專利名稱：跟蹤控制裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種在光信息記錄和/或再現(xiàn)裝置中的跟蹤伺服技術(shù)。
在光信息記錄和/或再現(xiàn)裝置中，執(zhí)行跟蹤伺服，使得使用于記錄和/或再現(xiàn)信息的光束可跟蹤或跟隨光盤上的信息軌道。有各種跟蹤伺服方法。在這些方法當(dāng)中，從提高從半導(dǎo)體激光器發(fā)射的光束的使用效率看，使用僅一個(gè)光束的“單束跟蹤方法”與使用多個(gè)光束的其它方法相比是有利的。
作為單束跟蹤方法，所謂的(徑向)推挽方法是已知的。推挽方法是檢測二分光檢測器的兩個(gè)輸出之間的不同的方法，其在光盤的徑向方向(其被稱為徑向)上被分開，作為跟蹤誤差信號，從而檢測光束位置相對于光盤上的信息軌道的偏離。
但是，在上面提到的推挽方法中，有一個(gè)問題是由于光拾取器的物鏡與光檢測器的光軸(此后其被稱為透鏡移動(dòng))之間的移動(dòng)而在跟蹤伺服控制的目標(biāo)值中產(chǎn)生偏離或移動(dòng)。
具體講，光拾取器具有一種結(jié)果，使得致動(dòng)器被可移動(dòng)地安裝在滑動(dòng)器上，并且物鏡被可移動(dòng)地安裝在致動(dòng)器上。這里，如果盤片是偏心的或者如果滑動(dòng)器不平滑地在徑向上移動(dòng)，致動(dòng)器僅通過移動(dòng)物鏡來執(zhí)行跟蹤的精細(xì)調(diào)整。
在致動(dòng)器以這種方式移動(dòng)物鏡的情況下，物鏡與光檢測器的光軸(即二分光檢測器的分割線)的相對位置也移動(dòng)。結(jié)果，光斑相對于光檢測器的位置被改變了，從而在跟蹤伺服的目標(biāo)值中產(chǎn)生偏離。
這個(gè)現(xiàn)象參考圖8解釋。在沒有透鏡移動(dòng)的情況下，在光斑被定位在信息軌道的中心線上的條件下跟蹤誤差信號的值變?yōu)椤?”。因此，跟蹤伺服的目標(biāo)值變?yōu)樵c(diǎn)0。但是，如果有物鏡的移動(dòng)，因?yàn)楦櫿`差信號包括由于透鏡移動(dòng)而導(dǎo)致的偏置分量，跟蹤伺服的目標(biāo)值變?yōu)閳D8所示的點(diǎn)0s，從而產(chǎn)生目標(biāo)值的偏離。這個(gè)現(xiàn)象在光盤的軌道間距窄時(shí)更明顯地被觀察到。
因此，本發(fā)明的一個(gè)目的是提供一種跟蹤控制裝置，其能夠通過應(yīng)用單束跟蹤方法而降低透鏡移動(dòng)的影響。
本發(fā)明的上述目的可通過用于盤片的第一跟蹤控制裝置實(shí)現(xiàn)，該盤片具有在盤的記錄軌道的切向上改變形狀或反射系數(shù)的物理因子。第一跟蹤控制裝置具有一個(gè)具有一個(gè)第一檢測器、與該第一檢測器在盤的徑向上相鄰設(shè)置的一個(gè)第二檢測器、與該第二檢測器在切向上相鄰設(shè)置的一個(gè)第三檢測器以及與該第一檢測器在切向上相鄰且與該第三檢測器在徑向上相鄰而設(shè)置的一個(gè)第四檢測器的檢測裝置；一個(gè)用于以第一增益把該第一檢測器的輸出信號和該第四檢測器的輸出信號放大的第一放大裝置；一個(gè)用于以第二增益把該第二檢測器的輸出信號和該第三檢測器的輸出信號放大的第二放大裝置；一個(gè)用于計(jì)算一個(gè)