專利名稱：集成電路、光盤裝置以及跟蹤誤差信號生成方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及在光盤裝置中生成跟蹤誤差(tracking error)信號的技術(shù)。
背景技術(shù)：
以往，在利用模擬信號處理生成跟蹤誤差信號的跟蹤誤差檢測裝 置中，存在難以應(yīng)對光盤裝置的倍速化以及光記錄介質(zhì)的高密度化的 問題。
專利文獻1公開的跟蹤誤差檢測裝置中，為了解決上述問題，主 要利用數(shù)字信號處理來生成跟蹤誤差信號。詳細而言，專利文獻l的 跟蹤誤差檢查裝置，利用ADC (Analog to Digital Converter:模擬數(shù) 字轉(zhuǎn)換器)對表示四象限光電探測器(four-quadrant photodetector) 的兩個受光面的受光量的第一電壓信號和表示其余兩個受光面的受 光量的第二電壓信號進行AD轉(zhuǎn)換，得到以多位(bit)表示第一電壓 信號及第二電壓信號振幅值的第一數(shù)字信號及第二數(shù)字信號(參照專 利文獻1的圖2)。然后，對該第一數(shù)字信號及第二數(shù)字信號實施插 補處理，檢測出插補處理后的第 一數(shù)字信號及第二數(shù)字信號的零交 點，根據(jù)第一數(shù)字信號的零交點和第二數(shù)字信號的零交點來生成跟蹤 誤差信號。
專利文獻1:日本特開2001-67690號7>凈艮

發(fā)明內(nèi)容
但是，在專利文獻1的跟蹤誤差檢測裝置中，設(shè)置多個用于將模 擬信號轉(zhuǎn)換成多位的數(shù)字信號的ADC，因此，電路規(guī)模變大，結(jié)果， 成本增高。本發(fā)明鑒于上述問題點，目的在于減少跟蹤誤差檢測裝置的成本。
為了解決上述問題，本發(fā)明采用一種跟蹤誤差信號生成處理，在 包括象限光電探測器的光盤裝置中根據(jù)第一電壓信號和第二電壓信 號來生成跟蹤誤差信號，其中，上述象限光電探測器具有在將光照射 到光記錄介質(zhì)上時接受來自該光記錄介質(zhì)的反射光的第一受光面和
第二受光面；上述第一電壓信號表示上述第一受光面的受光量；上述 第二電壓信號表示上述第二受光面的受光量，該處理包括第一比較
處理，將上述第一電壓信號與預定的閾值進行比較，生成與比較結(jié)果 相應(yīng)的第一二值化信號；第二比較處理，將上述第二電壓信號與預定 的閾值進行比較，生成與比較結(jié)果相應(yīng)的第二二值化信號；第一數(shù)字 采樣處理，以預定的采樣頻率對在上述第一比較處理生成的第一二值 化信號進行采樣，從而生成第一采樣信號；第二數(shù)字采樣處理，以預 定的采樣頻率對在上述第二比較處理生成的第二二值化信號進行采 樣，從而生成第二采樣信號；相位差檢測處理，檢測在上述第一數(shù)字 采樣處理生成的第一采樣信號與在上述第二數(shù)字采樣處理生成的第 二采樣信號的相位差，生成表示檢測出相位差的相位差信號；以及高 頻成分遮斷處理，對在上述相位差檢測處理生成的相位差信號進行高 頻成分的遮斷，并作為上述跟蹤誤差信號而輸出。
由此，通過比較處理和數(shù)字采樣處理，將第一電壓信號和第二電 壓信號轉(zhuǎn)換為作為數(shù)字信號的第一采樣信號和第二采樣信號，能夠根 據(jù)這些第一采樣信號和第二采樣信號生成跟蹤誤差信號。因此，不需 要使用用于將模擬信號轉(zhuǎn)換為多位的數(shù)字信號的ADC,因此能夠減 小模擬電路的面積，其結(jié)果，能夠縮小整個電路的規(guī)模，能夠減少成 本。
