一種用于為涂敷電力復(fù)合脂的端子板建立溫升預(yù)測(cè)模型的方法及系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種用于為涂敷電力復(fù)合脂的端子板建立溫升預(yù)測(cè)模型的方法及系統(tǒng)。本發(fā)明公開(kāi)了一種方法，用于建立對(duì)電力復(fù)合脂溫升進(jìn)行預(yù)測(cè)的模型，所述方法包括：獲取樣本數(shù)據(jù)所需參數(shù)；對(duì)電力復(fù)合脂電阻進(jìn)行測(cè)量；對(duì)電力復(fù)合脂溫升進(jìn)行測(cè)量；將不同的測(cè)量電阻值與所述獲取電流及其他獲取數(shù)據(jù)組成一組輸入樣本數(shù)據(jù)，獲得至少兩個(gè)輸入樣本數(shù)據(jù)組；選取一部分樣本數(shù)據(jù)組為輸入?yún)⒘?，以至少兩個(gè)溫升值中相應(yīng)的一部分測(cè)量溫升值為輸出參量，建立具有輸入層、隱含層及輸出層的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的訓(xùn)練模型；選取另一部分樣本數(shù)據(jù)組為輸入?yún)⒘?，以至少兩個(gè)溫升值中相應(yīng)的另一部分測(cè)量溫升值為輸出參量進(jìn)行檢測(cè)，以得到神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)電力復(fù)合脂導(dǎo)線溫升預(yù)測(cè)模型；通過(guò)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的測(cè)試模型獲得端子板測(cè)試溫升值。
【專利說(shuō)明】
一種用于為涂敷電力復(fù)合脂的端子板建立溫升預(yù)測(cè)模型的方 法及系統(tǒng)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001] 本發(fā)明涉及測(cè)量領(lǐng)域，更具體地，涉及一種用于為涂敷電力復(fù)合脂的端子板建立 溫升預(yù)測(cè)模型的方法及系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002] 電力復(fù)合脂廣泛應(yīng)用于變電所、配電所中的母線與母線、母線與設(shè)備接線端子連 接處的接觸面和開(kāi)關(guān)觸頭的接觸面上，可以改善接觸性能，使觸點(diǎn)金屬由點(diǎn)接觸變?yōu)槊娼?觸，增大導(dǎo)電面積，相同和不同金屬材質(zhì)的導(dǎo)電體(銅與銅、銅與鋁、鋁與鋁）的連接均可使 用，代替并優(yōu)于緊固連接。由于接觸面較大增加導(dǎo)電面積，降低接觸電阻(可降低35-95%)， 從而達(dá)到降低溫升（可降低35-85%)，提高母線連接處的導(dǎo)電性，增強(qiáng)了電網(wǎng)運(yùn)行的安全 性，節(jié)省了大量的電能損耗，還可避免接觸面產(chǎn)生電化腐蝕。新型電力復(fù)合脂適用于各種不 同環(huán)境，具有良好的耐高溫、耐潮濕、抗氧化、抗霉菌及抗化學(xué)腐蝕性能，還具有高溫不流 淌、低溫不龜裂、理化性能穩(wěn)定、使用壽命長(zhǎng)的特點(diǎn)，極大地提高了導(dǎo)電膏使用處的安全性 能，為變電所、配電所的安全運(yùn)行提供可靠的保證。
[0003] 然后由于不同類別的電力復(fù)合脂的對(duì)換流站端子板的溫升的影響不同，市場(chǎng)有些 類別的電力復(fù)合脂對(duì)端子板的溫升具有明顯的降低作用，而有些類別的電力復(fù)合脂對(duì)端子 板的溫升降低作用不明顯，甚至還具有反作用，劣質(zhì)電力復(fù)合脂用在換流站中導(dǎo)致的溫升 事故，不能保證將對(duì)換流站端子板降溫作用明顯的電力復(fù)合脂提供給用戶。現(xiàn)有技術(shù)重點(diǎn) 研究電力復(fù)合脂的制備方法，沒(méi)有公開(kāi)對(duì)電力復(fù)合脂溫升預(yù)測(cè)的方法。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 為了解決上述問(wèn)題，本發(fā)明提供了一種用于為涂敷電力復(fù)合脂的端子板建立溫升 預(yù)測(cè)模型的方法，所述方法包括：
[0005] 獲取電流I、端子板材質(zhì)M、端子板尺寸L以及端子板通電時(shí)間t;
[0006] 對(duì)涂敷電力復(fù)合脂的端子板的接觸部的電阻進(jìn)行測(cè)量，以獲取至少兩個(gè)測(cè)量電阻 值R;
[0007] 對(duì)涂敷電力復(fù)合脂的端子板的接觸部的溫升進(jìn)行測(cè)量，獲取至少兩個(gè)測(cè)量溫升值 T；
[0008] 將所述至少兩個(gè)測(cè)量電阻值R中的每個(gè)測(cè)量電阻值R與所述獲取的電流I、端子板 材質(zhì)M、端子板尺寸L和端子板通電時(shí)間t組成一組輸入樣本數(shù)據(jù)，從而獲得至少兩個(gè)輸入樣 本數(shù)據(jù)組；
[0009] 以電流I、端子板材質(zhì)M、端子板尺寸L、端子板通電時(shí)間t以及電阻值為輸入?yún)⒘浚?并且以溫升值為輸出參量建立具有輸入層、隱含層及輸出層的基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的初始模型；
[0010] 利用所述至少兩個(gè)輸入樣本數(shù)據(jù)組中的一部分樣本數(shù)據(jù)組為輸入?yún)⒘?，和所述?少兩個(gè)測(cè)量溫升值T1中相應(yīng)的一部分測(cè)量溫升值T1為輸出參量，對(duì)基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的初始模 型進(jìn)行學(xué)習(xí)和訓(xùn)練；
[0011] 以至少兩個(gè)輸入樣本數(shù)據(jù)組中的另一部分輸入樣本數(shù)據(jù)組為輸入?yún)⒘?，以至少?個(gè)測(cè)量溫升值中相應(yīng)的另一部分測(cè)量溫升值T2為輸出參量對(duì)經(jīng)過(guò)學(xué)習(xí)和訓(xùn)練的基于神經(jīng) 網(wǎng)絡(luò)的初始模型進(jìn)行檢測(cè)，以得到基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的電力復(fù)合脂溫升預(yù)測(cè)模型。
[0012] 優(yōu)選地，其中利用電阻測(cè)量電路對(duì)涂敷電力復(fù)合脂的端子板的接觸部的電阻進(jìn)行 測(cè)量，所述電阻測(cè)量電路包括：
[0013] 控制臺(tái)，控制電流流向，從而分別測(cè)試電流正和反兩個(gè)流向的電壓、電流和電阻 值；
[0014] 電源，按照觸摸方式輸入電壓和電流，并且具有控制輸入電壓和電流的開(kāi)關(guān)；以及
[0015] 數(shù)字多用表，用于顯示測(cè)試部位的電壓值。