第一求和信號的第一加法裝置，該第一求和信號是該第一檢測器的放大的輸出信號與該第四檢測器的放大的輸出信號之和；一個(gè)用于計(jì)算一個(gè)第二求和信號的第二加法裝置，該第二求和信號是該第二檢測器的放大的輸出信號與該第三檢測器的放大的輸出信號之和；一個(gè)用于計(jì)算該第一求和信號與該第二求和信號的差并把該差作為一個(gè)跟蹤誤差信號輸出的第一減法裝置；一個(gè)用于計(jì)算一個(gè)第一差信號的第二減法裝置，該第一差信號是該第一檢測器的輸出信號與該第四檢測器的輸出信號之差；一個(gè)用于計(jì)算一個(gè)第二差信號的第三減法裝置，該第二差信號是該第二檢測器的輸出信號與該第三檢測器的輸出信號之差；以及一個(gè)用于比較該第一差信號與該第二差信號的振幅并在比較結(jié)果的基礎(chǔ)上確定該第一增益和該第二增益的振幅比較裝置。
根據(jù)本發(fā)明的第一跟蹤控制裝置，跟蹤誤差信號通過計(jì)算第一求和信號與第二求和信號的差而產(chǎn)生，其中該第一求和信號是該第一檢測器與該第四檢測器的輸出信號之和，該第二求和信號是該第二檢測器與該第三檢測器的輸出信號之和。通過比較第一差信號與第二差信號的振幅，其中該第一差信號是該第一檢測器與該第四檢測器的輸出信號之差，該第二差信號是該第二檢測器與該第三檢測器的輸出信號之差，根據(jù)比較的結(jié)果，確定了用于第一求和信號的第一增益和用于第二信號的增益。這里，由于第一差信號的振幅與第二差信號的振幅之間的差表示透鏡移動(dòng)分量，可能通過在表示透鏡移動(dòng)分量的該差的基礎(chǔ)上調(diào)整用于第一和第二求和信號的增益獲得其中消除了透鏡移動(dòng)的影響的跟蹤誤差信號。
本發(fā)明的上述目的也可通過用于盤片的第二跟蹤控制裝置來實(shí)現(xiàn)，該盤片具有在盤的記錄軌道的切向上改變形狀或反射系數(shù)的物理因子。第二跟蹤控制裝置具有一個(gè)具有一個(gè)第一檢測器、與該第一檢測器在盤的徑向上相鄰設(shè)置的一個(gè)第二檢測器、與該第二檢測器在切向上相鄰設(shè)置的一個(gè)第三檢測器以及與該第一檢測器在切向上相鄰且與該第三檢測器在徑向上相鄰而設(shè)置的一個(gè)第四檢測器的檢測裝置；一個(gè)用于以第一增益把第一求和信號放大的第一放大裝置，該第一求和信號是該第一檢測器的輸出信號與該第四檢測器的輸出信號之和；一個(gè)用于以第二增益把第二求和信號放大的第二放大裝置，該第二求和信號是該第二檢測器的輸出信號與該第三檢測器的輸出信號之和；一個(gè)用于計(jì)算該第一求和信號與該第二求和信號的差并把該差作為一個(gè)跟蹤誤差信號輸出的第一減法裝置；一個(gè)用于計(jì)算第一差信號的第二減法裝置，該第一差信號是該第一檢測器的輸出信號與該第四檢測器的輸出信號之差；一個(gè)用于計(jì)算第二差信號的第三減法裝置，該第二差信號是該第二檢測器的輸出信號與該第三檢測器的輸出信號之差；以及一個(gè)用于比較該第一差信號與該第二差信號的振幅并在比較結(jié)果的基礎(chǔ)上確定該第一增益和該第二增益的振幅比較裝置。
