專利名稱：光盤裝置的糾錯(cuò)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光盤裝置的糾錯(cuò)裝置，特別是涉及在再生可記錄信息的光盤中記錄的數(shù)據(jù)時(shí)，基于物理上的奇異點(diǎn)的位置，糾正與作為記錄引導(dǎo)信息的光盤的物理上的奇異點(diǎn)所存在的位置相對(duì)應(yīng)地在糾正塊上產(chǎn)生的錯(cuò)誤的光盤裝置的糾錯(cuò)裝置。
背景技術(shù)：
在數(shù)字多用途盤(以下稱為DVD)中，作為可記錄的DVD，有DVD-RAM(可改寫)、DVD-R(可記錄)/RW(可再錄)和+R/RW等。使用日本專利申請?zhí)亻_2004-95081號(hào)公報(bào)(以下稱為專利文獻(xiàn)1)的附圖，說明這樣的可記錄的DVD中的信息記錄的具體例。如專利文獻(xiàn)1中的圖14(a)所示地，在該可記錄的DVD中，對(duì)用于引導(dǎo)光盤裝置的拾波器的被稱為溝槽的導(dǎo)向溝(記錄引導(dǎo))進(jìn)行預(yù)先格式化。該溝槽如該圖中的放大顯示，擺動(dòng)(wobble)得在半徑方向上稍微具有蛇形形狀。將這樣的使溝槽具有蛇形形狀的磁道結(jié)構(gòu)稱為擺動(dòng)岸溝。此外，如專利文獻(xiàn)1中的圖14(b)(c)所示，在DVD-R/RW中，在作為溝槽102間的凸出部分的岸臺(tái)101上預(yù)先刻上了預(yù)制凹坑(Pre-Pit)104。
現(xiàn)有的光盤裝置具有如圖20中示出的結(jié)構(gòu)。在利用拾波器2讀出了光盤1中記錄的信息之后，矩陣放大器3運(yùn)算拾波器2內(nèi)的來自光盤1的信號(hào)，輸出RF信號(hào)、擺動(dòng)信號(hào)及預(yù)制凹坑信號(hào)。將RF信號(hào)供給到解調(diào)電路4中，將擺動(dòng)信號(hào)供給到擺動(dòng)PLL電路12中，將預(yù)制凹坑信號(hào)供給到預(yù)制凹坑譯碼器13中。這些擺動(dòng)信號(hào)和預(yù)制凹坑信號(hào)是在專利文獻(xiàn)1的圖15(a)中示出的信號(hào)，在專利文獻(xiàn)1的圖15(a)中的同步幀1是偶數(shù)位的同步幀(偶數(shù)同步幀/1488T)，該圖中的同步幀2是奇數(shù)位的同步幀(奇數(shù)同步幀/1488T)。將如專利文獻(xiàn)1的圖15(b)所示那樣的預(yù)制凹坑信號(hào)輸入到圖20中示出的預(yù)制凹坑譯碼器13中。
矩陣放大器3輸出的RF信號(hào)，在再生時(shí)，經(jīng)過解調(diào)電路4、錯(cuò)誤糾正電路5、糾正RAM6和數(shù)據(jù)緩沖電路7輸出到主機(jī)8。在記錄時(shí)，從主機(jī)8向數(shù)據(jù)緩沖電路7輸出記錄數(shù)據(jù)，經(jīng)過奇偶性生成電路9輸入到調(diào)制電路10中。
再有，擺動(dòng)PLL電路12基于矩陣放大器3輸出的擺動(dòng)信號(hào)輸出擺動(dòng)時(shí)鐘。此外，預(yù)制凹坑譯碼器13基于擺動(dòng)PLL電路12輸出的擺動(dòng)時(shí)鐘和矩陣放大器3輸出的預(yù)制凹坑信號(hào)，檢測光盤1上的記錄了地址信息等的記錄引導(dǎo)信息(預(yù)先格式化信息)，生成記錄定日后向調(diào)制電路10輸出。
調(diào)制電路10調(diào)制附加了奇偶性的記錄數(shù)據(jù)而生成調(diào)制信號(hào)?；陬A(yù)制凹坑譯碼器13生成的記錄定時(shí)，向激光控制電路11輸出調(diào)制信號(hào)，使得生成的調(diào)制信號(hào)的同步與預(yù)制凹坑的相位一致。激光控制電路11驅(qū)動(dòng)拾波器2的記錄激光，在光盤1中寫入記錄數(shù)據(jù)。在此，所謂迭代碼將內(nèi)部代碼的奇偶性(PI，Parity of the Inner code)碼和外部代碼的奇偶性(PO，Parity of the Outer code)碼作為要素。
在DVD中采用的迭代碼中，由于對(duì)于區(qū)間誤差(burst error，與從盤連續(xù)再生的數(shù)據(jù)列相同的方向上產(chǎn)生的連續(xù)的錯(cuò)誤)，應(yīng)用“能夠以內(nèi)部代碼PI(外部代碼PO)的差錯(cuò)位置信息為基礎(chǔ)，用外部代碼PO(內(nèi)部代碼PI)進(jìn)行擦除糾正(日語為‘イレ一ジャ訂正’)”這樣的特征，因此，一般先行對(duì)于PI代碼的糾錯(cuò)處理(以下稱為糾正處理)，然后進(jìn)行對(duì)于PO代碼的糾正處理。應(yīng)用該特征，在日本專利申請?zhí)亻_平10-285053號(hào)公報(bào)(以下稱為專利文獻(xiàn)2)中，通過對(duì)區(qū)間誤差位置信息賦子權(quán)重，能夠糾正在專利文獻(xiàn)2之前的技術(shù)中不能糾正的差錯(cuò)圖案(區(qū)間誤差)。
在優(yōu)先考慮再生性能的系統(tǒng)中，很多情況下以PO的1次糾正為基本進(jìn)行糾正處理，但在再生數(shù)據(jù)中包含很多錯(cuò)誤，在用PO的1次糾正不能糾正完錯(cuò)誤的情況下，也考慮像PI-PO的2次糾正和PO-PI-PO的3次糾正這樣的增加PI或PO的糾正次數(shù)的糾錯(cuò)處理，直到糾正完錯(cuò)誤。
在DVD-R/RW中，作為物理格式，在作為在盤平面上形成的凹部的溝槽中記錄信息，因此如上所述，在溝槽間的岸臺(tái)上形成有預(yù)先設(shè)定了地址等信息的稱為岸臺(tái)預(yù)制凹坑的凹坑。在利用根據(jù)光束點(diǎn)的掃描讀取溝槽中記錄著的信息的情況下，如果與來自預(yù)制凹坑的反射光的光量相比，來自溝槽的反射光的光量小，就有對(duì)于來自溝槽的反射光，來自預(yù)制凹坑的反射光的分量作為噪聲起作用，難以高精度檢測溝槽的信息的可能性。為了避免該問題，提出了日本專利申請?zhí)亻_2000-132868號(hào)公報(bào)(以下稱為專利文獻(xiàn)3)，在該專利文獻(xiàn)3中，使用了預(yù)制凹坑對(duì)于記錄再生介質(zhì)的溝槽的影響成為最小的形狀，以免對(duì)再生信號(hào)產(chǎn)生影響。
如以上的現(xiàn)有例所示，一般地，從像DVD-R/RW介質(zhì)這樣的存在預(yù)制凹坑信息的盤再生的再生信號(hào)容易變亂，與作出標(biāo)記的DVD-ROM等盤相比，數(shù)據(jù)再生品質(zhì)差，因此，以PI-PO的2次糾正為基本進(jìn)行的情況較多。進(jìn)行PI和PO的多次糾正時(shí)，為了確保其處理時(shí)間，使再生速度變慢，存在再生性能降低的問題。
此外，為了在維持再生速度的情況下，反復(fù)進(jìn)行PI-PO的多次糾正，直到完全糾正完錯(cuò)誤，必須要使糾正處理部高速動(dòng)作，存在增加功耗的問題。此外，要使糾正處理部高速動(dòng)作也有界限，若達(dá)到該界限，就會(huì)使再生速度變慢而進(jìn)行糾正處理，還是存在再生性能降低的問題。
如上所述，在現(xiàn)有的糾錯(cuò)裝置中，例如，從像DVD-R/RW這樣的在與記錄數(shù)據(jù)磁道鄰接的磁道上形成有記錄引導(dǎo)信息(預(yù)先格式化信息)的光盤再生記錄數(shù)據(jù)時(shí)，在由于存在該記錄引導(dǎo)信息而在與該記錄引導(dǎo)信息的位置相對(duì)應(yīng)的糾正塊上的位置數(shù)據(jù)中產(chǎn)生了錯(cuò)誤的情況下，存在不能用第一代碼列(PI)-第二代碼列(PO)的2次糾正來糾正錯(cuò)誤，對(duì)再生性能帶來影響的問題。
此外，在專利文獻(xiàn)2這樣的光盤的再生中，因?yàn)轭A(yù)制凹坑的影響而在相當(dāng)于預(yù)制凹坑的位置的糾正塊上的數(shù)據(jù)中產(chǎn)生錯(cuò)誤，存在不能用例如第一代碼列(PI)-第二代碼列(PO)的2次糾正來糾正錯(cuò)誤，必須進(jìn)行PO-PI-PO的3次糾正，糾正處理的次數(shù)增加，再生性能降低的問題。

發(fā)明內(nèi)容
與基本結(jié)構(gòu)有關(guān)的光盤裝置的糾錯(cuò)裝置是從在光盤的記錄部中記錄了代碼列數(shù)據(jù)和記錄引導(dǎo)信息的光盤再生記錄信息的光盤再生裝置的糾錯(cuò)裝置，所述代碼列數(shù)據(jù)是在與記錄信息的順序相同的方向上附加了差錯(cuò)代碼的數(shù)據(jù)，所述記錄引導(dǎo)信息是作為用于在上述光盤中記錄上述代碼列數(shù)據(jù)的記錄引導(dǎo)而在記錄該代碼列數(shù)據(jù)之前，在不可擦去的狀態(tài)下預(yù)先記錄的信息，所述糾錯(cuò)裝置具有檢測上述記錄引導(dǎo)信息中的物理結(jié)構(gòu)上的奇異點(diǎn)作為第一位置的第一位置檢測部；生成將由上述第一位置檢測部檢測到的上述笫一位置置換為上述代碼列數(shù)據(jù)的位置的第二位置的第二位置生成部；使用上述第二位置對(duì)上述代碼列數(shù)據(jù)的差錯(cuò)進(jìn)行擦除糾正的糾錯(cuò)部。


圖1是示出相當(dāng)于基本結(jié)構(gòu)的第一實(shí)施方式的糾錯(cuò)裝置的結(jié)構(gòu)的框圖。
圖2是示出糾錯(cuò)處理中的PO的1次糾正的流程圖。
圖3是示出糾錯(cuò)處理中的PI-PO2次糾正的流程圖。
圖4是示出糾錯(cuò)處理中的PO-PI-PO3次糾正的流程圖。
圖5是示出一個(gè)扇區(qū)的結(jié)構(gòu)的示意圖。
圖6是示出一個(gè)糾正塊的結(jié)構(gòu)的示意圖。
圖7是示出RF信號(hào)與偶數(shù)位的預(yù)制凹坑檢測信號(hào)的關(guān)系的示意圖。
圖8是示出RF信號(hào)與奇數(shù)位的預(yù)制凹坑檢測信號(hào)的關(guān)系的示意圖。
圖9是示出偶數(shù)位的預(yù)制凹坑檢測信號(hào)與糾正塊數(shù)據(jù)的按照標(biāo)準(zhǔn)的關(guān)系的示意圖。
圖10是示出在因?yàn)轭A(yù)制凹坑的影響而產(chǎn)生了1個(gè)符號(hào)的錯(cuò)誤的情況下的糾正塊上的錯(cuò)誤產(chǎn)生狀況的示意圖。
圖11是示出在因?yàn)轭A(yù)制凹坑的影響而產(chǎn)生了2個(gè)符號(hào)的錯(cuò)誤的情況下的糾正塊上的錯(cuò)誤產(chǎn)生狀況的示意圖。
圖12是示出在因?yàn)轭A(yù)制凹坑的影響而產(chǎn)生了2個(gè)符號(hào)的錯(cuò)誤和其他錯(cuò)誤的情況下的糾正塊上的錯(cuò)誤產(chǎn)生狀況的示意圖。
圖13是示出第二實(shí)施方式的糾錯(cuò)裝置的結(jié)構(gòu)的框圖。
圖14是示出第二實(shí)施方式中的PI-PO2次糾正的處理動(dòng)作的流程圖。
圖15是示出偶數(shù)位的預(yù)制凹坑檢測信號(hào)與糾正塊數(shù)據(jù)的按照標(biāo)準(zhǔn)的關(guān)系的示意圖。
圖16是示出第三實(shí)施方式的糾錯(cuò)裝置的結(jié)構(gòu)的框圖。
圖17是示出第三實(shí)施方式中的PI-PO2次糾正的處理動(dòng)作的流程圖。
圖18是示出RF信號(hào)的解調(diào)處理與預(yù)制凹坑檢測處理的關(guān)系的示意圖。
圖19是示出預(yù)制凹坑信息生成電路中的糾正塊上的預(yù)制凹坑位置的示意圖。
圖20是示出現(xiàn)有的光盤裝置的結(jié)構(gòu)的框圖。
圖21是示出根據(jù)本發(fā)明的第四實(shí)施方式的光盤的糾錯(cuò)裝置的結(jié)構(gòu)的框圖。
圖22是示出在偶數(shù)同步幀上存在預(yù)制凹坑時(shí)的記錄數(shù)據(jù)、擺動(dòng)信號(hào)及預(yù)制凹坑信號(hào)的說明圖。
圖23是示出存在預(yù)制凹坑時(shí)的第一個(gè)預(yù)制凹坑與記錄數(shù)據(jù)的同步的關(guān)系的說明圖。
圖24是示出一個(gè)糾正塊的結(jié)構(gòu)的說明圖。
圖25是示出根據(jù)該第四實(shí)施方式的光盤的糾錯(cuò)方法中的糾正處理的次序的流程圖。
圖26是示出是否存在從光盤再生的糾正塊的錯(cuò)誤產(chǎn)生狀況、預(yù)制凹坑位置的擦除糾正用的指示字(pointer)等的說明圖。
圖27是示出在因?yàn)轭A(yù)制凹坑的影響而產(chǎn)生了2個(gè)符號(hào)的錯(cuò)誤和其他錯(cuò)誤的情況下的糾正塊上的錯(cuò)誤產(chǎn)生狀況的說明圖。
圖28是示出在預(yù)制凹坑的位置以外產(chǎn)生了錯(cuò)誤的情況下的糾正塊上的錯(cuò)誤的產(chǎn)生狀況的說明圖。
圖29是示出沒有產(chǎn)生錯(cuò)誤的情況下的糾正塊的說明圖。
圖30是示出在因?yàn)轭A(yù)制凹坑(偶數(shù)位)的影響而產(chǎn)生了2個(gè)符號(hào)的錯(cuò)誤和其他錯(cuò)誤的情況下的糾正塊A上的錯(cuò)誤產(chǎn)生狀況的說明圖。
圖31是示出在因?yàn)轭A(yù)制凹坑(偶數(shù)位)的影響而產(chǎn)生了2個(gè)符號(hào)的錯(cuò)誤和其他錯(cuò)誤的情況下的糾正塊B上的錯(cuò)誤產(chǎn)生狀況的說明圖。
圖32是示出在因?yàn)轭A(yù)制凹坑(偶數(shù)位)的影響而產(chǎn)生了2個(gè)符號(hào)的錯(cuò)誤和其他錯(cuò)誤的情況下的糾正塊C上的錯(cuò)誤產(chǎn)生狀況的說明圖。
圖33是示出糾正塊中的數(shù)據(jù)的位置與預(yù)制凹坑的位置的關(guān)系的說明圖。
圖34是示出從光盤再生的PI代碼列與預(yù)制凹坑錯(cuò)誤的位置關(guān)系的說明圖。
圖35是示出對(duì)于208列PI代碼系列進(jìn)行預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測和計(jì)測的情況下的次序的流程圖。
圖36是示出根據(jù)本發(fā)明的第五實(shí)施方式的光盤的糾錯(cuò)方法中的糾正處理的次序的流程圖。
圖37是示出根據(jù)本發(fā)明的第六實(shí)施方式的光盤的糾錯(cuò)裝置的結(jié)構(gòu)的框圖。
圖38是示出在因?yàn)轭A(yù)制凹坑(偶數(shù)位和奇數(shù)位)的影響而產(chǎn)生了2個(gè)符號(hào)的錯(cuò)誤和其他錯(cuò)誤的情況下的糾正塊上的錯(cuò)誤產(chǎn)生狀況的說明圖。
圖39是示出預(yù)制凹坑信息生成電路生成檢測糾正塊的偶數(shù)位中的預(yù)制凹坑位置的信號(hào)的方法的說明圖。
圖40是示出糾正塊的偶數(shù)位中的預(yù)制凹坑檢測信號(hào)與糾正塊數(shù)據(jù)的位置關(guān)系的說明圖。
圖41是示出預(yù)制凹坑信息生成電路生成檢測糾正塊的奇數(shù)位中的預(yù)制凹坑位置的信號(hào)的方法的說明圖。
圖42是示出預(yù)制凹坑信息生成電路生成檢測糾正塊的奇數(shù)位中的預(yù)制凹坑位置的信號(hào)的方法的說明圖。
圖43是示出糾正塊的奇數(shù)位中的預(yù)制凹坑檢測信號(hào)與糾正塊數(shù)據(jù)之間的位置關(guān)系的說明圖。
圖44是示出根據(jù)該第六實(shí)施方式的光盤的糾錯(cuò)方法中的糾正處理的次序的流程圖。
圖45是示出在因?yàn)榧m正塊的偶數(shù)位和奇數(shù)位中的預(yù)制凹坑的影響而產(chǎn)生了2個(gè)符號(hào)的錯(cuò)誤和其他錯(cuò)誤的情況下的錯(cuò)誤產(chǎn)生狀況的說明圖。
圖46是示出根據(jù)本發(fā)明的第七、第八實(shí)施方式的光盤的糾錯(cuò)裝置的結(jié)構(gòu)的框圖。
圖47是示出根據(jù)該第七實(shí)施方式的光盤的糾錯(cuò)方法中的處理的次序的流程圖。
圖48是示出根據(jù)該第八實(shí)施方式的光盤的糾錯(cuò)方法中的處理的次序的流程圖。
具體實(shí)施例方式
下面，參照附圖詳細(xì)說明光盤裝置的糾錯(cuò)裝置的實(shí)施方式。
圖1是示出作為本發(fā)明的基本結(jié)構(gòu)的與第一實(shí)施方式有關(guān)的光盤裝置的糾錯(cuò)裝置結(jié)構(gòu)的框圖。圖1的結(jié)構(gòu)要素中，賦予了與圖20相同附圖標(biāo)記的結(jié)構(gòu)要素表示與現(xiàn)有的糾錯(cuò)裝置相同或者相當(dāng)?shù)慕Y(jié)構(gòu)要素。
在圖1中，在光盤裝置的糾錯(cuò)裝置中設(shè)置了從光盤再生記錄信息的光盤再生裝置的糾錯(cuò)裝置15，所述光盤在光盤1的記錄部中記錄了代碼列數(shù)據(jù)和記錄引導(dǎo)信息，所述狀碼列數(shù)據(jù)是在與記錄信息的順序相同的方向上附加了差錯(cuò)代碼的數(shù)據(jù)，所述記錄引導(dǎo)信息是作為用于在光盤中記錄代碼列數(shù)據(jù)的記錄引導(dǎo)而在記錄該代碼列數(shù)據(jù)之前，在不可擦去的狀態(tài)下預(yù)先記錄的信息。
