序和/或軟件可被配置用來(lái)執(zhí)行這里描述的方法的一個(gè)或 多個(gè)步驟和/或硬件的一個(gè)或多個(gè)操作。一般而言，電路、設(shè)備、裝置、架構(gòu)和/或系統(tǒng)包括 含有具體體現(xiàn)這里公開的一個(gè)或多個(gè)發(fā)明概念的一個(gè)或多個(gè)組件的那些電路、設(shè)備、裝置、 架構(gòu)和/或系統(tǒng)。本發(fā)明有利地提供了如下能力精確地測(cè)量由光存儲(chǔ)介質(zhì)中的變化和/或所使用 的寫入特性所導(dǎo)致的時(shí)序偏移，并且對(duì)于可能由時(shí)序回路中的漂移或者可能與介質(zhì)中的變 化和/或?qū)懭胩匦詿o(wú)關(guān)的其它因素引起的時(shí)序偏移，來(lái)校正所測(cè)量出的偏移。


圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的示例性方法的流程圖。圖2是示出示例性波形的示圖。圖3是示出根據(jù)發(fā)明實(shí)施例的示例性設(shè)備的示圖。圖4是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的用于處理校準(zhǔn)比特流的示例性設(shè)備的示圖。圖5是示例性光存儲(chǔ)裝置的示圖。
具體實(shí)施例方式現(xiàn)在將詳細(xì)參考本發(fā)明各種實(shí)施例，本發(fā)明的示例在附圖中示出。雖然將結(jié)合下 述實(shí)施例來(lái)描述本發(fā)明，但是這些實(shí)施例并非意欲限制本發(fā)明。相反，本發(fā)明旨在涵蓋如所 附權(quán)利要求限定的本發(fā)明的范圍內(nèi)可能包括的替代、修改及等同物。此外，在下列本發(fā)明的 詳細(xì)說(shuō)明中，闡述了許多具體細(xì)節(jié)以提供對(duì)本發(fā)明的透徹了解。然而，沒有這些具體細(xì)節(jié)， 本發(fā)明亦可實(shí)施。在其它情況下，為了避免不必要地讓本說(shuō)明的各方面含糊不清，眾所皆知 的方法、過(guò)程、組件及電路并未詳細(xì)描述。下面的詳細(xì)描述的一些部分是按照進(jìn)程、過(guò)程、邏輯塊、功能塊、處理、以及對(duì)計(jì)算 機(jī)、處理器、控制器和/或存儲(chǔ)器中的數(shù)據(jù)比特、數(shù)據(jù)流或波形進(jìn)行操作的其它符號(hào)表示來(lái) 呈現(xiàn)的。這些描述和表示通常由數(shù)據(jù)處理領(lǐng)域的技術(shù)人員用來(lái)向本領(lǐng)域其他技術(shù)人員有效 地傳達(dá)他們工作的實(shí)質(zhì)。處理、過(guò)程、邏輯塊、功能、操作等在此通常被認(rèn)為是產(chǎn)生所希望的 和/或所預(yù)期的結(jié)果的步驟或指令的自洽序列。這些步驟一般包括對(duì)物理量的物理操縱。
8通常但并非必要地，這些物理量將采取能夠在計(jì)算機(jī)、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)或邏輯電路中被存儲(chǔ)、 傳送、組合、比較以及以其它方式進(jìn)行操縱的電信號(hào)、磁信號(hào)、光信號(hào)或量子信號(hào)的形式。主 要為了公用的目的，已經(jīng)證明以比特、波、波形、流、值、元、符號(hào)、字符、項(xiàng)、數(shù)等等來(lái)指代這 些信號(hào)有時(shí)是方便的。所有這些以及類似術(shù)語(yǔ)是與適當(dāng)?shù)奈锢砹肯嚓P(guān)聯(lián)的，并且僅僅是應(yīng)用到這些量的 方便標(biāo)記。除非以別的方式特別說(shuō)明和/或從下面的論述可以清楚，否則應(yīng)當(dāng)認(rèn)識(shí)到在整 個(gè)本申請(qǐng)中，利用諸如“處理”、“操作”、“運(yùn)算”、“計(jì)算”、“確定”、“操縱”、“變換”、“顯示”等 術(shù)語(yǔ)進(jìn)行的論述是指計(jì)算機(jī)、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)、邏輯電路或類似處理設(shè)備(例如，電、光或量 子計(jì)算或處理設(shè)備)的動(dòng)作和處理，這些動(dòng)作和處理對(duì)表示為物理(例如電子)量的數(shù)據(jù) 進(jìn)行操縱和變換。這些術(shù)語(yǔ)指處理設(shè)備的如下動(dòng)作、操作和/或處理這些動(dòng)作、操作和/ 或處理對(duì)系統(tǒng)或架構(gòu)的(一個(gè)或多個(gè))部件(例如，寄存器、存儲(chǔ)器、其它這樣的信息存儲(chǔ)、 傳輸或顯示設(shè)備等)中的物理量進(jìn)行操縱，或者將這些物理量變換為被類似地表示為相同 或不同系統(tǒng)或架構(gòu)的其它部件中的物理量的其它數(shù)據(jù)。另外，為了方便和簡(jiǎn)化，術(shù)語(yǔ)“時(shí)鐘”、“時(shí)間”、“速率”、“時(shí)段”和“頻率”在這里一般 可互換地使用，但是通常賦予它們被在領(lǐng)域中識(shí)別出的含義。而且，為了方便和簡(jiǎn)化，術(shù)語(yǔ) “比特流”、“數(shù)據(jù)”、“數(shù)據(jù)流”、“波形”和“信息”可互換地使用，同樣，術(shù)語(yǔ)“連接到”、“與…… 耦合”、“耦合到”以及“與……通信”可以互換地使用(這些術(shù)語(yǔ)還可以指所連接的元件、所 耦合的元件和/或通信元件之間的直接和/或間接關(guān)系，除非術(shù)語(yǔ)的使用上下文明確指示 了其它意思)，但這些術(shù)語(yǔ)通常也被賦予它們?cè)陬I(lǐng)域中被識(shí)別出的含義。