根據(jù)本發(fā)明的第二跟蹤控制裝置，跟蹤誤差信號通過計(jì)算第一求和信號與第二求和信號的差而產(chǎn)生，其中該第一求和信號是該第一檢測器與該第四檢測器的輸出信號之和，該第二求和信號是該第二檢測器與該第三檢測器的輸出信號之和。通過比較第一差信號與第二差信號的振幅，其中該第一差信號是該第一與該第四檢測器的輸出信號之差，該第二差信號是該第二與該第三檢測器的輸出信號之差，根據(jù)比較的結(jié)果，確定了用于第一加和信號的第一增益和用于第二信號的增益。這里，由于第一差信號的振幅與第二差信號的振幅之間的差表示透鏡移動(dòng)分量，可能通過在表示透鏡移動(dòng)分量的該差的基礎(chǔ)上調(diào)整用于第一和第二求和信號的增益獲得其中消除了透鏡移動(dòng)的影響的跟蹤誤差信號。
在本發(fā)明的第一或第二跟蹤控制裝置的一個(gè)方面，振幅比較裝置確定第一增益和第二增益，以使第一差信號的振幅與第二差信號的振幅彼此相等。
根據(jù)這一方面，可能通過振幅比較裝置的該確定處理而消除跟蹤誤差信號中的透鏡移動(dòng)分量。
在本發(fā)明的第一或第二跟蹤控制裝置的另一個(gè)方面，該裝置還有一個(gè)用于維持第一差信號并提供維持的第一差信號給振幅比較裝置的第一維持裝置；一個(gè)用于維持第二差信號并提供維持的第二差信號給振幅比較裝置的第二維持裝置。
根據(jù)這一方面，可能連續(xù)監(jiān)測第一和第二差信號的振幅。
在本發(fā)明的第一或第二跟蹤控制裝置的又一個(gè)方面，該裝置還提供有一個(gè)用于在跟蹤誤差信號的基礎(chǔ)上沿徑向移動(dòng)光束的驅(qū)動(dòng)裝置。
根據(jù)這一方面，可能執(zhí)行不受透鏡移動(dòng)影響的準(zhǔn)確的跟蹤控制。
本發(fā)明的特性、應(yīng)用和其它的特征在聯(lián)系后面簡單描述的附圖閱讀時(shí)從對本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行具體說明中變得更明顯。
附圖簡要說明

圖1是表示作為本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的跟蹤控制電路的框圖；圖2A是用于解釋本實(shí)施例的切向推挽信號的帶有再現(xiàn)束班的光盤上的凸區(qū)和凹槽軌道的平面示意圖；圖2B是處于一個(gè)狀態(tài)中的四分光檢測器的前視圖，在該實(shí)施例中其得到切向推挽信號；圖2C是處于另一個(gè)狀態(tài)中的該四分光檢測器的前視圖，在該實(shí)施例中其得到切向推挽信號；圖3A是表示該實(shí)施例中的切向推挽信號的波形的一個(gè)示例圖；圖3B是表示該實(shí)施例中的切向推挽信號的波形的另一個(gè)示例圖；圖4是表示作為本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例的跟蹤控制電路的框圖；圖5A是表示在本實(shí)施例和傳統(tǒng)推挽方法中的跟蹤誤差信號的目標(biāo)值的偏離的比較結(jié)果的曲線；圖5B是表示表示在本實(shí)施例和傳統(tǒng)推挽方法中的跟蹤誤差信號的目標(biāo)值的偏離的比較結(jié)果的另一曲線；圖6A是光盤上的凸區(qū)和凹槽軌道結(jié)構(gòu)的一個(gè)示例的平面視圖，對其可使用了本實(shí)施例的跟蹤控制裝置；圖6B是光盤上的凸區(qū)和凹槽軌道結(jié)構(gòu)的另一個(gè)示例的平面視圖，對其可使用了本實(shí)施例的跟蹤