專利名稱：最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)檢測、聚焦引入和跳層方法以及能夠執(zhí)行所述方法的光盤驅(qū)動器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明的各方面涉及一種光盤驅(qū)動器，更具體地講，涉及最小偏轉(zhuǎn)加速 點(diǎn)檢測、聚焦引入和跳層方法以及能夠執(zhí)行所述方法的光盤驅(qū)動器。
背景技術(shù)：
光盤驅(qū)動器是光學(xué)信息存儲和再現(xiàn)設(shè)備。光盤驅(qū)動器通過沿垂直于載入 的盤的數(shù)據(jù)層的方向移動致動器的物鏡，來對光盤的數(shù)據(jù)層(或記錄層)執(zhí) 行聚焦引入操作。聚焦引入操作在盤的數(shù)據(jù)層上形成光點(diǎn)的焦點(diǎn)，并被稱為聚焦。
可在執(zhí)行靜態(tài)檢測盤類型(DDT)處理之后執(zhí)行聚焦引入操作。圖l是 解釋在光盤驅(qū)動器中執(zhí)行傳統(tǒng)靜態(tài)DDT處理之后執(zhí)行向上聚焦引入操作的 處理的操作時序圖。當(dāng)盤不轉(zhuǎn)動時，靜態(tài)DDT處理確定盤的類型。如圖l所 示，主操作0至3是靜態(tài)DDT處理。即，在操作O中，設(shè)置在光盤驅(qū)動器中 的激光二極管導(dǎo)通并且物鏡向下移動到可檢測盤的表面層的反射的最近點(diǎn) 101。在操作1和2中，物鏡上下移動以使用反射率和層間距離(Tl:物鏡向 上移動時表面層和數(shù)據(jù)層之間的盤厚度；T2:物鏡向下移動時表面層和數(shù)據(jù) 層之間的盤厚度)來確定盤的類型。
在操作3中，驗(yàn)證通過靜態(tài)DDT處理確定盤的類型的有效性。接著，在 操作4中，根據(jù)盤類型使用數(shù)據(jù)層的s曲線檢測條件(聚焦誤差信號(FES ) 的電平的絕對值〉1^ )來執(zhí)行向上聚焦引入處理。此外，在操作4中，在滿足 數(shù)據(jù)層的s曲線檢測條件的點(diǎn)tlO執(zhí)行向上聚焦引入。在操作10中，執(zhí)行聚 焦伺服操作。因此，當(dāng)盤轉(zhuǎn)動并且光點(diǎn)聚焦在盤的數(shù)據(jù)層上時執(zhí)行聚焦伺服 操作。
圖2是解釋在光盤驅(qū)動器中執(zhí)行傳統(tǒng)靜態(tài)DDT處理之后執(zhí)行向下聚焦引 入操作的處理的操作時序圖。操作0至3之間執(zhí)行的靜態(tài)DDT處理與圖1所 示相同。然而，圖2是解釋向下聚焦引入處理的操作時序圖。因此，在操作5中，在向下移動物鏡時檢測到滿足聚焦引入條件(FES電平絕對值〉L1 )的 數(shù)據(jù)層的點(diǎn)tlO執(zhí)行向下聚焦引入。在操作10中，執(zhí)行聚焦伺服操作。
在圖1和圖2中，"SO"指的是當(dāng)物鏡從最低點(diǎn)101向上移動時檢測到表 面層s曲線的位置。"SI"指的是當(dāng)物鏡從盤的表面層向上移動到盤的數(shù)據(jù)層 時檢測到數(shù)據(jù)層s曲線的位置。"S2"指的是當(dāng)物鏡從最高點(diǎn)102向下移動時 檢測到數(shù)據(jù)層s曲線的位置。最后，"S3"指的是當(dāng)物鏡從盤的數(shù)據(jù)層向下移 動到盤的表面層時檢測到表面層s曲線的位置。
在圖1和圖2中，"L0"指的是在靜態(tài)DDT處理中將被識別為數(shù)據(jù)層s 曲線的聚焦誤差信號電平，該電平可被設(shè)置為數(shù)據(jù)層FES峰值電平的大約 50%。 "L1"指的是在聚焦引入處理中將被識別為數(shù)據(jù)層s曲線的聚焦誤差信 號電平，該電平可被設(shè)置為數(shù)據(jù)層FES峰值電平的大約50%。 "L2"指的是 當(dāng)在聚焦引入處理中識別出數(shù)據(jù)層s曲線"L1"并且FES電平返回到參考電 平(0V)時，接通在光盤驅(qū)動器中設(shè)置的聚焦伺服控制器的聚焦誤差信號電 平，該電平可被設(shè)置為數(shù)據(jù)層FES峰值電平的大約25%。 "L3"指的是用于 在靜態(tài)DDT處理和聚焦引入處理中識別數(shù)據(jù)層的射頻直流(RFDC)誤差信 號電平，該電平可被設(shè)置為數(shù)據(jù)層RFDC峰值電平的大約50%。最后，"L4" 指的是用于在靜態(tài)DDT處理和聚焦引入處理中識別表面層的RFDC誤差信號 電平，該電平可被設(shè)置為表面層RFDC峰值電平的大約50%。根據(jù)靜態(tài)DDT 處理中確定的盤類型來設(shè)置"L1"、 "L2"、 "L3"和"L4"的值。
在圖l和圖2中，"T1"指的是在DDT向上移動處理中從RFDC信號電 平大于L4時的t2到RFDC信號電平大于L3時的t3的向上移動時間。"T2" 指的是在DDT向下移動處理中從數(shù)據(jù)層S2中的RFDC信號電平小于L3時 的t5到RFDC信號電平小于L4時的t6的向下移動時間。"T3"指的是DDT 處理結(jié)果驗(yàn)證或主軸加速時間。"T4，，指的是在聚焦引入處理中與表面層和數(shù) 據(jù)層之間的盤厚度相應(yīng)的時間。最后，"T5"指的是主軸轉(zhuǎn)動一圈的時間。
發(fā)明公開 技術(shù)問題
參照圖1和圖2,可以看出，在主軸轉(zhuǎn)動時執(zhí)行聚焦引入。然而，當(dāng)主 軸轉(zhuǎn)動時，在每次轉(zhuǎn)動一圈中反復(fù)出現(xiàn)盤偏轉(zhuǎn)分量。因此，當(dāng)在具有高偏轉(zhuǎn) 的盤的具有任意偏轉(zhuǎn)加速度的點(diǎn)執(zhí)行聚焦引入時，聚焦引入很可能失敗，并且盤很可能與物鏡碰撞。此外，當(dāng)在具有高偏轉(zhuǎn)的盤的具有任意偏轉(zhuǎn)加速度 的點(diǎn)執(zhí)行跳層時，跳層很可能失敗，并且盤很可能與物鏡碰撞。
技術(shù)方案
為了解決上述和/或其他問題，本發(fā)明提供了 一種在光盤驅(qū)動器中檢測最 小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)的方法和能夠執(zhí)行該方法的光盤驅(qū)動器。
本發(fā)明的各方面還提供一種用于在最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)執(zhí)行聚焦引入的聚焦 引入方法和能夠執(zhí)行該方法的光盤驅(qū)動器。
本發(fā)明的各方面還提供一種用于在最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)執(zhí)行跳層的跳層方法 和能夠執(zhí)行該方法的光盤驅(qū)動器。
有益效果
如上所述，本發(fā)明的各方面可通過在載入到高密度或低密度光學(xué)信息存 儲和再現(xiàn)設(shè)備中的盤的最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)執(zhí)行聚焦引入來實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的聚焦引 入，并在聚焦卩1入期間使盤和物鏡之間的碰撞最小化。
此外，本發(fā)明的各方面可通過在載入到高密度或低密度光學(xué)信息存儲和 再現(xiàn)設(shè)備中的盤的最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)執(zhí)行跳層來實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的跳層，并在跳層期 間使盤和物鏡之間的碰撞最小化。


通過結(jié)合附圖閱讀以下對示例性實(shí)施例的詳細(xì)描述和權(quán)利要求，顯然可 更好地理解本發(fā)明，附圖構(gòu)成本發(fā)明公開的一部分。盡管以下描述和示出的 公開集中在公開本發(fā)明的示例性實(shí)施例，但是應(yīng)該清楚地理解，其僅為示出 和說明的方式，本發(fā)明不限于此。本發(fā)明的精神和范圍僅由權(quán)利要求限定。
以下表示附圖的簡要說明，其中
圖1是解釋在光盤驅(qū)動器中執(zhí)行傳統(tǒng)靜態(tài)DDT處理之后執(zhí)行向上聚焦引 入的處理的才喿作時序圖2是解釋在光盤驅(qū)動器中執(zhí)行傳統(tǒng)靜態(tài)DDT處理之后執(zhí)行向下聚焦引 入的處理的操作時序圖3是根據(jù)本發(fā)明示例性實(shí)施例的光盤驅(qū)動器的框圖4是解釋在圖3所示的光盤驅(qū)動器中的最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)檢測處理的操
8作時序圖5是基于圖4的最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)檢測的示圖6是根據(jù)本發(fā)明另 一示例性實(shí)施例的光盤驅(qū)動器的框圖7是在圖6所示的光盤驅(qū)動器中具有(-)最大偏轉(zhuǎn)大小的最小偏轉(zhuǎn)加
速點(diǎn)周圍的向上聚焦引入的操作時序圖8是在圖6所示的光盤驅(qū)動器中具有(+ )最大偏轉(zhuǎn)大小的最小偏轉(zhuǎn)加
