亚洲成年人黄色一级片,日本香港三级亚洲三级,黄色成人小视频,国产青草视频,国产一区二区久久精品,91在线免费公开视频,成年轻人网站色直接看

光盤裝置的制作方法

文檔序號:6775935閱讀:107來源:國知局
專利名稱:光盤裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及修正光盤裝置的電路中所產(chǎn)生的電偏移量等的技術(shù)。
背景技術(shù)
當光盤裝置進行數(shù)據(jù)的寫入或讀出時,光盤裝置向光盤的磁道上照射激光,形成激光點,由光電檢測器接收該反射光,變換為電信號。為了使激光的照射位置正確地跟蹤到光盤的信息記錄層和層上的磁道,光盤裝置根據(jù)該電信號生成表示跟蹤殘差的伺服信號(跟蹤誤差信號或聚焦誤差信號等),進行照射位置的反饋控制。
在伺服信號的生成電路中包含多個放大器。因為放大器中存在很難完全防止的電偏移量,所以在生成的伺服信號中重疊著這樣的電偏移量。如果使用這樣的伺服信號控制激光的照射位置,則產(chǎn)生跟蹤殘差,記錄再現(xiàn)性能惡化。因此,以往的光盤裝置采用在進行數(shù)據(jù)的寫入及/或讀出前,預先修正電偏移量的對策。
另外,專利文獻1中所述的光盤裝置在數(shù)據(jù)的寫入及/或讀出中也修正電偏移量。其理由是電偏移量具有根據(jù)電路的周圍溫度而變化的特性,有必要按照該變化進行適當?shù)男拚?br> 圖25表示以往的光盤裝置250的功能塊的結(jié)構(gòu)。光盤裝置250按如下工作。即如果激光二極管2002進行激光的發(fā)光,放射激光,則激光在視準透鏡2003中變換為平行光,通過分光束鏡2004到達物鏡2005。物鏡2005把平行光匯聚,在光盤2001的信息記錄層上形成激光點,并且把在信息記錄層中反射的光(反射光)變換為平行光。分光束鏡2004對來自物鏡2005的反射光付與向受光量檢測部2006的方向。受光量檢測部2006接收該平行光,生成并輸出與受光量成比例的光量信號。TE信號生成部2007根據(jù)該光量信號生成并輸出激光的照射位置和光盤2001的記錄磁道中心的偏移的跟蹤誤差信號(Tracking ErrorTE)信號。
而頭檢測部2013如果根據(jù)光量信號,檢測作為預凹陷而預先記錄在光盤2001的各扇區(qū)中的標題,生成頭再現(xiàn)信號,則檢測控制部2008進行跟蹤信號保持、激光的不發(fā)光控制和TE信號的偏移量檢測,然后進行激光發(fā)光和跟蹤信號的保持的解除。檢測控制部2008生成用于進行這些控制的各種控制信號。具體而言,檢測控制部2008根據(jù)該標題再現(xiàn)信號,輸出控制控制信號生成部2009的保持信號、控制激光二極管2002的激光發(fā)光的隔斷信號、控制偏移量檢測部2010的檢測控制信號。當檢測控制部2008輸出的保持信號指示保持時,控制信號生成部2009保持跟蹤控制信號。當隔斷信號指示激光發(fā)光停止時,激光二極管2002使激光器為不發(fā)光狀態(tài)。當檢測控制信號指示偏移量檢測時,偏移量檢測部2010檢測TE信號的偏移量。
偏移量檢測部2010根據(jù)檢測控制信號指示偏移量檢測,檢測重疊在TE信號中的電偏移量的偏移量,偏移量修正部2011根據(jù)該偏移量生成表示修正量的偏移量修正信號。偏移量修正部2011根據(jù)檢測的偏移量計算修正信號,跟蹤控制部2009根據(jù)計算的修正信號修正TE信號的偏移量。
跟蹤控制部2009根據(jù)偏移量修正信號修正TE信號,按照該TE信號輸出用于使激光的照射位置跟蹤到光盤2001的記錄磁道上的磁道控制信號。透鏡驅(qū)動電路2012按照跟蹤控制信號使物鏡2005的位置變化。
光盤裝置250在數(shù)據(jù)的讀出動作中,每次檢測到標題,修正TE信號的電偏移量。這在寫入動作中也同樣。
特開平5-62220號公報在以往的光盤裝置中,即使在數(shù)據(jù)的讀出和寫入動作中,也暫時使激光為不發(fā)光狀態(tài),修正電偏移量,這時必須中斷對光盤的數(shù)據(jù)寫入和讀出。因此,再現(xiàn)時,從光盤裝置向主機等的傳輸率下降,在記錄時,從主機向光盤裝置的傳輸率下降,很難確保必要的傳輸率。特別是在對光盤記錄電視節(jié)目,同時能再現(xiàn)的光盤裝置中,有必要交替進行數(shù)據(jù)的寫入和讀出,所以必須確保比以往還高的傳輸率。
伴隨著近年的光盤的大容量化,光盤的記錄密度提高,要求更高的伺服精度。結(jié)果,光盤裝置有必要頻繁進行電偏移量的修正。因此,中斷數(shù)據(jù)的寫入和讀出的時間進一步延長,更難確保高的傳輸率。
此外,如果增大光盤裝置的緩存器的容量,雖然可緩和上述的問題,但是會引起光盤裝置的成本上升,所以不是好辦法。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是為了解決所述課題而提出的,其目的在于提供在不降低傳輸率的前提下,修正電偏移量的技術(shù)。
本發(fā)明的光盤裝置對于具有信息記錄層的光盤進行數(shù)據(jù)的寫入和讀出的至少一方,包括放射光的光源;使所述光匯聚的透鏡;檢測由所述光盤反射的所述光,輸出再現(xiàn)信號的光檢測器;輸出所述再現(xiàn)信號和所定基準信號的一方的至少一個隔斷部;根據(jù)所述隔斷部的輸出信號生成伺服信號的伺服信號生成部;檢測所述伺服信號生成部的電路引起的所述伺服信號生成部的第一偏移量的偏移量檢測部,即把輸出所述基準信號時的所述伺服信號生成部的輸出值作為所述第一偏移量的值檢測的偏移量檢測部;存儲檢測的多個第一偏移量的值的存儲部;把現(xiàn)在的第一偏移量的值和第二偏移量的值的一方作為修正值輸出的計算部,即根據(jù)存儲的所述多個第一偏移量的值的變化率,導出所述第二偏移量的計算部;根據(jù)所述修正值修正所述伺服信號的修正部。
光盤裝置還可以包括測定所述伺服信號生成部的溫度的傳感器;根據(jù)測定的所述溫度生成指示是否需要更新所述修正值的更新信號,并且根據(jù)從所述修正值的最后的更新時開始的經(jīng)過時間,生成表示是否需要所述第一偏移量的檢測的檢測信號的判斷部。當所述檢測信號指示所述第一偏移量的檢測,并且所述更新信號指示所述修正值的更新時,所述偏移量檢測部檢測現(xiàn)在的第一偏移量,所述修正部把現(xiàn)在的第一偏移量作為修正值輸出。
光盤裝置還可以包括測定所述伺服信號生成部的溫度的傳感器;根據(jù)測定的所述溫度生成指示是否需要更新所述修正值的更新信號,并且根據(jù)從所述修正值的最后的更新時開始的經(jīng)過時間,生成表示是否需要所述第一偏移量的檢測的檢測信號的判斷部。當所述檢測信號不指示所述第一偏移量的檢測,并且所述更新信號指示所述修正值的更新時,所述計算部導出所述第二偏移量。
光盤裝置還可以包括測定所述伺服信號生成部的溫度的傳感器;根據(jù)測定的所述溫度生成指示是否需要更新所述修正值的更新信號,并且根據(jù)從所述修正值的最后的更新時開始的經(jīng)過時間,生成表示是否需要所述第一偏移量的檢測的檢測信號的判斷部;當所述檢測信號不指示所述第一偏移量的檢測,并且所述更新信號不指示所述修正值的更新時,所述修正部根據(jù)現(xiàn)在的修正值修正所述第一伺服信號。
光盤裝置還可以包括生成指示是否隔斷所述再現(xiàn)信號的所述隔斷信號的檢測控制部。當所述檢測信號指示所述第一偏移量的檢測時,所述檢測控制部生成指示所述再現(xiàn)信號的隔斷的隔斷信號;根據(jù)所述隔斷信號,所述隔斷部隔斷所述再現(xiàn)信號,輸出所定的基準信號。
光盤裝置還可以包括生成指示是否隔斷所述再現(xiàn)信號的所述隔斷信號的檢測控制部。當所述檢測信號指示所述第一偏移量的檢測時,所述檢測控制部生成指示所述再現(xiàn)信號的隔斷的隔斷信號;根據(jù)所述隔斷信號,所述光源停止發(fā)光。
光盤裝置還包括根據(jù)控制信號在所述光盤的半徑方向和垂直于所述光盤的方向的至少一方使所述透鏡位置變化的透鏡驅(qū)動部;根據(jù)所述檢測信號生成所述控制信號的控制信號生成部。當所述檢測信號指示所述第一偏移量的檢測時,所述控制信號生成部保持所述控制信號的值。光盤裝置還包括放大輸出所述再現(xiàn)信號的放大部。所述至少一個隔斷部具有第一隔斷部和第二隔斷部,所述第一隔斷部根據(jù)所述第一隔斷信號向所述放大部輸出所述再現(xiàn)信號和所定的第一基準信號的一方,第二隔斷部根據(jù)第二隔斷信號向所述伺服信號生成部輸出所述放大部的輸出信號和所定的第二基準信號的一方;所述偏移量檢測部把從所述隔斷部輸出所述第一基準信號時的所述放大部的輸出值作為所述放大部的電路引起的所述放大部的第三偏移量的值檢測;所述存儲部還存儲檢測的多個第三偏移量的值;所述計算部把現(xiàn)在的第三偏移量的值和第四偏移量的值的一方作為修正值輸出,輸出所述第四偏移量的值時,根據(jù)存儲的所述多個第三偏移量的值的變化率,導出所述第四偏移量的值。
光盤裝置還包括測定所述放大部的溫度的第一傳感器;測定所述伺服信號生成部的溫度的第二傳感器;根據(jù)測定的所述放大部的溫度和所述伺服信號生成部的溫度,生成指示是否需要所述修正值的更新的更新信號,并且根據(jù)從所述修正值的最后更新時開始的經(jīng)過時間,生成表示是否需要所述第一偏移量和第三偏移量的檢測的檢測信號的判斷部。當所述檢測信號指示所述第三偏移量的檢測,并且所述更新信號指示所述修正值的更新時,所述偏移量檢測部檢測現(xiàn)在的第3偏移量,所述修正部把所述現(xiàn)在的第三偏移量作為修正值輸出。
在向所述光盤寫入數(shù)據(jù)時和從所述讀出光盤數(shù)據(jù)時,所述偏移量檢測部檢測所述第一偏移量,所述存儲部存儲所述多個第一偏移量,所述計算部輸出所述修正值。
所述伺服信號是跟蹤誤差信號和聚焦誤差信號的至少一方。
如果測定的所述溫度變化量超過所定閾值,所述判斷部就生成指示所述修正值的更新的更新信號。
光盤裝置還包括測定所述經(jīng)過時間的時間測定部;如果測定的所述時間超過所定閾值,所述判斷部就生成指示所述修正值的更新的更新信號。
光盤裝置還包括存儲所述數(shù)據(jù)的緩存器。當所述更新信號指示所述修正值的更新時,所述判斷部根據(jù)所述緩存器內(nèi)的信息量,生成表示是否需要所述第一偏移量的檢測的檢測信號。
光盤裝置還包括存儲多個測定的所述溫度值的溫度存儲部。所述計算部根據(jù)所述溫度存儲部中存儲的所述溫度值和所述多個第一偏移量的值,導出所述第二偏移量的值。
所述溫度存儲部在把所述第一偏移量的各值存儲在所述存儲部中的時刻存儲所述溫度值;所述計算部決定所述溫度存儲部中存儲的所述溫度值中最接近現(xiàn)在的溫度值的兩個溫度值,根據(jù)在與決定的溫度值相同的時刻存儲在所述存儲部中的所述第一偏移量的值,導出所述第二偏移量的值。
本發(fā)明的光盤裝置的控制方法控制對具有信息記錄層的光盤進行數(shù)據(jù)的寫入和讀出的至少一方的光盤裝置,包括放射光的步驟;使所述光匯聚的步驟;檢測由所述光盤反射的所述光,輸出再現(xiàn)信號的步驟;把所述再現(xiàn)信號和所定基準信號的一方作為輸出信號輸出的步驟;根據(jù)輸出信號生成伺服信號的步驟;檢測重疊在所述伺服信號上的第一偏移量的步驟,即把對與所述基準信號生成的所述伺服信號作為所述第一偏移量檢測的步驟;存儲檢測的多個第一偏移量的值的步驟;把現(xiàn)在的第一偏移量的值和第二偏移量的值的一方作為修正值輸出的步驟,即根據(jù)存儲的所述多個第一偏移量的值的變化率,導出所述第二偏移量的步驟;根據(jù)所述修正值修正所述第一伺服信號的步驟。
本發(fā)明的光盤裝置對于具有信息記錄層的光盤進行數(shù)據(jù)的寫入和讀出的至少一方,包括具有放射光的光源、使所述光匯聚的透鏡和檢測所述光輸出再現(xiàn)信號的光檢測器的光頭;根據(jù)控制信號,在實質(zhì)上垂直于所述信息記錄層的方向使所述透鏡的位置變化的透鏡驅(qū)動部;生成所述控制信號的控制信號生成部,即生成包含使所述透鏡移動到不接收到來自所述光盤的反射光的位置的指示的所述控制信號的控制信號生成部;根據(jù)所述再現(xiàn)信號,生成第一跟蹤誤差信號的TE信號生成部;檢測在所述TE信號生成部中產(chǎn)生的電偏移量的偏移量檢測部;根據(jù)所述電偏移量生成從所述第一跟蹤誤差信號除去電偏移量的第二跟蹤誤差信號的偏移量修正部;根據(jù)所述第二跟蹤誤差信號,檢測與在所述光頭內(nèi)漫反射的光對應的雜射光信號,從所述再現(xiàn)信號除去所述雜射光信號的雜射光調(diào)整部。
本發(fā)明的光盤裝置對于具有信息記錄層的光盤進行數(shù)據(jù)的寫入和讀出的至少一方,包括具有放射光的光源、使所述光匯聚在所述光盤上的透鏡和檢測來自所述光盤的反射光輸出第一再現(xiàn)信號的光檢測器的光頭;根據(jù)所述第一再現(xiàn)信號,生成具有所定范圍內(nèi)的電平的第二再現(xiàn)信號的電平調(diào)整部;根據(jù)所述第二再現(xiàn)信號生成第一跟蹤誤差信號的TE信號生成部,即該動態(tài)范圍是所述所定范圍的TE信號生成部;檢測所述TE信號生成部中產(chǎn)生的電偏移量的偏移量檢測部;根據(jù)所述電偏移量,生成從所述第一跟蹤誤差信號除去所述電偏移量的第二跟蹤誤差信號的偏移量修正部;根據(jù)所述第二跟蹤誤差信號生成控制信號的控制信號生成部;根據(jù)所述控制信號在橫切所述磁道的方向驅(qū)動所述透鏡,使所述光匯聚的位置位于所述磁道上的透鏡驅(qū)動部。
