專利名稱：檢測工作存儲器的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于檢測工作存儲器，特別是變頻器的控制電路和調(diào)節(jié)電路的工 作存儲器的方法，該工作存儲器具有存儲單元矩陣、用于對該存儲單元矩陣進行尋址的裝 置以及開關(guān)/讀開關(guān)電路。
背景技術(shù)：
這種工作存儲器屬于現(xiàn)有技術(shù)并且?guī)缀踉诿總€數(shù)字電路中都可以見到。在此，工 作存儲器為半導(dǎo)體存儲器，例如Ram芯片，其除了實際的存儲單元的矩陣還具有用于借助 地址總線對單元進行尋址的地址編碼器以及通過數(shù)據(jù)總線寫入及讀取數(shù)據(jù)的開關(guān)電路/ 讀取電路。對于尋址和單元矩陣本身來說，最小的變化、特別是芯片中的污染、溫度變化等 都會導(dǎo)致錯誤。因此，在接通或啟動(Hochfahren)每個設(shè)有這種工作存儲器的設(shè)備時大多 數(shù)情況下在開始階段借助自測試來完全檢測工作存儲器屬于現(xiàn)有技術(shù)，更確切地說，對地 址編碼器和地址總線的功能完美(einwandfrei)以及單獨的存儲單元的功能完美進行完 全檢測。此種檢測在現(xiàn)有技術(shù)中典型地在一次運行的測試中進行，在此測試中兩種功能結(jié) 合從而一同被檢測。這種測試方法是完全公知的，例如為March-X測試。然而，這種公知的測試方法的缺陷在于，其需要較多的時間并且由于其結(jié)構(gòu)而使 得在測試期間所有待檢測的工作存儲器不可用。然而，存在許多應(yīng)用，在這些應(yīng)用中，為了充分地確保與存儲器一同工作的設(shè)備的 運行安全，這種在接通后開始的存儲器測試還不夠。這例如是在不關(guān)斷服務(wù)器的情況下，以 及在用于長時間不間斷運行的電機等的數(shù)字開關(guān)的情況下。由專利文獻(xiàn)US 5，461，588可 知在現(xiàn)有技術(shù)還包括設(shè)置額外的輔助存儲器，在該輔助存儲器中可以存儲恰好要進行檢測 的那部分工作存儲器中的數(shù)據(jù)。然而，在此描述的方法對于在存儲器運行期間的存儲器測 試僅受限地適用，因為數(shù)據(jù)雖然在測試期間中間存儲在輔助存儲器中并隨后再被寫入工作 存儲器中，但是在數(shù)據(jù)發(fā)生變化的情況下會出現(xiàn)問題。此外，其還需要該附加的、否則就無 法工作的工作存儲器以及相應(yīng)的控制器功能，以進行中間存儲和回存。

發(fā)明內(nèi)容
基于這些現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明要解決的技術(shù)問題在于，提供一種用于檢測工作存儲 器的方法，該方法對控制器僅盡可能短地造成負(fù)擔(dān)并且對計算性能盡可能小地造成負(fù)擔(dān)， 從而使該方法在運行的操作中也能執(zhí)行。此外，還提供一種尤其用于檢測變頻器的控制電 路和調(diào)節(jié)電路的工作存儲器的方法，該方法使得能夠在運行期間檢測工作存儲器，從而能 夠?qū)⒐ぷ鞔鎯ζ髋c安全相關(guān)的功能綁定。根據(jù)本發(fā)明，上述目的通過權(quán)利要求1所述的特征實現(xiàn)。從屬權(quán)利要求、以下的說 明以及附圖給出了所述方法的有利的設(shè)計方案。根據(jù)本發(fā)明的用于檢測工作存儲器、特別是變頻器的控制電路和調(diào)節(jié)電路的工作 存儲器的方法，該工作存儲器具有存儲單元的矩陣、用于對該存儲單元矩陣進行尋址的裝置以及電路/讀電路，在一個步驟中檢測用于尋址的裝置的至少一部分的地址錯誤，在另 一個步驟中檢測存至少一部分儲單元的單元錯誤，在此，這些檢測步驟在時間上彼此無關(guān) 地執(zhí)行。