3]圖2顯示為本發(fā)明實(shí)施例一中提供的探測(cè)器暗場(chǎng)圖像模板中震顫或敲擊偽影的識(shí) 別方法的流程圖。
[0044]圖3顯示為本發(fā)明實(shí)施例二中的探測(cè)器暗場(chǎng)圖像模板中震顫或敲擊偽影的校正方 法的流程圖。
[0045]圖4顯示為本發(fā)明實(shí)施例二中的探測(cè)器暗場(chǎng)圖像模板中震顫或敲擊偽影的校正方 法校正后的具有震顫或敲擊偽影的暗場(chǎng)圖像的像素灰度值與校正前的像素灰度值的對(duì)比 圖；其中，曲線①為校正前的暗場(chǎng)圖像中一列像素灰度值，曲線②為校正后的暗場(chǎng)圖像中一 列像素灰度值。
[0046]圖5顯示本發(fā)明實(shí)施例二中的探測(cè)器暗場(chǎng)圖像模板中震顫或敲擊偽影的校正方法 校正后的盆骨正位圖與校正前的盆骨正位圖的對(duì)比圖；其中，圖a為校正前的盆骨正位圖， 圖b為校正后的盆骨正位圖。
【具體實(shí)施方式】
[0047]以下通過(guò)特定的具體實(shí)例說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施方式，本領(lǐng)域技術(shù)人員可由本說(shuō)明書(shū) 所揭露的內(nèi)容輕易地了解本發(fā)明的其他優(yōu)點(diǎn)與功效。本發(fā)明還可以通過(guò)另外不同的具體實(shí) 施方式加以實(shí)施或應(yīng)用，本說(shuō)明書(shū)中的各項(xiàng)細(xì)節(jié)也可以基于不同觀點(diǎn)與應(yīng)用，在沒(méi)有背離 本發(fā)明的精神下進(jìn)行各種修飾或改變。
[0048] 請(qǐng)參閱圖2至圖5。需要說(shuō)明的是，本實(shí)施例中所提供的圖示僅以示意方式說(shuō)明本 發(fā)明的基本構(gòu)想，雖圖示中僅顯示與本發(fā)明中有關(guān)的組件而非按照實(shí)際實(shí)施時(shí)的組件數(shù) 目、形狀及尺寸繪制，其實(shí)際實(shí)施時(shí)各組件的型態(tài)、數(shù)量及比例可為一種隨意的改變，且其 組件布局型態(tài)也可能更為復(fù)雜。
[0049] 實(shí)施例一
[0050] 請(qǐng)參閱圖2,本發(fā)明提供一種探測(cè)器暗場(chǎng)圖像模板中震顫或敲擊偽影的識(shí)別方法， 所述探測(cè)器暗場(chǎng)圖像模板中震顫或敲擊偽影的識(shí)別方法包括以下步驟：
[0051] 1)采集具有不同采集延時(shí)的暗場(chǎng)圖像模板作為標(biāo)準(zhǔn)圖像模板；
[0052] 2)對(duì)所述標(biāo)準(zhǔn)圖像模板進(jìn)行壞像素查找并對(duì)壞像素進(jìn)行替換處理；
[0053] 3)采集臨床暗場(chǎng)圖像模板；
[0054] 4)對(duì)所述臨床暗場(chǎng)圖像模板進(jìn)行壞像素查找并對(duì)壞像素進(jìn)行替換處理；
[0055] 5)對(duì)壞像素替換處理后的所述臨床暗場(chǎng)圖像模板進(jìn)行偏移量校正；
[0056] 6)對(duì)偏移量校正后的所述臨床暗場(chǎng)圖像模板進(jìn)行震顫或敲擊偽影與lag偽影及漏 電流偽影區(qū)分并識(shí)別。
[0057] 在步驟1)中，請(qǐng)參閱圖2中的S1步驟，采集具有不同采集延時(shí)的暗場(chǎng)圖像模板作為 標(biāo)準(zhǔn)圖像模板。
[0058] 作為示例，采用探測(cè)器采集具有不同采集延時(shí)（采集延時(shí)即發(fā)送采集命令到開(kāi)始 采集之間的時(shí)間間隔）的暗場(chǎng)圖像模板作為標(biāo)準(zhǔn)圖像模板，具體方法為:先將所述探測(cè)器熱 機(jī)，熱機(jī)完成后，在相同溫度條件下分別采集具有不同采集延時(shí)的暗場(chǎng)圖像模板作為標(biāo)準(zhǔn) 圖像模板備用。所述暗場(chǎng)圖像模板的采集延時(shí)可以分別為2秒和5秒。