控制裝置；圖6C是光盤上的凸區(qū)和凹槽軌道結(jié)構(gòu)的又一個(gè)示例的平面視圖，對其可使用了本實(shí)施例的跟蹤控制裝置；圖7A是光盤上的凸區(qū)和凹槽軌道結(jié)構(gòu)的又一個(gè)示例的平面視圖，對其可使用了本實(shí)施例的跟蹤控制裝置；圖7B是光盤上的凸區(qū)和凹槽軌道結(jié)構(gòu)的又一個(gè)示例的平面視圖，對其可使用了本實(shí)施例的跟蹤控制裝置；圖7C是光盤上的凸區(qū)和凹槽軌道結(jié)構(gòu)的又一個(gè)示例的平面視圖，對其可使用了本實(shí)施例的跟蹤控制裝置；圖7D是光盤上的凸區(qū)和凹槽軌道結(jié)構(gòu)的又一個(gè)示例的平面視圖，對其可使用了本實(shí)施例的跟蹤控制裝置；圖8是表示傳統(tǒng)的推挽方法中的問題的曲線。
本發(fā)明適合于通過利用一個(gè)四分光檢測器而獲得切向推挽信號來檢測透鏡移動(dòng)量并且然后糾正跟蹤誤差信號，以在檢測到的透鏡移動(dòng)量的基礎(chǔ)上消除由于物鏡移動(dòng)而引起的跟蹤伺服的目標(biāo)值的偏離或偏置。
首先，解釋切向推挽信號。切向推挽信號是在光盤上獲得的信號，該光盤具有在切向上形狀或反射系數(shù)發(fā)生改變的一個(gè)部分。通過圖2B和2C所示的四分光檢測器5，第一切向推挽信號TP1和第二切向推挽信號TP2可分別如下獲得。
TP1=(檢測器5a的輸出信號)-(檢測器5d的輸出信號)TP2=(檢測器5b的輸出信號)-(檢測器5C的輸出信號)通過掉轉(zhuǎn)加法和減法的順序，第一切向推挽信號TP1和第二切向推挽信號TP2可分別如下獲得。
TP1=(檢測器5d的輸出信號)-(檢測器5a的輸出信號)TP2=(檢測器5c的輸出信號)-(檢測器5b的輸出信號)在光盤的切向上形狀或反射系數(shù)不發(fā)生改變的一個(gè)部分，切向推挽信號的值變?yōu)椤?”。但是，當(dāng)光斑通過切向上形狀或反射系數(shù)發(fā)生改變的一個(gè)部分時(shí)，依據(jù)形狀或反射系數(shù)，切向推挽信號的值變?yōu)槌?”外的一個(gè)值。例如，如圖2A所示，在凹槽軌道的一個(gè)部分處具有鏡面部分的一個(gè)光盤中，當(dāng)光斑通過這個(gè)鏡面部分時(shí)，切向推挽信號TP1和TP2表現(xiàn)出如圖3A和3B所示的波形。這里，如果如圖2C所示，對于光斑沒有透鏡移動(dòng)，切向推挽信號TP1和TP2的振幅彼此相等，如圖3A所示。另一方面，如果光斑中心由于透鏡移動(dòng)而從四分光檢測器5的中心發(fā)生了移動(dòng)，如圖2B所示，產(chǎn)生了切向推挽信號TP1和TP2之間的差，如圖3b所示。切向推挽信號TP1和TP2的各自的振幅大約與透鏡移動(dòng)量成正比例地改變。
因此，通過監(jiān)測這兩個(gè)切向推挽信號TP1和TP2，如果這兩個(gè)信號的監(jiān)測到的振幅彼此相等則判斷為沒有透鏡移動(dòng)，而如果這兩個(gè)信號的監(jiān)測到的振幅彼此不同則判斷為有透鏡移動(dòng)。而且，通過檢查這兩個(gè)信號哪一個(gè)的振幅大，可能識別透鏡移動(dòng)的方向。從而，通過控制檢測器5中的檢測信號的增益使得這兩個(gè)切向推挽信號的振幅彼此相等，可能消除跟蹤誤差信號中的透鏡移動(dòng)的影響。