糾錯(cuò)裝置15的特征在于具有檢測記錄引導(dǎo)信息中的物理結(jié)構(gòu)上的奇異點(diǎn)作為笫一位置的第一位置檢測部(預(yù)制凹坑譯碼器)13；生成將由第一位置檢測部13檢測到的第一位置置換為代碼列數(shù)據(jù)的位置的第二位置的第二位置生成部16；作為使用該第二位置擦除糾正代碼列數(shù)據(jù)的差錯(cuò)的糾錯(cuò)部的錯(cuò)誤糾正電路5。
再有，圖1的根據(jù)第一實(shí)施方式的糾錯(cuò)裝置15還具有圖20中示出的現(xiàn)有的光盤裝置中的結(jié)構(gòu)，即，光盤1、拾波器2、矩陣放大器3、解調(diào)電路4、糾正RAM6、數(shù)據(jù)緩沖器7、主機(jī)8、奇偶性生成電路9、調(diào)制電路10、激光控制電路11、擺動(dòng)電路12和系統(tǒng)控制器14等結(jié)構(gòu)要素，但僅對(duì)第一實(shí)施方式的糾錯(cuò)電路15的結(jié)構(gòu)用實(shí)線框示出，用虛線框示出與現(xiàn)有的光盤裝置同樣的結(jié)構(gòu)要素。矩陣放大器3與圖20同樣地對(duì)解調(diào)電路4輸出無線頻率信號(hào)SRF，對(duì)擺動(dòng)PLL電路12輸出SW，對(duì)第一位置信息設(shè)定部輸出預(yù)制凹信號(hào)SP。
以下，說明圖1中示出的光盤裝置的動(dòng)作。關(guān)于糾錯(cuò)裝置15以外的結(jié)構(gòu)要素的動(dòng)作，與圖20中示出的現(xiàn)有的光盤裝置的動(dòng)作相同。在圖2至圖12中示出了圖20中示出的光盤裝置的動(dòng)作，糾錯(cuò)裝置15以外的動(dòng)作與第一實(shí)施方式相同。在優(yōu)先考慮再生性能的系統(tǒng)中，將如圖2所示的PO的1次糾正作為基本進(jìn)行糾正處理的情況較多。但是，在再生數(shù)據(jù)中包含很多錯(cuò)誤，在PO的1次糾正中不能糾正錯(cuò)誤的情況下，如圖3所示的PI-PO的2次糾正、如圖4所示的PO-PI-PO的3次糾正這樣地增加PI或PO的糾正次數(shù)，直到能夠糾正錯(cuò)誤。
在DVD-R/RW中，作為物理格式，為了在如專利文獻(xiàn)1的圖14(a)、(b)所示的溝槽中記錄信息，在溝槽間的岸臺(tái)上形成有預(yù)先設(shè)定了地址等信息的稱為岸臺(tái)預(yù)制凹坑的、如專利文獻(xiàn)1的圖14(c)所示的凹坑。該預(yù)制凹坑是對(duì)于光盤的記錄部預(yù)先人為地形成的物理結(jié)構(gòu)上的奇異點(diǎn)，第一位置檢測部(預(yù)制凹坑譯碼器)13檢測該預(yù)制凹坑作為第一位置。再有，記錄部是記錄有代碼列數(shù)據(jù)的區(qū)域，但由例如盤制造商等，在記錄代碼列數(shù)據(jù)之前在相當(dāng)于該記錄部的位置上預(yù)先人為地形成作為物理奇異點(diǎn)的預(yù)制凹坑?？梢钥紤]到，如該圖所示，在用根據(jù)光束點(diǎn)的掃描讀取溝槽中記錄的信息的情況下，如果與來自預(yù)制凹坑的反射光的光量相比，來自溝槽的反射光的光量變化小，就有對(duì)于來自溝槽的反射光分量，來自預(yù)制凹坑的反射光分量作為噪聲起作用，難以高精度檢測溝槽的信息的情況。為了避免該問題，由上述專利文獻(xiàn)2，提出了使記錄再生介質(zhì)的溝槽和預(yù)制凹坑的影響成為最小的形狀，使得在再生信號(hào)中不產(chǎn)生影響。
如上述專利文獻(xiàn)2的例中所示，一般地，存在像DVD-R/RW介質(zhì)這樣的預(yù)制凹坑信號(hào)時(shí)，從盤再生的信號(hào)(再生信號(hào))就容易變亂，與標(biāo)記后的DVD-ROM等盤相比，再生的數(shù)據(jù)的再生品質(zhì)差，因此，以PI-PO的2次糾正為基本進(jìn)行糾正處理的情況較多。
進(jìn)行PI和PO的多次糾正，為了確保其處理時(shí)間，就會(huì)使再生速度變慢，再生性能下降。此外，要維持再生速度的情況下反復(fù)進(jìn)行PI和PO的多次糾正，直到能夠糾正錯(cuò)誤，就會(huì)使糾正處理部高速動(dòng)作，隨之功耗也增加。使糾正處理部高速動(dòng)作也有界限，若達(dá)到該界限，就使再生速度變慢而進(jìn)行糾正處理，因此再生性能下降。因此，在第一實(shí)施方式的糾錯(cuò)裝置中，最初使用第二位置信息進(jìn)行PI的擦除糾正，因此，不高速動(dòng)作而用通常的PI-PO的2次糾正也能夠進(jìn)行糾錯(cuò)。
下面說明預(yù)制凹坑的記錄格式與糾正塊數(shù)據(jù)的關(guān)系。一個(gè)扇區(qū)具有如圖5所示的結(jié)構(gòu)。如圖6所示，一個(gè)糾正塊具有PO奇偶性交錯(cuò)的結(jié)構(gòu)。用26個(gè)同步幀形成一個(gè)扇區(qū)，用16個(gè)扇區(qū)形成一個(gè)ECC塊。一個(gè)符號(hào)表示1字節(jié)的數(shù)據(jù)，1字節(jié)的數(shù)據(jù)相當(dāng)于利用記錄記錄信息時(shí)的記錄格式規(guī)定的信道位長(以下稱為T)的16倍(16T)。圖5中示出的同步幀具有1488T的長度，另外，將一個(gè)同步幀的開頭的32T長度的部分用作用于取得每個(gè)同步幀的同步的同步信息。
在記錄記錄數(shù)據(jù)時(shí)，依照標(biāo)準(zhǔn)，與預(yù)先格式化信息的同步信號(hào)同步地記錄記錄數(shù)據(jù)，因此在再生記錄數(shù)據(jù)時(shí)，預(yù)先格式化信息(預(yù)制凹坑)就出現(xiàn)在與記錄數(shù)據(jù)的同步幀中記錄有同步信息(同步)的區(qū)域鄰接的岸臺(tái)上。
圖7和圖8示意地示出了記錄數(shù)據(jù)的同步幀與預(yù)先格化信息的預(yù)制凹坑的關(guān)系。在偶數(shù)位的同步幀中，形成表示預(yù)先格式化信息中的同步信號(hào)的、圖7中示出的預(yù)制凹坑同步碼，并且形成表示數(shù)據(jù)的、圖8中示出的預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)1或者預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)0。奇數(shù)位的同步幀的情況下也與偶數(shù)位的同步幀同樣地形成表示預(yù)先格式化信息中的同步信號(hào)的、圖7中示出的預(yù)制凹坑同步碼，并且形成表示數(shù)據(jù)的、圖8中示出的預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)1或者預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)0。
預(yù)制凹坑通常出現(xiàn)在偶數(shù)位的同步幀中，但在與先行形成的鄰接的岸臺(tái)上的預(yù)制凹坑接近的情況下，為了避免串道(crosstalk)，在奇數(shù)位的同步幀上出現(xiàn)預(yù)制凹坑。在預(yù)制凹坑同步碼和預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)出現(xiàn)在偶數(shù)位的同步幀中的情況下，不在奇數(shù)位的同步幀中出現(xiàn)。反之，在出現(xiàn)在奇數(shù)位的同步幀中的情況下，不在偶數(shù)位的同步幀中出現(xiàn)。
各扇區(qū)的第一列的偶數(shù)位的同步幀中出現(xiàn)如圖7所示的預(yù)制凹坑同步碼、在奇數(shù)位的同步幀中出現(xiàn)如圖8所示的預(yù)制凹坑同步碼的、從第二列到第十三列根據(jù)預(yù)先格式化信息的內(nèi)容出現(xiàn)如圖7和圖8所示的預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)。
在偶數(shù)位的同步幀中有預(yù)先格式化信息的預(yù)制凹坑的位置和糾正塊上的位置成為如圖9所示的關(guān)系。由于與預(yù)先格式化信息同步地記錄記錄數(shù)據(jù)，因此，偶數(shù)位的預(yù)制凹坑同步碼的第2預(yù)制凹坑的位置成為PI代碼列的第11個(gè)符號(hào)的位置。此外，第3預(yù)制凹坑的位置成為PI代碼列的第23個(gè)符號(hào)的位置。
下面說明在圖20中示出的現(xiàn)有的糾錯(cuò)裝置中，由于預(yù)制凹坑的影響而產(chǎn)生了如圖10、圖11、圖12所示的錯(cuò)誤的情況下的再生性能。在由于預(yù)制凹坑的影響而產(chǎn)生了如圖10所示的錯(cuò)誤的情況下，在如圖2所示的PO的1次糾正中不能糾正全部錯(cuò)誤，但在如圖3所示的PI-PO的2次糾正中能夠糾正全部錯(cuò)誤。因此，在以PI-PO的2次糾正為基本的系統(tǒng)中，再生性能不會(huì)降低。圖11和圖12示出了由于預(yù)制凹坑的影響而產(chǎn)生了連續(xù)的2個(gè)符號(hào)的錯(cuò)誤的情況。
在DVD的標(biāo)準(zhǔn)中，由于在解調(diào)一個(gè)符號(hào)的數(shù)據(jù)時(shí)反映后面的一個(gè)符號(hào)的解調(diào)結(jié)果，因此，考慮在預(yù)制凹坑的位置的符號(hào)成為錯(cuò)誤的情況下，與因預(yù)制凹坑的位置而成為錯(cuò)誤的符號(hào)鄰接的符號(hào)成為錯(cuò)誤的情況。此外，如專利文獻(xiàn)1的圖15(b)所示，在DVD標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定使光盤的預(yù)制凹坑與記錄同步的14T期間的中心一致?？紤]由于擺動(dòng)信號(hào)的偏差而難以使利用以擺動(dòng)為基準(zhǔn)生成的時(shí)鐘調(diào)制的記錄數(shù)據(jù)的同步與預(yù)制凹坑的相位一致的情況。為了避免該問題，在專利文獻(xiàn)1中提出了控制記錄動(dòng)作，使得成為原來的在標(biāo)準(zhǔn)中確定的數(shù)據(jù)位置的方法。
如上述例子所示，很多情況下，根據(jù)記錄系統(tǒng)和記錄盤，記錄數(shù)據(jù)的同步和預(yù)制凹坑的位置與在標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的相位不同?？紤]在預(yù)制凹坑位于符號(hào)和符號(hào)的邊界附近的情況下，在夾著邊界的連續(xù)的2個(gè)符號(hào)中產(chǎn)生錯(cuò)誤的情況。在由于預(yù)制凹坑的影響而產(chǎn)生如圖11所示的錯(cuò)誤的情況下，用如圖2所示的PO的1次糾正不能糾正全部錯(cuò)誤，但用PI-PO的2次糾正能夠糾正全部錯(cuò)誤。因此，在以PI-PO的2次糾正為基本的系統(tǒng)中，再生性能不會(huì)降低。
在由于預(yù)制凹坑的影響而產(chǎn)生了如圖12所示的錯(cuò)誤的情況下，由于用如圖2所示的PO的1次糾正和如圖3所示的PI-PO的2次糾正不能糾正全部的錯(cuò)誤，因此進(jìn)行如圖4所示的PO-PI-PO的3次糾正。因此，在以PI-PO的2次糾正為基本的系統(tǒng)中，為了掙取進(jìn)行PO-PI-PO的3次糾正的時(shí)間而降低再生速度，再生性能下降。
使用圖2至圖4，說明PO1次糾正、PI-PO2次糾正、PO-PI-PO3次糾正。圖2示出了PO1次糾正的處理動(dòng)作，在圖2中，首先，在步驟S1中開始糾正處理后，在步驟S2中從糾正RAM6讀出PO代碼數(shù)據(jù)。接著，在步驟S3中進(jìn)行單獨(dú)用PO代碼的糾錯(cuò)處理，并且還進(jìn)行根據(jù)PI代碼的差錯(cuò)位置息的擦除糾正。之后，在步驟S4中糾正糾正RAM6的信息數(shù)據(jù)，生成PO代碼的差錯(cuò)位置，由此在步驟S5中結(jié)束糾正處理。
圖3示出了PI-PO2次糾正的處理動(dòng)作，在圖3中，在步驟S1中開始糾正處理后，在步驟S12中從糾正RAM6讀出PI數(shù)據(jù)代碼，在步驟S13中進(jìn)行單獨(dú)用PI代碼的糾錯(cuò)，在步驟S14中糾正糾正RAM6的信息數(shù)據(jù)，生成PI代碼的差錯(cuò)位置信息。該步驟S12～S14是PI糾正，之后進(jìn)行步驟S2～S4的PO糾正，在步驟S5中結(jié)束糾正處理。該處理基于圖20中示出的現(xiàn)有的結(jié)構(gòu)，但在第一實(shí)施方式中成為在步驟S12和S13之間插入了“判斷光盤是否為可記錄”的步驟(后述的圖14的步驟S31)和在判斷為光盤是可記錄的情況下“單獨(dú)用PI代碼進(jìn)行糾錯(cuò)，并且使用預(yù)制凹坑位置信息進(jìn)行擦除糾正”的步驟(圖14的步驟S33)的處理動(dòng)作。
圖4示出了PO-PI-PO3次糾正的處理動(dòng)作，在圖4中，在步驟S1中開始糾正處理后，在步驟S2中從糾正RAM6讀出PO代碼數(shù)據(jù)。接著，在步驟S3中進(jìn)行單獨(dú)用PO代碼的糾錯(cuò)處理，并且還進(jìn)行根據(jù)PI代碼的差錯(cuò)位置信息的擦除糾正。之后，在步驟S4中糾正糾正RAM6的信息數(shù)據(jù)，生成PO代碼的差錯(cuò)位置。到此為止的動(dòng)作與圖2相同，但之后在步驟S22中從糾正RAM6讀出PI數(shù)據(jù)代碼，在步驟S23中進(jìn)單獨(dú)用PI代碼的糾錯(cuò)，并且還進(jìn)行根據(jù)PO代碼的差錯(cuò)位置信息的擦除糾正，之后，在步驟S24中糾正糾正RAM6的信息數(shù)據(jù)，生成PO代碼的差錯(cuò)位置信息。該步驟S22～S24與圖3的步驟S12～S14同樣是PI糾正，之后，再次進(jìn)行步驟S2～S4的PO糾正，在步驟S5中結(jié)束糾正處理。
在使用圖20的現(xiàn)有結(jié)構(gòu)的情況下，由于如上所述的理由，用PI-PO的2次糾正還不充分時(shí)，必須要進(jìn)行圖4中示出的PO-PI-PO的3次糾正。根據(jù)第一實(shí)施方式的糾錯(cuò)裝置，其特征在于，在圖3中示出的PI-PO的2次糾正中的步驟S12和S13之間插入判斷光盤是否為可記錄的步驟，并且在光盤是可記錄的情況下，不是根據(jù)PO代碼的差錯(cuò)位置信息而是根據(jù)預(yù)制凹坑位置信息進(jìn)行如圖4的步驟S23那樣的擦除糾正。
如上所述，根據(jù)第一實(shí)施方式，通過在結(jié)構(gòu)上在圖1的糾錯(cuò)裝置15中設(shè)置第二位置信息生成部16，并且，通過在動(dòng)作上在圖3的步驟S12和S13之間插入在光盤是可記錄的情況下進(jìn)行根據(jù)預(yù)制凹坑位置信息的擦除糾正的動(dòng)作，即使在用PI-PO的2次糾正時(shí)糾錯(cuò)不充分的情況下，也不需要進(jìn)行PO-PI-PO的3次糾正，不降低從光盤再生信息時(shí)的再生速度而能夠進(jìn)行糾錯(cuò)，可以提高再生性能。
在上述第一實(shí)施方式中僅說明了光盤裝置的糾錯(cuò)裝置的基本結(jié)構(gòu)，下面參照圖13和圖14說明示出更詳細(xì)的結(jié)構(gòu)的第二實(shí)施方式的糾錯(cuò)裝置。圖13中示出第二實(shí)施方式的糾錯(cuò)裝置的示意結(jié)構(gòu)，圖14中示出了基于圖13的結(jié)構(gòu)的處理動(dòng)作的流程。
在圖13中，向構(gòu)成糾錯(cuò)裝置15的預(yù)制凹坑位置信息生成電路16供給與再生中的光盤1有關(guān)的盤信息，基于該信息，在再生中的光盤1是可記錄的情況下，基于預(yù)制凹坑位置信息進(jìn)行擦除糾正處理。
下面說明產(chǎn)生了如上述圖12所示的錯(cuò)誤的情況下的糾正處理。在記錄數(shù)據(jù)的再生中，矩陣放大器輸出的RF信號(hào)SRF經(jīng)過解調(diào)電路4、錯(cuò)誤糾正電路5、糾正RAM6、數(shù)據(jù)緩沖電路7輸出到主機(jī)8中。在預(yù)制凹坑位置信息生成電路16中，在再生盤是DVD-R/RW的情況下，向錯(cuò)誤糾正電路5輸出由系統(tǒng)控制器設(shè)定的糾正塊上的預(yù)制凹坑位置信息。在錯(cuò)誤糾正電路5中，將從預(yù)制凹坑位置信息生成電路16接收到的預(yù)制凹坑位置信息變換為用于在PI糾正中使用的擦除糾正用的指示字。在PI糾正中進(jìn)行糾正塊上的預(yù)制凹坑位置的擦除糾正和其他位置的錯(cuò)誤的糾正。
從系統(tǒng)控制器向圖12的與PO列-1鄰接的PO列-3和與PO列-2鄰接的PO列-4附加擦除糾正用的指示字，進(jìn)行PI糾正。PO列-1和PO列-2的位置是圖9中示出的預(yù)制凹坑的位置，通常由于按照標(biāo)準(zhǔn)記錄數(shù)據(jù)，因此，PO列-1成為從PI代碼列的開頭開始的第11個(gè)符號(hào)，PO列-2的位置成為從圖9的開頭開始的第23個(gè)符號(hào)。在PI代碼列中有已知差錯(cuò)位置的4個(gè)符號(hào)的錯(cuò)誤的情況下，由于可以糾正差錯(cuò)位置不明確的錯(cuò)誤到3個(gè)符號(hào)，因此，可以用PI糾正來糾正圖12中的從PI列-1到PI列-16的錯(cuò)誤。
