專利名稱：聚焦控制調(diào)整方法及光盤裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于將信息復(fù)制或記錄到諸如DVD(數(shù)字通用光盤)之類的記錄媒體的光盤裝置，并涉及用于在該裝置中調(diào)整聚焦控制的方法。
背景技術(shù)：
眾所周知，用于檢測聚焦誤差信號的常規(guī)方法包括刀口法(Foucault法)、斑點尺寸檢測法和散光聚焦誤差法等，其中聚焦誤差信號表示光盤裝置的光束和記錄媒體的記錄面之間的位置偏差。由于使用了簡化的光學(xué)系統(tǒng)且易于調(diào)整，所以散光聚焦誤差法最為常用。在散光聚焦誤差法中，當(dāng)照射到記錄媒體上的光束的會聚斑(以下稱為光束斑)橫切(traverse)記錄媒體的磁道(track)時，聚焦誤差信號中極易產(chǎn)生擾動。在諸如DVD-RAM之類的臺階/溝槽型記錄媒體情況下，擾動所帶來的影響尤為明顯，這是由于記錄媒體的引導(dǎo)溝槽(溝槽)的寬度與溝槽間間隔(臺階)的寬度基本上相等，且引導(dǎo)溝槽的深度被設(shè)置成一個相對于光束波長λ的大數(shù)值(λ/6～λ/7)，這些將導(dǎo)致由經(jīng)過引導(dǎo)溝槽的衍射所產(chǎn)生的推挽信號的振幅增大。
專利文獻(xiàn)1(公開號為2000-82226的未審日本專利申請，以下稱為文獻(xiàn)1)與專利文獻(xiàn)2(公開號為H09-81942的未審日本專利申請，以下稱為文獻(xiàn)2)披露了一種光學(xué)結(jié)構(gòu)和信號檢測電路，它們用于在照射到記錄媒體上的光束斑橫切記錄媒體的磁道時控制疊加(superpose)在聚焦誤差信號上的擾動。
圖16為文獻(xiàn)1中列舉的光學(xué)拾波器的光學(xué)結(jié)構(gòu)的示意圖。光源2-1是用于發(fā)射具有例如650nm的波長的光束的元件。從光源2-1發(fā)出的光束進(jìn)入到衍射光柵2-2。衍射光柵2-2將光束分為至少三個光束，它們分別是以situ透過衍射光柵2-2的主光束(0階光)，以及以預(yù)定衍射角從主光束分離出的兩個副光束(正1階衍射光和負(fù)1階衍射光)。這三個光束經(jīng)偏振分束器2-3進(jìn)入到校準(zhǔn)鏡2-4，在校準(zhǔn)鏡2-4中轉(zhuǎn)化為平行光，再通過啟動鏡2-10和物鏡2-5在諸如DVD-RAM之類的記錄媒體(以下，稱為盤)的記錄面會聚。會聚的光束形成光束斑100、101和102。光束被盤1反射成為返回光。反射光(返回光)經(jīng)與照射光(出射光)相同的光路，并經(jīng)物鏡2-5、啟動鏡2-10和校準(zhǔn)鏡2-4被反射到偏振分束器2-3的反射面上。經(jīng)偏振分束器2-3反射的反射光(返回光)通過聚光鏡2-6會聚到光檢測器2-7、2-8-1和2-8-2的預(yù)定光接收面上。
光源2-1、衍射光柵2-2、偏振分束器2-3，、校準(zhǔn)鏡2-4、物鏡2-5、聚光鏡2-6，光檢測器2-7、2-8-1和2-8-2，二維執(zhí)行器2-9-1、2-9-2，及啟動鏡2-10共同構(gòu)成光學(xué)拾波器單元。
被一分為四的三個光接收面，基本上線性地排列于光檢測器2-7、2-8-1和2-8-2中。組成反射光(返回光)的主光束和兩個副光束(正1階衍射光和負(fù)1階衍射光)，分別會聚到大致位于光接收區(qū)域200、201和202的中心的位置上，即位于每個光接收區(qū)域中水平劃分線及垂直劃分線十字交叉的點的位置，也是各個光束基本上相互對應(yīng)的強度中心。由于各個光束分別具有由聚光鏡2-6帶來的預(yù)定散光聚焦誤差，所以對各個光接收區(qū)域基于散光聚焦誤差方法的位置檢測信號進(jìn)行檢測，并從這些位置檢測信號中生成聚焦誤差信號。
二維執(zhí)行器2-9-1和2-9-2連接到物鏡2-5上。由于二維執(zhí)行器2-9-1和2-9-2進(jìn)行自動位置調(diào)整，即基于聚焦誤差信號對物鏡2-5的聚焦控制，所以照射光(光束斑100、101和102)能夠穩(wěn)定、精確地照射到盤1的記錄面上。
但是，在基于返回光(反射光)生成聚焦誤差信號的情況下，在聚焦誤差信號中極易產(chǎn)生擾動，這是由于在盤1中的引導(dǎo)溝槽的衍射影響下，反射光的強度分布圖周期性地變化，并且因此產(chǎn)生推挽信號成分漏入。
進(jìn)一步，疊加在一個位置檢測信號上的擾動成分的相位和疊加在另一個位置檢測信號上的擾動成分的相位并非完全反相，這些相位中包括了在從同相成分到反相成分的范圍之內(nèi)的多種相位成分，其原因在于光學(xué)拾波器中的光學(xué)組件的安裝精度、用于使光束斑沿橫切盤1的磁道的方向任意運動的傳送機構(gòu)(磁道橫切機構(gòu))的安裝精度，以及盤中的溝槽的深度都會產(chǎn)生變化。結(jié)果，聚焦控制中實際采用的聚焦誤差信號中不利地含有擾動成分，這將降低聚焦控制的性能。另外一個缺點是，在上述常規(guī)示例進(jìn)行的抵消處理中，除了可設(shè)置與位置檢測信號相乘的不同系數(shù)之外沒有其它選擇，這也導(dǎo)致產(chǎn)生聚焦控制中實際采用的聚焦誤差信號中不利地含有擾動成分的情況。結(jié)果，出現(xiàn)聚焦控制性能降低的情況。
由前述可知，在以前有確定的方法用以在位置檢測信號互相累加時確定與位置檢測信號相乘的系數(shù)。在常規(guī)控制方法中，作為聚焦控制信號施加到執(zhí)行器2-9-1和2-9-2上的驅(qū)動電流非常之大，這不利地增加了執(zhí)行器2-9-1和2-9-2上的負(fù)載。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的主要目的在于提供一種聚焦控制調(diào)整方法，用于在光束斑橫切光盤裝置的磁道時控制疊加在聚焦誤差信號上的擾動成分，該光盤裝置用于利用聚焦誤差信號進(jìn)行聚焦控制，該聚焦誤差信號用以顯示光束和由主反射光的位置檢測信號和副反射光的位置檢測信號所代表的記錄媒體的記錄面之間的位置偏差。
根據(jù)本發(fā)明的聚焦控制調(diào)整方法包括第一步驟，檢測通過將光束會聚和照射到旋轉(zhuǎn)的記錄媒體所獲取的聚焦誤差信號；和第二步驟，基于在第一步驟中檢測到的聚焦誤差信號，設(shè)置用于對光束和記錄媒體的記錄面之間的位置偏差進(jìn)行控制的聚焦控制增益；以及第三步驟，基于在第一步驟中檢測到的聚焦誤差信號和在第二步驟中設(shè)置的聚焦控制增益進(jìn)行光束的聚焦調(diào)整，其中在第一步驟中，在通過將包含主光束和兩個副光束的光束會聚和照射到旋轉(zhuǎn)記錄媒體從而在的記錄媒體上形成三個光束會聚斑之后，基于通過主光束在記錄媒體上的反射所獲取的主反射光，產(chǎn)生表示主光束中的光束會聚斑的位置的主光束位置檢測信號，并基于通過副光束在記錄媒體上的反射所獲取的且相位不同于主反射光的相位的兩個副反射光，產(chǎn)生表示副光束中的光束會聚斑的位置的副光束位置檢測信號，并且在第一步驟中，將副光束位置檢測信號與預(yù)設(shè)的系數(shù)相乘得到的結(jié)果與主光束位置檢測信號相加，且檢測相加的結(jié)果作為聚焦誤差信號，并且在第一步驟中，根據(jù)聚焦誤差信號設(shè)置系數(shù)。
根據(jù)本發(fā)明的光盤裝置，包括光檢測器，其在通過將包含主光束和兩個副光束的光束會聚和照射到旋轉(zhuǎn)的記錄媒體從而在記錄媒體上形成三個光束會聚斑之后，分別接收主反射光和兩個副反射光，其中主反射光通過主光束在記錄媒體上的反射獲取，副反射光通過副光束在記錄媒體上的反射獲取且相位不同于主反射光的相位；聚焦誤差檢測器，其在基于主反射光產(chǎn)生表示主光束中的光束會聚斑的位置的主光束位置檢測信號，并基于副反射光產(chǎn)生表示副光束中的光束會聚斑的位置的副光束位置檢測信號之后，將副光束位置檢測信號與預(yù)設(shè)的系數(shù)相乘得到的結(jié)果與主光束位置檢測信號相加，并檢測相加的結(jié)果作為光束的聚焦誤差信號；聚焦控制器，其基于聚焦誤差信號，控制光束會聚斑和記錄媒體的記錄面之間的位置偏差；以及用于控制記錄媒體的電機，其中聚焦誤差檢測器根據(jù)通過聚焦控制器的位置偏差控制的結(jié)果設(shè)置系數(shù)。
在前述結(jié)構(gòu)中，主光束位置檢測信號的振幅假設(shè)地設(shè)置為A，副光束位置檢測信號的振幅設(shè)置為B，提供給副光束位置檢測信號的系數(shù)為k，聚焦誤差信號的振幅為FE，則可得到以下等式。
FE＝A+k×B因此，即使在聚焦誤差信號中包含擾動成分的情況下，無需過分增大聚焦控制輸出即可以穩(wěn)定的方式實現(xiàn)聚焦控制。