[0016] 優(yōu)選地，其中利用溫升測(cè)量電路對(duì)涂敷電力復(fù)合脂的端子板的接觸部的溫升進(jìn)行 測(cè)量，所述溫升測(cè)量電路包括：
[0017] 輸入電源，用于輸入交流電源；
[0018] 電壓調(diào)節(jié)單元，用于對(duì)輸入交流電源進(jìn)行電壓調(diào)節(jié)，以控制涂敷電力復(fù)合脂的端 子板兩端的電壓；
[0019] 溫度傳感器，用于測(cè)量涂敷電力復(fù)合脂的端子板的溫度升高值；以及
[0020] 保護(hù)單元，用于對(duì)溫升測(cè)量電路進(jìn)行保護(hù)。
[0021] 優(yōu)選地，所述基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的初始模型將Sigmoid作為傳遞函數(shù)，將輸入和輸出均 歸一化到[0，1]之間。
[0022] 優(yōu)選地，基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的電力復(fù)合脂溫升預(yù)測(cè)模型的訓(xùn)練次數(shù)和最大失敗次數(shù)設(shè) 置范圍為10000至20000次。
[0023] 優(yōu)選地，一種用于為涂敷電力復(fù)合脂端子板溫升預(yù)測(cè)模型的系統(tǒng)，包括：
[0024] 數(shù)據(jù)獲取模塊，用于獲取電流I、端子板材質(zhì)M、端子板尺寸L以及端子板通電時(shí)間 t；
[0025] 電阻測(cè)量電路，所述電阻測(cè)量模塊用于對(duì)電力復(fù)合脂電阻進(jìn)行測(cè)量，以獲取至少 兩個(gè)測(cè)量電阻值R;溫升測(cè)量電路，所述溫升測(cè)量模塊用于對(duì)電力復(fù)合脂溫升進(jìn)行測(cè)量，獲 取至少兩個(gè)測(cè)量溫升值T;
[0026] 樣本數(shù)據(jù)集成模塊，用于將所述至少兩個(gè)測(cè)量電阻值R中的每個(gè)測(cè)量電阻值R與所 述獲取的電流I、端子板材質(zhì)M、端子板尺寸L和端子板通電時(shí)間t組成一組輸入樣本數(shù)據(jù)，從 而獲得至少兩個(gè)輸入樣本數(shù)據(jù)組；
[0027] 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練模塊，用于以電流I、端子板材質(zhì)M、端子板尺寸L、端子板通電時(shí)間t 以及電阻值為輸入?yún)⒘?，并且以溫升值為輸出參量建立具有輸入層、隱含層及輸出層的基 于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的初始模型；神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試模塊，以至少兩個(gè)輸入樣本數(shù)據(jù)組中的另一部分輸 入樣本數(shù)據(jù)組為輸入?yún)⒘?，以至少兩個(gè)測(cè)量溫升值中相應(yīng)的另一部分測(cè)量溫升值T2為輸出 參量對(duì)經(jīng)過(guò)學(xué)習(xí)和訓(xùn)練的基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的初始模型進(jìn)行檢測(cè)，以得到基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的電力 復(fù)合脂溫升預(yù)測(cè)模型。
[0028] 優(yōu)選地，所述電阻測(cè)量電路包括：
[0029]控制臺(tái)，控制電流流向，從而分別測(cè)試電流正和反兩個(gè)流向的電壓、電流和電阻 值；
[0030] 電源，按照觸摸方式輸入電壓和電流，并且具有控制輸入電壓和電流的開(kāi)關(guān)；以及
[0031] 數(shù)字多用表，用于顯示測(cè)試部位的電壓值。
[0032]優(yōu)選地，所述溫升測(cè)量電路包括：
[0033]輸入電源，用于輸入交流電源；
[0034]電壓調(diào)節(jié)單元，用于對(duì)輸入交流電源進(jìn)行電壓調(diào)節(jié)，以控制涂敷電力復(fù)合脂的端 子板兩端的電壓；
[0035] 溫度傳感器，用于測(cè)量涂敷電力復(fù)合脂的端子板的溫度升高值；以及
[0036] 保護(hù)單元，用于對(duì)溫升測(cè)量電路進(jìn)行保護(hù)。
[0037] 優(yōu)選地，所述基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的初始模型將Sigmoid作為傳遞函數(shù)，將輸入和輸出均 歸一化到[0，1]之間。
[0038] 優(yōu)選地，基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的電力復(fù)合脂溫升預(yù)測(cè)模型的訓(xùn)練次數(shù)和最大失敗次數(shù)設(shè) 置范圍為10000至20000次。
[0039] 本發(fā)明提供了涂敷電力復(fù)合脂端子板溫升預(yù)測(cè)模型建立的方法及系統(tǒng)，該模型或 系統(tǒng)可以對(duì)涂不同類別的電力復(fù)合脂對(duì)端子板的溫升影響進(jìn)行評(píng)估，通過(guò)該方法或系統(tǒng)的 評(píng)估，可以將對(duì)換流站端子板降溫作用明顯的電力復(fù)合脂提供給用戶，從而防止劣質(zhì)電力 復(fù)合脂用在換流站中導(dǎo)致溫升事故。本發(fā)明具有明顯的經(jīng)濟(jì)和社會(huì)效益。
【附圖說(shuō)明】
[0040] 通過(guò)參考下面的附圖，可以更為完整地理解本發(fā)明的示例性實(shí)施方式：
[0041] 圖1為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施方式的為涂敷電力復(fù)合脂的端子板建立溫升預(yù)測(cè)模型的方 法的流程圖；
[0042]圖2為根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施方式的為涂敷電力復(fù)合脂的端子板建立溫升預(yù)測(cè)模型 的方法的流程圖；
[0043]圖3為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施方式的基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的電力復(fù)合脂溫升預(yù)測(cè)模型；
[0044]圖4為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施方式的對(duì)涂敷電力復(fù)合脂的端子板進(jìn)行電阻測(cè)量的電路 圖；
[0045] 圖5為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施方式的對(duì)涂敷電力復(fù)合脂的端子板進(jìn)行溫升測(cè)試的電路 圖；以及