更具體講，參考圖2B所示的檢測器5，如下獲得跟蹤誤差信號TE。βTE=α×(檢測器5a的輸出信號+檢測器5d的輸出信號)-β×(檢測器5b的輸出信號+檢測器5c的輸出信號)其中α和β代表用于分別放大檢測器的輸出的放大器的增益。通過應(yīng)用切向推挽信號TP1和TP2，這些增益α和β被確定為滿足下面的等式。
α×TP1=β×TP2由此，可能消除由于透鏡移動(dòng)引起的跟蹤誤差信號的偏離或偏置分量。
在除了用于再現(xiàn)的光盤以外的光盤的情況下，切向推挽信號可通過應(yīng)用以某一循環(huán)而存在的凹坑(例如同步模式)而獲得。在能夠記錄的光盤的情況下，切向推挽信號可通過利用提前提供在凹槽軌道上的鏡面部分而獲得。在本實(shí)施例中獲得切向推挽信號的光盤的類型將在后面描述。
接著，將參考附圖解釋本發(fā)明的實(shí)施例。
圖1表示本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的跟蹤控制電路的結(jié)構(gòu)。圖1中，跟蹤控制電路100具有一個(gè)四分檢測器5。該四分檢測器5具有4個(gè)檢測器5a到5d，當(dāng)從光盤反射的光束被照射到這些檢測器上時(shí)在其上形成光斑SP。
檢測器5a和5d的輸出被輸入到一個(gè)放大器6a，而檢測器5b和5c的輸出被輸入到一個(gè)放大器6b。放大器6a把檢測器5a和5d的輸出放大一個(gè)相應(yīng)于增益控制信號12a的增益(α)，而放大器6b把檢測器5b和5c的輸出放大一個(gè)相應(yīng)于增益控制信號12b的增益(β)。放大器6a的輸出信號被輸入到一個(gè)減法器7a和一個(gè)加法器9a，而放大器6b的輸出信號被輸入到一個(gè)減法器7b和一個(gè)加法器9b。加法器9a產(chǎn)生檢測器5a和5d的輸出信號的一個(gè)加和信號，而加法器9b產(chǎn)生檢測器5b和5c的輸出信號的一個(gè)加和信號。一個(gè)減法器10產(chǎn)生這些加和信號的差并輸出該差來作為跟蹤誤差信號。
這個(gè)跟蹤誤差信號被傳遞到跟蹤伺服電路101，其通過發(fā)送伺服控制信號到致動(dòng)器102而控制用于對光拾取器進(jìn)行致動(dòng)的致動(dòng)器102。在光拾取器中，致動(dòng)器102被可移動(dòng)地安裝在滑動(dòng)器103上并且物鏡(未示出)被可移動(dòng)地安裝在致動(dòng)器102上。這里，如果盤片是偏心的或者如果滑動(dòng)器沒有平滑地在徑向上移動(dòng)，致動(dòng)器102在跟蹤伺服電路101的控制下通過僅移動(dòng)物鏡來執(zhí)行跟蹤的精細(xì)調(diào)整。物鏡和四分檢測器5與光源(例如半導(dǎo)體激光二極管)等被安裝在光拾取器中。圖1所示的跟蹤控制電路100的所有的構(gòu)成元件可被裝配在光拾取器中。另一種情況是，跟蹤控制電路100可部分地被安裝在光拾取器中(例如僅四分檢測器5被裝配或者僅四分檢測器5和放大器6a和6b被裝配在光拾取器中，而其它的構(gòu)成元件被裝配在信息記錄和/或再現(xiàn)裝置的處理電路中)。