本發(fā)明的光盤裝置的控制方法,控制對于具有信息記錄層的光盤進行數(shù)據(jù)的寫入和讀出的至少一方的光盤裝置,包括放射光的步驟;使所述光匯聚在所述光盤上的步驟;檢測來自所述光盤的反射光,輸出第一再現(xiàn)信號的步驟;根據(jù)所述第一再現(xiàn)信號生成具有所定范圍內(nèi)的水平的第二再現(xiàn)信號的步驟;根據(jù)所述第二再現(xiàn)信號,生成第一跟蹤誤差信號的步驟;檢測在生成所述第一跟蹤誤差信號時產(chǎn)生,并且重疊在所述第一跟蹤誤差信號上的電偏移量的值的步驟;根據(jù)所述偏移量的值,生成從所述第一跟蹤誤差信號除去所述電偏移量的第二跟蹤誤差信號的步驟;根據(jù)所述第二跟蹤誤差信號生成控制信號的步驟;根據(jù)所述控制信號使所述光匯聚的位置位于所述磁道上的步驟。
控制方法包含以所定間隔多次進行檢測所述電偏移量的步驟的步驟;存儲所述電偏移量的各值的步驟;根據(jù)所述電偏移量的至少兩個值,在所述電偏移量的檢測后,推測重疊在所述第一跟蹤誤差信號上的電偏移量的值的步驟;生成所述第二跟蹤誤差信號的步驟根據(jù)推測的所述電偏移量的值,生成所述第二跟蹤誤差信號。
本發(fā)明的光盤裝置對于具有信息記錄層的光盤進行數(shù)據(jù)的寫入和讀出的至少一方,包括具有放射光的光源、使所述光匯聚的透鏡和檢測所述光輸出再現(xiàn)信號的光檢測器的光頭;根據(jù)控制信號,使所述透鏡的位置在實質(zhì)上垂直于所述信息記錄層的方向變化的透鏡驅(qū)動部;生成所述控制信號的控制信號生成部,即生成包含使所述透鏡移動到不接收到來自所述光盤的反射光的位置的指示的所述控制信號的控制信號生成部;根據(jù)所述再現(xiàn)信號,生成第一聚焦誤差信號的FE信號生成部;檢測在所述FE信號生成部中產(chǎn)生的電偏移量的偏移量檢測部;根據(jù)所述電偏移量生成從所述第一聚焦誤差信號除去電偏移量的第二聚焦誤差信號的偏移量修正部;根據(jù)所述第二聚焦誤差信號,檢測與在所述光頭內(nèi)漫反射的光對應的雜射光信號,從所述再現(xiàn)信號除去所述雜射光信號的雜射光調(diào)整部。
本發(fā)明的光盤裝置對于具有信息記錄層的光盤進行數(shù)據(jù)的寫入和讀出的至少一方,包括具有放射光的光源、使所述光匯聚在所述光盤上的透鏡和檢測來自所述光盤的反射光輸出第一再現(xiàn)信號的光檢測器的光頭;根據(jù)所述第一再現(xiàn)信號,生成具有所定范圍內(nèi)的電平的第二再現(xiàn)信號的電平調(diào)整部;根據(jù)所述第二再現(xiàn)信號,生成表示垂直于所述光盤的方向的所述光焦點位置和所述信息記錄層的位置關(guān)系的第一聚焦誤差信號的FE信號生成部,即該動態(tài)范圍是所述所定范圍的FE信號生成部;檢測所述FE信號生成部中產(chǎn)生的電偏移量的偏移量檢測部;根據(jù)所述電偏移量,生成從所述第一聚焦誤差信號除去所述電偏移量的第二聚焦誤差信號的偏移量修正部;根據(jù)所述第二聚焦誤差信號生成控制信號的控制信號生成部;根據(jù)所述控制信號在垂直于所述光盤的方向驅(qū)動所述透鏡,使所述光匯聚的位置位于所述信息記錄層的透鏡驅(qū)動部。
本發(fā)明的光盤裝置的控制方法控制對于具有信息記錄層的光盤進行數(shù)據(jù)的寫入和讀出的至少一方的光盤裝置,包括放射光的步驟;使所述光匯聚在所述光盤上的步驟;檢測來自所述光盤的反射光,輸出第一再現(xiàn)信號的步驟;根據(jù)所述第一再現(xiàn)信號的電平生成具有所定范圍內(nèi)的水平的第二再現(xiàn)信號的步驟;根據(jù)所述第二再現(xiàn)信號,生成第一聚焦誤差信號的步驟;檢測在生成所述第一聚焦誤差信號時產(chǎn)生,并且重疊在所述第一聚焦誤差信號上的電偏移量的值的步驟;根據(jù)所述偏移量的值,生成從所述第一聚焦誤差信號除去所述電偏移量的第二聚焦誤差信號的步驟;根據(jù)所述第二聚焦誤差信號生成控制信號的步驟;根據(jù)所述控制信號使所述光匯聚的位置位于所述信息記錄層上的步驟。
控制方法包含以所定間隔多次進行檢測所述電偏移量的步驟的步驟;存儲所述電偏移量的各值的步驟;根據(jù)所述電偏移量的至少兩個值,在所述電偏移量的檢測后,推測重疊在所述第一聚焦誤差信號上的電偏移量的值的步驟。生成所述第二聚焦誤差信號的步驟根據(jù)推測的所述電偏移量的值,生成所述第二聚焦誤差信號。
光盤裝置,對于具有信息記錄層的光盤進行數(shù)據(jù)的寫入和讀出的至少一方,包括具有放射光的光源、使所述光匯聚的透鏡和檢測所述光輸出再現(xiàn)信號的光檢測器的光頭;根據(jù)控制信號,使所述透鏡的位置在實質(zhì)上垂直于所述信息記錄層的方向變化的透鏡驅(qū)動部;生成所述控制信號的控制信號生成部,即生成包含使所述透鏡移動到不接收到來自所述光盤的反射光的位置的指示的第一控制信號和包含使所述透鏡移動到接收到來自所述光盤的反射光的位置的指示的第二控制信號的控制信號生成部;根據(jù)所述第一控制信號,所述透鏡驅(qū)動部工作時,根據(jù)所述第一再現(xiàn)信號,檢測與所述光頭內(nèi)漫反射的光對應的雜射光信號,保持與檢測的所述雜射光信號電平對應的修正值的雜射光調(diào)整部;根據(jù)所述第二控制信號,所述透鏡驅(qū)動部工作時,根據(jù)所述第一再現(xiàn)信號的電平,生成具有所定范圍內(nèi)的電平的第二再現(xiàn)信號的電平調(diào)整部;根據(jù)所述第二再現(xiàn)信號,生成表示所述光焦點位置和所述光盤的位置關(guān)系的第一伺服信號的信號生成部,即該動態(tài)范圍是所述所定范圍的信號生成部;檢測所述信號生成部中產(chǎn)生的電偏移量的偏移量檢測部;根據(jù)所述電偏移量,生成從所述第一伺服信號除去所述電偏移量的第二伺服信號的偏移量修正部;所述雜射光調(diào)整部根據(jù)所述修正值修正所述第二伺服信號。
本發(fā)明的光盤裝置在伺服控制中,保持伺服控制,通過檢測電偏移量,或不保持,通過導出偏移量,更新修正值,修正電偏移量。據(jù)此,能縮短光盤裝置中斷數(shù)據(jù)的寫入和讀出的時間,在光盤裝置和緩存器間能實現(xiàn)高速的信息傳輸。


下面簡要說明附圖。
圖1是實施例1的光盤裝置的框圖。
圖2是狀況判斷部107的框圖。
圖3是與狀況判斷部107關(guān)聯(lián)的信號的時序圖。
圖4是檢測控制部108的框圖。
圖5是與檢測控制部108關(guān)聯(lián)的信號的時序圖。
圖6是表示溫度存儲部106中存儲的值以及檢測值檢測部113中存儲的值、檢測信號以及更新信號的關(guān)系的圖。
圖7是表示光盤裝置19的動作步驟的程序流程圖。
圖8是實施例2的光盤裝置的框圖。
圖9是狀況判斷部709的框圖。
圖10是與狀況判斷部709關(guān)聯(lián)的信號的時序圖。
圖11是檢測控制部710的框圖。
圖12是與檢測控制部710關(guān)聯(lián)的信號的時序圖。
圖13是表示溫度存儲部708中存儲的值以及檢測值檢測部713中存儲的值、檢測信號以及更新信號的關(guān)系的圖。
圖14是表示光盤裝置29的動作步驟的程序流程圖。
圖15是表示實施例3的光盤裝置的框圖。
圖16是狀況判斷部1309的框圖。
圖17是與狀況判斷部1309關(guān)聯(lián)的信號的時序圖。
圖18是檢測控制部1310的框圖。
圖19是與檢測控制部1310關(guān)聯(lián)的信號的時序圖。
圖20是表示光盤裝置39的動作步驟的程序流程圖。
圖21是表示實施例4的光盤裝置的框圖。
圖22(a)是表示TE信號生成部1301內(nèi)部的放大器可處理的動態(tài)范圍D的圖,(b)是表示內(nèi)部信號的電平超過上限值Dmax的狀態(tài)的圖,(c)是表示表示內(nèi)部信號的電平比下限值Dmin還小的狀態(tài)的圖,(d)是表示進入TE信號生成部1301的動態(tài)范圍中的輸入信號范圍的圖。
圖23是表示實施例4的光盤裝置的修正處理步驟的程序流程圖。
圖24是表示在實施例1的光盤裝置中設(shè)置電平調(diào)整部43和雜射光調(diào)整部46的光盤裝置結(jié)構(gòu)的圖。
圖25是以往的光盤裝置的框圖。
圖中1-光盤;2-激光二極管;3-視準透鏡;4-分光束鏡;5-物鏡;6-受光量檢測部;7-透鏡驅(qū)動電路;10-光頭;11-TE生成芯片;12-光盤控制器;13-傳感器部;40-光頭;41-TE生成芯片;42-光盤控制器;43-電平調(diào)整部;43a-電平檢測部;43b-電平修正部;44-檢測值存儲部;45-修正值計算部;46-雜射光調(diào)整部;46a-雜射光檢測部;46b-雜射光修正部;47-控制信號生成部;100-第一隔斷部;101-放大部;102-第二隔斷部;103-TE信號生成部;104-第一溫度檢測部;105-第二溫度檢測部;106-溫度存儲部;107-狀況判斷部;108-檢測控制部;109-低通濾波器;110-控制信號生成部;111-偏移量修正部;112-偏移量檢測部;113-檢測值存儲部;114-修正值計算部。
具體實施例方式
圖1表示本實施例的光盤裝置19的功能框圖。光盤裝置19具有透鏡驅(qū)動電路7、光頭10、TE生成芯片11、光盤控制器(ODC)12、傳感器部13。
光盤裝置19對于光盤1能使用激光進行數(shù)據(jù)的寫入和讀出。當進行這些動作時,光盤裝置19進行控制,使激光的焦點位于光盤的信息記錄層上,并且激光點跟蹤設(shè)置在信息記錄層上的記錄磁道。該控制稱作伺服控制。在圖中表示用于進行本實施例的伺服控制的構(gòu)成要素。此外,把伺服控制的其他例子作為實施例2說明。
光盤裝置連接在PC等主機(未圖示)上,能作為光驅(qū)利用。記錄信息及/或再現(xiàn)信息在光盤裝置和主機之間不直接傳輸,通過內(nèi)置在光驅(qū)內(nèi)的緩存器(未圖示)進行傳輸。例如當向光盤寫入數(shù)據(jù)時,從主機發(fā)送的記錄信息暫時存儲在緩存器中,光驅(qū)讀出存儲在緩存器中的信息,記錄到光盤中。當從光盤再現(xiàn)信息時,光驅(qū)把從光盤再現(xiàn)的信息暫時存儲在緩存器中,主機讀出存儲在緩存器中的信息。此外,圖1中未表示用于進行寫入處理和讀出處理的構(gòu)成要素,但是,能使用眾所周知的構(gòu)件和處理步驟,所以在本實施例中省略說明。
本說明書中的光盤1例如假定為CD、DVD-ROM、DVD-RAM、DVD-RW、DVD-R、+RW、+R、BD(Blu-Ray Disc)等圓盤狀的記錄媒體。下面,說明圖示的光盤裝置19的各構(gòu)成要素。
透鏡驅(qū)動電路7根據(jù)跟蹤控制信號生成和輸出驅(qū)動信號,使后面描述的物鏡5的位置在光盤1的半徑方向變化。例如當跟蹤控制信號被保持時,則繼續(xù)被保持之前的驅(qū)動信號的輸出,當解除保持時,則輸出與跟蹤控制信號對應的驅(qū)動信號。此外,透鏡驅(qū)動電路7不僅在光盤1的半徑方向,也能使物鏡5的位置在垂直于光盤1的信息記錄層的方向變化,但是在本實施例的控制中,不是問題,所以省略說明。
光頭10具有激光二極管2、視準透鏡3、分光束鏡4、物鏡5、受光量檢測部6、第一隔斷部100、放大部101。
激光二極管2放射激光。激光的波長按照光盤1的種類而不同。例如,當光盤1為BD時,激光的波長約為405nm。視準透鏡3把從激光二極管2放射的激光變換為平行光。分光束鏡4把從視準透鏡3出射的平行光向物鏡5透過,并且把來自物鏡5的平行光(來自光盤1的反射光)向受光量檢測部6的方向分離。物鏡5把透射視準透鏡3和分光束鏡4的平行光匯聚,在光盤1的信息記錄層上形成激光點。此外,物鏡5把由信息記錄層反射的光變換為平行光,向分光束鏡4發(fā)送。受光量檢測部6接收從分光束鏡4出射的平行光,生成與受光量相應的光量信號輸出。例如,受光量檢測部6是輸出與受光量成比例的光電流的光電檢測器。該光電流信號是作為讀出光盤1上的數(shù)據(jù)的結(jié)果而取得的信號,在本說明書中,也稱作再現(xiàn)信號。
第一隔斷部100在從后面描述的檢測控制部108輸出的第一隔斷信號為高電平時輸出基準電壓,當為低電平時原封不動輸出從受光量檢測部6輸出的光量信號。放大部101是把第一隔斷部100輸出的信號放大輸出的放大器。此外,當從第一隔斷部100原封不動輸出光量信號時,放大的信號實質(zhì)上是再現(xiàn)信號。
TE生成芯片11具有第二隔斷部102、TE信號生成部103、低通濾波器109。TE生成芯片11例如能作為半導體集成電路實現(xiàn)。
第二隔斷部102當從后面描述的檢測控制部108輸出的第二隔斷信號為高電平時輸出基準電壓,當為低電平時原封不動輸出從放大部101輸出的信號。
TE信號生成部103根據(jù)從第二隔斷部102輸出的信號,輸出表示激光的照射位置和光盤1的記錄磁道中心的偏移的跟蹤誤差(Tracking ErrorTE)信號。
低通濾波器109從TE信號生成部103輸出的TE信號中使跟蹤控制所必要的頻帶以上的成分截止,抽出該頻率(截止頻率)以下的頻率成分。例如,光盤1是BD,當以通常速度(1倍速度)旋轉(zhuǎn)時,約100Hz以上。此外,低通濾波器109當從后面描述的狀況判斷部107輸出的檢測信號為高電平時,能提高截止頻率(在上述的BD的例子中,約為500kHz),當?shù)碗娖綍r,能降低(在上述的BD的例子中,約100Hz)。