本發(fā)明的特征在于，系數(shù)k并不像常規(guī)技術(shù)中那樣設(shè)置為固定值，而是根據(jù)聚焦誤差信號的振幅變化，動態(tài)調(diào)整系數(shù)k的幅度。因此，即使在光學(xué)拾波器中的光學(xué)組件的安裝精度、用于使光束斑沿橫切方向在記錄媒介的磁道上任意運動的傳送機構(gòu)的安裝精度，以及盤的溝槽的深度都會產(chǎn)生變化的情況下，也動態(tài)控制由漏入推挽信號產(chǎn)生的疊加在聚焦誤差信號中的擾動成分。因此，能夠以高精度實現(xiàn)聚焦控制。
根據(jù)本發(fā)明，當(dāng)主光束位置檢測信號和副光束位置檢測信號相加時，可根據(jù)聚焦誤差信號的振幅變化動態(tài)調(diào)整作為副光束位置檢測信號的乘數(shù)的系數(shù)。因此，疊加在聚焦誤差信號中的擾動得以控制，即使在光學(xué)組件和傳送機構(gòu)的安裝精度以及盤的溝槽的深度發(fā)生變化的情況下，也可以實現(xiàn)穩(wěn)定的聚焦控制操作。
進(jìn)一步，當(dāng)根據(jù)擾動的程度動態(tài)調(diào)整聚焦控制增益和記錄媒體的旋轉(zhuǎn)速度時，聚焦控制輸出能夠得以控制。
進(jìn)一步，當(dāng)根據(jù)擾動的程度動態(tài)調(diào)整傳送機構(gòu)的移動速度時，在光束斑沿磁道橫切方向移動的間隔中，聚焦控制輸出也能夠得以控制。
根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)，有助于提高用于向諸如DVD之類的記錄媒體中記錄或復(fù)制信息的光盤裝置的性能，并有助于提高安裝有任何該類型光盤裝置的儀器的性能。


通過以下對本發(fā)明優(yōu)選實施例的描述，本發(fā)明的其他目的將變得清楚。本領(lǐng)域技術(shù)人員可通過實現(xiàn)本發(fā)明，注意到說明書中未提及的諸多優(yōu)點。
圖1是本發(fā)明優(yōu)選實施例1中安裝有聚焦控制調(diào)整方法的光盤裝置的第一框圖。
圖2A～2C是優(yōu)選實施例1中光束斑的照射位置和盤記錄面之間的相對位置與聚焦誤差信號的關(guān)系圖。
圖3是根據(jù)優(yōu)選實施例1的第一聚焦控制調(diào)整方法的流程圖。
圖4是根據(jù)優(yōu)選實施例1的安裝有聚焦控制調(diào)整方法的光盤裝置的第二框圖。
圖5是根據(jù)優(yōu)選實施例1的第二聚焦控制調(diào)整方法的流程圖。
圖6是根據(jù)優(yōu)選實施例1的第三聚焦控制調(diào)整方法的流程圖。
圖7是根據(jù)優(yōu)選實施例1的第四聚焦控制調(diào)整方法的流程圖。
圖8是根據(jù)優(yōu)選實施例1的第五聚焦控制調(diào)整方法的流程圖。
圖9是根據(jù)優(yōu)選實施例1的第六聚焦控制調(diào)整方法的流程圖。
圖10是根據(jù)優(yōu)選實施例1的安裝有根據(jù)聚焦控制調(diào)整方法光盤裝置的第三框圖。
圖11是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例2的安裝有聚焦控制調(diào)整方法的光盤裝置的第一框圖。
圖12是根據(jù)優(yōu)選實施例2的傳送機構(gòu)中從當(dāng)前位置到目標(biāo)位置的相對位置與由微計算機控制的傳送機構(gòu)的移動速度之間的關(guān)系圖。
圖13是根據(jù)優(yōu)選實施例2的聚焦控制調(diào)整方法的流程圖。
圖14是根據(jù)優(yōu)選實施例2的安裝有聚焦控制調(diào)整方法的光盤裝置的第二框圖。
圖15是根據(jù)優(yōu)選實施例2的安裝有聚焦控制調(diào)整方法的光盤裝置的第三框圖。
圖16是根據(jù)常規(guī)技術(shù)的光學(xué)拾波器的組件結(jié)構(gòu)的圖。
具體實施例方式
下面參照附圖對根據(jù)本發(fā)明的光盤裝置和聚焦控制調(diào)整方法的優(yōu)選實施例進(jìn)行詳細(xì)說明。
實施例1圖1是示出其中執(zhí)行根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例1的聚焦控制調(diào)整方法的光盤裝置相關(guān)的結(jié)構(gòu)示例的框圖。在光盤裝置中安裝有作為記錄媒體的示例的DVD-RAM盤(以下，稱為盤)1。電機3使盤3旋轉(zhuǎn)。電機3根據(jù)從微計算機9輸出的旋轉(zhuǎn)速度控制信號S1進(jìn)行控制。光源2-1是用于發(fā)射例如650nm的光束的元件。從光源2-1發(fā)出的光束進(jìn)入到衍射光柵2-2以便在其中被分為至少三個光束，這三個光束是透過衍射光柵2-2的主光束(0階光)，以及以預(yù)定衍射角從主光束分離出的兩個副光束(正1階衍射光和負(fù)1階衍射光)。這三個光束經(jīng)偏振分束器2-3進(jìn)入到校準(zhǔn)鏡2-4，在校準(zhǔn)鏡2-4中轉(zhuǎn)化為平行光，并且通過物鏡2-5會聚到諸如DVD-RAM之類的記錄媒體(以下，稱為盤)1的記錄面上。會聚的光束在記錄面上形成三個光束斑。會聚的光束在盤1上被反射，并返回經(jīng)與照射光(出射光)相同的光路的反射光(返回光)，并通過物鏡2-5和校準(zhǔn)鏡2-4反射到偏振分束器2-3的反射面上。反射光通過聚光鏡2-6會聚到光檢測器2-7、2-8-1和2-8-2的預(yù)定光接收面上。
反射光的主光束在光檢測器2-7上會聚，并且反射光的兩個副光束(正1階衍射光和負(fù)1階衍射光)在光檢測器2-8-1和2-8-2上會聚。主光束基本上會聚到光接收區(qū)域的中心位置。副光束(正1階衍射光和負(fù)1階衍射光)分別會聚到與它們的強度中心基本上相同的位置。由于聚光鏡2-6為反射光帶來預(yù)定散光聚焦誤差，所以在光檢測器2-7、2-8-1和2-8-2中對基于散光聚焦誤差檢測的聚焦誤差信號進(jìn)行檢測。物鏡2-5具有二維執(zhí)行器2-9-1和2-9-2。
光學(xué)拾波器2包括光源2-1、衍射光柵2-2、偏振分束器2-3、校準(zhǔn)鏡2-4、物鏡2-5、聚光鏡2-6，光檢測器2-7、2-8-1和2-8-2，以及二維執(zhí)行器2-9-1和2-9-2。
從光檢測器2-7、2-8-1和2-8-2的輸出，被輸入到第一差分電路4-1、第一加法電路4-2-1和第二加法電路4-2-2。第一差分電路4-1檢測主光束(反射光)的強度差，并基于主光束生成主光束位置檢測信號。以下，主光束位置檢測信號被稱為主聚焦誤差信號MFE。主聚焦誤差信號MFE被輸入到第三加法電路4-5。
第一加法電路4-2-1和第二加法電路4-2-2分別將光檢測器2-8-1和光檢測器2-8-2的輸出相加，并輸出至第二差分電路4-3。第一加法電路4-2-1和第二加法電路4-2-2執(zhí)行加法的目的在于，檢測各個副光束(反射光)的強度差。第二差分電路4-3基于第一加法電路4-2-1和第二加法電路4-2-2的輸出檢測副光束(反射光)的強度差，并基于來自檢測結(jié)果的副光束生成副光束位置檢測信號。以下，副光束位置檢測信號被稱為副聚焦誤差信號SFE。副聚焦誤差信號SFE被輸入到乘法電路4-4，在乘法電路4-4中副聚焦誤差信號SFE與預(yù)定系數(shù)k相乘。
乘以系數(shù)k的副聚焦誤差信號SFE，被輸入到第三加法電路4-5。第三加法電路4-5把第一差分電路4-1的輸出和乘法電路4-4的輸出相加，以產(chǎn)生聚焦誤差信號FE。聚焦誤差信號FE可用下述等式表示。
FE＝MFE+k×SFE …(1)在當(dāng)前優(yōu)選實施例中，聚焦誤差檢測器4包括第一差分電路4-1、第一加法電路4-2-1、第二加法電路4-2-2、第二差分電路4-3、乘法電路4-4和第三加法電路4-5。
在利用散光聚焦誤差方法從反射光中檢測聚焦誤差信號FE時，極易產(chǎn)生擾動，這是由于在引導(dǎo)溝槽的衍射影響下，反射光的強度分布圖會周期性地變化，并且因此產(chǎn)生推挽信號成分漏入。以下參照附圖2A～2C對此進(jìn)行說明。
圖2A-2C分別示出了從光束斑100、101和102的反射光檢測到的聚焦誤差信號，其中信號振幅顯示在縱軸上，照射位置和盤1的記錄面之間的相對位置顯示在橫坐標(biāo)上。如圖2A和圖2B所示，在對從主光束斑的反射光獲取的位置檢測信號MFE和從兩個副光束(正1階衍射光和負(fù)1階衍射光)的反射光獲取的位置檢測信號SFE進(jìn)行互相比較時，這兩個信號是同相的，而產(chǎn)生在這兩個信號中的擾動成分的相位是相反的。因此，使通過在位置檢測信號SFE上乘以預(yù)定系數(shù)獲取的結(jié)果(或信號的和)與位置檢測信號MFE在第三加法電路4-5中相加，從而如圖2C所示近乎徹底的消除疊加在從第三加法電路4-5輸出的聚焦誤差信號FE上的擾動成分。