在PI代碼列中有已知差錯(cuò)位置的2個(gè)符號(hào)的錯(cuò)誤的情況下，由于可以糾正差錯(cuò)位置不明確的錯(cuò)誤到4個(gè)符號(hào)，因此可以用PI的1次糾正來糾正圖12的PI列-17的錯(cuò)誤。即使在產(chǎn)生了如圖12所示的錯(cuò)誤的情況下，也能在圖13的第二實(shí)施方式中用PI-PO的2次糾正進(jìn)行糾正，因此，與圖20中示出的現(xiàn)有的糾錯(cuò)裝置的情況相比，再生性能提高。圖12示出了對(duì)一個(gè)預(yù)制凹坑附加2個(gè)擦除糾正用的指示字的情況的例子。附加的擦除糾正用的指示字也可以附加到附加擦除糾正用的指示字的代碼列的擦除糾正的最大可能數(shù)(PI代碼列的情況下是10個(gè))。
歸納上述動(dòng)作，利用圖14中示出的流程圖進(jìn)行說明。在圖14的步驟S1中開始糾正處理后，在步驟S12中從糾正RAM6讀出PI代碼數(shù)據(jù)，在步驟S31中判斷再生中的光盤是否為DVD-R/RW。如果在步驟S31中判斷為光盤是DVD-R/RW即可記錄的，就在步驟S33中進(jìn)行單獨(dú)用PI代碼的糾錯(cuò)處理，并且還進(jìn)行根據(jù)預(yù)制凹坑位置信息的擦除糾正。在步驟S31中，判斷為再生中的光盤是讀出專用的光盤時(shí)，在步驟S13中進(jìn)行單獨(dú)用PI代碼的糾錯(cuò)。
接著，在步驟S14中糾正糾正RAM6的信息數(shù)據(jù)，生成PI代碼的差錯(cuò)位置信息。之后，通過在步驟S2中從糾正RAM6讀出PO代碼數(shù)據(jù)，在步驟S3中進(jìn)行單獨(dú)用PO代碼的糾錯(cuò)，并且還進(jìn)行根據(jù)PI代碼的差錯(cuò)位置信息的擦除糾正，在步驟S4中糾正糾正RAM6的信息數(shù)據(jù)，生成PO代碼的差錯(cuò)位置信息，由此進(jìn)行PO糾正。
因此，圖14中示出的第二實(shí)施方式的處理動(dòng)作，在說明了圖20中示出的現(xiàn)有的光盤裝置中的PI-PO的2次糾正動(dòng)作的圖3的流程圖中的步驟S12與S13之間設(shè)置判斷步驟S31，在光盤為可記錄的情況下，在步驟S33中進(jìn)行根據(jù)預(yù)制凹坑位置信息的擦除糾正，在光盤是不可記錄的情況下，即讀出專用的光盤的情況下，與現(xiàn)有技術(shù)同樣地進(jìn)行PI糾正。在第二實(shí)施方式中，根據(jù)供給到圖13的預(yù)制凹坑位置信息生成電路16中的盤信息進(jìn)行光盤1是否為可記錄的光盤的判斷。
在上述第二實(shí)施方式中，根據(jù)供給到預(yù)制凹坑位置信息生成電路中的盤信息進(jìn)行光盤1是否為可記錄的判斷，但本發(fā)明不限定于此，也可以利用從光盤1讀出的信號(hào)進(jìn)行判斷。使用圖15至圖19說明作為該具體例的第三實(shí)施方式的糾錯(cuò)裝置。
如圖16所示，第三實(shí)施方式的光盤裝置具備了與賦予附圖標(biāo)記1至14的結(jié)構(gòu)要素相同或者相當(dāng)?shù)慕Y(jié)構(gòu)要素，并且還設(shè)置了第二實(shí)施方式的糾錯(cuò)裝置15。如圖16所示，糾錯(cuò)裝置15具備基于矩陣放大器3輸出的預(yù)制凹坑信號(hào)SP和擺動(dòng)PLL電路輸出的擺動(dòng)時(shí)鐘輸出預(yù)制凹坑檢測脈沖的預(yù)制凹坑譯碼器13；基于預(yù)制凹坑譯碼器13輸出的預(yù)制凹坑檢測脈沖和矩陣放大器3輸出的PI代碼列位置信息輸出預(yù)制凹坑位置信息的預(yù)制凹坑位置信息生成電路16；使用該預(yù)制凹坑位置信息生成電路16輸出的作為第二位置信息的預(yù)制凹坑位置信息，擦除糾正作為第二代碼列的PI代碼列的差錯(cuò)的作為糾錯(cuò)部的錯(cuò)誤糾正電路5。
下面說明基于圖16的結(jié)構(gòu)的動(dòng)作。說明產(chǎn)生了在第一實(shí)施方式中說明過的如圖12所示的錯(cuò)誤，并且預(yù)制凹坑的位置和糾正塊上的錯(cuò)誤位置相當(dāng)于如圖15所示的從PI代碼列的開頭開始的第j+1列和第k+1列的情況。在記錄數(shù)據(jù)的再生中，矩陣放大器輸出的RF信號(hào)SRF經(jīng)過解調(diào)電路4、錯(cuò)誤糾正電路5、糾正RAM6、數(shù)據(jù)緩沖電路7輸出到主機(jī)8中。在預(yù)制凹坑位置信息生成電路16中，在再生盤是DVD-R/RW的情況即可記錄的光盤的情況下，將由系統(tǒng)控制器14設(shè)定的糾正塊上的預(yù)制凹坑位置變換為PI代碼列的糾正中的擦除糾正用指示字信息，輸出到錯(cuò)誤糾正電路5中。
使用圖17中示出的流程圖，說明糾錯(cuò)裝置15的糾錯(cuò)動(dòng)作。在圖17中，與說明第二實(shí)施方式的動(dòng)作的圖14的不同點(diǎn)在于，在步驟S31和S33之間附加了判斷預(yù)制凹坑位置是否為錯(cuò)誤的步驟S32。在步驟S1中開始糾正處理，在步驟S2中從糾正RAM6讀出PI代碼數(shù)據(jù)。
接著，與第二實(shí)施方式的處理動(dòng)作同樣地，在步驟S31中判斷盤是否為DVD-R/RW即是否為可記錄的光盤，在判斷為是不能記錄的光盤的情況下，與在圖3中說明的PI-PO的2次糾正同樣地，在步驟S14中糾正糾正RAM6的信息數(shù)據(jù)，生成PI代碼的差錯(cuò)位置信息。在步驟S31中判斷為是可記錄的光盤的情況下，在步驟S32中判斷預(yù)制凹坑位置是否為錯(cuò)誤。在判斷為預(yù)制凹坑位置不是錯(cuò)誤的情況下，在步驟S13中進(jìn)行單獨(dú)用PI代碼的糾錯(cuò)后，處理進(jìn)入步驟S14。
在步驟S32中判斷為在預(yù)制凹坑位置上有錯(cuò)誤時(shí)，與第二實(shí)施方式同樣地，在步驟S33中進(jìn)行單獨(dú)用PI代碼的糾錯(cuò)處理，并且還進(jìn)行根據(jù)預(yù)制凹坑位置信息的擦除糾正。之后，從步驟S14開始，步驟S2～S5的處理流程與圖3相同。在解調(diào)電路4中的RF信號(hào)SRF的解調(diào)處理及在預(yù)制凹坑譯碼器13中的預(yù)制凹坑信號(hào)SP的檢測處理、在錯(cuò)誤糾正電路5中的糾正處理、以及在預(yù)制凹坑位置信息生成電路16中的預(yù)制凹坑位置信息成為如圖18所示的關(guān)系。
糾正塊期間示出用于進(jìn)行一個(gè)糾正塊大小的處理的處理期間。從光盤再生的RF信號(hào)，在糾正塊處理期間1中，在解調(diào)電路中被解調(diào)為糾正塊數(shù)據(jù)n，在接下來的糾正塊處理期間2中進(jìn)行糾正處理。同時(shí)，在糾正塊處理期間1中，在預(yù)制凹坑譯碼器中檢測從盤再生的預(yù)制凹坑信號(hào)，在接下來的糾正塊處理期間2中，在糾正處理中使用在預(yù)制凹坑位置信息生成電路中生成的預(yù)制凹坑位置信息。
在預(yù)制凹坑位置信息生成電路16中，在再生盤是DVD-R/RW的情況下，解調(diào)電路4輸出PI代碼列符號(hào)位置信息。如圖19所示，錯(cuò)誤糾正電路5接收在解調(diào)電路4中在與同步幀同步地形成的PI代碼列方向上表示符號(hào)位置的PI代碼列方向182進(jìn)制計(jì)數(shù)值(以下稱為PI代碼列符號(hào)位置)、以及在預(yù)制凹坑譯碼器13中進(jìn)行譯碼的預(yù)制凹坑檢測信號(hào)或者可知檢測到了預(yù)制凹坑的情況的脈沖(以下稱為預(yù)制凹坑檢測脈沖)，生成糾正塊上的預(yù)制凹坑位置。
此外，從系統(tǒng)控制器接收選擇預(yù)制凹坑位置和與預(yù)制凹坑位置鄰接的位置中的任一個(gè)的信號(hào)、對(duì)預(yù)制凹坑位置附加PI糾正中的擦除糾正用的指示字的許可信號(hào)，將表示糾正塊上的預(yù)制凹坑位置的信息(以下稱為預(yù)制凹坑位置信息)作為預(yù)制凹坑位置信息，輸出到錯(cuò)誤糾正電路和預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤計(jì)測電路中。接收了預(yù)制凹坑檢測脈沖時(shí)的PI代碼列符號(hào)位置(圖19的j和k)成為糾正塊上的預(yù)制凹坑位置(圖19的第j+1個(gè)符號(hào)和第k+1個(gè)符號(hào))。
在錯(cuò)誤糾正電路5中，在開始糾正處理之前，從預(yù)制凹坑位置信息生成電路16接收預(yù)制凹坑位置信息，使用糾正塊上的預(yù)制凹坑位置(圖19的第j+1個(gè)符號(hào)和第k+1介符號(hào))作為PI糾正時(shí)的擦除糾正用指示字(以下，將圖19的第j+1個(gè)符號(hào)稱為預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置，將圖19的笫k+1個(gè)符號(hào)的位置稱為預(yù)制凹坑錯(cuò)誤2的位置)。在PI糾正中進(jìn)行預(yù)制凹坑位置信息生成電路16生成的上述預(yù)制凹坑位置的擦除糾正和其他位置的錯(cuò)誤的糾正。
圖12的PO列-1相當(dāng)于預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置，圖12的PO列-2相當(dāng)于預(yù)制凹坑錯(cuò)誤2的位置。從而，由系統(tǒng)控制器對(duì)與圖12的PO列-1鄰接的PO列-3和與PO列-2鄰接的PO列-4附加擦除糾正用的指示字，進(jìn)行PI糾正。在PI代碼列中有已知差錯(cuò)位置的4個(gè)符號(hào)的錯(cuò)誤的情況下，由于可以糾正差錯(cuò)位置不明確的錯(cuò)誤到3個(gè)符號(hào)，因此，可以用PI糾正來糾正圖12中的從PI列-1到PI列-16的錯(cuò)誤。
在PI代碼列中有已知差錯(cuò)位置的2個(gè)符號(hào)的錯(cuò)誤的情況下，由于可以糾正差錯(cuò)位置不明確的錯(cuò)誤到4個(gè)符號(hào)，因此可以用PI糾正來糾正圖12的PI列-17的錯(cuò)誤。即使產(chǎn)生如圖12所示的錯(cuò)誤，也能用PI-PO的2次糾正進(jìn)行糾正，因此，與現(xiàn)有的糾錯(cuò)裝置的情況相比，再生性能提高。
圖12示出了對(duì)一個(gè)預(yù)制凹坑附加2個(gè)擦除糾正用的指示字的情況的例子。附加的擦除糾正用的指示字也可以附加到附加擦除糾正用的指示字的代碼列的擦除糾正的最大可能數(shù)(PI代碼列的情況下是10個(gè))。
圖21中示出根據(jù)本發(fā)明的第四實(shí)施方式1的光盤的糾錯(cuò)裝置的結(jié)構(gòu)。
由拾波器2讀出光盤1中記錄的信息，在矩陣放大器3中求出RF信號(hào)、擺動(dòng)信號(hào)和預(yù)制凹坑信號(hào)并輸出。向解調(diào)電路4供給RF信號(hào)，向擺動(dòng)PLL電路12供給擺動(dòng)信號(hào)，向預(yù)制凹坑譯碼器13供給預(yù)制凹坑信號(hào)。
在再生時(shí)，利用解調(diào)電路4解調(diào)RF信號(hào)，解調(diào)后的RF信號(hào)經(jīng)過錯(cuò)誤糾正電路5存儲(chǔ)到糾正RAM6中。將存儲(chǔ)在糾正RAM6中的數(shù)據(jù)經(jīng)過數(shù)據(jù)緩沖電路7輸出到主機(jī)8中。
在記錄時(shí)，從主機(jī)8賦予記錄數(shù)據(jù)，經(jīng)過數(shù)據(jù)緩沖電路7賦予到奇偶性生成電路9中，生成奇偶性而附加到記錄數(shù)據(jù)中。
向擺動(dòng)PLL電路12輸入擺動(dòng)信號(hào)，生成擺動(dòng)時(shí)鐘，與預(yù)制凹坑信號(hào)一起賦予到預(yù)制凹坑譯碼器13中。預(yù)制凹坑譯碼器13檢測記錄了光盤1上的地址信息等的記錄引導(dǎo)信息(預(yù)先格式化信息)，生成記錄定時(shí)信號(hào)而輸出到調(diào)制電路10中。
調(diào)制電路10基于記錄定時(shí)信號(hào)，調(diào)制附加了由奇偶性生成電路9生成的奇偶性的記錄數(shù)據(jù)，生成調(diào)制信號(hào)，將調(diào)制信號(hào)輸出到激光控制電路11中。利用激光控制電路11驅(qū)動(dòng)拾波器2的記錄激光，向光盤1寫入記錄數(shù)據(jù)。
在DVD中采用將內(nèi)部代碼的奇偶性(Parity of the Inner code，以下稱為PI)和外部代碼的奇偶性(Parity of the Outer code，以下稱為PO)作為要素的迭代碼。在像DVD這樣的迭代碼的糾錯(cuò)中，有如下特征“能夠以內(nèi)部代碼PI(外部代碼PO)的差錯(cuò)位置信息為基礎(chǔ)，用外部代碼PO(內(nèi)部代碼PI)進(jìn)行擦除糾正”。在光盤中，糾正在與連續(xù)再生的數(shù)據(jù)列相同的行方向(PI代碼的數(shù)據(jù)排列方向)上產(chǎn)生的連續(xù)的錯(cuò)誤即區(qū)間誤差時(shí)，一般首先進(jìn)行PI代碼的糾錯(cuò)處理，接著進(jìn)行與其正交的列方向(PO代碼的數(shù)據(jù)排列的方向)的PO代碼的糾正處理。
在DVD-R/RW中，為了在溝槽中記錄信息，在溝槽間的岸臺(tái)上預(yù)先形成設(shè)定了地址等信息的稱為岸臺(tái)預(yù)制凹坑的凹坑。該凹坑是在光盤的記錄部(記錄區(qū)域)中預(yù)先人為地形成的物理結(jié)構(gòu)上的奇異點(diǎn)，預(yù)制凹坑譯碼器13檢測該預(yù)制凹坑。
在利用光束點(diǎn)掃描而讀取記錄在溝槽中的信息時(shí)，與來自預(yù)制凹坑的反射光的光量相比，來自預(yù)制凹坑的反射光分量作為噪聲起作用，有時(shí)難以高精度檢測溝槽的信息。
因此，一般地，存在預(yù)制凹坑信號(hào)時(shí)，來自光盤的再生信號(hào)容易變亂。因此，在本笫四實(shí)施方式中，通過預(yù)先對(duì)糾正塊中的預(yù)制凹坑的位置附加擦除糾正用的指示字后進(jìn)行PI糾正，實(shí)現(xiàn)PI-PO的2次糾正，提高再生性能。
在此，所謂的擦除糾正用的指示字是指在某特定位置(在此是糾正塊上的預(yù)制凹坑位置)中無論實(shí)際上是否存在錯(cuò)誤，都假?zèng)]為存在錯(cuò)誤，指示為強(qiáng)制地進(jìn)行該位置中的錯(cuò)誤糾正處理。
在錯(cuò)誤的位置不明確的狀態(tài)下僅在自代碼列內(nèi)進(jìn)行錯(cuò)誤糾正時(shí)(在此稱為檢測糾正)，僅能糾正奇偶性數(shù)的1/2的錯(cuò)誤數(shù)。但是，在預(yù)先賦予了錯(cuò)誤的位置的情況下(在此稱為擦除糾正)，能夠糾正與奇偶性數(shù)相同數(shù)量的錯(cuò)誤。
在此，僅在錯(cuò)誤的位置不明確的自代碼列內(nèi)能夠糾正的錯(cuò)誤數(shù)X、利用賦予了錯(cuò)誤的位置的擦除糾正所能糾正的錯(cuò)誤數(shù)Y、奇偶性數(shù)Z之間，成立以下的關(guān)系式(1)。
2*X+Y≤Z(1)通過附加這樣的指示字，假設(shè)在容易產(chǎn)生錯(cuò)誤的預(yù)制凹坑位置上存在錯(cuò)誤而進(jìn)行擦除糾正，由此能夠增加可糾正的錯(cuò)誤數(shù)，減少糾正處理的次數(shù)，提高再生性能。
在偶數(shù)同步幀中存在預(yù)制凹坑(預(yù)制凹坑同步)的情況下的記錄數(shù)據(jù)、擺動(dòng)信號(hào)以及預(yù)制凹坑信號(hào)具有如圖22所示的關(guān)系，存在預(yù)制凹坑時(shí)的第一個(gè)預(yù)制凹坑和記錄數(shù)據(jù)的同步(32信道位長(以下將信道長稱為T))的關(guān)系具有如圖23所示的關(guān)系。
在此，如后所述，在預(yù)制凹坑中，根據(jù)其位置和數(shù)量，在標(biāo)準(zhǔn)上存預(yù)制凹坑同步(Prepit SYNC)、預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)(Prepit data)“1”、預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)“0”這3種。
此外，如圖24所示，一個(gè)糾正塊(ECC塊)成為PO奇偶性交錯(cuò)的結(jié)構(gòu)。一個(gè)扇區(qū)由26個(gè)同步幀構(gòu)成，一個(gè)糾正塊由16個(gè)扇區(qū)構(gòu)成。
一個(gè)符號(hào)由1字節(jié)的數(shù)據(jù)構(gòu)成，1字節(jié)的數(shù)據(jù)相當(dāng)于由記錄記錄信息時(shí)的記錄格式規(guī)定的信道位長的16倍即16T。同步幀具有1488T的長度，將一個(gè)同步幀的開頭的具有32T長度的部分用作用于取得每個(gè)同步幀的同步的信息。
PI代碼列中的可糾正的錯(cuò)誤數(shù)中，由于1行的PI奇偶性數(shù)是10個(gè)符號(hào)，因此僅在錯(cuò)誤的位置不明確的自代碼列內(nèi)能夠糾正的數(shù)量X和利用賦予了錯(cuò)誤的位置的擦除糾正所能糾正的數(shù)量Y之間成立如下關(guān)系