速點(diǎn)周圍的向上聚焦引入的操作時序圖9是圖6所示的光盤驅(qū)動器中的跳層的操作時序圖10是解釋根據(jù)本發(fā)明另一示例性實(shí)施例的最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)檢測方法
的流程圖11是圖IO所示的最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)檢測處理的示例的詳細(xì)流程圖； 圖12是圖IO所示的最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)檢測處理的另一示例的詳細(xì)流程圖； 圖13是根據(jù)本發(fā)明另一示例性實(shí)施例的聚焦引入方法的操作流程圖； 圖14是圖13所示的聚焦引入處理的詳細(xì)流程圖； 圖15是根據(jù)本發(fā)明另一示例性實(shí)施例的跳層方法的操作流程圖。
最佳方式
根據(jù)本發(fā)明的 一方面， 一種在光盤驅(qū)動器中檢測最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)的方法 包括轉(zhuǎn)動載入到光盤驅(qū)動器中的盤；在盤的一次轉(zhuǎn)動周期內(nèi)檢測盤的第一 最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)；在盤的一次轉(zhuǎn)動周期內(nèi)檢測盤的第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)。
根據(jù)本發(fā)明另一方面， 一種光盤驅(qū)動器中的聚焦引入方法包括當(dāng)?shù)弥?載入到光盤驅(qū)動器中的盤的一個轉(zhuǎn)動周期開始時，計算聚焦致動器驅(qū)動信號 的改變量；當(dāng)在盤的一次轉(zhuǎn)動開始之后才企測到第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)時，根據(jù) 聚焦致動器驅(qū)動信號的改變量產(chǎn)生聚焦致動器驅(qū)動信號；當(dāng)檢測到滿足聚焦 引入條件的點(diǎn)時，對盤執(zhí)行聚焦引入。
根據(jù)本發(fā)明另一方面， 一種光盤驅(qū)動器中的跳層方法包括當(dāng)在需要跳 層之后檢測到第 一 最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)時，關(guān)斷光盤驅(qū)動器的聚焦伺服控制部； 根據(jù)跳層方向產(chǎn)生添加或減去沖擊脈沖的聚焦致動器驅(qū)動信號；當(dāng)聚焦誤差 信號的電平滿足跳層條件時，根據(jù)跳層方向產(chǎn)生添加或減去制動脈沖的聚焦 致動器驅(qū)動信號。
根據(jù)本發(fā)明另一方面， 一種光盤驅(qū)動器包括載入到光盤驅(qū)動器中的盤；
9轉(zhuǎn)動單元，轉(zhuǎn)動所述盤；伺服數(shù)字信號處理器，在盤的轉(zhuǎn)動周期內(nèi)檢測第一 最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)和第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)。
當(dāng)基于轉(zhuǎn)動單元提供的頻率發(fā)生信號識別到盤的轉(zhuǎn)動開始時，伺服數(shù)字 信號處理器計算聚焦致動器驅(qū)動信號的改變量，當(dāng)在一次轉(zhuǎn)動開始之后檢測 到第 一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)時，根據(jù)聚焦致動器驅(qū)動信號的改變量產(chǎn)生聚焦致動 器驅(qū)動信號，并且當(dāng)4全測到滿足聚焦SI入條件的點(diǎn)時控制對盤的聚焦《)入。
當(dāng)需要跳層時，伺服數(shù)字信號處理器在發(fā)現(xiàn)需要跳層之后檢測到第一最 小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)時，停止聚焦伺服控制操作，根據(jù)跳層方向產(chǎn)生添加或減去沖 擊脈沖的聚焦致動器驅(qū)動信號，并且當(dāng)聚焦誤差信號的電平滿足跳層條件時， 根據(jù)跳層方向產(chǎn)生添加或減去制動脈沖的聚焦致動器驅(qū)動信號。
除了如上所述的示例性實(shí)施例和各方面之外，通過參照附圖和研讀以下 描述，另外的方面和實(shí)施例將是清楚的。
具體實(shí)施例方式
現(xiàn)在對本發(fā)明實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)的描述，其示例示出在附圖中，其中，相 同的標(biāo)號始終表示相同的部件。下面通過參照附圖對實(shí)施例進(jìn)行描述以解釋 本發(fā)明。
圖3是根據(jù)本發(fā)明示例性實(shí)施例的光盤驅(qū)動器的框圖。為了筒潔，這種 光盤驅(qū)動器可以為內(nèi)置(安裝在主機(jī)內(nèi))或外置(安裝在連接到主機(jī)的單獨(dú) 盒中)。此外，這種光盤驅(qū)動器可以是單個設(shè)備，或者可以分離為記錄設(shè)備或
讀取設(shè)備。如圖3所示，光盤驅(qū)動器包括盤301、拾取部310、 RF放大部315、 伺服數(shù)字信號處理器(以下稱為"伺服DSP，，(數(shù)字信號處理器))320、主軸 驅(qū)動器330、主軸電機(jī)335、聚焦驅(qū)動器340、聚焦致動器345和控制模塊350。 盤301是能夠存儲或再現(xiàn)光學(xué)信息的盤，并且可以是低密度盤(如CD或 DVD)。盤301還可以是高密度盤301,如藍(lán)光盤(BD)和高級光盤(AOD)。 拾取部310包括物鏡311，物鏡311可通過聚焦致動器345垂直于盤301 移動。拾取部310聚集從盤301反射的光并將聚集的光輸出到RF放大部315。 可通過例如使用四象限PD (光電二極管)來聚集反射的光。RF放大部315 從自拾取部310輸出的信號產(chǎn)生并輸出聚焦誤差信號(FES)和RFDC伺服 誤差信號。當(dāng)四象限PD的各分區(qū)為A、 B、 C和D時，RF放大部315對每 個劃分的光量使用像散法((A+C )-( B+D ))產(chǎn)生FES，并使用總和(A+B+C+D或RFSUM)來產(chǎn)生RFDC伺服誤差信號。伺服DSP 320在盤301的一個轉(zhuǎn) 動周期內(nèi)將物鏡311重復(fù)上/下或下/上多次，以檢測具有盤301的數(shù)據(jù)層的(+ ) 最大偏轉(zhuǎn)大小的第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)和具有盤301的數(shù)據(jù)層的(-)最大偏轉(zhuǎn) 大小的第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)。物鏡311的上/下移動涉及物鏡311向上移動然 后向下移動。物鏡311的下/上移動涉及物鏡311向下移動然后向上移動。
為此，如圖3所示，伺服DSP 320包括模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC) 321、伺服 誤差信號檢測部322、控制部323、數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC )324和相位檢測部325。 首先，控制部323通過主軸驅(qū)動器330驅(qū)動主軸電才幾335,以使盤301轉(zhuǎn)動。 盤301的轉(zhuǎn)動可包括在動態(tài);險測盤類型(DTT)處理中。主軸驅(qū)動器330向 伺服DSP 320提供參照關(guān)于主軸電機(jī)335的速度的信息的頻率發(fā)生器(以下 稱為"FG")信號。伺服DSP320的相位檢測部325接收FG信號。相位檢測 部325可使用接收的FG信號向控制部323提供指示盤301的一次轉(zhuǎn)動開始 的信號。
當(dāng)接收到指示盤301的一次轉(zhuǎn)動開始的信號時，控制部323通過DAC 324 輸出致動器驅(qū)動信號(FOD)。聚焦驅(qū)動器340根據(jù)聚焦致動器驅(qū)動信號 (FOD)驅(qū)動聚焦致動器345。因此，聚焦致動器345沿垂直方向移動物鏡 311。
當(dāng)物鏡311沿垂直方向移動時，RF放大部315輸出FES和RPDC。 ADC 321將RF放大部315輸出的FES和RFDC轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號。數(shù)字化的FES 和RPDC被輸入到伺服誤差信號檢測部322。伺服誤差信號檢測部322從輸 入的FES和RFDC檢測盤301的表面層和數(shù)據(jù)層，并將檢測結(jié)果發(fā)送到控制 部323。
控制部323基于伺服誤差信號檢測部322提供的檢測結(jié)果檢測第一和第 二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)。圖4是解釋在圖3所示的光盤驅(qū)動器中的最小偏轉(zhuǎn)加速 點(diǎn)檢測處理的操作時序圖。如圖4所示，當(dāng)物鏡311在向上移動之后向下移 動時，控制部323基于盤301的表面層和數(shù)據(jù)層的對稱性檢測第一最小偏轉(zhuǎn) 加速點(diǎn)PO。第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)P0可以定義為具有盤301的數(shù)據(jù)層的(+ ) 最大偏轉(zhuǎn)大小的點(diǎn)。
