專利名稱：光盤裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及包含CD-ROM、CD-R、CD-RW驅動器或者DVD驅動器、Blue-Ray Disc(藍光盤)驅動器等的光盤裝置及其控制方法。
背景技術：
近年來，光盤媒體的種類呈現多樣化。不論是什么樣的光盤媒體都具有多層構造，并且在媒體表面?zhèn)鹊谋Ｗo層的內側具有記錄了信號的信號面，在這一點上是共同的。但另一方面很多參數不同，例如盤媒體的厚度、表面到信號面的距離、信號面的個數(例如，DVD最多具有2層的信號面)以及在從信號面讀出信息時應使用的激光的波長等。
因此，以往一般是針對每種光盤媒體使用專用的驅動器。但是，如果必須針對每種光盤媒體購入并設置專用的驅動器，則使用者必須熟悉各驅動器的操作，并且經濟負擔也大。于是，人們追求可以應對多種類型的光盤媒體的驅動器(光盤裝置)。為了獲得這樣的驅動器，人們開發(fā)出這樣一種技術利用光盤媒體的每種類型在讀出時所使用的光源(激光)的波長不同的特點，使用具有波長選擇性的光學元件，從而用一個物鏡來改變透鏡數值孔徑。
用于這樣的驅動器的光學拾取器如圖5所示，構成為包含輸出多種波長的激光的發(fā)光元件11、光束分離器12、光電探測器13和物鏡體14。物鏡體14包括物鏡14L和包含衍射光柵的全息元件14H。
發(fā)光元件11例如是輸出3個相互不同波長的激光的半導體激光元件(所謂的3波長激光器)。這里，在使3個波長對應例如藍光盤和DVD(數字通用光盤)、CD(高密度磁盤)的情況下，控制成對藍光盤輸出405nm波長的激光、對DVD輸出650nm波長的激光，對CD輸出780nm波長的激光。
光束分離器12將發(fā)光元件11輸出的光導向物鏡體14側。此外，光束分離器12將被媒體反射后通過物鏡體14輸入的光導向光電探測器13側。光電探測器13具有配置成例如N×N的矩陣狀的多個光檢測元件。該光電探測器13具有用于測定光束束徑的例如柱面透鏡。由光束分離器12引導的光經由該柱面透鏡到達多個感光元件中的每一個。然后，光電探測器13分別輸出通過多個感光元件分別檢測出的光強度信號。
物鏡體14的全息元件14H使經由物鏡體14引導的、被媒體反射后的激光折射，從而形成與其波長相對應的數值孔徑(NA)，然后將其導向光束分離器12。另外，物鏡14L是非球面透鏡，使通過光束分離器12和全息元件14H從發(fā)光元件11導入的激光折射并輸出，從而使其在離開針對其每種波長不同的規(guī)定焦距F的位置處形成焦點。另外，該物鏡14L會聚被媒體反射后的激光，并將其導向全息元件14H。
從光電探測器13輸出的信號(RF信號)生成表示激光相對光盤媒體的記錄面的聚焦偏離的信號(聚焦誤差信號FE信號)和到達感光元件后的光的強度之和的信號(引入(プルイン)信號PI信號)。通常還可以從該光電探測器13輸出的信號生成表示跟蹤誤差的信號(TE信號)等，但在此省略其詳細的說明。
這里，FE信號是如圖6(a)所示的信號。即，FE信號在聚焦的情況下近似為“0”。并且是在以聚焦位置為中心、使光盤媒體與物鏡體14的距離變動時，物鏡體14離開聚焦位置規(guī)定的距離時分別具有正負峰值的信號。以下將該信號波形稱為聚焦誤差波形。
另外，PI信號是如圖6(b)所示的信號。即，該PI信號在聚焦的位置上具有峰值。圖6(a)、6(b)分別是表示FE信號以及PI信號的概略的說明圖。