2*X+Y≤10(2)PO狀碼列中的可糾正的錯(cuò)誤數(shù)中，由于1列的PO奇偶性數(shù)是16個(gè)符號(hào)，因此僅在錯(cuò)誤的位置不明確的自代碼列內(nèi)能夠糾正的數(shù)量X和利用賦予了錯(cuò)誤的位置的擦除糾正所能糾正的數(shù)量Y之間成立如下關(guān)系2*X+Y≤16(3)使用圖25的流程圖，說明本第四實(shí)施方式中的糾正動(dòng)作的次序。
在步驟S11中，開始根據(jù)錯(cuò)誤糾正電路5的糾正處理。
在步驟S12中，利用錯(cuò)誤糾正電路5從糾正RAM6讀出PI代碼數(shù)據(jù)。
在步驟S13中，利用系統(tǒng)控制器14判斷光盤1是否為DVD-R/RW。由此可以知道是否存在標(biāo)準(zhǔn)上的預(yù)制凹坑。
在光盤1不是DVD-R/RW的情況下，由于不存在預(yù)制凹坑，因此，在步驟S18中利用錯(cuò)誤糾正電路5進(jìn)行單獨(dú)用PI代碼的糾錯(cuò)，即，不從外部賦予與錯(cuò)誤的存在位置有關(guān)的信息，而僅在自代碼列內(nèi)就能糾正的檢測糾正，轉(zhuǎn)移到步驟S20。
在光盤1是DVD-R/RW的情況下，轉(zhuǎn)移到步驟S14，更新預(yù)制凹坑的位置信息。由此，利用錯(cuò)誤糾正電路5識(shí)別當(dāng)前的糾正塊中的預(yù)制凹坑的位置。
在步驟S15中，利用預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測計(jì)測信息判斷是否滿足附加擦除糾正后述的預(yù)制凹坑位置的指示字的條件。例如，利用一個(gè)之前的糾正塊或者一個(gè)以上之前的多個(gè)連續(xù)的糾正塊的糾正處理，在判斷為該光盤1中在預(yù)制凹坑位置上存在很多錯(cuò)誤的情況下，從一開始以預(yù)制凹坑中存在錯(cuò)誤為前提進(jìn)行擦除糾正時(shí)，能夠增加可糾正的錯(cuò)誤數(shù)，因此，預(yù)先附加擦除糾正用的指示字。
由系統(tǒng)控制器14或者圖21中沒有示出的外部的控制器進(jìn)行該判斷。在不滿足的情況下，在步驟S17中進(jìn)行單獨(dú)用PI代碼的糾錯(cuò)。
在此，如上所述，單獨(dú)用PI代碼的檢測糾正對(duì)圖24中示出的PI代碼數(shù)據(jù)的每一列可以進(jìn)行到5個(gè)，在存在6個(gè)以上時(shí)就不能檢測糾正，在不明確該列的哪一處存在差錯(cuò)的狀態(tài)下結(jié)束該步驟。
在滿足進(jìn)行擦除糾正的條件的情況下，在步驟S16中與單獨(dú)用PI代碼的糾錯(cuò)處理一起進(jìn)行即進(jìn)行在預(yù)制凹坑位置以外隨機(jī)存在的檢測糾正和使用預(yù)制凹坑位置信息強(qiáng)制地進(jìn)行預(yù)制凹坑位置中的錯(cuò)誤糾正的擦除糾正。
在步驟S20中，利用錯(cuò)誤糾正電路5進(jìn)行糾正RAM6中存儲(chǔ)的信息數(shù)據(jù)的糾正，還生成與存在于該P(yáng)I代碼列中的錯(cuò)誤的位置有關(guān)的PI代碼的差錯(cuò)位置信息。
在步驟S21中，判斷PI代碼列的糾正處理是否在整個(gè)列中結(jié)束，在沒有結(jié)束的情況下回到步驟S12，在結(jié)束了的情況下轉(zhuǎn)移到步驟S22。
在步驟S22中，利用錯(cuò)誤糾正電路5從糾正RAM6讀出PO代碼數(shù)據(jù)。
在步驟S23中，不賦予與錯(cuò)誤的存在位置有關(guān)的信息，而與單獨(dú)用PO代碼的檢測糾正一起，利用錯(cuò)誤糾正電路5進(jìn)行使用了生成的PI代碼的差錯(cuò)位置信息的擦除糾正。
在步驟S24中，判斷PO代碼列的糾正處理是否在整個(gè)列中結(jié)束，在沒有結(jié)束的情況下回到步驟S22，在結(jié)束了的情況下在步驟S25中結(jié)束糾正處理。
下面，說明在判斷是否滿足擦除糾正預(yù)制凹坑位置的條件時(shí)使用的預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測和生成計(jì)測信息的例行程序。
作為步驟S101，系統(tǒng)控制器控制預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測和計(jì)測的開始。
作為步驟S102，初始化預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測計(jì)測結(jié)果Q(Qn＝“L”、Qn-1＝“L”、Qn-2＝“L”)。
在步驟S103中開始預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測和計(jì)測處理。
在步驟S104中讀出一個(gè)代碼列(PI代碼列)的數(shù)據(jù)，檢測預(yù)制凹坑位置和差錯(cuò)位置。
在步驟S105中，基于預(yù)制凹坑位置信息生成電路所生成的預(yù)制凹坑位置信息進(jìn)行預(yù)制凹坑位置檢測，基于一個(gè)代碼列的錯(cuò)誤糾正電路的糾正處理的信息進(jìn)行差錯(cuò)位置檢測。
在步驟S106中，在差錯(cuò)位置是預(yù)制凹坑位置的情況下，作為步驟S107，在預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測計(jì)測結(jié)果中設(shè)置許可預(yù)制凹坑位置的擦除糾正的情況(Qn＝“H”)。
在差錯(cuò)位置不是預(yù)制凹坑位置的情況下，作為步驟S108，在預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測計(jì)測結(jié)果中設(shè)置不許可預(yù)制凹坑位置的擦除糾正的情況(Qn＝“L”)。
在步驟S109中，在滿足對(duì)預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用的指示字的條件的情況(在連續(xù)的PI代碼列2列中許可了預(yù)制凹坑位置的擦除糾正(Qn-1Qn＝“HH”)的情況)下，作為步驟S112，生成時(shí)預(yù)制凹坑位置執(zhí)行擦除糾正的情況的預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測計(jì)測信息。
在步驟S110中，在滿足對(duì)預(yù)制凹坑位置擦去擦除糾正用的指示字的條件的情況(在連續(xù)的PI代碼列3列中不許可預(yù)制凹坑位置的擦除糾正(Qn-2Qn-1Qn＝“LLL”)的情況)下，作為步驟S113，生成對(duì)預(yù)制凹坑位置不執(zhí)行擦除糾正的情況的預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測計(jì)測信息。
在對(duì)預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用的指示字的條件和對(duì)預(yù)制凹坑位置擦去擦除糾正用的指示字的條件的任一個(gè)都不滿足的情況下，作為步驟S111，生成關(guān)于擦除糾正對(duì)預(yù)制凹坑位置維持之前的狀態(tài)的情況的預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測計(jì)測信息。
在步驟S114中，若滿足由系統(tǒng)控制器14設(shè)定的計(jì)測結(jié)束條件，就在步驟S115中結(jié)束計(jì)測，若不滿足，就回到步驟S104，開始計(jì)測處理。
上述例行程序是關(guān)于一個(gè)預(yù)制凹坑位置中的錯(cuò)誤檢測和計(jì)測的處理，但關(guān)于其他預(yù)制凹坑位置也進(jìn)行同樣的處理。
在本第四實(shí)施方式中，由系統(tǒng)控制器14控制預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測和計(jì)測的開始，但也可以與錯(cuò)誤糾正電路5的糾正處理聯(lián)動(dòng)。
在本第四實(shí)施方式中，在差錯(cuò)位置檢測中以一個(gè)代碼列的錯(cuò)誤糾正電路5的糾正處理的信息為基礎(chǔ)，但也可以設(shè)置專用電路用于差錯(cuò)位置檢測。
圖26中示出每個(gè)糾正處理塊的錯(cuò)誤產(chǎn)生狀況、是否存在預(yù)制凹坑錯(cuò)誤位置的擦除糾正用的指示字、預(yù)制凹坑錯(cuò)誤位置的錯(cuò)誤信息計(jì)測結(jié)果、糾正處理后的數(shù)據(jù)、一個(gè)糾正塊中的擦除糾正用的指示字附加條件、連續(xù)的多個(gè)糾正塊中的擦除糾正用的指示字附加條件、一個(gè)糾正塊中的擦除糾正用的指示字的擦去條件、連續(xù)的多個(gè)糾正塊中的擦除糾正用的指示字的擦去條件的一例。
在進(jìn)行擦去擦除糾正用的指示字的處理的糾正塊中使用了“n-2、n-1、n、n+1、...”的代碼，在進(jìn)行附加擦除糾正用的指示字的處理的糾正塊中使用了“m-2、m-1、m、m+1、...”的代碼。
作為錯(cuò)誤產(chǎn)生狀況，“E-1”表示產(chǎn)生了如圖27所示的錯(cuò)誤的狀況，“E-2”表示產(chǎn)生了如圖28所示的錯(cuò)誤的狀況，“E-3”表示如圖29所示沒有產(chǎn)生錯(cuò)誤的狀況。
圖中，“是否存在預(yù)制凹坑錯(cuò)誤位置的指示字”中的“有”表示擦除糾正用的指示字的附加，“無”表示擦除糾正用的指示字的擦去。
“糾正處理后的數(shù)據(jù)”表示是否存在進(jìn)行了PI-PO的2次糾正之后包含的錯(cuò)誤。
“一個(gè)糾正塊中的附加條件”或者“一個(gè)糾正塊中的擦去條件”中的“○”表示是滿足一個(gè)糾正塊中的附加條件或者擦去條件的塊，“×”表示是不滿足條件的塊。
此外，“指示字附加條件”或“指示字擦去條件”中的“○”表示滿足了各條件，“×”表示不滿足條件。
圖27中示出的錯(cuò)誤中，根據(jù)預(yù)制凹坑沿著縱向(PO列)連續(xù)地產(chǎn)生錯(cuò)誤。
圖中，“○”表示根據(jù)預(yù)制凹坑同步的一個(gè)符號(hào)的錯(cuò)誤，“△”表示根據(jù)預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)“1”的一個(gè)符號(hào)的錯(cuò)誤，“×”表示隨機(jī)產(chǎn)生的錯(cuò)誤。
從PI列-1至16，在預(yù)制凹坑同步的位置即PO列-1和PO列-2的位置、預(yù)制凹坑同步的位置的相鄰處即PO列-3和PO列-4的位置的符號(hào)中產(chǎn)生錯(cuò)誤，并且在其他的隨機(jī)的2個(gè)位置中產(chǎn)生錯(cuò)誤，總計(jì)6個(gè)符號(hào)是錯(cuò)誤。
此外，PI列-17在預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)的位置即PO列-2的位置、其相鄰處的位置即PO列-4的位置的符號(hào)中產(chǎn)生錯(cuò)誤，另外產(chǎn)生4個(gè)符號(hào)的錯(cuò)誤，總計(jì)產(chǎn)生了6個(gè)符號(hào)的錯(cuò)誤的狀態(tài)。
在一個(gè)PI列中，在錯(cuò)誤的產(chǎn)生數(shù)是5個(gè)以內(nèi)時(shí)，能夠不賦予錯(cuò)誤位置信息而進(jìn)行僅在自代碼列內(nèi)的PI糾正。在超過5個(gè)時(shí)，僅在自代碼列內(nèi)的PI糾正不能完全進(jìn)行。
在圖28中示出的錯(cuò)誤中，完全沒有根據(jù)預(yù)制凹坑產(chǎn)生錯(cuò)誤，僅產(chǎn)生了隨機(jī)的錯(cuò)誤。
從PI列-1至17，在預(yù)制凹坑同步的位置即PO列-1和PO列-2的位置、該預(yù)制凹坑同步的位置的相鄰處即PO列-3和PO列-4的位置以外，4個(gè)符號(hào)是錯(cuò)誤。
在圖29中示出的糾正塊中，從PI列-1至17，在預(yù)制凹坑同步的位置即PO列-1和PO列-2的位置、該預(yù)制凹坑同步的位置的相鄰處即PO列-3和PO列-4的位置以及除此以外的位置中，全部沒有產(chǎn)生錯(cuò)誤。
下面，作為從光盤1再生的數(shù)據(jù)，按照再生的順序，在圖30中示出糾正塊A、在圖31中示出糾正塊B、在圖32中示出糾正塊C。
在圖30的糾正塊A中，從PI列-1-1至11，在預(yù)制凹坑同步的位置即PO列-1和PO列-2的位置、該預(yù)制凹坑同步的位置的相鄰處即PO列-3和PO列-4的位置以外，4個(gè)符號(hào)是錯(cuò)誤。
從PI列-1-12至16，在預(yù)制凹坑同步的位置和該預(yù)制凹坑同步的位置的相鄰處中，4個(gè)符號(hào)中產(chǎn)生錯(cuò)誤，在其他位置中，2個(gè)符號(hào)中產(chǎn)生錯(cuò)誤，總計(jì)6個(gè)符號(hào)中產(chǎn)生了錯(cuò)誤。
在圖31中的糾正塊B中，從PI列-2-1至8、10、12-16中，在預(yù)制凹坑同步的位置和該預(yù)制凹坑同步的位置的相鄰處的符號(hào)中產(chǎn)生錯(cuò)誤，在其他位置中，2個(gè)符號(hào)中產(chǎn)生錯(cuò)誤，總計(jì)6個(gè)符號(hào)是錯(cuò)誤。
在PI列-2-9中，在預(yù)制凹坑同步的位置(PO列-2的位置)和該預(yù)制凹坑同步的位置的相鄰處(PO列-4的位置)中，2個(gè)符號(hào)中產(chǎn)生錯(cuò)誤，在預(yù)制凹坑同步的位置(PO列-1的位置)和該預(yù)制凹坑同步的位置的相鄰處(PO列-3的位置)中沒有產(chǎn)生錯(cuò)誤，總計(jì)2個(gè)符號(hào)中產(chǎn)生了錯(cuò)誤。
在PI列-2-11中，在預(yù)制凹坑同步的位置(PO列-2的位置)和該預(yù)制凹坑同步的位置的相鄰處(PO列-4的位置)中，2個(gè)符號(hào)中產(chǎn)生錯(cuò)誤，在預(yù)制凹坑同步的位置(PO列-1的位置)和該預(yù)制凹坑同步的位置的相鄰處(PO列-3的位置)中沒有產(chǎn)生錯(cuò)誤。在預(yù)制凹坑同步的位置及該預(yù)制凹坑同步的位置的相鄰處以外的位置中，2個(gè)符號(hào)中產(chǎn)生錯(cuò)誤，總計(jì)產(chǎn)生了4個(gè)符號(hào)的錯(cuò)誤。
在PI列-2-17～33中，在預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)的位置和該預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)的位置的相鄰處中，2個(gè)符號(hào)中產(chǎn)生錯(cuò)誤，在其他位置中，4個(gè)符號(hào)中產(chǎn)生錯(cuò)誤，總計(jì)6個(gè)符號(hào)中產(chǎn)生了錯(cuò)誤。
在圖32中的糾正塊C中，在PI列-3-1、2中，在預(yù)制凹坑同步的位置和該預(yù)制凹坑同步的位置的相鄰處的4個(gè)符號(hào)中產(chǎn)生錯(cuò)誤，在其他位置中，2個(gè)符號(hào)中產(chǎn)生錯(cuò)誤，總計(jì)6個(gè)符號(hào)錯(cuò)誤。
在PI列-3-3～16中，在預(yù)制凹坑同步的位置和該預(yù)制凹坑同步的相鄰處的位置以外的其他位置中，4個(gè)符號(hào)中產(chǎn)生了錯(cuò)誤。
在圖33中示出當(dāng)檢測到預(yù)制凹坑時(shí)在該位置中產(chǎn)生脈沖而檢測出3種預(yù)制凹坑中的任一個(gè)的預(yù)制凹坑檢測信號(hào)、和依照標(biāo)準(zhǔn)記錄的記錄數(shù)據(jù)的糾正塊上的符號(hào)位置的關(guān)系。
記錄在光盤1中的記錄數(shù)據(jù)通常依照標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行記錄。因此，作為偶數(shù)位的預(yù)制凹坑同步的第2個(gè)預(yù)制凹坑在糾正塊上的位置如圖32所示，從PI代碼列的開頭開始的第11個(gè)符號(hào)相當(dāng)于糾正塊A～C中的PO列-1的位置，從PI代碼列的開頭開始的第23個(gè)符號(hào)相當(dāng)于預(yù)制凹坑同步的第3個(gè)以及預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)“1”的第2個(gè)預(yù)制凹坑在糾正塊A～C上的PO列-2的位置。
此外，在依照標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行記錄的情況下，在扇區(qū)開頭的笫1條線中存在預(yù)制凹坑同步，在接著的第2條線～第13條線中存在預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)。
圖21中示出的預(yù)制凹坑位置信息生成電路15生成預(yù)制凹坑位置信息，輸出到預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤計(jì)測電路16中，上述預(yù)制凹坑位置信息將糾正塊A中的PI列-1-1～16、糾正塊B中的PI列-2-1～16、以及糾正塊C中的PI列-3-1～16的PO列-1的位置和糾正塊A～C中的PO列-2的位置作為預(yù)制凹坑位置。