根據(jù)本發(fā)明，不需要使用用于將模擬信號轉(zhuǎn)換為多位的數(shù)字信號 的ADC,因此能夠減小模擬電路的面積，其結(jié)果，能夠縮小跟蹤誤 差檢測裝置的電路規(guī)模，能夠減少成本。


圖1是表示實施方式1的跟蹤誤差檢測裝置的構(gòu)成的框圖。
圖2是表示實施方式2的跟蹤誤差檢測裝置的構(gòu)成的框圖。 圖3是表示實施方式3的跟蹤誤差檢測裝置的構(gòu)成的框圖。 圖4是表示實施方式4的跟蹤誤差檢測裝置的構(gòu)成的框圖。 圖5是表示實施方式4的跟蹤誤差檢測裝置的構(gòu)成的均衡器的群 延遲特性的曲線圖。
附圖標記說明
101四象限光電探測器(象限光電探測器)
101a 101d受光面
110集成電^各
112a第一比較器
112b第二比較器
113a第一數(shù)字采樣部
113b第二數(shù)字采樣部
114相位差4全測電路
115低通濾波器
116平均值電路
210集成電^各
211采樣頻率設(shè)定部
212低通濾波器控制部
310集成電路
311a第一延遲電路
311b第二延遲電路
312延遲量控制部
410集成電-各
411a第一均衡器
411b第二均衡器
具體實施例方式
以下，參照

本發(fā)明的實施方式。 《實施方式1》
實施方式1的光盤裝置具有圖1所示的跟蹤誤差檢測裝置100。 該跟蹤誤差檢測裝置100包括四象限光電探測器101、四個電流電壓 轉(zhuǎn)換器102a 102d及集成電路110。
四象限光電^:測器101具有作為A通道、B通道、C通道和D通 道的四個受光面101a 101d，輸出與各受光面101a 101d的受光量相 應(yīng)的光電流。在此，受光面101a和受光面101c相當于4又利要求書中 的第一受光面，受光面101b和受光面101d相當于權(quán)利要求書中的第 二受光面。
電流電壓轉(zhuǎn)換器102a將與受光面101a的受光量相應(yīng)的光電流轉(zhuǎn) 換為電壓信號而輸出。同樣，電流電壓轉(zhuǎn)換器102b將與受光面101b 的受光量相應(yīng)的光電流轉(zhuǎn)換為電壓信號而輸出，電流電壓轉(zhuǎn)換器102c 將與受光面101c的受光量相應(yīng)的光電流轉(zhuǎn)換為電壓信號而輸出，電 流電壓轉(zhuǎn)換器102d將與受光面101d的受光量相應(yīng)的光電流轉(zhuǎn)換為電
壓信號而車lr出。
集成電路110包括加法器llla、 lllb、第一比較器(CMP: comparator) 112a、第二比較器(CMP ) 112b、第一數(shù)字采樣部113a、 第二數(shù)字采樣部113b、相位差檢測電路114、低通濾波器(LPF: low-pass filter) 115及平均值電路116。
加法器llla將由電流電壓轉(zhuǎn)換器102a輸出的電壓信號與由電流 電壓轉(zhuǎn)換器102c輸出的電壓信號相加而輸出第一電壓信號。另一方 面，加法器lllb將由電流電壓轉(zhuǎn)換器102b輸出的電壓信號與由電流 電壓轉(zhuǎn)換器102d輸出的電壓信號相加而輸出第二電壓信號。第一電 壓信號和第二電壓信號成為相互相位變化的兩個信號序列。另外，第 一電壓信號和第二電壓信號分別與返回到位于光電探測器的對角的 一對受光面的光的量對應(yīng)。
8第一比較器112a將由加法器llla輸出的第一電壓信號與預定閾 值比較，生成并輸出與比較結(jié)果相應(yīng)的第一二值化信號。例如，在第 一電壓信號大于預定閾值時，將成為H(High,高)電平的信號作為 第一二值化信號輸出，在第一電壓信號為預定閾值以下時，將成為L
(Low，低)電平的信號作為第一二值化信號輸出。