使用該光學拾取器時，控制物鏡體14和媒體表面的距離，使物鏡14L到媒體內部的信號面的距離為上述焦距F，即可以聚焦在信號面上，從而可以對應于多種光盤媒體來讀出信號。這里，是否聚焦通過以下判斷使用上述FE信號以及/或者PI信號，例如在FE信號的絕對值越過峰值后下降了規(guī)定閾值(接近“0”)時判斷為聚焦?；蛘咴赑I信號超過了規(guī)定閾值時判斷為聚焦。
在具有2層以上的信號面的光盤媒體中，適當地控制物鏡和媒體的位置關系的技術在特開2002-269770號公報(對應美國專利申請公開US2002/136103)中公開。
但是，如果使用上述現有的光學拾取器來應對多種光盤媒體，則會產生以下情況在一面使物鏡體14向光盤媒體移動、一面捕捉信號面上的反射光之前，在該物鏡體14內改變數值孔徑時不需要的無用光作為光盤媒體的表面或信號面的反射光在物鏡體14內部反射，從而檢測出至少一個偽信號(Fake)。
這里，由于作為對象的光盤媒體的種類或性質不同，會產生以下情況與信號面上的反射光有關的FE信號和PI信號與FE信號或PI信號中的偽信號的信號形狀類似，從而識別困難。例如，在低反射率的媒體(CD-RW等)中，在Fake的產生原因是表面反射的情況下，有時信號面的反射光的強度小于Fake的強度。

發(fā)明內容
本發(fā)明鑒于上述問題而作出，其目的之一是提供一種可以與有無偽信號的產生無關地在信號面上聚焦的光盤裝置。
用于解決上述現有例的問題的本發(fā)明是一種光盤裝置，其特征在于，具有物鏡，并且包含光學拾取器，輸出基于光盤的反射光的信號；驅動部，使上述光學拾取器的物鏡相對于光盤面相對移動；以及聚焦控制部，在通過上述驅動部使上述物鏡相對于光盤面相對移動的同時，在物鏡與光盤面的距離為規(guī)定距離范圍期間，進行從上述光學拾取器的輸出信號檢測出光盤的信號面上的反射信號的聚焦檢測動作。


圖1是表示本發(fā)明實施方式的光盤裝置的例子的結構框圖；圖2是表示在本發(fā)明實施方式的光盤裝置中，基于來自光學拾取器的輸出信號而生成的信號的例子的說明圖；圖3是表示本發(fā)明實施方式的光盤裝置的聚焦控制處理的例子的流程圖；圖4是表示本發(fā)明實施方式的光盤裝置的聚焦控制處理中的聚焦檢測處理的例子的流程圖；圖5是表示光學拾取器的結構例的概要圖；圖6是表示焦點位置附近的聚焦誤差信號和引入信號的概要的說明圖。
具體實施例方式
下面參照附圖對本發(fā)明的實施方式進行說明。如圖1所示，本發(fā)明實施方式的光盤裝置具有媒體支持部21、主軸電動機22、光學拾取器23、兩軸致動器24、進給電動機25、驅動放大器26、RF放大器27、伺服信號處理部28、伺服處理控制部29以及信號處理部30。
媒體支持部21可旋轉地支持光盤媒體。此外，該媒體支持部21利用由主軸電動機22傳遞的動力使光盤媒體旋轉。光學拾取器23與圖5所示的光學拾取器相同，具有一個物鏡和可以放射出具有3個或3個以上的相互不同的波長的光的激光器，并且選擇性地放射出例如與藍光盤、DVD、CD相對應的各波長的激光。另外，該光學拾取器23在此可通過兩軸致動器24在光盤媒體的矢徑方向以及垂直于光盤媒體的面的方向這2個方向(兩軸)上移動。
兩軸致動器24由進給電動機25驅動。該兩軸致動器24具有在垂直于光盤媒體的面的方向上移動光學拾取器23的致動器(聚焦控制致動器)。由此控制光學拾取器23中包含的物鏡體14與光盤媒體的表面的距離。