預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤計(jì)測電路16從預(yù)制凹坑位置信息生成電路15所生成的預(yù)制凹坑位置的PI代碼列的糾正狀態(tài)(status)檢測是否存在預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤。
在此，所謂糾正狀態(tài)是指與是否存在PI代碼列或PO代碼列中的錯(cuò)誤、是否可糾正、錯(cuò)誤的位置、錯(cuò)誤的個(gè)數(shù)等有關(guān)的信息。
圖34中示出作為糾正塊A～C的預(yù)制凹坑位置的PO列-1是否存在錯(cuò)誤、和從光盤1再生的PI代碼列順序的關(guān)系。再有，預(yù)制凹坑錯(cuò)誤a的位置相當(dāng)于PO列-1。
在PI列-1-8～11、2-9、2-11、3-3～9中，在預(yù)制凹坑錯(cuò)誤a的位置中沒有產(chǎn)生錯(cuò)誤，PI列-1-12～16、2-1～8、2-10、2-12～16、3-1～2中處于在預(yù)制凹坑錯(cuò)誤a的位置中產(chǎn)生了錯(cuò)誤的狀態(tài)。
考慮到作為對(duì)預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用指示字的條件，例如在存預(yù)制凹坑的PI代碼列中2列連續(xù)地在預(yù)制凹坑位置中產(chǎn)生錯(cuò)誤的情況下，預(yù)制凹坑位置中存在錯(cuò)誤的概率高，以存在錯(cuò)誤為前提進(jìn)行糾正時(shí)，提高處理效率，因此，對(duì)預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用的指示字。此外，考慮在存在預(yù)制凹坑的PI代碼列中沒有3列連續(xù)地在預(yù)制凹坑位置中產(chǎn)生錯(cuò)誤的情況下，預(yù)制凹坑位置中不存在錯(cuò)誤的概率高，在該情況下，不進(jìn)行預(yù)制凹坑位置中的擦除糾正會(huì)增加其他隨機(jī)位置中的可糾正的錯(cuò)誤數(shù)，因此，擦去預(yù)制凹坑位置的擦除糾正用的指示字。以下，將這樣的條件稱為條件α。
在圖34中示出的PI糾正中，在PI列-1-12、13中2列連續(xù)地在預(yù)制凹坑錯(cuò)誤a的位置中產(chǎn)生了錯(cuò)誤。在該情況下，由于滿足條件α，因此從預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤計(jì)測電路16向系統(tǒng)控制器14發(fā)送對(duì)預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用的指示字的情況的信號(hào)。
PI列-3-3以后，在預(yù)制凹坑錯(cuò)誤a的位置中沒有產(chǎn)生錯(cuò)誤。在PI列-3-5中，在預(yù)制凹坑錯(cuò)誤a的位置中沒有產(chǎn)生錯(cuò)誤的列有連續(xù)3列，滿足條件α。因此，從預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤計(jì)測電路16向系統(tǒng)控制器14發(fā)送擦去附加在預(yù)制凹坑位置的擦除糾正用的指示字的情況的信號(hào)。
對(duì)于其他預(yù)制凹坑位置即PO列-2～4也同樣地進(jìn)行這樣的PO列-1的位置即預(yù)制凹坑錯(cuò)誤a的位置中的錯(cuò)誤的檢測和計(jì)測。
錯(cuò)誤糾正電路5在從系統(tǒng)控制器14接收了對(duì)預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用的指示字的情況的信號(hào)的情況下，對(duì)預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用的指示字而進(jìn)行PI糾正。此外，在從系統(tǒng)控制器14接收了在預(yù)制凹坑位置中擦去擦除糾正用的指示字的情況的信號(hào)的情況下，錯(cuò)誤糾正電路5不對(duì)預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用的指示字，而單獨(dú)用PI代碼進(jìn)行糾正。
以圖30中示出的糾正塊A為例，在PI列-1-1～11中，不對(duì)PO列-1～4的預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用的指示字，而進(jìn)行單獨(dú)用PI代碼的糾正。因此，用PI糾正來糾正PI列-1-1～11的錯(cuò)誤。
在PI列-1-12和13中，由于不對(duì)PO列-1～4的預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用的指示字，因此進(jìn)行單獨(dú)用PI代碼的糾正。PI列-1-12和13的錯(cuò)誤不能用PI糾正進(jìn)行糾正，但可以利用PO糾正進(jìn)行糾正。
在PI列-1-14～16中，對(duì)PO列-1～4的預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用的指示字。因此，在該預(yù)制凹坑位置中，與對(duì)于預(yù)制凹坑位置以外的隨機(jī)錯(cuò)誤的單獨(dú)用PI代碼的檢測糾正一起進(jìn)行預(yù)制凹坑位置的擦除糾正。僅利用PI糾正來糾正PI列-1-14～16的錯(cuò)誤。
以圖31中示出的糾正塊B為例，在PI列-2-1～16中，對(duì)PO列-1～4的預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用的指示字。因此，與單獨(dú)用PI代碼的糾正一起進(jìn)行預(yù)制凹坑位置的擦除糾正。僅用PI糾正來糾正PI列-2-1～16的錯(cuò)誤。
在PI列-2-17～33中，對(duì)PO列-2和4的預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用的指示字。因此，與單獨(dú)用PI代碼的糾正一起進(jìn)行預(yù)制凹坑位置的擦除糾正。僅用PI糾正來糾正PI列-2-17～33的錯(cuò)誤。
以圖32中示出的糾正塊C為例，在PI列-3-1和2中，對(duì)PO列-1～4的預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用的指示字。因此，與單獨(dú)用PI代碼的糾正一起進(jìn)行預(yù)制凹坑位置的擦除糾正。僅用PI糾正來糾正PI列-3-1和2的錯(cuò)誤。
在PI列-3-3～5中，對(duì)PO列-1～4的預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用的指示字。因此，與單獨(dú)用PI代碼的糾正一起進(jìn)行預(yù)制凹坑位置的擦除糾正。PI列-3-3～5的錯(cuò)誤不能僅用PI糾正進(jìn)行糾正，但能夠利用其后的PO糾正來糾正全部的錯(cuò)誤。
根據(jù)本第四實(shí)施方式，在產(chǎn)生了如上述糾正塊A、B、C中所示的錯(cuò)誤的情況下，由于能夠用PI-PO的2次糾正來糾正錯(cuò)誤，因此再生性能提高。
關(guān)于預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測，在不能糾正PI代碼列的糾正結(jié)果的情況下，與是否存在預(yù)制凹坑位置的符號(hào)的錯(cuò)誤無關(guān)，可以在預(yù)制凹坑位置中設(shè)為“有錯(cuò)誤”，或者也可以設(shè)為“無錯(cuò)誤”。
在本第四實(shí)施方式中，基于在預(yù)制凹坑錯(cuò)誤a的位置中連續(xù)產(chǎn)生錯(cuò)誤的錯(cuò)誤數(shù)進(jìn)行條件α的設(shè)定。但是，即使在預(yù)制凹坑錯(cuò)誤a的位置中不連續(xù)地產(chǎn)生錯(cuò)誤的情況下，也可以設(shè)定條件使得在預(yù)制凹坑錯(cuò)誤a的位置的錯(cuò)誤產(chǎn)生總數(shù)滿足了規(guī)定數(shù)的情況下對(duì)預(yù)制凹坑錯(cuò)誤a的位置附加擦除糾正用的指示字。
作為該情況下的例子，圖35中示出對(duì)PI代碼系列208列大小進(jìn)行預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測和計(jì)測的情況下的流程。在此，圖35中的步驟S11～S25與上述第四實(shí)施方式相同，因此省略其說明。
在步驟S101中，由系統(tǒng)控制器14控制預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測和計(jì)測的開始。
作為步驟S103，開始預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測和計(jì)測處理。
在步驟S151中，初始化預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測結(jié)果計(jì)測數(shù)N。
在步驟S104中讀出一個(gè)代碼列(PI代碼列)的數(shù)據(jù)，在步驟S105中檢測預(yù)制凹坑位置和差錯(cuò)位置。
基于預(yù)制凹坑位置信息生成電路15所生成的預(yù)制凹坑位置信息進(jìn)行預(yù)制凹坑位置的檢測，基于一個(gè)代碼列的錯(cuò)誤糾正電路5的糾正處理的信息進(jìn)行差錯(cuò)位置檢測。
在步驟S106中，在差錯(cuò)位置是預(yù)制凹坑位置的情況下，在步驟S152中計(jì)測預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測結(jié)果(N＝N+1)。
在差錯(cuò)位置不是預(yù)制凹坑位置的情況下，不計(jì)測預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測結(jié)果而轉(zhuǎn)移到步驟S153。
在步驟S153中，在結(jié)束了PI代碼系列全部的糾正處理的情況下，進(jìn)行預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測結(jié)果的判斷處理，在沒有結(jié)束的情況下，進(jìn)行下一列的處理。
在步驟S154中，在預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測結(jié)果計(jì)測數(shù)N滿足對(duì)預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用的指示字的條件的情況下，在步驟S112中生成對(duì)預(yù)制凹坑位置執(zhí)行擦除糾正的情況的、預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測計(jì)測信息。
在預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測結(jié)果計(jì)測數(shù)N不滿足對(duì)預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用的指示字的條件的情況下，作為步驟S113，生成對(duì)預(yù)制凹坑位置不執(zhí)行擦除糾正的情況的、預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測計(jì)測信息。
在步驟S114中，若滿足計(jì)測結(jié)束條件，就在步驟S115中結(jié)束計(jì)測，若不滿足，就回到步驟S151進(jìn)行計(jì)測處理。
此外，在條件α中，用于附加擦除糾正用的指示字的PI列數(shù)也可以設(shè)定為任意的列數(shù)。
在本第四實(shí)施方式中，在對(duì)預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用的指示字時(shí)，經(jīng)由系統(tǒng)控制器14，將該情況的信號(hào)傳達(dá)到錯(cuò)誤糾正電路5中。但是不限于此，也可以在糾正RAM6等存儲(chǔ)器和寄存器中保存對(duì)預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用的指示字的情況的信息，基于該信息，錯(cuò)誤糾正電路5確定擦除糾正用的指示字位置而進(jìn)行擦除糾正。
也可以通過逐次計(jì)測檢測到的每個(gè)代碼列的預(yù)制凹坑位置是否存在錯(cuò)誤來進(jìn)行預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤計(jì)測，或者也可以通過對(duì)每個(gè)代碼列的預(yù)制凹坑位置是否存在錯(cuò)誤進(jìn)行檢測并保存之后進(jìn)行計(jì)測來進(jìn)行預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤計(jì)測。
下面說明根據(jù)本發(fā)明的第五實(shí)施方式的光盤的糾錯(cuò)裝置。電路結(jié)構(gòu)與上述第四實(shí)施方式同樣地如圖21所示，處理的次序如圖36所示。在此，在步驟S11～S42中，步驟S11～S25的處理與上述第四實(shí)施方式相同，省略其說明。
下面說明，在步驟S15中判斷是否滿足擦除糾正預(yù)制凹坑位置的條件時(shí)使用的預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測和生成計(jì)測信息的例行程序。
在步驟S101中，由系統(tǒng)控制器14控制預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測和計(jì)測的開始。
在步驟S102中，初始化預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測計(jì)測結(jié)果Q。
在步驟S103中，開始預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測和計(jì)測處理。
在步驟S201中，初始化預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測結(jié)果計(jì)測數(shù)N。
在步驟S104中讀出一個(gè)代碼列(PI代碼列)的數(shù)據(jù)，在步驟S105中檢測預(yù)制凹坑位置和差錯(cuò)位置。
基于預(yù)制凹坑位置信息生成電路15所生成的預(yù)制凹坑位置信息進(jìn)行預(yù)制凹坑位置的檢測，基于一個(gè)代碼列的錯(cuò)誤糾正電路5的糾正處理的信息進(jìn)行差錯(cuò)位置檢測。
在步驟S106中，在差錯(cuò)位置是預(yù)制凹坑位置的情況下，在步驟S202中計(jì)測預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測結(jié)果(N＝N+1)。
在差錯(cuò)錯(cuò)位置不是預(yù)制凹坑位置的情況下，不計(jì)測預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測結(jié)果而轉(zhuǎn)移到步驟S203。
在步驟S203中，在結(jié)束了PI代碼系列全部的糾正處理的情況下，轉(zhuǎn)移到步驟S204中的預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測結(jié)果的判斷處理，在步驟S204中，在沒有結(jié)束的情況下，回到步驟S104，進(jìn)行下一個(gè)代碼列的處理。
在步驟S204中，在預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測結(jié)果計(jì)測數(shù)N滿足附加用于擦除糾正預(yù)制凹坑位置的指示字的條件(N≥16)的情況下，在步驟S107中，在預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測計(jì)測結(jié)果中設(shè)置許可預(yù)制凹坑位置的擦除糾正的情況(Qn＝“H”)。
在預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測結(jié)果計(jì)測數(shù)N滿足擦去用于擦除糾正預(yù)制凹坑位置的指示字的條件(N＜16)的情況下，在步驟S108中，在預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測計(jì)測結(jié)果中設(shè)置不許可預(yù)制凹坑位置的擦除糾正的情況(Qn＝“L”)。
在步驟S207中，在滿足對(duì)預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用的指示字的條件的情況(在連續(xù)的3個(gè)糾正塊中許可了預(yù)制凹坑位置的擦除糾正(Qn-2Qn-1Qn＝“HHH”)的情況)下，在步驟S112中，生成對(duì)預(yù)制凹坑位置執(zhí)行擦除糾正的情況的、預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測計(jì)測信息。