只要截止頻率可變,低通濾波器109則可以是模擬濾波器,也可以是數(shù)字濾波器。此外,TE生成芯片11在以下說明的ODC12上可以作為DSP設(shè)置,這時,不用特別劃分TE生成芯片11和ODC12。
傳感器部13具有第一溫度檢測部104和第二溫度檢測部105。它們具體而言是傳感器。第一溫度檢測部104檢測放大部101的內(nèi)部或周邊的溫度,輸出第一溫度信號。第二溫度檢測部105檢測TE信號生成部103的內(nèi)部或周邊的溫度,輸出第二溫度信號。
光盤控制器(Optical Disc ControllerODC)12具有溫度存儲部106、狀況判斷部107、檢測控制部108、控制信號生成部110、偏移量修正部111、偏移量檢測部112、檢測值存儲部113、修正值計算部114。ODC12具有1個以上的數(shù)字信號處理器(DSP)、易失性或非易失性存儲器等。DSP是所謂的計算機,通過執(zhí)行存儲在存儲器中的計算機程序,能實現(xiàn)上述的各構(gòu)成要素的功能。此外,如果變更提供給DSP的計算機程序,則除了實現(xiàn)本實施例的光盤裝置,實施例2~4的ODC也能實現(xiàn)。這樣的計算機程序根據(jù)后面各實施例的說明中參照的附圖的程序流程圖中記載的處理記述。以下,說明各要素的功能。
溫度存儲部106按照后面描述的檢測信號和更新信號,存儲從第一溫度檢測部104輸出的第一溫度信號和從第二溫度檢測部105輸出的第二溫度信號的各個值。
狀況判斷部107按照第一溫度信號、第二溫度信號和溫度存儲部106中存儲的值,輸出更新信號和檢測信號。后面將描述狀況判斷部107的更詳細的結(jié)構(gòu)、更新信號和檢測信號的詳細說明。
檢測控制部108按照檢測信號輸出由2值表示的第一隔斷信號、第二隔斷信號和檢測控制信號。
控制信號生成部110當檢測信號為低電平時,按照偏移量修正部111的輸出信號,輸出用于把激光的照射位置跟蹤到光盤1的記錄磁道的跟蹤控制信號。而當檢測信號為高電平時,保持(固定)跟蹤控制信號。偏移量修正部111修正低通濾波器109的輸出信號中包含的電偏移量。具體而言,偏移量修正部111從低通濾波器109的輸出信號的值減去修正值計算部114的輸出信號的值輸出。
偏移量檢測部112如果從檢測控制部108接收高電平的檢測控制信號,就檢測電偏移量,輸出偏移量信號。
檢測值存儲部113按照檢測信號和來自檢測控制部108的檢測控制信號,存儲從偏移量檢測部112輸出的偏移量的值。
修正值計算部114按照更新信號和檢測信號,從檢測值存儲部113和溫度存儲部106讀出存儲的值,計算電偏移量的修正值,輸出修正信號。此外,修正值計算部114按照更新信號保持修正信號的值。
下面,更詳細說明ODC12的各構(gòu)成要素。
圖2表示狀況判斷部107的功能塊的結(jié)構(gòu)。狀況判斷部107包含溫度變化檢測部200、判斷部201、經(jīng)過時間測定部202。
溫度變化檢測部200從溫度存儲部106讀出值,計算從第一溫度檢測部104輸出的第一溫度信號的值和溫度存儲部106中存儲的值的差,輸出第一溫度變化信號。第一溫度變化信號的值表示該差的絕對值。溫度變化檢測部200計算從第二溫度檢測部105輸出第二溫度信號的值和溫度存儲部106的地址2(后面描述)中存儲的值的差,輸出表示該絕對值的第二溫度變化信號。此外,溫度存儲部106具有多個信息存儲區(qū)域。后面將描述溫度變化檢測部200究竟讀出哪個區(qū)域的值。
判斷部201通常輸出低電平的更新信號,如果第一溫度變化信號或第二溫度變化信號超過所定的閾值,就使更新信號的電平在一定時間中為高電平。此外,判斷部201按照更新信號和從經(jīng)過時間測定部202輸出的經(jīng)過時間信號,輸出檢測信號。更新信號和檢測信號是2值的脈沖信號。
經(jīng)過時間測定部202測定從檢測信號的脈沖上升沿開始的經(jīng)過時間,輸出表示該值的經(jīng)過時間信號。此外,每當檢測信號的脈沖上升,經(jīng)過時間信號的值就復位為0。
下面,說明溫度存儲部106的信息存儲區(qū),然后,說明利用溫度存儲部106的狀況判斷部107的動作。
溫度存儲部106具有6個信息存儲區(qū)。假定把用于特定各信息存儲區(qū)的位置的地址分別記載為地址1、地址2、地址3、地址4、地址5、地址6。各區(qū)域中所保存的信息是預先決定的。具體而言,在地址1的區(qū)域中存儲第一溫度信號的值,在地址2的區(qū)域中存儲第二溫度信號的值,在地址3和地址4的區(qū)域中存儲第一溫度信號的值,在地址5和地址6的區(qū)域中存儲第二溫度信號的值。
第一溫度信號和第二溫度信號分別存儲在三個不同的區(qū)域中的理由在于用不同的時刻更新存儲的值。具體而言,通過更新信號控制地址1的區(qū)域的存儲值,通過更新信號控制地址2的區(qū)域的存儲值,通過檢測信號控制地址3和地址4的區(qū)域的存儲值,通過檢測信號控制地址5和地址6的區(qū)域的存儲值。
下面,參照圖3說明溫度存儲部106和狀況判斷部107動作時刻。
圖3表示與狀況判斷部107關(guān)聯(lián)的信號的時序圖。
第一溫度信號在更新信號的脈沖上升的時刻(垂直于圖中時間軸的方向的虛線)被采樣,該值存儲在溫度存儲部106的地址1的區(qū)域中。為了參考,用黑點(●)表示存儲的第一溫度信號的值。
第一溫度變化信號是表示從第一溫度信號的值減去溫度存儲部106的地址1區(qū)域中存儲的值而取得的值的絕對值的信號。此外,在更新信號的脈沖上升時刻,第一溫度信號的值和地址1區(qū)域中存儲的值總相等,所以第一溫度變化信號的值為0。
第二溫度信號在更新信號的脈沖上升的時刻被采樣,它的值存儲在溫度存儲部106的地址2的區(qū)域中。為了參考,用黑點(●)表示所存儲的第二溫度信號的值。
第二溫度變化信號是表示從第二溫度信號的值減去溫度存儲部106的地址2區(qū)域中存儲的值而取得的值的絕對值的信號。此外,在更新信號的脈沖上升時刻,第二溫度信號的值和地址2區(qū)域中存儲的值總相等,所以第二溫度變化信號的值為0。
此外,溫度存儲部106在檢測信號的脈沖上升時把存儲在地址3的區(qū)域中的值存儲到地址4的區(qū)域中,然后,把第一溫度信號的值存儲到地址3的區(qū)域中。然后,把存儲在地址5的區(qū)域中的值存儲到地址6的區(qū)域中后,把第二溫度信號的值存儲到地址5的區(qū)域中。
更新信號通常是低電平,當?shù)谝粶囟茸兓盘柣虻诙囟茸兓盘柕哪骋恢党^所定的閾值時,在一定時間中為高電平。更新信號在高電平時指示溫度存儲部106的值的更新,在低電平時指示溫度存儲部106的值的保持(即不更新)。
檢測信號也通常是低電平,在更新信號的脈沖上升的時刻,如果經(jīng)過時間信號的值超過所定的閾值,則在一定時間中為高電平。即檢測信號是表示從上次復位的時間開始的經(jīng)過時間是否超過所定閾值的檢測結(jié)果的信號。高電平的檢測信號表示有檢測,低電平的檢測信號表示無檢測。此外,檢測信號的脈沖的下降與更新信號的脈沖下降同時。
經(jīng)過時間信號,與檢測信號的脈沖上升沿對應地被復位為0,值與此后的經(jīng)過時間成正比例變化。在圖中,表示與經(jīng)過時間成比例變大的經(jīng)過時間信號。根據(jù)經(jīng)過時間信號的值,能確定從復位時開始的經(jīng)過時間。
下面,參照圖3說明各信號的關(guān)系。每當放大部101的內(nèi)部或周邊的溫度、及TE信號生成部103的內(nèi)部或周邊的溫度的某一方,從更新信號的上升沿開始變化所定以上時,則更新信號在一定時間中變?yōu)楦唠娖?。此外,這時,從檢測信號的上升沿開始經(jīng)過所定時間時,檢測信號在一定時間中變?yōu)楦唠娖健?br> 著眼于圖3所示的時刻t1、t2、t3。時刻t3表示現(xiàn)在時刻,時刻t2表示檢測信號的脈沖上升沿之中從時刻t3觀察,最近的過去時刻,時刻t1表示時刻t2的其次近的過去時刻。
在溫度存儲部106的地址1的區(qū)域中存儲著時刻t2的第一溫度信號的值。同樣,在地址2的區(qū)域中,存儲著時刻t2的第二溫度信號的值,在地址3的區(qū)域中存儲著時刻t2的第一溫度信號的值,在地址4的區(qū)域中存儲著時刻t1的第一溫度信號的值,在地址5的區(qū)域中,存儲著時刻t2的第二溫度信號的值,而且在地址6的區(qū)域中存儲著時刻t1的第二溫度信號的值。即在地址1和地址2的各區(qū)域中,無論檢測信號的值如何,存儲著最后更新信號變?yōu)楦唠娖綍r的第一溫度信號和第二溫度信號的值,在地址3和地址5的各區(qū)域中,分別存儲著更新信號和檢測信號都變?yōu)楦唠娖綍r的第一溫度信號和第二溫度信號的值,在地址4和地址6的各區(qū)域中,分別存儲著2次以前更新信號和檢測信號都變?yōu)楦唠娖綍r的第一溫度信號和第二溫度信號的值。
下面,詳細說明ODC12的檢測控制部108。圖4表示檢測控制部108的功能塊的結(jié)構(gòu)。檢測控制部108具有第一隔斷控制部400、第二隔斷控制部401、偏移量檢測控制部402。它們都相應從來自狀況判斷部107的檢測信號的上升時刻開始的經(jīng)過時間進行動作。
第一隔斷控制部400生成第一隔斷信號,向第一隔斷部100輸出。第二隔斷控制部401生成第二隔斷信號,向第二隔斷部102輸出。偏移量檢測控制部402生成檢測控制信號,向偏移量檢測部112和檢測值存儲部113輸出。下面,參照圖5說明這些信號的細節(jié)。
圖5表示與檢測控制部108關(guān)聯(lián)的信號的時序圖。檢測信號如剛才參照圖3所說明的那樣,從判斷部201輸出。第一隔斷信號在檢測信號的脈沖上升之后上升,在檢測信號的脈沖下降之前下降。第二隔斷信號在第一隔斷信號的脈沖上升之后上升,與第一隔斷信號的脈沖下降同時下降。檢測控制信號在第一隔斷信號為高電平時,包含2次的脈沖波形。第一次的脈沖與第二隔斷信號的脈沖上升同時下降。第二次的脈沖在第二隔斷信號的脈沖上升之后上升,在第一隔斷信號和第二隔斷信號的脈沖的下降同時下降。
下面,詳細說明偏移量檢測部112。偏移量檢測部112如果從檢測控制部108接收高電平的檢測控制信號,就檢測低通濾波器109的輸出信號的值。如后所述,這時,在從低通濾波器109輸出的信號中包含有電偏移量引起的信號成分。偏移量檢測部112具有檢測該值的功能。
下面,詳細說明檢測值存儲部113。檢測值存儲部113具有5個信息存儲區(qū)。各信息存儲區(qū)的地址分別記載為地址7、地址8、地址9、地址10、地址11。檢測值存儲部113檢測出檢測控制信號的各脈沖是檢測信號的脈沖上升后的第幾次的脈沖,按照各脈沖,存儲來自檢測控制部108的檢測控制信號下降時的偏移量檢測部112輸出的偏移量信號的值。檢測控制信號的脈沖是第一次的脈沖時,把下降時的偏移量信號的值存儲在地址11的信息存儲區(qū)中。當是第二次的脈沖時,把下降時的偏移量信號的值存儲在地址8的信息存儲區(qū)中。檢測值存儲部113從存儲在地址11中的值減去存儲在地址8中的值,把結(jié)果存儲在地址7中。通過該動作,在地址7的區(qū)域中,存儲綜合了檢測信號為高電平時的放大部101中產(chǎn)生的電偏移量的值,在地址8的區(qū)域中存儲檢測信號為高電平時的TE信號生成部103和低通濾波器109中產(chǎn)生的電偏移量的值。
此外,檢測值存儲部113當檢測信號的脈沖上升時,把存儲在地址7中的值存儲到地址9中,把存儲在地址8中的值存儲在地址10中。
根據(jù)以上的動作,在檢測值存儲部113的地址7和地址8中分別存儲著包含最后有更新并且有檢測時的放大部101中產(chǎn)生的電偏移量的值、包含TE信號生成部103和低通濾波器109中產(chǎn)生的電偏移量的值。此外,在地址9和地址10中分別存儲著包含2次前有更新并且有檢測時的放大部101中產(chǎn)生的電偏移量的值、包含TE信號生成部103和低通濾波器109中產(chǎn)生的電偏移量的值。此外,在地址11中存儲著包含最后有更新并且有檢測時的放大部101、TE信號生成部103低通濾波器109中產(chǎn)生的電偏移量的值。
下面,詳細說明修正值計算部114。
圖6表示溫度存儲部106中存儲的值以及檢測值存儲部113中存儲的值、檢測信號以及更新信號的關(guān)系。修正值計算部114在計算修正值時,把第一溫度信號的值、第二溫度信號的值、放大部101中產(chǎn)生的電偏移量的值、TE信號生成部103和第一溫度檢測部104中產(chǎn)生的電偏移量的值作為必要。
現(xiàn)在,時刻t6表示現(xiàn)在時刻,在檢測信號的上升時之中,t3表示從時刻t6觀察,最近的過去時刻,時刻t1表示時刻t3的其次近的過去時刻。此外,檢測信號的下降時中,時刻t4表示從時刻t6觀察最近的過去時刻,時刻t2表示時刻t4的其次近的過去時刻。時刻t5表示更新信號的上升時中,從時刻t6觀察最近的過去的時刻。
在溫度存儲部106的地址4的區(qū)域中存儲著時刻t1的第一溫度信號的值(T10)。此外,在地址3的區(qū)域中存儲著時刻t3的第一溫度信號的值(T11)。并且,在地址1的區(qū)域中存儲著時刻t5的第一溫度信號的值(T12)。
