專利名稱：測試磁盤驅(qū)動器的磁盤介質(zhì)上的伺服數(shù)據(jù)的方法和裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及硬盤驅(qū)動器。更具體地，本發(fā)明涉及對計算用于伺服控制
的RRO校正值的方法的改進(jìn)。
背景技術(shù)：
在大多數(shù)磁盤驅(qū)動器中，其中一個有代表性的例子是硬盤驅(qū)動器，依 照在磁盤介質(zhì)，即數(shù)據(jù)記錄介質(zhì)上記錄的伺服數(shù)據(jù)(伺服圖形(servo pattern))控制磁頭的定位。也就是說，依照所i^/磁頭已經(jīng)讀出的所述祠 服數(shù)據(jù)，將所t磁頭移動到所i^盤介質(zhì)上的目標(biāo)位置(即，目標(biāo)磁道)。 每一個磁頭在磁盤介質(zhì)上的所述目標(biāo)位置寫入或讀出數(shù)據(jù)。
在被包括在所池磁盤驅(qū)動器的制造過程中的伺服寫入部分，將所述伺 月艮數(shù)據(jù)記錄在磁盤介質(zhì)上。近來， 一種寫入祠服數(shù)據(jù)的方法已經(jīng)被提出， 其能夠有效地寫入伺服數(shù)據(jù)。在這種方法中，以被用作基本圖形的螺旋伺 服圖形或多螺旋伺服圖形的形式將所述伺服數(shù)據(jù)記錄在所^盤介質(zhì)上。 通過利用所述基本圖形，伺月艮數(shù)據(jù)，即，同心伺服圖形，被寫入所M盤 介質(zhì)。(參見，例如，USP5，668，697和USP6，965,486B1。)
所述同心伺服圖形由在所述磁盤介質(zhì)的圓周方向上以規(guī)則間隔布置在 一個磁道上的多個伺服扇區(qū)組成。所述同心伺服圖形意味著由這些祠服扇 區(qū)組成的許多伺服磁道。在每一個伺服扇區(qū)中記錄了包含所逸磁道和扇區(qū) 的地址碼以及祠服脈沖模式(servo-burst pattern)的伺服數(shù)據(jù)。
在所述伺服寫入部分中，由于所it^盤介質(zhì)旋轉(zhuǎn)時的擺動，這也被稱 為磁盤偏離(run-out)或可重復(fù)偏離(RRO)，伺服數(shù)據(jù)被寫入為變形的 同心磁道，而非理想的同心磁道。所ii^道的這種變形被稱作伺服磁道寫 入RRO (STW-RRO)。如果使用被記錄在這種變形的伺月艮磁道中的伺服 數(shù)據(jù)，在數(shù)據(jù)的讀/寫中將所述磁頭定位于所述目標(biāo)磁道時可能出現(xiàn)大的誤 差，或用戶數(shù)據(jù)被記錄在其中的數(shù)據(jù)磁道可能被以不均勻的間距布置。
每當(dāng)通過利用從所it^盤介質(zhì)再生的伺月良數(shù)據(jù)來控制磁頭位置時，為 了防止這種磁頭定位錯誤或這種不均勻的數(shù)據(jù)磁道間距，磁盤驅(qū)動器的所 述祠服系統(tǒng)(更精確地，所^盤驅(qū)動器的主控制器，即CPU)進(jìn)行利用 用于抑制STW-RRO的STW-RRO校正值的校正處理。(在下文中，所述 STW-RRO校正值將被稱為校正值。)結(jié)果，所逸磁頭能夠跟從幾乎與所 要的一樣同心的數(shù)據(jù)磁道，由此能夠高精度地讀寫所述用戶數(shù)據(jù)。
在磁盤驅(qū)動器的制造過程中，在已經(jīng)將所述祠月良數(shù)據(jù)寫入各磁盤介質(zhì) 中之后，執(zhí)行一種所謂的自運(yùn)行測試。該測試包括伺服數(shù)據(jù)測試。在所述 伺服數(shù)據(jù)測試中，在已經(jīng)將所i^盤介質(zhì)并入到將被組裝為產(chǎn)品的磁盤驅(qū) 動器中之后，進(jìn)行所述磁頭定位控制，其中在所述伺服寫入部分中每一個 磁盤介質(zhì)都具有伺服數(shù)據(jù)記錄在其上。