[0046] 圖6為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施方式的為涂敷電力復(fù)合脂的端子板建立溫升預(yù)測(cè)模型的系 統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖。
【具體實(shí)施方式】
[0047] 現(xiàn)在參考附圖介紹本發(fā)明的示例性實(shí)施方式，然而，本發(fā)明可以用許多不同的形 式來(lái)實(shí)施，并且不局限于此處描述的實(shí)施例，提供這些實(shí)施例是為了詳盡地且完全地公開(kāi) 本發(fā)明，并且向所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員充分傳達(dá)本發(fā)明的范圍。對(duì)于表示在附圖中的示 例性實(shí)施方式中的術(shù)語(yǔ)并不是對(duì)本發(fā)明的限定。在附圖中，相同的單元/元件使用相同的附 圖標(biāo)記。
[0048] 除非另有說(shuō)明，此處使用的術(shù)語(yǔ)(包括科技術(shù)語(yǔ))對(duì)所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員具有 通常的理解含義。另外，可以理解的是，以通常使用的詞典限定的術(shù)語(yǔ)，應(yīng)當(dāng)被理解為與其 相關(guān)領(lǐng)域的語(yǔ)境具有一致的含義，而被理解為理想化的或過(guò)于正式的意義。
[0049] 圖1為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施方式的為涂敷電力復(fù)合脂的端子板建立溫升預(yù)測(cè)模型的方 法100的流程圖。方法100為確定建立溫升預(yù)測(cè)模型的樣本數(shù)據(jù)，構(gòu)建溫升預(yù)測(cè)模型的結(jié)構(gòu)， 設(shè)計(jì)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型建立的相關(guān)參數(shù)，通過(guò)對(duì)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型的學(xué)習(xí)和訓(xùn)練，建立神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的 初始模型，并可以通過(guò)樣本數(shù)據(jù)，完成對(duì)所建立神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型的測(cè)試。
[0050] 如圖1所示，方法100從步驟101處開(kāi)始。優(yōu)選地，在步驟101，獲取電流I、端子板材 質(zhì)M、端子板尺寸L以及端子板通電時(shí)間t。本發(fā)明獲取的參數(shù)，可以為設(shè)置的常量，也可以是 變量參數(shù)。
[0051] 優(yōu)選地，在步驟102,通過(guò)電阻測(cè)試電路獲得涂敷電力復(fù)合脂試件搭接部位的電 阻。優(yōu)選地，電阻的測(cè)試步驟為（圖4中進(jìn)行詳細(xì)介紹）：（1)將端子板搭接部位打磨拋光，在 端子板搭接部位在涂電力復(fù)合脂，然后用螺栓將端子板連接在一起，螺栓扭矩根據(jù)規(guī)范和 端子板的尺寸來(lái)選擇，將端子板兩端用連接軟連接板連接并用螺栓擰緊，再用銅導(dǎo)線與連 接軟連接，最后將銅導(dǎo)線與電源箱的輸出端連接，從而電流從電源箱經(jīng)過(guò)銅導(dǎo)線流經(jīng)端子 板，在電源箱觸摸屏上輸入所需的電壓及電流大小，并設(shè)置開(kāi)關(guān)，打開(kāi)或閉合電路。（2)在距 離端子板搭接部位20cm~25cm處安裝電壓測(cè)試線，測(cè)試線端部連接電壓數(shù)字多用表的輸入 端，并從表數(shù)字多用表讀取測(cè)試部位電壓值。（3)電阻測(cè)試電路的電流流向由控制臺(tái)的旋轉(zhuǎn) 按鈕控制，分別通過(guò)測(cè)試樣品正向、反向電壓及電流，并測(cè)出端子板的電阻值。端子板電阻 測(cè)試的線路如附圖4所示。目前現(xiàn)有電阻測(cè)試方法采用熱電耦合法，電路設(shè)計(jì)復(fù)雜，經(jīng)濟(jì)成 本高。本發(fā)明的電阻測(cè)試方法，電路圖設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單，操作方便，結(jié)果準(zhǔn)確。
[0052]優(yōu)選地，在步驟103,如圖1所示，通過(guò)溫升測(cè)試電路獲得涂敷電力復(fù)合脂試件搭接 部位的溫升，溫升的測(cè)試步驟為（圖5中進(jìn)行詳細(xì)介紹）：（1)撤除電阻測(cè)試系統(tǒng)，用銅導(dǎo)線以 串聯(lián)形式連接100KVA變壓器和軟連接板，并在端子板兩邊各添加 η個(gè)溫度傳感器(如圖5示 出），傳感器的數(shù)量可以為1個(gè)或1個(gè)以上，傳感器數(shù)據(jù)由計(jì)算機(jī)以excel保存并以數(shù)據(jù)或圖 線顯示在巡檢系統(tǒng)內(nèi)。（2)總變壓器經(jīng)過(guò)調(diào)壓器將電流和電壓分配到內(nèi)。通過(guò)操作臺(tái)控制 100KVA變壓器所輸出的電壓及電流。（3)確定試驗(yàn)樣品連接無(wú)誤后，人員撤離后，由實(shí)驗(yàn)人 員通過(guò)控制臺(tái)控制變壓器并提高輸出電流，達(dá)到要求值后穩(wěn)定電流，通過(guò)計(jì)算機(jī)監(jiān)控端子 板實(shí)時(shí)溫度變化數(shù)據(jù)或圖形。
[0053] 優(yōu)選地，在步驟104，如圖1所示，將至少兩個(gè)測(cè)量電阻值R中的每個(gè)測(cè)量電阻值R與 所述獲取的電流I、端子板材質(zhì)M、端子板尺寸L和端子板通電時(shí)間t組成一組輸入樣本數(shù)據(jù)， 從而獲得至少兩個(gè)輸入樣本數(shù)據(jù)組;優(yōu)選地，獲取多組樣本數(shù)據(jù)，可以設(shè)置其中的部分樣本 數(shù)據(jù)為常量，如可以設(shè)置電流為常量，或端子板尺寸為常量，也可以將樣本數(shù)據(jù)都設(shè)置為 變量。優(yōu)選地，為神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型學(xué)習(xí)和訓(xùn)練的需要，樣本數(shù)據(jù)組可以設(shè)置為10組至20000組。 [0054]優(yōu)選地，在步驟105,如圖1所示，以電流I、端子板材質(zhì)M、端子板尺寸L、端子板通電 時(shí)間t以及電阻值為輸入?yún)⒘?，并且以溫升值為輸出參量建立具有輸入層、隱含層及輸出層 的基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的初始模型（圖3中進(jìn)行詳細(xì)介紹）；建立神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)電力復(fù)合脂溫升預(yù)測(cè)模 型，設(shè)計(jì)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的輸入層、輸出層和隱含層。