最后，術(shù)語(yǔ)“標(biāo)記”、“間隔”、“凹坑”及“岸面”一般是指寫入(和/或不寫入)到 可記錄型光存儲(chǔ)介質(zhì)上的特征，并且可以表示二進(jìn)制數(shù)值和/或被編碼在介質(zhì)上的其它數(shù) 據(jù)?！皹?biāo)記和間隔”和/或“岸面和凹坑”的語(yǔ)義值可取決于光存儲(chǔ)介質(zhì)的格式而變化，但這 些術(shù)語(yǔ)通常被賦予它們?cè)陬I(lǐng)域中被識(shí)別出的含義。下面將針對(duì)示例性實(shí)施例更詳細(xì)地說(shuō)明本發(fā)明的各個(gè)方面。用于時(shí)序校準(zhǔn)的示例性方法圖1示出了用于最佳功率(可選擇地，時(shí)序)校準(zhǔn)(OPC)的示例性方法100。該方法 100通常包括用于讀取光存儲(chǔ)介質(zhì)101的區(qū)域以產(chǎn)生讀回信號(hào)的步驟120 ；步驟110-112， 用于處理預(yù)定式樣數(shù)據(jù)以產(chǎn)生一個(gè)或多個(gè)測(cè)量指令；步驟121-123，用于響應(yīng)于測(cè)量指令 來(lái)處理讀回信號(hào)并測(cè)量導(dǎo)引邊緣與非導(dǎo)引邊緣時(shí)序偏移以產(chǎn)生一個(gè)或多個(gè)測(cè)量結(jié)果。在各 實(shí)施例中，光存儲(chǔ)介質(zhì)101例如可以包括光盤，該光盤例如是一次寫入型光盤(例如CD-R、 DVD-R 或 DVD+R、BD-R 等等)或可重寫型光盤(例如 DVD-RW、DVD+RW、DVD-RAM、BD-RE 等
寸J ο方法100開始于步驟110，從式樣源(pattern source) 102獲得式樣數(shù)據(jù)。一般在 從存儲(chǔ)介質(zhì)讀取任何數(shù)據(jù)之前該式樣數(shù)據(jù)是已知的，以使得可以預(yù)測(cè)出讀回信號(hào)的預(yù)期形 狀。因此，在從存儲(chǔ)介質(zhì)讀取數(shù)據(jù)的步驟120期間或之前，可以在步驟111中分析該已知的 寫入信號(hào)的副本(r印lica)。在一個(gè)示例性實(shí)施例中，可能已經(jīng)通過(guò)圖3中用于利用各種寫入特性將式樣數(shù)據(jù) 寫入到光存儲(chǔ)介質(zhì)中的方法300，將式樣數(shù)據(jù)寫入介質(zhì)101。式樣源102例如可以包括存 儲(chǔ)器(例如，還提供要被寫入光存儲(chǔ)介質(zhì)的式樣數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器)、處理、電路或用于根據(jù)算
9法產(chǎn)生式樣數(shù)據(jù)的其它裝置、緩沖器(例如，存儲(chǔ)被寫入光存儲(chǔ)介質(zhì)101的式樣數(shù)據(jù)的緩沖
m \坐坐 研乂寸寸°在步驟111，分析式樣數(shù)據(jù)以在讀回信號(hào)中找出有用的測(cè)量位置。例如，可以分析 式樣數(shù)據(jù)以找出特定運(yùn)行長(zhǎng)度、標(biāo)記/間隔組合等等。在最佳功率校準(zhǔn)(OPC)操作(其可 選地還可以包括時(shí)序校準(zhǔn)操作)期間，為了選出最佳的寫入特性，獲得對(duì)讀回信號(hào)的精確 測(cè)量尤其重要。傳統(tǒng)的讀取光存儲(chǔ)介質(zhì)的方法與裝置執(zhí)行時(shí)序恢復(fù)以將讀取操作與從介質(zhì)讀回 的數(shù)據(jù)同步。然而，傳統(tǒng)的OPC寫入處理可能使得適當(dāng)調(diào)整時(shí)序回路變得更困難，這是因?yàn)?用于寫入數(shù)據(jù)的寫入特性(例如，功率、時(shí)序偏移等等)可能會(huì)有大幅變化。因此，希望使 讀回信號(hào)的時(shí)序相位偏移、包絡(luò)(envelope)偏移和/或包絡(luò)增益的抖動(dòng)或其它變化穩(wěn)定。標(biāo)記和/或間隔的較長(zhǎng)運(yùn)行長(zhǎng)度有可能比較短運(yùn)行長(zhǎng)度變化小。結(jié)果，較長(zhǎng)運(yùn)行 長(zhǎng)度之間的轉(zhuǎn)變(例如，6T標(biāo)記與6T間隔之間的轉(zhuǎn)變，反之亦然)可能比到較短運(yùn)行長(zhǎng)度 的轉(zhuǎn)變或自較短運(yùn)行長(zhǎng)度的轉(zhuǎn)變更穩(wěn)定，并且可被用作導(dǎo)引邊緣。因此，步驟111可以包 括分析式樣數(shù)據(jù)以找出這樣的轉(zhuǎn)變。除了找出標(biāo)記和/或間隔的長(zhǎng)運(yùn)行長(zhǎng)度之間的轉(zhuǎn)變 之外，步驟111也可以包括定位式樣數(shù)據(jù)中的其它非導(dǎo)引邊緣轉(zhuǎn)變。在步驟112，根據(jù)步驟111的分析來(lái)產(chǎn)生測(cè)量指令。測(cè)量指令可以包括用于在特 定時(shí)間(例如，在期望讀回信號(hào)與式樣數(shù)據(jù)的一個(gè)或多個(gè)特征相對(duì)應(yīng)時(shí)的時(shí)間)測(cè)量讀回 信號(hào)的一個(gè)或多個(gè)特性的信號(hào)、操作代碼(operational code)或其他消息。例如，測(cè)量指 令可以包括與讀回信號(hào)中的預(yù)期轉(zhuǎn)變同步的時(shí)序偏移測(cè)量指令。時(shí)序偏移指令可以包括與 式樣數(shù)據(jù)中的穩(wěn)定邊緣同步的用于調(diào)整讀回時(shí)序回路的導(dǎo)引邊緣測(cè)量指令和/或其它時(shí) 序偏移指令(例如，用于校準(zhǔn)寫入特性)。測(cè)量指令也可以包括包絡(luò)測(cè)量指令(例如，用以 測(cè)量讀回信號(hào)的包絡(luò)的幅度或其它特性的指令)和/或用以測(cè)量讀回信號(hào)的其它特性的指 令。圖2示出了示例性理想讀回信號(hào)波形201，該波形201對(duì)應(yīng)于式樣數(shù)據(jù)210。