一種獲取校正值的方法已經(jīng)被提出用于上述自運(yùn)行測試中。該方法通 過反復(fù)計算獲得校正值。(參見，例如，USP 6,061,220和USP 6,529,362。) 在這種方法中，被包括在各個磁頭中的讀磁頭從一個磁盤介質(zhì)上的各個伺 服扇區(qū)讀出伺服數(shù)據(jù)，并且計算^L^復(fù)進(jìn)行，從而提供能夠抑制STW-RRO
因此，在所述自運(yùn)行測試中用于抑制所述STW-RRO的校正值被計算。 如此計算出的所述校正值可以被記錄在，例如，在所ii/磁盤介質(zhì)上設(shè)置的 伺服扇區(qū)中。于是，在所述磁頭定位控制期間，所述STW-RRO能夠被補(bǔ) 償。
然而，因為每一個磁盤介質(zhì)具有許多磁道，在所述自運(yùn)行測試中計算 校正值需要很長的時間。所需的時間很長，特別是由于高記錄密度的介質(zhì)， 其具有大量的磁道。計算所述校正值的處理將是使所ii^盤驅(qū)動器的制造 過程延長的一個因素。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是縮短在磁盤驅(qū)動器的所述自運(yùn)行測試中計算校正值所 需的時間，從而提高制造所i^t盤驅(qū)動器的效率。
根據(jù)本發(fā)明的一個方面的磁盤驅(qū)動器包括寫入和讀出數(shù)據(jù)的磁頭； 具有基本上同心的伺服磁道的磁盤介質(zhì)，每一個磁道由多個伺服扇區(qū)形成， 在其中伺服數(shù)據(jù)被記錄用于所述磁頭的定位控制；磁頭移動機(jī)構(gòu)，其被配
位置；計算單元，其利用所述磁頭已經(jīng)從所ii^盤介質(zhì)讀出的伺服數(shù)據(jù)，
的變化的校正值；計算控制單元，其控制所述計算單元，并使得所述計算 單元為已指定的伺服磁道之一計算校正值，并將如此計算出的校正值存儲 到存儲單元中；以及控制器，其利用從所述存儲單元讀出的所述祠服數(shù)據(jù) 和所述校正值，從而控制所述磁頭移動機(jī)構(gòu)并將所逸磁頭定位于已指定的 伺服磁道。


所述附圖，其4皮引入并構(gòu)成本說明書的一部分，用圖示說明了本發(fā)明 的實施例，并與上面給出的一般性描述，以及下面給出的實施例的詳細(xì)描 述一起，用于解釋本發(fā)明的原理。
圖1是示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的伺服磁道寫入器的主要組件 的框圖2是解釋了所述實施例中在磁盤介質(zhì)上記錄的伺月良數(shù)據(jù)的示圖； 圖3是示出了根據(jù)所述實施例的伺服扇區(qū)的結(jié)構(gòu)的示圖； 圖4是示出了根據(jù)所述實施例的磁盤驅(qū)動器的主要組件的框圖； 圖5是闡明了根據(jù)所述實施例的伺服圖形的例子的示圖； 圖6A和6B是解釋了根據(jù)所述實施例的在自伺服寫入過程中進(jìn)行的尋 道速度和加速的示圖7是示出了根據(jù)所述實施例的多螺旋祠服圖形的放大圖的示圖8是示出了根據(jù)所述實施例的螺旋伺服圖形的結(jié)構(gòu)的示圖9是解釋了在所述實施例中由所述祠月l磁道的變形導(dǎo)致的相關(guān)和去 相關(guān)的圖形示圖IO是解釋了在所述實施例中計算校正值的順序的流程圖。
具體實施例方式
將參照所述附圖描述本發(fā)明的實施例。 (伺服寫入處理)
圖1到5說明了根據(jù)本實施例在磁盤驅(qū)動器的制造過程中將伺服數(shù)據(jù) 寫入磁盤介質(zhì)10的伺服寫入處理。圖1是示出了在所述伺服寫入處理中的 使用的伺月l磁道寫入器(STW)的主要組件的框圖。