聚焦控制器5執(zhí)行自動位置調(diào)整，即基于由第三加法電路4-5提供的聚焦誤差信號FE對物鏡2-5進(jìn)行聚焦控制，并使光束斑精確的照射到盤1的記錄面上。在優(yōu)選實施例1中，聚焦控制器5包括相位延遲補償電路5-1和相位預(yù)先補償電路5-2，其中各個電路的增益都是可變的。
聚焦誤差信號FE還輸入到用于聚焦誤差振幅的第一測量器件6、用于聚焦誤差振幅的第二測量器件7、用于聚焦誤差周期的第一測量器件8。用于聚焦誤差振幅的第一測量器件6和用于聚焦誤差振幅的第二測量器件7，在預(yù)定的間隔內(nèi)根據(jù)聚焦誤差信號FE的最大值和最小值測量聚焦誤差信號FE的振幅，并將測量結(jié)果輸出到微計算機9。用于聚焦誤差周期的第一測量器件8在預(yù)定的間隔內(nèi)測量聚焦誤差信號FE的最大周期和最小周期，并計算周期的平均值，并將計算結(jié)果輸出到微計算機9。
微計算機9根據(jù)用于聚焦誤差振幅的第一測量器件6的測量結(jié)果，確定乘法電路4-4的增益，亦即等式(1)中的系數(shù)k，并設(shè)置乘法電路4-4中的確定系數(shù)(增益)k。
微計算機9根據(jù)用于聚焦誤差振幅的第二測量器件7的測量結(jié)果，確定聚焦控制增益，并設(shè)置聚焦控制器5中的確定聚焦控制增益。進(jìn)一步，微計算機9根據(jù)用于聚焦誤差周期的第一測量器件8的測量結(jié)果，確定并設(shè)置電機3的旋轉(zhuǎn)速度。
后面將說明確定乘法電路4-4的增益(系數(shù))k、聚焦控制器15的增益和電機3的旋轉(zhuǎn)速度控制信號S1的方法。
下面參照圖3說明根據(jù)優(yōu)選實施例1的聚焦控制調(diào)整方法。圖3是根據(jù)優(yōu)選實施例1的聚焦控制調(diào)整方法的示例的流程圖。
1)關(guān)于第一步驟在第一步驟中，調(diào)整乘法電路4-4中的增益k，以便最有效地控制疊加在聚焦誤差信號FE中的漏入推挽信號所產(chǎn)生的擾動的影響。以下進(jìn)行詳細(xì)地說明。
首先，在任意值被設(shè)置為乘法電路4-4中的系數(shù)k的狀態(tài)下，閉合聚焦控制環(huán)(步驟1-1)。隨后，用于聚焦誤差振幅的第一測量器件6根據(jù)聚焦誤差信號FE的最大值和最小值測量其振幅，并將所測量的振幅輸出到微計算機9(步驟1-2)。微計算機9存儲用于聚焦誤差振幅的第一測量器件6的測量結(jié)果并更新乘法電路4-4的系數(shù)k(步驟1-3)。
重復(fù)步驟1-2到步驟1-3的操作，以便調(diào)整作為乘法電路4-4的增益的系數(shù)k，從而使用于聚焦誤差振幅的第一測量器件6的輸出能夠被最小化。
理想地，通過重復(fù)步驟1-2到步驟1-3的操作，可使由疊加到聚焦誤差信號FE中的漏入推挽信號所導(dǎo)致的擾動為零。但是，由于光學(xué)拾波器2的光學(xué)組件的安裝精度、用于使光束沿橫切盤的磁道的方向任意運動的傳送機構(gòu)(未示出)的安裝精度以及盤中的溝槽的深度都可能發(fā)生變化，所以在某些情況下無法使由疊加在聚焦誤差信號FE中的漏入推挽信號所導(dǎo)致的擾動為零。
執(zhí)行下列步驟以便控制聚焦控制性能的惡化，即使當(dāng)由漏入推挽信號引起擾動疊加在聚焦誤差信號FE上時。
2)關(guān)于第二2-1步驟在實施步驟1-1到步驟1-3的操作之后，用于聚焦誤差振幅的第二測量器件7基于聚焦誤差信號FE的最大值和最小值測量其振幅，并將所測量的結(jié)果輸出到微計算機9(步驟2-1)。微計算機9根據(jù)用于聚焦誤差振幅的第二測量器件7的測量結(jié)果，調(diào)整聚焦控制器5的增益FCG(步驟2-2)。舉例來說，假設(shè)用于聚焦誤差振幅的第二測量器件7的輸出為Amp2，聚焦控制器5的初始增益值為FCG0，基于以下等式(2)對聚焦控制增益FCG進(jìn)行調(diào)整。
FCG＝FCG0×(α/Amp2) …(2)在等式(2)中，α是任意系數(shù)，且聚焦控制增益FCG被調(diào)整為與用于聚焦誤差振幅的第二測量器件7的輸出Amp2成反比。盡管由于步驟2-1和步驟2-2的實施，使得無需向二維執(zhí)行器2-9-1和2-9-2提供任何過大的驅(qū)動信號即可使聚焦控制穩(wěn)定，但是，在聚焦控制增益FCG被調(diào)整為等于或者小于適當(dāng)?shù)闹档娜我庵档那闆r下，存在聚焦控制的殘值抑制性能惡化的危險。為避免這種情況，有必要為設(shè)置預(yù)定限制值，作為待由步驟2-1和步驟2-2調(diào)整的聚焦控制增益FCG。因此，當(dāng)在根據(jù)等式(2)利用所測量的Amp2計算聚焦控制增益FCG中聚焦控制增益小于預(yù)定限制值時，該限制值可被設(shè)置為聚焦控制增益FCG。
本優(yōu)選實施例中描述的用于聚焦控制器5的增益調(diào)整方法僅為示例。作為另一示例，在步驟2-2中，微計算機9可留存至少兩組設(shè)置值作為待在聚焦控制器5中設(shè)置的聚焦控制增益FCG，其中一組設(shè)置值可被設(shè)置為根據(jù)用于聚焦誤差振幅的第二測量器件7的輸出電平在它們之間進(jìn)行切換。
聚焦控制器5可包括相位延遲補償電路5-1和相位預(yù)先補償電路5-2，微計算機9可僅調(diào)整相位預(yù)先補償電路5-2的增益。
在步驟2-1中，用于聚焦誤差周期的第一測量器件8可測量聚焦誤差信號FE的周期，并根據(jù)所測量的周期的最小值、平均值或最大值調(diào)整聚焦控制器5或相位預(yù)先補償電路5-2的增益。例如，微計算機9可存儲聚焦控制器5周期中每個周期的增益特性，并調(diào)整增益特性以使用于聚焦誤差周期的第一測量器件8所測量的聚焦誤差信號FE的周期的最小值、平均值或最大值與存儲在微計算機9中的增益特性相對應(yīng)。在步驟1-2中，基于用于聚焦誤差振幅的第一測量器件6所測量的聚焦誤差信號FE的振幅，調(diào)整增益特性。
增益特性可更具體地進(jìn)行調(diào)整，例如以下所示。假設(shè)使用于聚焦誤差周期的第一測量器件8所測量的聚焦誤差信號FE的周期的最小值、平均值或最大值處的增益為FCGref，且使在步驟2-1實施時的聚焦控制增益FCG為FCG0，根據(jù)下述等式(3)獲取等式(2)中的系數(shù)α。
α＝FCGref×Amp2/FCG0 …(3)而后，將在等式(3)中得到的系數(shù)α帶入到等式(2)以設(shè)置聚焦控制增益FCG。
通過執(zhí)行前述步驟2-1和步驟2-2，可對聚焦控制增益FCG進(jìn)行適當(dāng)?shù)卣{(diào)整，即便是在由漏入推挽信號帶來的擾動疊加到聚焦誤差信號FE上的情況下。因此，無需供應(yīng)任何過大的驅(qū)動信號到二維執(zhí)行器2-9-1和2-9-2即可實現(xiàn)穩(wěn)定的聚焦控制。
3)關(guān)于2-2步驟在實施第一步驟和2-1步驟時，無需供應(yīng)任何過大的驅(qū)動信號到二維執(zhí)行器2-9-1和2-9-2即可實現(xiàn)穩(wěn)定的聚焦控制。但是，在漏入推挽信號帶來的擾動很大的情況下，執(zhí)行這些步驟并不足以獲得充分的效果。因此，在根據(jù)等式(2)對聚焦控制增益FCG進(jìn)行計算并調(diào)整之后，用于聚焦誤差振幅的第二測量器件7再次基于聚焦誤差信號FE的最大值和最小值對其振幅進(jìn)行測量，并將測量結(jié)果輸出到微計算機9(步驟2-3)。
微計算機9將用于聚焦誤差振幅的第二測量器件7的測量結(jié)果與由微計算機9預(yù)先留存的預(yù)定值進(jìn)行比較，根據(jù)比較結(jié)果確定電機3的旋轉(zhuǎn)速度(倍速)，并輸出表示確定的旋轉(zhuǎn)速度的旋轉(zhuǎn)速度控制信號S1到電機3。電機3根據(jù)旋轉(zhuǎn)速度控制信號S1控制盤1的旋轉(zhuǎn)使其以預(yù)定的旋轉(zhuǎn)頻率旋轉(zhuǎn)(步驟2-4)。
如以下等式(4)所示，由漏入推挽信號引起的疊加在聚焦誤差信號FE中的擾動頻率df與盤1的離心率Xdec和電機3的旋轉(zhuǎn)速度Vmt成正比。
df∝(Xdec，Vmt) …(4)聚焦控制器5包括相位延遲補償電路5-1和相位預(yù)先補償電路5-2。相位預(yù)先補償電路5-2根據(jù)擾動頻率df放大由漏入推挽信號引起的疊加在聚焦誤差信號FE上的擾動，這大幅增加了聚焦控制器5的輸出。
為解決這些缺點，通過執(zhí)行通過步驟2-3和步驟2-4，電機3的旋轉(zhuǎn)速度可進(jìn)行適當(dāng)?shù)卣{(diào)整，即使是在由漏入推挽信號引起的擾動疊加在聚焦誤差信號FE上的情況下。因此，無需大幅增加聚焦控制器5的輸出即可實現(xiàn)穩(wěn)定的聚焦控制。