端子板溫升T與端子板輸入電流I、端子板搭 接部位電阻值R、端子板材質(zhì)M、端子板尺寸L、端子板通電時(shí)間t有關(guān)，本實(shí)施例將輸入層參 數(shù)設(shè)置為:端子板輸入電流I、端子板搭接部位電阻值R、端子板材質(zhì)M、端子板尺寸L、端子板 通電時(shí)間t。端子板搭接部位電阻值R通過(guò)電阻測(cè)量電路測(cè)量獲得，其他輸入端參數(shù)可以變 量或固定值。每個(gè)端子板搭接部位電阻值R與對(duì)應(yīng)的其他輸入?yún)?shù)構(gòu)成一組輸入樣本數(shù)據(jù)， 每項(xiàng)輸入?yún)?shù)可以是變量或常數(shù)，但要保證每組樣本數(shù)據(jù)之間至少有一個(gè)參數(shù)不相同。本 實(shí)施例神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型輸出層參數(shù)為端子板溫升T。
[0055] 優(yōu)選地，建立神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)電力復(fù)合脂溫升預(yù)測(cè)模型神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)隱含層的設(shè)計(jì):通常來(lái) 講，無(wú)隱含層的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)只能映射線性函數(shù)，而單隱含層的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)就可以映射所有非線 性的連續(xù)函數(shù)，只有需要映射不連續(xù)函數(shù)時(shí)，才需要兩個(gè)以上的隱含層。隱含層節(jié)點(diǎn)數(shù)量過(guò) 少，網(wǎng)絡(luò)從樣本中提取信息的能力就差，不足以概括和體現(xiàn)訓(xùn)練集中的樣本規(guī)律;隱含層節(jié) 點(diǎn)數(shù)量過(guò)多，會(huì)降低網(wǎng)絡(luò)的泛化能力，此外，隱含層節(jié)點(diǎn)數(shù)太多還會(huì)增加網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練時(shí)間。在 給定步長(zhǎng)、學(xué)習(xí)率及循環(huán)步數(shù)的情況下，分別取不同的第一隱含層節(jié)點(diǎn)數(shù)和第二隱含層節(jié) 點(diǎn)數(shù)的組合進(jìn)行比較，發(fā)現(xiàn)第一隱含層取(8~12)個(gè)節(jié)點(diǎn)時(shí)系統(tǒng)的誤差最小。
[0056] 優(yōu)選地，在步驟106,如圖1所示，利用至少兩個(gè)輸入樣本數(shù)據(jù)組中的一部分樣本數(shù) 據(jù)組為輸入?yún)⒘?，和至少兩個(gè)測(cè)量溫升值T1中相應(yīng)的一部分測(cè)量溫升值T1為輸出參量，對(duì) 基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的初始模型進(jìn)行學(xué)習(xí)和訓(xùn)練;優(yōu)選地，對(duì)預(yù)測(cè)模型進(jìn)行訓(xùn)練和測(cè)試，設(shè)置訓(xùn)練 目標(biāo)，并通過(guò)測(cè)試結(jié)果分析。建立神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)參數(shù)，在利用神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析時(shí)需 要兩組樣本數(shù)據(jù)，一組用于訓(xùn)練神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型，稱之為訓(xùn)練集；另一組用于測(cè)試訓(xùn)練結(jié)果， 稱為測(cè)試集。本實(shí)施例選擇8組訓(xùn)練集樣本數(shù)據(jù);在典型的試驗(yàn)電流I、溫度t和電阻R下通過(guò) 試驗(yàn)得到4組壽命數(shù)據(jù)作為測(cè)試集。學(xué)習(xí)速率設(shè)置為0.001~0.002學(xué)習(xí)速率的選取比較合 適。訓(xùn)練目標(biāo)設(shè)置為[0.001，0.1 ]，訓(xùn)練目標(biāo)值為經(jīng)過(guò)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試模型輸出的溫升的數(shù)值 與實(shí)際溫升測(cè)試電路測(cè)量值之間的差值的絕對(duì)值。為了達(dá)到設(shè)置的訓(xùn)練目標(biāo)，網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練次 數(shù)和最大失敗次數(shù)均設(shè)置為10000~20000次，然后在BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練過(guò)程中觀察訓(xùn)練誤差 下降曲線，達(dá)到設(shè)置目標(biāo)后手動(dòng)停止網(wǎng)絡(luò)的訓(xùn)練。
[0057]優(yōu)選地，在步驟107,如圖1所示，以至少兩個(gè)輸入樣本數(shù)據(jù)組中的另一部分輸入樣 本數(shù)據(jù)組為輸入?yún)⒘?，以至少兩個(gè)測(cè)量溫升值中相應(yīng)的另一部分測(cè)量溫升值T2為輸出參量 對(duì)經(jīng)過(guò)學(xué)習(xí)和訓(xùn)練的基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的初始模型進(jìn)行檢測(cè)，以得到基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的電力復(fù)合 脂溫升預(yù)測(cè)模型。將通過(guò)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試得出的溫升與測(cè)量得出的溫升樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行比較， 訓(xùn)練目標(biāo)設(shè)置為[0. 001，0. 1 ]，訓(xùn)練目標(biāo)值為經(jīng)過(guò)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試模型輸出的溫升的數(shù)值與 實(shí)際溫升測(cè)試電路測(cè)量值之間的差值的絕對(duì)值。測(cè)試集輸入數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)分析測(cè)試的 得出溫升符合測(cè)算標(biāo)準(zhǔn)，溫升預(yù)測(cè)模型建立成功。