像在大多數(shù)情況下一樣，所述祠月l磁道寫入器被安裝在無塵室中。它 將伺服數(shù)據(jù)寫入迄今沒有在其上記錄數(shù)據(jù)的磁盤介質(zhì)10。所述祠服磁道寫 入器具有主軸電機(jī)ll，伺Jil磁頭12，磁頭驅(qū)動機(jī)構(gòu)13,控制器14，寫入 控制單元15，時鐘頭16，以及主時鐘單元17。所述祠服磁頭12被設(shè)置以 寫入伺服圖形。
控制器14控制磁頭驅(qū)動機(jī)構(gòu)13，其將伺服磁頭12移動至通過主軸電 機(jī)11旋轉(zhuǎn)的磁盤介質(zhì)10上的指定位置。寫入控制單元15提供祠服數(shù)據(jù)給 伺月良磁頭12。依照所述伺月艮數(shù)據(jù)，伺月良磁頭12在磁盤介質(zhì)10上的指定位 置寫入伺月艮圖形。
在本實施例中，所述伺服磁道寫入器在磁盤介質(zhì)10上寫入螺旋伺服圖 形50，如圖5中所示。所述螺旋伺服圖形被用作基本圖形。實際上，所述 基本圖形是一個多螺旋伺服圖形，其被記錄在磁盤介質(zhì)10上并由多個螺旋 伺服圖形組成。
進(jìn)一步地，如圖2中所示，通過自伺服寫入方法在》茲盤介質(zhì)IO上寫入 同心伺服圖形。在所述自伺服寫入方法中，在其上已經(jīng)通過所述伺服磁道 寫入器寫入所述基本圖形的磁盤介質(zhì)10，如從圖4所能夠理解的被包括在 磁盤驅(qū)動器20中。將被組裝為產(chǎn)品的所述磁盤驅(qū)動器20在記錄于所i^盤介質(zhì)10上的所述基本圖形的基礎(chǔ)上寫入同心伺服圖形。
如圖2中所示，所述同心伺服圖形由構(gòu)成伺月Mt道的伺服扇區(qū)100組
成。換句話說，每一個伺月良磁道由在圓周方向上以規(guī)則間隔布置的多個祠
服扇區(qū)100 (在此8個伺服扇區(qū))組成。如圖3中所示，每一個伺服扇區(qū) 100包括前置區(qū)101,伺服標(biāo)記102，扇區(qū)地址103,柱面(磁道)地址104， 以及祠月l脈沖模式(A到D) 105。伺月良扇區(qū)100還包括后置區(qū)(PAD)。
如圖4中所示，磁盤驅(qū)動器20具有磁頭22 (包括讀磁頭和寫磁頭)， 致動器(磁頭移動機(jī)構(gòu))21，磁頭放大器23，以及電路板24。致動器21 掌控著磁頭22 (即，讀磁頭和寫磁頭)。電路板24容納讀/寫通道25，微 處理器(CPU) 29,以及電機(jī)驅(qū)動器30。讀/寫通道25包括祠服系統(tǒng)電路 26到28。
讀/寫通道25是信號處理電路，其處理用于讀出和寫入祠服數(shù)據(jù)和用 戶數(shù)據(jù)的讀/寫信號。所述祠服系統(tǒng)電路為檢測器26、解調(diào)器27以及祠服 格式器28。檢測器26檢測扇區(qū)地址103和柱面地址104。解調(diào)器27解調(diào) 伺月艮脈沖模式105。在CPU29的控制下，電機(jī)驅(qū)動器30驅(qū)動主軸電機(jī)11 和致動器21中設(shè)置的音圏電機(jī)。
CPU 29 ^|_磁盤驅(qū)動器20的主控制器。才艮據(jù)本實施例在自伺服寫入處 理和自運(yùn)行測試期間它進(jìn)行計算處理以計算用于抑制STW-RRO變化的校 正值(STW-RRO校正值)。 (計算校正值的處理)
在本實施例中，在自伺服寫入處理之后進(jìn)行的自運(yùn)行測試期間，CPU 29計算各個扇區(qū)的校正值(即，STW-RRO校正值)。如此計算出的校正 值,皮存儲在所述伺服扇區(qū)的指定區(qū)域。下面將說明計算該校正值的處理。