而在溫度存儲部106地址6的區(qū)域中存儲著時刻t1的第二溫度信號的值(T20)。在地址5的區(qū)域中存儲著時刻t3的第二溫度信號的值(T21)。在地址2的區(qū)域中存儲著時刻t5的第二溫度信號的值(T22)。
在檢測值存儲部113的地址9的區(qū)域中存儲著時刻t2附近的放大部101的電偏移量值(Os10)。在地址7的區(qū)域中存儲著時刻t4附近的放大部101的電偏移量值(Os11)。
在檢測值存儲部113的地址10的區(qū)域中存儲著時刻t2附近的TE信號生成部103和低通濾波器109的電偏移量的綜合值(Os20)。在地址8的區(qū)域中存儲著時刻t4附近的TE信號生成部103和低通濾波器109的電偏移量的綜合值(Os21)。
下面,說明在修正值計算部114中進行的修正值的計算步驟。修正值計算部114分別計算對于放大部101的電偏移量的修正值、對于TE信號生成部103以及低通濾波器109綜合電偏移量的修正值,最后把兩者相加,作為綜合的修正值。修正值計算部114在來自狀況判斷部107的檢測信號和更新信號的脈沖下降后計算修正值。
這里,設(shè)修正值計算部114關(guān)于放大部101新計算的修正值為C1。此外,關(guān)于TE信號生成部103和低通濾波器109新計算的修正值為C2。此外,最終輸出的修正值為C。
首先,當更新信號為高電平,并且檢測信號也為高電平時,修正值C1為Os11,修正值C2為Os21。此外,最終輸出的修正值C為(C1+C2)。即這時的電偏移量由偏移量檢測部112檢測,修正值計算部114把該值原封不動地作為修正值。
此外,當更新信號為高電平,并且檢測信號為低電平時,修正值計算部114根據(jù)(表達式1)計算修正值C1,根據(jù)(表達式2)計算修正值C2。
(表達式1)C1=(Os11-Os10)×(T12-T11)/(T11-T10)+Os11(表達式2)C2=(Os21-Os20)×(T22-T21)/(T21-T20)+Os21最終輸出的修正值C為(C1+C2)。即不檢測這時的電偏移量,所以修正值計算部114從過去的值推測現(xiàn)在的電偏移量的值,以該值作為修正值。在推測中把電偏移量對于溫度變化的變化作為線性,根據(jù)該變化率進行計算。使用的電偏移量采用最后和2次前檢測的值,并且也利用該檢測時的溫度。
下面,參照圖7說明光盤裝置19的動作。
圖7表示光盤裝置19的動作的步驟。首先,在步驟S100中,第一溫度檢測部104和第二溫度檢測部105檢測放大部101和TE信號生成部103的溫度。在接著的步驟S101中,狀況判斷部107判斷從上次的偏移量值更新時開始,放大部101或TE信號生成部103的某一溫度是否變化所定值以上。當溫度未變化所定值以上時,處理回到步驟S100,當變化時,處理進入步驟S102。在步驟S102中,狀況判斷部107判斷從上次的電偏移量的檢測時開始是否經(jīng)過所定時間以上。當經(jīng)過所定時間以上時,進入步驟S103,當未經(jīng)過所定時間以上時,進入步驟S104。
在步驟S103中,通過偏移量檢測部112檢測偏移量。這里,一邊參照圖1和圖5,一邊說明偏移量的檢測處理。首先,如果狀況判斷部107如果使檢測信號為高電平,則控制信號生成部110保持此前或這時的跟蹤控制信號的值。在保持期間中,透鏡驅(qū)動電路7輸出固定物鏡5的位置的驅(qū)動信號。通過使物鏡5的位置位于光盤1固定,激光點關(guān)于光盤1的半徑方向固定在保持之前的位置。
與檢測信號變?yōu)楦唠娖酵瑫r,低通濾波器109把截止頻率切換為更高的值。這時,控制信號生成部110在從檢測信號的脈沖上升到第一隔斷信號的脈沖上升之間保持跟蹤控制信號。此外,該保持期間包含低通濾波器109的頻率切換所需時間。
在低通濾波器109切換截止頻率后,如果檢測控制部108使第一隔斷信號為高電平,則第一隔斷部100把輸出信號切換為具有所定的基準電壓的基準信號。換言之,使再現(xiàn)信號與基準電壓短路輸出。在該時刻,低通濾波器109輸出的信號的值變?yōu)閺姆糯蟛?01的輸入到低通濾波器109值的輸出之間的電路中產(chǎn)生的電偏移量的值。例如,如果基準電壓為Vr1,低通濾波器109的輸出為Vo1,則在后面描述的時刻,偏移量檢測部112把(Vo1-Vr1)作為電偏移量檢測。Vr1是預先設(shè)定的值。例如如果Vr1=0,則能把Vo1自身作為電偏移量檢測。
此外,低通濾波器109的輸出信號穩(wěn)定在電偏移量的值所需時間依存于低通濾波器109的高端的截止頻率。從第一隔斷信號的脈沖上升沿到檢測控制信號的第一次脈沖的上升沿的時間設(shè)計為包含該穩(wěn)定時間。
如果從低通濾波器109輸出的信號值穩(wěn)定在電偏移量的值,則此后,檢測控制信號變?yōu)楦唠娖?,偏移量檢測部112檢測電偏移量的值。檢測值存儲在檢測值存儲部113中。檢測控制信號的第一次脈沖的寬度設(shè)計為覆蓋偏移量檢測部112檢測所需時間。
如果電偏移量的檢測結(jié)束,則第二隔斷信號變?yōu)楦唠娖剑诙魯嗖?02把其輸出信號切換為具有所定基準電壓的基準信號。在該時刻,低通濾波器109輸出的信號的值變?yōu)閺腡E信號生成部103的輸入到低通濾波器109的輸出之間的電路中產(chǎn)生的電偏移量的值。例如,如果基準電壓為Vr2,低通濾波器109的輸出為Vo2,則在后面描述的時刻中,偏移量檢測部112把(Vo2-Vr2)作為電偏移量檢測。這里,Vr2是預先設(shè)定的值,但是如果Vr2=0,則能把Vo2自身作為電偏移量檢測。從第二隔斷信號的脈沖上升到檢測控制信號的第二次脈沖上升的時間設(shè)計為包含低通濾波器109輸出的信號的穩(wěn)定時間,與第一隔斷信號的脈沖上升到檢測控制信號的第一次脈沖上升的時間相等。
如果低通濾波器109的輸出信號的值穩(wěn)定,則此后檢測控制信號再次變?yōu)楦唠娖剑屏繖z測部112檢測電偏移量檢測部112的值。檢測值存儲在檢測值存儲部113中。檢測控制信號的第二次脈沖的寬度設(shè)計為覆蓋偏移量檢測部112檢測所需要的時間,與第一次脈沖的寬度相等。
如果電偏移量的檢測結(jié)束,則檢測控制信號、第一隔斷信號、第二隔斷信號變?yōu)榈碗娖?,第一隔斷?00和第二隔斷部102分別輸出的信號切換為受光量檢測部6輸出的光量信號和放大部101輸出的信號。這樣,低通濾波器109輸出的信號的值恢復到與光量信號相應的值?;謴退璧臅r間依存于低通濾波器109的高的一方的截止頻率。從第一隔斷信號和第二隔斷信號的脈沖上升到檢測信號脈沖的下降的時間設(shè)計為覆蓋該恢復時間。
如果低通濾波器109的輸出信號恢復到與光量信號相應的值,則檢測信號變?yōu)榈碗娖?,低通濾波器109的截止頻率的頻帶切換為低的一方。此外,保持信號變?yōu)榈碗娖?,解除跟蹤控制信號的保持。結(jié)果,關(guān)于光盤1的半徑方向,形成在激光照射位置的激光點跟蹤在光盤1的記錄磁道的中心上。如上所述,檢測電偏移量。
下面,參照圖7說明步驟S104的處理。在步驟S104,修正值計算部114通過線性計算,根據(jù)溫度存儲部106和檢測值存儲部113中存儲的過去的溫度和電偏移量的值,導出現(xiàn)在的溫度的電偏移量的值。
最后,在步驟S105中,使用在步驟S103中檢測的電偏移量的值或在步驟S104中導出的電偏移量的值,更新修正值。然后,處理回到步驟S100。
本實施例的光盤裝置19在跟蹤控制中,通過保持跟蹤控制,檢測電偏移量,或不保持跟蹤控制,導出電偏移量,更新修正值,修正電偏移量。據(jù)此,降低中斷光盤裝置19的記錄再現(xiàn)動作的頻度,以高速在光盤裝置19和緩存器件實現(xiàn)高速的信息傳輸。
此外,在檢測電偏移量時,把低通濾波器109切換為比此前高的截止頻率,所以能進一步縮短信號的穩(wěn)定時間。因此,能縮短進行跟蹤控制的保持的時間。在解除保持時,不發(fā)生跟蹤偏移,能可靠地回到跟蹤動作,在短時間中能修正偏移量。
因為按照電路的溫度變化更新修正值,所以能以便跟蹤溫度變化,一邊以高精度修正電偏移量。當從過去檢測的溫度和電偏移量的值計算電偏移量的值時,根據(jù)時間上最接近現(xiàn)在的過去的溫度和過去的電偏移量的變化,進行計算。據(jù)此,能進行高精度的修正。
此外,通過只在從上次的檢測時刻經(jīng)過所定時間以上時檢測電偏移量,能把光盤裝置19的傳輸率保持在不阻礙數(shù)據(jù)的記錄及/或再現(xiàn)的速度。
光盤裝置19檢測構(gòu)成裝置內(nèi)部的信號路線的一系列電路的電偏移量,或者不進行電偏移量的檢測,把它的匯總作為單位,從過去檢測的值和電偏移量的值導出現(xiàn)在的電偏移量的值。因此,當在電路的各部溫度不同時,也能以高精度計算各部的電偏移量,能以高精度修正電偏移量。具體而言,把檢測受光量之后的信號短路為基準電壓,隔斷對電路的外部輸入,所以能有選擇地只修正與光量信號的處理關(guān)聯(lián)的電路的電偏移量。根據(jù)該修正,不會對其他信號系統(tǒng)的處理造成大的影響。此外,因為保持伺服信號,所以在電偏移量的檢測后,能高速回到保持動作。據(jù)此,光盤裝置19能縮短中斷數(shù)據(jù)的寫入和讀出的時間,在光盤裝置19和緩存器間能實現(xiàn)高速的信息傳輸。
在本實施例中,劃分為構(gòu)成從放大部101的輸入到輸出的信號路線的電路、構(gòu)成從TE信號生成部103的輸入到低通濾波器109的輸出之間的信號路線的電路,修正電偏移量。可是,也能更細致劃分信號路線,修正該劃分內(nèi)的電路的電偏移量。據(jù)此,能實現(xiàn)更高精度的修正。相反,也可以不設(shè)置第二隔斷部102,只修正從放大部101的輸入到低通濾波器109的輸出的信號路線。據(jù)此,能減少電路的數(shù),并且能縮短電偏移量的檢測所需時間。此外,也可以切換電路,繞過低通濾波器109,檢測電偏移量。據(jù)此,進一步縮短穩(wěn)定時間,能可靠地回到跟蹤動作。
(實施例2)圖8表示本實施例的光盤裝置29的功能塊的結(jié)構(gòu)。光盤裝置29的用途與實施例1的光盤裝置19相同。
光盤裝置29具有透鏡驅(qū)動電路7、光頭、溫度檢測部707、再現(xiàn)控制部705、再現(xiàn)緩存器706、FE生成芯片21、光盤控制器(ODC)22。為了附圖的簡略化,省略光頭的參照符號。
下面,說明各功能塊。此外,省略構(gòu)成各功能塊的要素中,與實施例1光盤裝置19(圖1)相同的功能的構(gòu)成要素的說明。
透鏡驅(qū)動電路7按照來自控制信號生成部704的聚焦控制信號,使物鏡5在垂直于光盤1的信息記錄層的方向移動。透鏡驅(qū)動電路7不僅在垂直于光盤1的信息記錄層的方向,而且在光盤1的半徑方向也能使物鏡5的位置變化,但是在本實施例的控制中不是問題,所以省略說明。
在光頭中,代替光頭10(圖1)的第一隔斷部100和放大部101,設(shè)置有放大部700。激光二極管2當從檢測控制部710輸出的隔斷信號為低電平時進行激光發(fā)光,當為高電平時,停止激光發(fā)光。此外,在圖8中,表示用于從檢測控制部710直接接收隔斷信號的結(jié)構(gòu)??墒?,例如也可以設(shè)置后面描述的圖15的激光器驅(qū)動電路1305那樣的激光器驅(qū)動電路,根據(jù)隔斷信號,進行對激光二極管2的電流的控制。具體而言,激光器驅(qū)動電路如果隔斷信號是低電平,就使足以進行激光發(fā)光的電流流向激光二極管2,如果為高電平,就不產(chǎn)生電流。隔斷信號可以由后面描述的控制信號生成部704生成。
放大部700用兩個值切換放大率。值的一個是與記錄時的激光功率對應的值,另一個是與再現(xiàn)時的激光功率對應的值。放大部700通過按照來自后面描述的設(shè)定控制部715的設(shè)定信號和來自檢測控制部710的放大控制信號,切換光量信號的放大率,即使在記錄時和再現(xiàn)時激光功率不同時,也能使FE信號的振幅保持一定。放大控制信號取高電平、中央電平、低電平等3值。如果放大控制信號為中央電平,則放大部700根據(jù)設(shè)定信號設(shè)定放大率,如果是中央電平以外的電平,就根據(jù)放大控制信號設(shè)定放大率。如果設(shè)定信號為高電平,放大部700就切換為與記錄時對應的放大率,如果是低電平,就切換為與再現(xiàn)時對應的放大率。通過這樣工作,如后所述,即使從受光量檢測部6輸出的光量信號的變動范圍不同,也能使輸入FE信號生成部701的信號的變動范圍不變。
再現(xiàn)控制部705根據(jù)光量信號,讀出記錄在光盤1中的數(shù)據(jù)輸出。
再現(xiàn)緩存器706存儲由再現(xiàn)控制部705讀出的數(shù)據(jù)。各數(shù)據(jù)集合,變?yōu)橐粋€以上的信息。主機(未圖示)讀出存儲在再現(xiàn)緩存器706中的信息,進行此后的再現(xiàn)處理。再現(xiàn)信息量信號表示存儲在再現(xiàn)緩存器706中的信息量。
溫度檢測部707檢測光盤裝置29的內(nèi)部溫度,輸出溫度信號。
FE生成芯片21的FE信號生成部701根據(jù)來自放大部700的輸出信號,檢測激光的趙位置從光盤1的信息記錄層的偏移,輸出聚焦誤差(Focusing ErrorFE)信號。
低通濾波器702從FE信號中使聚焦控制所必要的頻帶以上的成分輸出截止。此外,低通濾波器702在檢測信號為高電平時,提高截止頻率,在低電平時降低截止頻率。