[0058]表(1)給出不同樣本數(shù)據(jù)組涂電力復(fù)合脂端子板溫升電路測(cè)量值與神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)輸出 值，可以看出，溫升測(cè)量值與溫升輸出值比較吻合，從而證明了本發(fā)明所建立的涂敷電力復(fù) 合脂端子板溫升預(yù)測(cè)模型建立方法可以對(duì)涂敷電力復(fù)合脂端子板的溫升進(jìn)行正確的預(yù)測(cè)。
[0060] 表（1)
[0061] 優(yōu)選地，圖2為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施方式的為涂敷電力復(fù)合脂的端子板建立溫升預(yù)測(cè) 模型的方法200的流程圖。方法200為確定建立溫升預(yù)測(cè)模型的樣本數(shù)據(jù)，構(gòu)建溫升預(yù)測(cè)模 型的結(jié)構(gòu)，設(shè)計(jì)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型建立的相關(guān)參數(shù)，通過(guò)對(duì)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型的學(xué)習(xí)和訓(xùn)練，建立神 經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的初始模型，并可以通過(guò)樣本數(shù)據(jù)，完成對(duì)所建立神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型的測(cè)試。
[0062] 優(yōu)選地，如圖2所示，獲得電阻、溫升的測(cè)量數(shù)據(jù)，建立樣本數(shù)據(jù)。樣本數(shù)據(jù)分為訓(xùn) 練集和測(cè)試集。訓(xùn)練集樣本數(shù)據(jù)包括每個(gè)測(cè)量電阻值R與所述獲取電流I，所述端子板材質(zhì) M，所述端子板尺寸L，所述端子板通電時(shí)間t，所述端子板測(cè)量溫升T。訓(xùn)練集的樣本數(shù)據(jù)為 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練模型的輸入數(shù)據(jù)，通過(guò)訓(xùn)練概括和體現(xiàn)訓(xùn)練集中的樣本規(guī)律，用于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò) 模型的建立。測(cè)試集包括每個(gè)電阻值R與所述獲取電流I，所述端子板材質(zhì)M，所述端子板尺 寸L，所述端子板通電時(shí)間t，所述端子板測(cè)量溫升T，所述端子板測(cè)試溫升T。測(cè)試集用于檢 驗(yàn)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練模型的訓(xùn)練結(jié)果，如果測(cè)試的結(jié)果達(dá)到了設(shè)置的訓(xùn)練目標(biāo)，則手動(dòng)停止網(wǎng) 絡(luò)訓(xùn)練。
[0063] 優(yōu)選地，如圖2所示，建立神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)電力復(fù)合脂溫升預(yù)測(cè)模型，設(shè)計(jì)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的輸 入層、輸出層和隱含層（圖3中進(jìn)行詳細(xì)介紹），端子板溫升T與端子板輸入電流I、端子板搭 接部位電阻值R、端子板材質(zhì)M、端子板尺寸L、端子板通電時(shí)間t有關(guān)，本實(shí)施例將輸入層參 數(shù)設(shè)置為:端子板輸入電流I、端子板搭接部位電阻值R、端子板材質(zhì)M、端子板尺寸L、端子板 通電時(shí)間t。端子板搭接部位電阻值R通過(guò)電阻測(cè)量電路測(cè)量獲得，其他輸入端參數(shù)可以變 量或固定值。每個(gè)端子板搭接部位電阻值R與對(duì)應(yīng)的其他輸入?yún)?shù)構(gòu)成一組輸入樣本數(shù)據(jù)， 每項(xiàng)輸入?yún)?shù)可以是變量或常數(shù)，但要保證每組樣本數(shù)據(jù)之間至少有一個(gè)參數(shù)不相同。本 實(shí)施例神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型輸出層參數(shù)為端子板溫升T。
[0064] 優(yōu)選地，如圖2所示，建立神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)電力復(fù)合脂溫升預(yù)測(cè)模型神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)隱含層的設(shè) 計(jì)（圖3中進(jìn)行詳細(xì)介紹）：通常來(lái)講，無(wú)隱含層的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)只能映射線性函數(shù)，而單隱含層 的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)就可以映射所有非線性的連續(xù)函數(shù)，只有需要映射不連續(xù)函數(shù)時(shí)，才需要兩個(gè) 以上的隱含層。隱含層節(jié)點(diǎn)數(shù)量過(guò)少，網(wǎng)絡(luò)從樣本中提取信息的能力就差，不足以概括和體 現(xiàn)訓(xùn)練集中的樣本規(guī)律;隱含層節(jié)點(diǎn)數(shù)量過(guò)多，會(huì)降低網(wǎng)絡(luò)的泛化能力，此外，隱含層節(jié)點(diǎn) 數(shù)太多還會(huì)增加網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練時(shí)間。在給定步長(zhǎng)、學(xué)習(xí)率及循環(huán)步數(shù)的情況下，分別取不同的第 一隱含層節(jié)點(diǎn)數(shù)和第二隱含層節(jié)點(diǎn)數(shù)的組合進(jìn)行比較，發(fā)現(xiàn)第一隱含層取(8~12)個(gè)節(jié)點(diǎn)， 第二隱含層取(2~5)個(gè)節(jié)點(diǎn)時(shí)系統(tǒng)的誤差最小。