圖1所示結(jié)構(gòu)可變?yōu)閳D4所示結(jié)構(gòu)，并且圖3所示流程圖中的操作也可變?yōu)閳D5所示流程圖中的操作。圖4示出了對根據(jù)圖1所示優(yōu)選實施例1的光盤裝置的變形實施例。在該光盤裝置中，圖1結(jié)構(gòu)中用于聚焦誤差振幅的第一測量器件6被聚焦控制驅(qū)動測量器件14所代替。被輸入有聚焦控制器5的輸出的聚焦控制驅(qū)動測量器件14，具有在預(yù)定的間隔測量給二維執(zhí)行器2-9-1和2-9-2的驅(qū)動信號的功能。聚焦控制驅(qū)動測量器件14的輸出連接到微計算機9。微計算機9根據(jù)聚焦控制驅(qū)動測量器件14的測量結(jié)果確定乘法電路4-4的增益，即等式(1)中的系數(shù)k，并將所確定的系數(shù)k設(shè)置到乘法電路4-4中。
圖5是通過偏差根據(jù)優(yōu)選實施例1的聚焦控制調(diào)整方法(圖3的流程圖)中第一步驟中的步驟1-2所得到的流程圖。更具體地，在圖3的第一步驟中，用于聚焦誤差振幅的第一測量器件6基于聚焦誤差信號FE的最大值和最小值測量其振幅，并將測量結(jié)果輸出到微計算機9。微計算機9存儲用于聚焦誤差振幅的第一測量器件6的測量結(jié)果，并根據(jù)通過比較測量器件6的前一測量結(jié)果與測量器件6的當(dāng)前測量結(jié)果所獲取的結(jié)果，更新乘法電路4-4的系數(shù)k。更新處理被重復(fù)地執(zhí)行。
在圖5所示第一步驟的步驟1-2′中，聚焦控制器5的輸出，即聚焦控制驅(qū)動信號，被測量并輸出到微計算機9。微計算機9根據(jù)由聚焦控制驅(qū)動測量器件14測量的聚焦控制驅(qū)動信號，重復(fù)地更新乘法電路4-4的系數(shù)k，直至聚焦控制驅(qū)動信號降至最低。
根據(jù)當(dāng)前結(jié)構(gòu)，由漏入推挽信號帶來的疊加在聚焦誤差信號FE上的擾動對聚焦控制驅(qū)動信號的影響能夠被最低。
在實施例1中，第一步驟、2-1步驟和2-2步驟參照圖1和圖3的順序執(zhí)行。但是，即便如替換圖3的圖6所示在第一步驟執(zhí)行之后順序執(zhí)行2-2步驟和2-1步驟的情況下，顯而易見地也可實現(xiàn)類似的效果。
在優(yōu)選實施例1中，第一步驟、2-1步驟和2-2步驟均被執(zhí)行。然而，可如替換圖3的圖7所示，在第一步驟執(zhí)行之后僅執(zhí)行2-1步驟。這種情況下，無需大幅增加聚焦控制器5的輸出即可實現(xiàn)穩(wěn)定的聚焦控制。
可選的，可如替換圖3的圖8所示，在第一步驟執(zhí)行之后僅執(zhí)行2-2步驟。這種情況下，無需大幅增加聚焦控制器5的輸出即可實現(xiàn)穩(wěn)定的聚焦控制。
如圖9所示，盡管在第一步驟中將乘法電路4-4的系數(shù)k設(shè)置為預(yù)設(shè)的固定值，但是通過執(zhí)行2-1步驟和/或2-2步驟，無需大幅增加聚焦控制器5的輸出即可實現(xiàn)穩(wěn)定的聚焦控制。進(jìn)一步，可縮短用于執(zhí)行第一步驟的處理時間。
當(dāng)用于控制盤1的磁道1-1與光束斑之間的位置偏差的磁道控制環(huán)(未示出)在從第一步驟到2-2步驟的執(zhí)行中為打開時(處理期間)，光束斑確定地橫切磁道1-1。因此，當(dāng)磁道控制環(huán)為打開時，一旦執(zhí)行步驟1-2、步驟2-1和步驟2-3，即可大幅提高這些步驟的測量精度。這樣以來，可進(jìn)一步提高根據(jù)本發(fā)明的聚焦控制調(diào)整方法中的調(diào)整精度。
進(jìn)一步，如圖10所示，可提供開關(guān)10-1和10-2，以使聚焦誤差信號FE、位置檢測信號MFE和位置檢測信號SFE中的任意一個信號，都可被選擇為用于聚焦誤差振幅的第二測量器件7和用于聚焦誤差周期的第一測量器件8的輸入信號。在步驟2-1和步驟2-3中檢測到的聚焦誤差信號FE的振幅或周期，可對應(yīng)于位置檢測信號MFE的振幅或周期和位置檢測信號SFE的振幅或周期，在這種情況下可取得類似的效果。
在2-1步驟和2-2步驟中調(diào)整的聚焦控制增益FCG和電機3的轉(zhuǎn)速，可僅在磁道控制環(huán)為打開時被施加，以便提高光盤裝置的聚焦控制性能。
當(dāng)磁道控制環(huán)因向盤1復(fù)制或?qū)懭胄畔⒍]合時，漏入推挽信號引起的擾動不會影響聚焦誤差信號FE，因為光束斑被控制在磁道1-1上。
當(dāng)在復(fù)制或者記錄與盤1有關(guān)的信息的情況下磁道控制環(huán)被閉合時，由于光束斑被控制在磁道1-1上，所以由漏入推挽信號引起的擾動不影響聚焦控制信號FE。因此，當(dāng)磁道控制環(huán)被閉合時，并不施加在2-1步驟和2-2步驟中確定的聚焦控制增益FCG和電機3的旋轉(zhuǎn)速度，但可增大聚焦控制增益以控制盤1的面擺動成分，或增大電機3的旋轉(zhuǎn)速度以便以更高的速度復(fù)制或?qū)懭胄畔?。這樣以來，光盤裝置的性能得以提高。
電機3的旋轉(zhuǎn)速度可基于用于聚焦誤差周期的第一測量器件8的測量結(jié)果來確定。
實施例2圖11是示出其中安裝有根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例2的聚焦控制調(diào)整方法的光盤裝置的示例的框圖。由于圖11中與圖1中相同的附圖標(biāo)記表示相同的組件，所以下面不再詳細(xì)描述。在圖11中，附圖標(biāo)記11表示用于使光學(xué)拾波器2沿橫切盤1的磁道1-1的方向移動到任意位置的傳送機構(gòu)。傳送機構(gòu)11可以使作為光學(xué)拾波器2的組件的物鏡2-5沿橫切磁道1-1的方向移動到任意位置。因此，傳送機構(gòu)11還可使光束斑沿橫切磁道1-1的方向移動到任意位置。傳送機構(gòu)11基于由微計算機9提供的傳送機構(gòu)控制信號S2進(jìn)行位置控制。附圖標(biāo)記12表示用于聚焦誤差振幅的第三測量器件，其用于根據(jù)聚焦誤差信號FE的最大值和最小值測量其振幅，并將測量結(jié)果輸出到微計算機9作為Amp3。
參照附圖12說明從微計算機9輸出到傳送機構(gòu)11的傳送機構(gòu)控制信號S2。附圖12示出了從微計算機9輸出到傳送機構(gòu)11的傳送機構(gòu)控制信號S2的特性，其中傳送機構(gòu)11的移動速度繪制在縱軸上，且傳送機構(gòu)11的位置繪制在橫軸上。微計算機9基于傳送機構(gòu)11的當(dāng)前位置和目標(biāo)位置，根據(jù)圖12中示出的曲線輸出傳送機構(gòu)控制信號S2。例如，當(dāng)光束會聚斑從位置x0運動到目標(biāo)位置xref時，微計算機9對傳送機構(gòu)控制信號S2的值進(jìn)行調(diào)整，以便提高光束斑的移動速度。傳送機構(gòu)控制信號S2的值被調(diào)整為，使光束會聚斑到達(dá)位置x1時，移動速度v達(dá)到作為均勻速率的最大值vmax。當(dāng)光束會聚斑到達(dá)位置x3時，對傳送機構(gòu)控制信號S2的值進(jìn)行調(diào)整以降低傳送機構(gòu)11的移動速度。當(dāng)光束會聚斑到達(dá)位置X4時，傳送機構(gòu)控制信號S2的值被調(diào)整為使移動速度進(jìn)一步降低。當(dāng)傳送機構(gòu)11的初始位置變?yōu)閳D12中所示x1時，以類似的方式采用這種控制模式。在作為示例的傳送機構(gòu)11的初始位置位于位置x2的情況下，當(dāng)傳送機構(gòu)11的移動速度v未能在傳送機構(gòu)11的移動速度增加的區(qū)間內(nèi)達(dá)到最大速度vmax的情況下，可調(diào)整傳送機構(gòu)控制信號S2的值以降低移動速度。
優(yōu)選實施例2的特征在于，可通過進(jìn)一步執(zhí)行根據(jù)優(yōu)選實施例1的結(jié)構(gòu)中的步驟1-1和步驟1-2，以便微計算機9在擾動被調(diào)整的狀態(tài)下根據(jù)由疊加在聚焦誤差信號FE上的漏入推挽信號所引起的擾動的振幅或周期，對輸出到傳送機構(gòu)11的傳送機構(gòu)控制信號S2的最大速度vmax進(jìn)行限定。
參照圖13更具體地說明上述聚焦控制調(diào)整方法。圖13是根據(jù)優(yōu)選實施例1的聚焦控制調(diào)整方法的示例的流程圖。
以類似于優(yōu)選實施例1的方式，將乘法電路4-4的增益(系數(shù))k調(diào)整為這樣一個值，該值可使由疊加在聚焦誤差信號FE上的漏入推挽信號所引起的擾動的影響被控制在最低級別。