在本發(fā)明的意義下對存儲單元矩陣進行尋址的裝置應(yīng)該理解為，在控制器與存儲 單元矩陣之間所需的、以執(zhí)行必要的尋址的裝置。為此，該裝置典型為地址總線，該地址總 線的導(dǎo)線例如可以通過晶體管控制并由此設(shè)置成1或0，以及例如地址編碼器等。在此范圍 內(nèi)可能出現(xiàn)的錯誤應(yīng)該通過一個步驟來檢測，而以另一步驟來檢測存儲單元自身。因此，本發(fā)明的主旨在于，以在時間上彼此無關(guān)的單獨的步驟來進行存儲器測試， 從而例如當(dāng)工作存儲器的一部分恰好不需要或由于其他原因而可用于進行檢測時，也可以 在運行的操作中執(zhí)行這些步驟。在此，根據(jù)本發(fā)明的方法原則上設(shè)置了兩個在時間上以及 順序上都彼此無關(guān)的檢測步驟。在此，檢測的劃分設(shè)置成一種檢測針對用于尋址的裝置、 例如地址總線和地址編碼器的地址錯誤，以及一種檢測針對存儲單元的單元錯誤的。根據(jù) 技術(shù)應(yīng)用及需求，兩種檢測可以分段帶有中斷地執(zhí)行，或完全相繼地執(zhí)行，也可以分段相繼 地進行?？审@奇地發(fā)現(xiàn)，當(dāng)在綜合的測試中檢測地址總線/地址編碼器的錯誤時，與根據(jù) 現(xiàn)有技術(shù)的檢測方法所需的檢測時間相比，不僅對于各個子檢測步驟，而且對于檢測步驟 的總和來說，根據(jù)本發(fā)明以前述子檢測步驟執(zhí)行工作存儲器檢測都能明顯減少所需的檢測 時間。有利的是，在檢測地址總線/地址編碼器的一部分的地址錯誤之后檢測存儲單元 的一部分的單元錯誤，此后檢測地址總線/地址編碼器的另一部分的地址錯誤以及隨后檢 測存儲單元的另一部分的單元錯誤，等等。在此，地址總線/地址編碼器和存儲單元的相繼 檢測的部分不必是一致的。可替換地，根據(jù)本發(fā)明還可以首先檢測地址總線/地址編碼器的地址錯誤，隨后 檢測存儲單元的單元錯誤，并且這些在時間上無關(guān)，其中對地址總線/地址編碼器的檢測 和存儲單元的檢測不是綜合的，而是分別在需要時以子步驟進行。有利的是，以預(yù)定的時間間隔重復(fù)按照本發(fā)明的用于檢測工作存儲器的方法，從 而也能夠?qū)τ诎踩匾牟考蚪M件使用這種近似不斷檢測的工作存儲器。通過根據(jù)本發(fā)明的方法有利地可能的是，當(dāng)在與存儲器一同工作的設(shè)備，特別是 變頻器的運行期間執(zhí)行對工作存儲器的檢測時，尤其相宜的是，設(shè)備的其他操作不需要執(zhí) 行本發(fā)明方法的控制器或需求程度減小并具有用于檢測方法的空閑能力，即借助控制檢測 方法的控制器，僅當(dāng)控制器方面有足夠的計算能力可供使用時才執(zhí)行所述方法，即不會因 此干擾設(shè)備的正常運行。所述方法的這種與控制器負(fù)荷相關(guān)的控制有利地在控制器中實 現(xiàn)。根據(jù)本發(fā)明的方法可以在每個方法步驟或子步驟中臨時中斷并隨后繼續(xù)，這同樣有利 地通過控制器自身進行控制。根據(jù)本發(fā)明，在檢測方法的檢測地址總線/地址編碼器的地址錯誤的步驟中，確 定所謂的固定錯誤(stuck-at-faults)和/或所謂的耦合錯誤(coupling-faults)。在第 一步驟中，檢測可尋址性是否如其通常借助地址總線所實現(xiàn)的借助地址編碼器轉(zhuǎn)換的，使 得能夠響應(yīng)被尋址的存儲單元或存儲區(qū)域、典型地是存儲器行，即能夠?qū)懭氩⒆x取。在確定 耦合地址錯誤時，檢測借助地址總線的傳輸及借助地址編碼器的轉(zhuǎn)換是否是唯一的。