驅動放大器26針對進給電動機25控制其驅動量。另外，該驅動放大器26按照從伺服信號處理部28輸入的信號來驅動兩軸致動器24中的聚焦控制致動器。利用上述兩軸致動器24和驅動放大器26實現本發(fā)明的驅動部。
RF放大器27基于光學拾取器23輸出的、多個光檢測元件各自的輸出信號，生成并輸出FE信號以及/或者PI信號。伺服信號處理部28可以利用例如DSP(數字信號處理器)來實現，用于檢測RF放大器27輸出的PI信號的峰值。另外，針對該PI信號檢測其是否超過了預先規(guī)定的PI信號閾值(FOKFocus OK(聚焦成功))。而且，該伺服信號處理部28針對RF放大器27輸出的FE信號，進行使用預先規(guī)定的FE信號閾值(FZCFocus Zero Cross(聚焦過零))的規(guī)定處理。有關該處理后面詳述。伺服信號處理部28將這些檢測結果或規(guī)定處理結果輸出給伺服處理控制部29。
另外，伺服信號處理部28按照從伺服處理控制部29輸入的指示，向驅動放大器26輸出與聚焦控制致動器的驅動有關的信號。伺服處理控制部29例如為微型計算機，含有執(zhí)行模塊和存儲元件。在該伺服處理控制部29的存儲元件中，保存有應執(zhí)行的程序或各種參數，執(zhí)行模塊按照保存在該存儲元件中的程序進行處理。該伺服處理控制部29接收由伺服信號處理部28輸入的信號(與PI信號的峰值檢測結果有關的信號或與FE信號有關的處理結果信號)等的輸入，并基于這些信號，執(zhí)行將光學拾取器23與光盤媒體的距離設定為在信號面上聚焦的位置的處理(聚焦控制處理)。有關該聚焦控制處理后面詳述。利用這些伺服信號處理部28和伺服處理控制部29，來實現本發(fā)明的聚焦控制部。
信號處理部30基于RF放大器27輸出的信號，對記錄在光盤媒體上的信號進行解調。然后該信號處理部30輸出解調后的信號。
在此，對伺服信號處理部28以及伺服處理控制部29中的處理的具體內容進行敘述。在本實施方式中，伺服處理控制部29以光學拾取器23發(fā)出的光的焦點位于從光盤媒體的表面靠近物鏡體14側的位置(下面稱為初始位置)為起點，以一定的速度使光學拾取器23相對移動，使其接近光盤媒體的表面(盤面)，并在聚焦到信號面上的位置處使光學拾取器23的移動停止。
即，伺服處理控制部29首先向伺服信號處理部28輸出將光學拾取器23移動到初始位置的指示。伺服信號處理部28根據該指示向驅動放大器26輸出與聚焦控制致動器的驅動有關的信號，將光學拾取器23移動到初始位置。
然后，伺服處理控制部29指示伺服信號處理部28，使光學拾取器23以大致恒定的速度向盤面移動。伺服信號處理部28根據該指示向驅動放大器26輸出與聚焦控制致動器的驅動有關的信號，開始光學拾取器23的相對移動。
伺服信號處理部28基于光學拾取器23輸出的信號生成FE信號和PI信號。該信號伴隨著光學拾取器23的移動，例如如圖2所示變化。即，光學拾取器23發(fā)出的光首先在光盤媒體表面上聚焦，形成表面反射光后入射到光學拾取器23。利用該表面反射形成FE信號和PI信號分別具有峰值的曲線(表面反射S)。
然后，在光學拾取器23接近盤面時出現伴隨表面反射的多個偽信號群(F1、F2、...)。從這里使光學拾取器23進一步接近盤面時，出現信號面上的反射光(T)。