波形 202是具有時(shí)序、包絡(luò)偏移、以及包絡(luò)增益變化的示例性讀回信號(hào)。在圖2所示的示例中，標(biāo) 記212與218以及間隔211、213、217和219各自具有6T的運(yùn)行長(zhǎng)度，并且標(biāo)記214與216 以及間隔215各自具有3T的運(yùn)行長(zhǎng)度。為了調(diào)整時(shí)序回路，導(dǎo)引邊緣測(cè)量信號(hào)220通常對(duì)應(yīng)于用于測(cè)量讀回信號(hào)的時(shí)序 偏移的指令。因此，導(dǎo)引邊緣221對(duì)應(yīng)于6T間隔211與6T標(biāo)記212之間的轉(zhuǎn)變，導(dǎo)引邊緣 222對(duì)應(yīng)于6T標(biāo)記212與6T間隔213之間的轉(zhuǎn)變，導(dǎo)引邊緣223對(duì)應(yīng)于6T間隔217與6T 標(biāo)記218之間的轉(zhuǎn)變，并且導(dǎo)引邊緣224對(duì)應(yīng)于6T標(biāo)記218與6T間隔219之間的轉(zhuǎn)變。包 絡(luò)測(cè)量信號(hào)230通常對(duì)應(yīng)于用于測(cè)量讀回信號(hào)的包絡(luò)的指令。再次參閱圖1，在步驟121，根據(jù)測(cè)量指令來(lái)處理讀回信號(hào)。因此，步驟122可以包 括測(cè)量讀回信號(hào)中非導(dǎo)引邊緣轉(zhuǎn)變處的時(shí)序偏移、測(cè)量讀回信號(hào)的幅度、和/或測(cè)量讀回 信號(hào)的任何其它特性。步驟123可以包括在導(dǎo)引邊緣信號(hào)220的每個(gè)邊緣處測(cè)量讀回信號(hào) 的時(shí)序偏移(例如，以在與式樣數(shù)據(jù)中的相對(duì)穩(wěn)定的轉(zhuǎn)變同步的邊緣221、222、223以及224 處測(cè)量讀回信號(hào)以調(diào)整讀回時(shí)序回路)。測(cè)量讀回信號(hào)中的時(shí)序偏移例如可以包括在與 導(dǎo)引邊緣測(cè)量指令相對(duì)應(yīng)的時(shí)間處測(cè)量讀回信號(hào)的幅度，并且根據(jù)所測(cè)量的幅度計(jì)算時(shí)序 偏移。在步驟125，可以根據(jù)導(dǎo)引邊緣測(cè)量來(lái)調(diào)整鎖相回路(PLL)的輸出(例如，使PLL加速或減慢以減少讀回信號(hào)中的抖動(dòng))。當(dāng)測(cè)量到時(shí)序偏移時(shí)，OPC操作可以捕獲各個(gè)邊緣的分布和平均值。各個(gè)邊緣的 分布可能是由因PLL顫動(dòng)所造成的時(shí)序恢復(fù)抖動(dòng)、因?qū)懭肫陂g的功率差異所造成的變化和 /或因?qū)嶋H標(biāo)記邊緣抖動(dòng)所造成的邊緣抖動(dòng)而引起的。希望了解因?qū)嶋H標(biāo)記邊緣抖動(dòng)所造 成的邊緣抖動(dòng)。通過(guò)將該影響與其它影響隔離，可以修改寫入期間的系統(tǒng)參數(shù)以便優(yōu)化邊 緣抖動(dòng)。這對(duì)于相變介質(zhì)的優(yōu)化是特別重要的。當(dāng)導(dǎo)引邊緣抖動(dòng)主要是因?yàn)镻LL顫動(dòng)所造成的時(shí)候，可以通過(guò)在導(dǎo)引邊緣之間外 推(extrapolate)時(shí)序偏移，來(lái)從測(cè)量到的非導(dǎo)引邊緣的時(shí)序偏移減去PLL顫動(dòng)的影響。然 后，得到的分布可用來(lái)了解和/或校正邊緣抖動(dòng)(例如，使用頻率直方圖)。因此，在步驟124，可以將基于測(cè)得的至少一個(gè)附近導(dǎo)引邊緣的偏移的非導(dǎo)引邊緣 的(經(jīng)校正的)偏移存儲(chǔ)至存儲(chǔ)器中。在步驟130，可以分析在步驟124存儲(chǔ)的偏移和/或 其它測(cè)量值。例如，可以通過(guò)基于離導(dǎo)引邊緣(例如，最接近的在前或在后的導(dǎo)引邊緣)的 比特距離線性提取非導(dǎo)引邊緣的偏移校正值，來(lái)計(jì)算或確定經(jīng)校正的偏移。替代地，計(jì)算經(jīng) 校正的偏移可以包括基于測(cè)得的在前的導(dǎo)引邊緣和在后的導(dǎo)引邊緣兩者的時(shí)序偏移來(lái)計(jì) 算(例如，通過(guò)線性外推)非導(dǎo)引邊緣的偏移值。在其它示例中，步驟130可以包括存儲(chǔ)多個(gè)時(shí)序偏移測(cè)量值并且分析測(cè)量值中 的一個(gè)或多個(gè)以確定最佳寫入特性來(lái)校準(zhǔn)寫入處理，如2006年12月26日提出申請(qǐng)的美國(guó) 專利申請(qǐng)No. 11/646，098 (代理機(jī)構(gòu)案卷號(hào)MP0960)中更詳細(xì)描述的。因此，該方法可以包 括可選步驟130以存儲(chǔ)寫入校準(zhǔn)數(shù)據(jù)(例如，最佳特性和/或稍后將用來(lái)確定最佳特性的 數(shù)據(jù))。因此，方法100提供了在從光存儲(chǔ)介質(zhì)讀回式樣期間，使用已知寫入式樣的同步 副本來(lái)當(dāng)作基準(zhǔn)。該方法能夠預(yù)先確定取樣表示特定的標(biāo)記/間隔組合，并且可以用來(lái)導(dǎo) 引時(shí)序恢復(fù)回路。當(dāng)選擇穩(wěn)定的邊緣作為該導(dǎo)引邊緣時(shí)，可以獲得非常穩(wěn)定的基準(zhǔn)，其被用 來(lái)鎖定時(shí)序回路?？墒褂脧氖綐訑?shù)據(jù)得出的非導(dǎo)引邊緣位置來(lái)確定用于測(cè)量(例如，用于 寫入校準(zhǔn))的預(yù)期邊緣在何處。