下面,說明ODC22的各構(gòu)成要素。
偏移量修正部703從低通濾波器702的輸出信號的值減去修正值存儲部711的輸出信號的值輸出。
當檢測信號為低電平時,控制信號生成部704按照偏移量修正部703的輸出信號輸出聚焦控制信號。為了使激光的照射位置跟蹤光盤1的信息記錄層而利用聚焦控制信號。此外,當檢測信號為高電平時,控制信號生成部704固定聚焦控制信號的值。
溫度存儲部708按照檢測信號和更新信號存儲溫度信號的值。
狀況判斷部709按照溫度信號和溫度存儲部708存儲的值,輸出以2值表示的更新信號。此外,狀況判斷部709按照再現(xiàn)信息量的值輸出以2值表示的檢測信號。
檢測控制部710按照檢測信號輸出以2值表示的隔斷信號、放大控制信號、檢測控制信號。
設(shè)定控制部715輸出設(shè)定信號。設(shè)定信號取在記錄時是高電平,再現(xiàn)時為低電平的2值。
放大部700把光量信放大輸出,按照設(shè)定信號和放大控制信號切換放大率。
偏移量檢測部712如果接收高電平的檢測控制信號,就檢測低通濾波器702的輸出信號中的電偏移量,輸出偏移量信號。
檢測值存儲部713根據(jù)檢測控制信號和檢測信號存儲偏移量信號的值。
修正值計算部714按照更新信號和檢測信號,讀出檢測值存儲部713存儲的值、溫度存儲部708存儲的值,計算電偏移量的修正值,輸出修正信號。
修正值存儲部711存儲修正信號的值,輸出該值。此外,按照來自設(shè)定控制部715的設(shè)定信號切換輸出的值。
溫度存儲部708具有3個信息存儲區(qū),存儲來自溫度檢測部707的溫度信號的值。各信息存儲區(qū)的地址分別記載為地址1、地址2、地址3。存儲在地址1的區(qū)域中的值的更新由狀況判斷部709輸出的更新信號控制。存儲在地址2和地址3的區(qū)域中的值的更新由狀況判斷部709輸出的檢測信號控制。
下面,參照圖9詳細說明上述的狀況判斷部709。圖9表示狀況判斷部709的功能塊的結(jié)構(gòu)。狀況判斷部709包含溫度變化檢測部800和溫度變化檢測部800。溫度變化檢測部800讀出溫度存儲部708存儲的值,計算溫度檢測部707輸出的溫度信號的值和溫度存儲部708的地址1的區(qū)域中存儲的值的差,輸出表示該絕對值的溫度變化信號。判斷部801按照溫度變化檢測部800輸出的溫度變化信號輸出以2值表示的更新信號。此外,按照更新信號和再現(xiàn)緩存器706輸出的再現(xiàn)信息量信號,輸出以2值表示的更新信號。
接著,參照圖10詳細說明從狀況判斷部709輸出的更新信號和檢測信號。這里,也一起說明溫度存儲部708和狀況判斷部709的各構(gòu)成要素的動作。
圖10表示與狀況判斷部709關(guān)聯(lián)的信號的時序圖。如果溫度變化信號的值超過所定的閾值,判斷部801就在一定時間中使更新信號的電平為高電平。高電平的更新信號表示有更新,低電平的更新信號表示沒有更新。
溫度存儲部708把更新信號的脈沖上升時的溫度信號的值存儲在地址1的區(qū)域中。此外,在圖10中,用黑點(●)表示存儲的值。從溫度信號的值減去溫度存儲部708的地址1的區(qū)域中存儲的值,取它的絕對值,就取得溫度變化信號。當更新信號的上升時,因為溫度信號的值和存儲在地址1的區(qū)域中的值相等,所以溫度變化信號的值變?yōu)?。
檢測信號是判斷部801輸出的2值信號,在更新信號的脈沖上升的時刻,當再現(xiàn)信息量的值為所定閾值以上時,在一定時間中為高電平,當所定閾值以下時,變?yōu)榈碗娖?。此外,檢測信號的脈沖的下降與更新信號的脈沖的下降是同時。此外,高電平的檢測信號表示有檢測,低電平的檢測信號表示沒有檢測。
如圖10所示,如果從更新信號的上升沿開始、光盤裝置29內(nèi)部的變化所定以上,則更新信號在一定時間中為高電平。此外,這時當在再現(xiàn)緩存器706中存儲著所定以上的信息量時,檢測信號在一定時間中為高電平。
溫度存儲部708當檢測信號上升為高電平時,把存儲在地址2的區(qū)域中的值存儲在地址3的區(qū)域中,然后把溫度信號的值存儲在地址2的區(qū)域中。
接著,著眼于圖10所示的時刻t1、t2、t3。時刻t3表示現(xiàn)在時刻,時刻t2表示檢測信號的脈沖上升時刻之中從時刻t3觀察,最近的過去時刻,時刻t1表示時刻t2的其次近的過去時刻。
在溫度存儲部708的地址1和地址2的各區(qū)域中存儲著時刻t2的溫度信號的值,在地址3的區(qū)域中存儲著時刻t1的溫度信號的值。即在地址1的區(qū)域中,無論檢測信號的值如何,存儲著更新信號變?yōu)楦唠娖綍r的溫度信號的值,在地址2的區(qū)域中存儲著更新信號和檢測信號都變?yōu)楦唠娖綍r的溫度信號的值,在地址3的區(qū)域中存儲著2次前更新信號和檢測信號都變?yōu)楦唠娖綍r的溫度信號的值。
下面說明檢測控制部710。圖11表示檢測控制部710的功能塊的結(jié)構(gòu)。檢測控制部710具有放大控制部900、隔斷控制部901、偏移量檢測控制部902。放大控制部900按照從來自狀況判斷部709的檢測信號變?yōu)楦唠娖降臅r刻開始的經(jīng)過時間,生成3值的放大控制信號,向放大部700輸出。隔斷控制部901生成隔斷信號,向激光二極管2輸出。偏移量檢測控制部902生成檢測控制信號,向偏移量檢測部712和檢測值存儲部713輸出。
這里,一邊參照圖12,一邊說明這些信號的時序。圖12表示與檢測控制部710關(guān)聯(lián)的信號的時序圖。隔斷信號在檢測信號的脈沖上升之后上升,在檢測信號的脈沖下降之前下降。放大控制信號在隔斷信號為高電平時包含正脈沖和負脈沖各一次。正脈沖的上升與隔斷信號的脈沖上升同時。此外,正脈沖的下降與負脈沖的下降同時。負脈沖的上升與隔斷信號的脈沖的下降同時。檢測控制信號在隔斷信號為高電平時包含2次脈沖。第一次的脈沖在隔斷信號的脈沖的上升之后上升,放大控制信號的正脈沖的下降和負脈沖的下降同時下降。第二次的脈沖在放大控制信號的正脈沖的下降以及負脈沖的下降之后上升,與隔斷信號的脈沖的下降同時下降。
下面,詳細說明偏移量檢測部714。偏移量檢測部712檢測檢測控制部710輸出的檢測控制信號為高電平時的來自低通濾波器702的信號值。如后所述,在檢測控制信號的第一次脈沖時,低通濾波器702的輸出的信號值變?yōu)榉糯蟛?00的放大率切換為與記錄時對應的一方時的從放大部700的輸入到低通濾波器702的輸出之間的電路中產(chǎn)生的電偏移量的值。在第二次的脈沖時,低通濾波器702輸出的信號的值變?yōu)榉糯蟛?00的放大率切換為與再現(xiàn)時對應的一方時的從放大部700的輸入到低通濾波器702的輸出之間的電路中產(chǎn)生的電偏移量的值。偏移量檢測部712具有檢測該值的功能。
下面,詳細說明檢測值存儲部713。檢測值存儲部713具有4個信息存儲區(qū)。各信息存儲區(qū)的地址分別記載為地址7、地址8、地址9、地址10。檢測值存儲部713檢測出檢測控制信號的各脈沖是檢測信號的脈沖上升后的第幾次的脈沖,按照各脈沖,存儲來自檢測控制部710的檢測控制信號的脈沖下降時的偏移量檢測部712輸出的偏移量信號的值。當檢測控制信號的脈沖為第一次的脈沖時,把其下降時偏移量信號的值存儲在地址7的信息存儲區(qū)中。當是第二次脈沖時,把其下降時偏移量信號的值存儲在地址8的信息存儲區(qū)中。根據(jù)該動作,在地址7的區(qū)域中存儲記錄時的放大率下的電偏移量的值,在地址8的區(qū)域中存儲再現(xiàn)時的放大率下的電偏移量的值。
此外,當檢測值存儲部713在檢測信號從低電平變?yōu)楦唠娖綍r,把存儲在地址7中的值存儲到地址9中,把存儲在地址8中的值存儲到地址10。
通過以上的動作,在檢測值存儲部713的地址7和地址8中分別存儲著對于最后有更新并且有檢測時的記錄時的放大率和再現(xiàn)時的放大率的電偏移量的值,在地址9和地址10中分別存儲著對于2次前有更新并且有檢測時的記錄時的放大率和再現(xiàn)時的放大率的電偏移量的值。
下面,詳細說明修正值計算部714。
圖13表示存儲在溫度存儲部708中的值以及存儲在檢測值存儲部713中的值、檢測信號以及更新信號的關(guān)系。修正值計算部714在計算修正值時,把溫度信號的值、對于記錄時的放大率的電偏移量的值、對于再現(xiàn)時的放大率的電偏移量的值作為必要。
現(xiàn)在,時刻t6表示現(xiàn)在時刻,在檢測信號的上升時之中,時刻t3表示從時刻t6觀察,最近的過去時刻,時刻t1表示時刻t3的其次近的過去時刻。此外,檢測信號的下降時刻中,時刻t4表示從時刻t6觀察最近的過去時刻,時刻t2表示時刻t4的其次近的過去時刻。時刻t5表示更新信號的上升時中,從時刻t6觀察最近的過去的時刻。
在溫度存儲部708的地址3的區(qū)域中存儲著時刻t1的溫度信號的值(T0)。此外,在地址2的區(qū)域中存儲著時刻t3的溫度信號的值(T1)。在地址1的區(qū)域中存儲著時刻t5的第一溫度信號的值(T2)。
而在檢測值存儲部713的地址9的區(qū)域中存儲著時刻t2附近的對于記錄時的放大率的電偏移量的值(Os10)。在地址7的區(qū)域中存儲著時刻t4附近的對于記錄時的放大率的電偏移量的值(Os11)。
此外,在檢測值存儲部713的地址10的區(qū)域中存儲著時刻t2附近的對于再現(xiàn)時的放大率的電偏移量的值(Os20)。在地址8的區(qū)域中存儲著時刻t4附近的對于再現(xiàn)時的放大率的電偏移量的值(Os21)。
下面,說明修正值計算部714中進行的修正值的計算步驟。
修正值計算部714分別計算對于記錄時的放大率的電偏移量的修正值、對于再現(xiàn)時的放大率的電偏移量的修正值。修正值計算部714在來自狀況判斷部709的檢測信號和更新信號的脈沖下降后計算修正值。
這里,當采用記錄時的放大率時,新計算的修正值為C1。此外,當采用再現(xiàn)時的放大率時,新計算的修正值為C2。
首先,更新信號為高電平,并且檢測信號也為高電平時,修正值C1變?yōu)镺s11,修正值C2變?yōu)镺s21。即通過修正值計算部714檢測現(xiàn)在的電偏移量,修正值計算部714把該值原封不動作為修正值。
此外,當更新信號為高電平,檢測信號為低電平時,修正值計算部714通過(表達式3)計算修正值C1,通過(表達式4)計算修正值C2。
(表達式3)C1=(Os11-Os10)×(T12-T11)/(T11-T10)+Os11(表達式4)C2=(Os21-Os20)×(T22-T21)/(T21-T20)+Os21這時,不檢測現(xiàn)在的電偏移量,修正值計算部714從過去的值推測現(xiàn)在的電偏移量的值,以該值作為修正值。關(guān)于推測,電偏移量對于溫度變化的變化為線性,從最后和2次前檢測的電偏移量和此時的溫度計算。
修正值計算部714劃分為把放大率700的放大率切換為與記錄時對應的一方的情形和切換為與再現(xiàn)時對應的一方的情形,把計算的修正值的值作為修正信號輸出。此外,修正值存儲部711也同樣劃分,存儲修正信號的值。
下面,參照圖14說明光盤裝置29的動作。圖14表示光盤裝置29的動作的步驟。
首先,在步驟S200中,溫度檢測部707檢測光盤裝置內(nèi)部的溫度。在步驟S201中,狀況判斷部709判斷從上次的偏移量修正值的更新時刻開始,光盤裝置內(nèi)部的溫度是否變化所定值以上。當溫度未變化所定值以上時,處理回到步驟S200,當變化時,處理進入步驟S202。在步驟S202中,狀況判斷部709判斷再現(xiàn)緩存器706中是否存儲著所定以上的信息量。當判斷為存儲著時,進入步驟S203,當判斷為未存儲時,進入步驟S204。
在步驟S203中,通過偏移量檢測部712檢測偏移量。這里,一邊參照圖8和圖12,一邊說明偏移量的檢測處理。狀況判斷部709如果使檢測信號為高電平,則控制信號生成部704保持此前或這時的聚焦誤差信號的值。在保持期間中,透鏡驅(qū)動電路7輸出固定物鏡5的位置的驅(qū)動信號。通過使物鏡5的位置對于光盤1固定,激光點關(guān)于垂直于光盤1的信息記錄層中的方向的照射位置,固定在保持之前的位置。
在檢測信號變?yōu)楦唠娖降耐瑫r,低通濾波器702切換為更高的截止頻率。這時,控制信號生成部704在從檢測信號的脈沖上升到放大控制信號的正脈沖以及隔斷信號的脈沖上升之間,保持聚焦控制信號。此外,該保持期間包含低通濾波器702的截止頻率的切換所需的時間。
低通濾波器702在切換截止頻率后,如果檢測控制部710使放大控制信號為高電平,則放大部700把放大率切換為與記錄時對應的一方。此外,檢測控制部710使隔斷信號為高電平,停止激光二極管2的激光發(fā)光。在該時刻,低通濾波器702輸出的信號的值變?yōu)榕c記錄時的放大率相應的電偏移量的值。檢測的原理與實施例1中說明的同樣。
此外,低通濾波器702的輸出信號穩(wěn)定為電偏移量的值所需時間依存于低通濾波器702的高的一方的截止頻率。從放大控制信號的正脈沖以及隔斷信號的脈沖的上升到檢測控制信號的第一次脈沖的上升的時間設(shè)計為包含該穩(wěn)定時間。
如果低通濾波器702的輸出信號的值穩(wěn)定,則檢測控制信號變?yōu)楦唠娖?,偏移量檢測部714檢測電偏移量。檢測值存儲在檢測值存儲部713中。檢測控制信號的第一次脈沖的寬度設(shè)計為覆蓋偏移量檢測部檢測所需的時間。