伺服處理控制部29在進行了使光學拾取器23以大致恒定的速度從初始位置開始移動的指示后，作為聚焦控制處理，開始圖3所示的處理。首先，利用PI信號和FE信號中的至少一個，在表面反射信號(S)出現之前待機(S1)。在檢測到表面反射信號后，伺服處理控制部29啟動未圖示的計時器(S2)。
然后，伺服處理控制部29在處理S2中檢查啟動后的計時器的計時時刻是否超過預先規(guī)定的超時時間Tout(S3)，如果沒有超過，則檢查是否出現FE信號的聚焦誤差波形或PI信號的峰值(S4)。在此檢測偽信號的出現。在處理S4中沒有檢測出偽信號時，返回處理S3，繼續(xù)進行處理。而在處理S4中檢測出偽信號時，取得計時器的計時時刻，作為表示檢測出規(guī)定的偽信號、例如第一個偽信號的時刻的信息(偽信號檢出時刻)Tfake1(S5)。另外，利用光學拾取器23的移動速度信息V，通過移動速度信息V和Tfake1的相乘求出從檢測出表面反射S開始到檢測出第一個偽信號為止，光學拾取器23的移動距離(偽信號檢出位置)Pfake1。
此外，由于光盤媒體分別按照標準規(guī)定了從表面到信號面的距離(基板厚度)的下限以及上限，因此按照與各光盤媒體相對應的波長，針對對應的每種光盤媒體，將與各光盤媒體相關的基板厚度的下限值作為檢測開始位置Pmask、將上限值作為檢測結束位置Plimit存儲在伺服處理控制部29中。
這里，對于在所有波長范圍內都沒有出現偽信號Fake的光盤媒體，也可以不預先存儲這些檢測開始位置Pmask和檢測結束位置Plimit。這種情況下，伺服處理控制部29基于另外檢測出的光盤種類信息，檢查是否是出現偽信號Fake的光盤媒體，是出現偽信號Fake的光盤媒體時，讀出與該檢測出的光盤媒體的種類相關聯地存儲的檢測開始位置Pmask和檢測結束位置Plimit。
伺服處理控制部29然后在處理S5中通過Tmask＝Tfake1×Pmask/Pfake1Tlimit＝Tfake1×Plimit/Pfake1分別計算檢測開始時間Tmask和檢測結束時間Tlimit。
另外，Tout的值最好大于此處測定的Tfake1。因而，例如預先通過實驗得到Tfake1的測定值，然后將Tout設定為大于所測定的Tfake1的值。
伺服處理控制部29在計時器的計時時刻超過Tmask前待機(S6)，在計時器的計時時刻超過Tmask時，開始聚焦檢測處理(S7)。
另外，在處理S3中計時器的計時時刻超過了預先規(guī)定的Tout時，即在檢測出偽信號之前花費了Tout以上的時間時，視為在媒體支持部21上放置了不對應的光盤媒體，從而輸出表示錯誤的信號(S8)。
在以上的說明中，利用與光盤媒體相關的基板厚度的下限值來確定檢測開始時間Tmask，但也可以更簡單地將該Tmask確定為Tmask＝Tfake1×τ。
這里的τ為1以上的參數。一般情況下，在光盤媒體的面相對水平面具有傾角的情況下，從光學拾取器23到光盤媒體的表面的距離隨著光盤媒體的旋轉發(fā)生變化(所謂的面擺動)。因此，從檢測出偽信號Fake的位置到信號面的距離會發(fā)生變化。另外，由于光盤媒體的種類不同，在離基于表面反射的偽信號Fake近的位置上會產生基于記錄層上的反射光的偽信號Fake。照顧到這種情況，可以設定τ使得Tmask在觀測到這些偽信號Fake的期間之后。例如，可以是τ＝1.25。
通過該處理，在光學拾取器23的物鏡14L與光盤面的距離移動超過Tmask的時間后的距離范圍內執(zhí)行聚焦檢測處理。即，在以一定的速度V驅動光學拾取器23時，在光學拾取器23的物鏡14L與光盤面的距離小于Pmask＝Tmask×V的距離范圍內，進行根據光學拾取器23的輸出信號來檢測光盤的信號面上的反射信號的聚焦檢測動作。