在所述自運(yùn)行測試中，對于已經(jīng)在所述自伺服寫入處理中將伺服數(shù)據(jù) 寫于其上的磁盤^h質(zhì)10進(jìn)行磁頭定位控制。從而執(zhí)行伺服測試處理以測量 磁頭定位精度。
在所述自伺服寫入處理中，CPU 29首先使得磁頭22 i^U^所述螺旋祠 服圖形，即，基本圖形50，其被記錄在磁盤介質(zhì)10上，如上所述。CPU29
然后使得磁頭22在磁盤介質(zhì)10上寫入同心伺服圖形(形成伺月l^道的伺 月良扇區(qū)100 ),如圖2和圖3中所示。當(dāng)磁盤驅(qū)動器20被組裝為產(chǎn)品時如 此寫入的同心伺服圖形被使用。 (STW-RRO )
在磁盤介質(zhì)10上記錄的基本圖形50是一個螺旋伺服圖形。如圖5所 示，它具有特定的長度并且是由約200到300個螺旋伺服圖形組成的多螺 旋圖形。
圖6A和6B是說明了依照所述多螺旋祠服圖形在所述自伺服寫入處理 中移動磁頭22的尋道操作的示圖。更精確地，圖6A示出了全程尋道軌道 (full-stroke seek orbit)，而圖6B示出了磁頭22沿所述尋道軌道移動時 的力口速。
本實施例的自伺服寫入處理是利用如基本圖形50的螺旋伺服圖形的 寫入伺服數(shù)據(jù)的處理。因此，能夠在單個的全磁道尋道操作中寫入所述同 心伺服圖形。這能夠極大地縮短寫入所述伺服數(shù)據(jù)所需的時間。
如示出了磁頭22依照所述多螺旋伺服圖形在所述自伺服寫入處理中 取W的全程尋道軌道的圖6A所示，由虛線602指示的最大尋ilil度不同 于磁頭22沿著由實線601指示的標(biāo)稱軌道移動時的標(biāo)稱尋道速度。雖然如 此，磁頭沿著由虛線602指示的軌道以恒定速度移動。由點線603指示的 尋道軌道示出了尋道速度由于不規(guī)則的擾動如何變化。
圖7是示出了被用作為基本圖形50的多螺旋祠服圖形的一個例子的示 圖，在圖7中，時間被繪制在橫坐標(biāo)上而磁頭22在徑向上的位置被繪制在 縱坐標(biāo)上。如圖7中所示，多螺旋伺服圖形702是由彼此平行伸展并以規(guī) 則間隔隔開的回轉(zhuǎn)(turn)組成的單個螺旋。如圖8中所示，螺旋圖形702 由圖形單元組成，其每一個由同步標(biāo)記801和伺服脈沖模式802組成。所 述圖形單元無間斷地重復(fù)出現(xiàn)。
在所述祠服寫入處理中，CPU 29從伺服門(servo gate) 701的位置 檢測磁頭22在磁盤介質(zhì)10的徑向上的位置，如圖7中所示。依照螺旋圖 形702的回轉(zhuǎn)的傾斜度，CPU 29從祠服門701的位置獲取10到20柱面(磁
道)的相對位置數(shù)據(jù)703。
CPU 29使得磁頭22逐漸向磁盤介質(zhì)10的內(nèi)周或外周移動，直到磁頭 22到也磁盤介質(zhì)10上想要的位置。在移動磁盤22時，從而在該尋道^^t 中，CPU 29利用，例如，在磁盤驅(qū)動器20中設(shè)置的內(nèi)周限位塊(stopper), 作為基準(zhǔn)位置。
圖9是圖7的一部分的放大視圖。在圖9中所示的螺旋圖形卯l屬于 由圖6中實線601指示的尋道軌道。圖9中所示的另一個螺旋圖形902屬 于由圖6中虛線602指示的尋道軌道，磁頭22沿此以恒定速度移動。由虛 線602指示的該尋道軌道偏離了由虛線904所指示的標(biāo)稱軌道。
又一個螺旋圖形903在圖9中被示出。該圖形屬于由圖6A中點線603 所指示的尋道軌道，磁頭22沿此以不一致的速度移動。螺旋圖形卯3偏離 了由虛線卯5所指示的標(biāo)稱軌道。
