專利名稱：信息再現(xiàn)裝置和光記錄介質(zhì)的制作方法
背景技術(shù)：
發(fā)明領(lǐng)域本發(fā)明涉及一信息再現(xiàn)裝置，再現(xiàn)包含在一光記錄介質(zhì)中的信息，以及光記錄介質(zhì)能有效地使用這種信息再現(xiàn)裝置。更準(zhǔn)確地說，本發(fā)明涉及信息再現(xiàn)裝置以及能獲得準(zhǔn)確跟蹤控制的光記錄介質(zhì)。
相關(guān)技術(shù)的說明近來，以CD和DVD為代表的光盤被廣泛使用。特別地，能僅一副性記錄數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的CD-R(可記錄CD)以及能多副重寫數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的CD-RW(可重寫CD)和僅用于重放的記錄介質(zhì)的CD-DA(CD-數(shù)字音頻)已經(jīng)投入實際使用。
當(dāng)一光盤中記錄和再現(xiàn)時，必須以一預(yù)定速度旋轉(zhuǎn)該光盤。僅重放的記錄介質(zhì)能通過使旋轉(zhuǎn)速度與重放時數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的再現(xiàn)頻率同步確定一預(yù)定速度。反之，用上述方法，可記錄的記錄介質(zhì)如CD-R和CD-RW不能控制該旋轉(zhuǎn)速度，因為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)最初不被記錄在磁道上。因此，在可記錄介質(zhì)中，根據(jù)地址信息，磁道被擺動，因此控制基于從該磁道讀出的擺動信號的旋轉(zhuǎn)速度并識別該磁道的地址。
推挽技術(shù)被認(rèn)為是使用這種光盤的系統(tǒng)中的光頭的跟蹤方法，特別是數(shù)據(jù)記錄過程中的跟蹤方法。該方法使用根據(jù)激光點的偏移擺動信號的推挽信號改變的這一事實。
然而，在推挽方法中，致動器振動磁頭的物鏡，因此檢測器和物鏡的光軸間的位置關(guān)系被移動，并且如果在光盤和物鏡間引起徑向傾斜，不能實現(xiàn)正確的跟蹤控制。
圖29示出了在推挽技術(shù)中在光圈的數(shù)量NA＝0.6、波長λ＝650nm、磁道間距＝683nm以及槽深＝λ/10的情況下的光軸的位移以及磁道偏移間的關(guān)系的模擬結(jié)果。在圖29中，垂直軸表示對磁道間距的磁道偏移率，以及水平軸表示在徑向方向中檢測器和物鏡間的位移。
圖30表示在推挽技術(shù)中在相似情況中徑向傾斜以及磁道偏移間的關(guān)系的模擬結(jié)果。在圖30中，垂直軸表示對磁道間距的磁道偏移率以及水平軸表示光盤和物鏡間的徑向傾斜。
如圖29和30所示，在推挽技術(shù)中，發(fā)現(xiàn)由于檢測器和物鏡的光軸間的位移(徑向鏡頭移動)或由于光盤和物鏡間的徑向傾斜引起了磁道偏移。
另一方面，取代該推挽技術(shù)，已經(jīng)一種通過使用RF信號的串音平衡獲得磁道信息的技術(shù)(日本專利申請公開號11-175990)。然而，這種方法不能使用在未記錄RF數(shù)據(jù)的情形中。另外，即使后來記錄該RF數(shù)據(jù)，由于徑向傾斜，串音平衡被較大地改變。因此，存在不能執(zhí)行精確跟蹤的問題。
發(fā)明概述本發(fā)明的一個目的是提供一信息再現(xiàn)裝置以及能執(zhí)行不受徑向傾斜等等影響的精確跟蹤控制的光記錄介質(zhì)，即使未記錄RF數(shù)據(jù)。
本發(fā)明的上述目的能通過本發(fā)明的用于讀取光記錄介質(zhì)(DK)的信息的信息再現(xiàn)裝置來實現(xiàn)。該裝置具有一第一檢測裝置(152)，提供通過用于讀取第一磁道(MT)的信息的一對檢測器光學(xué)地獲得的各個輸出信號間的差異；一第二檢測裝置(151)，提供通過用于讀取緊挨著第一磁道(MT)的第二磁道(ST1)的信息的一對檢測器光學(xué)地獲得的各個輸出信號間的差異；一第三檢測裝置(153)，提供通過用于讀取緊挨著第一磁道(MT)的第三磁道(ST2)的信息的一對檢測器光學(xué)地獲得的各個輸出信號間的差異，第三磁道(ST2)和第二磁道(ST1)位于第一磁道(MT)的相對邊；一串音抽取裝置(205，206)，抽取由第二磁道(ST1)和第三磁道(ST2)引起的串音，該串音包括在由第一檢測裝置(152)提供的檢測信號中；以及跟蹤控制裝置(TC3，TA3)，基于由第二磁道(ST1)引起的串音以及由第三磁道(ST2)引起的串音間的平衡，執(zhí)行用于第一檢測裝置(152)的跟蹤控制。
根據(jù)本發(fā)明，即使未記錄RF數(shù)據(jù)，跟蹤控制也能執(zhí)行，并且能實現(xiàn)精確跟蹤而不受徑向傾斜等等的影響。
第一檢測裝置(152)、第二檢測裝置(151)以及第三檢測裝置(153)可檢測在光記錄介質(zhì)(DK)上形成的磁道的擺動。
假若這樣，跟蹤控制通過使用擺動的串音來執(zhí)行。
該裝置可具有一系數(shù)控制裝置(205b，206b)，基于由串音抽取裝置(205，206)抽取的串音，控制一系數(shù)；以及一串音消除裝置(211，212)，基于由系數(shù)控制裝置(205b，206b)計算的系數(shù)，取消上述串音，然后，基于由系數(shù)控制裝置(205b，206b)計算的系數(shù)間的平衡，跟蹤控制裝置(TC3，TA3)可執(zhí)行用于第一檢測裝置(152)的跟蹤控制。
假若這樣，由于基于由系數(shù)控制裝置計算的系數(shù)間的平衡，用于第一檢測裝置的跟蹤控制，能實現(xiàn)精確跟蹤。
跟蹤控制裝置(TC3，TA3)可執(zhí)行跟蹤控制，以便基于由第二磁道(ST1)引起的串音的系數(shù)以及基于由第三磁道(ST2)引起的串音的系數(shù)間的差值變?yōu)榱恪?br> 假若這樣，由于執(zhí)行跟蹤控制以便系數(shù)間的差值變?yōu)?，能實現(xiàn)精確跟蹤。
該裝置可具有一第一解調(diào)裝置(202)，解調(diào)由第一檢測裝置(152)提供的檢測信號；一第二解調(diào)裝置(201)，解調(diào)由第二檢測裝置(151)提供的檢測信號；以及一第三解調(diào)裝置(203)，解調(diào)由第三檢測裝置(153)提供的檢測信號。然后，基于由第一解調(diào)裝置(202)獲得的解調(diào)信號抽取的串音，系數(shù)控制裝置(205b，206b)可控制該系數(shù)。
假若這樣，包括在解調(diào)信號中并且由第二磁道和第三磁道引起的串音被抽取，然后在抽取的串音的基礎(chǔ)上，控制該系數(shù)。因此，噪音的影響被降低，并實現(xiàn)精確控制。
通過使用具有不同相位的兩個載波信號，第一解調(diào)裝置(58)、第二解調(diào)裝置(57)以及第三解調(diào)裝置(59)可分別解調(diào)所檢測的信號。
假若這樣，不管磁道間的擺動的相位關(guān)系如何，可精確抽取該串音，因此能始終執(zhí)行精確跟蹤。
該裝置可具有一載波信號生成裝置(86)，生成第一磁道(MT)的載波信號，該載波信號被提供給第二解調(diào)裝置(201)和第三解調(diào)裝置(203)；以及相位調(diào)整裝置(217，218)，根據(jù)從第一檢測裝置(152)、第二檢測裝置(151)以及第三檢測裝置(153)的輸出信號的相位，調(diào)整該載波信號的相位。
假若這樣，經(jīng)第二檢測裝置和第三檢測裝置獲得的信號的相位與實際串音一致，因此能實現(xiàn)精確跟蹤。
第一解調(diào)裝置(202)、第二解調(diào)裝置(201)以及第三解調(diào)裝置(203)可解調(diào)相位解調(diào)的擺動。
假若這樣，通過使用擺動的串音執(zhí)行跟蹤控制。
該裝置具有一補償裝置(217，218)，補償與沿在第一檢測裝置(152)、第二檢測裝置(151)以及第三檢測裝置(153)中讀取的信息的方向的位移一致的時間。然后，跟蹤控制裝置(TC，TA)基于由第二磁道(ST1)引起的串音以及由第三磁道(ST2)引起的串音間的平衡，執(zhí)行用于第一檢測裝置(152)的跟蹤控制，這兩種串音在補償裝置(217，218)補償由第一檢測裝置(152)、第二檢測裝置(151)以及第三檢測裝置(153)提供的信號的時間以便彼此同相的情況下通過串音抽取裝置(205，206)被抽取，假若這樣，經(jīng)第二檢測裝置和第三檢測裝置獲得的信號的時間與實際串音一致，因此實現(xiàn)精確控制。
該裝置具有一串音平衡調(diào)整裝置(51，53)，響應(yīng)由第二檢測裝置(151)以及第三檢測裝置(153)提供的檢測信號(Ssub1，Ssub2)的信號幅度，調(diào)整由第二磁道(ST1)引起的串音以及第三磁道(ST2)引起的串音間的平衡。