為了更精確的測(cè)量標(biāo)記邊緣抖動(dòng)的影響，可以基于測(cè)得的 導(dǎo)引邊緣偏移來(lái)校正因時(shí)序恢復(fù)回路漂移的影響所造成的非導(dǎo)引邊緣的時(shí)序偏移。時(shí)序相位誤差可以取決于轉(zhuǎn)變之前和之后的運(yùn)行長(zhǎng)度值而變化。例如，跟隨有6T 間隔的3T標(biāo)的時(shí)序相位誤差可能不同于跟隨有4T標(biāo)記的5T間隔的時(shí)序相位誤差。因此， 希望確定每種轉(zhuǎn)變類型的最佳時(shí)序相位偏移，其中，存在針對(duì)在跟隨有另一運(yùn)行長(zhǎng)度的間 隔的一種運(yùn)行長(zhǎng)度的標(biāo)記(反之亦然)之間的每種轉(zhuǎn)變組合的轉(zhuǎn)變類型。例如，如果編碼 系統(tǒng)的最大運(yùn)行長(zhǎng)度是10，則可能需要200種不同的最佳時(shí)序相位偏移(因?yàn)橛?00種可 能的運(yùn)行長(zhǎng)度組合，并且可能有2種不同的轉(zhuǎn)變方向(例如“標(biāo)記”到“間隔”和“間隔”到 “標(biāo)記”))。因此，在另一實(shí)施例中，該確定步驟包括為式樣數(shù)據(jù)中的每一種轉(zhuǎn)變型選出最 佳時(shí)序相位偏移。該最佳時(shí)序相位偏移隨后可在寫入數(shù)據(jù)至光盤的時(shí)候用來(lái)調(diào)整轉(zhuǎn)變時(shí)序 (例如，以在最佳的時(shí)刻開啟和關(guān)閉寫入激光器)。因此，本方法的另一方面還可以包括調(diào) 整讀回信號(hào)的時(shí)序相位偏移、包絡(luò)偏移和/或包絡(luò)增益，例如以向?qū)懭胄盘?hào)應(yīng)用更佳的時(shí) 序偏移和/或增益。還可以使用本文中所描述的測(cè)量技術(shù)來(lái)獨(dú)自測(cè)量無(wú)導(dǎo)引(imguided)數(shù)據(jù)的邊緣 時(shí)序。一般檢測(cè)良好數(shù)據(jù)的特征尺寸是相對(duì)容易的，并且可以利用這樣的檢測(cè)到的特征尺寸來(lái)對(duì)邊緣分類。在長(zhǎng)時(shí)間的寫入操作期間，該“無(wú)導(dǎo)引邊緣時(shí)序”技術(shù)允許在寫入操作期 間停止寫入，向后搜尋數(shù)據(jù)，讀取最近寫入的數(shù)據(jù)序列，并且測(cè)量時(shí)序信息?？梢钥蛇x地在 根據(jù)本公開調(diào)整了功率或時(shí)序之后再次繼續(xù)寫操作。在另一實(shí)施例中，處理步驟還包括將式樣數(shù)據(jù)中的每一個(gè)轉(zhuǎn)變的時(shí)序相位誤差值 存儲(chǔ)至存儲(chǔ)器中。為了確定用于寫入的最佳時(shí)序相位偏移，可以處理這些存儲(chǔ)值以確定每 一個(gè)轉(zhuǎn)變類型的平均時(shí)序相位誤差。例如，當(dāng)處理存儲(chǔ)值以確定最佳寫入特性時(shí)，可以從存 儲(chǔ)器讀取式樣數(shù)據(jù)和所存儲(chǔ)的時(shí)序相位誤差值兩者。因此，可將時(shí)序相位誤差值與轉(zhuǎn)變類 型相關(guān)聯(lián)，并且可以創(chuàng)建每一種轉(zhuǎn)變類型的時(shí)序相位誤差的直方圖。可以分析直方圖來(lái)確 定用于寫入每一種轉(zhuǎn)變類型的最佳時(shí)序相位偏移。除此之外，該數(shù)據(jù)可以提供對(duì)寫入特性 (例如抖動(dòng))的有價(jià)值的觀察(例如，當(dāng)一轉(zhuǎn)變類型的時(shí)序相位誤差在統(tǒng)計(jì)上存在顯著變化 時(shí))。本領(lǐng)域技術(shù)人員可以選擇式樣數(shù)據(jù)以收集最必要的信息。例如，式樣數(shù)據(jù)可以包括相 對(duì)大量的高頻轉(zhuǎn)變以及相對(duì)少量的低頻轉(zhuǎn)變，這是因?yàn)楦哳l轉(zhuǎn)變被更普遍地寫入。示例件軟件本發(fā)明還包括可在包含微控制器、微處理器或其它指令處理器(例如，配備有傳 統(tǒng)的模擬和/或數(shù)字信號(hào)處理器的通用計(jì)算機(jī)或工作站)的裝置內(nèi)實(shí)施和/或執(zhí)行的或者 可由該裝置實(shí)施或執(zhí)行的算法、計(jì)算機(jī)程序和/或軟件，其被配置用來(lái)執(zhí)行方法的一個(gè)或 多個(gè)步驟和/或硬件的一個(gè)或多個(gè)操作。因此，本發(fā)明另一方面涉及實(shí)現(xiàn)上面的(一種或 多種)方法的算法和/或軟件。例如，本發(fā)明可以還涉及包含指令集的計(jì)算機(jī)程序、計(jì)算機(jī) 可讀取介質(zhì)或波形，所述指令集在被適當(dāng)?shù)奶幚碓O(shè)備(例如信號(hào)處理裝置，例如微控制器、 微處理器或DSP裝置)執(zhí)行時(shí)，被配置用來(lái)執(zhí)行上述方法和/或算法。示例性裝置圖3示出了用于對(duì)光存儲(chǔ)介質(zhì)301進(jìn)行和/或從光存儲(chǔ)介質(zhì)301進(jìn)行讀取的裝置 300。寫入電路310被配置用來(lái)從式樣源302獲取式樣數(shù)據(jù)并且將式樣數(shù)據(jù)寫入光存儲(chǔ)介 質(zhì)301中。讀取電路340被配置用來(lái)讀取光存儲(chǔ)介質(zhì)301中包括式樣數(shù)據(jù)的區(qū)域，并產(chǎn)生 讀回信號(hào)。式樣分析器320被配置用來(lái)接收來(lái)自式樣源302’的式樣數(shù)據(jù)并且響應(yīng)于式樣 數(shù)據(jù)而產(chǎn)生一個(gè)或多個(gè)測(cè)量指令信號(hào)。來(lái)自式樣源302，的式樣數(shù)據(jù)通常是來(lái)自式樣源302的式樣數(shù)據(jù)的副本，其與讀取 電路340讀取的數(shù)據(jù)同步(例如，以使得式樣分析器320在實(shí)際從光存儲(chǔ)介質(zhì)301讀取式 樣之前有時(shí)間分析式樣數(shù)據(jù)的副本)。