在圖9中，實線909指示實際上分別由螺旋圖形卯l到903定義的三 個同心伺月艮磁道。已經(jīng)通過利用伺服磁道將用戶數(shù)據(jù)寫入其中的磁道將被 稱作數(shù)據(jù)磁道。
同心磁道卯9偏離理想的同心磁道卯6。因此，在一個周期908內(nèi)， 如果任何兩個相鄰的磁道對于理想同心磁道906的偏離不相同，計算必須 被重復(fù)進(jìn)行以提*個伺月艮扇區(qū)的校正值(STW-RRO校正值)。
在近年來開發(fā)的磁盤驅(qū)動器中，因為數(shù)據(jù)被以高密度記錄在磁盤介質(zhì) 10上，在各個介質(zhì)上形成的磁道被分隔，但間隔非常短的距離。因此，在 圖9中所示周期908內(nèi)，尋ilil度的改變較少影響在幾個相鄰磁道之間的 間隔。也就是說，在基于所述多螺旋伺服磁道的寫入伺服磁道處理過程中， 相鄰磁道能夠,皮假定在形狀上的改變不會4象在圖9中所示的周期907中的 一樣。
鑒于上述情況，CPU 29只對在磁盤介質(zhì)10上設(shè)置的部分祠月g^道計 算校正值，其中該部分磁道被選擇并以介質(zhì)10的徑向上指定的一定間隔被 隔開。因此，用于計算所述校正值所需的時間，能夠遠(yuǎn)遠(yuǎn)短于在CPU 29 為在磁盤介質(zhì)10上設(shè)置的所有伺服磁道計算校正值的情況下的時間。
可以不通過上述方法，其中所述間隔被機(jī)械地指定，而以分隔應(yīng)當(dāng)計算校正值的伺月^道的間隔，來計算所述校正值。將參照圖IO的流程圖說明計算所述校正值的另 一種方法。
首先，CPU29反復(fù)進(jìn)行計算，為磁盤介質(zhì)10的最內(nèi)側(cè)磁道的所有伺 服扇區(qū)提供校正值(STW-RRO校正值)(塊Sl)，接下來，利用所述校 正值，CPU29使得磁頭22移動，iEM^緊接著的外側(cè)磁道(通過重復(fù)幾次 磁頭定位控制)(塊S2)。在該點使用的校正值，是在所^盤介質(zhì)的徑 向上的內(nèi)側(cè)磁道的伺服扇區(qū)中記錄的校正值。
然后，CPU 29測量與磁頭22正在跟從的磁道的各個伺服扇區(qū)相關(guān)的 所述磁頭具有的位置誤差(塊S3)。進(jìn)一步地，CPU 29得到磁盤介質(zhì)10 每旋轉(zhuǎn)360。磁頭22具有的平均位置誤差(塊S4)。
CPU 29確定，如果對于所逸磁道的伺服扇區(qū)測量的位置誤差的平均不 變化為零，不能利用任何現(xiàn)有的校正值，即使是利用與內(nèi)側(cè)磁道的伺月艮扇 區(qū)的那些校正值相同的校正值。換句話說，CPU29確定，在徑向上相鄰的 任何伺服扇區(qū)在STW-RRO方面不是相關(guān)的(塊S5)。
如果在徑向上相鄰的任何伺服扇區(qū)不是相關(guān)的(如果在塊S6為否)， 則CPU 20再次反復(fù)計算，提供校正值(塊S1)。如果在徑向上相鄰的伺 服扇區(qū)是相關(guān)的(如果在塊S6為是)，其使得磁頭22將至此所使用的校 正值記錄在所述伺服扇區(qū)中。然后，CPU 29使得磁頭22跟從下一個外側(cè) 磁道。
因此，如果在介質(zhì)10上的相鄰磁道在STW-RRO方面是相關(guān)的，為 了抑制在所述自運(yùn)行測試期間的STW-RRO變化，不對磁盤介質(zhì)10上的 所有磁道計算校正值。也就是說，只對介質(zhì)10上的一些磁道計算所述校正 值。在這種情況下，在徑向上相鄰的磁道的伺服扇區(qū)中存儲的校正值，被 用于控制關(guān)于在其中沒有存儲校正值的伺服扇區(qū)的由/F茲頭22具有的位置。 這縮短了用于計算校正值的時間，最終提高了制造所i^盤驅(qū)動器的效率。