[0065] 優(yōu)選地，如圖2所示，對(duì)預(yù)測(cè)模型進(jìn)行訓(xùn)練和測(cè)試，設(shè)置訓(xùn)練目標(biāo)，并通過(guò)測(cè)試結(jié)果 分析。建立神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)參數(shù)，在利用神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析時(shí)需要兩組樣本數(shù)據(jù)，一組用 于訓(xùn)練神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型，稱之為訓(xùn)練集;另一組用于測(cè)試訓(xùn)練結(jié)果，稱為測(cè)試集。本實(shí)施例選 擇8組訓(xùn)練集樣本數(shù)據(jù);在典型的試驗(yàn)電流I、溫度t和電阻R下通過(guò)試驗(yàn)得到4組壽命數(shù)據(jù)作 為測(cè)試集。學(xué)習(xí)速率設(shè)置為0.001~0.002學(xué)習(xí)速率的選取比較合適。訓(xùn)練目標(biāo)設(shè)置為 [0.001，0.1]，訓(xùn)練目標(biāo)值為經(jīng)過(guò)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試模型輸出的溫升的數(shù)值與實(shí)際溫升測(cè)試電 路測(cè)量值之間的差值的絕對(duì)值。為了達(dá)到設(shè)置的訓(xùn)練目標(biāo)，網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練次數(shù)和最大失敗次數(shù) 均設(shè)置為10000~20000次，然后在BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練過(guò)程中觀察訓(xùn)練誤差下降曲線，達(dá)到設(shè) 置目標(biāo)后手動(dòng)停止網(wǎng)絡(luò)的訓(xùn)練。
[0066] 優(yōu)選地，如圖2所示，根據(jù)本發(fā)明實(shí)施方式的基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的電力復(fù)合脂溫升預(yù)測(cè) 模型；建立神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)電力復(fù)合脂溫升預(yù)測(cè)模型，設(shè)計(jì)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的輸入層、輸出層和隱含層。 端子板溫升T與端子板輸入電流I、端子板搭接部位電阻值R、端子板材質(zhì)M、端子板尺寸L、端 子板通電時(shí)間t有關(guān)，本實(shí)施例將輸入層參數(shù)設(shè)置為:端子板輸入電流I、端子板搭接部位電 阻值R、端子板材質(zhì)M、端子板尺寸L、端子板通電時(shí)間t。端子板搭接部位電阻值R通過(guò)電阻測(cè) 量電路測(cè)量獲得，其他輸入端參數(shù)可以變量或固定值。每個(gè)端子板搭接部位電阻值R與對(duì)應(yīng) 的其他輸入?yún)?shù)構(gòu)成一組輸入樣本數(shù)據(jù)，每項(xiàng)輸入?yún)?shù)可以是變量或常數(shù)，但要保證每組 樣本數(shù)據(jù)之間至少有一個(gè)參數(shù)不相同。本實(shí)施例神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型輸出層參數(shù)為端子板溫升T。
[0067] 優(yōu)選地，如圖3所示，建立神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)電力復(fù)合脂溫升預(yù)測(cè)模型神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)隱含層的設(shè) 計(jì):通常來(lái)講，無(wú)隱含層的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)只能映射線性函數(shù)，而單隱含層的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)就可以映射 所有非線性的連續(xù)函數(shù)，只有需要映射不連續(xù)函數(shù)時(shí)，才需要兩個(gè)以上的隱含層。隱含層節(jié) 點(diǎn)數(shù)量過(guò)少，網(wǎng)絡(luò)從樣本中提取信息的能力就差，不足以概括和體現(xiàn)訓(xùn)練集中的樣本規(guī)律； 隱含層節(jié)點(diǎn)數(shù)量過(guò)多，會(huì)降低網(wǎng)絡(luò)的泛化能力，此外，隱含層節(jié)點(diǎn)數(shù)太多還會(huì)增加網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練 時(shí)間。在給定步長(zhǎng)、學(xué)習(xí)率及循環(huán)步數(shù)的情況下，分別取不同的第一隱含層節(jié)點(diǎn)數(shù)和第二隱 含層節(jié)點(diǎn)數(shù)的組合進(jìn)行比較，發(fā)現(xiàn)第一隱含層取(8~12)個(gè)節(jié)點(diǎn)，第二隱含層取(2~5)個(gè)節(jié) 點(diǎn)時(shí)系統(tǒng)的誤差最小。
[0068] 優(yōu)選地，如圖4所示，為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施方式的涂敷電力復(fù)合脂端子板電阻測(cè)試電 路圖：通過(guò)電阻測(cè)試電路獲得涂敷電力復(fù)合脂試件搭接部位的電阻，電阻的測(cè)試步驟為： (1)將端子板搭接部位打磨拋光，在端子板搭接部位在涂電力復(fù)合脂，然后用螺栓將端子板 連接在一起，螺栓扭矩根據(jù)規(guī)范和端子板的尺寸來(lái)選擇，將端子板兩端用連接軟連接板連 接并用螺栓擰緊，再用銅導(dǎo)線與連接軟連接，最后將銅導(dǎo)線與電源箱的輸出端連接，從而電 流從電源箱經(jīng)過(guò)銅導(dǎo)線流經(jīng)端子板，在電源箱觸摸屏上輸入所需的電壓及電流大小，并設(shè) 置開(kāi)關(guān)，打開(kāi)或閉合電路。（2)在距離端子板搭接部位20cm~25cm處安裝電壓測(cè)試線，測(cè)試 線端部連接電壓數(shù)字多用表的輸入端，并從表數(shù)字多用表讀取測(cè)試部位電壓值。（3)電阻測(cè) 試電路的電流流向由控制臺(tái)的旋轉(zhuǎn)按鈕控制，分別通過(guò)測(cè)試樣品正向、反向電壓及電流，并 測(cè)出端子板的電阻值。