有利地的是，根據(jù)本發(fā)明，為了確定固定地址錯誤，不需檢測每個可能的存儲器地 址。更確切地說，隨后將描述的、能夠?qū)Ζ俏坏刂房偩€的每個地址位進行的測試，足以執(zhí)行 對固定地址錯誤的完全檢測。也就是說，當(dāng)?shù)刂房偩€例如具有八個可以對于0具有“低”電 壓狀態(tài)或?qū)τ?具有“高”電壓狀態(tài)的地址導(dǎo)線時，其為可限定28個存儲器地址的8位地址 總線。 為了確定固定地址錯誤，將該八位地址總線中的一個地址位設(shè)為1，并且在該編址 后通過數(shù)據(jù)總線將位模式寫入通過尋址對應(yīng)的存儲器行中。隨后將八位地址總線的該同一 地址位設(shè)為0并再次將位模式(但是與之前所存儲的不同的位模式)寫入通過尋址對應(yīng)的 存儲器行中。在此，其余地址位保持不變。隨后，讀取兩個之前寫入的存儲器行并檢測與之 前寫入的位模式的一致性。如果確定了這種一致性，則在僅就變化的地址位不同的所有存 儲地址中不存在固定地址錯誤。為了對所有存儲地址的可能的固定地址錯誤進行完全檢測，根據(jù)本發(fā)明，對η位 地址總線的每位，即在前述示例中對八位中的每一位執(zhí)行前述測試。在此特別有利且簡單 的是，寫入每個存儲器行中的位模式包括所屬存儲器行的二進制地址或與該二進制地址相 同。在此種測試中也可以使用其他任意的位模式。重要的是，此位模式與待檢測的地址位 的位模式不同。應(yīng)該理解的是，前述用于確定固定地址錯誤的方法不必強制地在不中斷的測試循 環(huán)中進行，而是例如可以在第一步驟中檢測頭兩個地址位，在第二步驟中檢測第二和第三 地址位，在第三步驟中例如檢測第五地址位以及在后續(xù)步驟中檢測第六至第八地址位。與確定固定地址錯誤無關(guān)地，可以在檢測地址總線/地址編碼器時確定耦合地址 錯誤。為此，根據(jù)本發(fā)明的方法有利地設(shè)置為，分別相繼地將存儲器η位地址總線的每兩位 設(shè)為0、1以及設(shè)為0和1或1和0，在此優(yōu)選保持其余位的狀態(tài)不變，但這對于方法本身并 不是必要的，而僅是有利的。在分別如前述設(shè)定存儲地址之后，將位模式寫入通過相應(yīng)尋址 對應(yīng)的存儲器行中。在此，位模式必須彼此不同。然后，最后在寫入三個位模式之后再將它 們讀出并檢測與之前寫入的位模式的一致性。如果存在一致性，則地址總線/地址編碼器 是正常的，即至少在地址總線的經(jīng)檢測的位中不存在耦合地址錯誤。為了完全檢測地址總線/地址編碼器的耦合地址錯誤，需要將η位地址總線的每 一位根據(jù)前述模式用其余位中的每一位來設(shè)置，寫入不同的位模式并隨后檢測與讀取的位 模式的一致性。此外，此方法還具有優(yōu)點的是，寫入每行中的位模式包含所屬的二進制地址或者 與該二進制地址相同。在此方法中，是否是在一次中完全執(zhí)行還是在多次中分步驟地執(zhí)行 耦合地址錯誤的檢測并不重要。中斷該檢測方法沒有問題。與此無關(guān)地，根據(jù)本發(fā)明的方法還確定單元錯誤，即檢測存儲單元自身。由于如前 所述尋址是逐行進行的，所以對存儲單元自身的檢測同樣也逐行地進行。在此，根據(jù)本發(fā)明 的第一方法，對一個存儲器行的相鄰存儲單元交替地寫入0和1，隨后讀取該行并檢測與先 前寫入的行一致性。隨后以相反的方式對相同的存儲器行寫入，即對存儲器行的相鄰存儲 單元交替地寫入1和0。同樣讀取該行并以之前寫入的值進行檢測。如果在兩種情況下都 確定了一致性，則被檢測的存儲器行的單元正常。因此，對此存儲器行的每個單元都進行了 一次狀態(tài)1的測試和一次狀態(tài)0的測試，其中相鄰的單元分別具有相反的狀態(tài)。
