所有實施例中的步驟Sll可包括:
[0053]S21:將預(yù)設(shè)的通用測試數(shù)據(jù)激勵產(chǎn)生器例化為N個例化測試數(shù)據(jù)激勵產(chǎn)生器；
[0054]S22:約束每個例化測試數(shù)據(jù)激勵產(chǎn)生器均產(chǎn)生一第一事務(wù)；
[0055]具體的，其N個例化測試數(shù)據(jù)激勵產(chǎn)生器可共產(chǎn)生N個外設(shè)測試所需的第一事務(wù)。
[0056]更具體的，本發(fā)明拆開現(xiàn)有技術(shù)中驗證環(huán)境中模擬外設(shè)的測試數(shù)據(jù)激勵產(chǎn)生器，使用一個通用測試數(shù)據(jù)激勵產(chǎn)生器，通過實施化多次，即可支持多個外設(shè)的測試，從而可實現(xiàn)通過修改簡單的通用測試數(shù)據(jù)激勵產(chǎn)生器，即可實現(xiàn)對多個測試數(shù)據(jù)激勵產(chǎn)生器的修改。
[0057]在本發(fā)明其它實施例中，如圖3所述，上述所有實施例中的步驟S12可包括:
[0058]S31:將預(yù)設(shè)的通用設(shè)備主控模塊例化為N個例化的設(shè)備主控模塊；
[0059]S32:約束每個例化的設(shè)備主控模塊均產(chǎn)生一組激勵信號；
[0060]具體的，其N個例化的設(shè)備主控模塊可共產(chǎn)生N組激勵信號；其中，N組激勵信號與N個第一事務(wù)一一對應(yīng)。
[0061]由上可見，在本發(fā)明實施例中，可使用一個通用設(shè)備主控模塊，通過實施化多次，即可產(chǎn)生多組激勵信號，從而可支持多個外設(shè)的測試，進(jìn)而可實現(xiàn)通過修改簡單的通用設(shè)備主控模塊，即可實現(xiàn)對多個主控模塊的修改；由上可見，采用本發(fā)明的方法，可使得驗證環(huán)境各個模塊簡單化、修改更簡單、問題定位更快捷，維護起來更節(jié)省時間和減小了出錯的概率；
[0062]本發(fā)明還公開了一種與上述方法相對應(yīng)的基于VMM (Verificat1n MethodologyManual)的二級緩存驗證裝置，如圖4所示，可包括:
[0063]第一產(chǎn)生模塊41用于，分別產(chǎn)生N個外設(shè)測試所需的N個第一事務(wù)；其中，第一事務(wù)包括測試數(shù)據(jù)包，N為自然數(shù)；
[0064]第二產(chǎn)生模塊42用于，分別產(chǎn)生與N個第一事務(wù)相對應(yīng)的N組激勵信號；
[0065]傳送模塊43用于，將激勵信號傳送至二級緩存中；
[0066]讀取模塊44用于，針對任一第一事務(wù)，每隔預(yù)設(shè)時間，從二級緩存中存儲第一事務(wù)的緩存區(qū)讀出所存儲的第二事務(wù)；
[0067]對比模塊45用于，將第一事務(wù)與第二事務(wù)的相似度進(jìn)行對比，獲得目標(biāo)相似度；
[0068]驗證模塊46用于，當(dāng)目標(biāo)相似度的值大于等于預(yù)設(shè)相似度的值時，驗證通過。
[0069]由上可見，在本發(fā)明實施例中，首先分別產(chǎn)生N個外設(shè)測試所需的N個第一事務(wù)；其中，第一事務(wù)包括測試數(shù)據(jù)包，而N為自然數(shù)；然后分別產(chǎn)生與N個第一事務(wù)相對應(yīng)的N組激勵信號，并將激勵信號傳送至二級緩存中；再然后針對任一第一事務(wù)，每隔預(yù)設(shè)時間，從二級緩存中存儲該第一事務(wù)的緩存區(qū)讀出所存儲的第二事務(wù)；最后將第一事務(wù)與第二事務(wù)的相似度進(jìn)行對比，獲得目標(biāo)相似度，且當(dāng)目標(biāo)相似度的值大于預(yù)設(shè)相似度的值時，認(rèn)為驗證通過，即此時芯片內(nèi)的二級緩存能夠支持該第一事務(wù)所對應(yīng)的外設(shè)，否則認(rèn)為該芯片內(nèi)的二級緩存不能夠支持該第一事務(wù)所對應(yīng)的外設(shè)。