第二比較器112b將由加法器lllb輸出的第二電壓信號與預定閾 值比較，生成并輸出與比較結(jié)果相應(yīng)的第二二值化信號。例如，在第 二電壓信號大于預定閾值時，將成為H電平的信號作為第二二值化信 號輸出，在第二電壓信號為預定閾值以下時，將成為L電平的信號作 為第二二值化信號輸出。
第一數(shù)字采樣部113a以預定的采樣頻率對由第一比較器112a輸 出的第一二值化信號進行采樣，從而生成第一采樣信號。
第二數(shù)字采樣部113b以預定的采樣頻率對由第二比較器112b輸 出的第二二值化信號進行采樣，從而生成第二采樣信號。
第一數(shù)字采樣部113a的采樣頻率和第二數(shù)字采樣部113b的采樣 頻率設(shè)定為相同值。
相位差檢測電路114檢測由第 一 數(shù)字采樣部113 a生成的第 一 采樣 信號及由第二數(shù)字采樣部113b生成的第二采樣信號的相位差，并生 成表示相位差的相位差信號。具體而言，生成包括寬度與上述第一采 樣信號的變化和上述第二采樣信號的變化的時間差相應(yīng)的脈沖的相 位差信號。例如，如日本特開2001-67690的圖8等所示的那樣，生 成第一信號和第二信號，并將從第一信號減去第二信號得到的信號作 為相位差信號，上述第一信號是在第一采樣信號為H電平的狀態(tài)下， 從第二采樣信號下降的時刻起到接下來第 一采樣信號下降的時刻為 止的期間為H電平，而除此之外的期間，第一信號為L電平，上述 第二信號是在第二采樣信號為H電平的狀態(tài)下，從第 一采樣信號下降 的時刻起到接下來第二采樣信號下降的時刻為止的期間為H電平，而 除此之外的期間，第二信號為L電平。
低通濾波器115對由相位差檢測電路114生成的相位差信號進行頻帶限制、即高頻成分的遮斷，從而作為跟蹤誤差信號而輸出。
平均值電路116對由低通濾波器115輸出的跟蹤誤差信號進行平 均化。詳細而言，按每個與第一數(shù)字采樣部113a和第二數(shù)字采樣部 113b的采樣周期的多個周期相當?shù)钠陂g，計算出該期間的跟蹤誤差信 號的平均值，將該期間的跟蹤誤差信號置換為作為計算結(jié)果的平均值 并輸出。
本實施方式的光盤裝置包括用于對光記錄介質(zhì)照射光的光拾取 器，根據(jù)由平均值電路116輸出的跟蹤誤差信號進行跟蹤控制。該跟 蹤控制是驅(qū)動光拾取器內(nèi)的透鏡以減'J、跟蹤誤差的控制。
在如上所述構(gòu)成的光盤裝置中，當對光記錄介質(zhì)照射光時，四象 限光電探測器101的受光面101a 101d接受來自光記錄介質(zhì)的反射 光。于是，從四象限光電探測器101輸出與各受光面101a 101d的受 光量相應(yīng)的光電流。然后，電流電壓轉(zhuǎn)換器102a將與受光面101a的 受光量相應(yīng)的光電流轉(zhuǎn)換為電壓信號并輸出，電流電壓轉(zhuǎn)換器102b 將與受光面101b的受光量相應(yīng)的光電流轉(zhuǎn)換為電壓信號并輸出，電 流電壓轉(zhuǎn)換器102c將與受光面101c的受光量相應(yīng)的光電流轉(zhuǎn)換為電 壓信號并輸出，電流電壓轉(zhuǎn)換器102d將與受光面101d的受光量相應(yīng) 的光電流轉(zhuǎn)換為電壓信號并輸出。在此，將由電流電壓轉(zhuǎn)換器102a 輸出的電壓信號的電平設(shè)為A,將由電流電壓轉(zhuǎn)換器102b輸出的電 壓信號的電平設(shè)為B,將由電流電壓轉(zhuǎn)換器102c輸出的電壓信號的 電平設(shè)為C,將由電流電壓轉(zhuǎn)換器102d輸出的電壓信號的電平設(shè)為 D。利用加法器llla將由電流電壓轉(zhuǎn)換器102a輸出的電壓信號和由 電流電壓轉(zhuǎn)換器102c輸出的電壓信號相加，將(A+C)電平的第一 電壓信號作為和信號而由加法器llla輸出。另一方面，利用加法器 lllb將由電流電壓轉(zhuǎn)換器102b輸出的電壓信號和由電流電壓轉(zhuǎn)換器 102d輸出的電壓信號相加，將(B+D)電平的第二電壓信號作為和信 號而由加法器lllb輸出。