當(dāng)物鏡311向上移動然后向下移動以確定盤301的表面層和數(shù)據(jù)層的對 稱性時，控制部323檢測圖4所示的T—UPO和T—DNO、 T—UP1和T—DN1或 T一UP2和T一DN2。根據(jù)可選的示例性實(shí)施例，控制部323可基于伺服誤差信號4企測部322提供的FES的s曲線檢測點(diǎn)信息和物鏡311向上移動期間的最 大FOD值(FOD—MAX)來檢測T—UP0和T_DN0、 T_UP1和T—DN1以及 T—UP2和T一DN2中的全部或兩個。通過先前存儲的向上聚焦裕度 (FOD—UP—MARGIN )信息來更新最大FOD值。
向上聚焦裕度限制當(dāng)物鏡311向上移動時檢測到盤301的數(shù)據(jù)層的s曲 線之后輸出的聚焦致動器驅(qū)動信號的最大值(FOD—MAX)。當(dāng)聚焦致動器驅(qū) 動信號達(dá)到由向上聚焦裕度更新的最大值(FOD_MAX)時，改變物鏡311 的移動方向。"T一UP0"指的是在物鏡311向上移動期間從盤301的表面層斗企 測到數(shù)據(jù)層檢測的時間。"T—DNO"指的是在物鏡311向下移動期間從盤301 的數(shù)據(jù)層檢測到表面層檢測的時間。"T—UP1"指的是在物鏡3U向上移動期 間從盤301的數(shù)據(jù)層檢測到物鏡311的移動方向改變的時間。"T—DN1"指的 是在物鏡311向下移動期間從物鏡311的移動方向改變到數(shù)據(jù)層檢測的時間。 "T—UP2"指的是在物鏡311向上移動期間從盤301的表面層檢測到物鏡311 的移動方向改變的時間。"T一DN2"指的是在物鏡311向下移動期間從物鏡 311的移動方向改變到表面層檢測的時間。
因此，當(dāng)物鏡311向上移動然后向下移動時，控制部323使用T—UP0和 T—DN0、T一UP1和T—DN1或T—UP2和T—DN2在盤的一個轉(zhuǎn)動周期的相位上 確定盤301的表面層和數(shù)據(jù)層的對稱性。即，可確定在盤的一個轉(zhuǎn)動周期的 相位上在物鏡311向上移動期間盤301的表面層或數(shù)據(jù)層和在物鏡311向下 移動期間盤301的表面層或數(shù)據(jù)層是否對稱。
為了使用T—UP0和T—DN0、 T—UP1和T一DN1或T一UP2和T一DN2確定 對稱性，控制部323可^f吏用臨界值DIFF—UPDOWN0、 DIFF—UPDOWN1和 DIFF一UPDOWN2?？紤]到預(yù)定的誤差范圍來設(shè)置預(yù)定的臨界值。因此，當(dāng)滿 足等式1 (如下所示)的條件時，控制部323在物鏡311向上移動然后向下 移動時，確定在盤的一個轉(zhuǎn)動周期的相位上在物鏡311向上移動期間盤301 的表面層或數(shù)據(jù)層和在物鏡311向下移動期間盤301的表面層或數(shù)據(jù)層具有 對稱性。當(dāng)在物鏡311向上移動期間盤301的表面層或數(shù)據(jù)層和在物鏡311 向下移動期間盤301的表面層或數(shù)據(jù)層具有對稱性時，可確定物鏡311和盤 301處于水平。 [數(shù)學(xué)式1]
T UP0 - T DN0 < DIFF UPDO額0
12T—UP1 - T—DN1 < DIFFJJPD0WN1 [等式1]
T—UP2 - T—DN2< DIFF—UPDOWN2
控制部323選擇等式1限定的三個條件中的至少一個，并且在物鏡311 向上移動然后向下移動時確定在盤的一個轉(zhuǎn)動周期的相位上物鏡311和盤 301是否處于水平。當(dāng)確定物鏡311和盤301處于水平時，控制部323 ^^測 物鏡311向上移動然后向下移動時的移動方向改變點(diǎn)作為第一最小偏轉(zhuǎn)加速 點(diǎn)P0。當(dāng)物鏡311向下移動然后向上移動時，控制部323基于等式2確定盤 301和物鏡311處于水平的相位，并^^測第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)Pl。即，確定 在盤的一個轉(zhuǎn)動周期的相位上在物鏡311向下移動期間盤301的表面層或數(shù) 據(jù)層和在物鏡311向上移動期間盤301的表面層或數(shù)據(jù)層是否對稱。當(dāng)確定 盤301的表面層或數(shù)據(jù)層對稱時，這表示物鏡311和盤301處于水平，將此 時的相位檢測為第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)Pl。第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)Pl可以定義 為具有盤301的數(shù)據(jù)層的(-)最大偏轉(zhuǎn)大小的點(diǎn)。
T—UP3 - T—DN3 < DIFF一UPDO麗0
T—UP4 - T—DN4 < DIFF—UPDOWN1 [等式2]
T一UP5 - T—DN5< DIFF—UPDO額2
控制部323選擇等式2限定的三個條件中的至少一個，并確定在物鏡311 向下移動期間盤301的表面層或數(shù)據(jù)層和在物鏡311向上移動期間盤301的 表面層或數(shù)據(jù)層具有對稱性。這樣在物鏡311向下移動然后向上移動時確定 盤301和物鏡311是否處于水平。
在等式2中，"T一DN3"指的是在物鏡311向下移動期間從盤301的數(shù)據(jù) 層檢測到表面層4企測的時間。"T一DN4"指的是在物鏡311向下移動期間從表 面層檢測到物鏡311的移動方向改變的時間。"T—DN5"指的是在物鏡311向 下移動期間從數(shù)據(jù)層檢測到物鏡311的移動方向改變的時間。"T—UP3"指的 是在物鏡311向上移動期間從表面層檢測到數(shù)據(jù)層檢測的時間。"T—UP4"指 的是在物鏡311向上移動期間從物鏡311的移動方向改變到表面層^H則的時 間。"T—UP5"指的是在物鏡311向上移動期間從物鏡311的移動方向改變到 數(shù)據(jù)層4僉測的時間。通過向下聚焦裕度FOD—DOWN—MARGIN來確定當(dāng)物鏡 311向下移動然后向上移動時的移動方向改變點(diǎn)。向下聚焦裕度是用于限制 聚焦致動器驅(qū)動信號的最小值FOD一MIN的裕度，在物鏡311向下移動期間
13檢測到盤301的表面S曲線之后輸出所述聚焦致動器驅(qū)動信號。
當(dāng)作為對稱性確定的結(jié)果確定盤301的表面層和數(shù)據(jù)層沿著物鏡311的 移動方向相對于所述相位具有對稱性時，控制部323 一企測物鏡311向下移動 然后向上移動時的移動方向改變點(diǎn)作為第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)Pl。
此外，控制部323可使用輸出到DAC 324的聚焦致動器驅(qū)動信號FOD 的對稱性來檢測第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)P0和第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)Pl。即，通 過檢查在物鏡311向上移動時盤301的表面層檢測期間的聚焦致動器驅(qū)動信 號的電平(表面層FOD0)和在物鏡311向下移動時盤301的表面層檢測期 間的聚焦致動器驅(qū)動信號的電平(表面層FOD0)是否相同，來確定聚焦致 動器驅(qū)動信號的對稱性。此外，通過檢查在物鏡311向上移動時盤301的數(shù) 據(jù)層檢測期間的聚焦致動器驅(qū)動信號的電平(數(shù)據(jù)層FOD0)和在物鏡311 向下移動時盤301的數(shù)據(jù)層檢測期間的聚焦致動器驅(qū)動信號的電平(數(shù)據(jù)層 FOD0)是否相同，來確定聚焦致動器驅(qū)動信號的對稱性。作為確定的結(jié)果， 當(dāng)聚焦致動器驅(qū)動信號具有對稱性時，控制部323 4全測在物鏡311向上移動 后的移動方向改變點(diǎn)作為第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)P0。
此外，通過檢查在物鏡311向下移動時盤301的表面層檢測期間的聚焦 致動器驅(qū)動信號的電平(表面層F0D1 )和在物鏡311向上移動時盤301的 表面層檢測期間的聚焦致動器驅(qū)動信號的電平(表面層F0D1)是否相同來 確定對稱性。此外，通過檢查在物鏡311向下移動時盤301的數(shù)據(jù)層檢測期 間的聚焦致動器驅(qū)動信號的電平(數(shù)據(jù)層F0D1 )和在物鏡向上移動時盤301 的數(shù)據(jù)層檢測期間的聚焦致動器驅(qū)動信號的電平(數(shù)據(jù)層F0D1)是否相同， 來確定聚焦致動器驅(qū)動信號的對稱性。作為確定的結(jié)果，當(dāng)聚焦致動器驅(qū)動 信號具有對稱性時，控制部323檢測在物鏡311向下移動后的移動方向改變 點(diǎn)作為第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)Pl。