在步驟S208中，在滿足對(duì)預(yù)制凹坑位置擦去擦除糾正用的指示字的條件的情況(在連續(xù)的3個(gè)糾正塊中不許可預(yù)制凹坑位置的擦除糾正(Qn-2Qn-1Qn＝“LLL”)的情況)下，在步驟S113中，生成對(duì)預(yù)制凹坑位置不執(zhí)行擦除糾正的情況的、預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測計(jì)測信息。
在對(duì)預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用的指示字的條件和對(duì)預(yù)制凹坑位置擦去擦除糾正用的指示字的條件中的哪一個(gè)都不滿足的情況下，在步驟S111中，生成關(guān)于擦除糾正對(duì)預(yù)制凹坑位置維持之前狀態(tài)的情況的預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤檢測計(jì)測信息。
在步驟S114中，若滿足計(jì)測結(jié)束條件，則在步驟S115中結(jié)束計(jì)測，若不滿足，則回到步驟S201，再次開始計(jì)測處理。
上述是關(guān)于一個(gè)預(yù)制凹坑位置中的錯(cuò)誤檢測和計(jì)測的處理，但關(guān)于其他的預(yù)制凹坑位置也分別進(jìn)行同樣的處理。
由系統(tǒng)控制器14對(duì)例如圖27所示的PO列-1和與其鄰接的PO列-3、PO列-2和與其鄰接的PO列-4附加擦除糾正用的指示字，進(jìn)行PI糾正。
在此，假設(shè)圖27中的PO列-1為預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置，與其鄰接的PO列-3為預(yù)制凹坑錯(cuò)誤3的位置，PO列-2為預(yù)制凹坑錯(cuò)誤2的位置，與其鄰接的PO列-4為預(yù)制凹坑錯(cuò)誤4的位置。
下面說明預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤計(jì)測電路16計(jì)測預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤的產(chǎn)生數(shù)，對(duì)預(yù)制凹坑位置附加或者擦去PI糾正的擦除糾正用的指示字的動(dòng)作。
首先，關(guān)于對(duì)預(yù)制凹坑位置附加PI糾正的擦除糾正用的指示字的動(dòng)作，以在預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置中進(jìn)行的情況為例進(jìn)行說明。
在一個(gè)糾正塊中，基于PI糾正的糾狀態(tài)，計(jì)測預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置中的錯(cuò)誤的產(chǎn)生數(shù)，并且基于PO糾正的糾正狀態(tài)，計(jì)測預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的列中的錯(cuò)誤的產(chǎn)生數(shù)。
基于預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置中的錯(cuò)誤的產(chǎn)生數(shù)的計(jì)測結(jié)果和預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的列中的錯(cuò)誤的產(chǎn)生數(shù)的計(jì)測結(jié)果，生成表示該糾正塊中的預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置中的錯(cuò)誤的產(chǎn)生狀況的信息。
在該糾正塊中的預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置的錯(cuò)誤的產(chǎn)生狀況的信息滿足了附加用于擦除糾正預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置的指示字的條件(以下稱為條件1)的情況下，生成表示滿足了條件1的情況的信息。
在依次再生的其他各糾正塊中也同樣地，計(jì)測各個(gè)糾正塊中的預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置的錯(cuò)誤的產(chǎn)生數(shù)，在滿足條件1的情況下，生成表示該情況的信息。
然后，對(duì)于再生后的各糾正塊，計(jì)測滿足條件1的糾正塊數(shù)，在再生后的一個(gè)或者多個(gè)糾正塊的范圍內(nèi)滿足附加用于擦除糾正預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置的指示字的條件(以下稱為條件2)的情況下，從預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤計(jì)測電路16向系統(tǒng)控制器14發(fā)送預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置滿足用于作為PI糾正的擦除糾正用的指示字而附加的條件這一情況。
系統(tǒng)控制器14在接收到了預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置滿足該條件這一情況時(shí)，向預(yù)制凹坑位置信息生成電路15和錯(cuò)誤糾正電路5發(fā)送作為下一個(gè)糾正塊以后的PI糾正中的擦除糾正用的指示字而附加這一情況。
關(guān)于對(duì)預(yù)制凹坑位置附加PI糾正的擦除糾正用的指示字的動(dòng)作，以從光盤1再生的數(shù)據(jù)成為如圖26所示的糾正塊的情況為例進(jìn)行說明。
在此，假設(shè)條件1為在一個(gè)糾正塊中的預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置中有16個(gè)以上的錯(cuò)誤的情況，條件2為從計(jì)測開始在3個(gè)糾正塊中連續(xù)產(chǎn)生了滿足條件1的糾正塊的情況。
在圖26的糾正塊n中，計(jì)測預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置的錯(cuò)誤的產(chǎn)生數(shù)，生成并保存表示滿足條件1的信息。同樣地，在圖26的糾正塊n+1、n+2中也計(jì)測預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置的錯(cuò)誤的產(chǎn)生數(shù)，生成表示滿足條件1的信息。
另外，由于在糾正塊n+2中，滿足條件1的糾正塊在3個(gè)糾正塊中連續(xù)，因此滿足條件2。由此，對(duì)系統(tǒng)控制器14發(fā)送預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置滿足用于作為PI糾正的擦除糾正用的指示字而附加的條件這一情況。
系統(tǒng)控制器14在接收到了預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置滿足用于作為PI糾正的擦除糾正用的指示字而附加的條件這一情況時(shí)，向預(yù)制凹坑位置信息生成電路15和錯(cuò)誤糾正電路5發(fā)送作為下一個(gè)糾正塊以后的PI糾正中的擦除糾正用的指示字而附加這一情況。
同樣地，對(duì)于預(yù)制凹坑錯(cuò)誤2、3、4也計(jì)測錯(cuò)誤的產(chǎn)生數(shù)。由于滿足條件1和條件2，因此進(jìn)行對(duì)預(yù)制凹坑位置附加PI糾正的擦除糾正用的指示字的處理。
在圖26的糾正塊n+2中，由于滿足附加預(yù)制凹坑位置的PI糾正的擦除糾正用的指示字的條件，因此在糾正塊n+3中對(duì)預(yù)制凹坑位置附加PI糾正的擦除糾正用的指示字。
計(jì)測預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤的產(chǎn)生數(shù)，在計(jì)測結(jié)果滿足對(duì)預(yù)制凹坑位置附加PI糾正的擦除糾正用的指示字的條件的情況下，通過對(duì)預(yù)制凹坑位置附加PI糾正的擦除糾正用的指示字，在很多情況下可進(jìn)行PI-PO的2次糾正，能夠提高再生性能。
關(guān)于擦去預(yù)制凹坑位置的PI糾正的擦除糾正用的指示字的動(dòng)作，以預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置中的情況為例進(jìn)說明。
在一個(gè)糾正塊中，基于PI糾正的糾正狀態(tài)，計(jì)測預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置中的錯(cuò)誤的產(chǎn)生數(shù)，并且基于PO糾正的糾正狀態(tài)，計(jì)測預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的列中的錯(cuò)誤的產(chǎn)生數(shù)。
基于預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置中的錯(cuò)誤的產(chǎn)生數(shù)的計(jì)測結(jié)果和預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的列中的錯(cuò)誤的產(chǎn)生數(shù)的計(jì)測結(jié)果，生成與該糾正塊中的預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置中的錯(cuò)誤的產(chǎn)生狀況有關(guān)的信息。
在與該糾正塊中的預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置中的錯(cuò)誤的產(chǎn)生狀況有關(guān)的信息滿足擦去用于擦除糾正預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置的指示字的條件(以下稱為條件3)的情況下，生成表示滿足條件3的信息。
在依次再生的各個(gè)糾正塊中也同樣地，計(jì)測各個(gè)糾正塊中的預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置的錯(cuò)誤的產(chǎn)生數(shù)，生成表示滿足條件3的信息。
對(duì)于再生后的各糾正塊，計(jì)測表示滿足條件3的糾正塊數(shù)，在再生后的一個(gè)或者多個(gè)糾正塊的范圍內(nèi)滿足擦去用于擦除糾正預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置的指示字的條件(以下稱為條件4)的情況下，向系統(tǒng)控制器14發(fā)送預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置滿足用于擦去PI糾正的擦除糾正用的指示字的條件這一情況。
在此，條件3也可以設(shè)為不滿足條件1的情況，條件4也可以設(shè)為不滿足條件2的情況。
系統(tǒng)控制器14在接收到了滿足用于擦去預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置中的PI糾正的擦除糾正用的指示字的條件這一情況時(shí)，向預(yù)制凹坑位置信息生成電路15和錯(cuò)誤糾正電路5發(fā)送擦去下一個(gè)糾正塊以后的PI糾正中的擦除糾正用的指示字這一情況。
關(guān)于擦去預(yù)制凹坑位置中的PI糾正的擦除糾正用的指示字的動(dòng)作，以從光盤1再生的數(shù)據(jù)成為如圖26所示的糾正塊的情況為例進(jìn)行說明。
在此，假設(shè)條件3為在該一個(gè)糾正塊中的預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置中錯(cuò)誤不足16個(gè)的情況，條件4為從計(jì)測開始在3個(gè)糾正塊中連續(xù)產(chǎn)生了滿足條件3的糾正塊的情況。
在圖26的糾正塊m中，計(jì)測預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置中的錯(cuò)誤產(chǎn)生數(shù)，生成并保存表示滿足條件3的信息。同樣地，在圖26中的糾正塊m+1、m+2中也計(jì)測預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置的錯(cuò)誤產(chǎn)生數(shù)，生成表示滿足條件3的信息。
由于在圖26的糾正塊m+2中，滿足條件3的糾正塊在3個(gè)糾正塊中連續(xù)，因此滿足條件4。由此，對(duì)系統(tǒng)控制器14發(fā)送預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置滿足用于擦去PI糾正的擦除糾正用的指示字的條件這一情況。
系統(tǒng)控制器14在接收到了滿足用于擦去預(yù)制凹坑錯(cuò)誤1的位置中的PI糾正的擦除糾正用的指示字的條件這一情況時(shí)，向預(yù)制凹坑位置信息生成電路15和錯(cuò)誤糾正電路5發(fā)送擦去下一個(gè)糾正塊以后的PI糾正中的擦除糾正用的指示字這一情況。
同樣地，對(duì)于預(yù)制凹坑錯(cuò)誤2、3、4也計(jì)測錯(cuò)誤的產(chǎn)生數(shù)。由于滿足條件3和條件4，因此擦去預(yù)制凹坑位置的PI糾正的擦除糾正用的指示字。
在圖26中示出的糾正塊m+2中，滿足擦去預(yù)制凹坑位置的PI糾正的擦除糾正用的指示字的條件。因此，從糾正塊m+3開始擦去預(yù)制凹坑位置的PI糾正的擦除糾正用的指示字。
在產(chǎn)生了如圖28所示的錯(cuò)誤的情況下，若未對(duì)預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用的指示字，就強(qiáng)制地進(jìn)行預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤糾正，因此，能夠用自代碼列內(nèi)的PI代碼列的檢測糾正來糾正全部錯(cuò)誤。在最初的PI糾正中糾正了全部錯(cuò)誤的情況下，在接著的PO糾正步驟中就不產(chǎn)生錯(cuò)誤的糾正處理。
在最后的PO糾正中不產(chǎn)生錯(cuò)誤的糾正執(zhí)行處理的情況下，在最后的PO糾正中不產(chǎn)生由于糾錯(cuò)或更新存儲(chǔ)器上的數(shù)據(jù)時(shí)的、某種原因而產(chǎn)生的輸出數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤。因此，不需要進(jìn)行PO-PI-PO的3次糾正，能夠利用PI-PO的2次糾正進(jìn)行糾正。
再有，在本第五實(shí)施方式中，關(guān)于條件2，以是否連續(xù)出現(xiàn)滿足規(guī)定數(shù)的滿足條件1的糾正塊為判斷基準(zhǔn)。但是不限于此，也可以不論滿足條件1的糾正塊是否連續(xù)，以是否滿足規(guī)定數(shù)為基準(zhǔn)。
同樣地，在本第五實(shí)施方式中，關(guān)于條件4，以是否連續(xù)出現(xiàn)滿足規(guī)定數(shù)的滿足條件3的糾正塊為基準(zhǔn)。但是，也可以不論滿足條件3的糾正塊是否連續(xù)，以是否滿足規(guī)定數(shù)為判斷基準(zhǔn)。
如上所述，根據(jù)本第五實(shí)施方式，計(jì)測預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤的產(chǎn)生數(shù)，在計(jì)測結(jié)果滿足附加或者擦去預(yù)制凹坑位置的PI糾正的擦除糾正用的指示字的條件的情況下，通過附加或者擦去預(yù)制凹坑位置的PI糾正的擦除糾正用的指示字，在很多情況下能夠用PI-PO的2次糾正進(jìn)行錯(cuò)誤糾正，提高再生性能。
圖37中示出根據(jù)本發(fā)明的第六實(shí)施方式的光盤的糾錯(cuò)裝置的結(jié)構(gòu)。本第六實(shí)施方式與具備圖21中示出的結(jié)構(gòu)的上述第四、第五實(shí)施方式不同，具有從解調(diào)電路4生成PI代碼列符號(hào)位置信息后向預(yù)制凹坑位置信息生成電路15輸出，而且，從預(yù)制凹坑譯碼器13生成預(yù)制凹坑檢測脈沖后向預(yù)制凹坑位置信息生成電路15輸出的結(jié)構(gòu)。
此外，與上述笫四實(shí)施方式、2不同，在預(yù)制凹坑位置存在于偶數(shù)位或者奇數(shù)位上的情況下也與此對(duì)應(yīng)地進(jìn)行擦除糾正用的指示字的附加或者擦去。
關(guān)于本第六實(shí)施方式中的糾正處理，以產(chǎn)生了如圖38所示的錯(cuò)誤的情況為例進(jìn)行說明。
在本第六實(shí)施方式中，假設(shè)以對(duì)可記錄盤進(jìn)行記錄時(shí)因某種原因而從依照標(biāo)準(zhǔn)的狀態(tài)偏移了的狀態(tài)下，將記錄數(shù)據(jù)記錄在記錄盤中。
