探測器暗場圖像模板中震顫或敲擊偽影的識別及校正方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明屬于X射線平板探測器領(lǐng)域，特別涉及一種探測器暗場圖像模板中震顫或 敲擊偽影的識別及校正方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 隨著平板探測器相關(guān)技術(shù)的發(fā)展，用戶對于一款平板探測器的性能有了更高的要 求，除了暗場圖像質(zhì)量好、探測器響應(yīng)速度快、拍攝對象接受到的劑量低以外、對于探測器 的便攜性或者穩(wěn)定性也有了更迫切的需求，也就是需要滿足任何時間、任何地點的拍片需 求，對于便攜性與穩(wěn)定性的主要挑戰(zhàn)在于，探測器在拍片過程中會遇到各種不同的振動，例 如，拍片時，床架或者探測器支架發(fā)生振動、病人的運動以及其他原因引起的振動，這些振 動最終都會或大或小的引起探測器的振動，最終引起震顫偽影，這種偽影對于暗場圖像質(zhì) 量的影響是直接的，并且是幾乎是最嚴重的，它在暗場圖像模板上的表現(xiàn)為橫向上少則幾 根、多則幾十根，上百根線上的像素值幾乎全部異常、呈現(xiàn)異常亮或者異常暗的情況，正常 信號受到極大影響或者可能被完全湮沒，如圖1所示，由圖1可知，在圖1的虛線區(qū)域，存在明 顯的震顫或敲擊偽影。目前，對于這種震顫偽影傳統(tǒng)的處理思路或者方法是在構(gòu)成探測器 的各個部件上，例如結(jié)構(gòu)件、電路以及TFT傳感器上增加增加處理部件遏制振動，以盡量減 小振動，但是振動源影響到探測器的幾乎所有部件，單獨在某個部件上增加防振措施，效果 不佳，振動源對于每個部件的影響錯綜復(fù)雜，難以分析，且對于每個部件添加抗振部件價格 昂貴，所以目前對于震顫噪聲或敲擊偽影還沒有簡單易用且有效的方法。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 本發(fā)明針對現(xiàn)有技術(shù)存在的上述不足，提出了一種探測器暗場圖像模板中震顫或 敲擊偽影的識別及校正方法，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中為了減小震顫偽影對探測器暗場圖像質(zhì) 量的影響在構(gòu)成探測器的各個部件上增加處理部件遏制振動而存在的單獨在某個部件上 增加防振措施的效果不佳的問題、難以分析的問題，以及在每個部件添加振動部件價格昂 貴的問題。
[0004] 為實現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的，本發(fā)明提供一種探測器暗場圖像模板中震顫或 敲擊偽影的識別方法，包括以下步驟：
[0005] 1)采集具有不同采集延時的暗場圖像模板作為標(biāo)準(zhǔn)圖像模板；
[0006] 2)對所述標(biāo)準(zhǔn)圖像模板進行壞像素查找并對壞像素進行替換處理；
[0007] 3)采集臨床暗場圖像模板；
[0008] 4)對所述臨床暗場圖像模板進行壞像素查找并對壞像素進行替換處理；
[0009] 5)對壞像素替換處理后的所述臨床暗場圖像模板進行偏移量校正；
[0010] 6)對偏移量校正后的所述臨床暗場圖像模板進行震顫或敲擊偽影與lag偽影及漏 電流偽影區(qū)分并識別。
[0011]作為本發(fā)明的探測器暗場圖像模板中震顫或敲擊偽影的識別方法的一種優(yōu)選方 案，步驟2)包括：