如果電偏移量的檢測結(jié)束,則放大控制信號變?yōu)榈碗娖?,放大?00把放大率切換為與再現(xiàn)時對應的一方。在該時刻,低通濾波器702輸出的信號的值變?yōu)榕c再現(xiàn)時的放大率對應的電偏移量的值。該電偏移量的檢測原理也與實施例1中說明的同樣。從放大控制信號的負脈沖的下降到檢測控制信號的第二次脈沖的下降的之間設(shè)計為包含低通濾波器702輸出的信號的穩(wěn)定時間,與從放大控制信號的正脈沖以及隔斷信號的脈沖的上升到檢測控制信號的第一次脈沖的上升的時間相等。
如果低通濾波器702輸出的信號的值穩(wěn)定,則此后檢測信號再次變?yōu)楦唠娖?,偏移量檢測部712檢測電偏移量的值。檢測控制信號的第二次脈沖的寬度設(shè)計為覆蓋偏移量檢測部712檢測所需的時間,與第一次脈沖的寬度相等。
如果電偏移量的檢測結(jié)束,則檢測控制信號和隔斷信號變?yōu)榈碗娖?,激光二極管2放射激光。此外,與此同時,放大控制信號變?yōu)橹醒腚娖?。這樣,低通濾波器702的輸出信號的值回歸到與光量信號相應的值?;貧w所需的時間依存于低通濾波器702的高的一方的截止頻率。從隔斷信號的脈沖以及檢測控制信號的第二次脈沖的下降以及放大控制信號的負脈沖的上升到檢測信號的脈沖下降的時間設(shè)計為覆蓋該回歸時間。
低通濾波器702的輸出信號如果回到與光量信號相應的值,則檢測信號變?yōu)榈碗娖?,切換為低通濾波器702的截止頻率的頻帶低的一方。此外,保持信號變?yōu)榈碗娖?,解除聚焦控制信號的保持。結(jié)果,關(guān)于垂直于光盤1的信息記錄層的方向,激光的焦點位置跟蹤到光盤1的信息記錄層上。如上所述,檢測電偏移量。
下面,參照圖14,說明步驟S204的處理。在步驟S204中,修正值計算部714根據(jù)溫度存儲部708以及檢測值存儲部713中存儲的過去的溫度以及電偏移量的值,通過線性計算導出現(xiàn)在溫度的電偏移量的值。
最后,在步驟S205中,使用步驟S203中檢測的電偏移量的值或步驟S204中導出的電偏移量的值,更新修正值。然后,處理回到步驟S200。
本實施例的光盤裝置29在聚焦控制中,通過保持聚焦控制,檢測電偏移量,或不保持聚焦控制,導出電偏移量,更新修正值,修正電偏移量。據(jù)此,降低中斷光盤裝置29的記錄再現(xiàn)動作的頻度,在光盤裝置29和緩存器間能實現(xiàn)高速的信息傳輸。
根據(jù)本實施例,計算與記錄時以及再現(xiàn)時分別對應的電路設(shè)定的電偏移量的修正值,在修正時,與各電路設(shè)定對應切換修正值,實現(xiàn)高精度的修正。
(實施例3)圖15表示本實施例的光盤裝置39的功能塊的結(jié)構(gòu)。光盤裝置39的用途與實施例1的光盤裝置19相同。
光盤裝置39具有透鏡驅(qū)動電路7、激光驅(qū)動電路1305、溫度檢測部1307、記錄控制部1314、記錄緩存器1315、TE生成芯片31、光盤控制器(ODC)32。為了簡化附圖的記載,省略對光頭的參照符號。
下面,說明各功能塊。此外,省略構(gòu)成各功能塊的要素中具有與實施例1的光盤裝置19(圖1)相同功能的構(gòu)成要素的說明。
激光驅(qū)動電路1305以與從控制信號生成部1304輸出的隔斷信號以及記錄信號對應的時刻以及強度,在所定的期間中輸出控制激光功率的信息(例如電流信號)。此外,隔斷信號為高電平時,輸出信號,停止激光發(fā)光。
在光頭中,代替光頭10(圖1)的第一隔斷部100和放大部101,設(shè)置放大部1300。激光二極管2根據(jù)激光驅(qū)動電路1305的輸出信號放射激光。可是,在實施例2中,與參照圖8說明的同樣,也可使檢測控制部1310生成并輸出隔斷信號,通過隔斷信號控制激光二極管2的動作。也就是說,激光二極管2受到隔斷信號的控制,使激光發(fā)光及停止。
放大部1300把受光量檢測部6輸出的光量信號放大輸出。
記錄緩存器1315從主機(未圖示)區(qū)的光盤1中記錄的信息,存儲。記錄信息量信號表示記錄緩存器1315中存儲的信息量。
記錄控制部1314度儲存儲在記錄緩存器1315中的信息,變換為用于向光盤1記錄的記錄指示信號,輸出。
溫度檢測部1307檢測光盤裝置39的內(nèi)部溫度,輸出溫度信號。TE生成芯片31的TE信號生成部1301從放大部1300輸出的信號檢測激光的照射位置從光盤1的記錄磁道中心的偏移,生成TE(Tracking Error)信號輸出。
低通濾波器1302從TE信號生成部1301輸出的TE信號隔斷跟蹤控制所必要的頻帶以上的成分輸出。此外,狀況判斷部1309當輸出的檢測信號為高電平時,提高截止頻率,當為低電平時,降低截止頻率。
下面,說明ODC32的各構(gòu)成要素。
偏移量修正部1303從低通濾波器1302輸出的信號的值減去修正值計算部1313輸出的修正信號的值,輸出。
控制信號生成部1304當檢測信號為低電平時,按照偏移量修正部1303輸出的信號,輸出用于使激光的照射位置跟蹤光盤1的記錄磁道的跟蹤控制信號。此外,控制信號生成部1304當檢測信號為高電平時,固定跟蹤控制信號的值。此外,控制信號生成部1304從檢測控制部1310接收以2值表示的隔斷控制信號,生成以2值表示的隔斷信號。此外,隔斷信號2值的電平按照接收隔斷信號的激光驅(qū)動電路1305的動作特性決定。隔斷控制信號以及隔斷信號的上升以及下降的時刻相同。
時間測定部1306測定從狀況判斷部1309輸出的以2值表示的更新信號的脈沖下降開始的時間,輸出時間信號。
溫度存儲部1308存儲狀況判斷部1309輸出的以2值表示的檢測信號的脈沖下降時的溫度檢測部1307輸出的溫度信號的值。
狀況判斷部1309按照時間測定部1306輸出的時間信號輸出以2值表示的隔斷控制信號以及檢測控制信號。檢測控制部1310根據(jù)來自記錄控制部1314的記錄指示信號生成記錄信號。
偏移量檢測部1311當檢測控制部1310輸出的檢測控制信號為高電平時,檢測來自低通濾波器1302的信號中包含的電偏移量,輸出偏移量信號。
檢測值存儲部1312存儲檢測控制部1310輸出的檢測控制信號的脈沖下降時的偏移量檢測部1311輸出的偏移量信號的值。
修正值計算部1313按照來自狀況判斷部1309的更新信號和檢測信號,讀出檢測值存儲部1312存儲的值、溫度存儲部1308存儲的值,計算檢測值存儲部1312存儲的修正值,輸出修正信號。
下面參照圖16詳細說明上述的狀況判斷部1309。圖16表示狀況判斷部1309的功能塊的結(jié)構(gòu)。狀況判斷部1309包含更新判斷部1400、溫度比較部1401、檢測判斷部1402。更新判斷部1400按照時間測定部1306輸出的時間信號輸出以2值表示的更新信號。此外,當更新信號為高電平時,表示有更新,當為低電平時,表示沒有更新。
溫度比較部1401在更新判斷部1400輸出的更新信號脈沖上升時,檢測溫度存儲部1308存儲的溫度值中是否存在與現(xiàn)在溫度檢測部1307輸出的溫度信號的值的差在所定值以內(nèi)的兩個值,當沒有時,是高電平,當有時,輸出低電平的溫度比較信號。檢測判斷部1402按照更新判斷部1400輸出的更新信號、記錄緩存器1315輸出的記錄信息量信號及溫度比較部1401輸出的溫度比較信號,輸出以2值表示的檢測信號。高電平的檢測信號表示有檢測,低電平的檢測信號表示沒有檢測。
下面,參照圖17詳細說明從狀況判斷部1309輸出的更新信號和檢測信號。這里,也一起說明時間測定部1306和狀況判斷部1309的各構(gòu)成要素的動作。
圖17表示與狀況判斷部1309關(guān)聯(lián)的信號的時序圖。
時間信號在更新信號的脈沖下降時復位為0,表示此后的經(jīng)過時間。更新判斷部1400當時間信號的值超過所定閾值時,使更新信號在一定時間中為高電平。更新信號為高電平時,表示有更新,為低電平時,表示無更新。
溫度比較信號是溫度比較部1401輸出的信號,表示溫度存儲部1308存儲的溫度中有沒有與現(xiàn)在的溫度值的差在所定值以內(nèi)的值。此外,溫度比較信號的脈沖下降與更新信號的脈沖上升同時。
檢測信號是檢測判斷部1402輸出的2值信號,在更新信號的脈沖上升的時刻附近,記錄信息量信號的值為所定值以下,并且溫度比較信號為高電平時,變?yōu)楦唠娖?。此外的時候是低電平。此外,檢測信號的脈沖下降與更新信號的脈沖下降同時。此外,檢測信號為高電平時,表示有檢測,為低電平時,表示無檢測。
如圖17所示,更新信號每隔一定時間就有脈沖。更新信號當記錄緩存器1315存儲的信息量為所定以下,并且溫度存儲部1308存儲的溫度值中,存在與從溫度檢測部1307輸出的溫度信號的值的差為所定值以內(nèi)的兩個值時,在一定時間中為高電平。
下面,說明檢測控制部1310。圖18表示檢測控制部1310的功能塊的結(jié)構(gòu)。檢測控制部1310具有隔斷控制部1600和偏移量檢測控制部1601。隔斷控制部1600按照從由狀況判斷部1309輸出的檢測信號變?yōu)楦唠娖綍r開始的經(jīng)過時間,生成隔斷控制信號,向控制信號生成部1304輸出。偏移量檢測控制部1601生成檢測控制信號,向偏移量檢測部1311和檢測值存儲部1312輸出。這里,參照圖19說明這些信號的時序。
圖19表示與檢測控制部1310關(guān)聯(lián)的信號的時序圖。檢測信號如剛才參照圖17說明的那樣,從狀況判斷部1309輸出。隔斷信號在檢測信號的脈沖上升之后上升,在檢測信號的脈沖下降之前下降。檢測控制信號在隔斷信號的脈沖上升之后上升,與隔斷信號的脈沖同時下降。
下面,詳細說明溫度存儲部1308和檢測值存儲部1312。
溫度存儲部1308按照檢測信號的脈沖下降,每次把從溫度檢測部1307輸出的溫度信號的值依次存儲在信息存儲區(qū)中。而檢測值存儲部1312按照檢測控制信號的脈沖下降,每次把從偏移量檢測部1311輸出的偏移量信號的值依次存儲在信息存儲區(qū)中。
在圖19中,檢測信號的脈沖下降的時刻和檢測控制信號的脈沖下降時刻明確記載為不同。可是,該時刻的偏移如果與從電偏移量的修正開始到結(jié)束的時間間隔相比,就十分短,幾乎能近似為相同時刻。即存儲在溫度存儲部1308中的溫度信號的值以及存儲在檢測值存儲部1312中的偏移量信號的值能視為幾乎相同時刻的采樣值。結(jié)果,通過依次查找溫度存儲部1308和檢測值存儲部1312中存儲的值,能參照同時刻的溫度信號值和偏移量信號的值。
下面,參照圖15和圖17詳細說明修正值計算部1313。修正值計算部1313在更新信號的脈沖下降后計算修正值。
當更新信號為高電平時,檢測信號也為高電平時,把最后檢測控制信號的脈沖下降后存儲在檢測值存儲部1312中的電偏移量即現(xiàn)在檢測的電偏移量的值原封不動作為修正值采用。
當更新信號為高電平,并且檢測信號為低電平時,從溫度存儲部1308存儲的溫度值檢索接近更新信號的脈沖下降時從溫度檢測部1307輸出的溫度信號的值的兩個值,并讀出。接著,檢索與讀出的溫度的值存儲在溫度存儲部1308中同時存儲在檢測值存儲部1312中的電偏移量的值,并讀出?,F(xiàn)在,讀出的溫度值為T0和T1,與這些溫度值對應的偏移量值為Os0、Os1。此外,現(xiàn)在的溫度信號的為T2,新計算的修正值為C。
修正值計算部1313根據(jù)(表達式5)計算修正值C。
(表達式5)C=(Os1-Os0)×(T2-T1)/(T1-T0)+Os1這時,不檢測現(xiàn)在的電偏移量,從過去的值推測現(xiàn)在的電偏移量的值,以該值作為修正值。關(guān)于推測,從過去進行電偏移量的檢測時的溫度中最接近現(xiàn)在溫度的兩個溫度和電偏移量,使電偏移量對于溫度變化的變化為線性,進行計算。
下面,參照圖20說明光盤裝置39的動作。圖20表示光盤裝置39的動作的步驟。
首先,在步驟S300中,狀況判斷部1309判斷從上次的偏移量修正值的更新時開始是否經(jīng)過了所定時間。步驟S300在經(jīng)過所定時間之前繼續(xù)進行。如果判斷為經(jīng)過所定時間,則處理進入步驟S301。在步驟S301中,狀況判斷部1309判斷記錄緩存器1315中存儲的信息量是否為所定值以下。當為所定值以下時,進入步驟S302,當為所定值以上時,進入步驟S303。
在步驟S302中,通過偏移量檢測部1311檢測偏移量。這里,一邊參照圖15和圖19,一邊說明偏移量的檢測處理。如果狀況判斷部1309使檢測信號為高電平,則控制信號生成部1304保持此前或這時的跟蹤控制信號的值。在保持期間中,透鏡驅(qū)動電路7輸出固定物鏡5的位置的驅(qū)動信號。通過使物鏡5的位置對于光盤1固定,激光點關(guān)于光盤1的半徑方向固定在保持之前的位置。
在檢測信號變?yōu)楦唠娖降耐瑫r,低通濾波器1302把截止頻率切換為更高的值。這時,控制信號生成部1304在從檢測信號的脈沖上升到隔斷信號的脈沖上升之間保持跟蹤控制信號。此外,該保持期間包含低通濾波器1302的頻率切換所需的時間。
低通濾波器1302切換截止頻率后,檢測控制部1310使隔斷信號為高電平,停止激光二極管2的激光發(fā)光。這時,低通濾波器1302輸出的信號值變?yōu)殡娖屏康闹怠z測的原理與實施例1中說明的原理同樣。
此外,低通濾波器1302的輸出信號穩(wěn)定在電偏移量的值所需的時間依存于低通濾波器1302的高的一方的截止頻率。從隔斷信號的脈沖的上升到檢測控制信號的脈沖上升的時間設(shè)計為包含該穩(wěn)定時間。
如果低通濾波器1302的輸出信號的值穩(wěn)定在電偏移量的值,則檢測控制信號變?yōu)楦唠娖剑屏繖z測部1313檢測電偏移量的值。檢測控制信號的脈沖寬度設(shè)計為覆蓋偏移量檢測部1311檢測所需的時間。