例如，式樣源302和/或302’可以包括存儲(chǔ)器(例 如，還提供將要寫入光存儲(chǔ)介質(zhì)的式樣數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器)、處理、電路、或用于根據(jù)算法產(chǎn)生式 樣數(shù)據(jù)的裝置、緩沖器(例如，存儲(chǔ)被寫入光存儲(chǔ)介質(zhì)101的式樣數(shù)據(jù)的緩沖器)等等。式 樣源302和/或302’可以包括相同設(shè)備和/或設(shè)備的相同區(qū)域，或者可以包括不同的設(shè)備 和/或設(shè)備的不同區(qū)域(例如，不同的存儲(chǔ)器地址)。測(cè)量電路321被配置用來(lái)響應(yīng)于測(cè)量指令信號(hào)而測(cè)量讀回信號(hào)的一個(gè)或多個(gè)特 性以產(chǎn)生一個(gè)或多個(gè)測(cè)量結(jié)果。測(cè)量分析器330被配置用來(lái)響應(yīng)于測(cè)量結(jié)果而確定對(duì)一個(gè) 或多個(gè)讀取特性(例如，讀取電路340的特性)的調(diào)整。在各種實(shí)施例中，光存儲(chǔ)介質(zhì)301例如可以包括光盤，如一次寫入型光盤(例如， CD-R、DVD-R 或 DVD+R、BD-R 等等)或可重寫型光盤(例如，DVD-RW、DVD+RW 或 DVD-RAM、 BD-RE 等等)。
裝置300通常提供了在從光存儲(chǔ)介質(zhì)301讀回式樣期間，利用已知寫入式樣302 的同步副本當(dāng)作基準(zhǔn)。式樣分析器320能夠預(yù)先確定取樣表示特定標(biāo)記/間隔組合，并且 取樣可以用來(lái)導(dǎo)引在讀取電路340中的時(shí)序恢復(fù)回路或耦合至讀取電路340的時(shí)序恢復(fù)回 路。當(dāng)選取穩(wěn)定邊緣來(lái)作為該導(dǎo)引邊緣時(shí)，則能夠獲得非常穩(wěn)定的基準(zhǔn)，其被用來(lái)鎖定時(shí)序 回路?？梢允褂脧氖綐訑?shù)據(jù)得出的其它邊緣位置來(lái)確定用于測(cè)量(例如，用于寫入校準(zhǔn)) 的期望邊緣在何處。還可以使用該式樣數(shù)據(jù)來(lái)定義信號(hào)位置，這些信號(hào)位置可用于確定用 于增益和偏移校正的信號(hào)包絡(luò)，這進(jìn)一步穩(wěn)定了測(cè)量。測(cè)量電路321可以被配置用來(lái)在導(dǎo)引邊緣信號(hào)220的每個(gè)邊緣處測(cè)量讀回信號(hào)的 時(shí)序偏移(例如，在圖2中的邊緣221、222、223和224處，與式樣數(shù)據(jù)中的相對(duì)穩(wěn)定轉(zhuǎn)變同 步地測(cè)量來(lái)自讀取電路340的讀回信號(hào)，以調(diào)整讀回時(shí)序回路)。測(cè)量電路321還可以被配 置用來(lái)測(cè)量讀回信號(hào)中非導(dǎo)引邊緣處的時(shí)序偏移(例如，用于校準(zhǔn)寫入特性)。測(cè)量讀回 信號(hào)中的時(shí)序偏移例如可以包括在與導(dǎo)引邊緣測(cè)量指令相對(duì)應(yīng)的時(shí)刻測(cè)量讀回信號(hào)的幅 度，并且根據(jù)所測(cè)得的幅度計(jì)算時(shí)序偏移。測(cè)量分析器330可以被配置用來(lái)根據(jù)導(dǎo)引邊緣指令來(lái)存儲(chǔ)(例如，在寄存器、存儲(chǔ) 器等中)多個(gè)導(dǎo)引邊緣和非導(dǎo)引邊緣時(shí)間偏移測(cè)量值，并且計(jì)算如這里所述的非導(dǎo)引邊緣 的經(jīng)校正偏移。在一些實(shí)施例中，測(cè)量分析器330可以被配置用來(lái)分析一個(gè)或多個(gè)經(jīng)校正 時(shí)序偏移以確定最佳寫入特性來(lái)校準(zhǔn)寫入處理，如這里針對(duì)圖3更詳細(xì)說(shuō)明的以及在2006 年12月26日提出申請(qǐng)的美國(guó)專利申請(qǐng)No. 11/646，098 (代理機(jī)構(gòu)案卷號(hào)MP0960)中所述 的。因此，測(cè)量分析器330可以被配置用來(lái)存儲(chǔ)寫入校準(zhǔn)數(shù)據(jù)303 (例如，最佳特性和/或 稍后將用來(lái)確定最佳特性的數(shù)據(jù))。圖4示出了用于從校準(zhǔn)比特流中提取式樣數(shù)據(jù)和/或?qū)懭胫噶畹氖纠匝b置400。 因此，如本文中所述的式樣源102、302和/或302，可以包括裝置400。存儲(chǔ)器410 —般被 配置用來(lái)存儲(chǔ)對(duì)應(yīng)于校準(zhǔn)比特流的數(shù)據(jù)。存儲(chǔ)器410可以包括隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM)、諸如 閃存之類的非易失性存儲(chǔ)器、只讀存儲(chǔ)器(ROM)和/或其它適合的電子數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置。存 儲(chǔ)器410通常將校準(zhǔn)比特流提供給OPC譯碼器420 (例如，經(jīng)由并行數(shù)據(jù)總線和/或串行通 信信道)OOPC譯碼器420 —般被配置用來(lái)從校準(zhǔn)比特流提取校準(zhǔn)式樣數(shù)據(jù)以及校準(zhǔn)指令。 校準(zhǔn)指令可以基本上與校準(zhǔn)式樣數(shù)據(jù)同步。因此，OPC譯碼器420可以提供與利用式樣數(shù) 據(jù)進(jìn)行了編碼的指令相對(duì)應(yīng)的多個(gè)輸出信號(hào)Stl到S4，以及與式樣數(shù)據(jù)相對(duì)應(yīng)的信號(hào)P。