下面對伺服處理控制部29的聚焦檢測處理(聚焦檢測動作)進行說明。在該處理中，伺服處理控制部29如圖4所示，檢查計時器的計時時刻是否超過在處理S5中計算的Tlimit(S11)。這里，在計時器的計時時刻超過在處理S5中計算的Tlimit時，轉移到處理S8，視為在媒體支持部21上設置了不對應的光盤媒體，從而輸出表示錯誤的信號(A)。
另一方面，當在處理S11中計時器的計時時刻沒有超過在處理S5中計算的Tlimit時，檢查PI信號是否超過規(guī)定的閾值FOK(S12)，在沒有超過時，返回處理S11并繼續(xù)進行處理。
當在處理S12中PI信號超過規(guī)定的閾值FOK時，利用FE信號進行聚焦在信號面上的處理。在該處理中，使用與FE信號相關的2個閾值FZC1和FZC2(FZC1＞FZC2)。即，根據FE信號的聚焦誤差波形，在沿接近光盤面的方向移動時，隨著接近聚焦位置，信號取正的峰值，然后成為急劇變小的值，從而在聚焦位置上近似為“0”。因此，這里在暫時超過第1閾值FZC1并接著低于第2閾值FZC2的時刻判斷為已聚焦。在這些閾值FOK、FZC1、FZC2因光盤媒體的種類而不同時，針對每種光盤媒體預先設定這些閾值FOK、FZC1、FZC2，并預先檢測出是放置了什么樣的光盤媒體(從使用者接收輸入等)，從而取得并利用與該檢測出的種類的光盤媒體相關聯地設定的閾值。
即，當在處理S12中PI信號超過規(guī)定的閾值FOK時，伺服處理控制部29進一步檢查計時器的計時時刻是否超過在處理S5中計算的Tlimit(S13)。這里，當計時器的計時時刻超過在處理S5中計算的Tlimit時，執(zhí)行重試處理(S14)。有關重試處理后面詳述。
另一方面，當在處理S13中計時器的計時時刻沒有超過在處理S5中計算的Tlimit時，檢查FE信號是否超過第1閾值FZC1(S15)，在沒有超過時返回處理S13并繼續(xù)進行處理。
另外，當在處理S15中FE信號超過第1閾值FZC1時，進一步檢查計時器的計時時刻是否超過在處理S5中計算的Tlimit(S16)。這里，在計時器的計時時刻超過在處理S5中計算的Tlimit時，轉移到處理S14，執(zhí)行重試處理(S14)。
另一方面，當在處理S16中計時器的計時時刻沒有超過在處理S5中計算的Tlimit時，檢查FE信號是否低于第2閾值FZC2(S17)，在不低于時返回處理S16，繼續(xù)進行處理。
另一方面，當在處理S17中FE信號低于第2閾值FZC2時，視為在該時刻在信號面上聚焦，從而停止光學拾取器23向垂直于盤面的方向的移動，并指示閉合聚焦伺服環(huán)路(接通聚焦伺服)(聚焦鎖定控制S18)。
另外，在處理S14的重試處理中，向伺服信號處理部28輸出將光學拾取器23移動到初始位置的指示，并按照規(guī)定的方法更新第1、第2閾值FZC1、FZC2，返回處理S1并重復進行處理。在此，閾值的更新例如通過使FZC1、FZC2分別降低一定比例等方法進行。此外，在上述說明中使用了第1、第2閾值，但也可以例如只使用這里的第2閾值FZC2來進行二值化，從而在超過FZC2時使FE信號為“H”、沒有超過時使FE信號為“L”，并在檢測到該二值化后的FE信號的下降沿時，視為在該時刻聚焦在信號面上，從而停止光學拾取器23向垂直于盤面的方向的移動，指示閉合聚焦伺服環(huán)路(接通聚焦伺服)(聚焦鎖定控制)。
