本發(fā)明適用于無線通信,尤其涉及一種高增益透鏡天線的設(shè)計(jì)方法、系統(tǒng)及相關(guān)設(shè)備。
背景技術(shù):
1、透鏡天線因其結(jié)構(gòu)簡單、工作頻帶寬、增益高等優(yōu)勢在諸多領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用,例如,雷達(dá)定位、射電天文、微波中繼站、天線測量等領(lǐng)域。以雷達(dá)定位為例,在雷達(dá)系統(tǒng)中通常對(duì)終端天線的增益有很高的要求,天線增益越高,定位的誤差就越小,且定位的距離更遠(yuǎn)。
2、目前提高透鏡天線增益的方法有:1.增大天線口徑,但其會(huì)增大系統(tǒng)體積和質(zhì)量,且需要重新進(jìn)行設(shè)計(jì)。2.增加平板介質(zhì)覆層,但會(huì)使得透鏡天線整體變得笨重,且增益通常只有3分貝(db)的提升,增益效果不佳。3.使用天線陣列,但其設(shè)計(jì)過程復(fù)雜,且成本高。
3、因此,亟需一種新的高增益透鏡天線的設(shè)計(jì)方法、系統(tǒng)及相關(guān)設(shè)備,解決上述技術(shù)問題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本發(fā)明提供一種高增益透鏡天線的設(shè)計(jì)方法、系統(tǒng)及相關(guān)設(shè)備,旨在設(shè)計(jì)出增益效果明顯、工作頻帶寬且質(zhì)量輕的透鏡天線。
2、第一方面,一種高增益透鏡天線的設(shè)計(jì)方法,所述設(shè)計(jì)方法包括以下步驟:
3、s1、對(duì)天線進(jìn)行仿真,得到所述天線的工作頻段范圍;
4、s2、根據(jù)所述工作頻段范圍設(shè)計(jì)介質(zhì)透鏡模型,所述介質(zhì)透鏡模型由自內(nèi)向外依次逐層環(huán)繞固定的多個(gè)介質(zhì)單元構(gòu)成,按預(yù)設(shè)規(guī)則對(duì)所述介質(zhì)透鏡模型中的每一介質(zhì)單元的參數(shù)進(jìn)行調(diào)整優(yōu)化,使得電磁波經(jīng)過每一介質(zhì)單元后皆聚焦于所述介質(zhì)透鏡模型的焦點(diǎn),根據(jù)調(diào)整優(yōu)化后的所述介質(zhì)透鏡模型得到介質(zhì)透鏡;其中,所述參數(shù)包括介質(zhì)單元的介質(zhì)厚度和介電常數(shù);
5、s3、將所述介質(zhì)透鏡與所述天線進(jìn)行組裝,得到透鏡天線。
6、優(yōu)選地,所述介質(zhì)透鏡包括十個(gè)介質(zhì)單元。
7、優(yōu)選地,所述介質(zhì)透鏡為中心對(duì)稱結(jié)構(gòu)。
8、優(yōu)選地,所述介質(zhì)透鏡為立方體型。
9、優(yōu)選地,步驟s2中,所述預(yù)設(shè)規(guī)則為,使每一所述介質(zhì)單元滿足如下條件:
10、;
11、其中, d表示所述介質(zhì)單元的厚度, f表示所述介質(zhì)透鏡模型的焦距, θ表示電磁波經(jīng)所述介質(zhì)單元后的折射夾角, εrmax表示所述介質(zhì)單元所用材料的最大相對(duì)介電常數(shù), εr表示所述介質(zhì)單元的相對(duì)介電常數(shù)。
12、第二方面,本發(fā)明還提供一種高增益透鏡天線的設(shè)計(jì)系統(tǒng),包括:
13、仿真模塊,用于對(duì)天線進(jìn)行仿真,得到所述天線的工作頻段范圍;