[0059] 在步驟2)中，請(qǐng)參閱圖2中的S2步驟，對(duì)所述標(biāo)準(zhǔn)圖像模板進(jìn)行壞像素查找并對(duì)壞 像素進(jìn)行替換處理。
[0060] 作為示例，對(duì)所述標(biāo)準(zhǔn)圖像模板進(jìn)行壞像素查找并對(duì)壞像素進(jìn)行替換處理包括如 下步驟：
[0061] 21)將所述標(biāo)準(zhǔn)圖像模板劃分成若干個(gè)包括m*n(即m行η列）個(gè)像素的小區(qū)域R0I， 求所述小區(qū)域R0I中像素灰度值的中值R〇I_Median和標(biāo)準(zhǔn)差R0I_Std，根據(jù)如下公式找出壞 像素：
[0062]
[x. \] = findROh&{RC)f<ROl Medhm-ROl Stc^Low si<rm^(KOl>ROl Meciiun-ROl Su^Hi〇h
[0063] 其中，ROI1為所述標(biāo)準(zhǔn)圖像模板中的一個(gè)小區(qū)域，R0I_Median為小區(qū)域中像素灰 度值的中值，R〇I_Std為小區(qū)域中像素灰度值的標(biāo)準(zhǔn)差；
[0064] 22)將找出的壞像素用壞像素領(lǐng)域8個(gè)像素平均值進(jìn)行替換。
[0065]具體的，步驟21)中公式的意思是在區(qū)域R0I1中的像素灰度值滿足小于區(qū)域中像 素灰度值的中值減去Low_sigma倍的R0I_Std，大于區(qū)域中像素灰度值的中值加上High_ s i gma倍的R01_Std的點(diǎn)即為異常像素，Low_s i gma和Hi gh_s i gma的值按照實(shí)際情況決定，主 要與探測(cè)器的噪聲相關(guān)，本實(shí)施例中，這兩個(gè)變量都定為6。
[0066]具體的，m及η的數(shù)值根據(jù)具體的探測(cè)器來(lái)決定，與探測(cè)器的讀出芯片一個(gè)通道占 有的像素?cái)?shù)目有關(guān)，在本實(shí)施例中，將m及η設(shè)定為256。
[0067]具體的，R0I_Std的計(jì)算公式為：
[0069] 式中，7為一行像素灰度值的平均值，為第i行，第j列像素的灰度值。
[0070] 具體的，壞像素的替換可以按照如下公式進(jìn)行：
[0072] 在步驟3)中，請(qǐng)參閱圖2中的S3步驟，采集臨床暗場(chǎng)圖像模板。
[0073] 作為示例，，采用探測(cè)器采集所述臨床暗場(chǎng)圖像模板，具體方法為:先將所述探測(cè) 器熱機(jī)，熱機(jī)完成后，采集具有一定采集延時(shí)的臨床暗場(chǎng)圖像模板。
[0074] 在步驟4)中，請(qǐng)參閱圖2中的S4步驟，對(duì)所述臨床暗場(chǎng)圖像模板進(jìn)行壞像素查找并 對(duì)壞像素進(jìn)行替換處理。
[0075] 作為示例，所述臨床暗場(chǎng)圖像模板進(jìn)行壞像素查找并對(duì)壞像素進(jìn)行替換處理的具 體方法與步驟2)中對(duì)所述標(biāo)準(zhǔn)圖像模板進(jìn)行壞像素查找并對(duì)壞像素進(jìn)行替換處理的具體 方法相同，具體可參閱步驟2)的相關(guān)描述，此處不再累述。
[0076] 在步驟5)中，請(qǐng)參閱圖2中的S5步驟，對(duì)壞像素替換處理后的所述臨床暗場(chǎng)圖像模 板進(jìn)行偏移量校正。
[0077]作為示例，對(duì)壞像素替換處理后的所述臨床暗場(chǎng)圖像模板進(jìn)行偏移量校正包括以 下步驟：