如這里的處理S11、S13、S16，從光學拾取器23的相對移動開始后的規(guī)定基準時刻(在此為表面反射的檢出時刻)開始，在經過了預先設定的檢測結束時間的時刻，停止聚焦檢測動作，從而可以降低光學拾取器23接觸光盤媒體的機會。即，由此以光學拾取器23的聚焦方向的移動速度為V，在從Tmask×V到Tlimit×V之間的規(guī)定距離范圍內進行聚焦檢測處理。
此外，也可以在該圖3、圖4所示的處理(聚焦控制處理)的執(zhí)行過程中，停止光盤媒體的旋轉。
另外，在本例中，以第一個出現的偽信號Fake(F1)為基準來控制屏蔽時間，但不限于此，也可以對應所使用的光學系統(tǒng)的特性，例如以第2個出現的偽信號Fake(F2)為基準。對于作為該基準的偽信號Fake，可以按下述條件進行選擇是可出現的偽信號Fake當中、在較為接近表面反射的位置上產生的偽信號Fake，并且信號電平比較大、且穩(wěn)定出現。
并且，在此前的說明中，規(guī)定每次測量Tfake1，但由于Tfake1或Pfake1這樣的參數一般依賴于光學拾取器23的特性，因此也可以針對每種光學拾取器23，在制造光盤裝置時，使用從表面到信號面的距離(D)為已知的基準盤來檢測Tfake1，同時使用從聚焦到表面反射到聚焦到信號面的時間Tsignal，通過Pfake1＝(Tfake1/Tsignal)×D來確定Pfake1，并在伺服處理控制部29中存儲這些Tfake1以及pfake1。
而且，這里預先設定了與PI信號有關的閾值FOK或與FE信號有關的閾值FZC1、2，但伺服處理控制部29也可以在進行聚焦控制處理之前，在預先確定的預搜索距離范圍內使光學拾取器23相對于光盤媒體相對移動，進行預搜索控制處理，并基于在此期間根據來自光學拾取器23的輸出信號生成的PI信號或FE信號，來確定上述各閾值。
這里，預搜索距離范圍例如以檢測出表面反射的位置為基準預先確定。而且，伺服處理控制部29也可以測量在預搜索控制處理期間輸入的PI信號的峰值電平(最大值)或FE信號的峰值電平(最大/最小值)，并通過基于該測量結果的規(guī)定方法來確定FOK或FZC1、2。
作為具體例子，也可以針對PI信號的峰值電平的值PImax，使用規(guī)定的比例值η(0＜η＜1)，取閾值FOK為FOK＝η×PImax。對于FZC1、2也可以同樣預先確定各自對應的比例值，并使用該比例值進行設定。這樣，在反射率因光盤媒體的種類而變化時，不需要另外檢測所設置的光盤媒體的種類，就可使閾值不同。
而且，在此前的說明中，以光學拾取器23的初始位置作為離開光盤面的位置，在使光學拾取器23從該初始位置向盤面方向移動的同時，檢測表面反射或偽信號、信號面上的反射光，但也可以與之相反，以比聚焦到信號面上的位置更靠近盤面的位置為初始位置，在使光學拾取器23從該初始位置向離開盤面的方向移動的同時，檢測信號面上的反射光。此時，在聚焦到比信號面更靠近盤內側時，也出現偽信號，因此通過從初始位置開始相對移動并在移動規(guī)定距離(時間經過)后進行聚焦檢測處理，來降低偽信號導致的影響。
此外，例如在第一個出現的偽信號Fake的強度F1與后續(xù)出現的偽信號Fake的強度F2，...Fn相比大規(guī)定比率以上時，即F1＞＞F2...Fn時，可以在檢測出F1之前的時間停止聚焦檢測處理，在檢測出F1后開始聚焦檢測處理。