OPC 譯碼器420可以利用專用電路(例如，在專用集成電路中，或者在接收和/或處理來(lái)自存儲(chǔ) 器410或來(lái)自包含存儲(chǔ)器410的更大存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)的更大集成電路內(nèi)的功能電路塊中)來(lái) 實(shí)現(xiàn)，但也可以以用于微控制器或微處理器的軟件來(lái)實(shí)現(xiàn)。OPC控制器430可以接收信號(hào)Stl 到S4以及式樣數(shù)據(jù)P，并且控制寫入模塊440與讀取模塊450以利用指令和式樣數(shù)據(jù)確定 最佳寫入特性。示例性系統(tǒng)現(xiàn)在參閱圖5，本發(fā)明可以實(shí)施在光存儲(chǔ)(例如，⑶、DVD、BD等等)系統(tǒng)510中實(shí) 現(xiàn)。系統(tǒng)510中的信號(hào)處理和/或控制電路512和/或其它電路可以包括OPC電路并且/ 或者可以實(shí)現(xiàn)本文中所呈現(xiàn)的OPC操作，并且還可以處理數(shù)據(jù)、執(zhí)行編碼和/或加密、執(zhí)行 計(jì)算、和/或?qū)墓獯鎯?chǔ)介質(zhì)516讀取和/或?qū)懭牍獯鎯?chǔ)介質(zhì)516的數(shù)據(jù)進(jìn)行格式化。在一些實(shí)施方式中，系統(tǒng)510中的信號(hào)處理和/或控制電路512和/或其它電路(未顯示) 也可以執(zhí)行其它功能，例如編碼和/或譯碼和/或任何其它與光存儲(chǔ)系統(tǒng)有關(guān)的信號(hào)處理 功能。系統(tǒng)510可以經(jīng)由一個(gè)或多個(gè)有線或無(wú)線通信鏈路517來(lái)與諸如計(jì)算機(jī)、電視機(jī) 或其它設(shè)備之類的輸出設(shè)備(未示出)通信。系統(tǒng)510可以連接到存儲(chǔ)器519，存儲(chǔ)器519 例如是RAM、ROM、諸如閃存之類的非易失性存儲(chǔ)器和/或其它適合的電子數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置。總結(jié)/概括因此，本發(fā)明提供了用于校準(zhǔn)對(duì)光存儲(chǔ)介質(zhì)進(jìn)行寫入的時(shí)序偏移的方法、軟件以 及裝置。本發(fā)明有利地提供了如下能力精確地測(cè)量由光存儲(chǔ)介質(zhì)中的變化和/或所使用 的寫入特性所導(dǎo)致的時(shí)序偏移，并且針對(duì)由時(shí)序回路中的漂移或可能與介質(zhì)中的變化和/ 或?qū)懭胩匦詿o(wú)關(guān)的其它因素引起的時(shí)序偏移來(lái)校正測(cè)量到的偏移。例如，對(duì)于功率校準(zhǔn)而 言，確定讀回?cái)?shù)據(jù)的邊緣的標(biāo)準(zhǔn)偏差可能是有用的指導(dǎo)。通過(guò)使邊緣類型本身的變化與邊 緣到邊緣變化的影響相分離，可以確定給出可接受抖動(dòng)的最小功率。對(duì)于可讀取和寫入的 介質(zhì)，讀取/寫入操作中的低功率可能是相當(dāng)有利的，因?yàn)橄鄬?duì)高的功率可能會(huì)限制可能 的改寫次數(shù)。結(jié)果，靈敏和/或穩(wěn)健地測(cè)量實(shí)際抖動(dòng)(如使用一定的邊緣到邊緣數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)變 測(cè)量所確定的)對(duì)于相變介質(zhì)(例如，光數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì))上的功率校準(zhǔn)是有利的。本發(fā)明還提供了 在讀取可能在各種條件下被寫入的數(shù)據(jù)(例如，使用若干種不 同的寫入功率水平、時(shí)序偏移等寫入光存儲(chǔ)介質(zhì)的校準(zhǔn)式樣數(shù)據(jù))期間有效地校正讀回信 號(hào)(例如，減少抖動(dòng))。因此，本發(fā)明提供了對(duì)讀回信號(hào)中的變化的非常穩(wěn)定的測(cè)量。對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施例的前述描述是為了說(shuō)明和描述的目的而給出的。這些描述 不意圖是詳盡的或者將本發(fā)明限制為所公開的精確形式，而且顯然可以根據(jù)上述教導(dǎo)進(jìn)行 許多修改和變更。選擇和描述實(shí)施例是為了最好地說(shuō)明本發(fā)明的原理及其實(shí)踐應(yīng)用，由此 使得本領(lǐng)域的其他技術(shù)人員能夠最好地利用本發(fā)明以及各種實(shí)施例，這些實(shí)施例具有適合 于所考慮的特定用途的各種修改。希望由在此所附的權(quán)利要求及其等同物來(lái)限定本發(fā)明的 范圍。
1權(quán)利要求
一種校正對(duì)光存儲(chǔ)介質(zhì)的讀取操作和/或?qū)懭氩僮鞯姆椒?，該方法包括讀取光存儲(chǔ)介質(zhì)的區(qū)域以產(chǎn)生讀回信號(hào)，其中所述讀回信號(hào)包括多個(gè)邊緣，所述多個(gè)邊緣包括一個(gè)或多個(gè)非導(dǎo)引邊緣；測(cè)量非導(dǎo)引邊緣中的至少第一非導(dǎo)引邊緣以及所述多個(gè)邊緣中的至少第二邊緣的時(shí)序偏移；以及基于所述非導(dǎo)引邊緣中的至少第一非導(dǎo)引邊緣或者所述多個(gè)邊緣中的至少第二邊緣的所測(cè)得偏移相對(duì)于預(yù)定偏移來(lái)存儲(chǔ)用于所述多個(gè)邊緣中的至少一個(gè)邊緣的偏移校正。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述多個(gè)邊緣中的第二邊緣包括一個(gè)或多個(gè)第二非 導(dǎo)引邊緣，并且所述偏移校正是基于所述非導(dǎo)引邊緣中的至少第一非導(dǎo)引邊緣和所述一個(gè) 或多個(gè)第二非導(dǎo)引邊緣中的至少一個(gè)第二非導(dǎo)引邊緣的所測(cè)得偏移的。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述多個(gè)邊緣中的第二邊緣包括一個(gè)或多個(gè)導(dǎo)引邊 緣，并且所述偏移校正是基于所述非導(dǎo)引邊緣中的至少第一非導(dǎo)引邊緣以及所述一個(gè)或多 個(gè)導(dǎo)引邊緣中的至少一個(gè)導(dǎo)引邊緣的所測(cè)得偏移的。
