本公開涉及車載攝像頭，具體地，涉及一種面向車載類攝像頭的高厚徑比電路板及方法。

背景技術(shù)：

1、車載攝像頭作為現(xiàn)代汽車安全和信息系統(tǒng)的重要組成部分，其電路板必須能夠承受震動(dòng)、溫度變化、濕度和其他惡劣環(huán)境條件。高厚徑比電路板指的是電路板的高度（或厚度）與導(dǎo)孔的直徑之比較大，這種設(shè)計(jì)可以提高電路板的堆疊密度，但同時(shí)也帶來(lái)了制造上的挑戰(zhàn)。

2、在面向車載類攝像頭的高厚徑比電路板制備完成后，需要對(duì)電路板進(jìn)行外觀檢查。外觀檢查是確保電路板質(zhì)量符合標(biāo)準(zhǔn)的重要環(huán)節(jié)，特別地，電路板的任何缺陷如孔壁不光滑、線路斷裂、焊點(diǎn)缺陷等，都可能影響攝像頭的功能。

3、人工手動(dòng)目檢作為最傳統(tǒng)的面向車載類攝像頭的高厚徑比電路板的外觀檢查方式，然而，這種方式依賴于操作人員的經(jīng)驗(yàn)和主觀判斷，可能導(dǎo)致缺陷判定的標(biāo)準(zhǔn)不統(tǒng)一，影響檢查結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性。此外，對(duì)于一些細(xì)微的缺陷，傳統(tǒng)檢測(cè)技術(shù)可能難以發(fā)現(xiàn)。例如，對(duì)于細(xì)微缺陷的檢測(cè)，傳統(tǒng)技術(shù)如光學(xué)顯微鏡或簡(jiǎn)單的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)（aoi）可能分辨率不足，難以捕捉到超細(xì)間距或超高密度電路板上的微小問(wèn)題，這些問(wèn)題可能包括微小的開路、短路、焊點(diǎn)裂紋或極小的污染物，從而影響電路板外觀檢查的精度。

4、因此，期望一種面向車載類攝像頭的高厚徑比電路板。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、提供該
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：
部分以便以簡(jiǎn)要的形式介紹構(gòu)思，這些構(gòu)思將在后面的具體實(shí)施方式部分被詳細(xì)描述。該發(fā)明內(nèi)容部分并不旨在標(biāo)識(shí)要求保護(hù)的技術(shù)方案的關(guān)鍵特征或必要特征，也不旨在用于限制所要求的保護(hù)的技術(shù)方案的范圍。