[0012] 21)將所述標(biāo)準(zhǔn)圖像模板劃分成若干個包括m*n個像素的小區(qū)域，求所述小區(qū)域中 像素灰度值的中值和標(biāo)準(zhǔn)差，根據(jù)如下公式找出壞像素：
[0014] 其中，R011為所述標(biāo)準(zhǔn)圖像模板中的一個小區(qū)域，R0I_Median為小區(qū)域中像素灰 度值的中值，R〇I_Std為小區(qū)域中像素灰度值的標(biāo)準(zhǔn)差；
[0015] 22)將找出的壞像素用壞像素領(lǐng)域8個像素平均值進行替換。
[0016] 作為本發(fā)明的探測器暗場圖像模板中震顫或敲擊偽影的識別方法的一種優(yōu)選方 案，步驟4)包括：
[0017] 41)將所述臨床暗場圖像模板劃分成若干個包括m*n個像素的小區(qū)域，求所述小區(qū) 域中像素灰度值的中值和標(biāo)準(zhǔn)差，根據(jù)如下公式找出壞像素：
[0019]其中，R0I1為所述臨床暗場圖像模塊中的一個小區(qū)域，R〇I_Median為小區(qū)域中像 素灰度值的中值，R〇I_Std為小區(qū)域中像素灰度值的標(biāo)準(zhǔn)差；
[0020] 42)將找出的壞像素用壞像素領(lǐng)域8個像素平均值進行替換。
[0021 ]作為本發(fā)明的探測器暗場圖像模板中震顫或敲擊偽影的識別方法的一種優(yōu)選方 案，步驟5)包括：
[0022] 51)將壞像素替換處理后的所述標(biāo)準(zhǔn)圖像模板中的每個像素根據(jù)公式y(tǒng) = kt+b進 行線性擬合，得到擬合系數(shù)k和b的矩陣，其中，t為所述標(biāo)準(zhǔn)圖像模板的采集延時，y為采集 延時為t秒的像素灰度值；
[0023] 52)將所述臨床暗場圖像模板的采集延時代入所述線性擬合公式y(tǒng) = kt+b得到偏 移量暗場圖像模板；
[0024] 53)將所述臨床暗場圖像模板與所述偏移量暗場圖像模板相減即得到校正后的暗 場圖像模板。
[0025] 作為本發(fā)明的探測器暗場圖像模板中震顫或敲擊偽影的識別方法的一種優(yōu)選方 案，步驟6)包括：
[0026] 61)分別對每一行的像素灰度值求標(biāo)準(zhǔn)差，得到所有行的標(biāo)準(zhǔn)差；
[0027] 62)找出疑似含有震顫或敲擊偽影的疑似行:所述疑似行的像素灰度值的標(biāo)準(zhǔn)差 大于位于其前三行及位于其后三行中的像素灰度值的標(biāo)準(zhǔn)差，且所述疑似行的像素灰度值 的標(biāo)準(zhǔn)差與位于其前三行及位于其后三行中的像素灰度值的標(biāo)準(zhǔn)差的平均值之差大于第 一設(shè)定值；
[0028] 63)求所述疑似行中像素灰度值的平均值，并分別求位于所述疑似行前三行及后 三行中像素灰度值的平均值;求這些平均值中的最大值與其他幾個平均值的平均值的差 值；
[0029] 64)求所述疑似行中像素灰度值的中值、所述疑似行中位于奇數(shù)列的像素灰度值 的中值及所述疑似行中位于偶數(shù)列的像素灰度值的中值;找出位于奇數(shù)列的像素灰度值的 中值大于該行像素灰度值的中值且位于偶數(shù)列的像素灰度值的中值小于該行像素灰度值 的中值，或位于奇數(shù)列的像素灰度值的中值小于該行像素灰度值的中值且位于偶數(shù)列的像 素灰度值的中值大于該行像素灰度值的中值的疑似行；
[0030] 65)找出步驟64)得到的所述疑似行中位于奇數(shù)列的像素灰度值大于該行像素灰 度值的中值的數(shù)目及位于偶數(shù)列的像素灰度值小于該行像素灰度值的中值的數(shù)目，或找出 步驟64)得到的所述疑似行中位于奇數(shù)列的像素灰度值小于該行像素灰度值的中值的數(shù)目 及位于偶數(shù)列的像素灰度值大于該行像素灰度值的中值的數(shù)目；求符合上述條件的位于奇 數(shù)列的像素灰度值的數(shù)目與位于偶數(shù)列的像素灰度值的數(shù)目的差值，并找出二者中的最大 值；