另一方面，減法器7a產(chǎn)生檢測器5a和5d的輸出信號的差，并把它作為切向推挽信號TP1提供給樣本維持電路8a。以同樣方式，減法器7b產(chǎn)生檢測器5b和5c的輸出信號的差，并把它作為切向推挽信號TP2提供給樣本維持電路8b。樣本維持電路8a和8b分別連續(xù)維持切向推挽信號，TP1和TP2并發(fā)送它們到振幅比較器4。振幅比較器4分別對于放大器6a和6b確定增益α和β，以使切向推挽信號TP1和TP2的值彼此相等，并把它們作為增益控制信號12a和12b分別提供給放大器6a和6b。
由此，由于透鏡移動(dòng)引起的跟蹤誤差信號中的偏離或偏置分量被消除了。結(jié)果，減法器10輸出不被透鏡移動(dòng)影響的跟蹤誤差信號。
順便說一下，在上面解釋的示例中，切向推挽信號被連續(xù)地維持。相反，在可獲得切向推挽信號的位置(例如上面解釋的示例中的鏡面部分)或當(dāng)切向推挽信號是已知的循環(huán)中，可能預(yù)測切向推挽信號的時(shí)序(timing)并且在假設(shè)獲得切向推挽信號時(shí)僅以預(yù)測的時(shí)序提供切向推挽信號給振幅比較器4。
而且，在圖1所示的電路中，一個(gè)放大器6a被用作第一放大裝置，對其輸入檢測器5a和5d的輸出信號。而作為第一放大裝置，可提供用于放大檢測器5a的輸出信號的一個(gè)放大器和用于放大檢測器5d的輸出信號的另一個(gè)放大器，從而這兩個(gè)放大器的增益被相等地設(shè)置為第一增益(α)。在用作第二放大裝置的放大器6b和檢測器5b和5c之問的關(guān)系也是這樣的。
圖4表示本發(fā)明的另一實(shí)施例的跟蹤控制電路的結(jié)構(gòu)。盡管圖4所示的電路執(zhí)行的操作過程基本上與圖1所示的電路所執(zhí)行的是等價(jià)的，這兩個(gè)的具體電路結(jié)構(gòu)是彼此不同的。在圖4中，與圖1中的那些相同的構(gòu)成元件有相同的參考序號，并且其解釋被省略。
在圖4所示的電路中，跟蹤控制電路200如下構(gòu)成。即，放大器14a和14b被設(shè)置在減法器10的前一級，并且低通濾波器11a和11b被分別插入在放大器14a和14b的前一級。這些低通濾波器11a和11b是僅抽取跟蹤誤差信號分量的濾波器，并且其可被增加到圖1所示的電路中。
圖5A和5B表示本發(fā)明與傳統(tǒng)的推挽方法之間的比較結(jié)果。條件如下假設(shè)。
光束波長λ=410nm軌道間距=0.4μm凹槽寬度=0.2μm凹槽深度=λ/8
還假設(shè)短的鏡面部分被設(shè)置在凹槽軌道上(如圖2A所示)。
圖5A表示在透鏡移動(dòng)是4％的情況下跟蹤誤差信號的波形。根據(jù)傳統(tǒng)的推挽方法，跟蹤誤差信號的值變?yōu)椤?”的點(diǎn)被從軌道中心移開，而根據(jù)本發(fā)明該點(diǎn)與軌道中心一致。
圖5B表示由于透鏡移動(dòng)引起的跟蹤伺服的目標(biāo)值的偏離或偏置量。根據(jù)傳統(tǒng)的推挽方法，目標(biāo)值的偏離或偏置量與透鏡移動(dòng)的增加成正比例地增加，而根據(jù)本發(fā)明，無論透鏡移動(dòng)怎樣增加，目標(biāo)值的偏離或偏置量基本上保持為“0”。
接著解釋對其使用本發(fā)明的跟蹤控制裝置的光盤。如前所述，在盤片的切向上形狀或反射系數(shù)發(fā)生改變的位置處出現(xiàn)切向推挽信號，并且在其它部分，切向推挽信號變?yōu)椤?”值。因此，本實(shí)施例可被應(yīng)用于具有在盤片的切向上形狀或反射系數(shù)發(fā)生改變的這樣的物理特性的光盤。