[0070]在本發(fā)明其它實施例中，如圖5所述，上述所有實施例中的第一產(chǎn)生模塊41可包括:
[0071]第一例化單元51用于，將預(yù)設(shè)的通用測試數(shù)據(jù)激勵產(chǎn)生器例化為N個例化測試數(shù)據(jù)激勵產(chǎn)生器；
[0072]第一約束單元52用于，約束每個例化測試數(shù)據(jù)激勵產(chǎn)生器均產(chǎn)生一第一事務(wù)，而其N個例化測試數(shù)據(jù)激勵產(chǎn)生器共可產(chǎn)生N個外設(shè)測試所需的第一事務(wù)。
[0073]在本發(fā)明其它實施例中，如圖6所述，上述所有實施例中的第二產(chǎn)生模塊42可包括:
[0074]第二例化單元61用于，將預(yù)設(shè)的通用設(shè)備主控模塊例化為N個例化的設(shè)備主控模塊；
[0075]第二約束單元62用于，約束每個例化的設(shè)備主控模塊均產(chǎn)生一組激勵信號，N個例化的設(shè)備主控模塊共可產(chǎn)生N組激勵信號；其中，N組激勵信號與N個第一事務(wù)一一對應(yīng)。
[0076]對于第一產(chǎn)生模塊41、第二產(chǎn)生模塊42、傳送模塊43、讀取模塊44、對比模塊45及驗證模塊46的各細(xì)化功能可參見上述方法的記載，在此不再贅述。
[0077]需要說明的是，本發(fā)明的方法及裝置所基于的驗證平臺為VMM(Verificat1nMethodology Manual)驗證平臺；除此之外，本發(fā)明還需預(yù)先設(shè)置，不同外設(shè)訪問二級緩存中的不同緩存區(qū)域，以及控制整個二級緩存的操作及檢測中斷。
[0078]對所公開的實施例的上述說明，使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本發(fā)明。對這些實施例的多種修改對本領(lǐng)域的專業(yè)技術(shù)人員來說將是顯而易見的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本發(fā)明的精神或范圍的情況下，在其它實施例中實現(xiàn)。因此，本發(fā)明將不會被限制于本文所示的這些實施例，而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點相一致的最寬的范圍。
【主權(quán)項】
1.一種基于VMM的二級緩存驗證方法，其特征在于，包括: 分別產(chǎn)生N個外設(shè)測試所需的N個第一事務(wù)；其中，所述第一事務(wù)包括測試數(shù)據(jù)包，所述N為自然數(shù)； 分別產(chǎn)生與所述N個第一事務(wù)相對應(yīng)的N組激勵信號，并將所述激勵信號傳送至二級緩存中； 針對任一第一事務(wù): 每隔預(yù)設(shè)時間，從所述二級緩存中存儲所述第一事務(wù)的緩存區(qū)讀出所存儲的第二事務(wù); 將所述第一事務(wù)與所述第二事務(wù)的相似度進(jìn)行對比，獲得目標(biāo)相似度； 當(dāng)所述目標(biāo)相似度的值大于等于所述預(yù)設(shè)相似度的值時，驗證通過。