2、第一方面，本公開提供了一種面向車載類攝像頭的高厚徑比電路板的制備方法，所述方法包括：

3、提供基材；

4、對(duì)所述基材進(jìn)行表面清潔和烘干處理后，在所述基材的表面涂布光刻膠層；

5、通過(guò)光刻工藝將電路圖形轉(zhuǎn)移到所述基材以得到電路板裸板；

6、通過(guò)激光鉆孔設(shè)備和/或機(jī)械鉆孔設(shè)備對(duì)所述電路板裸板進(jìn)行鉆孔處理以得到鉆孔后的電路板裸板；

7、將所述鉆孔后的電路板裸板放置于化學(xué)鍍銅溶液中進(jìn)行化學(xué)鍍銅以在所述鉆孔后的基材上形成銅層；

8、在所述銅層上進(jìn)行電鍍銅以增加所述銅層的厚度以得到電鍍后的電路板；

9、對(duì)所述電鍍后的電路板進(jìn)行抗氧化處理以得到抗氧化處理后的電路板；

10、對(duì)所述抗氧化處理后的電路板進(jìn)行外觀檢查以得到外觀檢查結(jié)果。

11、可選地，對(duì)所述抗氧化處理后的電路板進(jìn)行外觀檢查以得到外觀檢查結(jié)果，包括：獲取由攝像頭采集的抗氧化處理后的電路板外觀圖像；以不同尺度對(duì)所述電路板外觀圖像進(jìn)行圖像塊切分以得到第一尺度電路板局部區(qū)域圖像的序列和第二尺度電路板局部區(qū)域圖像的序列；對(duì)所述第一尺度電路板局部區(qū)域圖像的序列和所述第二尺度電路板局部區(qū)域圖像的序列分別進(jìn)行基于局部區(qū)域的語(yǔ)義特征提取以得到第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征向量的序列和第二尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征向量的序列；將所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征向量的序列和所述第二尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征向量的序列分別輸入基于特征能級(jí)度量關(guān)聯(lián)輻射的語(yǔ)義關(guān)聯(lián)強(qiáng)化模塊以得到第一尺度電路板局部區(qū)域強(qiáng)化語(yǔ)義特征向量的序列和所述第二尺度電路板局部區(qū)域強(qiáng)化語(yǔ)義特征向量的序列；計(jì)算所述第一尺度電路板局部區(qū)域強(qiáng)化語(yǔ)義特征向量的序列和所述第二尺度電路板局部區(qū)域強(qiáng)化語(yǔ)義特征向量的序列中的任意一組第一尺度電路板局部區(qū)域強(qiáng)化語(yǔ)義特征向量和第二尺度電路板局部區(qū)域強(qiáng)化語(yǔ)義特征向量之間的余弦相似度以得到全局相似度拓?fù)渚仃囎鳛槿窒嗨贫韧負(fù)涮卣?；基于所述全局相似度拓?fù)涮卣?，得到檢查結(jié)果，所述檢測(cè)結(jié)果用于表示電路板外觀是否存在缺陷。

12、可選地，以不同尺度對(duì)所述電路板外觀圖像進(jìn)行圖像塊切分以得到第一尺度電路板局部區(qū)域圖像的序列和第二尺度電路板局部區(qū)域圖像的序列，包括：以第一尺度對(duì)所述電路板外觀圖像進(jìn)行圖像塊切分以得到所述第一尺度電路板局部區(qū)域圖像的序列；以第二尺度對(duì)所述電路板外觀圖像進(jìn)行圖像塊切分以得到所述第二尺度電路板局部區(qū)域圖像的序列，其中，所述第一尺度與所述第二尺度不同。

13、可選地，對(duì)所述第一尺度電路板局部區(qū)域圖像的序列和所述第二尺度電路板局部區(qū)域圖像的序列分別進(jìn)行基于局部區(qū)域的語(yǔ)義特征提取以得到第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征向量的序列和第二尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征向量的序列，包括：將所述第一尺度電路板局部區(qū)域圖像的序列和所述第二尺度電路板局部區(qū)域圖像的序列分別輸入vit模型以得到所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征向量的序列和所述第二尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征向量的序列。

14、可選地，將所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征向量的序列和所述第二尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征向量的序列分別輸入基于特征能級(jí)度量關(guān)聯(lián)輻射的語(yǔ)義關(guān)聯(lián)強(qiáng)化模塊以得到第一尺度電路板局部區(qū)域強(qiáng)化語(yǔ)義特征向量的序列和所述第二尺度電路板局部區(qū)域強(qiáng)化語(yǔ)義特征向量的序列，包括：對(duì)于所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征向量的序列，計(jì)算所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征向量的序列中的各個(gè)第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征向量的特征能級(jí)系數(shù)以得到第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征能級(jí)系數(shù)的序列；將所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征能級(jí)系數(shù)的序列排列為第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征能級(jí)系數(shù)輸入向量；對(duì)所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征能級(jí)系數(shù)輸入向量進(jìn)行一維卷積編碼以得到第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征能級(jí)輻射關(guān)聯(lián)向量；對(duì)所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征能級(jí)輻射關(guān)聯(lián)向量進(jìn)行點(diǎn)卷積編碼和概率化映射以得到第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征能級(jí)輻射關(guān)聯(lián)權(quán)重向量；以所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征能級(jí)輻射關(guān)聯(lián)權(quán)重向量作為權(quán)重向量，對(duì)所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征向量的序列進(jìn)行加權(quán)處理和殘差處理以得到所述第一尺度電路板局部區(qū)域強(qiáng)化語(yǔ)義特征向量的序列。