假若這樣，由于基于由第二檢測裝置和第三檢測裝置提供的檢測信號的幅度的改變，平衡的改變被抑制，因此實現(xiàn)精確跟蹤。
串音平衡調(diào)整裝置(51，53)可將來自第二檢測裝置(151)和第三檢測裝置(153)的輸出信號(Ssub1，Ssub2)保持在一恒定水平。
響應(yīng)由第二檢測裝置(151)和第三檢測裝置(153)提供的檢測信號(Ssub1，Ssub2)的信號幅度，串音平衡調(diào)整裝置(82，83)可調(diào)整該平衡，該平衡在由串音抽取裝置(78，79)抽取的串音的基礎(chǔ)上獲得。
串音平衡調(diào)整裝置(51，53)在通過解調(diào)由第二檢測裝置(151)和第三檢測裝置(153)提供的檢測信號(Ssub1，Ssub2)獲得的信號的基礎(chǔ)上調(diào)整該平衡。
假若這樣，具有以下優(yōu)點，例如，由于信號中的噪音成分與解調(diào)前檢測信號被直接輸入的情況相比被降低，因此串音平衡調(diào)整裝置能準(zhǔn)確操作。
響應(yīng)由第一檢測裝置(152)提供的檢測信號的信號幅度，串音平衡調(diào)整裝置(52)可調(diào)整由串音抽取裝置(61，62)抽取的串音值。
假若這樣，有可能防止當(dāng)再現(xiàn)光束偏離磁道上時脫離跟蹤的檢測靈敏度被改變。
本發(fā)明的光記錄介質(zhì)(DK)是通過使用溝紋記錄方法來記錄、調(diào)制以及擺動信息的一種光記錄介質(zhì)，以及是可記錄另外的信息，然后用λ/NA規(guī)格化磁道間距獲得的值在0.625和0.690之間的一種光記錄介質(zhì)，其中λ表示用于記錄和再現(xiàn)的光學(xué)系統(tǒng)的波長，以及NA表示該光學(xué)系統(tǒng)中物鏡(104)的光圈的數(shù)量。
根據(jù)該光記錄介質(zhì)，如果使用本發(fā)明的信息再現(xiàn)裝置，由于一傾斜發(fā)生，幾乎沒有偏移。因此，在該信息再現(xiàn)裝置中使用的信息再現(xiàn)方法能被有效使用。
為便于理解，盡管本發(fā)明已經(jīng)用加在一括號中的附圖中的參考數(shù)字描述過，但并不局限于附圖的形式。
附圖的簡單說明

圖1是根據(jù)本發(fā)明，表示信息再現(xiàn)裝置的基本結(jié)構(gòu)的視圖；圖2A是表示與偏移相關(guān)的系數(shù)間的差值的視圖；圖2B是表示由同時在軌跡上的系數(shù)間的差值表示的偏移率的視圖；圖2C是表示目標(biāo)值偏移與徑向傾斜間的關(guān)系的視圖；圖3是表示當(dāng)磁道間距被設(shè)置為一參數(shù)時，跟蹤目標(biāo)值的偏差量的模擬結(jié)果的視圖；圖4是表示本發(fā)明的信息再現(xiàn)裝置的另一基本結(jié)構(gòu)的視圖；圖5是表示本發(fā)明的信息再現(xiàn)裝置的另一基本結(jié)構(gòu)的視圖；圖6是描述信息再現(xiàn)裝置的一個實施例的結(jié)構(gòu)的電路圖；圖7是表示用于讀取光盤中記錄的信息的光學(xué)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)的視圖；圖8是表示一地址信息記錄系統(tǒng)的視圖；圖9A是表示在擺動信號、載波信號以及在解調(diào)部分的乘法信號間的關(guān)系的視圖；圖9B是表示在解調(diào)部分用于解調(diào)所使用的示范性電路的視圖；圖10是示意性地描述自適應(yīng)系數(shù)控制方法的例子的視圖；圖11是表示解調(diào)后主磁道的波形以及不包括串音的理想波形的視圖；圖12是表示用于檢測一誤差的框圖的概略視圖；圖13是表示解調(diào)后主磁道的波形以及不包括串音的理想波形的視圖；圖14是表示用于檢測一誤差的框圖的概略視圖；圖15是表示解調(diào)后主磁道的波形以及不包括串音的理想波形的視圖；圖16是表示用于檢測一誤差的框圖的概略視圖；圖17A是表示當(dāng)相鄰磁道間的擺動信號中的相位關(guān)系互不相同(假設(shè)±0/±180度)時串音的影響的視圖；圖17B是表示當(dāng)相鄰磁道間的擺動信號中的相位關(guān)系互不相同(假設(shè)±45/±135度)時串音的影響的視圖；圖17C是是表示當(dāng)相鄰磁道間的擺動信號中的相位關(guān)系互不相同(假設(shè)±90度)時串音的影響的視圖；圖18是表示擺動串音的計算結(jié)果的視圖；圖19是表示當(dāng)在未記錄RF數(shù)據(jù)的一溝紋上執(zhí)行再現(xiàn)時的擺動信號以及當(dāng)在記錄RF數(shù)據(jù)的溝紋上執(zhí)行再現(xiàn)時的擺動信號的視圖；圖20是表示RF數(shù)據(jù)未記錄在相鄰磁道的一個中以及該RF數(shù)據(jù)記錄在其它磁道中的情況下的視圖；圖21是表示在圖20的情況下跟蹤的目標(biāo)值信號的偏移的模擬結(jié)果的視圖；圖22昌表示信息再現(xiàn)裝置的示范性結(jié)構(gòu)的視圖；圖23是表示AGC電路的結(jié)構(gòu)的視圖；圖24是表示載波生成單元的結(jié)構(gòu)的視圖；圖25是表示系數(shù)控制單元的結(jié)構(gòu)的視圖；圖26是表示在系數(shù)控制單元的二維方式中的相關(guān)檢測矢量的圖像的視圖；圖27A是表示假設(shè)存在或缺乏一AGC電路時系數(shù)間的差值的模擬結(jié)果的視圖；圖27B是表示在主磁道的電平調(diào)整被消除的情況下系數(shù)間的差值的模擬結(jié)果的視圖；圖28是表示信息再現(xiàn)裝置的另一示范性結(jié)構(gòu)的視圖29是表示用推挽技術(shù)的光軸偏差與跟蹤偏移間的關(guān)系的模擬結(jié)果的視圖；圖30是表示用推挽技術(shù)的徑向傾斜與跟蹤偏移間的關(guān)系的模擬結(jié)果的視圖。
優(yōu)選實施例的描述以下根據(jù)本發(fā)明，參考圖1-16描述信息再現(xiàn)裝置。
首先，根據(jù)本發(fā)明描述信息再現(xiàn)裝置的基本結(jié)構(gòu)。
圖1是根據(jù)本發(fā)明表示信息再現(xiàn)裝置的基本結(jié)構(gòu)的視圖。將在如當(dāng)記錄與擺動相位(如從0度到180度)有關(guān)的二進制地址信息的系統(tǒng)被用作記錄通過調(diào)相的地址信息的系統(tǒng)時來進行說明。
如圖1所示的信息再現(xiàn)裝置具有延遲單元11、12和13，用于延遲用于一預(yù)定時間的檢測信號Ssub1、Smain、Ssub2；解調(diào)單元14、15和16，用于解調(diào)通過調(diào)相記錄的擺動信號；誤差檢測單元17和18，用于分別檢測包含在解調(diào)信號Sdemod中的誤差；以及系數(shù)控制單元19和20，用于根據(jù)誤差檢測單元17和18的信息，分別控制串音消除系數(shù)；一解碼器23，用于解碼解調(diào)單元15的輸出信號；一跟蹤控制單元TC，用于執(zhí)行用于一拾取器的跟蹤控制；以及一跟蹤致動器TA，用于驅(qū)動該拾取器。為分別讀出在一光盤上形成的三個相鄰磁道的擺動(地址信息)，信號Ssub1、Smain以及Ssub2由三個檢測器檢測。誤差檢測單元17和18可形成在一共用檢測單元中。
為讀出三個磁道的擺動，延遲單元11、12和13被用于取消檢測器的光點的相對位置關(guān)系。在相互相鄰的磁道上發(fā)射三個光束的情況下，在光盤的圓周方向中相互偏離的每一位置上處理光點。延遲單元11和13調(diào)整檢測信號Ssub1、Smain以及Ssub2的延遲以便取消在光盤的圓周方向中的光點的位置偏差。因此，在平均排列在光盤的半徑方向中的三個光點的情況下，由延遲單元提供的信號S11、Sm3以及S12與檢測信號一致。
誤差檢測單元17檢測一理想地址解調(diào)信號與由解調(diào)單元15提供的實際地址解調(diào)信號Sdemod間的誤差ΔS并將其提供給系數(shù)控制單元19。系數(shù)控制單元19檢測誤差ΔS與信號S11間的相關(guān)性并將與該相關(guān)性一致的系數(shù)K11提供給一乘法器21，在該乘法器處系數(shù)k11被乘以信號S11。另一方面，系數(shù)控制單元20檢測誤差ΔS與信號S12間的相關(guān)性并將與該相關(guān)性一致的系數(shù)k12提供給一乘法器22，在該乘法器處系數(shù)被乘以信號S12。
如圖1所示，由延遲單元12提供的信號Sm3減去乘法器21和22的輸出值，因此獲得信號Sm4。另外，信號Sm4由解調(diào)單元15解調(diào)，因此獲得地址解調(diào)信號Sdemod。