在此，在光點位于位的寬度方向中心時，第一電壓信號和第二電 壓信號成為相同相位。而在光點位于偏離位的寬度方向中心的位置
10時，第一電壓信號和第二電壓信號的相位產(chǎn)生誤差。以下，說明基于 該第一電壓信號和第二電壓信號生成與上述相位的誤差量相應(yīng)的跟 蹤誤差信號的方法。
由加法器llla輸出的第一電壓信號被第一比較器112a二值化為 第一二值化信號。然后，第一數(shù)字采樣部113a對該第一二值化信號 進行采樣，并輸出第一采樣信號。同樣，由加法器lllb輸出的第二 電壓信號被第二比較器112b 二值化為第二二值化信號。然后，第二 數(shù)字采樣部113b對該第二二值化信號進行采樣，并輸出第二采樣信 號。然后，相位差檢測電路114根據(jù)上述第一采樣信號和上述第二采 樣信號生成相位差信號。該相位差信號經(jīng)過低通濾波器115的高頻成 分的遮斷處理和平均值電路116的平均化處理，作為跟蹤誤差信號而 用于跟蹤控制。通常，與同伺服控制的周期對應(yīng)的頻率相比，輸入 RF信號的頻率即第一電壓信號和第二電壓信號的頻率較高，因此， 可進行平均值電路116的平均化處理。
根據(jù)本實施方式，低通濾波器115對由相位差檢測電路114生成 的相位差信號進行跟蹤誤差信號所需的對頻帶的頻帶限制，因此，能 夠降低對跟蹤誤差信號的噪聲影響。
平均值電路116對由低通濾波器115輸出的跟蹤誤差信號進行平 均化，因此在由第一數(shù)字采樣部113a、第二數(shù)字采樣部113b對表現(xiàn) 出較大噪聲影響的瞬間的第一二值化信號、第二二值化信號進行了采 樣時，能夠降低其噪聲的影響。其結(jié)果，能夠利用數(shù)字信號處理取得 高精度的跟蹤誤差信號，并用于跟蹤控制。
另外，第一數(shù)字采樣部113a和第二數(shù)字采樣部113b的采樣頻率、 即是使第一數(shù)字采樣部113a和第二數(shù)字采樣部113b工作的采樣時鐘 的頻率越高，則越能高精度地檢測出第 一 電壓信號和第二電壓信號的 相位誤差量，能夠生成高精度的跟蹤誤差信號。另外，也可以通過可 變地設(shè)定采樣頻率，根據(jù)第一電壓信號和第二電壓信號的頻率、光盤 裝置的狀態(tài)來進行最佳的采樣。
另外，也可以使低通濾波器115和平均值電路116的順序相反。即，可以將由相位差檢測電路114生成的相位差信號輸入到平均值電
路116,將平均值電路116的輸出輸入到低通濾波器115。在這樣的 情況下，也能得到上述的噪聲降低效果。
鑒于低通濾波器的特性可知，能夠使用低通濾波器115進行噪聲 除去和平均化。
《實施方式2》
本發(fā)明的實施方式2的光盤裝置，取代實施方式1的跟蹤誤差檢 測裝置100而具有圖2所示的跟蹤誤差檢測裝置200。跟蹤誤差檢測 裝置200具有集成電路210來取代跟蹤誤差檢測裝置100的集成電路 110。該集成電路210除了實施方式1的集成電路110的構(gòu)成之外， 還包括采樣頻率設(shè)定部211和低通濾波器控制部212。本實施方式的 光盤裝置的其他構(gòu)成及動作與實施方式1相同，因此省略其詳細說明。