另外，伺服處理控制部29也可以使用在圖4的處理S18中停止光學拾取器23的移動的時刻的計時器的計時時刻Tsignal和光學拾取器23的移動速度V，通過Psignal＝Tsignal×V來計算從光盤媒體的表面到信號面的距離Psignal，并輸出該計算結果。另外，還可以使用該計算結果來控制用于進行光學拾取器23的聚焦方向的移動的聚焦控制致動器，從而將該計算結果用于規(guī)定的處理。
而且，伺服處理控制部29也可以在進行聚焦控制處理之前，在預先確定的預搜索距離范圍內使光學拾取器23相對于光盤媒體相對移動，進行預搜索控制處理，并基于在此期間根據來自光學拾取器23的輸出信號而生成的PI信號或FE信號，來確定Tmask或Tlimit的值。
即，在預搜索控制處理期間，基于所輸入的PI信號或FE信號，例如在PI信號中，在接近信號面的位置上的偽信號的峰值與聚焦到信號面上時的峰值相比低于規(guī)定比例時，從檢測出表面反射的時刻開始使計時器計時，生成與該時刻后的PI信號的峰值及其檢出時刻相關聯地記錄的表格。然后，對于該生成的表格，從i＝1開始順序地比較第i個記錄的峰值Pki和第i+1個記錄的峰值Pki+1，檢索出Pkn+1/Pkn＞α的n。這里的α為1或1以上的規(guī)定的比例閾值。伺服處理控制部29以該檢索出的第n個記錄中所記錄的時刻作為信號面跟前的偽信號的檢出時刻Tfakelast，將第n+1個記錄中所記錄的時刻作為聚焦到信號面上的時刻(Tsignal)而取得。
伺服處理控制部29基于這些取得的信息確定Tsignal＞Tmask≥Tfakelast的Tmask。例如，可以按照Tmask＝(Tsignal+Tfakelast)/2等來確定。
而且，伺服處理控制部29確定Tlimit，使得Tlimit≥Tsignal。例如可以按照Tlimit＝1.2×Tsignal來確定。
這樣，通過在預先取得表示在規(guī)定距離范圍內PI信號或FE信號如何變化的信息后進行聚焦控制處理，還可以應對例如因環(huán)境(溫度或濕度)條件而使fake1等的值波動的情況。
根據本實施方式，在產生偽信號的位置范圍內檢測是否聚焦等，從而不停止光學拾取器的聚焦方向的移動動作，可以與有無偽信號的產生無關地聚焦到信號面上。
另外，產生偽信號的位置等的信息除了用于此處的聚焦控制外，也可以用于反射率的測量、使用相同波長的光的多種光盤間的種類判別(例如CD、CD-R、CD-RW的區(qū)別)等的處理。
盡管以優(yōu)選或示例性實施方式說明了本發(fā)明，但本發(fā)明不限于此。
權利要求
1.一種光盤裝置，其特征在于，具有物鏡，并且包含光學拾取器，輸出基于光盤的反射光的信號；驅動部，使上述光學拾取器的物鏡相對于光盤面相對移動；以及聚焦控制部，在通過上述驅動部使上述物鏡相對于光盤面相對移動的同時，在物鏡與光盤面的距離為規(guī)定距離范圍的期間，進行從上述光學拾取器的輸出信號檢測出光盤的信號面上的反射信號的聚焦檢測動作。
2.根據權利要求1所述的光盤裝置，其特征在于上述規(guī)定距離范圍是從檢測出伴隨上述光盤面上的表面反射的偽信號的時刻的上述光學拾取器的物鏡的位置開始、到上述光盤面為止的范圍的至少一部分。
3.根據權利要求1所述的光盤裝置，其特征在于上述聚焦控制部在進行上述聚焦檢測動作之前，進行通過上述驅動部使上述物鏡相對于光盤面在預定的預搜索距離范圍內相對移動的預搜索控制動作，并基于在上述預搜索控制動作期間的上述光學拾取器的輸出信號，來確定上述規(guī)定距離范圍。