在圖38中，一個(gè)糾正塊內(nèi)的前一半由于偶數(shù)位的預(yù)制凹坑而產(chǎn)生錯(cuò)誤，后一半由于奇數(shù)位的預(yù)制凹坑而產(chǎn)生錯(cuò)誤。
從PI列-1至8的PI代碼列在偶數(shù)位的預(yù)制凹坑同步的位置即PO列-1和PO列-2的位置、其相鄰處的位置即PO列-3和PO列-4的位置的符號(hào)中產(chǎn)生錯(cuò)誤，并且在其他的隨機(jī)的2個(gè)位置中產(chǎn)生錯(cuò)誤，處于總計(jì)6個(gè)符號(hào)產(chǎn)生錯(cuò)誤的狀態(tài)。
從PI列-9至16的PI代碼列中，在奇數(shù)位的預(yù)制凹坑同步的位置即PO列-5的位置、其相鄰處的位置即PO列-7的位置的符號(hào)中產(chǎn)生錯(cuò)誤，另外產(chǎn)生4個(gè)符號(hào)的錯(cuò)誤，總計(jì)產(chǎn)生了6個(gè)符號(hào)的錯(cuò)誤。
從PI列-17至25的PI代碼列中，在奇數(shù)位的預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)的位置即PO列-6的位置、其相鄰處的位置即PO列-8的位置的符號(hào)中產(chǎn)生錯(cuò)誤，另外產(chǎn)生4個(gè)符號(hào)的錯(cuò)誤，總計(jì)產(chǎn)生了6個(gè)符號(hào)的錯(cuò)誤。
PI列-26的PI代碼列在預(yù)制凹坑同步的位置和預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)的位置以外的符號(hào)中產(chǎn)生了4個(gè)錯(cuò)誤。
在此，作為對(duì)存在預(yù)制凹坑的PI代碼列的預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用的指示字的條件，假設(shè)在預(yù)制凹坑位置中存在錯(cuò)誤的列有1列時(shí)，附加擦除糾正用的指示字，在存在預(yù)制凹坑的PI代碼列的預(yù)制凹坑位置上不存在錯(cuò)誤的列有1列時(shí)，擦去擦除糾正用的指示字(以下稱為條件β)。
預(yù)制凹坑譯碼器13在再生圖38的PI列-1～8時(shí)生成相當(dāng)于如圖39所示的計(jì)數(shù)值的PI代碼列符號(hào)位置信息和預(yù)制凹坑檢測脈沖。在偶數(shù)位的同步幀中，對(duì)開始的時(shí)間點(diǎn)和相當(dāng)于糾正塊上的預(yù)制凹坑位置的第j+1符號(hào)、第k+1個(gè)符號(hào)，分別輸出預(yù)制凹坑檢測脈沖。
在此，圖40中示出一個(gè)糾正塊中的第j+1個(gè)符號(hào)、第k+1個(gè)符號(hào)的預(yù)制凹坑位置。
同樣地，在再生圖38中的PI列-9～16時(shí)，如圖41所示，對(duì)奇數(shù)位中的開始的時(shí)間點(diǎn)和第m+1個(gè)符號(hào)輸出預(yù)制凹坑檢測脈沖。另外，在再生PI列-17～25時(shí)，如圖42所示，對(duì)奇數(shù)位中的開始的時(shí)間點(diǎn)和第n+1個(gè)符號(hào)輸出預(yù)制凹坑檢測脈沖。
預(yù)制凹坑位置信息生成電路15從解調(diào)電路4接收上述圖39、圖41、圖42所示的、表示PI代碼列符號(hào)位置的信號(hào)以及表示糾正塊單位或扇區(qū)單位等的定界的信號(hào)。然后，從表示PI代碼列符號(hào)位置的信號(hào)生成糾正塊上的PI代碼列方向的預(yù)制凹坑位置信息。
以圖38中示出的糾正塊的預(yù)制凹坑位置信息為例時(shí)，PI列-1～8的列中，PO列-1的位置相當(dāng)于圖39和圖40中示出的第j+1個(gè)符號(hào)，PO列-2的位置相當(dāng)于第k+1個(gè)符號(hào)。PI列-9～16的列中，PO列-5的位置相當(dāng)于圖41和圖43中示出的第m+1個(gè)符號(hào)，PI列-17～25的列中，PO列-6的位置相當(dāng)于圖42和圖43中示出的第n+1個(gè)符號(hào)。
此外，預(yù)制凹坑位置信息生成電路15從表示糾正塊單位或扇區(qū)單位等的定界的信號(hào)生成與接收到的預(yù)制凹坑檢測脈沖是扇區(qū)開頭線(扇區(qū)的第1條線，存在預(yù)制凹坑同步)或者是扇區(qū)的笫2條線～第13條線(存在預(yù)制凹坑數(shù)據(jù))有關(guān)的PO代碼列方向的預(yù)制凹坑位置信息。
以下，假設(shè)PO列-1的位置為預(yù)制凹坑錯(cuò)誤21的位置，PO列-2的位置為預(yù)制凹坑錯(cuò)誤22的位置，PO列-3的位置為預(yù)制凹坑錯(cuò)誤23的位置，PO列-4的位置為預(yù)制凹坑錯(cuò)誤24的位置，PO列-5的位置為預(yù)制凹坑錯(cuò)誤25的位置，PO列-6的位置為預(yù)制凹坑錯(cuò)誤26的位置，PO列-7的位置為預(yù)制凹坑錯(cuò)誤27的位置，PO列-8的位置為預(yù)制凹坑錯(cuò)誤28的位置。
在圖44中示出本第六實(shí)施方式中的糾正處理的流程。特別是與圖25中示出的上述第四實(shí)施方式相比，不同點(diǎn)在于在步驟13之后追加了步驟13a。
在步驟13a中，基于生成的預(yù)制凹坑檢測脈沖生成預(yù)制凹坑位置信息。在該預(yù)制凹坑位置信息中，檢測到的預(yù)制凹坑的位置表示扇區(qū)開頭行中的偶數(shù)位中的預(yù)制凹坑同步的位置、奇數(shù)位中的預(yù)制凹坑同步的位置、偶數(shù)位中的預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)“1”的位置、奇數(shù)位中的預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)“1”的位置中的任一個(gè)。在接下來的步驟14中，基于該信息重新識(shí)別預(yù)制凹坑的位置。省略其他的與上述第四實(shí)施方式相同的步驟有關(guān)的說明。
圖45中示出偶數(shù)位的預(yù)制凹坑同步的位置、偶數(shù)位的預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)“1”的位置、奇數(shù)位的預(yù)制凹坑同步的位置、奇數(shù)位的預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)“1”的位置中的各自的擦除糾正用指示字的附加判斷的示意圖。
用PI糾正來糾正PI列-2～8、10～16、18的錯(cuò)誤，用PO糾正來糾正PI列-1、9、17的錯(cuò)誤。
相對(duì)于對(duì)全部的PI代碼列的預(yù)制凹坑錯(cuò)誤21～24的位置附加擦除糾正用的指示字的情況，通過根據(jù)預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤附加或者不附加擦除糾正用的指示字，來提高糾正處理效率，在很多情況下不產(chǎn)生PO-PI-PO的3次糾正，因此提高再生性能。
圖46中示出根據(jù)本發(fā)明的第七實(shí)施方式的光盤的糾錯(cuò)裝置的結(jié)構(gòu)。
與圖21中示出的上述第四～第六實(shí)施方式相比，不同點(diǎn)在于，在本第七實(shí)施方式中，從預(yù)制凹坑譯碼器13向預(yù)制凹坑位置信息生成電路15輸出是否存在預(yù)制凹坑的信息。預(yù)制凹坑譯碼器13向預(yù)制凹坑位置信息生成電路15發(fā)送表示從光盤1再生的預(yù)制凹坑的位圖案是預(yù)制凹坑同步還是預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)“1”的、是否存在預(yù)制凹坑的信息。
在此，預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)“0”由于在其數(shù)據(jù)寫入?yún)^(qū)域中不存在預(yù)制凹坑，因此不會(huì)因?yàn)轭A(yù)制凹坑而在讀出時(shí)產(chǎn)生錯(cuò)誤，不考慮該情況。
在圖47的流程圖中示出本第七實(shí)施方式中的處理的次序。與圖25中示出的上述第四實(shí)施方式中的處理的次序相比，不同點(diǎn)在于，在步驟S15與步驟S16之間追加了步驟S15A和步驟S15B。
在步驟S15中，判斷是否滿足擦除糾正預(yù)制凹坑位置的條件。
在滿足該條件的情況下，轉(zhuǎn)移到步驟S15A，判斷是否為預(yù)制凹坑同步或者預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)“1”中的任一個(gè)。
在預(yù)制凹坑同步或者預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)1”的情況下，轉(zhuǎn)移到與上述第四實(shí)施方式相同的步驟S16，在不同的情況下，轉(zhuǎn)移到步驟S15B。
在預(yù)制凹坑同步的情況下，預(yù)制凹坑位置成為圖39和圖40中示出的第j+1個(gè)符號(hào)和第k+1個(gè)符號(hào)、圖41和圖43中示出的第m+1個(gè)符號(hào)。
在預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)“1”的情況下，預(yù)制凹坑位置成為圖39和圖40中示出的第k+1個(gè)符號(hào)、圖42和圖43中的第n+1個(gè)符號(hào)。
在步驟S15B中進(jìn)行單獨(dú)用PI代碼的檢測糾正，轉(zhuǎn)移到步驟S19。
預(yù)制凹坑位置信息生成電路15對(duì)糾正塊上的每個(gè)PI代碼列生成預(yù)制凹坑位置信息。
預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤計(jì)測電路16基于錯(cuò)誤糾正電路5的糾正狀態(tài)，對(duì)于存在預(yù)制凹坑同步或者預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)“1”的PI代碼列的預(yù)制凹坑位置，即第j+1個(gè)符號(hào)和第k+1個(gè)符號(hào)、第m+1個(gè)符號(hào)和第n+1個(gè)符號(hào)，分別與上述第四實(shí)施方式同樣地進(jìn)行如圖34中示出的預(yù)制凹坑錯(cuò)誤a的位置那樣的檢測和計(jì)測，在滿足條件α的情況下，向系統(tǒng)控制器14發(fā)送附加擦除糾正用的指示字的情況的信號(hào)。
錯(cuò)誤糾正電路5從系統(tǒng)控制器14接收對(duì)預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用的指示字的情況的信號(hào)，在進(jìn)行存在預(yù)制凹坑同步或者預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)“1”的PI代碼列的糾正處理的情況下，對(duì)預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用的指示字而進(jìn)行錯(cuò)誤糾正。
在進(jìn)行糾正的PI代碼列中有偶數(shù)位的預(yù)制凹坑同步的情況下，對(duì)該P(yáng)I代碼列的第j+1個(gè)符號(hào)和第k+1個(gè)符號(hào)附加擦除糾正用的指示字，進(jìn)行擦除糾正。在進(jìn)行糾正的PI代碼列中不存在預(yù)制凹坑的情況下，單獨(dú)用PI代碼進(jìn)行檢測糾正。
在產(chǎn)生了如圖31中示出的糾正塊B那樣的錯(cuò)誤的情況下，對(duì)于PI列-2-1～16，對(duì)PO列1～4的位置附加擦除糾正用的指示字，與單獨(dú)用PI代碼的糾正一起進(jìn)行擦除糾正。
對(duì)于PI列-2-17～33，對(duì)PO列2、PO列4的位置附加擦除糾正用的指示字，與單獨(dú)用PI代碼的糾正一起進(jìn)行擦除糾正。關(guān)于除上述以外的PI列，進(jìn)行單獨(dú)用PI代碼的糾正。由此，能夠僅用PI糾正來糾正全部的錯(cuò)誤，因此不需要進(jìn)行PO-PI-PO的3次糾正，提高再生性能。
在本第七實(shí)施方式中，在糾正塊上的預(yù)制凹坑位置是預(yù)制凹坑同步的情況下，設(shè)為第j+1個(gè)符號(hào)和第k+1個(gè)符號(hào)、第m+1個(gè)符號(hào)。此外，在糾正塊上的預(yù)制凹坑位置是預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)“1”的情況下，設(shè)為第k+1個(gè)符號(hào)和第n+1個(gè)符號(hào)。但是，不限于此，這些位置也可以設(shè)為按照標(biāo)準(zhǔn)的位置，也可以由系統(tǒng)控制器14進(jìn)行控制。
此外，在本第七實(shí)施方式中，由于通常存在偶數(shù)位中的預(yù)制凹坑多的傾向，因此，將糾正塊上的預(yù)制凹坑位置僅設(shè)為偶數(shù)位。但是，也可以將糾正塊上的預(yù)制凹坑位置僅沒為奇數(shù)位，或者也可以設(shè)為偶數(shù)位和奇數(shù)位兩者。
根據(jù)本發(fā)明的第八實(shí)施方式的光盤的糾錯(cuò)裝置的結(jié)構(gòu)與上述第七實(shí)施方式同樣地如圖46所示，在圖48中示出其處理次序。
與圖47中示出的上述第七實(shí)施方式中的處理次序相比，不同點(diǎn)在于步驟S15AA中的處理。即，預(yù)制凹坑譯碼器13生成表示從光盤1再生的預(yù)制凹坑的位圖案是否為偶數(shù)位的預(yù)制凹坑同步、偶數(shù)位的預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)“1”、奇數(shù)位的預(yù)制凹坑同步、奇數(shù)位的預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)“1”中的任一個(gè)的、是否存在預(yù)制凹坑的信息，向預(yù)制凹坑位置信息生成電路15發(fā)送。
預(yù)制凹坑位置信息生成電路15對(duì)糾正塊上的每個(gè)PI代碼列生成預(yù)制凹坑位置信息。在再生的預(yù)制凹坑的位圖案是預(yù)制凹坑同步的情況下，預(yù)制凹坑的位置成為第j+1個(gè)符號(hào)和第k+1個(gè)符號(hào)、以及第m+1個(gè)符號(hào)。
在預(yù)制凹坑的位圖案是預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)“1”的情況下，預(yù)制凹坑位置成為第k+1個(gè)符號(hào)和第n+1個(gè)符號(hào)。
預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤計(jì)測電路16基于錯(cuò)誤糾正電路5的糾正狀態(tài)，對(duì)于存在預(yù)制凹坑同步或者預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)“1”的PI代碼列的預(yù)制凹坑位置，即第j+1個(gè)符號(hào)和第k+1個(gè)符號(hào)、第m+1個(gè)符號(hào)和第n+1個(gè)符號(hào)，分別進(jìn)行如圖34中示出的預(yù)制凹坑錯(cuò)誤a的位置那樣的檢測和計(jì)測，在滿足條件α的情況下，向系統(tǒng)控制器14發(fā)送附加擦除糾正用的指示字的情況的信號(hào)。
錯(cuò)誤糾正電路5從系統(tǒng)控制器14接收對(duì)預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用的指示字的情況的信號(hào)，在進(jìn)行存在預(yù)制凹坑同步或者預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)“1”的PI代碼列的糾正處理的情況下，對(duì)存在預(yù)制凹坑同步或者預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)“1”的偶數(shù)位或者奇數(shù)位的任一個(gè)預(yù)制凹坑位置附加擦除糾正用的指示字而進(jìn)行錯(cuò)誤糾正。
在進(jìn)行糾正的PI代碼列中有偶數(shù)位的預(yù)制凹坑同步的情況下，在該P(yáng)I代碼列的第j+1個(gè)符號(hào)和第k+1個(gè)符號(hào)附加擦除糾正用的指示字，進(jìn)行擦除糾正。在進(jìn)行糾正的PI代碼列中不存在預(yù)制凹坑的情況下，單獨(dú)用PI代碼進(jìn)行糾正。
在產(chǎn)生了如圖38所示的錯(cuò)誤的情況下，在PI列-1～8中，對(duì)PO列1～4的位置附加擦除糾正用的指示字，與單獨(dú)用PI代碼的糾正一起進(jìn)行擦除糾正。
在PI列-9～16中，對(duì)PO列5和7的位置附加擦除糾正用的指示字，與單獨(dú)用PI代碼的糾正一起進(jìn)行擦除糾正。