在本實施例中，在，例如，所述自運(yùn)行測試期間，能夠減少用于計算 校正值的時間，并因此能夠提高制造所ii^盤驅(qū)動器的效率。
本領(lǐng)域技術(shù)人員將容易地想到額外的優(yōu)點和變型。因此，本發(fā)明在其 廣義方面不受限于在這里示出和描述的具體細(xì)節(jié)和代表性實施例。因此， 無需偏離由所附權(quán)利要求及其等同所定義的一M明概念的精神或范圍， 可以進(jìn)行各種的變型。
權(quán)利要求
1.一種磁盤驅(qū)動器，其特征在于，包括寫入和讀出數(shù)據(jù)的磁頭；具有基本上同心的伺服磁道的磁盤介質(zhì)，每個伺服磁道由多個伺服扇區(qū)形成，在所述伺服扇區(qū)中記錄了伺服數(shù)據(jù)用于所述磁頭的定位控制；磁頭移動機(jī)構(gòu)，其被配置以在所述磁頭的定位控制期間將所述磁頭移動到所述磁盤介質(zhì)上的指定位置；計算單元，其利用所述磁頭已經(jīng)從所述磁盤介質(zhì)讀出的伺服數(shù)據(jù)，從而計算用于在所述磁頭的定位控制期間抑制與所述磁盤介質(zhì)的旋轉(zhuǎn)同步的變化的校正值；計算控制單元，其控制所述計算單元，并使得所述計算單元為已指定的一個伺服磁道計算校正值，并將如此計算出的校正值存儲到存儲單元中；以及控制器，其利用從所述存儲單元讀出的所述伺服數(shù)據(jù)和所述校正值，從而控制所述磁頭移動機(jī)構(gòu)并將所述磁頭定位于所述已指定的伺服磁道。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁盤驅(qū)動器，其特征在于，所述計算單元計 算各祠服扇區(qū)的校正值，并且所述計算控制單元使得所述計算單元為被包 括在指定的幾個磁道中的伺服扇區(qū)計算校正值，并將所述校正值存儲到所 述存儲單元中。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁盤驅(qū)動器，其特征在于，所述計算控制單 元被配置以使得所述計算單元計算只用于已經(jīng)被指定的在所述變化方面相 關(guān)的相鄰磁道的校正值，并使得計算在所述變化方面與相鄰磁道不相關(guān)的 /磁道的校正值。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁盤驅(qū)動器，其特征在于，所述計算單元計 算各伺服扇區(qū)的校正值，并且所述計算控制單元被配置以使得所述計算單 元只為已經(jīng)被指定的在所述變化方面相關(guān)的相鄰磁道的那些伺服扇區(qū)計算 校正值，并使得所述計算單元為未被指定且在所述變化方面不相關(guān)的磁道 的伺服扇區(qū)計算校正值。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁盤驅(qū)動器，其特征在于，所述計算單元計 算各伺服扇區(qū)的校正值，并且所述計算控制單元被配置以使得所述計算單 元對于被包括在已經(jīng)被選擇并且由指定的規(guī)則間隔分隔并且包括最內(nèi)側(cè)磁 道和最外側(cè)磁道的伺月艮磁道的那些伺服扇區(qū)中的伺服扇區(qū)計算校正值。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁盤驅(qū)動器，其特征在于，進(jìn)一步包括相 關(guān)性確定單元，其被配置以當(dāng)通過利用所述計算單元已為所述指定的伺服 磁道計算的校正值來執(zhí)行所逸磁頭的定位控制時，確定具有超出容許范圍 的位置誤差的任何伺服磁道與所述變化不相關(guān)，其中所述計算單元4皮配置 以除了計算所述指定的伺服磁道的校正值之外，還對于4皮確定與所述變化 不相關(guān)的任何磁道計算校正值。
7. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁盤驅(qū)動器，其特征在于，所述控制器被配 置以從所述存儲單元讀出在其定位所ii^頭的磁道的校正值，并且當(dāng)沒有 校正值可用于所述磁道時，利用與所述磁道相鄰或接近的磁道的校正值。
8. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的磁盤驅(qū)動器，其特征在于，所述控制器被配 置以從所述存儲單元讀出在其定位所，頭的磁道的校正值，并且當(dāng)沒有
9. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的磁盤驅(qū)動器，其特征在于，所述存儲單元是 被包括于在所ii^盤介質(zhì)上設(shè)置的伺月艮扇區(qū)中的存儲區(qū)域。
10. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的磁盤驅(qū)動器，其特征在于，所述存儲單元 是被包括于在所^盤介質(zhì)上設(shè)置的伺服扇區(qū)中的存儲區(qū)域。
11. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁盤驅(qū)動器，其特征在于，基于在所i^ 盤介質(zhì)上記錄的多螺旋祠服圖形，已經(jīng)通過所述磁頭或伺服磁道寫入器寫 入了被記錄在所i^t盤介質(zhì)上的伺服數(shù)據(jù)。
12. —種測試伺服數(shù)據(jù)的方法，用于磁盤驅(qū)動器，所述磁盤驅(qū)動器具 有寫入和讀出數(shù)據(jù)的磁頭；具有基本上同心的伺月^道的磁盤介質(zhì)，每 個伺服磁道由多個伺服扇區(qū)形成，在所述伺服扇區(qū)中記錄了伺月良數(shù)據(jù)用于 所逸磁頭的定位控制；以及磁頭移動機(jī)構(gòu)，其被配置以在所逸磁頭的定位 控制期間將所^磁頭移動到所述》茲盤介質(zhì)上的指定位置，所述方法，其特征在于，包括利用所i^頭已從所述磁盤介質(zhì)讀出的所述伺服數(shù)據(jù)，從而計算在所 述磁頭的定位控制期間與所M盤介質(zhì)的旋轉(zhuǎn)同步的位置誤差變化；為已指定的所述伺服磁道的那些伺服扇區(qū)計算校正值，所述校正值是值；以及將如此計算出的校正值存儲至存儲單元。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其特征在于，進(jìn)一步包括當(dāng)通過利用為所述指定的伺服磁道計算的校正值來執(zhí)行所述磁頭的定位控制時，確定具有超出容許范圍的位置誤差的任何伺服磁道與所述變化不沖目關(guān)；以及對于任何指定的伺服磁道以及對于被確定與所述變化不相關(guān)的任何磁 道，計算校正值。
全文摘要
在具有進(jìn)行自伺服寫入的功能的磁盤驅(qū)動器(20)中，CPU(29)被配置以當(dāng)在自運(yùn)行測試期間進(jìn)行計算STW-RRO校正值的處理時，只對已指定的伺服磁道的伺服扇區(qū)計算校正值，并且將所述校正值存儲在伺服扇區(qū)中。
文檔編號G11B27/36GK101197176SQ20071018878
公開日2008年6月11日 申請日期2007年11月20日 優(yōu)先權(quán)日2006年12月7日
發(fā)明者中島彰治, 佐渡秀夫, 松永俊孝, 植田克樹, 水越圣二, 谷津正英, 高原真一郎 申請人:株式會社東芝