首先，在任意值被設(shè)置為乘法電路4-4的增益(系數(shù))k的狀態(tài)下，閉合聚焦控制環(huán)(步驟1-1)。在該環(huán)閉合的情況下，用于聚焦誤差振幅的第一測量器件6根據(jù)聚焦誤差信號FE的最大值和最小值測量其振幅，并將測量結(jié)果輸出到微計算機9(步驟1-2)。微計算機9存儲用于聚焦誤差振幅的第一測量器件6的測量結(jié)果，并基于通過比較測量器件6的前一測量結(jié)果和測量器件6的當(dāng)前測量結(jié)果所獲取的比較結(jié)果，更新乘法電路4-4的系數(shù)k。重復(fù)地執(zhí)行更新處理從而以使用于聚焦誤差振幅的第一測量器件6的輸出被最小化的方式來調(diào)整乘法電路4-4的系數(shù)k。
理想的，通過重復(fù)步驟1-1至步驟1-3，可使由疊加在聚焦誤差信號FE上的漏入推挽信號導(dǎo)致的擾動為零。但是，由于包括光學(xué)拾波器2和傳送機構(gòu)(未示出)11在內(nèi)的光學(xué)組件的安裝精度及盤上溝槽的深度可能會發(fā)生變化，所以在某些情況下無法使由疊加在聚焦誤差信號FE上的漏入推挽信號所帶來的擾動為零。因此，在本優(yōu)選實施例中，通過執(zhí)行下述步驟2-1＇，使得當(dāng)光束斑根據(jù)傳送機構(gòu)11的操作移動時，不會有任何過大的驅(qū)動信號施加到二維執(zhí)行器2-9-1和2-9-2上，同時對傳送機構(gòu)控制信號S2的最大速度vmax進(jìn)行調(diào)整。
下面詳細(xì)說明步驟2-1＇。用于聚焦誤差振幅的第三測量器件12根據(jù)測量聚焦誤差信號FE得最大值和最小值測量其振幅，并將測量結(jié)果Amp3輸出到微計算機9(步驟2-1＇)。隨后，微計算機9根據(jù)下面的等式(5)利用測量結(jié)果Amp3計算傳送機構(gòu)控制信號S2的最大速度vmax。
vmax＝vmax0×(β/Amp3) …(5)β是任意的系數(shù)，傳送機構(gòu)控制信號S2的最大速度vmax被調(diào)整與測量結(jié)果Amp3成反比(步驟2-2＇)。因此，即使在執(zhí)行步驟1-1和步驟1-2之后由漏入推挽信號帶來的擾動的影響仍留在聚焦誤差信號FE中的情況下，傳送機構(gòu)11的移動速度的最大值也可在2-1步驟′中進(jìn)行調(diào)整，以便無需向二維執(zhí)行器2-9-1和2-9-2施加任何過大的驅(qū)動信號即可實現(xiàn)穩(wěn)定的聚焦控制。
如圖14中所示，在采用用于聚焦誤差周期的第二測量器件13以代替用于聚焦誤差振幅的第三測量器件13的情況下，可執(zhí)行類似于前述調(diào)整處理的調(diào)整處理。下面說明使用用于聚焦誤差周期的第二測量器件13的控制方法。
用于聚焦誤差周期的第二測量器件13測量聚焦誤差信號FE的周期，并將測得的周期輸出到微計算機9。微計算機9存儲用于聚焦誤差周期的第二測量器件13的測量結(jié)果，并基于通過比較測量器件13的前一測量結(jié)果與測量器件13的當(dāng)前測量結(jié)果所獲取的結(jié)果，更新乘法電路4-4的系數(shù)k。重復(fù)地執(zhí)行更新處理，從而以使用于聚焦誤差振幅的第一測量器件6的輸出最小化的方式調(diào)整乘法電路4-4的系數(shù)k。
在執(zhí)行步驟1-1至步驟1-3之后，測量到聚焦誤差信號FE的最大值、最小值或平均值，并將它們輸出到微計算機9。例如，微計算機9檢測作為用于聚焦誤差周期的第二測量器件13的輸出的聚焦誤差信號FE的周期的最小值，以檢測盤1的最大離心速度。微計算機9控制傳送機構(gòu)11的速度以使盤1的離心速度和光束橫切磁道1-1的速度的和對應(yīng)于預(yù)定速度。
如圖15所示，微計算機9可基于用于聚焦誤差振幅的第三測量器件12的輸出和用于聚焦誤差周期的第二測量器件13的輸出，調(diào)整傳送機構(gòu)11的移動速度從而進(jìn)一步提高控制精度。
更具體地，僅當(dāng)用于聚焦誤差振幅的第三測量器件12的測量結(jié)果等于或大于預(yù)定值時，如所述那樣根據(jù)用于聚焦誤差周期的第二測量器件13的測量結(jié)果調(diào)整傳送機構(gòu)11的移動速度。結(jié)果，不僅可減少用于向盤1復(fù)制或?qū)懭胄畔⒌脑L問時間，還可使聚焦控制穩(wěn)定。
在優(yōu)選實施例2中，盡管在執(zhí)行第一步驟(步驟1-1～步驟1-3)之后才執(zhí)行2-1步驟＇(步驟2-1＇～步驟2-2＇)，但是，可以如實施例1那樣在執(zhí)行第一步驟之后執(zhí)行2-1步驟和2-2步驟中的一個步驟，而后再執(zhí)行2-1步驟′，即使在這種情況下也能取得類似效果。
在優(yōu)選實施例2中，盡管總是在執(zhí)行第一步驟之后才執(zhí)行2-1步驟′，但是在執(zhí)行步驟2-1＇之后，根據(jù)用于聚焦誤差振幅的第三測量器件12的測量結(jié)果或用于聚焦誤差周期的第二測量器件13的測量結(jié)果，可省略步驟2-2＇及后續(xù)步驟。
在優(yōu)選實施例2中，如圖11、圖14和圖15所示，聚焦誤差信號FE輸入到用于聚焦誤差振幅的第三測量器件12和用于聚焦誤差周期的第二測量器件13，盡管未示出，但是位置檢測信號MFE和位置檢測信號SFE也可輸入到檢測器件12和檢測器件13，在這種情況下仍可取得類似的效果。
在優(yōu)選實施例2中，如圖10、圖11、圖14和圖15所示，用于聚焦誤差振幅的第一測量器件6對聚焦誤差信號FE的振幅進(jìn)行測量以確定乘法電路4-4的系數(shù)k。但是，盡管未具體地示出，但是用于驅(qū)動聚焦控制的測量器件14可測量聚焦控制器5的輸出(參見圖4)，并可根據(jù)所獲取的測量結(jié)果確定乘法電路4-4的系數(shù)k，在這種情況下可取得類似的效果。
雖然已經(jīng)闡述了本發(fā)明在當(dāng)前被認(rèn)為是優(yōu)選的的實施例，但是應(yīng)理解，可以對本發(fā)明進(jìn)行各種修改，并且本發(fā)明試圖將落入本發(fā)明的真正精神和范圍之內(nèi)的所有這些修改都納入所附權(quán)利要求中。
權(quán)利要求
1.一種聚焦控制調(diào)整方法，包括第一步驟，檢測通過將光束會聚和照射到旋轉(zhuǎn)的記錄媒體所獲取的聚焦誤差信號；和第二步驟，基于在第一步驟中檢測到的聚焦誤差信號，設(shè)置用于對光束和記錄媒體的記錄面之間的位置偏差進(jìn)行控制的聚焦控制增益；其中在第一步驟中，通過將包含主光束和兩個副光束的光束會聚和照射到旋轉(zhuǎn)的記錄媒體，在記錄媒體上形成三個光束會聚斑，基于通過主光束在記錄媒體上的反射所獲取的主反射光，產(chǎn)生表示主光束中的光束會聚斑的位置的主光束位置檢測信號，并基于在記錄媒體上反射的且相位不同于主反射光的相位的兩個副反射光，產(chǎn)生表示副光束中的光束會聚斑的位置的副光束位置檢測信號，并且在第一步驟中，將副光束位置檢測信號與預(yù)設(shè)的系數(shù)相乘得到的結(jié)果與主光束位置檢測信號相加，且檢測相加的結(jié)果作為聚焦誤差信號，并且在第一步驟中，根據(jù)聚焦誤差信號設(shè)置系數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，根據(jù)聚焦誤差信號、主光束位置檢測信號或副光束位置檢測信號設(shè)置聚焦控制增益。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，將聚焦控制增益設(shè)置為基本上與聚焦誤差信號的振幅、主光束位置檢測信號的振幅或副光束位置檢測信號的振幅成反比。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，用于控制光束和記錄媒體的磁道之間的位置偏差的磁道控制環(huán)被打開期間的振幅，作為聚焦誤差信號的振幅。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，根據(jù)當(dāng)光束會聚斑橫切記錄媒體的磁道時聚焦誤差信號的周期、主光束位置檢測信號的周期或副光束位置檢測信號的周期設(shè)置聚焦控制增益。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中當(dāng)基于在第一步驟中檢測到的聚焦誤差信號和在第二步驟中設(shè)置的聚焦控制增益進(jìn)行光束的聚焦調(diào)整時，利用相位延遲補償和相位預(yù)先補償對光束和記錄媒體的記錄面之間的位置偏差進(jìn)行控制，并且在第二步驟中，相位預(yù)先補償中的增益被設(shè)置為聚焦控制增益。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在基于在第一步驟中檢測到的聚焦誤差信號和在第二步驟中設(shè)置的聚焦控制增益的光束的聚焦調(diào)整中，僅在用于控制光束和記錄媒體的磁道之間的位置偏差的磁道控制環(huán)為打開的時候，采用聚焦控制增益。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，根據(jù)聚焦誤差信號、主光束位置檢測信號或副光束位置檢測信號設(shè)置記錄媒體的旋轉(zhuǎn)速度，以代替設(shè)置聚焦控制增益。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，根據(jù)聚焦誤差信號的振幅、主光束位置檢測信號的振幅或副光束位置檢測信號的振幅設(shè)置記錄媒體的旋轉(zhuǎn)速度。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，用于控制光束和記錄媒體的磁道之間的位置偏差的磁道控制環(huán)被打開期間的振幅，作為聚焦誤差信號的振幅。