可替換地，本發(fā)明還設(shè)置為，這樣執(zhí)行單元錯誤檢測，即將1先后寫入一個存儲器 行的每個單獨的存儲單元并將0寫入其余存儲單元，讀取存儲單元并進行檢測。因此，這種 方法逐行地測試每個單元，其中對每個行必須多倍于單元的數(shù)目地寫入、讀取和檢測。應(yīng)該理解的是，為了借助控制器執(zhí)行根據(jù)本發(fā)明的方法，在控制器中設(shè)有相應(yīng)的 用于尋址的裝置、寫入各個經(jīng)尋址的存儲器行的裝置、讀取各個經(jīng)尋址的存儲器行的裝置、 存儲或中間存儲一個或多個存儲器行的裝置以及用于比較位模式的裝置。在其中位值為0或1的前述實施方式中，還可以為相反的，即為1或0，而不用實質(zhì) 上改變該方法或方法步驟。有利地在控制器中實現(xiàn)根據(jù)本發(fā)明的方法，從而就是在運行期間也可以以預(yù)定的 時間間隔自動地執(zhí)行此方法。特別有利的應(yīng)用實例是驅(qū)動離心泵的電機的變頻器的控制 電路和調(diào)節(jié)電路，如其例如在加熱設(shè)備中用作循環(huán)泵，用在水供給設(shè)備中，用在廢水設(shè)備等 中。通過自動檢測控制電路和調(diào)節(jié)電路的工作存儲器可以滿足這種泵組增加的安全需求， 由此也用在對安全要求很高的領(lǐng)域中。以下參照具體的用于確定地址編碼器錯誤和存儲單元矩陣中的錯誤的方法步驟 示例性描述根據(jù)本發(fā)明的方法。


其中圖1為用于檢測地址總線/地址編碼器的固定地址錯誤的方法的示意圖，圖2為按照圖1的用于檢測地址總線/地址編碼器的耦合地址錯誤的方法的示意 圖，圖3為用于檢測存儲單元的第一種方法的兩個位模式，以及圖4為用于逐行檢測存儲單元的第二種方法的兩個位模式。
具體實施例方式圖1示出了作為任意數(shù)字計算單元(例如微處理器)的一部分的控制器1。由控 制器1進行控制的工作存儲器具有存儲單元3的矩陣2，該矩陣可以分別以行4被尋址并寫 入或讀取。為此，設(shè)有在附圖中未示出的寫電路/讀電路以及同樣未示出的地址編碼器。地址編碼器將由控制器1通過地址總線5設(shè)定的地址轉(zhuǎn)換為存儲單元矩陣2的相 應(yīng)的行4，即通過地址編碼器對由控制器1選擇的地址(即存儲單元矩陣2的行4)進行響 應(yīng)，而對于逐行地寫入數(shù)據(jù)或逐行地讀取數(shù)據(jù)通過同樣由控制器1作用的數(shù)據(jù)總線6來進 行。在示出的實施例中，地址總線5具有12位的數(shù)據(jù)寬度，即地址總線5具有十二條 數(shù)據(jù)導(dǎo)線，這些數(shù)據(jù)導(dǎo)線可以對于值1導(dǎo)引高電壓電勢以及對于值0導(dǎo)引低電壓電勢。因 此，該12位地址總線可以對212、即4096個不同的地址進行響應(yīng)。由存儲單元3構(gòu)成的矩 陣具有16位的數(shù)據(jù)寬度。其可逐行地尋址并且通過數(shù)據(jù)總線6對16位的相應(yīng)數(shù)據(jù)寬度進 行響應(yīng)。為了對用于尋址的裝置、特別是數(shù)據(jù)總線和數(shù)據(jù)編碼器的可能的地址錯誤(固定 錯誤)進行檢測，在圖1的實施例中借助控制器1示例性地對兩個地址進行響應(yīng)，這兩個地址的在編址上的不同之處僅在于通過地址總線5并行傳輸?shù)娜渴恢械木幪枮?的位 不同。因此，為了檢測此編號為8的位，首先選擇地址000000000000，并將位模式7通過數(shù) 據(jù)總線6寫入此由此確定的存儲單元矩陣2的行0中，該數(shù)據(jù)總線6在圖1的實施例中例如 在頭兩個位置是1 0。此后，尋址可以變化，但是僅在該編號為8的位上由0變化為1。由 此得到地址256。在相應(yīng)的行4中寫入了與前述位模式7不同的位模式8，在本實施例中其 頭兩個位置是0 1。