控制部323可將檢測的第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)PO和第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn) Pl轉(zhuǎn)換為在盤301的一個轉(zhuǎn)動周期的相位值PO，和Pl，，并存儲所述相位值。 圖5是基于圖4的最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)檢測的示圖。如圖5所示，使用在圖 4所示的最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)檢測處理中的T—UPO和T^DNO的值來檢測第一最小 偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)P0的相位值P0'，其中，T—UPO和T—DNO具有與DIFF—UPDOWN 相應(yīng)的誤差范圍。此外，如圖5所示，使用TJJP3和T_DN3來檢測第二最 小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)Pl的相位值Pl，， T—UP3和T—DN3具有與DIFFJJPDOWN相應(yīng)的誤差范圍。在圖5中，DIFF—DEV一PHASE指的是相位值PO，和Pl，之間 的180°相位差。180。相位差指的是與盤301的一個轉(zhuǎn)動周期的1/2相應(yīng)的時間。
控制模塊350監(jiān)視并控制圖3所示的光盤驅(qū)動器的操作?？刂颇K350 從用戶或主機(jī)計算機(jī)接收命令，監(jiān)視并控制光盤驅(qū)動器的操作，從而伺服DSP 320如上所迷來4企測最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)。
主軸驅(qū)動器330和主軸電機(jī)335可定義為用于轉(zhuǎn)動載入到光盤驅(qū)動器中 的盤301的轉(zhuǎn)動單元。聚焦驅(qū)動器340和聚焦致動器345根據(jù)從伺服DSP 320 輸出的聚焦致動器驅(qū)動信號FOD沿垂直方向移動物鏡311。
現(xiàn)在參照圖6，示出了根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的光盤驅(qū)動器的框圖。圖6 所示的光盤驅(qū)動器在如圖3所示的盤301的一個轉(zhuǎn)動周期內(nèi)檢測第一最小偏 轉(zhuǎn)加速點(diǎn)PO和第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)Pl,并使用檢測的第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn) PO的相位值PO，和第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)Pl的相位值Pl，來執(zhí)行聚焦引入和/ 或跳層。
如圖6所示，光盤驅(qū)動器包括盤601、拾取部610、 RF放大部615、伺 服數(shù)字信號處理器(以下稱為"伺服DSP"(數(shù)字信號處理器))620、主軸驅(qū) 動器630、主軸電機(jī)635、聚焦驅(qū)動器640、聚焦致動器645和控制模塊650。 圖6所示的盤601、拾取部610、 RF放大部615、主軸驅(qū)動器630、主軸電機(jī) 635、聚焦驅(qū)動器640、聚焦致動器645和控制模塊650以與圖3所示的盤301 、 拾取部310、 RF放大部315、主軸驅(qū)動器330、主軸電機(jī)335、聚焦驅(qū)動器 340、聚焦致動器345和控制模塊350相似的方式配置和操作。
和圖3的伺服DSP320相同，伺服DSP620檢測具有盤601的數(shù)據(jù)層的 (+ )最大偏轉(zhuǎn)大小的第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)P0和具有盤601的數(shù)據(jù)層的(-) 最大偏轉(zhuǎn)大小的第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)Pl,并使用檢測的第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn) PO的相位值PO，和第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)Pl的相位值Pl，來執(zhí)行聚焦引入和/ 或跳層。
即，當(dāng)基于主軸驅(qū)動器630提供的頻率發(fā)生信號識別到盤601的轉(zhuǎn)動開 始時，伺服DSP 620計算聚焦致動器驅(qū)動信號的改變量。當(dāng)檢測到在盤601 的一次轉(zhuǎn)動開始之后與第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)PO相應(yīng)的相位PO，時，伺服DSP 620根據(jù)聚焦致動器驅(qū)動信號的改變量產(chǎn)生聚焦致動器驅(qū)動信號。然后，當(dāng) 檢測到滿足聚焦引入條件的點(diǎn)時，伺服DSP 620對盤601的數(shù)據(jù)層執(zhí)行聚焦引入。
為了進(jìn)行向上聚焦引入，當(dāng)從盤的一個轉(zhuǎn)動開始位置在相位P0，和Pl，
通過聚焦致動器645使物鏡611向上移動，并且檢測到在位置P0，或P1，(其 中，產(chǎn)生180。相位延遲)滿足盤601的數(shù)據(jù)層檢測條件的信號時，產(chǎn)生180° 相位延遲的位置PO'或Pl，被確定為滿足聚焦引入條件的點(diǎn)。
為了如上所述進(jìn)行操作，伺服DSP 620包括ADC 621 、伺服誤差信號檢 測部622、控制部623、開關(guān)624、 DAC 625、相位沖企測部626和聚焦伺服控 制部627。 ADC621、伺服誤差信號檢測部622、 DAC 625和相位檢測部626 與如圖3所示ADC 321、伺服誤差信號檢測部322、 DAC 324和相位檢測部 325相似地配置和^燥作。
圖7是在圖6所示的光盤驅(qū)動器中具有(-)最大偏轉(zhuǎn)大小的最小偏轉(zhuǎn)加 速點(diǎn)周圍的向上聚焦引入的操作時序圖。以下參照圖7描述圖6的聚焦引入 操作。
首先，當(dāng)通過主軸驅(qū)動器630提供的頻率發(fā)生信號FG識別到盤的一個 轉(zhuǎn)動周期開始點(diǎn)時，控制部623使用盤601的轉(zhuǎn)動周期和盤的厚度(直到表 面層和數(shù)據(jù)層檢測的時間)計算FOD的改變量。接著，控制部623保持待機(jī) 狀態(tài)直到基于先前存儲的PO，檢測到與PO，相應(yīng)的點(diǎn)。當(dāng)就檢測到PO，點(diǎn)時， 控制部623產(chǎn)生添加了 FOD的改變量的FOD。在圖7的情況下FOD的改變 量添加到FOD是由于圖7示出了向上聚焦引入的情況。因此，在圖7中，將 FOD的改變量定義為FOD—UP—AMP。對于進(jìn)行向下聚焦引入的情況，控制 部623產(chǎn)生減去FOD改變量的FOD。此時，可通過FOD—DOWN—AMP來定 義FOD的改變量。
控制部623基于伺服誤差信號檢測部622提供的關(guān)于盤601的表面層和 數(shù)據(jù)層的檢測結(jié)果來檢查是否檢測到滿足聚焦引入條件的點(diǎn)。為了滿足聚焦 引入條件，伺服誤差信號檢測部622檢測到的FES電平為Ll或更高的點(diǎn)以 及RFDC伺服誤差信號的電平為L3或更高的點(diǎn)與第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)P1的 相位P1，匹配。當(dāng)一企測到滿足聚焦引入條件的點(diǎn)時，控制部623接通聚焦伺服 控制部627以執(zhí)行聚焦引入。
因此，當(dāng)聚焦伺服控制部627關(guān)斷時，開關(guān)624將從控制部623輸出的 FOD通過DAC 625輸出。當(dāng)聚焦伺服控制部627接通時，開關(guān)624將從聚焦 伺服控制部627輸出的FOD通過DAC 625輸出。
16圖8是在圖6所示的光盤驅(qū)動器中具有(+ )最大偏轉(zhuǎn)大小的最小偏轉(zhuǎn)加
速點(diǎn)周圍的向上聚焦引入的操作時序圖。除了控制部623產(chǎn)生添加了 FOD的 改變量的FOD，以及在與第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)P0相應(yīng)的相位P0，執(zhí)行聚焦引 入以在與第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)Pl相應(yīng)的相位Pl，向上移動物鏡之外，圖8與 圖7相似。
圖9是圖6所示的光盤驅(qū)動器中的跳層的操作時序圖。圖9示出了在相 位Pl，執(zhí)行聚焦引入之后需要通過控制模塊650向上(從低層到高層)的跳層 以及在檢測到相位Pl，點(diǎn)之前需要通過控制模塊650向下(從高層到低層)的 跳層的情況，以解釋向上跳層處理和向下跳層處理。