采樣頻率設(shè)定部211將第 一數(shù)字采樣部113a的采樣頻率和第二數(shù) 字采樣部113b的采樣頻率均設(shè)定為與RF信號的頻率的整數(shù)倍不同的 頻率，即設(shè)定為與第一電壓信號和第二電壓信號的頻率的整數(shù)倍不同 的頻率。在本實施方式中，第一數(shù)字采樣部113a和第二數(shù)字采樣部 113b的采樣頻率、即采樣時鐘的頻率是可變的，按照第一電壓信號和 第二電壓信號的頻率、在系統(tǒng)中求出的跟蹤誤差信號的精度、光盤裝 置的狀態(tài)等進行設(shè)定。
低通濾波器控制部(系數(shù)控制部)212設(shè)定低通濾波器115的截 止頻率，以確保低通濾波器115的頻率特性恒定。即，低通濾波器115 的截止頻率是可變的，在第一數(shù)字采樣部113a和第二數(shù)字采樣部 113b的采樣時鐘的頻率被改變時被切換。
根據(jù)本實施方式，能得到與實施方式1相同的效果，并且根據(jù)第 一電壓信號及第二電壓信號的頻率、在系統(tǒng)中求出的跟蹤誤差信號的 精度、光盤裝置的狀態(tài)等條件而可變地設(shè)定采樣頻率，因此能進行與 這些條件相應(yīng)的適當采樣。因此，能夠生成高精度的跟蹤誤差信號。
此外，例如在第一數(shù)字采樣部113a和第二數(shù)字采樣部113b的采 樣時鐘與輸入rf信號即第一電壓信號和第二電壓信號同步時，有可能相位差檢測電路114不能正確檢測出相位差量。根據(jù)本實施方式，
采樣頻率設(shè)定部2U將第一數(shù)字采樣部113a和第二數(shù)字采樣部113b 的采樣頻率設(shè)定為與第一電壓信號和第二電壓信號的頻率的整數(shù)倍 不同的頻率。因此，能夠防止第一數(shù)字采樣部113a和第二數(shù)字采樣 部113b的采樣時鐘與輸入RF信號同步，其結(jié)果，能夠正確檢測出相 位差，能夠生成高精度的跟蹤誤差信號。而且，能夠確保由相位差檢 測得到的跟蹤誤差信號的線性，并且防止在相位差接近0時的頻率特 性的惡化。
《實施方式3》
本發(fā)明的實施方式3的光盤裝置，取代實施方式1的跟蹤誤差檢 測裝置100而具有圖3所示的跟蹤誤差檢測裝置300。跟蹤誤差檢測 裝置300具有集成電路310來取代跟蹤誤差檢測裝置100的集成電路 110。該集成電3各310除了實施方式1的集成電^各110的構(gòu)成之外， 還包括第一延遲電路311a、第二延遲電路311b和延遲量控制部(控 制器)312。本實施方式的光盤裝置的其他構(gòu)成及動作與實施方式1 相同，因此省略其詳細"^兌明。
第一延遲電路311a在向第一數(shù)字采樣部113a輸入由第一比較器 112a輸出的第一二值化信號之前使該第一二值化信號延遲。
第二延遲電路311b在向第二數(shù)字采樣部113b輸入由第二比較器 112b輸出的第二二值化信號之前使該第二二值化信號延遲。
延遲量控制部312設(shè)定第一延遲電路311a和第二延遲電路311b 的延遲量，以使得第一二值化信號與第一數(shù)字采樣部113a的采樣定 時不同步，且第二二值化信號與第二數(shù)字采樣部113b的采樣定時不 同步。第一延遲電路311a和第二延遲電路31 lb的延遲量設(shè)定為相同 值。優(yōu)選的是，延遲量控制部312構(gòu)成為能夠設(shè)定第一數(shù)字采樣部 113a和第二數(shù)字采樣部113b的采樣時鐘周期以上的延遲量。
根據(jù)本實施方式，能夠得到與實施方式1相同的效果，并且，例 如在比與伺服控制的周期對應(yīng)的頻率高、且比RF信號的頻率低的頻 帶中，能總是改變延遲量。即，能夠在比與伺服控制的周期短、且比RF信號的周期長的周期，改變延遲量。