15、可選地，對(duì)于所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征向量的序列，計(jì)算所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征向量的序列中的各個(gè)第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征向量的特征能級(jí)系數(shù)以得到第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征能級(jí)系數(shù)的序列，包括：提取所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征向量中的最大值以得到第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征最大值；分別計(jì)算所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征向量的均值和方差以得到第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征均值和第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征方差；將所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征方差和預(yù)設(shè)超參數(shù)進(jìn)行相加后得到的數(shù)值乘以四以得到第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征第一能級(jí)系數(shù)；計(jì)算所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征最大值與所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征均值的差值的平方以得到第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征差異值；將所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征方差乘以二得到的調(diào)制第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征方差與所述預(yù)設(shè)超參數(shù)乘以二得到的數(shù)值和所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征差異值進(jìn)行相加以得到第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征第二能級(jí)系數(shù)；將所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征第一能級(jí)系數(shù)除以所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征第二能級(jí)系數(shù)以得到所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征能級(jí)系數(shù)。

16、可選地，對(duì)所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征能級(jí)輻射關(guān)聯(lián)向量進(jìn)行點(diǎn)卷積編碼和概率化映射以得到第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征能級(jí)輻射關(guān)聯(lián)權(quán)重向量，包括：將所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征能級(jí)輻射關(guān)聯(lián)向量進(jìn)行點(diǎn)卷積編碼以得到第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征能級(jí)輻射卷積關(guān)聯(lián)向量；將所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征能級(jí)輻射卷積關(guān)聯(lián)向量輸入sigmoid函數(shù)進(jìn)行概率化映射以得到所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征能級(jí)輻射關(guān)聯(lián)權(quán)重向量。

17、可選地，以所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征能級(jí)輻射關(guān)聯(lián)權(quán)重向量作為權(quán)重向量，對(duì)所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征向量的序列進(jìn)行加權(quán)處理和殘差處理以得到所述第一尺度電路板局部區(qū)域強(qiáng)化語(yǔ)義特征向量的序列，包括：以所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征能級(jí)輻射關(guān)聯(lián)權(quán)重向量中各個(gè)位置的特征值作為權(quán)重值，對(duì)所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征向量的序列進(jìn)行逐向量按位置點(diǎn)乘并加上所述第一尺度電路板局部區(qū)域語(yǔ)義特征向量的序列以得到所述第一尺度電路板局部區(qū)域強(qiáng)化語(yǔ)義特征向量的序列。

18、可選地，基于所述全局相似度拓?fù)涮卣?，得到檢查結(jié)果，包括：將所述全局相似度拓?fù)渚仃囕斎牖诜诸惼鞯耐庥^檢查器以得到所述檢查結(jié)果。

19、第二方面，本公開提供了一種面向車載類攝像頭的高厚徑比電路板，所述面向車載類攝像頭的高厚徑比電路板由如所述的面向車載類攝像頭的高厚徑比電路板的制備方法制得。

20、采用上述技術(shù)方案，通過(guò)由攝像頭采集抗氧化處理后的電路板外觀圖像，并采用基于計(jì)算機(jī)視覺的圖像識(shí)別和分析技術(shù)，來(lái)對(duì)所述電路板外觀圖像進(jìn)行基于不同尺度的圖像切分、局部區(qū)域語(yǔ)義特征提取和強(qiáng)化，以此根據(jù)所述電路板外觀圖像在不同尺度上的局部區(qū)域強(qiáng)化語(yǔ)義之間的相似度信息組成的全局相相似度拓?fù)涮卣鱽?lái)自動(dòng)地判斷電路板外觀是否存在缺陷。這樣，通過(guò)對(duì)所述電路板外觀圖像進(jìn)行不同尺度的圖像切分，可以更細(xì)致地捕捉電路板上的缺陷，自動(dòng)判斷電路板是否存在缺陷，減少了人工檢測(cè)的主觀性和人為錯(cuò)誤，提高了面向車載類攝像頭的高厚徑比電路板外觀檢查的智能化程度。

21、本公開的其他特征和優(yōu)點(diǎn)將在隨后的具體實(shí)施方式部分予以詳細(xì)說(shuō)明。