如果電偏移量的檢測結(jié)束,則檢測控制信號和隔斷信號變?yōu)榈碗娖剑す舛O管2發(fā)射激光。這樣,低通濾波器1302輸出的信號的值回歸到與光量信號對應的值?;貧w所需時間依存于低通濾波器1302的高的一方的截止頻率。從隔斷信號以及檢測控制信號的脈沖下降到檢測信號的脈沖下降則時間設(shè)計為覆蓋該回歸時間。
低通濾波器1302輸出信號如果回到與光量信號對應的值,則檢測信號變?yōu)榈碗娖剑袚Q為低通濾波器1302的截止頻率低的一方。此外,保持信號變?yōu)榈碗娖?,解除跟蹤控制信號的保持。結(jié)果,光盤1的半徑方向的照射位置跟蹤光盤1的記錄磁道。檢測出電偏移量。
下面,參照圖20說明步驟S303的處理。在步驟S303中根據(jù)存儲在溫度存儲部1318中的過去的溫度和存儲在檢測值存儲部1312中的過去的電偏移量,通過線性計算,以線性計算導出現(xiàn)在溫度的電偏移量的值。
最后,在步驟S304中,使用步驟S302中檢測電偏移量的值或步驟S303中導出的電偏移量的值,更新修正值。然后,處理回到步驟S300。
本實施例的光盤裝置39通過檢測電偏移量或根據(jù)過去的溫度,或根據(jù)過去的溫度和電偏移量的值,導出現(xiàn)在的電偏移量的值,更新修正值,修正電偏移量。據(jù)此,降低中斷光盤裝置39的記錄再現(xiàn)動作的頻度,能以高速在光盤裝置39和緩存器間實現(xiàn)高速的信息傳輸。
此外,光盤裝置39每隔一定時間進行修正值的更新,所以能把驅(qū)動器和緩存器之間的傳輸率保持在一定以上。
電偏移量的檢測只在記錄緩存器中存儲有所定以下的信息量時進行,所以能把主機和緩存器間的傳輸率保持在一定以上。這時,在記錄時,即使驅(qū)動器和緩存器之間的傳輸率下降,也沒有問題。此外,同樣也可以檢測記錄在再現(xiàn)緩存器中的信息量,當該信息量為所定值以下時,禁止電偏移量的檢測。這時,能把再現(xiàn)時的傳輸率保持在一定以上。
此外,當從過去檢測的溫度和電偏移量的值計算現(xiàn)在的電偏移量的值時,從通過過去的檢測而存儲的電偏移量和溫度值中查找接近現(xiàn)在的電偏移量和溫度值的值,所以對電偏移量的檢測進行了足夠次數(shù)后,就沒必要檢測電偏移量。因此,在驅(qū)動器和緩存器之間能實現(xiàn)高速的信息傳輸。
此外,根據(jù)溫度比較部1401輸出的溫度比較信號,當未存儲有與現(xiàn)在的溫度的差在所定以內(nèi)的溫度值時,催促電偏移量的檢測,當對于溫度的電偏移量的特性不是線性時,也能實現(xiàn)高精度的修正。
此外,本實施例的光盤裝置也可以如實施例2所述,對于與記錄時和再現(xiàn)時分別對應的電路設(shè)定,計算修正值,進行修正時,與各電路設(shè)定對應切換修正時。這時能實現(xiàn)更高精度的修正。
根據(jù)上述的實施例2和3,當檢測電偏移量時,停止激光發(fā)光,隔斷對電路的外部輸入,所以沒必要擴大電路規(guī)模,能以高精度檢測電偏移量的值。此外,通過對伺服信號進行保持,在電偏移量的檢測后能以高速回到服動作,縮短中斷驅(qū)動器的記錄再現(xiàn)動作的時間,在驅(qū)動器和緩存器之間能實現(xiàn)高速的信息傳輸。
此外,電偏移量的檢測只當在再現(xiàn)緩存器中存儲有所定以上的信息量時才進行,所以能把主機和緩存器之間的傳輸率保持在一定以上。這時,在再現(xiàn)時,即使驅(qū)動器和緩存器之間的傳輸率下降,也不產(chǎn)生問題。此外,檢測存儲在記錄緩存器中的信息量,當該信息量為所定以上時,禁止電偏移量的檢測。這時,也能把記錄時的傳輸率保持在一定以上。
此外,與實施例1同樣,也可以切換電路,繞開低通濾波器,檢測電偏移量,也可以劃分構(gòu)成信號路線的電路,修正電偏移量。
此外,當隔斷對電路的外部輸入時,如實施例1所述,可以把檢測受光量之后的信號與基準電壓短路。這時,只在對電偏移量的修正成為必要的信號的電路中隔斷外部輸入,對于其他信號系統(tǒng)的處理不產(chǎn)生大的影響,能以高精度檢測電偏移量的值。
在上述的實施例中,說明了關(guān)于伺服信號修正電偏移量的光盤裝置的結(jié)構(gòu)和動作??墒牵獗P裝置并不局限于這些信號,對于根據(jù)光量信號生成的任意信號,能應用同樣的處理。
(實施例4)圖21表示本實施例的光盤裝置的結(jié)構(gòu)?;诒緦嵤├墓獗P裝置具有電平調(diào)整部43和雜射光調(diào)整部46,分別更適當?shù)卣{(diào)整輸入TE信號生成部1301中的信號和輸入控制信號生成部47中的信號電平。結(jié)果,光盤裝置能進行更高精度的伺服控制。
下面,說明光盤裝置的結(jié)構(gòu)。光盤裝置具有光頭40、TE生成芯片41、光盤控制器(ODC)42、透鏡驅(qū)動電路7。
光頭40具有激光二極管2、視準透鏡3、分光束鏡4、物鏡5、受光量檢測部6、放大部1300。各構(gòu)成要素的功能和動作已經(jīng)說明,所以省略了其說明。
關(guān)于光頭40應該留意的是,在從光頭40輸出的信號中包含雜射光引起的信號?!半s射光”是指光頭40的視準透鏡3、分光束鏡4和物鏡5間的光學路線中的激光的漫反射成分。例如,從視準透鏡3向光盤1放射的激光的一部分在物鏡5中反射,再回到視準透鏡3的方向。把回到視準透鏡3的方向的光稱作雜射光。雜射光與來自光盤1的反射光一起由受光量檢測部6檢測,該檢測信號由放大部1300放大。下面,在本說明書中,把雜射光引起的信號稱作“雜射光信號”,把它的信號電平稱作“雜射光偏移量”。本實施例的光盤裝置能通過后面描述的雜射光調(diào)整部46除去雜射光信號。
TE生成芯片41具有電平調(diào)整部43、TE信號生成部1301、低通濾波器1302。其中,TE信號生成部1301和低通濾波器1302如上所述,所以這里省略說明。設(shè)置了電平調(diào)整部43的TE生成芯片41例如作為半導體集成電路(IC)生產(chǎn),能安裝在光盤裝置上。
電平調(diào)整部43具有電平檢測部43a和電平修正部43b,據(jù)此,調(diào)整來自放大部1300的放大信號的電平,輸出。下面,參照圖22(a)~(d),說明電平調(diào)整部43的結(jié)構(gòu)和動作。此外,電平調(diào)整部43的動作條件即電平調(diào)整部43調(diào)整電平時的條件是激光二極管2點亮,并且光盤裝置不進行聚焦控制動作和跟蹤控制動作。
電平調(diào)整部43考慮與TE信號生成部1301的處理能力的關(guān)系,決定其規(guī)格。圖22(a)表示TE信號生成部1301內(nèi)部的放大器(未圖示)能處理的動態(tài)范圍D。動態(tài)范圍D是由下限值Dmin和上限值Dmax規(guī)定的范圍。TE信號生成部1301對于具有收斂于動態(tài)范圍D中的振幅的內(nèi)部信號,進行正常的處理,能生成TE信號。而如圖22(b)所示,當內(nèi)部信號的電平超過上限值Dmax時,TE信號生成部1301無法處理上限值Dmax以上的飽和部分。此外如圖22(c)所示,當內(nèi)部信號的電平小于下限值Dmin時,TE信號生成部1301也無法處理比下限值Dmin還小的部分(所謂的不感帶部分)。
在TE信號生成部1301內(nèi)傳輸?shù)膬?nèi)部信號的電平按照輸入信號的電平變化,或者輸入信號原封不動作為TE信號生成部1301的內(nèi)部信號利用。因此,電平調(diào)整部43調(diào)整對TE信號生成部1301的輸入信號的電平,使TE信號生成部1301的內(nèi)部信號進入圖22(a)所示的動態(tài)范圍D中。圖22(d)表示進入TE信號生成部1301的動態(tài)范圍D的輸入信號的范圍。輸入信號的電平(輸入電壓)進入基準電壓C±A的范圍時,TE信號生成部1301的內(nèi)部信號就進入圖22(a)的范圍。在圖22(d)中,表示以比基準電壓C高ΔC的電壓為振幅中心的信號。此外,基準電壓C和離基準電壓C的寬度(±A)關(guān)于光盤裝置的記錄再現(xiàn)動作,從已知的變動范圍的最大值和最小值決定。
電平調(diào)整部43的電平檢測部43a跨一定期間(例如信號的幾個周期)檢測從放大部1300輸入的信號的電平,把檢測結(jié)果向電平修正部43b發(fā)送。這樣,電平修正部43b計算從基準電壓C的偏移(ΔC),在輸入信號的電平中加上(-ΔC),修正信號電平。結(jié)果,電平修正部43b區(qū)的振幅中心與基準電壓C一致的信號,把該信號向TE信號生成部1301輸出。以上的處理結(jié)果為TE信號生成部1301能正常工作,并且能取得精度高的TE信號。此外,即使讓成為信號的振幅中心的電壓與基準電壓C一致,有時該振幅也比上述的振幅A大。這時,電平修正部43b把信號用常數(shù)加倍,修正信號的電平,使振幅的最大值和最小值的絕對值收斂在C±A中。
此外,變更輸入信號的電平意味著對輸入信號的電平提供電偏移量(-ΔC)。該偏移量可以用任意值提供,也可以是臺階狀的值(-10mV、-20mV等)中的一個。
根據(jù)上述的處理,即使把TE信號生成部1301的動態(tài)范圍設(shè)定得窄,也能使TE信號生成部1301正常工作,能實現(xiàn)TE信號生成部1301的省電。通過減小進行模擬演算的TE信號生成部1301的動態(tài)范圍,能提高向進行數(shù)字演算的控制信號生成部47輸入信號時的A/D轉(zhuǎn)換的分解度。
下面,說明ODC42。ODC42具有偏移量檢測部48、檢測值存儲部44、修正值計算部45和偏移量修正部1303、雜射光調(diào)整部46和控制信號生成部47。
偏移量檢測部48、檢測值存儲部44、修正值計算部45和偏移量修正部1303的各功能與圖1所示的相同名稱的構(gòu)成要素的功能相同。即偏移量檢測部48根據(jù)從低通濾波器1302輸出的信號,檢測偏移量,檢測值存儲部44全部存戶偏移量檢測部48輸出的偏移量信號的值。此外,此外,修正值計算部45讀出檢測值存儲部44中存儲的偏移量的值,計算電偏移量的修正值輸出。偏移量修正部1303根據(jù)從修正值計算部45輸出的修正值修正低通濾波器1302的輸出信號。此外,在圖中只表示從實施例1到3的光盤裝置中公共設(shè)置的偏移量檢測部、檢測值存儲部、修正值計算部和偏移量修正部。
根據(jù)以上的處理,修正光盤裝置內(nèi)的放大器引起的電偏移量。根據(jù)修正處理,在電平調(diào)整部43中能修正有意圖地提供給信號的電偏移量。例如,考慮電平修正部43b在臺階狀的值中提供“-10mV”時。如果通過“-13mV”的-10mV,能完全修正,則-10mV和-13mV之間的差(-3mV)變?yōu)橛幸鈭D地提供給信號的電偏移量。偏移量修正部1303能修正包含該電偏移量的此前產(chǎn)生的電偏移量。
下面,說明雜射光調(diào)整部46的結(jié)構(gòu)和動作。雜射光調(diào)整部46具有雜射光檢測部46a和雜射光修正部46b,出去光頭40的光學路線中引起的雜射光。在所定的條件下,只有關(guān)于雜射光的信號輸入到雜射光調(diào)整部46中?!八ǖ臈l件”是指激光二極管2點亮、不進行聚焦控制動作和跟蹤控制動作、受光量檢測部6不接收來自光盤1的反射光(例如物鏡5離開光盤1足夠遠)。在本說明書中,把該條件作為雜射光調(diào)整部46調(diào)整雜射光時的條件。
為了使受光量檢測部6不接收反射光,透鏡驅(qū)動電路7對物理地連結(jié)在物鏡5上的聚焦執(zhí)行機構(gòu)(未圖示)提供驅(qū)動信號,聚焦執(zhí)行機構(gòu)根據(jù)驅(qū)動信號使物鏡5在垂直于光盤1的方向,并且在離開光盤1的方向移動充分的距離。根據(jù)來自控制信號生成部47的控制信號,由透鏡驅(qū)動電路7進行這樣的動作。此外,當向光盤1的信息記錄層寫入數(shù)據(jù),從信息記錄層讀出數(shù)據(jù)時,從透鏡驅(qū)動電路7向聚焦執(zhí)行機構(gòu)輸出驅(qū)動信號,使光束的焦點位于信息記錄層上。
透鏡驅(qū)動電路7不僅在垂直于光盤1的方向,也能在光盤1的半徑方向驅(qū)動透鏡5。據(jù)此,能把光束的焦點位置控制為不偏離記錄磁道。進行控制,使通過跟蹤線圈無法控制的光頭40的大半徑方向的移動通過使輸送光頭40的輸送臺(未圖示)移動,把光頭移動到所定的記錄磁道,通過跟蹤線圈跟蹤該記錄磁道。
雜射光檢測部46a通過檢測保持雜射光信號的電平即雜射光偏移量,雜射光修正部46b能從偏移量修正部1303的輸出信號減去該雜射光偏移量,容易地出去雜射光信號。結(jié)果,控制信號生成部47接收從雜射光修正部46b輸出的信號,生成沒有雜射光的影響的控制信號,據(jù)此,實現(xiàn)精度高的跟蹤控制。
下面,參照圖23,說明本實施例的光盤裝置的電平修正動作和雜射光修正動作的一系列的處理步驟。圖23表示本實施例的光盤裝置的修正處理的步驟。在步驟S401中,激光二極管2點亮,發(fā)射激光。這時,光盤裝置不進行聚焦控制動作和跟蹤控制動作,并且受光量檢測部6把物鏡5在聚焦方向移動到不接收來自光盤1的反射光的位置。
接著在步驟S402中,電平調(diào)整部43進行電平修正,調(diào)整對TE信號生成部1301輸入的信號的電平。在步驟S403中,偏移量修正部1303修正電偏移量。在步驟S404中,雜射光調(diào)整部46檢測雜射光偏移量,并且修正雜射光。