14、透鏡修改模塊,用于根據(jù)所述工作頻段范圍設(shè)計(jì)介質(zhì)透鏡模型,所述介質(zhì)透鏡模型由自內(nèi)向外依次逐層環(huán)繞固定的多個(gè)介質(zhì)單元構(gòu)成,按預(yù)設(shè)規(guī)則對(duì)所述介質(zhì)透鏡模型中的每一介質(zhì)單元的參數(shù)進(jìn)行調(diào)整優(yōu)化,使得電磁波經(jīng)過每一介質(zhì)單元后皆聚焦于所述介質(zhì)透鏡模型的焦點(diǎn),根據(jù)調(diào)整優(yōu)化后的所述介質(zhì)透鏡模型得到介質(zhì)透鏡;其中,所述參數(shù)包括介質(zhì)單元的介質(zhì)厚度和介電常數(shù);
15、組裝模塊,用于將所述介質(zhì)透鏡與所述天線進(jìn)行組裝,得到透鏡天線。
16、優(yōu)選地,所述介質(zhì)透鏡包括十個(gè)介質(zhì)單元。
17、優(yōu)選地,所述介質(zhì)透鏡為中心對(duì)稱結(jié)構(gòu)。
18、優(yōu)選地,所述透鏡修改模塊中,所述預(yù)設(shè)規(guī)則為,使每一所述介質(zhì)單元滿足如下條件:
19、;
20、其中, d表示所述介質(zhì)單元的厚度, f表示所述介質(zhì)透鏡模型的焦距, θ表示電磁波經(jīng)過所述介質(zhì)單元后的折射夾角, εrmax表示所述介質(zhì)單元所用材料的最大相對(duì)介電常數(shù), εr表示所述介質(zhì)單元的相對(duì)介電常數(shù)。
21、第三方面,本發(fā)明還提供一種透鏡天線,所述透鏡天線通過如上述實(shí)施例任一項(xiàng)所述的高增益透鏡天線的設(shè)計(jì)方法制備而成。
22、與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明通過對(duì)天線進(jìn)行仿真,得到天線的工作頻段范圍;根據(jù)工作頻段范圍對(duì)介質(zhì)透鏡中每一介質(zhì)單元的參數(shù)進(jìn)行修改以對(duì)電磁波的相位進(jìn)行控制,得到介質(zhì)透鏡;其中,參數(shù)包括介質(zhì)厚度和介電常數(shù);將介質(zhì)透鏡與天線進(jìn)行組裝,得到透鏡天線。本發(fā)明通過改善介質(zhì)透鏡的介質(zhì)厚度和介電常數(shù),從而實(shí)現(xiàn)對(duì)電磁波的聚焦效果,得到的透鏡天線增益效果更好、工作頻帶更寬且質(zhì)量更輕。
1.一種高增益透鏡天線的設(shè)計(jì)方法,其特征在于,所述設(shè)計(jì)方法包括以下步驟:
2.如權(quán)利要求1所述的高增益透鏡天線的設(shè)計(jì)方法,其特征在于,所述介質(zhì)透鏡包括十個(gè)介質(zhì)單元。
3.如權(quán)利要求1所述的高增益透鏡天線的設(shè)計(jì)方法,其特征在于,所述介質(zhì)透鏡為中心對(duì)稱結(jié)構(gòu)。
4.如權(quán)利要求1所述的高增益透鏡天線的設(shè)計(jì)方法,其特征在于,所述介質(zhì)透鏡為立方體型。
5.如權(quán)利要求1所述的高增益透鏡天線的設(shè)計(jì)方法,其特征在于,步驟s2中,所述預(yù)設(shè)規(guī)則為,使每一所述介質(zhì)單元滿足如下條件:
6.一種高增益透鏡天線的設(shè)計(jì)系統(tǒng),其特征在于,包括:
7.如權(quán)利要求6所述的高增益透鏡天線的設(shè)計(jì)系統(tǒng),其特征在于,所述介質(zhì)透鏡包括十個(gè)介質(zhì)單元。
8.如權(quán)利要求6所述的高增益透鏡天線的設(shè)計(jì)系統(tǒng),其特征在于,所述介質(zhì)透鏡為中心對(duì)稱結(jié)構(gòu)。
9.如權(quán)利要求6所述的高增益透鏡天線的設(shè)計(jì)系統(tǒng),其特征在于,所述透鏡修改模塊中,所述預(yù)設(shè)規(guī)則為,使每一所述介質(zhì)單元滿足如下條件:
10.一種透鏡天線,其特征在于,所述透鏡天線通過如權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的高增益透鏡天線的設(shè)計(jì)方法制備而成。