如圖9所示，當(dāng)在相位Pl，執(zhí)行聚焦引入并且盤的轉(zhuǎn)動開始之后需要通 過控制模塊650向上跳層時，控制部623保持待機(jī)狀態(tài)直到到達(dá)點(diǎn)P0，。當(dāng)?shù)?達(dá)點(diǎn)P0，時，控制部623關(guān)斷聚焦伺服控制部627并通過添加沖擊脈沖產(chǎn)生 FODFODJQCK—UP—AMP。因此，當(dāng)伺服誤差信號檢測部622檢測到滿足跳 層條件的FES電平時，控制部623通過添加制動脈沖產(chǎn)生FOD FOD—BRAKE—UP一AMP。因此，完成跳層?？刂撇?23通過接通聚焦伺服控 制部627來執(zhí)行聚焦引入。
如圖9所示，當(dāng)在檢測到點(diǎn)Pl，之前需要向下跳層時，控制部623保持 待機(jī)狀態(tài)直到到達(dá)點(diǎn)P1'。當(dāng)?shù)竭_(dá)點(diǎn)P1'時，控制部623關(guān)斷聚焦伺服控制部 627并通過減去FOD沖擊脈沖來產(chǎn)生FOD FOD—KICK—DN—AMP。因此，當(dāng) 伺服誤差信號檢測部622檢測到滿足跳層條件的FES電平時，控制部623通 過減去制動脈沖產(chǎn)生FOD FOD一BRAKE—DN—AMP。因此，完成跳層。控制 部623通過接通聚焦伺服控制部627來執(zhí)行聚焦引入。
圖10是解釋根據(jù)本發(fā)明另一示例性實(shí)施例的最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)檢測方法 的流程圖。將參照圖3描述圖IO的操作流程圖。即，當(dāng)伺服DSP320驅(qū)動主 軸驅(qū)動器330和主軸電4幾335時，盤301轉(zhuǎn)動(S1001 )。盤301的轉(zhuǎn)動可包 括在動態(tài)DDT處理中。這表示可在DDT處理中4全測最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)。
接著，伺服DSP320在盤301的一個轉(zhuǎn)動周期內(nèi)才企測盤301的第一最小 偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)(S1002)。當(dāng)?shù)谝蛔钚∑D(zhuǎn)加速點(diǎn)是如圖4所示具有盤301的數(shù) 據(jù)層的(+ )最大偏轉(zhuǎn)大小的點(diǎn)P0時，伺服DSP 320在物鏡311向上移動然 后向下移動時基于盤301的表面層和數(shù)據(jù)層的對稱性或者聚焦致動器驅(qū)動信 號的對稱性來檢測第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)。如圖4所示來執(zhí)行盤301的表面層和數(shù)據(jù)層的對稱性的確定以及聚焦致動器驅(qū)動信號的對稱性的確定。
伺服DSP320在盤301的一個轉(zhuǎn)動周期內(nèi)一企測盤301的第二最小偏轉(zhuǎn)加 速點(diǎn)(S1003 )。當(dāng)?shù)诙钚∑D(zhuǎn)加速點(diǎn)是如圖4所示具有盤301的數(shù)據(jù)層的 (-)最大偏轉(zhuǎn)大小的點(diǎn)P1時，伺服DSP 320在物鏡311向下移動然后向上 移動時基于盤301的表面層和數(shù)據(jù)層的對稱性或者聚焦致動器驅(qū)動信號的對 稱性來檢測第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)。當(dāng)完成盤301的一次轉(zhuǎn)動時，伺服DSP320 完成最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)檢測工作。
圖11是基于盤的表面層和數(shù)據(jù)層的對稱性的圖IO所示的最小偏轉(zhuǎn)加速 點(diǎn)檢測處理的示例的詳細(xì)流程圖。以下將參照圖3來描述圖11的操作流程圖。 首先，伺服DSP32(M全查是否完成物鏡311的向上/向下移動(SllOl)。 物鏡311的向上/向下移動表示檢測到根據(jù)物鏡311的移動方向的關(guān)于盤301 的表面層和數(shù)據(jù)層的位置的信息，并且收集到基于物鏡311進(jìn)行方向改變的 相位確定對稱性的信息。
當(dāng)完成物鏡311的向上/向下移動時，伺服DSP 320基于物鏡進(jìn)行向上/ 向下改變的相位確定盤301的表面層和數(shù)據(jù)層的對稱性(S1102)?？扇鐖D4 所示執(zhí)行對稱性確定。
即，伺服DSP 320通過使用利用在物鏡311的向上移動期間從表面層檢 測到數(shù)據(jù)層4企測的時間T—UP0和在物鏡311的向下移動期間從數(shù)據(jù)層檢測到 表面層檢測的時間T一DNO的第一對稱性確定處理、利用在物鏡311的向上移 動期間從數(shù)據(jù)層檢測到移動方向改變的時間TJJP1和在物鏡311的向下移動 期間從移動方向改變到數(shù)據(jù)層檢測的時間T_DN1的第二對稱性確定處理、以 及利用在物鏡311的向上移動期間從表面層檢測到移動方向改變的時間 T—UP2和在物鏡311的向下移動期間從移動方向改變到表面層;f企測的時間 T一DN2的第三對稱性確定處理中的至少一個，來確定對稱性?？苫谌绲仁?1中的預(yù)定誤差范圍使用臨界值來執(zhí)行對稱性確定。
當(dāng)基于物鏡311進(jìn)行方向改變的相位確定盤301的表面層和數(shù)據(jù)層具有 對稱性時(S1103)，伺服DSP 320檢測物鏡311的移動方向改變的點(diǎn)作為第 一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)PO (S1104)。
接著，伺服DSP 320檢查是否完成物鏡311的下/上(S1105)。物鏡311 的上/下表示當(dāng)物鏡311開始向下移動并完成向上移動時，；險測到根據(jù)物鏡 311的移動方向的關(guān)于盤301的表面層和數(shù)據(jù)層的位置的信息，并且收集到
18用于基于物鏡3 11進(jìn)行方向改變的相位確定對稱性的信息。
當(dāng)完成物4竟311的上/下時，伺月良DSP320基于物《竟311進(jìn)行向上/向下改 變的相位確定盤301的表面層和數(shù)據(jù)層的對稱性(S1106)?？扇鐖D4所示執(zhí) 行對稱性確定。即，可基于如等式2中的預(yù)定誤差范圍使用臨界值來執(zhí)行對 稱性確定。
當(dāng)在S1107中基于物鏡311進(jìn)行方向改變的相位確定盤301的表面層和 數(shù)據(jù)層具有對稱性時，伺服DSP 320檢測物鏡311的移動方向改變的點(diǎn)作為 第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)P1(S1108)。當(dāng)完成盤301的一次轉(zhuǎn)動時，伺服DSP320 完成最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)檢測工作(S1109)。然而，當(dāng)沒有完成盤301的一次轉(zhuǎn) 動時，程序返回到S1101并且重復(fù)執(zhí)行上述處理。此外，當(dāng)作為S1105中檢 查的結(jié)果，基于物鏡311進(jìn)行方向改變的相位確定盤301的表面層和數(shù)據(jù)層 不具有對稱性時，在SllOl中物鏡311的上/下區(qū)間中物鏡311進(jìn)行移動方向 改變的相位不是最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)。因此，伺服DSP320沒有將物鏡311的上/ 下區(qū)間中物鏡311進(jìn)行移動方向改變的相位檢測為最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)，并且程 序進(jìn)行到S1105。
當(dāng)在S1107中基于物鏡311進(jìn)行移動方向改變的相位確定盤301的表面 層和數(shù)據(jù)層不具有對稱性時，在S1105中物鏡311的上/下區(qū)間中物鏡311進(jìn) 行移動方向改變的相位不是最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)。因此，程序從S1107進(jìn)行到 S1109，從而伺服DSP320沒有將在S1105中物鏡311的上/下區(qū)間中物鏡311 進(jìn)行移動方向改變的相位檢測為最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)。
圖12是圖10所示的最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)檢測處理的另一示例性實(shí)施例的詳 細(xì)流程圖，其中，使用聚焦致動器驅(qū)動信號FOD來檢測最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)。
首先，伺服DSP320檢查是否完成物鏡311的上/下(S1201 )。物鏡311 的上/下表示當(dāng)物鏡311開始向上移動并完成向下移動時，檢測到根據(jù)物鏡 311的移動方向的關(guān)于盤301的表面層和數(shù)據(jù)層的位置的信息，并且收集到 用于基于物鏡311進(jìn)行方向改變的相位確定是否具有對稱性的信息。
當(dāng)完成物鏡311的上/下時，伺服DSP320基于物鏡311進(jìn)行方向改變的 相位在盤301的表面層或數(shù)據(jù)層檢測期間確定聚焦致動器驅(qū)動信號FOD的對 稱性(S1202)。