隨后，事先為了寫入過程所選的地址通過地址總線5被輸入地址編碼器，并且相 應(yīng)的行0及256被從存儲單元矩陣2通過數(shù)據(jù)總線6讀出且在控制器1內(nèi)與事先在這里寫 入的位模式7和8進行比較。當(dāng)確定為一致之后，即完成了對于編號為8的位(Bit Nr. 8) 的測試。此時可以相似的方式對其余的地址位0至7及9-11重復(fù)該測試。當(dāng)這些測試結(jié) 束且沒有查到錯誤時，則地址總線和地址編碼器沒有固定地址錯誤地工作。隨后，檢測地址總線/地址編碼器是否還沒有耦合地址錯誤地工作。以下參照圖 2，更確切地說借助地址總線5的編號為8和9的位(Bit Nr. 8 and 9)來描述此方法。借 助控制器1對第一地址A1尋址，此第一地址A1具有值分別為0的地址總線的第八位和第 九位。如果例如在此處預(yù)設(shè)地址總線的其余位被設(shè)為0，則由此得到存儲單元矩陣2的行0 的編址。在此編址中，通過數(shù)據(jù)總線6寫入位模式Ml。隨后由控制器1選擇地址A3，在此 地址A3中地址總線的第八位和第九位設(shè)為1，其余位被設(shè)為0。由此得到該行的編址768， 在該編址中寫入位模式M3。隨后借助控制器1控制地址A2，在此地址中第八位設(shè)為1而第 九位設(shè)為0，地址總線的其余位同樣設(shè)為0，由此在存儲單元矩陣2中得到行的編址512，在 此編址中寫入位模式M2。代替地址A2，在此處還可以對地址A4進行編址，在此地址A4中 第八位設(shè)為0而第九位設(shè)為1。由此得到其中可以寫入位模式M2的地址行。在將必須彼此不同的位模式M1、M2和M3寫入存儲單元矩陣2之后，通過重新編址 A1、A2、A3及A4來選擇并讀取存儲單元矩陣2的相應(yīng)的行并通過數(shù)據(jù)總線6輸入控制器1， 在控制器1中將它們與初始寫入的位模式Ml、M2和M3比較。在寫入的位模式Ml至M3與 讀取的位模式Ml至M3—致時，就成功地完成了測試。此后繼續(xù)進行，其中對地址總線/地 址編碼器就耦合地址錯誤進行完全的測試，將十二個地址位的每一位均與其余地址位如前 所述地組合并隨后對其執(zhí)行前述測試。對于關(guān)于耦合地址錯誤的完全檢測，即對于地址位0和1、0和2、0和3至0和11 執(zhí)行前述測試，此后對于地址位1和2、1和3、1和4至1和11，隨后對于地址位2和3、2和 4、2和5至2和11等等直至對所有的地址位組合進行完全的檢測。由此在當(dāng)前實施例中得 到198個地址組合，其要以前述的三倍的寫入和讀取測試來進行檢測。顯而易見的是，此檢 測也可以以任意其他順序執(zhí)行。當(dāng)此測試也結(jié)束時，地址總線/地址編碼器被完全檢測。顯而易見的是，就固定地 址和耦合地址錯誤而言，對地址總線/地址編碼器的檢測根據(jù)前述方法可以被任意中斷并 繼續(xù)。相應(yīng)地，對于特別的由其執(zhí)行的、對存儲單元3本身進行檢測的單元測試也有效。對于與地址總線/地址編碼器檢測無關(guān)地設(shè)置的用于檢測存儲單元本身的方法 來說根據(jù)本發(fā)明例如設(shè)有兩種方法。參照圖3示出的方法這樣工作，即將存儲單元矩陣2的每個單獨的單元3相繼設(shè) 為1，在此將至少同一存儲單元行4的其余單元3設(shè)為0。由此測試?yán)缤ㄟ^對第一存儲單