[0069] 優(yōu)選地，如圖5所示，為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施方式的涂敷電力復(fù)合脂端子板溫升測(cè)試電 路圖。通過(guò)溫升測(cè)試電路獲得涂敷電力復(fù)合脂試件搭接部位的溫升，溫升的測(cè)試步驟為： (1)撤除電阻測(cè)試系統(tǒng)，用銅導(dǎo)線以串聯(lián)形式連接100KVA變壓器和軟連接板，并在端子板兩 邊各添加 η個(gè)溫度傳感器，傳感器的數(shù)量可以為1個(gè)或1個(gè)以上，傳感器數(shù)據(jù)由計(jì)算機(jī)以 excel保存并以數(shù)據(jù)或圖線顯示在巡檢系統(tǒng)內(nèi)。（2)總變壓器經(jīng)過(guò)調(diào)壓器將電流和電壓分配 到內(nèi)。通過(guò)操作臺(tái)控制100KVA變壓器所輸出的電壓及電流。（3)確定試驗(yàn)樣品連接無(wú)誤后， 人員撤離后，由實(shí)驗(yàn)人員通過(guò)控制臺(tái)控制變壓器并提高輸出電流，達(dá)到要求值后穩(wěn)定電流， 通過(guò)計(jì)算機(jī)監(jiān)控端子板實(shí)時(shí)溫度變化數(shù)據(jù)或圖形。
[0070] 優(yōu)選地，如圖5所示，為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施方式的涂敷電力復(fù)合脂端子板溫升預(yù)測(cè)模 型的系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖，該預(yù)測(cè)模型的系統(tǒng)包括以下模塊:數(shù)據(jù)獲取模塊，用于獲取電流I、端子 板材質(zhì)M、端子板尺寸L以及端子板通電時(shí)間t，數(shù)據(jù)獲取模塊獲取的數(shù)據(jù)可以為常量或變 量。電阻測(cè)量電路，電阻測(cè)量模塊用于對(duì)電力復(fù)合脂電阻進(jìn)行測(cè)量，以獲取至少兩個(gè)測(cè)量電 阻值R。溫升測(cè)量電路，溫升測(cè)量模塊用于對(duì)電力復(fù)合脂溫升進(jìn)行測(cè)量，獲取至少兩個(gè)測(cè)量 溫升值T。樣本數(shù)據(jù)集成模塊，用于將至少兩個(gè)測(cè)量電阻值R中的每個(gè)測(cè)量電阻值R與獲取的 電流I、端子板材質(zhì)M、端子板尺寸L和端子板通電時(shí)間t組成一組輸入樣本數(shù)據(jù)，從而獲得至 少兩個(gè)輸入樣本數(shù)據(jù)組。神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練模塊，用于以電流I、端子板材質(zhì)M、端子板尺寸L、端 子板通電時(shí)間t以及電阻值為輸入?yún)⒘?，并且以溫升值為輸出參量建立具有輸入層、隱含層 及輸出層的基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的初始模型。神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試模塊，以至少兩個(gè)輸入樣本數(shù)據(jù)組中 的另一部分輸入樣本數(shù)據(jù)組為輸入?yún)⒘浚灾辽賰蓚€(gè)測(cè)量溫升值中相應(yīng)的另一部分測(cè)量 溫升值T2為輸出參量對(duì)經(jīng)過(guò)學(xué)習(xí)和訓(xùn)練的基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的初始模型進(jìn)行檢測(cè)，以得到基于 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的電力復(fù)合脂溫升預(yù)測(cè)模型。該裝置實(shí)施例的具體實(shí)施過(guò)程參見(jiàn)上述方法實(shí)施例 即可，本實(shí)施例在此不再贅述。
[0071] 為了建立基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的電力復(fù)合脂溫升預(yù)測(cè)模型的方法和系統(tǒng)，本發(fā)明實(shí)施例 首先對(duì)該模型的結(jié)構(gòu)及相應(yīng)的參數(shù)進(jìn)行了設(shè)計(jì)。同時(shí)為了取得足夠的樣本數(shù)據(jù)驗(yàn)證該模型 及相應(yīng)的參數(shù)，本發(fā)明實(shí)施例設(shè)計(jì)了電力復(fù)合脂端子板搭接部位電阻及溫升測(cè)試電路圖， 給出了相應(yīng)試驗(yàn)方案方法。本發(fā)明實(shí)施例通過(guò)構(gòu)建神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的電力復(fù)合脂溫升預(yù)測(cè)模型的 方法和系統(tǒng)，對(duì)涂電力復(fù)合脂端子板溫升進(jìn)行預(yù)測(cè)。
[0072]已經(jīng)通過(guò)參考少量實(shí)施方式描述了本發(fā)明。然而，本領(lǐng)域技術(shù)人員所公知的，正如 附帶的專利權(quán)利要求所限定的，除了本發(fā)明以上公開(kāi)的其他的實(shí)施例等同地落在本發(fā)明的 范圍內(nèi)。
[0073]通常地，在權(quán)利要求中使用的所有術(shù)語(yǔ)都根據(jù)他們?cè)诩夹g(shù)領(lǐng)域的通常含義被解 釋，除非在其中被另外明確地定義。所有的參考"一個(gè)/所述/該[裝置、組件等]"都被開(kāi)放地 解釋為所述裝置、組件等中的至少一個(gè)實(shí)例，除非另外明確地說(shuō)明。這里公開(kāi)的任何方法的 步驟都沒(méi)必要以公開(kāi)的準(zhǔn)確的順序運(yùn)行，除非明確地說(shuō)明。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種用于為涂敷電力復(fù)合脂的端子板建立溫升預(yù)測(cè)模型的方法，所述方法包括： 獲取電流I、端子板材質(zhì)M、端子板尺寸L以及端子板通電時(shí)間t; 對(duì)涂敷電力復(fù)合脂的端子板的接觸部的電阻進(jìn)行測(cè)量，以獲取至少兩個(gè)測(cè)量電阻值R; 對(duì)涂敷電力復(fù)合脂的端子板的接觸部的溫升進(jìn)行測(cè)量，獲取至少兩個(gè)測(cè)量溫升值T; 將所述至少兩個(gè)測(cè)量電阻值R中的每個(gè)測(cè)量電阻值R與所述獲取的電流I、端子板材質(zhì) M、端子板尺寸L和端子板通電時(shí)間t組成一組輸入樣本數(shù)據(jù)，從而獲得至少兩個(gè)輸入樣本數(shù) 據(jù)組； 以電流I、端子板材質(zhì)M、端子板尺寸L、端子板通電時(shí)間t以及電阻值為輸入?yún)⒘?，并?以溫升值為輸出參量建立具有輸入層、隱含層及輸出層的基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的初始模型； 利用所述至少兩個(gè)輸入樣本數(shù)據(jù)組中的一部分樣本數(shù)據(jù)組為輸入?yún)⒘浚退鲋辽賰?個(gè)測(cè)量溫升值T1中相應(yīng)的一部分測(cè)量溫升值T1為輸出參量，對(duì)基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的初始模型進(jìn) 行學(xué)習(xí)和訓(xùn)練； 以至少兩個(gè)輸入樣本數(shù)據(jù)組中的另一部分輸入樣本數(shù)據(jù)組為輸入?yún)⒘?