此外，在本實施方式中，延遲量控制部312設(shè)定第一延遲電路311a 和第二延遲電路311b的延遲量，以使得第一二值化信號與第一數(shù)字 采樣部113a的采樣定時不同步，且第二二值化信號與第二數(shù)字采樣 部113b的采樣定時不同步。因此，能夠防止第一數(shù)字采樣部113a和 第二數(shù)字采樣部113b的采樣時鐘與輸入RF信號同步，其結(jié)果，能夠 正確檢測出相位差，能夠生成高精度的跟蹤誤差信號。而且，能夠確 保由相位差檢測得到的跟蹤誤差信號的線性，并且能夠防止在相位差 接近0時的頻率特性惡化。
此外，通過將第一延遲電路311a和第二延遲電路31 lb的延遲量 設(shè)定為相同值而進行同時控制，能夠不會影響本來的跟蹤誤差信號的 值，能防止第一數(shù)字采樣部113a和第二數(shù)字采樣部113b的采樣時鐘 與輸入RF信號同步。 《實施方式4》
本發(fā)明的實施方式4的光盤裝置具有圖4所示的跟蹤誤差檢測裝 置400，來取代實施方式1的跟蹤誤差檢測裝置100。跟蹤誤差檢測 裝置400具有集成電路410來取代跟蹤誤差#r測裝置100的集成電路 110。該集成電^各410除了實施方式1的集成電^各110的構(gòu)成之外， 還包括第一均衡器(EQ:叫ualizer) 411a、第二均衡器(EQ ) 411b。 本實施方式的光盤裝置的其他構(gòu)成及動作與實施方式1相同，因此省 略其詳細^兌明。
第一均衡器(濾波器)411a使由加法器llla輸出的第一電壓信 號發(fā)生群延遲。即，使構(gòu)成第一電壓信號的各頻率成分在向第一比較 器112a輸入之前延遲與其頻率相應(yīng)的延遲量。
第二均衡器(濾波器)411b使由加法器lllb輸出的第二電壓信 號發(fā)生群延遲。即，使構(gòu)成第二電壓信號的各頻率成分在向第二比較 器112b輸入之前延遲與其頻率相應(yīng)的延遲量。
圖5表示第一均衡器411a和第二均衡器411b的群延遲特性。對 于第一均衡器411a和第二均衡器411b，頻帶成分越高，延遲的延遲量越大。在此，產(chǎn)生延遲的頻率即信號頻帶及與各頻率對應(yīng)的延遲量
可以為固定值，也可以設(shè)定為可變。第一均衡器411a和第二均衡器 41 lb的延遲量即第一電壓信號和第二電壓信號的延遲量被設(shè)定為相 同值。
根據(jù)本實施方式，能夠利用第一均衡器411a和第二均衡器411b 使第 一 電壓信號和第二電壓信號延遲例如與從光記錄介質(zhì)讀出的調(diào) 制數(shù)據(jù)的反演間隔相對應(yīng)的延遲量。在光記錄介質(zhì)為DVD時，調(diào)制 數(shù)據(jù)的反演間隔設(shè)定為3T 11T、 14T (T是時鐘的周期)。在這種情 況下，例如與讀出了反演間隔為IIT的調(diào)制數(shù)據(jù)的情況相比，在讀出 了反演間隔為3T的調(diào)制數(shù)據(jù)的情況下，能夠增大延遲量。如此，通 過使第一電壓信號和第二電壓信號延遲與調(diào)制數(shù)據(jù)的反演間隔相對 應(yīng)的延遲量，第一電壓信號和第二電壓信號在被施加了基于時間軸方 向的符號間干涉的跳動的狀態(tài)下被輸入到第一比較器112a和第二比 較器112b。因此，通過設(shè)定第一均衡器411a和第二均衡器411b的延 遲量以使得第一數(shù)字采樣部113a和第二數(shù)字采樣部113b的采樣時鐘 不與第一電壓信號和第二電壓信號(輸入RF信號)同步，從而能夠 防止采樣時鐘與輸入RF信號的同步。其結(jié)果，能夠更加正確地檢測 出相位差，能夠生成高精度的跟蹤誤差信號。并且，能夠確保由相位 差檢測得到的跟蹤誤差信號的線性，并能夠防止在相位差接近0時的 頻率特性惡化。