根據(jù)通過上述兩個回路的反饋控制，乘法器21和22的系數(shù)被控制以便獲得最小ΔS，換句話說，以便獲得來自兩個相鄰磁道在地址解調(diào)信號Sdemod中的最小串音。因此，來自兩個相鄰磁道在地址解調(diào)信號Sdemod中的串音被消除。
具有已消除串音的地址解調(diào)信號Sdemod被輸入到解調(diào)器23，因此再現(xiàn)該地址信息。
這樣，在圖1的結(jié)構(gòu)中，相對于解調(diào)前的檢測信號的串音被消除，因此通過解調(diào)消除串音后的檢測信號獲得地址解調(diào)信號。
如圖1所示，由系數(shù)控制單元19輸出的系數(shù)k11與由系數(shù)控制單元20輸出的系數(shù)k12間的差值被輸出到跟蹤控制單元TC。根據(jù)系數(shù)k11和系數(shù)k12間的差值，跟蹤控制單元TC控制跟蹤致動器TA。特別地，跟蹤控制單元TC控制跟蹤致動器TA以便系數(shù)k11和系數(shù)k12間的差值為0。
圖2A示出了系數(shù)k11和系數(shù)k12間的差值與偏移(左和右抽頭系數(shù)間的差值)相關(guān)。在圖2A中，垂直軸表示系數(shù)k11和系數(shù)k12間的差值，以及水平軸表示對一磁道間距的偏移率。在圖2A中，示出了徑向傾斜＝0.0度、0.4度以及0.8度的情況分別與光圈數(shù)量NA＝0.6、波長λ＝650nm、磁道間距＝683nm以及槽深＝341.5nm有關(guān)。
如圖2A所示，偏移率以及系數(shù)k11和系數(shù)k12間的差值實質(zhì)上成比例關(guān)系，該比例關(guān)系與每一徑向傾斜有關(guān)。另外，當(dāng)偏移為0時，系數(shù)k11和系數(shù)k12間的差值總是視為接近0的值，很難受徑向傾斜的影響。
圖2B示出了表示同時在軌跡上的系數(shù)k11和系數(shù)k12間的差值的偏移率(目標(biāo)值偏移)和與作為模擬參數(shù)的光圈數(shù)量NA＝0.6、波長λ＝650nm、磁道間距＝683nm以及槽深＝341.5nm的情況有關(guān)的光盤的徑向移動(光軸位移)間的關(guān)系。在圖2B中，垂直軸表示偏稱率，該偏移率表示為系數(shù)k11和系數(shù)k12間的差值并用在磁道中表示磁道間距，以及水平軸表示對一光束直徑的徑向鏡頭移動率。在使用常規(guī)推挽方法的情況中用虛線表示。
如圖2B所示，同時在軌跡上的系數(shù)k11和系數(shù)k12間的差值總是視為接近0的值，因此很難受徑向鏡頭移動的影響。
圖2C表示目標(biāo)值偏移與徑向傾斜間的關(guān)系。模擬參數(shù)與圖2B相同。在使用常規(guī)推挽方法的情況下用虛線表示。如圖2C所示，在將偏移總是視為接近0的值的情況下，很難受徑向傾斜的影響。
如上所述，跟蹤致動器TA被控制以便系數(shù)k11和系數(shù)k12間的差值為0，從而能執(zhí)行精確跟蹤控制，很難受徑向移動的影響。
然而，上述結(jié)果的獲得是由于選擇了將在下面描述的磁道間距。通常，系數(shù)k11和系數(shù)k12間的差值依賴于徑向傾斜改變。
在將系數(shù)k11和系數(shù)k12間的差值即左和右tap系數(shù)間的差值用作跟蹤目標(biāo)值信號的情況下，如果由于光盤的徑向傾斜產(chǎn)生一偏移，不能獲得作為一正確目標(biāo)值的跟蹤。
圖3是表示關(guān)于在徑向傾斜為1度的情況下跟蹤目標(biāo)值移動多少所執(zhí)行的模擬獲得的結(jié)果的視圖。在圖3中，垂直軸表示對一磁道間距的跟蹤偏移率，以及特別地，水平軸表示通過用λ/NA規(guī)格化一磁道間距所獲得的值。
如圖3所示，當(dāng)用λ/NA規(guī)格化一磁道間距所獲得的值約為0.66時，由于傾斜很難發(fā)生偏移。然而，會發(fā)現(xiàn)當(dāng)磁道間距被定義為分界時即使偏移太窄或太寬，跟蹤偏移增加。
例如，在按DVD-ROM規(guī)格定義的標(biāo)準(zhǔn)再現(xiàn)裝置中，跟蹤伺服裝置的其余誤差的最大值定義為0.022μm，約等于磁道間距的3％(＝0.022/0.74*100)。
在最好是一真實的驅(qū)動裝置中，認(rèn)為跟蹤偏移被要求抑制到該程度。因此，如圖3所示，發(fā)現(xiàn)當(dāng)偏移在-3％和3％間時，通過用λ/NA規(guī)格化一磁道間距所獲得的值必須在0.625和0.690之間。
因此，在滿足上述條件的光記錄介質(zhì)中，能精確地實現(xiàn)跟蹤。
在如圖4所示的結(jié)構(gòu)中，示出了為解調(diào)后的檢測信號，執(zhí)行串音偏移的情況。在圖4中，與圖1中所示的相同結(jié)構(gòu)元件由相同的參考數(shù)字標(biāo)明。
如圖4所示，在裝置200A中，解調(diào)單元15的輸出信號即解調(diào)后的信號減去解調(diào)單元14和解調(diào)單元16的每一個的輸出信號的解調(diào)后信號，從而消除串音。在該結(jié)構(gòu)中，在由分別包括乘法器21和22的兩個回路的反饋控制下，乘法器21和22的系數(shù)被控制以便在系數(shù)控制單元19和系數(shù)控制單元20中計算的相關(guān)值為最小，即，以便來自與地址解調(diào)信號Sdemod相關(guān)的相鄰磁道的串音為最小。這樣，來自與地址解調(diào)信號Sdemod相關(guān)的相鄰磁道的串音被消除。延遲單元11至13的功能與圖1所示的結(jié)構(gòu)的情況相同。
如圖4所示，裝置200A具有一跟蹤控制部件TC1，用于執(zhí)行拾取器的跟蹤控制；以及一跟蹤致動器TA1，用于驅(qū)動該拾取器。
如圖4所示，從系數(shù)控制部件19輸出的系數(shù)k11和從系數(shù)控制部件20輸出的系數(shù)k20的差值被輸入到跟蹤控制部件TC1。根據(jù)系數(shù)k11和系數(shù)k12間的差值，跟蹤控制單元TC1控制跟蹤致動器TA1。特別地，跟蹤控制部件TC1控制跟蹤致動器TA1以便系數(shù)k11和系數(shù)k12間的差值為0。這樣，能實現(xiàn)精確控制，很難受徑向傾斜和徑向鏡頭移動的影響。
信息再現(xiàn)裝置200A從解調(diào)后的信號抽取串音。解調(diào)前信號的擺動信號的波形是正弦波，它很難從這樣一種類似模擬的信號波形檢測一誤差(串音量)。另外，隨機噪音被加在解調(diào)前的非常嘈雜的實際信號中。這使得它最終不可能檢測一誤差。相反，解調(diào)后的信號是一數(shù)字定向波形，便很容易分離噪音(串音)。因此，該信息再現(xiàn)裝置200A能有效地抽取串音。
圖5是根據(jù)本發(fā)明，表示信息再現(xiàn)裝置的另一基本結(jié)構(gòu)的視圖。與圖1和2所示的裝置200和200A類似，如圖5所示的裝置相當(dāng)于一光盤，其中，根據(jù)地址信息，磁道通過調(diào)制該擺動的相位被擺動。
如圖5所示，信息再現(xiàn)裝置300具有解調(diào)單元31、32和33，分別用于解調(diào)來自三個檢測器的檢測信號Ssub1、Smain以及Ssub2，這三個檢測器分別用于讀取形成在光盤上的三個彼此相鄰的磁道的擺動(地址信息)；延遲單元34和35以及36，用于延遲對一預(yù)定時間分別由解調(diào)單元31、32和33提供的信號S21、S22以及S23；誤差檢測單元37和38，分別用于檢測包含在解調(diào)信號Sdemod中的誤差；以及系數(shù)控制單元39和40，根據(jù)誤差檢測單元37和38的信息，分別用于控制串音消除系數(shù)。
如圖5所示，載波信號通過移相器41提供給解調(diào)單元31。載波信號同樣通過移相器42提供給解調(diào)單元33。
如圖5所示，來自檢測器的檢測信號Ssub1、Smain以及Ssub2被分別提供給解調(diào)單元31、32和33，沒有調(diào)整每一延遲。因此，圖5所示的信息再現(xiàn)裝置被設(shè)計以便根據(jù)依賴各個檢測器的光點的位置的檢測信號Ssub1、Smain以及Ssub2的不同相位，能改變提供給解調(diào)單元31、32和33的載波信號的相位。延遲單元34、35和36消除檢測器的光點的相對位置關(guān)系。該結(jié)構(gòu)能減小光點的誤差，并且當(dāng)誤差小到足以被忽略為一解調(diào)的地址信號時，延遲單元34、35和36能被省略。
誤差檢測單元37檢測理想地址解調(diào)信號Sdemod和實際提供的地址解調(diào)信號Sdemod間的誤差ΔS并將其提供給系數(shù)控制單元39。系數(shù)控制單元39檢測誤差ΔS與延遲單元34的輸出信號間的相關(guān)性并將與該相關(guān)性一致的系數(shù)k1提供給乘法器41，在此處，系數(shù)k1被乘以延遲單元34的輸出信號S24。
誤差檢測單元38檢測理想地址解調(diào)信號與實際提供的地址址解調(diào)信號Sdemod間的誤差ΔS并將其提供給系數(shù)控制單元40。誤差檢測單元37和誤差檢測單元38完全相同，并且它們通常共同使用。系數(shù)控制裝置40檢測誤差ΔS和延遲單元36的輸出信號S26間的相關(guān)性并將與該相關(guān)性一致的系數(shù)k2提供給乘法器42，在此處，系數(shù)21被乘以延遲單元36的輸出信號S26。
如圖5所示，用延遲單元35提供的信號S25減去乘法器41和乘法器42的輸出值，從而生成地址解調(diào)信號Sdemod。
根據(jù)上述兩個回路的反饋控制，乘法器41和乘法器42的系數(shù)被控制以便獲得由系數(shù)控制單元39和40計算的最小相關(guān)性，換句話說，以便獲得來自兩個相鄰磁道在地址解調(diào)信號Sdemod中的最小串音。因此，來自兩個相鄰磁道在地址解調(diào)信號Sdemod中的串音被消除。
已消除串音的地址解調(diào)信號Sdemod被提供給解調(diào)器(未示出)，從而生成地址信息。
如圖5所示，裝置300具有跟蹤控制單元TC2，用于執(zhí)行拾取器的跟蹤控制；以及跟蹤致動器TA2，用于驅(qū)動該拾取器。
如圖5所示，從系數(shù)控制單元39輸出的系數(shù)k1以及從系數(shù)控制單元40輸出的系數(shù)k2間的差值被輸入到跟蹤控制單元TC2。根據(jù)系數(shù)k1和系數(shù)k2間的差值，跟蹤控制單元TC2控制跟蹤致動器。特別地，該控制單元控制跟蹤致動器TA2以便系數(shù)k1和系數(shù)k2間的差值為0。這樣，能實現(xiàn)精確跟蹤控制，而不受徑向傾斜和徑向鏡頭移動的影響。
圖17是表示當(dāng)相鄰磁道間的擺動信號中相位關(guān)系互不相同時，串音影響的視圖。圖17假定一模式，其中相鄰磁道的擺動信號被減去或增加到一線性。
通常，擺動信號以一CLV(恒定線速度)被記錄。因此，相鄰磁道的擺動信號在與被再現(xiàn)的磁道的擺動信號相關(guān)的特殊相位關(guān)系中，因此也建立各種相位關(guān)系。圖17A至17C表示相鄰磁道的擺動信號9(串音)的相位為與被再現(xiàn)的磁道的擺動信號的相位相關(guān)的±0度/±180度、±45度/±135度以及±90時的例子。圖17A至17C表示磁道排列關(guān)系以及被再現(xiàn)的磁道的擺動信號以及減去后相鄰磁道的擺動信號(即串音)的矢量表示。各個圖表示通過將矢量合成在一起所獲得的矢量。
當(dāng)合成的矢量(即包括串音的擺動信號)為PSK調(diào)制的，通過將合成矢量投影到“y”軸(垂直軸)獲得的振幅被獲得作為一調(diào)制信號。
這樣，根據(jù)主磁道(被再現(xiàn)的磁道)和相鄰磁道間的擺動信號中的相位關(guān)系，在PSK解調(diào)后，擺動信號的串音出現(xiàn)或不出現(xiàn)在信號電平。因此，在串音偏移系數(shù)由PSK解調(diào)后的信號控制的情況中，串音量被反映或不反映在依賴擺動信號的相位關(guān)系的串音偏移系數(shù)上。這使得不能獲得正確的磁道信號。
為監(jiān)視獨立于擺動信號的相關(guān)關(guān)系的精確串音量，通過使用具有不同相位的兩個載波信號來執(zhí)行解調(diào)，并且各個相關(guān)性是合成的矢量，從而有必要控制串音偏移系數(shù)。
在基于根據(jù)串音平衡改變的串音偏移系數(shù)間的差值獲得磁道的目標(biāo)值信號的情況中，左和右相鄰磁道的RF記錄狀態(tài)互不相同，并且隨著跟蹤的目標(biāo)值發(fā)生偏移。該觀點通過使用如圖18所示的模擬模型來描述。
圖18示出了根據(jù)在相鄰磁道的溝紋中未記錄RF數(shù)據(jù)和在其中記錄有RF的情況中，計算擺動串音改變多大的結(jié)果。當(dāng)主磁道被再現(xiàn)時，來自被擺動的相鄰磁道的串音被反映在推挽信號上。在圖18中，由虛線表示的推挽信號波形分別表示在相鄰磁道中未記錄RF數(shù)據(jù)的情況以及在相鄰磁道中記錄RF數(shù)據(jù)的情況?？砂l(fā)現(xiàn)具有主磁道推挽信號的串音很難改變，不管是在相鄰磁道未記錄RF數(shù)據(jù)的情況還是在其中記錄有RF數(shù)據(jù)的情況中。
另一方面，圖19分別示出了當(dāng)在其中未記錄RF數(shù)據(jù)的一溝紋上執(zhí)行再現(xiàn)時的擺動信號；以及當(dāng)在其中記錄RF數(shù)據(jù)的一溝紋上執(zhí)行再現(xiàn)時的擺動信號。在圖19中，實線表示當(dāng)RF未被記錄時的擺動信號波形，以及虛線表示記錄相鄰的RF數(shù)據(jù)時的擺動信號的波形。在這些例子中，發(fā)現(xiàn)根據(jù)在其中未記錄RF的情況以及在其中記錄RF數(shù)據(jù)的情況，擺動信號的信號電平彼此顯著不同。
使用串音量和擺動信號電平間的相關(guān)性控制串音偏移系數(shù)。因此，如果相鄰磁道的擺動信號電平改變，不管串音量是否改變，根據(jù)相鄰磁道的擺動信號電平，串音偏移系數(shù)改變。
圖20示出了在一個磁道中未記錄RF數(shù)據(jù)以及在另一磁道中記錄RF數(shù)據(jù)的情況。另外，圖21表示在圖20的情況下跟蹤的目標(biāo)值信號的偏移的模擬結(jié)果。作為圖21中的模擬參數(shù)，光圈NA＝0.6，波長λ＝650nm，以及磁道間距＝683nm。
如圖21所示，與在相鄰磁道中未記錄RF數(shù)據(jù)的情況(用虛線表示)比較，即使再現(xiàn)光束在磁道上，左和右串音系數(shù)與在圖20的情況(用實線表示)中互不相同，并且由于跟蹤的目標(biāo)值信號發(fā)生一偏移。結(jié)果，在移離軌道上的一位置產(chǎn)生跟蹤。
如上所示，為監(jiān)視一精確的串音量，不管擺動信號間的相位關(guān)系如何，要求通過使用具有不同相位的載波信號來執(zhí)行解調(diào)。另外，為執(zhí)行正確跟蹤，要求記錄在相鄰磁道中的RF數(shù)據(jù)的影響。
圖22是表示能解決上述問題的信息再現(xiàn)裝置的示范性結(jié)構(gòu)的視圖。圖22中所示的信息再現(xiàn)裝置500具有AGC(自動增益控制)電路51、52和53，分別用于調(diào)整來自三個檢測器的檢測信號Ssub1、Smain以及Ssub2的信號電平，這三個檢測器，用于分別讀取在光盤中形成的三個相鄰磁道的擺動(地址信息)；由FIFO(先入先出)電路組成的延遲單元54、55和56，通過一預(yù)定時間，用于分別延遲AGC電路51、52和53的輸出信號；解調(diào)單元57、58和59，用于解調(diào)通過相位調(diào)制記錄的擺動信號；誤差檢測單元61和62，用于包括在從解調(diào)單元58輸出的解調(diào)信號Sdemod中的誤差；系數(shù)控制單元63和64，根據(jù)誤差檢測單元61和62的信息，用于分別控制串音偏移系數(shù)；一跟蹤控制單元TC，用于執(zhí)行拾取器跟蹤控制；以及一跟蹤致動器TA，用于驅(qū)動一拾取器。誤差檢測單元61和62可被共用為一個檢測部件。
如圖23所示，AGC電路51具有一電平控制器51a以及一比較器51c，用于將電平檢測單元51b的輸出信號與一參考信號比較，該電平檢測單元，用于檢測和輸出一輸入信號的振幅電平。響應(yīng)電平檢測單元51b的輸出信號與參考信號Ref間的比較結(jié)果，電平控制器51a的振幅度被控制以便比較器51c的輸出信號的振幅是恒定的。另外，AGC電路52以及AGC電路53分別構(gòu)造為如圖23中所示的AGC電路51。
如圖22和24所示，信息再現(xiàn)裝置500具有一載波生成單元37，用于生成具有達到90度的不同相位的兩個載波信號。載波生成單元67生成由具有達到90度的不同相位的兩個載波信號解調(diào)后的兩個信號的乘法信號，并將該相乘信號輸入到PLL(鎖相回路)電路67a，從而生成一載波信號Ci。另外，載波信號Ci的相位通過一移相電路67b被移動90度，從而生成一載波信號Cq。從載波生成單元67輸出的兩個載波信號Ci和Cq被分別傳送給解調(diào)單元57、58和59。
AGC電路51、52和53使檢測信號Ssub1、Smain以及Ssub2的擺動信號振幅保持恒定，從而根據(jù)如上所述的是否在一磁道中記錄RF數(shù)據(jù)，使防止由于跟蹤的目標(biāo)值信號發(fā)生偏稱成為可能。在該信息再現(xiàn)裝置500中，擺動信號的振幅在反饋控制下是恒定的。
提供延遲單元54、55和56以消除用于讀取三個磁道的擺動的檢測器的光點的相關(guān)位置關(guān)系。如此，當(dāng)三個光點在光盤的徑向方向中平均排列時，從延遲單元54至56的每一個輸出的信號與檢測信號相同。延遲單元55輸出一信號Ss1，延遲單元55輸出一信號Smm以及延遲單元56輸出一信號Ss2。
解調(diào)單元57通過載波信號Ci解調(diào)信號Ss1并輸出一信號Ss1-i；以及通過載波信號Cq解調(diào)信號Ss1并輸出一信號Ss1-q。
解調(diào)單元58通過載波信號Ci解調(diào)信號Sm并輸出一地址解調(diào)信號Sm-i；以及通過載波信號Cq解調(diào)信號Sm并輸出一信號Sm-q。由信號Smm減去從乘法器68和69輸出的預(yù)定信號，從而獲得一信號Sm。
解調(diào)單元59通過載波信號Ci解調(diào)信號Ss2，并輸出一信號Ss2-i；以及通過載波信號Cq解調(diào)信號Ss2，并輸出一信號Ss2-q。誤差檢測單元61分別檢測與地址解調(diào)信號Sm-i和信號Sm-q的理想信號有關(guān)的誤差CT-i和誤差CT-q，并將它們輸出給系數(shù)控制單元63。誤差檢測單元62分別檢測與地址解調(diào)信號Sm-i和信號Sm-q的理想信號有關(guān)的誤差CT-i和誤差CT-q，并將它們輸出給系數(shù)控制單元64。如圖22和25所示，系數(shù)控制單元63的計算單元63a將信號Ss1-i和CT-i相乘，以及將信號Ss1-q和CT-q相乘。系數(shù)控制單元63的計算單元63a將如上所述兩個相乘的信號相加，并且更進一步，系數(shù)控制單元63的累計單元63b將相加信號彼此累計，從而獲得系數(shù)k1。系數(shù)k1與由在相互垂直的矢量方向中檢測到的矢量合成的信號的矢量的長度一致。圖26是表示在系數(shù)控制單元63以二維方式的相關(guān)性檢測矢量的圖像的視圖。如圖26所示，系數(shù)控制單元63檢測一誤差和與彼此成直角的兩個矢量方向有關(guān)的相鄰兩個磁道的信號間的相關(guān)性。因此，可能精確地檢測一相關(guān)性，不管被再現(xiàn)的磁道的擺動信號和相鄰磁道的擺動信號(即串音)間的相位關(guān)系如何。在圖26中，投射在垂直軸(I軸)上的信號Ss1是信號Subl-i，以及投射到水平軸(Q軸)上的信號Ss1是信號Sub1-q。另外，投射在垂直軸上的信號Sct1是信號CT1-i，以及投射到水平軸(Q軸)上的信號Sct1是信號CT1-q。另一方面，系數(shù)控制單元64的計算單元64a將信號Ss2-i和CT-i相乘，以及將信號Ss2-q和CT-q相乘。系數(shù)控制單元64的計算單元64a將如上所述兩個相乘所得的信號相加，并且更進一步，系數(shù)控制單元64的累計單元64b將相加信號彼此累計，從而獲得系數(shù)k2。如此，如在系數(shù)控制單元63中，以二維方式執(zhí)行相關(guān)性檢測。
如圖22所示，系數(shù)k1被傳送給一乘法器68，并且信號Smm減去系數(shù)k1和信號Ss1的乘積。另外，系數(shù)k2被傳送給一乘法器69，并且信號Smm和系數(shù)k2的乘積被減去。如此，生成信號Sm。在由兩個回路引起的反饋控制下，系數(shù)k1和k2被控制以便來自相鄰磁道的串音是最小。如此，來自與地址解調(diào)信號Sm-i有關(guān)的相鄰磁道的串音被消除。在信息再現(xiàn)裝置500中，為解調(diào)前一信號，由兩個乘法器68和69執(zhí)行減法運算，并且為該解調(diào)前的信號消除串音。另一方面，系數(shù)k1和k2間的差值被傳送到跟蹤控制單元TC，并且跟蹤致動器TA通過跟蹤控制單元TC被控制。如上所述，信息再現(xiàn)裝置500檢測誤差和與彼此成直角的兩個矢量方向有關(guān)的相鄰磁道的信號間的相關(guān)性，從而使總是精確地檢測一相關(guān)性成為可能，不管被再現(xiàn)的磁道的擺動信號和相鄰磁道的擺動信號(即串音)間的相位關(guān)系如何。因此，總是能執(zhí)行精確跟蹤控制。信息再現(xiàn)裝置500從解調(diào)后的信號抽取串音。作為解調(diào)前的信號的擺動信號的波形是正弦波，以及很難從這種類似模擬的信號波形檢測誤差。另外，隨機噪音被加入到非常嘈雜的解調(diào)前的實際信號中。這使得不可能最終檢測一誤差。相反，解調(diào)后的信號是一數(shù)字波形，使得很容易分離一噪音(串音)。因此，信息再現(xiàn)裝置500能有效地抽取一串音。如在信息再現(xiàn)裝置500中，在反饋控制下AGC電路的振幅度被控制的情況下，可在任何地方提供AGC電路并且可能任何地方檢測信號振幅直到該位置可在系數(shù)控制單元的前面。即，這些位置可在解調(diào)單元前或后。然而，在一調(diào)相秕中解調(diào)后執(zhí)行振幅檢測的情況下，為保證一正確串音偏移操作，不管擺動相位關(guān)系如何，例如，要求使用通過一累計矢量劃分的兩個振幅的矢量合成振幅。分別表示信號Ssub1、Smain以及Ssub2的振幅的信號被輸入到AGC電路51-53。然而，由于這些信號，信號Ssub1、Smain和Ssub2被分別調(diào)制后獲得的信號也可被輸入到那里。假若這樣，信號中的噪音合成與如解調(diào)前的信號Ssub1、Smain以及Ssub2被直接輸入的情況或類似情況相比被降低。因此，具有AGC電路51-53能被精確操作的優(yōu)點。盡管信息再現(xiàn)裝置500在反饋控制下控制AGC電路的放大度，也能使用前饋電路。
在信息再現(xiàn)裝置500中，每一磁道的擺動信號振幅通過AGC電路使其不變，從而使防止如圖21所示的磁道的目標(biāo)值信號的偏移成為可能。圖27A是只在相鄰磁道的一個中記錄RF數(shù)據(jù)的情況下存在或缺乏AGC電路51至53的模擬結(jié)果的視圖。在圖27A中，垂直軸表示系數(shù)間的差值，以及水平軸表示再現(xiàn)光束的偏移量。模擬參婁與圖21相同。如圖27A所示，AGC電路被提供，由此磁道的目標(biāo)值信號的偏移被消除。
另外，在信息再現(xiàn)裝置500中，通過AGC電路52調(diào)整信號Smain的電平。即使主磁道信號的電平調(diào)整被刪除，由于磁道的目標(biāo)值信號，通過相鄰磁道的信號的電平調(diào)整不會發(fā)生偏移。然而，假若這樣，當(dāng)再現(xiàn)光束偏離軌跡上時，偏移檢測靈敏度被改變。
圖27表示在主磁道的電平調(diào)整被刪除的情況下系數(shù)中的差值(與系數(shù)k1和k2間的差值的一個值)的模擬結(jié)果。在圖27B，垂直軸表示系數(shù)間的差值，以及水平軸表示再現(xiàn)光束的偏移。圖27B表示在主磁道和該主磁道的兩鄰磁道中未記錄RF數(shù)據(jù)的情況；以及在主磁道的相鄰磁道中未記錄RF數(shù)據(jù)的情況。如圖27B所示，如果RF數(shù)據(jù)被記錄在主磁道中，它顯示出圖線的傾斜度很小，以及偏移檢測靈敏度被降低。在上述信息再現(xiàn)裝置中，主磁道信號即信號Smain的電平被調(diào)整，因此在偏移檢測靈敏度中的改變不會發(fā)生。
在信息再現(xiàn)裝置500中，盡管用于串音抽取的載波信號中的一個與用于數(shù)據(jù)解調(diào)的兼容，通過使用一完全不同的載波可執(zhí)行串音抽取和數(shù)據(jù)解調(diào)。另外，在信息再現(xiàn)裝置500中，盡管用于串音抽取的兩個載波信號間的相位差被設(shè)置為90度，該相位差可是除0度外的任何角度(包括180度)。另外，可使用相同的載波信號以便解調(diào)相鄰磁道的解調(diào)信號(信號Ssub1和Ssub2)。
圖28是表示信息再現(xiàn)裝置的另一示范性結(jié)構(gòu)的視圖。如圖28所示的信息再現(xiàn)裝置600具有由FIFO(先入先出)電路組成的延遲單元71、72和73，用于分別延遲來自從讀取在光盤中分別形成的相鄰的三個磁道的擺動(地址信息)的三個檢測器的檢測信息Ssub1、Smain以及Ssub2；解調(diào)單元74、75以及76，用于解調(diào)通過調(diào)相記錄的擺動信號；誤差檢測單元78和79，用于檢測包括在解調(diào)信號Sdemod中的誤差；系數(shù)控制單元80和81，根據(jù)誤差檢測單元78和79的信息，用于分別控制串音偏移系數(shù)；一AGC(自動增益控制)電路，用于以根據(jù)信號Ssub1的信號振幅的放大度來放大從系數(shù)控制單元80輸出的系數(shù)k1；一AGC(自動增益控制)電路83，用于以根據(jù)信號Ssub2的信號振幅的放大度來放大從系數(shù)控制單元81輸出的系數(shù)k2；一AGC(自動增益控制)電路84，其中根據(jù)信號Smain的信號振幅控制放大度；一跟蹤控制單元TC，用于執(zhí)行拾取器的跟蹤控制；以及一跟蹤致動器TA，用于驅(qū)動該拾取器。誤差檢測單元78和79可共用為一檢測單元。
AGC電路82-84被構(gòu)造為如圖22和23中每一個所示的AGC電路51。
如圖28所示，信息再現(xiàn)裝置600具有一載波生成單元86，用于生成具有不同相位的兩個載波信號Ci和Cq。載波生成單元86的組成如圖24中所示的載波生成單元67。
延遲單元71、72及73被提供以消除上述用于讀取三個磁道的擺動的檢測器的光點間的相對位置關(guān)系。如此，從延遲單元71至73輸出的信號等于在光盤的徑向方向中三個光點被平均地排列的情況下的檢測信號。
解調(diào)單元74通過載波信號Ci解調(diào)延遲單元71的輸出信號，并輸出Ss1-i以及解調(diào)延遲單元71的輸出信號并輸出信號Ss1-q。
解調(diào)單元75通過載波信號Ci解調(diào)延遲單元71的輸出信號，并輸出Smm-i以及解調(diào)延遲單元71的輸出信號并輸出信號Smm-q。信號Smm-i減去減法器87的輸出信號和減法器89的輸出信號得出地址信號Sm-i。另外，信號Smm-q減去減法器88的輸出信號和減法器90的輸出信號得出地址信號Sm-q。解調(diào)單元76通過載波信號Ci解調(diào)延遲單元73的輸出信號，并輸出信號Ss2-i；以及解調(diào)延遲單元73的輸出信號Cq，并輸出信號Ss2-q。誤差檢測單元78檢測和輸出分別與地址解調(diào)信號Sm-i和信號Sm-q的理想信號有關(guān)的誤差CT-i和CT-q。如圖28所示，系數(shù)控制單元80的計算單元80a將信號Ss1-i和CT-I相乘，以及將信號Ss1-q和CT-q相乘。系數(shù)控制單元80的計算單元80a將如上所述兩個相乘得出的信號相加，并進一步，系數(shù)控制單元80的累計單元80b將相加的信號彼此累計，從而得出系數(shù)k2。如此，如在系數(shù)控制單元63中，以二維方式執(zhí)行相關(guān)性檢測。系數(shù)控制單元80的構(gòu)造與信息再現(xiàn)裝置500的系數(shù)控制單元63相同。另外，系數(shù)控制單元80的操作與系數(shù)控制單元63相同，在此省去對此的描述。圖25中所示的結(jié)構(gòu)以及如圖26中所示的二維相關(guān)性檢測方法也被適用于系數(shù)控制單元80。如圖28中所示，系數(shù)k1被發(fā)送到乘法器87和88，以及信號Sm-i減去系數(shù)k1和信號Ss1-i的乘積，以及信號Sm-q減去系數(shù)k1和信號Ss1-q的乘積，另外，系數(shù)k2被發(fā)送到乘法器89和90，以及信號Sm-i減去系數(shù)k2和信號Ss2-i的乘積，以及信號Sm-q減去系數(shù)k2和信號Ss2-q的乘積。信號Sm-i減去上述乘積得出地址解調(diào)信號Sm-i。在通過兩個回路引起的反饋控制下，系數(shù)k1和k2被控制以便來自相鄰磁道的串音是最小。如此，來自與地址解調(diào)信號Sm-i有關(guān)的相鄰磁道的串音被消除。在信息再現(xiàn)裝置600中，盡管通過對減法器87至90解調(diào)后的信號執(zhí)行減法運算，從而消除串音，但對于解調(diào)前的信號也可消除串音。另一方面，系數(shù)k1通過AGC電路82被調(diào)整到根據(jù)信號Ssub1的振幅的值。系數(shù)k2通過AGC電路83被調(diào)整到根據(jù)信號Ssub2的振幅的值。通過AGC電路82和83調(diào)整的值間的差值被進一步通過AGC電路84調(diào)整到根據(jù)信號Smain的振幅的值并且該調(diào)整后的值被輸入到跟蹤控制單元TC。跟蹤致動器TA通過跟蹤控制單元TC被控制。分別表示信號Ssub1、Smain以及Ssub2的振幅的信號被輸入到AGC電路82至84。由于這些信號，信號Ssub1、Smain和Ssub2被分別解調(diào)后獲得的信號可被輸入。假若這樣，信號中的噪音合成與如解調(diào)前的信號Ssub1、Smain以及Ssub2被直接輸入的情況或類似情況相比被降低。因此，具有AGC電路51-53能被精確操作的優(yōu)點。如此，在信息再現(xiàn)裝置600中，在前饋控制下，與當(dāng)使每一磁道的擺動信號振幅同等地恒定時相似的操作被保證。因此，與在信息再現(xiàn)裝置500中一樣，根據(jù)RF數(shù)據(jù)是否被記錄在一磁道中防止由于磁道的目標(biāo)值信號發(fā)生偏移的現(xiàn)象。代替前饋控制，如在信息再現(xiàn)裝置500中一樣，可使用反饋控制。在信息再現(xiàn)裝置600中，通過AGC電路使每一個磁道的擺動信號振幅為恒定，從而與圖21中所示的一樣使防止跟蹤的目標(biāo)值信號的偏移成為可能。另外，在信息再現(xiàn)裝置600中，實質(zhì)上信號Smain的電平通過AGC電路被調(diào)整。即使主磁道信號的電平調(diào)整被消除，由于跟蹤的目標(biāo)值信號，通過相鄰磁道的信號的電平調(diào)整，偏移不會發(fā)生。然而，假若這樣，如圖27中所示，當(dāng)再現(xiàn)光束偏離軌跡上時偏移檢測靈敏度改變。
如信息再現(xiàn)裝置500中一樣，信息再現(xiàn)裝置600抽取解調(diào)后信號的串音。從而，如上所述，能比較容易地分離噪音(串音)，以及串音能被有效抽取。
在信息再現(xiàn)裝置600中，盡管用于串音抽取所使用的載波信號中的一個與用于數(shù)據(jù)解調(diào)的一載波信號一致，串音抽取和數(shù)據(jù)解調(diào)可由使用安全分離的載波信號來執(zhí)行。另外，在信息再現(xiàn)裝置600中，盡管用于串音抽取的兩個載波信號間的相位差被設(shè)置為90度，相位差可是除0度的任何角度(包括180度)。另外，為解調(diào)相鄰磁道的信號(信號Ssub1以及Ssub2)，不使用相同的載波信號。
特別地，延遲部件和解調(diào)部件的順序并不局限于本發(fā)明。另外，作為借助于擺動的光盤的記錄地址信息的系統(tǒng)，具有根據(jù)地址信息記錄擺動解調(diào)的FM的系統(tǒng)或根據(jù)地址信息記錄擺動調(diào)相的系統(tǒng)。在本發(fā)明的信息再現(xiàn)裝置中，關(guān)于地址信息記錄系統(tǒng)的應(yīng)用范圍不受限制。另外，由擺動記錄的信息并不限于地址信息。
另外，解調(diào)單元、誤差檢測單元、系數(shù)控制單元、以及北乘法單元可被集成為一集成電路(IC)。
上述構(gòu)造的誤差檢測單元的操作或類似將在下面的實施例中描述。
下面的實施例描述當(dāng)本發(fā)明應(yīng)用到用于讀取光盤的信息(特別是擺動和地址信息)的信息再現(xiàn)裝置時的例子，該光盤使用通過調(diào)相記錄地址信息的系統(tǒng)。
其他實施例以下，根據(jù)本發(fā)明，信息再現(xiàn)裝置的其他實施例將參考圖6至圖16來描述。
圖6是描述信息再現(xiàn)裝置的實施例的結(jié)構(gòu)的電路圖，圖7是表示用于讀取光盤中記錄的信息的光學(xué)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)的視圖，圖8是表示地址信息記錄系統(tǒng)的視圖。另外，圖9是表示分別在解調(diào)單元201至203中解調(diào)方法的視圖，圖9A是表示擺動信號、載波信號以及在解調(diào)部件的乘法信號間的關(guān)系的視圖，圖9B是表示用于在解調(diào)單元的解調(diào)的示范性電路的視圖。
首先，描述信息再現(xiàn)裝置400從光盤DK中讀取信息的的地址信息的記錄方法。
如圖8所示，光盤DK的地址信息通過使用二進制數(shù)據(jù)0和1被記錄到每一組(every group)中。如圖8和9中所示，這些組以周期性正弦波的形式被擺動，以及形成地址信息的數(shù)據(jù)0和1被認(rèn)為分別具有0度和180度相位的一周期的擺動。擺動的頻率被定位在跟蹤伺服帶寬以及RF信號帶寬間。
接著，將描述信息再現(xiàn)裝置400。
如圖6和7所示，信息再現(xiàn)裝置400包括一激光器101；一衍射光柵102；一光束分離器103；一物鏡104；一光檢測器105；包括一低通濾波器201a的一解調(diào)單元201；包括一低通濾波器202a和一PLL電路202b的一解調(diào)單元202；包括一低通濾路器203a的一解調(diào)單元203；系數(shù)控制裝置205和206以及放大器211和212。
以下，將描述每一單元的詳細(xì)情況和操作。
激光器101生成一光束B，用于再現(xiàn)具有一預(yù)定強度的信息，并將其發(fā)射給衍射光柵102。衍射光柵102將光束B分成將發(fā)射到主磁道MT上的主光束MB以及將發(fā)射到副磁道ST1和ST2上的副光束SB1和SB2，在主磁道MT記錄將被再現(xiàn)的信息，副磁道ST1和ST2形成在主磁道的靠近主磁道的兩側(cè)上，以及各個光束被發(fā)射到光束分離器103。
所分的主光束MB和副光束SB1和SB2通過光束分離器103并被發(fā)射到物鏡104。
從而，物鏡104聚焦分別在主磁道MT、副磁道ST1以及副磁道ST2h的主光束MB、副光束要以及副光束SB2。同時，通過主光束MB，光點SPM形成在主磁道MT上的發(fā)射位置，通過副光束SB1，光點SP1形成在副磁道ST1上的發(fā)射位置，以及光點SP2形成在副磁道ST2上的發(fā)射位置。如圖8所示，光點SPM、光點SP1以及光點SP2排列在傾向于光盤DK的半徑的方向中并且它們被放置光盤的圓周方向中的分別偏離的位置中(讀取信息的方向)。
來自光盤DK的主光束MB、副光束SB1以及副光束SB2的反向光通過最初主光束MB以及副光束SB1和SB2被會聚在光束分離器103。此時，來自光盤DK的主光束MB、副光束SB1以及閃光束SB2的反射光的偏振表面以一小的角度被旋轉(zhuǎn)，通過光盤DK的反射。
因此，光束分離器103反射偏振表面被旋轉(zhuǎn)的反射光并且單獨地將各個反射光發(fā)射在光檢測器105上。
如圖6所示，光檢測器105具有檢測器151、152和153，用于分別接受三個反射光以及提供推挽信號。各個檢測器151、152和153包括分別為一對的傳感器151a和151b、傳感器152a和152b以及傳感器153a和153b。各個檢測器151、152和153生成三個檢測信號(推挽信號)Swsub1、Swmain以及Swsub2，每個檢測信號是由各個傳感器(如152a和152b)的檢測信號間的差值。
此時，檢測信號Swmain與主光束MB的反射光一致，檢測信號Swsub1與副光束SB1的反射光一致，檢測信號Swsub2與副光束SB2的反射光一致。
檢測信號(推挽信號)Swsub1被提供給解調(diào)單元201，檢測信號(推挽信號)Swmain被提供給解調(diào)單元202，檢測信號(推挽信號)Swsub2被提供給解調(diào)單元203。
接著，描述解調(diào)單元201至203的操作。
如圖9A所示，在光盤DK中，二進制地址信息通過兩種類型的調(diào)相擺動信號(正弦波)的0度和180度被記錄。在通過如圖9A所示的擺動信號乘以載波信號(圖9A中相位0度的正弦波)，表示依賴擺動信號的相位的輸出值的解調(diào)信號能通過將通過相乘所獲得的乘積信號傳遞給低通濾波器(低通濾波器201a、202a及203a)來獲得。
如圖9B所示，通過將擺動信號輸入到PLL電路生成載波信號。載波信號被乘以擺動信號，從而生成乘法信號，并進一步將乘積信號提供給低通濾波器252，從而獲得一低通濾波器輸出。
如圖6所示，在解調(diào)單元202中，通過使用將檢測器152的檢測信號(推挽信號)Swmain提供給PLL電路202b獲得的載波信號來解調(diào)檢測信號Swmain。如第一實施例所述，由于發(fā)射在副磁道ST1、主磁道MT以及副磁道ST2的光點SP1、SPM以及SP2在讀取信息的方向中被分別偏離，在所有解調(diào)單元201至203中使用相同載波信號不能應(yīng)付從各個磁道讀取的檢測信號的相位。因此，由PLL電路202b生成的載波信號不被直接提供給解調(diào)單元201和203，而是通過移相器217提供給解調(diào)單元201以及通過移相器218提供給解調(diào)單元203。該載波信號的移相使將輸入到解調(diào)單元201和203中的載波信號的相位調(diào)整到檢測信號的相位成為可能。
在系數(shù)控制單元205中，基于由解調(diào)單元201的低通濾波器201a提供的推挽解調(diào)信號S201以及最終提供的地址解調(diào)信號Sdemod，控制系數(shù)k1被提供給放大器211。
在系數(shù)控制單元206中，基于由解調(diào)單元203的低通濾波器203a提供的推挽解調(diào)信號S202和最終提供的地址解調(diào)信號Sdemod間的比較，控制系數(shù)k2被提供給放大器212。
從解調(diào)單元202的低通濾波器202a提供的推挽解調(diào)信號S205減去放大器211和212的輸出值，從而消除依賴各個系數(shù)k1和k2的串音并生成地址解調(diào)信號Sdemod。
在圖6的電路中，由系數(shù)控制單元205和放大器211形成的環(huán)路執(zhí)行用于定義系數(shù)k1的反饋控制以便減小包含地址解調(diào)信號Sdemod中的副磁道ST1的推挽信號的串音。由系數(shù)控制單元206和放大器212形成的環(huán)路執(zhí)行用于定義系數(shù)k2的反饋控制以便減小包含地址解調(diào)信號Sdemod中的副磁道ST2的推挽信號的串音。
如圖6所示，裝置400包括跟蹤控制單元TC3，用于執(zhí)行拾取器的跟蹤控制；以及跟蹤致動器TA3，用于驅(qū)動該拾取器。
如圖6所示，從系數(shù)控制單元205b輸出的系數(shù)k1和從系數(shù)控制單元206b輸出的系數(shù)k2間的差值被輸入到跟蹤控制單元TC3。根據(jù)系數(shù)k1和k2間的差值，跟蹤控制單元TC3控制跟蹤致動器TA3。特別地，跟蹤控制單元TC3控制跟蹤致動器TA3以便系數(shù)k1和k2間的差值為0。如此，能實現(xiàn)精確跟蹤控制，很難受徑向傾斜和徑向鏡頭移動的影響。
將參考圖10至16來描述由系數(shù)控制單元執(zhí)行的系數(shù)控制方法。雖然將描述系數(shù)控制方法，但為了方便起見，下面描述的各種方法不僅能用于本實施例而且能用到上述基本結(jié)構(gòu)。
圖10是表示控制一自適應(yīng)系數(shù)的方法的例子的概略視圖。
在圖10所示的例子中，串音消除后的主磁道的解調(diào)地址信號的誤差(串音)被檢測以及該誤差與相鄰主磁道的磁道(副磁道)的解調(diào)信號間的相關(guān)性被檢驗。通過依賴結(jié)合該相關(guān)值確定的系數(shù)的強度，主磁道的信號減去相鄰磁道的信號。根據(jù)該過程，當(dāng)沒有相關(guān)性時，換句話說，當(dāng)主磁道的信號的串音被完全消除時，實際上系數(shù)變得穩(wěn)定。
接著，描述檢測誤差的方法。
作為檢測一誤差的方法，在圖11和圖12中示出了一些方法。
圖11是表示包括沒有串音的理想波形以及主磁道解調(diào)后波形的視圖；以及圖12是表示用于檢測一誤差的框圖的示意圖。
在該方法中，串音消除后主磁道的解調(diào)信號值與參考電平(電平(+)以及電平(-1)的二進制值)比較。二進制值的參考電平通過將主磁道解調(diào)后的信號電平轉(zhuǎn)換成二進制碼(+1和-1)并檢驗該數(shù)據(jù)確定；如果檢驗數(shù)據(jù)是“+1”，它可與電平(+1)比較，以及如果檢驗數(shù)據(jù)是“-1”，它可與電平(-1)比較。例如，參考電平，電平(+1)以及電平(-1)可通過串音消除前主磁道的解調(diào)信號電平平均為每一檢驗電平(“+1”和“-1”)來確定。另外，它可通過將串音消除后主磁道的解調(diào)信號平均為每一檢驗電平(“+1”和“-1”)來確定。
圖13和14表示使用在0交叉點的電平作為檢測誤差的方法的情形。圖13是表示主磁道解調(diào)后的波形以及不包括串音的理想波形，以及圖14是表示用于檢測一誤差的框圖的概略視圖。
如圖13和14所示，該誤差檢測方法采用在串音消除后主磁道的解調(diào)信號中的0交叉點處的信號電平。
假若這樣，由于參考電平終端是電平(0)，沒有必要轉(zhuǎn)換參考電平并且具有確定誤差檢測而不受信號的振幅的影響的優(yōu)點。然而，在0交叉點處，有必要當(dāng)主磁道的解調(diào)信號應(yīng)當(dāng)為0時采樣一信號，因此采樣開關(guān)ssw成為必要。例如，如圖16所示，通過根據(jù)當(dāng)將串音消除后的主磁道的解調(diào)信號電平轉(zhuǎn)換成二進制碼時的時間打開采樣開關(guān)ssw，允許在0交叉點采樣。
在該方法中，在0交叉點的采樣值與參考電平，電平(0)進行比較，并如圖12所示，上述差值被及時統(tǒng)一平均，從而確定該系數(shù)。
在圖15和16中所示的方法是將串音消除后的主磁道的解調(diào)信號值分別與具有參考電平(電平(+1)、電平(-1)以及電平(0)的三個值)的0交叉點處的值進行比較作為檢測一誤差的方法。圖17是表示主磁道解調(diào)后的波形與不包括串音的理想波形的視圖以及圖16是表示用于檢測一誤差的框圖的概略視圖。
該方法是通過將如圖11和12中所示的方法與圖13和14中所示的方法結(jié)合所產(chǎn)生的。使用的三個參考電平通過如圖11和12所示的相同方法來確定。另外，通過如圖13和14所示的相同方法能執(zhí)行在0交叉點的檢驗。
通過將串音消除后的主磁道的解調(diào)信號電平平均為每一檢驗電平(“+1”、“0”、“-1”)來確定參考電平。另外，可通過將串音消除后主磁道的解調(diào)信號電平平均為每一檢驗電平(“+1”、“0”、“-1”)來確定。
由于在該方法中串音消除后主磁道的解調(diào)信號的誤差相對于三個值(+1、-1以及0)被抽取，用于誤差檢測的采樣的數(shù)量被增加，從而具有在系數(shù)控制方面降低噪音影響的優(yōu)點。
應(yīng)用到信息再現(xiàn)裝置500或信息再現(xiàn)裝置600的AGC電路或通過二維矢量檢測多種信號的方法被應(yīng)用到每一個參考圖1至15所描述的信息再現(xiàn)裝置，因此與在信息再現(xiàn)裝置500和600中一樣，上述問題能被解決。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明的信息再現(xiàn)裝置，基于通過串音抽取裝置抽取的第二磁道的串音和第三磁道的串音間的平衡，第一檢測裝置的跟蹤控制被執(zhí)行。因此，即使徑向鏡頭移動或徑向傾斜發(fā)生，也能實現(xiàn)精確控制。
權(quán)利要求
1.一信息再現(xiàn)裝置，用于讀取光記錄介質(zhì)(DK)的信息，其特征在于，該裝置包括一第一檢測裝置(152)，提供由用于讀取第一磁道(MT)的信息的一對檢測器光學(xué)地獲得的各個輸出信息間的差值；一第二檢測裝置(151)，提供由用于讀取與第一磁道相鄰(MT)的第二磁道(ST1)的信息的一對檢測器光學(xué)地獲得的各種輸出信息間的差值；一第三檢測裝置(153)，提供由用于讀取與第一磁道相鄰(MT)的第三磁道(ST2)的信息的一對檢測器光學(xué)地獲得的各種輸出信息間的差值，第三磁道(ST2)和第二磁道(ST1)位于第一磁道(MT)的對側(cè)；一串音抽取裝置(205，206)，抽取由第二磁道(ST1)和第三磁道(ST2)引起的串音，該串音包含在由第一檢測裝置(152)提供的檢測信號中；一跟蹤控制裝置(TC3，TA3)，基于由第二磁道(ST1)引起的串音和第三磁道(ST2)引起的串音間的平衡，執(zhí)行對第一檢測裝置(152)的跟蹤控制。
2.如權(quán)利要求1所述的信息再現(xiàn)裝置，其中第一檢測裝置(152)、第二檢測裝置(151)以及第三檢測裝置(153)檢測在光記錄介質(zhì)(DK)上形成的磁道的擺動。
3.如權(quán)利要求1或2所述的信息再現(xiàn)裝置，其中該裝置進一步包括一系數(shù)控制裝置(205b，206b)，基于由串音抽取裝置(205，206)抽取的串音，控制一系數(shù)；以及一串音消除裝置(211，212)，基于由系數(shù)控制裝置(205，206)計算的系數(shù)，消除上述串音，其中基于由系數(shù)控制裝置(205b，206b)計算的系數(shù)間的平衡，跟蹤控制裝置(TC3，TA3)執(zhí)行對第一檢測裝置(152)的跟蹤控制。
4.如權(quán)利要求3所述的信息再現(xiàn)裝置，其中跟蹤控制裝置(TC3，TA3)執(zhí)行跟蹤控制以便使基于由第二磁道(ST1)引起的串音的系數(shù)和基于由第三磁道(ST2)引起的串音的系數(shù)間的差值為0。
5.如權(quán)利要求3所述的信息再現(xiàn)裝置，其中該裝置進一步包括一第一解調(diào)裝置(202)，解調(diào)由第一檢測裝置(152)提供的檢測信息；一第二解調(diào)裝置(201)，解調(diào)由第二檢測裝置(151)提供的檢測信息；一第三解調(diào)裝置(203)，解調(diào)由第三檢測裝置(153)提供的檢測信息；其中系數(shù)控制裝置(205b，206b)，基于由通過第一解調(diào)裝置(202)獲得的解調(diào)信號所抽取的串音，控制該系數(shù)。
6.如權(quán)利要求5所述的信息再現(xiàn)裝置，其中第一解調(diào)裝置(58)、第二解調(diào)裝置(57)以及第三解調(diào)裝置(59)通過使用具有不同相位的兩個載波信號分別解調(diào)該檢測信號。
7.如權(quán)利要求5所述的信息再現(xiàn)裝置；其中該裝置進一步包括一載波信息生成裝置(86)，生成第一磁道(MT)的載波信號，該載波信號被提供給第二解調(diào)裝置(201)和第三解調(diào)裝置(203)；以及一調(diào)相裝置(217，218)，根據(jù)第一檢測裝置(152)、第二檢測裝置(151)和第三檢測裝置(153)的輸出信號的相位，調(diào)整載波信號的相位。
8.如權(quán)利要求5所述的信息再現(xiàn)裝置，其中第一解調(diào)裝置(202)、第二解調(diào)裝置(201)以及第三解調(diào)裝置(203)解調(diào)這些擺動，這些擺動是調(diào)相的。
9.如權(quán)利要求1-8中任何一個所述的信息再現(xiàn)裝置，其中該裝置進一步包括一補償裝置(217、218)，補償與在第一檢測裝置(152)、第二檢測裝置(151)以及第三檢測裝置(153)中讀取信息的方向中的位移一致的時間，其中跟蹤控制裝置(TC，TA)，在補償裝置(217、218)補償由第一檢測裝置(152)、第二檢測裝置(151)以及第三檢測裝置(153)提供的信號的時間的條件下，基于由第二磁道(ST1)引起的串音和第三磁道(ST2)引起的串音間的平衡，執(zhí)行對第一檢測裝置(152)的跟蹤控制，以便彼此同相。
10.如權(quán)利要求9所述的信息再現(xiàn)裝置，其中該裝置進一步包括一串音平衡調(diào)整裝置(51、53)，響應(yīng)由第二檢測裝置(151)和第三檢測裝置(153)提供的檢測信號(Ssub1，Ssub2)的信號振幅，調(diào)整第二磁道(ST1)引起的串音和由第三磁道(ST2)引起的串音間的平衡。
11.如權(quán)利要求10所述的信息再現(xiàn)裝置，串音平衡調(diào)整裝置(51，53)將第二檢測裝置(151)和第三檢測裝置(153)的輸出信號(Ssub1，Ssub2)保持一恒定電平。
12.如權(quán)利要求10所述的信息再現(xiàn)裝置，響應(yīng)第二檢測裝置(151)和第三檢測裝置(153)提供的檢測信號(Ssub1，Ssub2)的信號振幅，串音平衡調(diào)整裝置(82，83)調(diào)整該平衡，在由串音抽取裝置(78，79)抽取的串音的基礎(chǔ)上，獲得該平衡。
13.如權(quán)利要求10-12中任何一個所述的信息再現(xiàn)裝置，串音平衡調(diào)整裝置(51、53)調(diào)整通過解調(diào)由第二檢測裝置(151)和第三檢測裝置(153)提供的檢測信號(Ssub1，Ssub2)獲得的信號的基礎(chǔ)上該平衡。
14.如權(quán)利要求9所述的信息再現(xiàn)裝置，響應(yīng)由第一檢測裝置(152)提供的檢測信號的信號振幅，串音平衡調(diào)整裝置(52)調(diào)整由串音抽取裝置(61、62)抽取的串音值。
15.一光記錄介質(zhì)(DK)，其中通過使用信息記錄方法記錄、調(diào)制和擺動信息，在所述介質(zhì)中能記錄另外的信息，其中通過用λ/NA規(guī)格化磁道間距所獲得的值在0.625和0.690間，其中λ表示用于記錄和再現(xiàn)的光學(xué)系統(tǒng)的波長，以及NA表示在該光學(xué)系統(tǒng)中物境(104)的光圈數(shù)。
全文摘要
用于讀取光記錄介質(zhì)的信息的信息再現(xiàn)裝置，包括一第一檢測裝置(152)，提供由讀取第一磁道(MT)的信息的一對檢測器光學(xué)獲得的不同輸出信號間的差值；一第二檢測裝置(152)以及一第三檢測裝置(153)，提供分別由讀取第二磁道(ST1)和第三磁道(ST3)的信息的一對檢測器讀取的各個輸出信號間的差值，第三磁道和第二磁道(ST1，ST2)位于第一磁道(MT)的對側(cè)；一串音抽取裝置(205、206)，抽取由第二和第三磁道(ST1，ST2)引起的串音，該串音包含在由第一檢測裝置(152)提供的檢測信號中；以及一跟蹤控制裝置(TC3，TA3)，基于由第二和第三磁道引起的串音間的平衡，執(zhí)行對第一檢測裝置(152)的跟蹤控制。
文檔編號G11B7/24GK1407545SQ0212974
公開日2003年4月2日 申請日期2002年8月13日 優(yōu)先權(quán)日2001年8月13日
發(fā)明者栗林祐基, 柳澤琢磨 申請人:日本先鋒公司