11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，根據(jù)當(dāng)光束會聚斑橫切記錄媒體的磁道時聚焦誤差信號的周期、主光束位置檢測信號的周期或副光束位置檢測信號的周期設(shè)置記錄媒體的旋轉(zhuǎn)速度。
12.根據(jù)權(quán)利要求8所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在基于在第一步驟中檢測到的聚焦誤差信號和在第二步驟中設(shè)置的聚焦控制增益進(jìn)行光束的聚焦調(diào)整中，僅在用于控制光束和記錄媒體的磁道之間的位置偏差的磁道控制環(huán)為打開的時候，采用所設(shè)置的記錄媒體的旋轉(zhuǎn)速度。
13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，在設(shè)置聚焦控制增益之后進(jìn)一步根據(jù)聚焦誤差信號、主光束位置檢測信號或副光束位置檢測信號設(shè)置記錄媒體的旋轉(zhuǎn)速度。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，根據(jù)聚焦誤差信號的振幅、主光束位置檢測信號的振幅或副光束位置檢測信號的振幅設(shè)置記錄媒體的旋轉(zhuǎn)速度。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，將聚焦控制增益確定為基本上與聚焦誤差信號的振幅、主光束位置檢測信號的振幅或副光束位置檢測信號的振幅成反比。
16.根據(jù)權(quán)利要求14所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，用于控制光束和記錄媒體的磁道之間的位置偏差的磁道控制環(huán)被打開期間的振幅，作為聚焦誤差信號的振幅。
17.根據(jù)權(quán)利要求13所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，根據(jù)當(dāng)光束會聚斑橫切記錄媒體的磁道時聚焦誤差信號的周期、主光束位置檢測信號的周期或副光束位置檢測信號的周期設(shè)置聚焦控制增益。
18.根據(jù)權(quán)利要求13所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，根據(jù)當(dāng)光束會聚斑橫切記錄媒體的磁道時聚焦誤差信號的周期、主光束位置檢測信號的周期或副光束位置檢測信號的周期確定記錄媒體的旋轉(zhuǎn)速度。
19.根據(jù)權(quán)利要求13所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中當(dāng)基于在第一步驟中檢測到的聚焦誤差信號和在第二步驟中設(shè)置的聚焦控制增益進(jìn)行光束的聚焦調(diào)整時，利用相位延遲補償和相位預(yù)先補償對光束和記錄媒體的記錄面之間的位置偏差進(jìn)行控制，并且在第二步驟中，相位預(yù)先補償中的增益被設(shè)置為聚焦控制增益。
20.根據(jù)權(quán)利要求13所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在基于在第一步驟中檢測到的聚焦誤差信號和在第二步驟中設(shè)置的聚焦控制增益進(jìn)行光束的聚焦調(diào)整中，僅在用于控制光束和記錄媒體的磁道之間的位置偏差的磁道控制環(huán)為打開的時候，采用聚焦控制增益。
21.根據(jù)權(quán)利要求13所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在基于在第一步驟中檢測到的聚焦誤差信號和在第二步驟中設(shè)置的聚焦控制增益進(jìn)行光束的聚焦調(diào)整中，僅在用于控制光束和記錄媒體的磁道之間的位置偏差的磁道控制環(huán)為打開的時候，采用所設(shè)置的記錄媒體的旋轉(zhuǎn)速度。
22.根據(jù)權(quán)利要求1所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，在根據(jù)聚焦誤差信號、主光束位置檢測信號或副光束位置檢測信號設(shè)置記錄媒體的旋轉(zhuǎn)速度之后，設(shè)置聚焦控制增益。
23.根據(jù)權(quán)利要求22所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，將聚焦控制增益設(shè)置為基本上與聚焦誤差信號的振幅、主光束位置檢測信號的振幅或副光束位置檢測信號的振幅成反比。
24.根據(jù)權(quán)利要求23所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，用于控制光束和記錄媒體的磁道之間的位置偏差的磁道控制環(huán)被打開期間的振幅，作為聚焦誤差信號的振幅。
25.根據(jù)權(quán)利要求22所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，根據(jù)聚焦誤差信號的振幅、主光束位置檢測信號的振幅或副光束位置檢測信號的振幅設(shè)置記錄媒體的旋轉(zhuǎn)速度，以代替設(shè)置聚焦控制增益。
26.根據(jù)權(quán)利要求25所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，用于控制光束和記錄媒體的磁道之間的位置偏差的磁道控制環(huán)被打開期間的振幅，作為聚焦誤差信號的振幅。
27.根據(jù)權(quán)利要求22所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，根據(jù)在光束會聚斑橫切記錄媒體的磁道時的聚焦誤差信號的周期、或主光束位置檢測信號的周期或副光束位置檢測信號的周期設(shè)置聚焦控制增益。
28.根據(jù)權(quán)利要求22所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，根據(jù)在光束會聚斑橫切記錄媒體的磁道時的聚焦誤差信號的周期、或主光束位置檢測信號的周期或副光束位置檢測信號的周期設(shè)置記錄媒體的旋轉(zhuǎn)速度。
29.根據(jù)權(quán)利要求22所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中當(dāng)基于在第一步驟中檢測到的聚焦誤差信號和在第二步驟中設(shè)置的聚焦控制增益進(jìn)行光束的聚焦調(diào)整時，利用相位延遲補償和相位預(yù)先補償對光束和記錄媒體的記錄面之間的位置偏差進(jìn)行控制，并且在第二步驟中，相位預(yù)先補償中的增益被設(shè)置為聚焦控制增益。
30.根據(jù)權(quán)利要求22所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在基于在第一步驟中檢測到的聚焦誤差信號和在第二步驟中設(shè)置的聚焦控制增益進(jìn)行光束的聚焦調(diào)整中，僅在用于控制光束和記錄媒體的磁道之間的位置偏差的磁道控制環(huán)為打開的時候，采用聚焦控制增益。
31.根據(jù)權(quán)利要求22所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在基于在第一步驟中檢測到的聚焦誤差信號和在第二步驟中設(shè)置的聚焦控制增益進(jìn)行光束的聚焦調(diào)整中，僅在用于控制光束和記錄媒體的磁道之間的位置偏差的磁道控制環(huán)為打開的時候，采用所設(shè)置的記錄媒體的旋轉(zhuǎn)速度。