4.根據權利要求1所述的光盤裝置，其特征在于上述聚焦控制部在進行上述聚焦檢測動作之前，進行通過上述驅動部使上述物鏡相對于光盤面在預定的預搜索距離范圍內相對移動的預搜索控制動作，并基于在上述預搜索控制動作期間上述光學拾取器的輸出信號，來確定與上述信號面上的反射信號的檢測有關的參數，并且在聚焦檢測動作中，使用該確定的參數，在物鏡與光盤面的距離為規(guī)定距離范圍期間，從上述光學拾取器的輸出信號檢測出光盤的信號面上的反射信號。
5.根據權利要求1所述的光盤裝置，其特征在于上述驅動部以實質上恒定的速度使上述物鏡從規(guī)定初始位置開始相對于光盤面的相對移動，上述聚焦控制部從上述相對移動開始后的規(guī)定基準時刻起，在經過了預先設定的檢測開始時間后，通過從上述光學拾取器的輸出信號檢測出光盤的信號面上的反射信號，來進行在規(guī)定距離范圍期間的聚焦檢測動作。
6.根據權利要求5所述的光盤裝置，其特征在于上述規(guī)定的基準時刻是檢測出伴隨上述光盤面上的表面反射的偽信號的時刻，上述檢測開始時間根據從上述相對移動開始起、到上述規(guī)定的基準時刻為止的時間來確定。
7.根據權利要求5所述的光盤裝置，其特征在于上述聚焦控制部從上述相對移動開始后的規(guī)定基準時刻起，在經過了預先設定的檢測結束時間的時刻，停止聚焦檢測動作。
8.一種光盤裝置，其特征在于，具有物鏡，并且包含光學拾取器，輸出基于光盤的反射光的信號；驅動部，使上述光學拾取器的物鏡相對于光盤面相對移動；以及檢測部，在通過上述驅動部使上述物鏡相對于光盤面相對移動的同時，從規(guī)定的定時開始，在規(guī)定時間范圍的期間，從上述光學拾取器的輸出信號檢測出光盤的信號面上的反射信號。
9.根據權利要求8所述的光盤裝置，其特征在于上述規(guī)定的定時是根據檢測出伴隨上述光盤面上的表面反射的偽信號的時刻而確定的定時，上述規(guī)定時間范圍是從上述規(guī)定的定時開始、到在上述光學拾取器的物鏡到達上述光盤面的定時以前確定的時刻為止的范圍。
10.一種光盤裝置的控制方法，以光盤裝置作為控制對象，該光盤裝置具有物鏡，并且包含光學拾取器，輸出基于光盤的反射光的信號；和驅動部，使上述光學拾取器的物鏡相對于光盤面相對移動，上述控制方法在通過上述驅動部使上述物鏡相對于光盤面相對移動的同時，在物鏡與光盤面的距離為規(guī)定距離范圍期間，從上述光學拾取器的輸出信號檢測出光盤的信號面上的反射信號；并且將該信號面上的反射信號的檢測結果用于設定物鏡和光盤面的距離的處理。
全文摘要
本發(fā)明提供一種光盤裝置，可以與有無偽信號的產生無關地在信號面上聚焦，該光盤裝置具有物鏡，并且包含光學拾取器，輸出基于光盤的反射光的信號；驅動部，使上述光學拾取器的物鏡相對于光盤面相對移動；以及聚焦控制部，在通過上述驅動部使上述物鏡相對于光盤面相對移動的同時，在物鏡與光盤面的距離為規(guī)定距離范圍期間，進行從上述光學拾取器的輸出信號檢測出光盤的信號面上的反射信號的聚焦檢測動作。
文檔編號G11B7/09GK1901048SQ20061010559
公開日2007年1月24日 申請日期2006年7月19日 優(yōu)先權日2005年7月19日
發(fā)明者小林俊和 申請人:索尼計算機娛樂公司