8元行4(圖2中其為行0)的尋址來開始，隨后將此存儲單元行的第一位設(shè)為1，而所有其余 位保持為0。然后將此位模式9通過數(shù)據(jù)總線6寫入第一存儲單元行4并隨后讀取，在此檢 測除第一位之外是否所有的位都為0值。隨后以相似的方式將第二位設(shè)為1，其中所有其余 的位的值為0，從而得到位模式12，然后將該位模式12寫入此行4中并隨后再讀取并檢測。 繼續(xù)進行，直至一行的所有的位，即在參照圖1和圖2示出的存儲單元矩陣2中存儲單元行 4的所有16位都被檢測。然后逐行地繼續(xù)改測試，直至整個矩陣2被測試完。在此測試中 同樣顯而易見的是，該測試可以在任意時間被中斷并在中斷后可再次繼續(xù)。相宜的是，在對 行4的檢測結(jié)束之后執(zhí)行中斷。參照圖4描述了用于檢測存儲單元3的一種替代方法。在此處也逐行地執(zhí)行存儲 單元測試，但在此實際上在一個工作過程中檢測行4的全部單元3。在存儲器行4中首先寫 入位模式1 0 1 0等等直至存儲單元行4中行的結(jié)尾。在圖4上部示出了這種模式A。如 圖4所示，存儲器行4的存儲單元3以1開始，以0和1交替地設(shè)置。然后，如在圖4下部 所示，對相同的行寫以相反的位模式B，由此第一行3此處為值0而相鄰的單元3為值1，等
寸。 將具有位模式A和B的分別在存儲后讀取的行4中間存儲在控制器1中并逐位進 行比較。在此，借助讀取的位模式A和B首先一次性檢測，是否在每個單元3中都發(fā)生了從 0到1或從1到0的位變化，如其通過圖4中的比較10所示出的。該測試確定固定單元錯 誤。此外，借助讀取的第二位模式B檢測讀取的行4的相鄰的單元3的值是否交替地為值 0和1。該測試確定耦合單元錯誤。還對整個矩陣2逐行地執(zhí)行上述測試，以完整地檢測存儲單元矩陣2的單元錯誤。 這種測試也可以如可以容易地看到的，優(yōu)選在對行4的檢測結(jié)束后中斷并在給定的時間后 繼續(xù)隨后行的檢測。在此待檢測的行4的順序也不是強制預(yù)設(shè)的，而是可以如前所述地選 擇或以任意其他方式選擇。附圖標(biāo)記列表1-控制器2-存儲單元矩陣3-存儲單元4-存儲單元行5-地址總線6-數(shù)據(jù)總線7-位模式8-位模式9-位模式A-位模式B-位模式10-用于確定固定單元錯誤的比較
11-用于確定耦合單元錯誤的比較
12-位模式
權(quán)利要求
一種用于檢測工作存儲器的方法，該工作存儲器特別是變頻器控制電路和調(diào)節(jié)電路的工作存儲器，該工作存儲器至少具有存儲單元的矩陣、用于對所述存儲單元矩陣進行尋址的裝置以及寫電路/讀電路，在該方法中，在運行期間，在一個步驟中檢測所述用于尋址的裝置的至少一部分的地址錯誤，在另一步驟中檢測至少一部分存儲單元的單元錯誤，其中，這些檢測步驟在時間上彼此無關(guān)地執(zhí)行。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在檢測所述用于尋址的裝置的一部分的地 址錯誤之后，檢測一部分存儲單元的單元錯誤，此后檢測所述用于尋址的裝置的另一部分 的地址錯誤以及隨后檢測另一部分存儲單元的單元錯誤，并如此繼續(xù)進行檢測。
3.如前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其特征在于，首先檢測所述用于尋址的裝置 的地址錯誤，隨后檢測存儲單元的單元錯誤。
4.如前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其特征在于，該檢測工作存儲器的方法以預(yù) 定的時間間隔重復(fù)。
5.如前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其特征在于，在與存儲器一同工作的設(shè)備、特 別是變頻器的運行期間，僅當(dāng)該設(shè)備的其他操作不需要執(zhí)行該方法的控制器或需求程度減 小且具有用于該檢測方法的空閑能力時，才執(zhí)行該用于檢測工作存儲器的方法。
6.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，該方法可在時間上中斷并隨后繼續(xù)。
7.如前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其特征在于，在所述一個步驟中確定固定地 址錯誤和/或耦合地址錯誤。