可如圖4所示執(zhí)行對稱性確定。即，伺服DSP320通過使用利用在物鏡 311的向上移動期間盤301的表面層檢測中的聚焦致動器驅(qū)動信號和在物鏡311的向下移動期間盤301的表面層檢測中的聚焦致動器驅(qū)動信號的第一對
稱性確定處理、以及利用在物鏡311的向上移動期間盤301的數(shù)據(jù)層檢測中 的聚焦致動器驅(qū)動信號和在物鏡311的向下移動期間盤301的數(shù)據(jù)層檢測中 的聚焦致動器驅(qū)動信號的第二對稱性確定處理中的至少一個，來確定對稱性。
當(dāng)確定基于物鏡311進(jìn)行方向改變的相位從盤301的表面層或數(shù)據(jù)層檢 測的聚焦致動器驅(qū)動信號具有對稱性時(S1203 )，伺服DSP 320檢測物鏡311 的移動方向改變點(diǎn)作為第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)PO (S1204)。
接著，伺服DSP320檢查物鏡311的下/上是否完成(S1205 )。物鏡311 的上/下表示當(dāng)物鏡311開始向下移動并完成向上移動時，檢測到根據(jù)物鏡 311的移動方向的關(guān)于盤301的表面層和數(shù)據(jù)層的位置的信息，并且收集到
當(dāng)物鏡311的上/下完成時，伺服DSP 320基于物鏡311進(jìn)行上/下方向改 變的相位在盤301的表面層或數(shù)據(jù)層檢測期間確定聚焦致動器驅(qū)動信號的對 稱性(S1206)。可如圖4所示執(zhí)行對稱性確定。
當(dāng)在S1207基于物鏡311進(jìn)行方向改變的相位確定在盤301的表面層或 數(shù)據(jù)層檢測期間聚焦致動器驅(qū)動信號具有對稱性時，伺服DSP 320檢測物鏡 311的移動方向改變點(diǎn)作為第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)Pl (S1208 )。當(dāng)完成盤301 的一次轉(zhuǎn)動時，伺服DSP320完成最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)檢測工作(S1209 )。然而， 當(dāng)沒有完成盤301的一次轉(zhuǎn)動時，程序返回到S1201并且重復(fù)執(zhí)行上述處理。 此外，當(dāng)作為S1203中檢查的結(jié)果，確定在盤301的表面層或數(shù)據(jù)層檢測期 間聚焦致動器驅(qū)動信號不具有對稱性時，在S1201中物鏡311的上/下區(qū)間中 物鏡311進(jìn)行移動方向改變的相位不是最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)。因此，伺服DSP320 沒有將該相位檢測為最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)，并且程序進(jìn)行到S1205。
當(dāng)在S1207基于物鏡311進(jìn)行移動方向改變的相位確定在盤301的表面 層或數(shù)據(jù)層檢測期間聚焦致動器驅(qū)動信號不具有對稱性時，在S1205中物鏡 311的上/下區(qū)間中物《竟311進(jìn)行移動方向改變的相位不是最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)。 因此，伺服DSP 320沒有將該相位檢測為最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)，并且程序進(jìn)行到 S1209。
根據(jù)圖11或圖12，在盤的一個轉(zhuǎn)動周期內(nèi)可能根本沒有檢測到最小偏 轉(zhuǎn)加速點(diǎn)，或者可能檢測到一個、兩個或更多個最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)。當(dāng)在盤的 一次轉(zhuǎn)動周期內(nèi)沒有檢測到最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)或者檢測到一個最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)
20時，可修改圖11或圖12的最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)檢測處理的示例性實(shí)施例，從而 在對稱性確定中調(diào)節(jié)誤差范圍(例如，臨界值)之后，再次執(zhí)行圖11或圖 12中限定的最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)檢測處理。
即，可將圖11或圖12的最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)檢測處理修改為包括確定在 確定圖11或圖12所示的盤的一次轉(zhuǎn)動是否完成之后才企測的最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn) 的數(shù)量是否不大于1;當(dāng)檢測的最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)的數(shù)量不大于1時，在調(diào)節(jié) 用于對稱性確定的誤差范圍之后返回到第一操作；當(dāng)檢測到的最小偏轉(zhuǎn)加速 點(diǎn)的數(shù)量大于1時，完成最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)檢測工作。
圖13是根據(jù)本發(fā)明另 一 示例性實(shí)施例的聚焦引入方法的操作流程圖。將 參照圖6描述圖13的操作。
首先，圖13的操作S1301至S1303與圖10的操作1001至1004相似。 因此，當(dāng)在盤的一個轉(zhuǎn)動周期內(nèi)檢測到第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)P0和第二最小偏 轉(zhuǎn)加速點(diǎn)P1時，伺服DSP620檢查檢測到的最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)的數(shù)量是否為3 或更多(S1305 )。作為檢查的結(jié)果，當(dāng)檢測到的最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)的數(shù)量不是 3或更多時，伺服DSP 620檢查檢測到的最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)的數(shù)量是否為l或 更少(S1306 )。作為檢查的結(jié)果，當(dāng)檢測到的最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)的數(shù)量是1或 更少時，調(diào)節(jié)用于對稱性確定的誤差范圍，例如，等式1和等式2中的臨界 值DIFF—UPDOWNO、 DIFF—UPD0WN1和DIFF—UPDOWN2。即，可調(diào)節(jié)誤 差范圍以使臨界值DIFF—UPDOWNO、 DIFF—UPD0WN1和DIFF—UPD0WN2 更大。接著，程序返回到S1301并且伺服DSP 620執(zhí)行檢測最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn) 的處理。
然而，作為S1306中檢查的結(jié)果，當(dāng)檢測到的最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)的數(shù)量不 是1或更少時，伺服DSP 620存儲與在S1302中檢測到的第一最小偏轉(zhuǎn)加速 點(diǎn)PO相應(yīng)的相位值PO，和與在S1303中檢測到的第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)Pl相 應(yīng)的相位值P1， (S1308 )。
伺服DSP620檢查存儲的P0，和P1，之間的相位差是否為180。±a(S1309)。 常數(shù)a時裕度相位。作為4企查的結(jié)果，當(dāng)PO，和Pl，之間的相位差是180°±a 時，伺服DSP620使用存儲的P0，和P1，來執(zhí)行聚焦引入(S1310)。
如圖14所示執(zhí)行S1310中的聚焦引入。圖14是圖13所示的聚焦引入處 理的詳細(xì)流程圖。參照圖14,當(dāng)?shù)弥P601的一次轉(zhuǎn)動開始時，祠服DSP620 計算聚焦致動器驅(qū)動信號的改變量(S1401和S1402)?？扇鐖D6和圖7所示來計算聚焦致動器驅(qū)動信號的改變量。
在盤601的一次轉(zhuǎn)動開始之后，當(dāng)檢測到第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)時
(S1403 )，伺服DSP 620通過應(yīng)用聚焦致動器驅(qū)動信號的改變量來產(chǎn)生聚焦 致動器驅(qū)動信號并移動物鏡611 (S1404)。即，當(dāng)聚焦引入是向上聚焦引入 時，產(chǎn)生添加了聚焦致動器驅(qū)動信號的改變量的聚焦致動器驅(qū)動信號以移動 物鏡611。當(dāng)聚焦引入是向下聚焦引入時，產(chǎn)生減去聚焦致動器驅(qū)動信號的 改變量的聚焦致動器驅(qū)動信號以移動物鏡611。