4.如權(quán)利要求3所述的方法，還包括通過(guò)基于離所述一個(gè)或多個(gè)導(dǎo)引邊緣的比特距 離線性提取所述至少一個(gè)非導(dǎo)引邊緣的偏移校正值來(lái)計(jì)算經(jīng)校正偏移。
5.如權(quán)利要求3所述的方法，其中計(jì)算經(jīng)校正偏移包括基于在前導(dǎo)引邊緣和在后導(dǎo) 引邊緣的所測(cè)得時(shí)序偏移來(lái)計(jì)算所述至少一個(gè)非導(dǎo)引邊緣的偏移值。
6.如權(quán)利要求5所述的方法，其中計(jì)算經(jīng)校正偏移包括基于離所述在前導(dǎo)引邊緣的 比特距離和離所述在后導(dǎo)引邊緣的比特距離來(lái)線性地提取所述偏移校正值。
7.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述區(qū)域包括預(yù)定式樣數(shù)據(jù)。
8.如權(quán)利要求7所述的方法，還包括處理所述預(yù)定式樣數(shù)據(jù)以產(chǎn)生一個(gè)或多個(gè)測(cè)量指令；以及響應(yīng)于所述測(cè)量指令來(lái)測(cè)量時(shí)序偏移。
9.如權(quán)利要求8所述的方法，其中所述多個(gè)邊緣中的第二邊緣還包括一導(dǎo)引邊緣，并 且處理所述預(yù)定式樣數(shù)據(jù)包括在所述預(yù)定式樣數(shù)據(jù)中找出與該導(dǎo)引邊緣相對(duì)應(yīng)的標(biāo)記/ 間隔組合，并且響應(yīng)于此而產(chǎn)生導(dǎo)引邊緣測(cè)量指令。
10.如權(quán)利要求7所述的方法，還包括根據(jù)校準(zhǔn)指令，在讀取光盤的所述區(qū)域之前將所述式樣數(shù)據(jù)寫入到該光盤的所述區(qū)域；接收包括所述校準(zhǔn)指令和所述式樣數(shù)據(jù)的比特流，其中所述比特流包括疊加在所述式 樣數(shù)據(jù)上的所述校準(zhǔn)指令；以及根據(jù)所述校準(zhǔn)指令來(lái)測(cè)量時(shí)序偏移。
11.如權(quán)利要求10所述的方法，還包括將所述非導(dǎo)引邊緣中的一個(gè)或多個(gè)非導(dǎo)引邊 緣的經(jīng)校正偏移與所述校準(zhǔn)指令中的一個(gè)或多個(gè)校準(zhǔn)指令相關(guān)聯(lián)。
12.如權(quán)利要求10所述的方法，還包括將所述非導(dǎo)引邊緣中的一個(gè)或多個(gè)非導(dǎo)引邊 緣的經(jīng)校正偏移與所述預(yù)定式樣數(shù)據(jù)中的一個(gè)或多個(gè)運(yùn)行長(zhǎng)度相關(guān)聯(lián)。
13.如權(quán)利要求3所述的方法，還包括測(cè)量多個(gè)導(dǎo)引邊緣和多個(gè)非導(dǎo)引邊緣的時(shí)序偏移；以及基于所述多個(gè)導(dǎo)引邊緣的所測(cè)得偏移來(lái)計(jì)算用于所述多個(gè)非導(dǎo)引邊緣中的各個(gè)非導(dǎo)引邊緣的偏移校正。
14.如權(quán)利要求13所述的方法，還包括基于所述偏移校正來(lái)計(jì)算用于向所述光存儲(chǔ) 介質(zhì)寫入數(shù)據(jù)的至少一個(gè)時(shí)序偏移。
15.如權(quán)利要求13所述的方法，還包括確定各個(gè)非導(dǎo)引邊緣的轉(zhuǎn)變類型；以及將各個(gè)非導(dǎo)引邊緣的偏移校正與所述轉(zhuǎn)變類型相關(guān)聯(lián)。
16.如權(quán)利要求15所述的方法，其中所述轉(zhuǎn)變類型對(duì)應(yīng)于轉(zhuǎn)變之前所述光存儲(chǔ)介質(zhì)中 的第一標(biāo)記和/或間隔的運(yùn)轉(zhuǎn)長(zhǎng)度以及該轉(zhuǎn)變之后所述光存儲(chǔ)介質(zhì)中的第二標(biāo)記和/或間 隔的運(yùn)行長(zhǎng)度。
17.如權(quán)利要求15所述的方法，還包括基于所述經(jīng)校正偏移來(lái)計(jì)算與所述轉(zhuǎn)變類型 之一相對(duì)應(yīng)的用于寫入數(shù)據(jù)的至少一個(gè)時(shí)序偏移。
18.如權(quán)利要求13所述的方法，還包括在所述多個(gè)導(dǎo)引邊緣之間外推所述時(shí)序偏移， 并且從所述非導(dǎo)引邊緣的所測(cè)得時(shí)序偏移中減去外推出的時(shí)序偏移，以計(jì)算與特定邊緣的 布置中的誤差無(wú)關(guān)的邊緣抖動(dòng)。
19.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括根據(jù)所述時(shí)序偏移中的至少一個(gè)來(lái)調(diào)整鎖相回 路(PLL)的輸出。