此外，通過將第一電壓信號和第二電壓信號的延遲量設(shè)定為相同 值來進行同時控制、即使與所有輸入通道對應(yīng)的延遲量相等，從而 不會影響本來的跟蹤誤差信號的值，能夠防止第一數(shù)字采樣部113a 和第二數(shù)字采樣部113b的采樣時鐘與輸入RF信號同步。
對光記錄介質(zhì)為DVD的情況的例子進行了說明，但本實施方式 也能適用于光記錄介質(zhì)為DVD以外的情況，例如，在使用藍色激光 的下一代的標準光盤的情況下也能夠適用于生成高精度的跟蹤誤差 信號。在光記錄介質(zhì)為藍光光盤(Blu-rayDisc (注冊商標))的情況 下，調(diào)制數(shù)據(jù)的反演間隔設(shè)定為2T 8T、 9T(T為時鐘的周期)。此外，在上述實施方式1 4中，使用了具有四個受光面101a 101d 的四象限光電探測器101,但也可以不使用具有四個受光面的象限光 電探測器，只要使用至少具有兩個受光面的象限光電探測器即可。
此外，在上述實施方式1 4中，可以不設(shè)置平均值電路116。即， 可以將由低通濾波器115輸出的跟蹤誤差信號在不進行平均化的狀態(tài) 下用于跟蹤控制。
工業(yè)實用性
本發(fā)明的集成電路、光盤裝置以及跟蹤誤差信號生成方法具有能 夠縮小跟蹤誤差檢測裝置的電路規(guī)模、降低成本的效果，其作為在光 盤裝置中生成跟蹤誤差信號的技術(shù)是有用的。
權(quán)利要求
1.一種集成電路，在包括象限光電探測器的光盤裝置中根據(jù)第一電壓信號和第二電壓信號來生成跟蹤誤差信號，其中，上述象限光電探測器具有在將光照射到光記錄介質(zhì)上時接受來自該光記錄介質(zhì)的反射光的第一受光面和第二受光面；上述第一電壓信號表示上述第一受光面的受光量；上述第二電壓信號表示上述第二受光面的受光量，該集成電路的特征在于，其包括第一比較器，將上述第一電壓信號與預定的閾值進行比較且輸出與比較結(jié)果相應(yīng)的第一二值化信號；第二比較器，將上述第二電壓信號與預定的閾值進行比較且輸出與比較結(jié)果相應(yīng)的第二二值化信號；第一數(shù)字采樣部，通過以預定的采樣頻率對由上述第一比較器輸出的第一二值化信號進行采樣來生成第一采樣信號；第二數(shù)字采樣部，通過以預定的采樣頻率對由上述第二比較器輸出的第二二值化信號進行采樣來生成第二采樣信號；相位差檢測電路，檢測由上述第一數(shù)字采樣部生成的第一采樣信號與由上述第二數(shù)字采樣部生成的第二采樣信號的相位差，并生成表示檢測出的相位差的相位差信號；以及低通濾波器，對由上述相位差檢測電路生成的相位差信號進行高頻成分的遮斷來作為上述跟蹤誤差信號進行輸出。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路，其特征在于，還包括平均值電路，該平均值電路在每個與上述第 一數(shù)字采樣部 和上述第二數(shù)字采樣部的采樣周期的多個周期相當?shù)钠陂g，計算由上 述低通濾波器輸出的該期間的跟蹤誤差信號的平均值，并將該期間的 跟蹤誤差信號置換為作為計算結(jié)果的平均值。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路，其特征在于， 還包括采樣頻率設(shè)定部，其將上述第一數(shù)字采樣部和上述第二數(shù)字采樣部的采樣頻率設(shè)定為與第一電壓信號和第二電壓信號的頻率的整數(shù)倍不同的頻率；和低通濾波器控制部，其設(shè)定上述低通濾波器的截止頻率，以確保 上述低通濾波器的頻率特性恒定。