8.如前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其特征在于，為了確定固定地址錯誤，將n位 地址總線的一個地址位在保持其余地址位的狀態(tài)的情況下從0設(shè)到1并隨后從1設(shè)到0，在 每次設(shè)置一個地址位之后，將不同的位模式分別寫入通過各個編址對應(yīng)的存儲器行中，并 且在寫入兩個存儲器行之后讀取位模式并檢測與之前寫入的位模式的一致性。
9.如權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，對所述n位地址總線的每一位執(zhí)行該方法。
10.如權(quán)利要求8或9所述的方法，其特征在于，寫入各存儲器行中的位模式包括所屬 存儲器行的二進制地址或與該二進制地址相同。
11.如前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其特征在于，為了確定耦合地址錯誤，優(yōu)選 在保持其余位的狀態(tài)的情況下，將所述存儲器的n位地址總線的每兩位設(shè)置成00、11以 及01或10，在每次設(shè)置之后，將不同的位模式寫入對應(yīng)于各次尋址的存儲器行中，并且在 將所述位模式寫入三個經(jīng)尋址的行之后再將它們讀出，并檢測與之前寫入的位模式的一致 性。
12.如權(quán)利要求11所述的方法，其特征在于，將n位地址總線的每一位設(shè)置成其余位中 的每個位并進行檢測。
13.如權(quán)利要求11或12所述的方法，其特征在于，寫入到各行中的位模式包含所屬的 二進制地址或者與該二進制地址相同。
14.如前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其特征在于，在所述另一步驟中確定單元錯 誤，其中，以0和1交替地寫入一個存儲器行的相鄰存儲單元、讀取這些存儲單元并檢測與 之前寫入的值的一致性，隨后相反地以1和0寫入、讀取并檢測。
15.如前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其特征在于，在所述另一步驟中確定單元錯 誤，其中，先后將1寫入一個存儲器行的每個單獨的存儲單元而將0寫入其余單元、讀取這些存儲單元并進行檢測。
16.如前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其特征在于，至少一個寫入所述存儲單元矩 陣和/或從該存儲單元矩陣讀取的位模式存儲在控制器中。
17.一種具有由變頻器控制的電機的泵組，具有控制電路和調(diào)節(jié)電路，該控制電路和調(diào) 節(jié)電路具有工作存儲器，對該工作存儲器以如前述權(quán)利要求中任一項所述的方法自動地進 行檢測。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于檢測工作存儲器的方法，該工作存儲器具有存儲單元(3)的矩陣(2)、地址總線/地址編碼器以及開關(guān)電路/讀電路，該方法由兩個方法部分組成，在一個步驟中檢測至少一部分地址總線/地址編碼器的地址錯誤，在另一步驟中檢測至少一部分存儲單元的單元錯誤。所述檢測步驟在時間上彼此無關(guān)，由此也可以在運行期間執(zhí)行該方法。
文檔編號G11C29/02GK101861626SQ200880116417
公開日2010年10月13日 申請日期2008年11月11日 優(yōu)先權(quán)日2007年11月15日
發(fā)明者尼爾斯·喬根·斯特羅姆, 弗萊明·赫德高, 約恩·謝爾萊魯珀·拉斯穆森, 約翰·伯姆霍爾特 申請人:格倫德福斯管理聯(lián)合股份公司