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述分別產(chǎn)生N個外設(shè)測試所需的N個第一事務(wù)，包括: 將預(yù)設(shè)的通用測試數(shù)據(jù)激勵產(chǎn)生器例化為N個例化測試數(shù)據(jù)激勵產(chǎn)生器； 約束每個例化測試數(shù)據(jù)激勵產(chǎn)生器均產(chǎn)生一第一事務(wù)，所述N個例化測試數(shù)據(jù)激勵產(chǎn)生器共產(chǎn)生N個外設(shè)測試所需的第一事務(wù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述分別產(chǎn)生與所述N個第一事務(wù)相對應(yīng)的N組激勵信號,包括: 將預(yù)設(shè)的通用設(shè)備主控模塊例化為N個例化的設(shè)備主控模塊； 約束每個例化的設(shè)備主控模塊均產(chǎn)生一組激勵信號，所述N個例化的設(shè)備主控模塊共產(chǎn)生N組激勵信號；其中,所述N組激勵信號與所述N個第一事務(wù)--對應(yīng)。
4.一種基于VMM的二級緩存驗證裝置，其特征在于，包括: 第一產(chǎn)生模塊用于，分別產(chǎn)生N個外設(shè)測試所需的N個第一事務(wù)；其中，所述第一事務(wù)包括測試數(shù)據(jù)包，所述N為自然數(shù)； 第二產(chǎn)生模塊用于，分別產(chǎn)生與所述N個第一事務(wù)相對應(yīng)的N組激勵信號； 傳送模塊用于，將所述激勵信號傳送至二級緩存中； 讀取模塊用于，針對任一第一事務(wù)，每隔預(yù)設(shè)時間，從所述二級緩存中存儲所述第一事務(wù)的緩存區(qū)讀出所存儲的第二事務(wù)； 對比模塊用于，將所述第一事務(wù)與所述第二事務(wù)的相似度進(jìn)行對比，獲得目標(biāo)相似度； 驗證模塊用于，當(dāng)所述目標(biāo)相似度的值大于等于所述預(yù)設(shè)相似度的值時，驗證通過。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述第一產(chǎn)生模塊包括: 第一例化單元用于，將預(yù)設(shè)的通用測試數(shù)據(jù)激勵產(chǎn)生器例化為N個例化測試數(shù)據(jù)激勵產(chǎn)生器； 第一約束單元用于，約束每個例化測試數(shù)據(jù)激勵產(chǎn)生器均產(chǎn)生一第一事務(wù)，所述N個例化測試數(shù)據(jù)激勵產(chǎn)生器共產(chǎn)生N個外設(shè)測試所需的第一事務(wù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的裝置，其特征在于，所述第二產(chǎn)生模塊包括: 第二例化單元用于，將預(yù)設(shè)的通用設(shè)備主控模塊例化為N個例化的設(shè)備主控模塊； 第二約束單元用于，約束每個例化的設(shè)備主控模塊均產(chǎn)生一組激勵信號，所述N個例化的設(shè)備主控模塊共產(chǎn)生N組激勵信號；其中，所述N組激勵信號與所述N個第一事務(wù)一一對應(yīng)。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種基于VMM的二級緩存驗證方法及裝置，該方法包括：分別產(chǎn)生N個外設(shè)測試所需的N個第一事務(wù)；其中，第一事務(wù)包括測試數(shù)據(jù)包，N為自然數(shù)；分別產(chǎn)生與N個第一事務(wù)相對應(yīng)的N組激勵信號，并將激勵信號傳送至二級緩存中；針對任一第一事務(wù)：每隔預(yù)設(shè)時間，從二級緩存中存儲第一事務(wù)的緩存區(qū)讀出所存儲的第二事務(wù)；將第一事務(wù)與第二事務(wù)的相似度進(jìn)行對比，獲得目標(biāo)相似度；當(dāng)目標(biāo)相似度的值大于等于預(yù)設(shè)相似度的值時，驗證通過；由上可見，采用本發(fā)明的方法及裝置，可對芯片的二級緩存是否支持外設(shè)進(jìn)行驗證。
【IPC分類】G06F11-36
【公開號】CN104866415
【申請?zhí)枴緾N201410064621
【發(fā)明人】劉美云, 胡勝發(fā)
【申請人】安凱(廣州)微電子技術(shù)有限公司
【公開日】2015年8月26日
【申請日】2014年2月25日