在PI列-17～25中，對(duì)PO列6和8的位置附加擦除糾正用的指示字，與單獨(dú)用PI代碼的糾正一起進(jìn)行擦除糾正。在除了這些以外的PI列中，進(jìn)行單獨(dú)用PI代碼的糾正。
由此，根據(jù)本第八實(shí)施方式，通過配合預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤的產(chǎn)生狀況，對(duì)預(yù)制凹坑的位置附加或者擦去PI糾正的擦除糾正用的指示字，能夠靈活地對(duì)應(yīng)由于預(yù)制凹坑的影響而產(chǎn)生的錯(cuò)誤的產(chǎn)生狀況，因此提高再生性能。
根據(jù)以上說明的第四實(shí)施方式～五，在再生記錄于像DVD-R/RW這樣的可記錄的盤中的數(shù)據(jù)的情況下，在因?yàn)轭A(yù)先在不可擦去的狀態(tài)下記錄的預(yù)先格式化信息的預(yù)制凹坑的影響而在記錄數(shù)據(jù)中產(chǎn)生了錯(cuò)誤的情況下，通過配合預(yù)制凹坑位置的錯(cuò)誤的產(chǎn)生狀況，對(duì)預(yù)制凹坑位置附加或者擦去PI糾正的擦除糾正用的指示字，能夠?qū)崿F(xiàn)PI-PO的2次糾正，能夠提高再生性能。
權(quán)利要求
1.一種光盤再生裝置的糾錯(cuò)裝置，從在光盤的記錄部中記錄了代碼列數(shù)據(jù)和記錄引導(dǎo)信息的光盤再生記錄信息，上述代碼列數(shù)據(jù)是在與記錄信息的順序相同的方向上附加了差錯(cuò)代碼的數(shù)據(jù)，上述記錄引導(dǎo)信息是作為用于在上述光盤中記錄上述代碼列數(shù)據(jù)的記錄引導(dǎo)而在記錄該代碼列數(shù)據(jù)之前，在不可擦去的狀態(tài)下預(yù)先記錄的信息，其特征在于，上述光盤再生裝置的糾錯(cuò)裝置具有檢測上述記錄引導(dǎo)信息中的物理結(jié)構(gòu)上的奇異點(diǎn)作為第一位置的第一位置檢測部；生成將由上述第一位置檢測部檢測到的上述第一位置置換為上述代碼列數(shù)據(jù)的位置的第二位置的第二位置生成部；使用上述第二位置對(duì)上述代碼列數(shù)據(jù)的差錯(cuò)進(jìn)行擦除糾正的糾錯(cuò)部。
2.如權(quán)利要求1所述的光盤裝置的糾錯(cuò)裝置，其特征在于，上述光盤是包括DVD-R和DVD-RW的可記錄的數(shù)字多用途盤，上述第一位置是在上述數(shù)字多用途盤中作為記錄引導(dǎo)用信息而預(yù)先記錄的預(yù)制凹坑。
3.如權(quán)利要求1所述的光盤裝置的糾錯(cuò)裝置，其特征在于，上述第一位置是對(duì)于上述光盤的上述記錄部人為地形成的上述物理結(jié)構(gòu)上的奇異點(diǎn)，在從上述光盤再生了上述記錄信息時(shí)，檢測上述物理結(jié)構(gòu)上的奇異點(diǎn)的位置作為上述第一位置，根據(jù)上述物理結(jié)構(gòu)上的奇異點(diǎn)與上述代碼列數(shù)據(jù)的相對(duì)位置關(guān)系生成上述第二位置。
4.如權(quán)利要求3所述的光盤裝置的糾錯(cuò)裝置，其特征在于，上述光盤是包括DVD-R和DVD-RW的可記錄的數(shù)字多用途盤，上述第一位置是在上述數(shù)字多用途盤中作為記錄引導(dǎo)用信息而預(yù)先記錄的預(yù)制凹坑。
5.如權(quán)利要求1所述的光盤裝置的糾錯(cuò)裝置，其特征在于，檢測對(duì)于上述光盤的上述記錄部人為地形成的上述物理結(jié)構(gòu)上的奇異點(diǎn)與再生上述光盤得到的上述代碼列數(shù)據(jù)的位置關(guān)系，基于該檢測結(jié)果，確定上述第二位置。
6.如權(quán)利要求5所述的光盤裝置的糾錯(cuò)裝置，其特征在于，上述光盤是包括DVD-R和DVD-RW的可記錄的數(shù)字多用途盤，上述第一位置是在上述數(shù)字多用途盤中作為記錄引導(dǎo)用信息而預(yù)先記錄的預(yù)制凹坑。
7.如權(quán)利要求1所述的光盤裝置的糾錯(cuò)裝置，其特征在于，具有上述第二位置信息生成部，在上述第一位置位于上述代碼列數(shù)據(jù)和與其鄰接的代碼列數(shù)據(jù)之間的情況下，將上述第二位置作為還包含將上述第一位置置換為上述代碼列數(shù)據(jù)的位置的前后的代碼列數(shù)據(jù)的位置。
8.如權(quán)利要求7所述的光盤裝置的糾錯(cuò)裝置，其特征在于，上述光盤是包括DVD-R和DVD-RW的可記錄的數(shù)字多用途盤，上述第一位置是在上述數(shù)字多用途盤中作為記錄引導(dǎo)用信息而預(yù)先記錄的預(yù)制凹坑。
9.一種光盤再生裝置的糾錯(cuò)裝置，從在光盤的記錄部中記錄了第一代碼列數(shù)據(jù)和記錄引導(dǎo)信息的光盤再生記錄信息，上述第一代碼列數(shù)據(jù)是在與記錄信息的順序相同的方向上附加了差錯(cuò)代碼的數(shù)據(jù)，上述記錄引導(dǎo)信息是作為用于在上述光盤中記錄上述第一代碼列數(shù)據(jù)的記錄引導(dǎo)而在記錄上述第一代碼列之前，在不可擦去的狀態(tài)下預(yù)先記錄的信息，其特征在于，上述光盤再生裝置的糾錯(cuò)裝置具有檢測上述記錄引導(dǎo)信息中的物理結(jié)構(gòu)上的奇異點(diǎn)作為第一位置的第一位置檢測部；生成將由上述第一位置檢測部檢測到的上述第一位置置換為上述第一代碼列數(shù)據(jù)的位置的第二位置的第二位置生成部；檢測上述第二位置的數(shù)據(jù)的差錯(cuò)的差錯(cuò)檢測部；計(jì)測上述差錯(cuò)檢測部所檢測到的差錯(cuò)的數(shù)量的差錯(cuò)計(jì)測部，在上述差錯(cuò)計(jì)測部在規(guī)定期間內(nèi)計(jì)測的差錯(cuò)的數(shù)量滿足所希望的值時(shí)，使用上述第二位置對(duì)上述第一代碼列數(shù)據(jù)的差錯(cuò)進(jìn)行擦除糾正。
10.如權(quán)利要求9所述的糾錯(cuò)裝置，其特征在于，上述光盤是DVD-R和DVD-RW盤，基于上述第一檢測部是否檢測到了預(yù)制凹坑的信息而生成上述第二位置。
11.如權(quán)利要求10所述的糾錯(cuò)裝置，其特征在于，上述第一檢測部具有識(shí)別預(yù)制凹坑的位圖案的單元，上述第二位置生成部在由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑的位圖案是預(yù)制凹坑同步的情況下，將第一規(guī)定位置(J)和第二規(guī)定位置(K)作為第二位置，其中J＜K，在上述預(yù)制凹坑的位圖案是預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)1的情況下，將第二規(guī)定位置(K)作為第二位置。
12.如權(quán)利要求10所述的糾錯(cuò)裝置，其特征在于，上述第一檢測部具有識(shí)別預(yù)制凹坑的位圖案的單元；識(shí)別由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑存在于上述第一代碼列數(shù)據(jù)的偶數(shù)同步幀和奇數(shù)同步幀中的哪一個(gè)幀中的單元，上述第二位置生成部在由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑存在于上述第一代碼列數(shù)據(jù)的偶數(shù)同步幀中，并且由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑的位圖案是預(yù)制凹坑同步的情況下，將第一規(guī)定位置(J)和第二預(yù)制凹坑位置(K)作為第二位置，在由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑存在于上述第一代碼列數(shù)據(jù)的偶數(shù)同步幀中，并且由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑的位圖案是預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)1的情況下，將第二規(guī)定位置(K)作為第二位置，在由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑存在于上述第一代碼列數(shù)據(jù)的奇數(shù)同步幀中，并且由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑的位圖案是預(yù)制凹坑同步的情況下，將第三規(guī)定位置(L)作為第二位置，在由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑存在于上述第一代碼列數(shù)據(jù)的奇數(shù)同步幀中，并且由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑的位圖案是預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)1的情況下，將第四規(guī)定位置(M)作為第二位置，其中J＜K＜L＜M。
13.如權(quán)利要求9所述的糾錯(cuò)裝置，其特征在于，檢測上述第二位置的數(shù)據(jù)的差錯(cuò)的差錯(cuò)檢測部從上述第一代碼列數(shù)據(jù)檢測差錯(cuò)位置。
14.如權(quán)利要求13所述的糾錯(cuò)裝置，其特征在于，上述光盤是DVD-R和DVD-RW盤，基于上述第一檢測部是否檢測到了預(yù)制凹坑的信息而生成上述第二位置。
15.如權(quán)利要求14所述的糾錯(cuò)裝置，其特征在于，上述第一檢測部具有識(shí)別預(yù)制凹坑的位圖案的單元，上述第二位置生成部在由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑的位圖案是預(yù)制凹坑同步的情況下，將第一規(guī)定位置(J)和第二規(guī)定位置(K)作為第二位置，其中J＜K，在上述預(yù)制凹坑的位圖案是預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)1的情況下，將第二規(guī)定位置(K)作為第二位置。
16.如權(quán)利要求14所述的糾錯(cuò)裝置，其特征在于，上述第一檢測部具有識(shí)別預(yù)制凹坑的位圖案的單元；以及識(shí)別由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑存在于上述第一代碼列數(shù)據(jù)的偶數(shù)同步幀和奇數(shù)同步幀中的哪一個(gè)幀中的單元，上述第二位置生成部在由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑存在于上述第一代碼列數(shù)據(jù)的偶數(shù)同步幀中，并且由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑的位圖案是預(yù)制凹坑同步的情況下，將第一規(guī)定位置(J)和第二預(yù)制凹坑位置(K)作為第二位置，在由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑存在于上述第一代碼列數(shù)據(jù)的偶數(shù)同步幀中，并且由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑的位圖案是預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)1的情況下，將第二規(guī)定位置(K)作為第二位置，在由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑存在于上述第一代碼列數(shù)據(jù)的奇數(shù)同步幀中，并且由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑的位圖案是預(yù)制凹坑同步的情況下，將第三規(guī)定位置(L)作為第二位置，在由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑存在于上述第一代碼列數(shù)據(jù)的奇數(shù)同步幀中，并且由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑的位圖案是預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)1的情況下，將第四規(guī)定位置(M)作為第二位置，其中J＜K＜L＜M。
17.如權(quán)利要求9所述的糾錯(cuò)裝置，其特征在于，檢測上述第二位置的數(shù)據(jù)的差錯(cuò)的差錯(cuò)檢測部，從在與上述第一代碼列不同的方向上附加了差錯(cuò)代碼的第二代碼列數(shù)據(jù)檢測差錯(cuò)位置。
18.如權(quán)利要求17所述的糾錯(cuò)裝置，其特征在于，上述光盤是DVD-R和DVD-RW盤，基于上述第一檢測部是否檢測到了預(yù)制凹坑的信息而生成上述第二位置。
19.如權(quán)利要求18所述的糾錯(cuò)裝置，其特征在于，上述第一檢測部具有識(shí)別預(yù)制凹坑的位圖案的單元，上述第二位置生成部在由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑的位圖案是預(yù)制凹坑同步的情況下，將第一規(guī)定位置(J)和第二規(guī)定位置(K)作為第二位置，其中J＜K，在上述預(yù)制凹坑的位圖案是預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)1的情況下，將第二規(guī)定位置(K)作為第二位置。
20.如權(quán)利要求16所述的糾錯(cuò)裝置，其特征在于，上述第一檢測部具有識(shí)別預(yù)制凹坑的位圖案的單元；以及識(shí)別由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑存在于上述第一代碼列數(shù)據(jù)的偶數(shù)同步幀和奇數(shù)同步幀中的哪一個(gè)幀中的單元，上述第二位置生成部在由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑存在于上述第一代碼列數(shù)據(jù)的偶數(shù)同步幀中，并且由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑的位圖案是預(yù)制凹坑同步的情況下，將第一規(guī)定位置(J)和第二預(yù)制凹坑位置(K)作為第二位置，在由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑存在于上述第一代碼列數(shù)據(jù)的偶數(shù)同步幀中，并且由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑的位圖案是預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)1的情況下，將第二規(guī)定位置(K)作為第二位置，在由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑存在于上述第一代碼列數(shù)據(jù)的奇數(shù)同步幀中，并且由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑的位圖案是預(yù)制凹坑同步的情況下，將第三規(guī)定位置(L)作為第二位置，在由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑存在于上述第一代碼列數(shù)據(jù)的奇數(shù)同步幀中，并且由上述第一檢測部檢測到的預(yù)制凹坑的位圖案是預(yù)制凹坑數(shù)據(jù)1的情況下，將第四規(guī)定位置(M)作為第二位置，其中J＜K＜L＜M。
全文摘要
提供一種光盤再生裝置的糾錯(cuò)裝置，從在光盤的記錄部中記錄了代碼列數(shù)據(jù)和記錄引導(dǎo)信息的光盤再生記錄信息，所述代碼列數(shù)據(jù)是在與記錄信息的順序相同的方向上附加了差錯(cuò)代碼的數(shù)據(jù)，所述記錄引導(dǎo)信息是作為用于在光盤中記錄代碼列數(shù)據(jù)的記錄引導(dǎo)而在記錄該代碼列數(shù)據(jù)之前，在不可擦去的狀態(tài)下預(yù)先記錄的信息。該糾錯(cuò)裝置具有檢測記錄引導(dǎo)信息中的物理結(jié)構(gòu)上的奇異點(diǎn)作為第一位置的、作為第一位置檢測部的預(yù)制凹坑譯碼器；生成將由作為第一位置檢測部的預(yù)制凹坑譯碼器檢測到的上述第一位置置換為上述代碼列數(shù)據(jù)的位置的第二位置的第二位置生成部；使用第二位置對(duì)上述代碼列數(shù)據(jù)的差錯(cuò)進(jìn)行擦除糾正的作為糾錯(cuò)部的錯(cuò)誤糾正電路。
文檔編號(hào)G11B7/00GK1971746SQ20061017284
公開日2007年5月30日 申請日期2006年6月23日 優(yōu)先權(quán)日2005年6月24日
發(fā)明者森山勝敏, 池田裕介, 前川智之 申請人:株式會(huì)社東芝