因此，當(dāng)檢測到滿足聚焦引入條件的點(diǎn)時(S1405 ),伺服DSP620接通 聚焦伺服控制部627以對盤601執(zhí)行聚焦引入。這里，聚焦引入條件與圖6 和圖7所述的聚焦引入條件相似。
作為圖13的S1305中檢測的結(jié)果，當(dāng)檢測到的最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)的數(shù)量是 3或更多時，或者在Si309中PO，和Pl，之間的相位差不是180?；?80。士a時， 因?yàn)楸P601的偏轉(zhuǎn)很小，所以伺服DSP 620不考慮偏轉(zhuǎn)來執(zhí)行聚焦引入
(S1311 )。
圖15是根據(jù)本發(fā)明另一示例性實(shí)施例的跳層方法的操作流程圖?？稍趫D 13的聚焦引入之后執(zhí)行圖15的方法。下面將參照圖6來描述圖15的操作。
在發(fā)現(xiàn)需要跳層之后，當(dāng)?shù)弥P601的一次轉(zhuǎn)動開始并且檢測到第一最 小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)時，伺服DSP620關(guān)斷聚焦祠服控制部627 (S1501、 S1502和 S1503 )。根據(jù)需要跳層時的點(diǎn)，第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)可以是具有盤601的數(shù) 據(jù)層的(+ )最大偏轉(zhuǎn)大小的第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)和具有盤601的數(shù)據(jù)層的(-) 最大偏轉(zhuǎn)大小的第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)之一。
接著，伺服DSP620根據(jù)如圖9所示的跳層方向產(chǎn)生添加或減去沖擊脈 沖的聚焦致動器驅(qū)動信號(S1504)。當(dāng)相應(yīng)產(chǎn)生的聚焦誤差信號的電平滿足 跳層條件時(S1505 )，伺服DSP 620根據(jù)跳層方向產(chǎn)生添加或減去制動脈沖 的聚焦致動器驅(qū)動信號從而完成跳層(S1506)?？尚薷膱D15,從而可在接收 到盤的一次轉(zhuǎn)動開始通知之后輸入跳層要求。
執(zhí)行#4居本發(fā)明的最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)^企測、聚焦引入和跳層方法的程序還 可實(shí)現(xiàn)為計算機(jī)可讀記錄介質(zhì)上的計算機(jī)可讀代碼。計算機(jī)可讀記錄介質(zhì)為 任何可存儲其后能由計算機(jī)系統(tǒng)讀取的數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)存儲裝置。所述計算機(jī)可 讀記錄介質(zhì)的例子包括只讀存儲器(ROM)、隨機(jī)存取存儲器(RAM)、 CD-ROM、磁帶、軟盤、光學(xué)數(shù)據(jù)存儲裝置和載波(諸如通過互聯(lián)網(wǎng)的數(shù)據(jù)
22傳輸)。所述計算機(jī)可讀記錄介質(zhì)也可分布于網(wǎng)絡(luò)連接的計算機(jī)系統(tǒng)上，以便 所述計算機(jī)可讀代碼以分布方式被存儲并被執(zhí)行。
雖然已經(jīng)顯示和描述了本發(fā)明的示例性實(shí)施例，但是本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng) 該理解，在不脫離本發(fā)明的范圍的實(shí)際情況下，隨著技術(shù)發(fā)展，可進(jìn)行各種 改變和修改，并可使用等同物來替換部件?？稍诓幻撾x本發(fā)明的范圍的情況 下進(jìn)行許多修改、置換、添加和變形，以將本發(fā)明的教導(dǎo)應(yīng)用于具體情況。 因此，本發(fā)明不限于公開的各種示例性實(shí)施例，本發(fā)明包括落入權(quán)利要求的 范圍內(nèi)的所有實(shí)施例。
權(quán)利要求
1、一種在光盤驅(qū)動器中檢測最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)的方法，所述方法包括轉(zhuǎn)動載入到光盤驅(qū)動器中的盤；在盤的一次轉(zhuǎn)動周期內(nèi)檢測盤的第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)；在盤的一次轉(zhuǎn)動周期內(nèi)檢測盤的第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，當(dāng)設(shè)置在光盤驅(qū)動器中的物鏡向 上移動然后向下移動時，基于物鏡的移動方向改變的相位使用盤的表面層和 數(shù)據(jù)層的對稱性來片企測第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)。
3、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中，當(dāng)物鏡向下移動然后向上移動時， 基于物鏡的移動方向改變的相位使用盤的表面層和數(shù)據(jù)層的對稱性來檢測第 二最小偏轉(zhuǎn)力口速點(diǎn)。
4、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其中，使用利用在物鏡的向上移動期間 從表面層檢測到數(shù)據(jù)層檢測的時間和在物鏡的向下移動期間從數(shù)據(jù)層檢測到 表面層檢測的時間的第 一對稱性確定處理、利用在物鏡的向上移動期間從數(shù) 據(jù)層檢測到移動方向改變的時間和在物鏡的向下移動期間從移動方向改變到 數(shù)據(jù)層^f全測的時間的第二對稱性確定處理、以及利用在物鏡的向上移動期間 從表面層4全測到移動方向改變的時間和在物鏡的向下移動期間從移動方向改 變到表面層^f全測的時間的第三對稱性確定處理中的至少 一個，來確定對稱性。
5、 根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其中，基于預(yù)定誤差范圍使用臨界值來 執(zhí)行對稱性確定。
6、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，使用光盤驅(qū)動器的聚焦致動器驅(qū) 動信號(FOD)的對稱性來檢測第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)和第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)。
7、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其中，通過使用利用在光盤驅(qū)動器中設(shè) 置的物鏡的向上移動期間盤的表面層檢測中的聚焦致動器驅(qū)動信號和在物鏡 的向下移動期間盤的表面層檢測中的聚焦致動器驅(qū)動信號的第 一對稱性確定 處理、以及利用在物鏡的向上移動期間盤的數(shù)據(jù)層檢測中的聚焦致動器驅(qū)動 信號和在物鏡的向下移動期間盤的數(shù)據(jù)層檢測中的聚焦致動器驅(qū)動信號的第 二對稱性確定處理中的至少 一個，來確定對稱性。
8、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，在盤類型檢測處理期間檢測第一 最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)和第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)。
9、 一種用于光盤驅(qū)動器的聚焦引入方法，所述方法包括當(dāng)?shù)弥d入到光盤驅(qū)動器中的盤的 一個轉(zhuǎn)動周期開始時，計算聚焦致動 器驅(qū)動信號的改變量；當(dāng)在盤的轉(zhuǎn)動開始之后檢測到第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)時，根據(jù)聚焦致動器 驅(qū)動信號的改變量產(chǎn)生聚焦致動器驅(qū)動信號；當(dāng)檢測到滿足聚焦？i入條件的點(diǎn)時，對盤執(zhí)行聚焦引入。
10、 根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其中，當(dāng)設(shè)置在光盤驅(qū)動器中的物鏡向上移動然后向下移動時，基于物鏡的移動方向改變的相位使用盤的表面層 和數(shù)據(jù)層的對稱性來檢測第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)。
11、 根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其中，當(dāng)聚焦引入是向上聚焦引入時， 產(chǎn)生聚焦致動器驅(qū)動信號的步驟產(chǎn)生添加了聚焦致動器驅(qū)動信號的改變量的 聚焦致動器驅(qū)動信號。