，以至少兩個(gè)測(cè) 量溫升值中相應(yīng)的另一部分測(cè)量溫升值T2為輸出參量對(duì)經(jīng)過(guò)學(xué)習(xí)和訓(xùn)練的基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò) 的初始模型進(jìn)行檢測(cè)，以得到基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的電力復(fù)合脂溫升預(yù)測(cè)模型。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中利用電阻測(cè)量電路對(duì)涂敷電力復(fù)合脂的端子板的 接觸部的電阻進(jìn)行測(cè)量，所述電阻測(cè)量電路包括： 控制臺(tái)，控制電流流向，從而分別測(cè)試電流正和反兩個(gè)流向的電壓、電流和電阻值； 電源，按照觸摸方式輸入電壓和電流，并且具有控制輸入電壓和電流的開(kāi)關(guān)；以及 數(shù)字多用表，用于顯示測(cè)試部位的電壓值。3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中利用溫升測(cè)量電路對(duì)涂敷電力復(fù)合脂的端子板的 接觸部的溫升進(jìn)行測(cè)量，所述溫升測(cè)量電路包括： 輸入電源，用于輸入交流電源； 電壓調(diào)節(jié)單元，用于對(duì)輸入交流電源進(jìn)行電壓調(diào)節(jié)，以控制涂敷電力復(fù)合脂的端子板 兩端的電壓； 溫度傳感器，用于測(cè)量涂敷電力復(fù)合脂的端子板的溫度升高值；以及 保護(hù)單元，用于對(duì)溫升測(cè)量電路進(jìn)行保護(hù)。4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，所述基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的初始模型將Sigmoid作為傳遞函 數(shù)，將輸入和輸出均歸一化到[〇，1 ]之間。5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的電力復(fù)合脂溫升預(yù)測(cè)模型的訓(xùn)練次數(shù) 和最大失敗次數(shù)設(shè)置范圍為10000至20000次。6. -種用于為涂敷電力復(fù)合脂端子板溫升預(yù)測(cè)模型的系統(tǒng)，包括： 數(shù)據(jù)獲取模塊，用于獲取電流I、端子板材質(zhì)M、端子板尺寸L以及端子板通電時(shí)間t; 電阻測(cè)量電路，所述電阻測(cè)量模塊用于對(duì)電力復(fù)合脂電阻進(jìn)行測(cè)量，以獲取至少兩個(gè) 測(cè)量電阻值R;溫升測(cè)量電路，所述溫升測(cè)量模塊用于對(duì)電力復(fù)合脂溫升進(jìn)行測(cè)量，獲取至 少兩個(gè)測(cè)量溫升值T; 樣本數(shù)據(jù)集成模塊，用于將所述至少兩個(gè)測(cè)量電阻值R中的每個(gè)測(cè)量電阻值R與所述獲 取的電流I、端子板材質(zhì)M、端子板尺寸L和端子板通電時(shí)間t組成一組輸入樣本數(shù)據(jù)，從而獲 得至少兩個(gè)輸入樣本數(shù)據(jù)組； 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練模塊，用于以電流I、端子板材質(zhì)M、端子板尺寸L、端子板通電時(shí)間t以及 電阻值為輸入?yún)⒘?，并且以溫升值為輸出參量建立具有輸入層、隱含層及輸出層的基于神 經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的初始模型；神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試模塊，以至少兩個(gè)輸入樣本數(shù)據(jù)組中的另一部分輸入樣 本數(shù)據(jù)組為輸入?yún)⒘浚灾辽賰蓚€(gè)測(cè)量溫升值中相應(yīng)的另一部分測(cè)量溫升值T2為輸出參量 對(duì)經(jīng)過(guò)學(xué)習(xí)和訓(xùn)練的基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的初始模型進(jìn)行檢測(cè)，以得到基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的電力復(fù)合 脂溫升預(yù)測(cè)模型。7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)，所述電阻測(cè)量電路包括： 控制臺(tái)，控制電流流向，從而分別測(cè)試電流正和反兩個(gè)流向的電壓、電流和電阻值； 電源，按照觸摸方式輸入電壓和電流，并且具有控制輸入電壓和電流的開(kāi)關(guān)；以及 數(shù)字多用表，用于顯示測(cè)試部位的電壓值。8. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)，所述溫升測(cè)量電路包括： 輸入電源，用于輸入交流電源； 電壓調(diào)節(jié)單元，用于對(duì)輸入交流電源進(jìn)行電壓調(diào)節(jié)，以控制涂敷電力復(fù)合脂的端子板 兩端的電壓； 溫度傳感器，用于測(cè)量涂敷電力復(fù)合脂的端子板的溫度升高值；以及 保護(hù)單元，用于對(duì)溫升測(cè)量電路進(jìn)行保護(hù)。9. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)，所述基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的初始模型將Sigmoid作為傳遞函 數(shù)，將輸入和輸出均歸一化到[〇，1 ]之間。10. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)，基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的電力復(fù)合脂溫升預(yù)測(cè)模型的訓(xùn)練次數(shù) 和最大失敗次數(shù)設(shè)置范圍為10000至20000次。
【文檔編號(hào)】G06N3/04GK106096116SQ201610394782
【公開(kāi)日】2016年11月9日
【申請(qǐng)日】2016年6月6日 公開(kāi)號(hào)201610394782.0, CN 106096116 A, CN 106096116A, CN 201610394782, CN-A-106096116, CN106096116 A, CN106096116A, CN201610394782, CN201610394782.0
【發(fā)明人】張雪松, 董玉明, 劉勝春, 李軍輝, 劉臻, 孫寶東, 席永平, 孫娜, 牛海軍, 張軍, 邱書清, 劉操蘭
【申請(qǐng)人】中國(guó)電力科學(xué)研究院, 國(guó)家電網(wǎng)公司