[0078] 51)將壞像素替換處理后的所述標(biāo)準(zhǔn)圖像模板中的每個(gè)像素根據(jù)公式y(tǒng) = kt+b進(jìn) 行線性擬合，得到擬合系數(shù)k和b的矩陣，其中，t為所述標(biāo)準(zhǔn)圖像模板的采集延時(shí)，y為采集 延時(shí)為t秒的像素灰度值；
[0079] 52)將所述臨床暗場(chǎng)圖像模板的采集延時(shí)代入所述線性擬合公式y(tǒng) = kt+b得到偏 移量暗場(chǎng)圖像模板；由于在相同溫度下，對(duì)于不同的像素，隨著曝光延時(shí)的增加，像素灰度 值成線性增加，所以，將所述臨床暗場(chǎng)圖像模板的采集延時(shí)代入所述線性擬合公式y(tǒng)=kt+b 可以得到一張偏移量暗場(chǎng)圖像模板；
[0080] 53)將所述臨床暗場(chǎng)圖像模板與所述偏移量暗場(chǎng)圖像模板相減即得到校正后的暗 場(chǎng)圖像模板。
[0081] 在步驟6)中，請(qǐng)參閱圖2中的S6步驟，對(duì)偏移量校正后的所述臨床暗場(chǎng)圖像模板進(jìn) 行震顫或敲擊偽影與lag偽影及漏電流偽影區(qū)分并識(shí)別。
[0082]作為示例，該步驟中以包括m*n個(gè)像素的區(qū)域作為研究對(duì)象，對(duì)偏移量校正后的所 述臨床暗場(chǎng)圖像模板進(jìn)行震顫或敲擊偽影與lag偽影及漏電流偽影區(qū)分并識(shí)別包括以下步 驟：
[0083] 61)分別對(duì)每一行的像素灰度值求標(biāo)準(zhǔn)差，得到所有行的標(biāo)準(zhǔn)差R0W_i_std，其中i =1，2,…m;R0W_i_std的計(jì)算公式為：
[0085] 式中，X為一行像素灰度值的平均值，為第i行，第j列像素的灰度值。
[0086] 62)找出疑似含有震顫或敲擊偽影的疑似行:所述疑似行的像素灰度值的標(biāo)準(zhǔn)差 R0W_i_std大于位于其前三行及位于其后三行中的像素灰度值的標(biāo)準(zhǔn)差，且所述疑似行的 像素灰度值的標(biāo)準(zhǔn)差R〇W_i_std與位于其前三行及位于其后三行中的像素灰度值的標(biāo)準(zhǔn)差 的平均值之差大于第一設(shè)定值;即所述疑似行滿足如下條件：
[0087] (R0ff_i_std>R0ff_i-3_std)&(R0ff_i_std>R0ff_i-2_std)&
[0088] (R0ff_i_std>R0ff_i-l_std)&(R0ff_i_std>R0ff_i+l_std)&
[0089] (R0ff_i_s td > R0ff_i+2_s td)&(R0ff_i_s td > R0ff_i+3_s td)&
[0090] (R0ff_i_std-average(R0ff_i+3_std+R0ff_i+2_std+R0ff_i+l_std+
[0091 ] R0ff_i-3_std+R0ff_i-2_std+R0ff_i-l_std)>Tl
[0092]式中，i即為疑似行所處的行，"&"表示且的意思，即幾個(gè)條件同時(shí)滿足;T1為第一 設(shè)定值。
[0093] 63)求步驟62)得到的所述疑似行中像素灰度值的平均值，并分別求位于所述疑似 行前三行及后三行中像素灰度值的平均值avgs」，共得到7個(gè)平均值avgs_i;求這7個(gè)平均 值中的最大值max_avgs(i )與其他6個(gè)平均值的平均值sum_avgs(i )/6的差值，記為std_ avgs，作為識(shí)別震顫或敲擊偽影的第一條件;具體計(jì)算公式如下所示：
[0094] max_avgs(i)=max(avgs_i-3,avgs_i-2,avgs_i-l,avgs_i,avgs_i+l,...
[0095] avgs_i+2,avgs_i+3)
[0096] sum_avgs(i)=sum(avgs_i-3,avgs_i-2,avgs_i-l,avgs_i,avgs_i+l,...