12、 根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其中，聚焦引入是向下聚焦引入時， 產(chǎn)生聚焦致動器驅(qū)動信號的步驟產(chǎn)生減去聚焦致動器驅(qū)動信號的改變量的聚 焦致動器驅(qū)動信號。
13、 根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其中，使用與完成盤的轉(zhuǎn)動所需的時 間長度相應(yīng)的時間和盤的厚度來計算聚焦致動器驅(qū)動信號的改變量。
14、 根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其中，滿足聚焦引入條件的點(diǎn)是在盤 的轉(zhuǎn)動開始之后檢測到第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)處聚焦誤差信號(FES)的電平 和RFDC伺服誤差信號的電平滿足盤的數(shù)據(jù)層檢測條件的點(diǎn)。
15、 一種用于光盤驅(qū)動器的跳層方法，所述方法包括當(dāng)在發(fā)現(xiàn)需要跳層之后檢測到第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)時，關(guān)斷光盤驅(qū)動器的聚焦伺服控制部；根據(jù)跳層方向產(chǎn)生添加或減去沖擊脈沖的聚焦致動器驅(qū)動信號；當(dāng)聚焦誤差信號的電平滿足跳層條件時，根據(jù)跳層方向產(chǎn)生添加或減去制動脈沖的聚焦致動器驅(qū)動信號。
16、 根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其中,當(dāng)設(shè)置在光盤驅(qū)動器中的物鏡 向上移動然后向下移動時，基于物鏡的移動方向改變的相位使用光盤的表面 層和數(shù)據(jù)層的對稱性來檢測第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)。
17、 根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其中，在轉(zhuǎn)動載入到光盤驅(qū)動器中的 盤時執(zhí)行所述方法。
18、 根據(jù)權(quán)利要求.5所述的方法，其中，第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)是具有盤 的數(shù)據(jù)層的(+ )最大偏轉(zhuǎn)大小的第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)和具有盤的數(shù)據(jù)層的(-) 最大偏轉(zhuǎn)大小的第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)之一。
19、 一種存儲有執(zhí)行根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法的程序的計算機(jī)可讀介
20、 一種光盤驅(qū)動器，包括 載入到光盤驅(qū)動器中的盤； 轉(zhuǎn)動單元，轉(zhuǎn)動所述盤；伺服數(shù)字信號處理器，在盤的轉(zhuǎn)動周期內(nèi)檢測第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)和第 二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)，并根據(jù)加速點(diǎn)的檢測產(chǎn)生聚焦致動器驅(qū)動信號。
21、 根據(jù)權(quán)利要求20所述的光盤驅(qū)動器，其中，當(dāng)設(shè)置在光盤驅(qū)動器中 的物鏡向上移動然后向下移動時，基于物鏡的移動方向改變的相位使用盤的 表面層和數(shù)據(jù)層的對稱性來檢測第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)。
22、 根據(jù)權(quán)利要求20所述的光盤驅(qū)動器，其中，第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)是 具有盤的數(shù)據(jù)層的(+ )最大偏轉(zhuǎn)大小的點(diǎn)和第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)是具有盤的 數(shù)據(jù)層的(-)最大偏轉(zhuǎn)大小的點(diǎn)。
23、 根據(jù)權(quán)利要求22所述的光盤驅(qū)動器，其中，當(dāng)基于轉(zhuǎn)動單元提供的 頻率發(fā)生信號識別到盤的轉(zhuǎn)動開始時，伺服數(shù)字信號處理器計算聚焦致動器 驅(qū)動信號的改變量，當(dāng)在轉(zhuǎn)動開始之后檢測到第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)時，根據(jù) 聚焦致動器驅(qū)動信號的改變量產(chǎn)生聚焦致動器驅(qū)動信號，并且當(dāng)檢測到滿足 聚焦引入條件的點(diǎn)時控制對盤的聚焦引入。
24、 根據(jù)權(quán)利要求23所述的光盤驅(qū)動器，其中，滿足聚焦引入條件的點(diǎn) 是在盤的轉(zhuǎn)動開始之后檢測到第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)處聚焦誤差信號(FES) 的電平和RFDC伺服誤差信號的電平滿足盤的數(shù)據(jù)層檢測條件的點(diǎn)。
25、 根據(jù)權(quán)利要求20所述的光盤驅(qū)動器，其中，當(dāng)需要跳層時，伺服數(shù) 字信號處理器在發(fā)現(xiàn)需要跳層之后檢測到第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)時，停止聚焦 伺服控制操作，根據(jù)跳層方向產(chǎn)生添加或減去沖擊脈沖的聚焦致動器驅(qū)動信 號，并且當(dāng)聚焦誤差信號的電平滿足跳層條件時，根據(jù)跳層方向產(chǎn)生添加或 減去制動脈沖的聚焦致動器驅(qū)動信號。
26、 根據(jù)權(quán)利要求22所述的光盤驅(qū)動器，其中，根據(jù)需要跳層的時間點(diǎn)， 第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)是第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)和第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)之一。
27、 一種基于載入到光盤驅(qū)動器中的光盤的最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)的檢測操作 光盤驅(qū)動器的方法，所述方法包括使光盤轉(zhuǎn)動；在盤的一個轉(zhuǎn)動周期內(nèi)檢測光盤的第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)和第二最小偏轉(zhuǎn) 力口速,泉；基于第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)和第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)與預(yù)設(shè)的第一最小偏轉(zhuǎn) 加速點(diǎn)和第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)之間的各自的差產(chǎn)生伺服控制信號，來控制物 鏡的位置和方向，從而將信息記錄到光盤和/或從光盤再現(xiàn)信息。
28、 根據(jù)權(quán)利要求27所述的方法，其中，當(dāng)設(shè)置在光盤驅(qū)動器中的物鏡 向上移動然后向下移動時，基于物鏡的移動方向改變的相位使用盤的表面層 和數(shù)據(jù)層的對稱性來檢測第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)。
全文摘要
最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)檢測、聚焦引入和跳層方法以及能夠執(zhí)行所述方法的光盤驅(qū)動器。在光盤驅(qū)動器中檢測最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)的方法包括轉(zhuǎn)動載入到光盤驅(qū)動器中的盤；在盤的一次轉(zhuǎn)動周期內(nèi)檢測盤的第一最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)；在盤的一次轉(zhuǎn)動周期內(nèi)檢測盤的第二最小偏轉(zhuǎn)加速點(diǎn)。因此，可得到穩(wěn)定的聚焦引入和跳層。
文檔編號G11B7/09GK101490753SQ200780026268
公開日2009年7月22日 申請日期2007年7月12日 優(yōu)先權(quán)日2006年8月25日
發(fā)明者樸永在, 辛鐘玄, 鄭甲均 申請人:三星電子株式會社