一種陣列基板、顯示面板及電子設(shè)備的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及液晶顯示器技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種陣列基板、顯示面板及電子設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]參見圖1,該圖為現(xiàn)有技術(shù)中的具有觸控功能的陣列基板的等效電路圖。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中,將公共電極層分割為多個(gè)獨(dú)立單元,每個(gè)獨(dú)立單元作為一個(gè)觸控電極P。
[0004]圖1中除了連接觸控檢測端子T的虛線,其他為液晶顯示裝置的等效電路。每個(gè)觸控電極P所在區(qū)域包括多個(gè)薄膜晶體管(TFT,Thin Film Transistor)。
[0005]圖1中脈沖信號gl-gn連接為掃描線,如圖1所示,掃描線連接每個(gè)子像素中TFT的柵極,用于控制TFT的開關(guān)狀態(tài)。
[0006]數(shù)據(jù)輸入端子W連接的豎線為信號線,信號線連接每個(gè)子像素中TFT的漏極或者源極,用于將信號輸入到每個(gè)子像素中的像素電極上。
[0007]其中,電容Cst代表公共電極的電位(即COM電位)與其他電位的綜合等效電容。
[0008]現(xiàn)有技術(shù)中,通過將公共電極層分割成多個(gè)獨(dú)立的單元,實(shí)現(xiàn)觸控功能和顯示功能集成在一起,具體做法為每個(gè)觸控電極P對應(yīng)一個(gè)檢測電容CM和一根與CM連接的檢測信號線(虛線),觸控檢測端子T通過檢測CM的變化來檢測觸摸位置,這是目前較為通用的自容觸控模式。
[0009]但是,這樣就需要在整個(gè)陣列基板中添加很多檢測電容CM,并且每個(gè)CM均連接一根檢測信號線來進(jìn)行信號的檢測,從而使得在陣列基板上的布線密度變大,增加工序。由于每個(gè)檢測電容均需一根檢測信號線引出來,在需要實(shí)現(xiàn)大尺寸或者高精度觸控時(shí),存在很多檢測信號線,這樣整個(gè)顯示面板的布線將存在很大困難,并且檢測電容也存在差異,從而很難實(shí)現(xiàn)大尺寸顯示面板與高精度顯示面板。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0010]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種陣列基板、顯示面板及電子設(shè)備,能夠使顯示面板實(shí)現(xiàn)較大尺寸的情況下,也能實(shí)現(xiàn)高精度的觸控功能。
[0011]本發(fā)明實(shí)施例提供一種陣列基板,包括:觸控電路和多個(gè)呈陣列排布的觸控電極;
[0012]所述觸控電極之間相互絕緣;
[0013]所述觸控電路包括第一開關(guān)單元、第二開關(guān)單元和第一控制模塊;
[0014]任意兩個(gè)相鄰的所述觸控電極之間通過所述第一開關(guān)單元進(jìn)行連接;
[0015]每個(gè)所述觸控電極通過所述第二開關(guān)單元連接信號線;
[0016]所述陣列基板對應(yīng)觸控檢測狀態(tài)時(shí),所述第一控制模塊,用于通過控制所述第一開關(guān)單元斷開,實(shí)現(xiàn)逐行的觸控電極與其他相鄰的觸控電極之間斷開;
[0017]同時(shí),所述第一控制模塊,用于逐行控制所述第二開關(guān)單元導(dǎo)通,完成所有行觸控電極的觸控檢測。
[0018]本發(fā)明實(shí)施例還提供一種包括以上所述陣列基板的顯示面板。
[0019]本發(fā)明實(shí)施例還提供一種包括以上所述顯示面板的電子設(shè)備。
[0020]與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明具有以下優(yōu)點(diǎn):
[0021]本實(shí)施例提供的陣列基板,通過在相鄰的兩個(gè)觸控電極之間設(shè)置第一開關(guān)單元,在觸控電極和信號線之間設(shè)置第二開關(guān)單元。在陣列基板對應(yīng)觸控檢測狀態(tài)時(shí),通過控制第一開關(guān)單元斷開,實(shí)現(xiàn)逐行的觸控電極與其他相鄰的觸控電極之間斷開,通過信號線上的信號來檢測觸控位置。本實(shí)施例提供的陣列基板與現(xiàn)有技術(shù)相比,省去了大量的檢測信號線,從整個(gè)結(jié)構(gòu)上簡化了電路布線,節(jié)省了布線空間,降低了成本。