32.根據(jù)權(quán)利要求1所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，根據(jù)聚焦誤差信號、主光束位置檢測信號或副光束位置檢測信號進(jìn)一步設(shè)置沿橫切記錄媒體的磁道的方向移動光束會聚斑的移動速度。
33.根據(jù)權(quán)利要求32所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，根據(jù)聚焦誤差信號、主光束位置檢測信號或副光束位置檢測信號設(shè)置移動速度，以代替設(shè)置聚焦控制增益。
34.根據(jù)權(quán)利要求32所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，根據(jù)聚焦誤差信號的周期、主光束位置檢測信號的周期或副光束位置檢測信號的周期設(shè)置移動速度，以代替設(shè)置聚焦控制增益。
35.根據(jù)權(quán)利要求32所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，將移動速度的最大值設(shè)置為基本上與聚焦誤差信號的振幅成反比。
36.根據(jù)權(quán)利要求32所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，將移動速度設(shè)置為使移動速度與從聚焦誤差信號的周期檢測到的記錄媒體的離心速度的和與預(yù)定值相對應(yīng)。
37.根據(jù)權(quán)利要求32所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，在聚焦誤差信號的振幅大于預(yù)定值的情況下，將移動速度確定為使移動速度與從聚焦誤差信號的周期檢測到的記錄媒體的離心速度的和與預(yù)定值相對應(yīng)。
38.根據(jù)權(quán)利要求32所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，在設(shè)置移動速度之前設(shè)置聚焦控制增益。
39.根據(jù)權(quán)利要求38所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中與第二步驟中，將聚焦控制增益設(shè)置為基本上與聚焦誤差信號的振幅、主光束位置檢測信號的振幅或副光束位置檢測信號的振幅成反比。
40.根據(jù)權(quán)利要求39所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，用于控制光束和記錄媒體的磁道之間的位置偏差的磁道控制環(huán)被打開期間的振幅，作為聚焦誤差信號的振幅。
41.根據(jù)權(quán)利要求38所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，根據(jù)在光束會聚斑橫切記錄媒體的磁道時的聚焦誤差信號的周期、或主光束位置檢測信號的周期或副光束位置檢測信號的周期設(shè)置聚焦控制增益。
42.根據(jù)權(quán)利要求38所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中當(dāng)基于在第一步驟中檢測到的聚焦誤差信號和在第二步驟中設(shè)置的聚焦控制增益進(jìn)行光束的聚焦調(diào)整時，利用相位延遲補償和相位預(yù)先補償對光束和記錄媒體的記錄面之間的位置偏差進(jìn)行控制，并且在第二步驟中，相位預(yù)先補償中的增益被設(shè)置為聚焦控制增益。
43.根據(jù)權(quán)利要求38所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在基于在第一步驟中檢測到的聚焦誤差信號和在第二步驟中設(shè)置的聚焦控制增益進(jìn)行光束的聚焦調(diào)整中，僅在用于控制光束和記錄媒體的磁道之間的位置偏差的磁道控制環(huán)為打開的時候，采用聚焦控制增益。
44.根據(jù)權(quán)利要求32所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，在確定移動速度之前，根據(jù)聚焦誤差信號、主光束位置檢測信號或副光束位置檢測信號設(shè)置記錄媒體的旋轉(zhuǎn)速度。
45.根據(jù)權(quán)利要求44所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，根據(jù)聚焦誤差信號的振幅、主光束位置檢測信號的振幅或副光束位置檢測信號的振幅設(shè)置記錄媒體的旋轉(zhuǎn)速度。
46.根據(jù)權(quán)利要求45所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在基于在第一步驟中檢測到的聚焦誤差信號和在第二步驟中設(shè)置的聚焦控制增益進(jìn)行光束的聚焦調(diào)整中，在用于控制光束和記錄媒體的磁道之間的位置偏差的磁道控制環(huán)被打開期間的振幅，作為聚焦誤差信號的振幅。
47.根據(jù)權(quán)利要求44所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，根據(jù)在光束會聚斑橫切記錄媒體的磁道時的聚焦誤差信號的周期、或主光束位置檢測信號的周期或副光束位置檢測信號的周期設(shè)置記錄媒體的旋轉(zhuǎn)速度。
48.根據(jù)權(quán)利要求44所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在基于在第一步驟中檢測到的聚焦誤差信號和在第二步驟中設(shè)置的聚焦控制增益進(jìn)行光束的聚焦調(diào)整中，僅在用于控制光束和記錄媒體的磁道之間的位置偏差的磁道控制環(huán)為打開的時候，采用所設(shè)置的記錄媒體的旋轉(zhuǎn)速度。
49.根據(jù)權(quán)利要求32所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，在根據(jù)聚焦誤差信號、主光束位置檢測信號或副光束位置檢測信號設(shè)置聚焦控制增益之后，設(shè)置記錄媒體的旋轉(zhuǎn)速度，并且此后在聚焦控制增益和旋轉(zhuǎn)速度被設(shè)置完成之后再設(shè)置移動速度。
50.根據(jù)權(quán)利要求49所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，將聚焦控制增益設(shè)置為基本上與聚焦誤差信號的振幅、主光束位置檢測信號的振幅或副光束位置檢測信號的振幅成反比。
51.根據(jù)權(quán)利要求50所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，用于控制光束和記錄媒體的磁道之間的位置偏差的磁道控制環(huán)被打開期間的振幅，作為聚焦誤差信號的振幅。
52.根據(jù)權(quán)利要求49所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第二步驟中，根據(jù)在光束會聚斑橫切記錄媒體的磁道時的聚焦誤差信號的周期、或主光束位置檢測信號的周期或副光束位置檢測信號的周期設(shè)置聚焦控制增益。
53.根據(jù)權(quán)利要求49所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中當(dāng)基于在第一步驟中檢測到的聚焦誤差信號和在第二步驟中設(shè)置的聚焦控制增益進(jìn)行光束的聚焦調(diào)整中，利用相位延遲補償和相位預(yù)先補償對光束和記錄媒體的記錄面之間的位置偏差進(jìn)行控制，并且在第二步驟中，相位預(yù)先補償中的增益被設(shè)置為聚焦控制增益。
54.根據(jù)權(quán)利要求49所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在基于在第一步驟中檢測到的聚焦誤差信號和在第二步驟中設(shè)置的聚焦控制增益進(jìn)行光束的聚焦調(diào)整中，僅在用于控制光束和記錄媒體的磁道之間的位置偏差的磁道控制環(huán)為打開的時候，采用聚焦控制增益。
55.根據(jù)權(quán)利要求1所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第一步驟中，使所設(shè)置的系數(shù)為固定值。