[0031] 66)依據(jù)步驟63)中得到的差值、步驟65)中得到的差值及最大值判斷所述疑似行 中是否含有震顫或敲擊偽影。
[0032] 作為本發(fā)明的探測器暗場圖像模板中震顫或敲擊偽影的識別方法的一種優(yōu)選方 案，步驟62)中，所述第一設(shè)定值為0.95。
[0033] 作為本發(fā)明的探測器暗場圖像模板中震顫或敲擊偽影的識別方法的一種優(yōu)選方 案，步驟66)中，依據(jù)步驟63)中得到的差值、步驟65)中得到的差值及最大值判斷所述疑似 行中是否含有震顫或敲擊偽影的具體方法為：
[0034]若步驟63)中得到的差值大于第二設(shè)定值，且步驟65)中得到的差值小于第三設(shè)定 值，且步驟65)中得到的最大值大于第四設(shè)定值，則判斷所述疑似行中含有震顫或敲擊偽 影，否則不含有震顫或敲擊偽影。
[0035] 作為本發(fā)明的探測器暗場圖像模板中震顫或敲擊偽影的識別方法的一種優(yōu)選方 案，所述第二預(yù)定值為2.5，所述第三預(yù)定值為100，所述第四預(yù)定值為600。
[0036] 本發(fā)明還提供一種探測器暗場圖像模板中震顫或敲擊偽影的校正方法，所述探測 器暗場圖像模板中震顫或敲擊偽影的校正方法包括以下步驟：
[0037] 1)采用如上述任一方案中所述的探測器暗場圖像模板中震顫或敲擊偽影的識別 方法識別出具有震顫或敲擊偽影的臨床暗場圖像模板；
[0038] 2)分別對所述具有震顫或敲擊偽影的臨床暗場圖像模板的每一列中各像素的灰 度值進行多項式擬合，以將受震顫或敲擊偽影影響的像素灰度值校正到正常水平，擬合公 式為:y = anxn+an-ixn-ban-2Xn- 2+.........a2X2+aix+a，其中，y為校正后的像素灰度值，x為每 一列中像素的位置，η為擬合階數(shù)，ai~an為擬合系數(shù)。
[0039] 作為本發(fā)明的探測器暗場圖像模板中震顫或敲擊偽影的校正方法的一種優(yōu)選方 案，步驟2)中，將每一列中的像素分為多段，分別對每一段中各像素灰度值進行多項式擬 合。
[0040] 作為本發(fā)明的探測器暗場圖像模板中震顫或敲擊偽影的校正方法的一種優(yōu)選方 案，每一段中，受震顫或敲擊偽影影響的像素的數(shù)目小于該段中像素總數(shù)目的十分之一。
[0041] 本發(fā)明的一種探測器暗場圖像模板中震顫或敲擊偽影的識別及校正方法的有益 效果為:本發(fā)明的探測器暗場圖像模板中震顫或敲擊偽影的識別及校正方法，可以簡單快 捷的完成對震顫或敲擊偽影的識別與校正，不需要改變?nèi)魏斡布Y(jié)構(gòu)、不需要增加任何額 外抗震顫或敲擊機構(gòu)，能夠在幾乎不改變正常暗場圖像的暗場圖像質(zhì)量的前提下，實時有 效地校正震顫或敲擊偽影，極大的提高了平板探測器的抗震顫或敲擊性能，降低了成本;同 時，本發(fā)明可以在暗場圖像模板存在lag(上一幀亮場曝光后殘余信號在下一幀暗場被讀 出）偽影或漏電流偽影的情況下，先將震顫或敲擊偽影與lag偽影及漏電流偽影區(qū)分并識別 出來，進而提高后續(xù)校正的精準(zhǔn)度。
【附圖說明】
[0042]圖1顯示為現(xiàn)有技術(shù)中存在震顫或敲擊偽影的暗場圖像。
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