【附圖說明】
[0022]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0023]圖1是現(xiàn)有技術(shù)中的具有觸控功能的陣列基板的等效電路圖;
[0024]圖2a是本發(fā)明提供的陣列基板實(shí)施例的不意圖;
[0025]圖2b是本發(fā)明提供的另一種陣列基板不意圖;
[0026]圖3是圖2b所示的陣列基板第2行對應(yīng)觸控檢測的狀態(tài)示意圖;
[0027]圖4是圖2b所示的陣列基板對應(yīng)顯示狀態(tài)的示意圖;
[0028]圖5是本發(fā)明提供的陣列基板的等效電路圖;
[0029]圖5a是本發(fā)明提供的一個(gè)像素電極對應(yīng)的放大電路圖;
[0030]圖6是本發(fā)明提供的陣列基板的又一等效電路圖;
[0031]圖7是圖6對應(yīng)的脈沖驅(qū)動信號的時(shí)序圖;
[0032]圖8是本發(fā)明提供的陣列基板的又一等效電路圖;
[0033]圖9是本發(fā)明提供的陣列基板的另一個(gè)等效電路圖;
[0034]圖10是本發(fā)明提供的顯不面板不意圖;
[0035]圖11是本發(fā)明提供的電子設(shè)備示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0036]下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例?;诒景l(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0037]為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更加明顯易懂,下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】做詳細(xì)的說明。
[0038]參見圖2a,該圖為本發(fā)明提供的陣列基板實(shí)施例的示意圖。
[0039]本實(shí)施例提供的陣列基板,包括顯示區(qū)202與非顯示區(qū)201,還包括:位于所顯示區(qū)202的觸控電路(圖2a未示出)和多個(gè)呈陣列排布的觸控電極P。當(dāng)然可以根據(jù)實(shí)際需要,將觸控電路設(shè)置在顯示區(qū),在此不做任何限制。
[0040]可以理解的是,顯示區(qū)202包括很多個(gè)的觸控電極P,一般將公共電極分割為多個(gè)獨(dú)立的單元,每個(gè)單元為一個(gè)觸控電極,觸控電極之間相互絕緣。圖2a僅示出了三行三列的觸控電極P的陣列排布,可以理解的是,可以包括n*m個(gè)觸控電極,其中η和m分別表示觸控電極行和列的數(shù)目,η和m均為正整數(shù)。
[0041]為了本領(lǐng)域技術(shù)人員更好地理解本發(fā)明提供的技術(shù)方案,下面結(jié)合圖2b簡單示出的四個(gè)觸控電極之間的關(guān)系來說明本發(fā)明提供的方案的工作原理。
[0042]可以理解的是,每個(gè)觸控電極所在區(qū)域包括多個(gè)像素電極,一般每個(gè)觸控電極P對應(yīng)整數(shù)個(gè)像素電極。
[0043]所述觸控電極之間相互絕緣;
[0044]所述觸控電路包括第一開關(guān)單元、第二開關(guān)單元和第一控制模塊;
[0045]任意兩個(gè)相鄰的所述觸控電極之間通過所述第一開關(guān)單元進(jìn)行連接;
[0046]每個(gè)所述觸控電極通過所述第二開關(guān)單元連接信號線;
[0047]所述陣列基板對應(yīng)觸控檢測狀態(tài)時(shí),所述第一控制模塊,用于通過控制所述第一開關(guān)單元斷開,實(shí)現(xiàn)逐行的觸控電極與其他相鄰的觸控電極之間斷開;
[0048]同時(shí),所述第一控制模塊,用于逐行控制所述第二開關(guān)單元導(dǎo)通,完成所有行觸控電極的觸控檢測。
[0049]如圖2b所示,僅以四個(gè)觸控電極為例進(jìn)行說明,這四個(gè)觸控電極分別是第一觸控電極11,第二觸控電極12,第三觸控電極21和第四觸控電極22。
[0050]第一觸控電極11與第二觸控電極12之間通過第一開關(guān)單元S2進(jìn)行電連接。
[0051]第一觸控電極11與第三觸控電極21之間通過第一開關(guān)單元SI進(jìn)行電連接。
[0052]第二觸控電極