從這一角度看，在圖6A到圖7D中表示出光盤示例，對其可應(yīng)用本發(fā)明。
圖6A表示一種光盤，其上預(yù)置坑PP被形成在凹槽軌道上，為的是檢測地址。圖6B表示一種光盤，在光盤上，鏡面部分MR被設(shè)置在作為記錄軌道的凹槽軌道上。圖6C表示一種光盤，在光盤上，凹槽軌道被擺動(dòng)，使得擺動(dòng)部分WB是可以是局部的或連續(xù)的。
圖7A到圖7D的每一個(gè)都表示一種光盤，在光盤上，在凸區(qū)軌道上形成預(yù)置坑PP。這些當(dāng)中，圖7c表示凸區(qū)軌道上的預(yù)置坑PP與凹槽軌道接觸并且預(yù)置坑PP的長度很長的一種示例。圖7D表示信息被記錄在凸區(qū)軌道上的一種示例。
圖6A到圖7D所示的這些示例僅是實(shí)例，并且本發(fā)明可被應(yīng)用于其它類型的光盤，只要它們具有前述的物理特性。
上面具體描述的本發(fā)明的跟蹤控制裝置可被應(yīng)用于對于光盤的信息記錄裝置、信息再現(xiàn)裝置和信息記錄與再現(xiàn)裝置。
如上具體所述的那樣，根據(jù)本發(fā)明，透鏡移動(dòng)量通過監(jiān)測切向推挽信號而檢測，并且跟蹤誤差信號的增益被控制來把透鏡移動(dòng)的影響移除。因此，甚至在透鏡移動(dòng)卻是存在的情況下，可能防止跟蹤伺服的目標(biāo)值被偏離或移動(dòng)，從而可能實(shí)現(xiàn)適合用于尤其是具有狹窄的間距的盤片的可靠的跟蹤控制。
權(quán)利要求
1．一種用于盤片的跟蹤控制裝置(100)，該盤片具有在盤的記錄軌道的切向上改變形狀或反射系數(shù)的物理因子，其特征在于所述跟蹤控制裝置包括一個(gè)具有一個(gè)第一檢測器(5a)、與所述第一檢測器在盤的徑向上相鄰設(shè)置的一個(gè)第二檢測器(5b)、與所述第二檢測器在切向上相鄰設(shè)置的一個(gè)第三檢測器(5c)以及與所述第一檢測器在切向上相鄰且與所述第三檢測器在徑向上相鄰而設(shè)置的一個(gè)第四檢測器(5d)的檢測裝置(5)；一個(gè)用于以第一增益把所述第一檢測器的輸出信號和所述第四檢測器的輸出信號放大的第一放大裝置(6a)；一個(gè)用于以第二增益把所述第二檢測器的輸出信號和所述第三檢測器的輸出信號放大的第二放大裝置(6b)；一個(gè)用于計(jì)算一個(gè)第一求和信號的第一加法裝置(9a)，該第一求和信號是所述第一檢測器的放大的輸出信號與所述第四檢測器的放大的輸出信號之和；一個(gè)用于計(jì)算一個(gè)第二求和信號的第二加法裝置(9b)，該第二求和信號是所述第二檢測器的放大的輸出信號與所述第三檢測器的放大的輸出信號之和；一個(gè)用于計(jì)算該第一求和信號與該第二求和信號的差并把該差作為一個(gè)跟蹤誤差信號輸出的第一減法裝置(10)；一個(gè)用于計(jì)算一個(gè)第一差信號的第二減法裝置(7a)，該第一差信號是所述第一檢測器的輸出信號與所述第四檢測器的輸出信號之差；一個(gè)用于計(jì)算一個(gè)第二差信號的第三減法裝置(7b)，該第二差信號是所述第二檢測器的輸出信號與所述第三檢測器的輸出信號之差；以及一個(gè)用于比較該第一差信號與該第二差信號的振幅并在比較結(jié)果的基礎(chǔ)上確定該第一增益和該第二增益的振幅比較裝置(4)。