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路，其特征在于， 還包括第一延遲電路，使由上述第一比較器輸出的第一二值化信號在向 上述第一數(shù)字采樣部輸入之前延遲；第二延遲電路，使由上述第二比較器輸出的第二二值化信號在向 上述第二數(shù)字采樣部輸入之前延遲；以及延遲量控制部，設(shè)定上述第一延遲電路和上述第二延遲電路的延 遲量，以使上述第一二值化信號與上述第一數(shù)字采樣部的采樣定時不 同步且上述第二二值化信號與上述第二數(shù)字采樣部的采樣定時不同 步。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路，其特征在于， 還包括第一均衡器，使構(gòu)成上述第一電壓信號的各頻率成分在向上述第 一比較器輸入之前延遲與其頻率相應(yīng)的延遲量；和第二均衡器，使構(gòu)成上述第二電壓信號的各頻率成分在向上述第二比較器輸入之前延遲與其頻率相應(yīng)的延遲量。
6. —種光盤裝置，其特征在于，包括權(quán)利要求1所述的集成電路和上述象限光電探測器， 根據(jù)由上述低通濾波器輸出的跟蹤誤差信號來進行跟蹤控制。
7. —種跟蹤誤差信號生成方法，在包括象限光電探測器的光盤裝 置中根據(jù)第一電壓信號和第二電壓信號來生成跟蹤誤差信號，其中， 上述象限光電探測器具有在將光照射到光記錄介質(zhì)上時接受來自該 光記錄介質(zhì)的反射光的第一受光面和第二受光面；上述第一電壓信號 表示上述第一受光面的受光量；上述第二電壓信號表示上述第二受光 面的受光量，其特征在于，該方法包括第一比較步驟，將上述第一電壓信號與預定的閾值進行比較且生 成與比較結(jié)果相應(yīng)的第一二值化信號；第二比較步驟，將上述第二電壓信號與預定的閾值進行比較且生 成與比較結(jié)果相應(yīng)的第二二值化信號；第一數(shù)字采樣步驟，通過以預定的采樣頻率對在上述第一比較步 驟中生成的第一二值化信號進行采樣來生成第一采樣信號；第二數(shù)字采樣步驟，通過以預定的采樣頻率對在上述第二比較步 驟中生成的第二二值化信號進行采樣來生成第二采樣信號；相位差檢測步驟，檢測在上述第一數(shù)字采樣步驟中生成的第一采 樣信號與在上述第二數(shù)字采樣步驟中生成的第二采樣信號的相位差， 并生成表示檢測出的相位差的相位差信號；以及高頻成分遮斷步驟，對在上述相位差檢測步驟中生成的相位差信 號進行高頻成分的遮斷來作為上述跟蹤誤差信號進行輸出。
全文摘要
第一比較器(112a)將第一電壓信號與預定的閾值進行比較，輸出與比較結(jié)果相應(yīng)的第一二值化信號。第二比較器(112b)將第二電壓信號與預定的閾值進行比較，輸出與比較結(jié)果相應(yīng)的第二二值化信號。第一數(shù)字采樣部(113a)以預定的采樣頻率對由第一比較器(112a)輸出的第一二值化信號進行采樣，從而生成第一采樣信號。第二數(shù)字采樣部(113b)以預定的采樣頻率對由第二比較器(112b)輸出的第二二值化信號進行采樣，從而生成第二采樣信號。相位差檢測電路(114)檢測由第一數(shù)字采樣部(113a)生成的第一采樣信號和由第二數(shù)字采樣部(113b)生成的第二采樣信號的相位差。
文檔編號G11B7/09GK101689383SQ200880023100
公開日2010年3月31日 申請日期2008年7月2日 優(yōu)先權(quán)日2007年7月2日
發(fā)明者坂井滿, 山元猛晴, 片山剛 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社