如果通過到步驟S404為止的處理修正電偏移量和雜射光偏移量,則在以下的步驟S405中,光盤裝置進行聚焦控制,使光束匯聚在光盤1的信息記錄層上,在步驟S406中,進行跟蹤控制,使光束正確地在光盤1的信息記錄層上掃描。然后,如果向光盤1記錄數(shù)據(jù)的動作或從光盤1讀出數(shù)據(jù)的動作開始,則在所定的間隔中執(zhí)行步驟S407。
在步驟S407中,偏移量修正部1303檢測或推測電偏移量,按照必要修正電偏移量。此外,除了所定的時間間隔,也可以象實施例1的光盤裝置那樣,設(shè)置溫度檢測部,當?shù)竭_所定溫度時,執(zhí)行步驟S407。
此外,步驟S404中的雜射光修正與電偏移量的修正不同,在光盤裝置的起動時修正一次就可以了。動作開始后的溫度變化對雜射光的發(fā)生狀態(tài)產(chǎn)生的影響實質(zhì)上可以忽略。在進行雜射光修正處理時,與實施例2的光盤裝置的動作同樣,光盤裝置在數(shù)據(jù)的記錄動作時和再現(xiàn)動作時變更設(shè)定,進行雜射光檢測和修正。這時,例如設(shè)定控制部715切換記錄用發(fā)光功率和再現(xiàn)用發(fā)光功率,使激光二極管2發(fā)光。
圖21的光盤裝置具有電平調(diào)整部43和雜射光調(diào)整部46雙方,但是也可以只設(shè)置它們的一方。電平調(diào)整部43和雜射光調(diào)整部46的各動作獨立,所以通過在上述的各條件下使各部工作,能實現(xiàn)上述的各目的。
電平調(diào)整部43及/或雜射光調(diào)整部46也可以納入實施例1~3的光盤裝置中。例如,圖24表示在實施例1的光盤裝置中設(shè)置了電平調(diào)整部43和雜射光調(diào)整部46的其他光盤裝置的結(jié)構(gòu)。電平調(diào)整部43設(shè)置在第二隔斷部102和TE信號生成部103上,調(diào)整向TE信號生成部103輸入的信號的電平。此外,雜射光調(diào)整部46設(shè)置在偏移量修正部111和控制信號生成部110之間,實現(xiàn)高精度的跟蹤控制和聚焦控制。此外,當在本發(fā)明實施例2的光盤裝置中設(shè)置電平調(diào)整部時,例如在放大部700和FE信號生成部701之間配置電平調(diào)整部,電平調(diào)整部調(diào)整輸入到FE信號生成部701中的信號的電平。據(jù)此,F(xiàn)E信號生成部701正常工作,并且能取得高精度的FE信號。能取得伴隨著能縮小FE信號生成部701的動態(tài)范圍的上述的優(yōu)點。
此外,在1臺數(shù)據(jù)處理裝置中,能組合利用實施例1~3的兩個以上。例如組合實施例1和2的處理,關(guān)于跟蹤誤差信號和聚焦誤差信號雙方,個別修正重疊在各信號上的電偏移量。
以上說明了實施例1~4的光盤裝置。各實施例的光盤裝置在電路各部的電偏移量的劃分、與記錄和再現(xiàn)分別對應的設(shè)定、修正值的計算方法、更新修正值的狀況、檢測電偏移量的狀況等時,有時彼此不同??墒?,通過彼此自由組合這些方法、設(shè)定內(nèi)容等動作條件,能實現(xiàn)高速的信息傳輸和更高精度的偏移量修正、電平修正、雜射光修正。結(jié)果,伺服信號的質(zhì)量提高,能實現(xiàn)高精度的伺服控制。
此外,在本說明書中,作為伺服控制的例子,說明了跟蹤控制和聚焦誤差控制。說明書和附圖中的TE/FE信號、FE/TE生成芯片、TE/FE信號生成部分別能總括為伺服信號、伺服信號生成芯片、伺服信號生成電路等。
根據(jù)本發(fā)明,在修正電偏移量時,設(shè)置檢測電偏移量的情形、從過去的溫度和電偏移量的值計算現(xiàn)在的溫度和電偏移量的值的情形,所以降低中斷光盤裝置的記錄再現(xiàn)動作的頻度,在光盤裝置和緩存器間能實現(xiàn)高速的信息傳輸。這樣的光盤裝置對于向CD、DVD-ROM、DVD-RAM、DVD-RW、DVD-R、+RW、+R、BD進行數(shù)據(jù)的讀出及/或?qū)懭氲娜我獾墓獗P裝置都能適用。
權(quán)利要求
1.一種光盤裝置,對于具有信息記錄層的光盤進行數(shù)據(jù)的寫入和讀出的至少一方,包括具有放射光的光源、使所述光匯聚的透鏡和檢測所述光并輸出再現(xiàn)信號的光檢測器的光頭;根據(jù)控制信號,在實質(zhì)上垂直于所述信息記錄層的方向使所述透鏡的位置變化的透鏡驅(qū)動部;是生成所述控制信號的控制信號生成部,即生成包含使所述透鏡移動到接收不到來自所述光盤的反射光的位置的指示的所述控制信號的控制信號生成部;根據(jù)所述再現(xiàn)信號,生成第一跟蹤誤差信號的TE信號生成部;檢測在所述TE信號生成部中產(chǎn)生的電偏移量的偏移量檢測部;根據(jù)所述電偏移量,生成從所述第一跟蹤誤差信號中除去電偏移量的第二跟蹤誤差信號的偏移量修正部;以及根據(jù)所述第二跟蹤誤差信號,檢測與在所述光頭內(nèi)漫反射的光對應的雜射光信號,從所述再現(xiàn)信號中除去所述雜射光信號的雜射光調(diào)整部。
2.一種光盤裝置,對于具有信息記錄層的光盤進行數(shù)據(jù)的寫入和讀出的至少一方,包括具有放射光的光源、使所述光匯聚在所述光盤上的透鏡和檢測來自所述光盤的反射光輸出第一再現(xiàn)信號的光檢測器的光頭;根據(jù)所述第一再現(xiàn)信號,生成具有所定范圍內(nèi)的電平的第二再現(xiàn)信號的電平調(diào)整部;根據(jù)所述第二再現(xiàn)信號生成第一跟蹤誤差信號的,其動態(tài)范圍處于所述所定范圍的TE信號生成部;檢測所述TE信號生成部中產(chǎn)生的電偏移量的偏移量檢測部;根據(jù)所述電偏移量,生成從所述第一跟蹤誤差信號中除去所述電偏移量的第二跟蹤誤差信號的偏移量修正部;根據(jù)所述第二跟蹤誤差信號生成控制信號的控制信號生成部;以及根據(jù)所述控制信號在橫切所述磁道的方向驅(qū)動所述透鏡,使所述光匯聚的位置位于所述磁道上的透鏡驅(qū)動部。
3.一種光盤裝置的控制方法,控制對于具有信息記錄層的光盤進行數(shù)據(jù)的寫入和讀出的至少一方的光盤裝置,包括放射光的步驟;使所述光匯聚在所述光盤上的步驟;檢測來自所述光盤的反射光,輸出第一再現(xiàn)信號的步驟;根據(jù)所述第一再現(xiàn)信號生成具有所定范圍內(nèi)的水平的第二再現(xiàn)信號的步驟;根據(jù)所述第二再現(xiàn)信號,生成第一跟蹤誤差信號的步驟;檢測在生成所述第一跟蹤誤差信號時產(chǎn)生的,并且重疊在所述第一跟蹤誤差信號上的電偏移量的值的步驟;根據(jù)所述電偏移量的值,生成從所述第一跟蹤誤差信號中除去所述電偏移量的第二跟蹤誤差信號的步驟;根據(jù)所述第二跟蹤誤差信號生成控制信號的步驟;以及根據(jù)所述控制信號使所述光匯聚的位置位于所述磁道上的步驟。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光盤裝置的控制方法,其中包含以所定間隔多次進行檢測所述電偏移量的步驟的步驟;存儲所述電偏移量的各值的步驟;以及根據(jù)所述電偏移量的至少兩個值,推測在所述電偏移量的檢測后重疊在所述第一跟蹤誤差信號上的電偏移量的值的步驟,生成所述第二跟蹤誤差信號的步驟,根據(jù)所推測的所述電偏移量的值,生成所述第二跟蹤誤差信號。
5.一種光盤裝置,對于具有信息記錄層的光盤進行數(shù)據(jù)的寫入和讀出的至少一方,包括具有放射光的光源、使所述光匯聚的透鏡和檢測所述光并輸出再現(xiàn)信號的光檢測器的光頭;根據(jù)控制信號,使所述透鏡的位置在實質(zhì)上垂直于所述信息記錄層的方向變化的透鏡驅(qū)動部;是生成所述控制信號的控制信號生成部,即生成包含使所述透鏡移動到接收不到來自所述光盤的反射光的位置的指示的所述控制信號的控制信號生成部;根據(jù)所述再現(xiàn)信號,生成第一聚焦誤差信號的FE信號生成部;檢測在所述FE信號生成部中產(chǎn)生的電偏移量的偏移量檢測部;根據(jù)所述電偏移量生成從所述第一聚焦誤差信號中除去電偏移量的第二聚焦誤差信號的偏移量修正部;以及根據(jù)所述第二聚焦誤差信號,檢測與在所述光頭內(nèi)漫反射的光對應的雜射光信號,從所述再現(xiàn)信號中除去所述雜射光信號的雜射光調(diào)整部。
6.一種光盤裝置,對于具有信息記錄層的光盤進行數(shù)據(jù)的寫入和讀出的至少一方,包括具有放射光的光源、使所述光匯聚在所述光盤上的透鏡以及檢測來自所述光盤的反射光并輸出第一再現(xiàn)信號的光檢測器的光頭;根據(jù)所述第一再現(xiàn)信號,生成具有所定范圍內(nèi)的電平的第二再現(xiàn)信號的電平調(diào)整部;根據(jù)所述第二再現(xiàn)信號,生成表示垂直于所述光盤的方向的所述光焦點位置與所述信息記錄層的位置關(guān)系的第一聚焦誤差信號的,其動態(tài)范圍處于所述所定范圍的FE信號生成部;檢測所述FE信號生成部中產(chǎn)生的電偏移量的偏移量檢測部;根據(jù)所述電偏移量,生成從所述第一聚焦誤差信號中除去所述電偏移量的第二聚焦誤差信號的偏移量修正部;根據(jù)所述第二聚焦誤差信號生成控制信號的控制信號生成部;以及根據(jù)所述控制信號在垂直于所述光盤的方向驅(qū)動所述透鏡,使所述光匯聚的位置位于所述信息記錄層的透鏡驅(qū)動部。
7.一種光盤裝置的控制方法,控制對于具有信息記錄層的光盤進行數(shù)據(jù)的寫入和讀出的至少一方的光盤裝置,包括放射光的步驟;使所述光匯聚在所述光盤上的步驟;檢測來自所述光盤的反射光,輸出第一再現(xiàn)信號的步驟;根據(jù)所述第一再現(xiàn)信號的電平生成具有所定范圍內(nèi)的水平的第二再現(xiàn)信號的步驟;根據(jù)所述第二再現(xiàn)信號,生成第一聚焦誤差信號的步驟;檢測在生成所述第一聚焦誤差信號時產(chǎn)生的,并且重疊在所述第一聚焦誤差信號上的電偏移量的值的步驟;根據(jù)所述電偏移量的值,生成從所述第一聚焦誤差信號中除去所述電偏移量的第二聚焦誤差信號的步驟;根據(jù)所述第二聚焦誤差信號生成控制信號的步驟;以及根據(jù)所述控制信號使所述光匯聚的位置位于所述信息記錄層上的步驟。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的光盤裝置的控制方法,其中包含以所定間隔多次進行檢測所述電偏移量的步驟的步驟;存儲所述電偏移量的各值的步驟;以及根據(jù)所述電偏移量的至少兩個值,推測在所述電偏移量的檢測后,重疊在所述第一聚焦誤差信號上的電偏移量的值的步驟,生成所述第二聚焦誤差信號的步驟,根據(jù)推測的所述電偏移量的值,生成所述第二聚焦誤差信號。
9.一種光盤裝置,對于具有信息記錄層的光盤進行數(shù)據(jù)的寫入和讀出的至少一方,包括具有放射光的光源、使所述光匯聚的透鏡和檢測所述光并輸出再現(xiàn)信號的光檢測器的光頭;根據(jù)控制信號,使所述透鏡的位置在實質(zhì)上垂直于所述信息記錄層的方向變化的透鏡驅(qū)動部;是生成所述控制信號的控制信號生成部,即生成包含使所述透鏡移動到接收不到來自所述光盤的反射光的位置的指示的第一控制信號和包含使所述透鏡移動到可接收到來自所述光盤的反射光的位置的指示的第二控制信號的控制信號生成部;根據(jù)所述第一控制信號,在所述透鏡驅(qū)動部正在動作期間,根據(jù)所述第一再現(xiàn)信號,檢測與在所述光頭內(nèi)漫反射的光對應的雜射光信號,保持與檢測出的所述雜射光信號電平對應的修正值的雜射光調(diào)整部;根據(jù)所述第二控制信號所述透鏡驅(qū)動部正在動作期間,根據(jù)所述第一再現(xiàn)信號的電平,生成具有所定范圍內(nèi)的電平的第二再現(xiàn)信號的電平調(diào)整部;根據(jù)所述第二再現(xiàn)信號,生成表示所述光焦點位置與所述光盤的位置關(guān)系的第一伺服信號的,其動態(tài)范圍處于所述所定范圍的信號生成部;檢測在所述信號生成部中產(chǎn)生的電偏移量的偏移量檢測部;以及根據(jù)所述電偏移量,生成從所述第一伺服信號中除去所述電偏移量的第二伺服信號的偏移量修正部,所述雜射光調(diào)整部,根據(jù)所述修正值修正所述第二伺服信號。
全文摘要
一種光盤裝置,在更新電偏移量時,或根據(jù)現(xiàn)在的電偏移量的檢測值進行更新,或不檢測現(xiàn)在的偏移量,而根據(jù)過去檢測的偏移量導出電偏移量,根據(jù)該值進行更新。從而能降低中斷光盤裝置的記錄再現(xiàn)動作的頻度。提供在記錄再現(xiàn)動作中修正電偏移量時,防止信息傳輸率的下降的光盤裝置。
文檔編號G11B21/10GK1979654SQ200610171240
公開日2007年6月13日 申請日期2003年12月15日 優(yōu)先權(quán)日2002年12月13日
發(fā)明者高橋里枝, 山元猛晴, 岸本隆, 藤畝健司, 渡邊克也 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社
網(wǎng)友詢問留言 已有0條留言
  • 還沒有人留言評論。精彩留言會獲得點贊!
1