56.根據(jù)權(quán)利要求1所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第一步驟中，系數(shù)被設(shè)置為使聚焦誤差信號的振幅被最小化。
57.根據(jù)權(quán)利要求56所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第一步驟中，用于控制光束和記錄媒體的磁道之間的位置偏差的磁道控制環(huán)被打開期間的振幅，作為聚焦誤差信號的振幅。
58.根據(jù)權(quán)利要求1所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第一步驟中，系數(shù)被確定為使聚焦控制的輸出被最小化。
59.根據(jù)權(quán)利要求58所述的聚焦控制調(diào)整方法，其中在第一步驟中，用于控制光束和記錄媒體的磁道之間的位置偏差的磁道控制環(huán)被打開時的聚焦控制的輸出，作為聚焦控制輸出。
60.一種光盤裝置，包括光檢測器，其在通過將包含主光束和兩個副光束的光束會聚和照射到旋轉(zhuǎn)的記錄媒體從而在記錄媒體上形成三個光束會聚斑之后，接收主反射光和兩個副反射光，其中主反射光通過主光束在記錄媒體上的反射獲取，副反射光通過副光束在記錄媒體上的反射獲取且相位不同于主反射光的相位，聚焦誤差檢測器，其在基于主反射光產(chǎn)生表示主光束中的光束會聚斑的位置的主光束位置檢測信號，并基于副反射光產(chǎn)生表示副光束中的光束會聚斑的位置的副光束位置檢測信號之后，將副光束位置檢測信號與預(yù)設(shè)的系數(shù)相乘得到的結(jié)果與主光束位置檢測信號相加，并檢測相加的結(jié)果作為光束的聚焦誤差信號；聚焦控制器，其基于聚焦誤差信號控制光束會聚斑和記錄媒體的記錄面之間的位置偏差；以及用于使記錄媒體旋轉(zhuǎn)的電機，其中聚焦誤差檢測器根據(jù)通過聚焦控制器的位置偏差控制的結(jié)果設(shè)置系數(shù)。
61.根據(jù)權(quán)利要求60所述的光盤裝置，進(jìn)一步包括用于聚焦誤差振幅的第一測量器件，其測量聚焦誤差信號的振幅，其中聚焦誤差檢測器根據(jù)用于聚焦誤差振幅的第一測量器件的測量結(jié)果設(shè)置系數(shù)。
62.根據(jù)權(quán)利要求61所述的光盤裝置，進(jìn)一步包括用于聚焦誤差振幅的第二測量器件，其測量聚焦誤差信號的振幅、主光束位置檢測信號的振幅或副光束位置檢測信號的的振幅，其中聚焦控制器根據(jù)用于聚焦誤差振幅的第二測量器件的測量結(jié)果，設(shè)置用于控制光束和記錄媒體的記錄面之間的位置偏差的聚焦控制增益。
63.根據(jù)權(quán)利要求61所述的光盤裝置，進(jìn)一步包括用于聚焦誤差振幅的第二測量器件，其測量聚焦誤差信號的振幅、主光束位置檢測信號的振幅或副光束位置檢測信號的振幅，其中聚焦控制器根據(jù)用于聚焦誤差振幅的第二測量器件的測量結(jié)果設(shè)置電機的旋轉(zhuǎn)速度。
64.根據(jù)權(quán)利要求61所述的光盤裝置，進(jìn)一步包括用于聚焦誤差周期的測量器件，其測量聚焦誤差信號的周期、主光束位置檢測信號的周期或副光束位置檢測信號的周期，其中聚焦控制器根據(jù)用于聚焦誤差周期的測量器件的測量結(jié)果，設(shè)置用于控制光束和記錄媒體的記錄面之間的位置偏差的聚焦控制增益。
65.根據(jù)權(quán)利要求61所述的光盤裝置，進(jìn)一步包括用于聚焦誤差周期的測量器件，其測量聚焦誤差信號的周期、主光束位置檢測信號的周期或副光束位置檢測信號的周期，其中聚焦控制器根據(jù)用于聚焦誤差周期的測量器件的測量結(jié)果設(shè)置電機的旋轉(zhuǎn)速度。
66.根據(jù)權(quán)利要求60所述的光盤裝置，進(jìn)一步包括用于驅(qū)動聚焦控制的測量器件，其測量聚焦控制器的輸出，其中聚焦誤差檢測器根據(jù)用于驅(qū)動聚焦控制的測量器件的測量結(jié)果設(shè)置系數(shù)。
67.根據(jù)權(quán)利要求66所述的光盤裝置，進(jìn)一步包括用于聚焦誤差振幅的第二測量器件，其測量聚焦誤差信號的振幅、主光束位置檢測信號的振幅或副光束位置檢測信號的振幅，其中聚焦控制器根據(jù)用于聚焦誤差振幅的第二測量器件的測量結(jié)果，設(shè)置用于控制光束和記錄媒體的記錄面之間的位置偏差的聚焦控制增益。
68.根據(jù)權(quán)利要求66所述的光盤裝置，進(jìn)一步包括用于聚焦誤差振幅的第二測量器件，其測量聚焦誤差信號的振幅、主光束位置檢測信號的振幅或副光束位置檢測信號的振幅，其中聚焦控制器根據(jù)用于聚焦誤差振幅的第二測量器件的測量結(jié)果設(shè)置電機的旋轉(zhuǎn)速度。
69.根據(jù)權(quán)利要求66所述的光盤裝置，進(jìn)一步包括用于聚焦誤差周期的測量器件，其測量聚焦誤差信號的周期、主光束位置檢測信號的周期或副光束位置檢測信號的周期，其中聚焦控制器根據(jù)用于聚焦誤差周期的測量器件的輸出，設(shè)置用于控制光束和記錄媒體的記錄面之間的位置偏差的聚焦控制增益。
70.根據(jù)權(quán)利要求66所述的光盤裝置，進(jìn)一步包括用于聚焦誤差周期的測量器件，其測量聚焦誤差信號的周期、主光束位置檢測信號的周期或副光束位置檢測信號的周期，其中聚焦控制器根據(jù)用于聚焦誤差周期的測量器件的測量結(jié)果設(shè)置電機的旋轉(zhuǎn)速度。
71.根據(jù)權(quán)利要求60所述的光盤裝置，進(jìn)一步包括傳送機構(gòu)，用于沿橫切記錄媒體的磁道的方向移動光束會聚斑；用于聚焦誤差振幅的測量器件，其在設(shè)置系數(shù)之前測量聚焦誤差信號的振幅；以及用于聚焦誤差振幅的測量器件，其在設(shè)置系數(shù)之后測量聚焦誤差信號的振幅，其中根據(jù)在設(shè)置系數(shù)之前測量振幅的用于聚焦誤差振幅的測量器件的測量結(jié)果確定系數(shù)，并且根據(jù)在設(shè)置系數(shù)之后測量振幅的用于聚焦誤差振幅的測量器件的測量結(jié)果設(shè)置由傳送機構(gòu)引起的光束會聚斑的移動速度。
72.根據(jù)權(quán)利要求60所述的光盤裝置，進(jìn)一步包括傳送機構(gòu)，用于沿橫切記錄媒體的磁道的方向移動光束會聚斑；用于驅(qū)動聚焦控制的測量器件，其測量聚焦控制器的輸出；以及用于聚焦誤差振幅的測量器件，其測量聚焦誤差信號的振幅，其中根據(jù)用于驅(qū)動聚焦控制的測量器件的測量結(jié)果設(shè)置系數(shù)，并且根據(jù)用于聚焦誤差振幅的測量器件的測量結(jié)果設(shè)置由傳送機構(gòu)引起的光束會聚斑的移動速度。
73.根據(jù)權(quán)利要求60所述的光盤裝置，進(jìn)一步包括傳送機構(gòu)，用于沿橫切記錄媒體的磁道的方向任意地移動光束會聚斑；用于聚焦誤差振幅的測量器件，其測量聚焦誤差信號的振幅；以及用于聚焦誤差周期的測量器件，其測量聚焦誤差信號的周期，其中根據(jù)用于聚焦誤差振幅的測量器件的測量結(jié)果設(shè)置系數(shù)，并且根據(jù)用于聚焦誤差周期的測量器件的測量結(jié)果設(shè)置由傳送機構(gòu)引起的光束會聚斑的移動速度。
74.根據(jù)權(quán)利要求60所述的光盤裝置，進(jìn)一步包括傳送機構(gòu)，用于沿橫切記錄媒體的磁道的方向任意地移動光束會聚斑；用于驅(qū)動聚焦控制的測量器件，其測量聚焦控制器的輸出；以及用于聚焦控制周期的測量器件，其測量聚焦誤差信號的周期，其中根據(jù)用于驅(qū)動聚焦控制的測量器件的測量結(jié)果設(shè)置系數(shù)，并且根據(jù)用于聚焦誤差周期的測量器件的測量結(jié)果設(shè)置由傳送機構(gòu)引起的光束會聚斑的移動速度。
全文摘要
根據(jù)本發(fā)明的聚焦控制調(diào)整方法包括用于檢測通過將光束會聚和照射到旋轉(zhuǎn)的記錄媒體所獲取的聚焦誤差信號的第一步驟，和用于基于在第一步驟中檢測到的聚焦誤差信號設(shè)置用于對光束和記錄媒體的記錄面之間的位置偏差進(jìn)行控制的聚焦控制增益的第二步驟，其中在第一步驟中將副光束位置檢測信號與預(yù)設(shè)的系數(shù)相乘得到的結(jié)果與主光束位置檢測信號相加，且檢測相加的結(jié)果作為聚焦誤差信號，并且在第一步驟中根據(jù)聚焦誤差信號設(shè)置系數(shù)。
文檔編號G11B7/09GK1855252SQ20061007819
公開日2006年11月1日 申請日期2006年4月28日 優(yōu)先權(quán)日2005年4月28日
發(fā)明者桑原雅彌 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社