20.一種用于對(duì)光存儲(chǔ)介質(zhì)進(jìn)行讀取和/或?qū)懭氲难b置，該裝置包括讀取模塊，該讀取模置被配置用來(lái)讀取所述光存儲(chǔ)介質(zhì)的區(qū)域以產(chǎn)生讀回信號(hào)，其中 所述讀回信號(hào)包括多個(gè)邊緣，所述多個(gè)邊緣包括一個(gè)或多個(gè)非導(dǎo)引邊緣；測(cè)量模塊，該測(cè)量模塊被配置用來(lái)測(cè)量所述一個(gè)或多個(gè)非導(dǎo)引邊緣中的至少第一非導(dǎo) 引邊緣的時(shí)序偏移以及所述多個(gè)邊緣中的至少第二邊緣的時(shí)序偏移；以及邏輯，該邏輯被配置用來(lái)基于至少所述一個(gè)或多個(gè)非導(dǎo)引邊緣中的第一非導(dǎo)引邊緣或 者所述多個(gè)邊緣中的第二邊緣的所測(cè)得偏移來(lái)計(jì)算所述多個(gè)邊緣中的至少一個(gè)邊緣的經(jīng) 校正偏移。
21.如權(quán)利要求20所述的裝置，其中所述多個(gè)邊緣中的第二邊緣包括一個(gè)或多個(gè)導(dǎo)引 邊緣，并且所述邏輯還被配置用來(lái)基于離所述一個(gè)或多個(gè)導(dǎo)引邊緣中的至少一個(gè)導(dǎo)引邊緣 的比特距離來(lái)線性地提取所述第一非導(dǎo)引邊緣的偏移校正值。
22.如權(quán)利要求20所述的裝置，其中所述多個(gè)邊緣中的第二邊緣包括多個(gè)導(dǎo)引邊緣， 并且所述邏輯還被配置用來(lái)基于在前導(dǎo)引邊緣和在后導(dǎo)引邊緣的所測(cè)得時(shí)序偏移來(lái)計(jì)算 所述第一非導(dǎo)引邊緣的偏移值。
23.如權(quán)利要求22所述的裝置，其中，所述邏輯還被配置用來(lái)基于離所述在前導(dǎo)引邊 緣的比特距離以及離所述在后導(dǎo)引邊緣的比特距離來(lái)線性地提取經(jīng)校正偏移。
24.如權(quán)利要求20所述的裝置，其中所述區(qū)域包括預(yù)定式樣數(shù)據(jù)。
25.如權(quán)利要求24所述的裝置，還包括式樣處理模塊，被配置用來(lái)處理所述預(yù)定式樣 數(shù)據(jù)以產(chǎn)生一個(gè)或多個(gè)測(cè)量指令，其中所述光存儲(chǔ)介質(zhì)的所述區(qū)域包括所述預(yù)定式樣數(shù) 據(jù)，并且所述測(cè)量模塊還被配置用來(lái)響應(yīng)于所述測(cè)量指令而測(cè)量時(shí)序偏移。
26.如權(quán)利要求25所述的裝置，其中所述式樣處理模塊還被配置用來(lái)在所述預(yù)定式樣數(shù)據(jù)中找出與導(dǎo)引邊緣相對(duì)應(yīng)的標(biāo)記/間隔組合；以及響應(yīng)于此而產(chǎn)生導(dǎo)引邊緣測(cè)量指令。
27.如權(quán)利要求24所述的裝置，還包括寫入模塊，被配置用來(lái)根據(jù)校準(zhǔn)指令將所述預(yù) 定式樣數(shù)據(jù)寫入所述光存儲(chǔ)介質(zhì)。
28.如權(quán)利要求27所述的裝置，其中所述邏輯還被配置用來(lái)將所述非導(dǎo)引邊緣中的一 個(gè)或多個(gè)非導(dǎo)引邊緣的經(jīng)校正偏移與所述校準(zhǔn)指令中的一個(gè)或多個(gè)校準(zhǔn)指令相關(guān)聯(lián)。
29.如權(quán)利要求27所述的裝置，其中所述控制器還被配置用來(lái)將所述非導(dǎo)引邊緣中的 一個(gè)或多個(gè)非導(dǎo)引邊緣的經(jīng)校正偏移與所述預(yù)定式樣數(shù)據(jù)中的一個(gè)或多個(gè)運(yùn)行長(zhǎng)度相關(guān) 聯(lián)。
30.如權(quán)利要求20所述的裝置，其中所述讀取模塊還包括鎖相回路(PLL)；并且所述邏輯還被配置用來(lái)根據(jù)一個(gè)或多個(gè)導(dǎo)引邊緣的時(shí)序偏移來(lái)向所述PLL提供PLL調(diào)整信號(hào)。
31.如權(quán)利要求20所述的裝置，其中所述測(cè)量模塊還被配置用來(lái)測(cè)量多個(gè)導(dǎo)引邊緣和多個(gè)非導(dǎo)引邊緣的時(shí)序偏移；并且 所述邏輯被配置用來(lái)基于所述多個(gè)導(dǎo)引邊緣中的一個(gè)或多個(gè)導(dǎo)引邊緣的所測(cè)得偏移 來(lái)計(jì)算所述多個(gè)非導(dǎo)引邊緣中的各個(gè)非導(dǎo)引邊緣的經(jīng)校正偏移。
32.如權(quán)利要求31所述的裝置，其中所述邏輯還被配置用來(lái)基于所述經(jīng)校正偏移來(lái)計(jì) 算用于將數(shù)據(jù)寫入所述光存儲(chǔ)介質(zhì)的至少一個(gè)寫入特性。
33.如權(quán)利要求31所述的裝置，其中所述邏輯還被配置用來(lái) 確定各個(gè)非導(dǎo)引邊緣的轉(zhuǎn)變類型；并且將各個(gè)非導(dǎo)引邊緣的經(jīng)校正偏移與所述轉(zhuǎn)變類型相關(guān)聯(lián)。
全文摘要
本公開涉及用于校正光存儲(chǔ)介質(zhì)中的讀取和/或?qū)懭氩僮鞯姆椒?、軟件和裝置。方法一般包括讀取光存儲(chǔ)介質(zhì)的區(qū)域以產(chǎn)生讀回信號(hào)；測(cè)量多個(gè)數(shù)據(jù)邊緣(包括一個(gè)或多個(gè)非導(dǎo)引邊緣)的時(shí)序偏移；以及基于多個(gè)邊緣中的至少一個(gè)邊緣的所測(cè)得偏移相對(duì)于預(yù)定偏移來(lái)存儲(chǔ)用于多個(gè)邊緣中的至少一個(gè)邊緣的偏移校正。本公開有利地能夠精確地測(cè)量光存儲(chǔ)介質(zhì)中的時(shí)序偏移，并且對(duì)于因邊緣抖動(dòng)、時(shí)序回路漂移或與介質(zhì)中的變化和/或?qū)懭氩僮魈匦詿o(wú)關(guān)的因素引起的時(shí)序偏移，能夠校正測(cè)量出的偏移。
文檔編號(hào)G11B20/20GK101911196SQ200980102182
公開日2010年12月8日 申請(qǐng)日期2009年1月13日 優(yōu)先權(quán)日2008年1月14日
發(fā)明者威廉·R·小弗蘭德 申請(qǐng)人:馬維爾國(guó)際貿(mào)易有限公司