本發(fā)明有關(guān)于時序分析與診斷，尤指有關(guān)于用以提升一集成電路設(shè)計的時序性能的方法。
背景技術(shù)：
：：電子設(shè)計自動化合成工具(edatools)為當(dāng)今半導(dǎo)體設(shè)計發(fā)展的重要輔助工具。在強(qiáng)調(diào)高效能電路設(shè)計的今日，電子設(shè)計自動化合成工具除了協(xié)助芯片設(shè)計者處理百萬數(shù)量以上的晶體管外，更需要隨著半導(dǎo)體制程技術(shù)及制作流程的演進(jìn)，導(dǎo)入適當(dāng)?shù)难菟惴ㄒ蕴嵘娐沸芡瑫r降低產(chǎn)品開發(fā)成本。在設(shè)計實現(xiàn)過程中，在映射后需要對一個設(shè)計的實際功能塊的延時和估計的布線延時進(jìn)行時序分析，而在布局布線后，也要對實際布局布線的功能塊延時和實際布線延時進(jìn)行時序分析。傳統(tǒng)的eda工具可以提供關(guān)鍵路徑的時序報告。然而，傳統(tǒng)eda工具僅能提供關(guān)鍵路徑的時序報告供設(shè)計者參考，不能給出時序性能無法提升的原因，不能給出優(yōu)化建議，當(dāng)電路需要進(jìn)行優(yōu)化時，設(shè)計者需要人工逐條分析原因并進(jìn)行手動修改優(yōu)化，因此耗費大量時間與人力。因此，需要一種能自動分析時序無法提升原因并給出優(yōu)化建議的方法。技術(shù)實現(xiàn)要素：有鑒于此，本發(fā)明提供一種用以提升集成電路設(shè)計的時序性能的方法及其相關(guān)數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。本發(fā)明的一實施例提供一種用以提升一集成電路設(shè)計的時序性能的方法，上述方法包括下列步驟：設(shè)定關(guān)于時序性能的多個既定參數(shù)及其對應(yīng)參考指標(biāo)；取得關(guān)于上述集成電路設(shè)計的一時序分析報告，其中上述集成電路設(shè)計包括多個路徑且上述時序分析報告包括每一上述路徑的一時序信息；根據(jù)上述時序信息，從上述路徑中決定至少一關(guān)鍵路徑；擷取上述至少一關(guān)鍵路徑的上述既定參數(shù)的多個參數(shù)值，并根據(jù)上述參數(shù)值與上述對應(yīng)參考指標(biāo)，決定多個異常參數(shù)；根據(jù)上述異常參數(shù)，產(chǎn)生一診斷結(jié)果；以及根據(jù)上述診斷結(jié)果，產(chǎn)生一優(yōu)化建議信息，從而根據(jù)上述優(yōu)化建議信息提升上述至少一關(guān)鍵路徑的時序性能。本發(fā)明另一實施例提供一種數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，至少包括一儲存單元以及一處理器。儲存單元用以儲存關(guān)于時序性能的多個既定參數(shù)及其對應(yīng)參考指標(biāo)。處理器耦接于儲存單元，用于取得關(guān)于一集成電路設(shè)計的一時序分析報告，其中上述集成電路設(shè)計包括多個路徑且上述時序分析報告包括每一上述路徑的一時序信息，根據(jù)上述時序信息，從上述路徑中決定至少一關(guān)鍵路徑，擷取上述至少一關(guān)鍵路徑的上述既定參數(shù)的多個參數(shù)值，并根據(jù)上述參數(shù)值與上述對應(yīng)參考指標(biāo)，決定多個異常參數(shù)，根據(jù)上述異常參數(shù)，產(chǎn)生一診斷結(jié)果；以及根據(jù)上述診斷結(jié)果，產(chǎn)生一優(yōu)化建議信息，從而根據(jù)上述優(yōu)化建議信息提升上述至少一關(guān)鍵路徑的時序性能。本發(fā)明的上述方法可經(jīng)由本發(fā)明的裝置或系統(tǒng)來實施，其為可執(zhí)行特定功能的硬件或固件，亦可以通過程序碼方式收錄于一紀(jì)錄介質(zhì)中，并結(jié)合特定硬件來實施。當(dāng)程序碼被電子裝置、處理器、計算機(jī)或機(jī)器載入且執(zhí)行時，電子裝置、處理器、計算機(jī)或機(jī)器變成用以實行本發(fā)明的裝置或系統(tǒng)。附圖說明圖1為根據(jù)本發(fā)明實施例的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的硬件架構(gòu)示意圖。圖2為根據(jù)本發(fā)明實施例的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的軟件架構(gòu)示意圖。圖3顯示本發(fā)明一實施例的用以提升集成電路設(shè)計的時序性能的方法的流程圖。圖4顯示本發(fā)明另一實施例的用以提升集成電路設(shè)計的時序性能的方法的流程圖。圖5a為根據(jù)本發(fā)明實施例的優(yōu)化工具分析參數(shù)提取的示意圖。圖5b為根據(jù)本發(fā)明實施例的優(yōu)化工具分析參數(shù)與參考指標(biāo)的分析數(shù)據(jù)示意圖。圖5c為根據(jù)本發(fā)明實施例的優(yōu)化工具分析參數(shù)的分析數(shù)據(jù)示意圖。圖6為根據(jù)本發(fā)明實施例的邏輯設(shè)計分析參數(shù)的分析數(shù)據(jù)示意圖。圖7為根據(jù)本發(fā)明另一實施例的優(yōu)化工具分析參數(shù)的示意圖。其中，附圖中符號的簡單說明如下：100～數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)；110～儲存裝置；120～處理器；130～顯示裝置；210～關(guān)鍵路徑擷取模塊；220～參數(shù)擷取模塊；230～優(yōu)化建議信息產(chