專利名稱：磁帶卡盤的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及在卡盤外殼內(nèi)可轉(zhuǎn)動(dòng)地收容卷裝磁帶的單一卷軸的磁帶卡盤，特別是涉及為了對(duì)外殼進(jìn)行定位的結(jié)構(gòu)。
向來作為在計(jì)算機(jī)等外部存儲(chǔ)裝置上的記錄媒體所使用的磁帶卡盤中，在單一的卷軸上卷裝磁帶，使該卷軸可以轉(zhuǎn)動(dòng)的收容在卡盤外殼內(nèi)。由于該磁帶作為計(jì)算機(jī)等保存數(shù)據(jù)使用，存儲(chǔ)重要的信息，所以其構(gòu)成不應(yīng)產(chǎn)生帶卡住等故障，并且在不小心時(shí)使磁帶拉不出來。
另外，在上述磁帶卡盤裝在記錄重放裝置時(shí)，要求正確地定位。例如，在卡盤外殼的側(cè)面上形成定位部，在該定位部的接觸壁面上接觸記錄重放裝置的定位構(gòu)件，保持在規(guī)定位置，還在卡盤外殼的底面上形成基準(zhǔn)面，在該基準(zhǔn)面上接觸記錄重放裝置的定位構(gòu)件，保持在規(guī)定高度的位置，限制對(duì)記錄重放裝置的磁帶饋送高度，得到記錄重放特性。
可是，上述卡盤外殼是由塑料成形的上下外殼的結(jié)合構(gòu)成，在該側(cè)壁面上加有為從模具拉出成形品的拔模斜度。另外，有的在外殼表面上形成的細(xì)微凸凹花紋(皺紋)，去掉光澤，使由成形產(chǎn)生的表面不均勻花紋看不出來。另外，下外殼在底壁的周圍形成有側(cè)壁的大體矩型狀，在內(nèi)部配置有沿著卷軸外圍的園弧狀的內(nèi)凸緣，同時(shí)配置與外殼擰螺釘?shù)妮嗇灢?，另外，形成?duì)開口部開閉的滑動(dòng)部分、防止寫入用的寫保護(hù)的裝放部等，在其底壁上形成凸緣及臺(tái)階等。
于是，在這樣的卡盤外殼上，如上所述為了提高成型時(shí)的脫膜性，在側(cè)壁面上設(shè)置有拔膜斜度，在定位部的接觸面上也同樣形成拔膜斜度，定位構(gòu)件的接觸位置在上下方向變動(dòng)時(shí)，對(duì)應(yīng)于上述拔膜斜度，使定位位置改變，存在定位不穩(wěn)定的問題。
另外，當(dāng)在卡盤外殼底面具有的基準(zhǔn)面上發(fā)生成形時(shí)的“縮孔”時(shí)，該基準(zhǔn)面的平坦性、面精度降低，不能確保定位精度。
本發(fā)明是鑒于以上問題而作出的，其目的在于提供一種磁帶卡盤，以提高外殼側(cè)壁面的定位部、外殼底面基準(zhǔn)面的定位精度。
本發(fā)明的磁帶卡盤，在卡盤的外殼中可轉(zhuǎn)動(dòng)地收容卷裝磁帶的單一卷軸，其特征在于上述卡盤外殼在側(cè)面上具有接觸記錄重放裝置定位構(gòu)件的接觸側(cè)壁的定位部，上述接觸側(cè)壁面的拔模斜度比其他的外殼側(cè)壁面的拔模斜度形成的小。
上述定位部的接觸壁面的表面粗糙度要小，使脫模性提高。
另外，本發(fā)明另一磁帶卡盤，在卡盤的外殼中可轉(zhuǎn)動(dòng)地收容卷裝磁帶的單一卷軸，其特征在于上述卡盤外殼在底面上具有接觸記錄重放裝置定位構(gòu)件的基準(zhǔn)面，該基準(zhǔn)面的形成部分的外殼底壁形成沒有凸緣及臺(tái)階的均勻厚度。
當(dāng)使上述外殼底壁做成薄壁時(shí)，則成為更不會(huì)產(chǎn)生成形縮孔的結(jié)構(gòu)。
根據(jù)上述的本發(fā)明，通過使卡盤外殼側(cè)面定位部上的接觸壁面的拔膜斜度作成比其他的外殼側(cè)壁面的拔膜斜度小，即使記錄重放裝置的定位構(gòu)件的接觸位置在上下方向上錯(cuò)位，也可以減小由此產(chǎn)生對(duì)定位精度的影響，從而可使定位精度穩(wěn)定化，并可以使記錄重放裝置上的磁帶卡盤的位置及形位保持良好。
當(dāng)使上述定位部的接觸壁的表面粗糙度小，具有光澤面或細(xì)微凸凹花紋時(shí)，即使減小上述拔膜斜度也可以確保成形時(shí)的脫模性，可以抑制脫模不良的發(fā)生。
另外，根據(jù)其他的本發(fā)明，使在卡盤外殼的底面具有與記錄重放裝置的定位構(gòu)件相接觸的基準(zhǔn)面的外殼底壁形成沒有凸緣及臺(tái)階的均勻厚度，形成該基準(zhǔn)面的外殼底壁形成不產(chǎn)生成形縮孔的結(jié)構(gòu)，不會(huì)有隨著基準(zhǔn)面上產(chǎn)生縮孔而產(chǎn)生的坑洼，可確保基準(zhǔn)面的平坦性及面精度，可以得到定位精度的穩(wěn)定性，可以使記錄重放裝置的磁帶卡盤的高度位置保持良好。
下面對(duì)附圖及其標(biāo)號(hào)作簡單說明。


圖1為對(duì)本發(fā)明的一實(shí)施例的磁帶卡盤拉出磁帶的狀態(tài)透視圖。
圖2為卡盤外殼的仰視圖。
圖3為圖2的A-A剖視圖。
圖4為圖2的B-B剖視圖。
圖5為圖2的C-C剖視圖。
圖6為圖2的D-D剖視圖。
圖7為表示產(chǎn)生形成縮孔狀態(tài)的剖視圖。
在上述附圖中，1-磁帶卡盤，2-卡盤外殼，2a-上外殼，2b-下外殼，2c-底壁，4-磁帶，5-卷軸，7-拉出銷，11、12-定位構(gòu)件，23、24-定位部，23a、24a-接觸壁面，26、27-基準(zhǔn)孔，26a、27a-前部基準(zhǔn)部，28-后部基準(zhǔn)面。
實(shí)施例下面參照附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說明。圖1是實(shí)施例的磁帶卡盤拉出磁帶的狀態(tài)透視圖，圖2是卡盤外殼的仰視圖，圖3～圖6是圖2的A-A～D-D剖視圖。下面說明中的前后左右方向是對(duì)應(yīng)于磁帶卡盤裝放方向(圖1的斜右上方向)標(biāo)記的。
磁帶卡盤1在上外殼2a和下外殼2b通過螺釘?shù)冗B結(jié)構(gòu)成的大體為矩形狀的扁平卡盤外殼2內(nèi)，可轉(zhuǎn)動(dòng)的收容單一的卷軸5，該卷軸上卷裝在末端固著拉出銷(拉出構(gòu)件)的磁帶4。在上述卡盤外殼2的一側(cè)壁(右側(cè)壁)上形成為拉出磁帶4的開口部21，該開口部21通過由圖中未畫出的彈性裝置在關(guān)閉方向賦能的滑動(dòng)門6進(jìn)行開閉。上述磁帶卡盤1在不使用時(shí)，磁帶4完全卷入卷軸5的狀態(tài)下，末端的拉出銷7鎖止在開口部21附近形成的凹狀的裝放部22上。上述拉出銷7作為對(duì)使用磁帶卡盤1的記錄重放裝置為使磁帶4引入裝置內(nèi)的帶移動(dòng)路進(jìn)行保持，作為引入的帶安裝使用。該拉出銷7在磁帶4的尖端上使用端面C形的扣鉤8進(jìn)行固定。
在表示上述卡盤外殼2的底面的圖2中，在下外殼2b的前側(cè)的側(cè)壁(前壁)上設(shè)置有V字形凹部構(gòu)成的第1定位部23(V切口)，同時(shí)在下外殼2b的左右兩側(cè)的側(cè)壁后部形成由矩型凹部構(gòu)成的第2定位部24(側(cè)部切口)。
上述第1定位部23也如圖3所示，對(duì)于在該V形上具有角度的2個(gè)接觸壁面23a，接觸記錄重放裝置的定位構(gòu)件11(由點(diǎn)劃線所示)，進(jìn)行前后方向及前部左右方向的定位。另外，第2定位部24也如圖4所示，對(duì)于該內(nèi)側(cè)面構(gòu)成的接觸壁面24a，接觸記錄重放裝置的定位構(gòu)件12(由點(diǎn)劃線所示)，進(jìn)行后部左右方向的定位。
而且，上述第1及第2定位部23、24的接觸壁面23a、24a的拔模斜度b比下外殼2b的其他側(cè)壁面的拔模斜度a(大于1′)要小，例如設(shè)定為0.5′～1′的程度。另外，包括上述第1和第2定位部23、24的接觸壁面23a、24b在內(nèi)的內(nèi)表面部分形成光澤面，使表面粗糙度小。另外，在第1定位部23的底面附近進(jìn)行倒角(R面)，在圖2中，上述接觸壁面23a的光澤面延長形成V形帶網(wǎng)紋線的區(qū)域。
另外，上述的第1及第2定位部23、24的接觸壁面23a、24a的表面也可以形成表面粗糙度小的凸凹花紋(細(xì)微皺紋)，代替光澤面，該凸凹高度在相當(dāng)對(duì)應(yīng)于上述拔模斜度b的壁面上下的尺寸差的范圍上進(jìn)行設(shè)定，確保脫模性。
另外，如圖2所示，在上述下外殼2b的底面前部兩側(cè)上形成矩形及長園形的基準(zhǔn)孔26、27，該基準(zhǔn)孔26、27的周圍在平坦的前部基準(zhǔn)面26a、27a(網(wǎng)紋線部分)上形成。另外，后部兩端的底面在平坦的后部基準(zhǔn)面28、28(網(wǎng)紋部分)上形成。在上述下外殼2b的底面上，帶網(wǎng)紋的上述前部基準(zhǔn)面26a、27a及后部基準(zhǔn)面28、28的部分在沒有凸凹的光澤面上形成，其他部分實(shí)施細(xì)微凸凹花紋(皺紋)。
對(duì)于上述基準(zhǔn)孔26、27從下方插入記錄重放裝置的圖中未畫出的基準(zhǔn)銷，在該基準(zhǔn)銷的高度位置規(guī)定部上接觸前部基準(zhǔn)面26a、27a，由此進(jìn)行前后左右及前部的高度方向的定位，同時(shí)對(duì)于后部兩端部的后部基準(zhǔn)面28、28，接觸記錄重放裝置的圖中未畫出的基準(zhǔn)構(gòu)件的高度位置規(guī)定部，由此進(jìn)行后部高度方向的定位。
而且，前部基準(zhǔn)面26a、27a及后部基準(zhǔn)面28、28形成的下外殼2b的底壁2c如圖5及圖6所示，在這些基準(zhǔn)面的主要部分的內(nèi)側(cè)，形成沒有凸緣及臺(tái)階的均勻厚度。在該均勻厚度的底壁2c部分上成形時(shí)不會(huì)產(chǎn)生縮孔，在底面上不會(huì)形成坑洼，上述基準(zhǔn)面26a、27a、28、28平坦地成形。另外，當(dāng)上述外殼底壁2c是薄壁時(shí)，將是更不會(huì)產(chǎn)生縮孔的結(jié)構(gòu)。
圖5中的基準(zhǔn)孔27(基準(zhǔn)孔26也同樣)在其底面開口部處于未倒角的形態(tài)，但是依據(jù)基準(zhǔn)銷尖端部形狀，在上述底面開口部上也可以進(jìn)行斜度或曲面倒角。
如圖2所示，在上述下外殼2b的底面中央部分形成插入使卷軸5旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)齒輪的開口25。還在下外殼2b的左右的第2定位部24、24與后部基準(zhǔn)面28、28之間的左右兩側(cè)的側(cè)壁上形成凹形的搬運(yùn)切口29、29，在程序庫等保管裝置等上保持搬運(yùn)磁帶卡盤1時(shí)，由搬運(yùn)裝置保持該搬運(yùn)切口29、29。此外，在外殼底面的4個(gè)位置設(shè)置有與上外殼2a和下外殼2b相結(jié)合的螺釘孔30，在后端部設(shè)置有寫保護(hù)9的突起9a滑動(dòng)的長孔31。
在上述卷軸5的中心部設(shè)置有圖中未畫出的限制不使用狀態(tài)卷軸5旋轉(zhuǎn)的制動(dòng)機(jī)構(gòu)。此外，卷軸5的底面的中央部上安裝有吸引保持磁鐵式驅(qū)動(dòng)齒輪的卷軸板，在外圍部刻有與驅(qū)動(dòng)齒輪相咬合的卷軸齒輪。在該卷軸齒輪和驅(qū)動(dòng)齒輪相咬合的狀態(tài)，制動(dòng)機(jī)構(gòu)進(jìn)行解除動(dòng)作，卷軸5可自由轉(zhuǎn)動(dòng)。
上述第1及第2定位部23、24由于是在對(duì)記錄重放裝置的勺斗(圖中未畫出)進(jìn)行定位時(shí)使用的，所以該勺斗在對(duì)應(yīng)磁頭的位置進(jìn)行下降移動(dòng)，進(jìn)行記錄重放時(shí)的定位。該記錄重放時(shí)的定位由下外殼2b底面的上述基準(zhǔn)孔26、27(前部基準(zhǔn)面26a、27a)及后部基準(zhǔn)面28、28進(jìn)行。
根據(jù)本實(shí)施例，通過使卡盤外殼2的下外殼2b側(cè)面形成的第1及第2定位部23、24的接觸壁面23a、24a的拔模斜度比其他外殼側(cè)壁面的拔模斜度小，即使記錄重放裝置的定位構(gòu)件的接觸位置在上下方向錯(cuò)開，由此產(chǎn)生的停止位置變動(dòng)變小，使定位精度穩(wěn)定。另外，由于使上述接觸壁面23a、24a的表面是沒有凸凹的光澤面，所以即使減少其拔模斜度b也可確保成形時(shí)的脫模性。
另外，由于將卡盤外殼2的下外殼2b的底面上形成前部基準(zhǔn)面26a、27a及后部基準(zhǔn)面28、28部分的底壁2c作成沒有凸緣和臺(tái)階的均勻厚度，是難于產(chǎn)生成形縮孔的結(jié)構(gòu)，所以在上述基準(zhǔn)面上不會(huì)產(chǎn)生縮孔引起的坑洼，可以形成沒有凸凹的可進(jìn)行良好高度方向定位的基準(zhǔn)面，提高定位精度并可以穩(wěn)定。
即，在塑料成形中例如圖7所示，當(dāng)在外殼底壁a上立設(shè)凸緣b(或段部)，有厚度差時(shí)，由于樹脂硬化時(shí)的收縮等會(huì)產(chǎn)生縮孔，在對(duì)應(yīng)于上述凸緣b的底壁a的表面上產(chǎn)生坑洼c。而且，當(dāng)在上述基準(zhǔn)面上產(chǎn)生上述坑洼c時(shí)，在該坑洼c與記錄重放裝置的定位構(gòu)件接觸時(shí)，可能會(huì)使定位精度下降，對(duì)記錄重放性有不良影響，對(duì)此進(jìn)行了改善。
另外，上述第1和第2定位部23、24或上述基準(zhǔn)孔26、27(前部基準(zhǔn)面26a、27a)及后部基準(zhǔn)面28、28的設(shè)置數(shù)及設(shè)置位置，除了圖示的花紋之外，對(duì)卡盤外殼2的前后及左右方向或高度方向進(jìn)行定位，經(jīng)適當(dāng)設(shè)計(jì)可以變更為需要的花紋。
權(quán)利要求
1．一種磁帶卡盤，在卡盤的外殼中可轉(zhuǎn)動(dòng)地收容卷裝磁帶的單一卷軸，其特征在于所述卡盤外殼在側(cè)面上具有接觸記錄重放裝置定位構(gòu)件的接觸側(cè)壁面的定位部，所述接觸側(cè)壁面的拔模斜度比其他的外殼側(cè)壁面的拔模斜度形成的小。
2．根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁帶卡盤，其特征在于所述定位部的接觸壁面的表面粗糙度要小。
3．一種磁帶卡盤，在卡盤的外殼中可轉(zhuǎn)動(dòng)地收容卷裝磁帶的單一卷軸，其特征在于所述卡盤外殼在底面上具有接觸記錄重放裝置定位構(gòu)件的基準(zhǔn)面，該基準(zhǔn)面的形成部分的外殼底壁形成沒有凸緣及臺(tái)階的均勻厚度。
4．根據(jù)權(quán)利要求3所述的磁帶卡盤，其特征在于所述外殼底壁薄。
全文摘要
一種磁帶卡盤,在外殼的定位部或基準(zhǔn)面上接觸定位構(gòu)件,對(duì)磁帶卡盤定位時(shí),使該定位精度穩(wěn)定。在可轉(zhuǎn)動(dòng)收容卷裝磁帶4的單一卷軸5的卡盤外殼2的側(cè)面,設(shè)置具有記錄重放裝置的定位構(gòu)件11接觸的接觸壁面23a的定位部23,使該接觸面23a的拔模斜度形成比其他外殼側(cè)面的拔模斜度小。另外,形成卡盤外殼2的底面的基準(zhǔn)面26a、27a、28,使外殼底壁2c形成沒有凸緣及臺(tái)階的均勻厚度。
文檔編號(hào)G11B23/107GK1300071SQ0013342
公開日2001年6月20日 申請(qǐng)日期2000年11月3日 優(yōu)先權(quán)日1999年11月4日
發(fā)明者高橋大助, 志賀英昭, 森田清夫, 石原祐輔 申請(qǐng)人:富士膠片株式會(huì)社