2．一種用于盤片的跟蹤控制裝置(200)，該盤片具有在盤的記錄軌道的切向上改變形狀或反射系數(shù)的物理因子，所述跟蹤控制裝置包括一個(gè)具有一個(gè)第一檢測器(5a)、與所述第一檢測器在盤的徑向上相鄰設(shè)置的一個(gè)第二檢測器(5b)、與所述第二檢測器在切向上相鄰設(shè)置的一個(gè)第三檢測器(5c)以及與所述第一檢測器在切向上相鄰且與所述第三檢測器在徑向上相鄰而設(shè)置的一個(gè)第四檢測器(5d)的檢測裝置(5)；一個(gè)用于以第一增益把一個(gè)第一求和信號放大的第一放大裝置(9a，11a，14a)，該第一求和信號是所述第一檢測器的輸出信號與所述第四檢測器的輸出信號之和；一個(gè)用于以第二增益把一個(gè)第二求和信號放大的第二放大裝置(9b，11b，14b)，該第二求和信號是所述第二檢測器的輸出信號與所述第三檢測器的輸出信號之和；一個(gè)用于計(jì)算該第一求和信號與該第二求和信號的差并把該差作為一個(gè)跟蹤誤差信號輸出的第一減法裝置(10)；一個(gè)用于計(jì)算一個(gè)第一差信號的第二減法裝置(7a)，該第一差信號是所述第一檢測器的輸出信號與所述第四檢測器的輸出信號之差；一個(gè)用于計(jì)算一個(gè)第二差信號的第三減法裝置(7b)，該第二差信號是所述第二檢測器的輸出信號與所述第三檢測器的輸出信號之差；以及一個(gè)用于比較該第一差信號與該第二差信號的振幅并在比較結(jié)果的基礎(chǔ)上確定該第一增益和該第二增益的振幅比較裝置(4)。
3．根據(jù)權(quán)利要求1或2的跟蹤控制裝置(100，200)，其特征在于所述振幅比較裝置(4)確定第一增益和第二增益，以使第一差信號的振幅與第二差信號的振幅彼此相等。
4．根據(jù)權(quán)利要求1到3任何一項(xiàng)的跟蹤控制裝置(100，200)，其特征在于所述跟蹤控制裝置還包括一個(gè)用于維持第一差信號并提供維持的第一差信號給振幅比較裝置的第一維持裝置(8a)；一個(gè)用于維持第二差信號并提供維持的第二差信號給振幅比較裝置的第二維持裝置(8b)。
5．根據(jù)權(quán)利要求1到4的任何一項(xiàng)的跟蹤控制裝置(100，200)，其特征在于所述跟蹤控制裝置還包括一個(gè)用于在跟蹤誤差信號的基礎(chǔ)上沿所述盤片上的徑向移動(dòng)光束的驅(qū)動(dòng)裝置(101，102，103)。
全文摘要
一種具有在記錄軌道的切向上改變形狀或反射系數(shù)的物理因子的盤片。用于該盤片的跟蹤控制裝置具有:第一檢測器、第二檢測器、第三檢測器及第四檢測器的檢測裝置;第一放大裝置;第二放大裝置;用于計(jì)算第一求和信號的第一加法裝置,用于計(jì)算第二求和信號的第二加法裝置,用于計(jì)算該第一求和信號與該第二求和信號的差并把該差作為跟蹤誤差信號輸出的第一減法裝置。該跟蹤控制裝置還提供用于在輸出信號之差的基礎(chǔ)上確定第一和第二增益的振幅比較裝置。
文檔編號G11B7/007GK1289116SQ0012887
公開日2001年3月28日 申請日期2000年9月22日 優(yōu)先權(quán)日1999年9月22日
發(fā)明者柳澤琢磨, 栗林祐基 申請人:日本先鋒公司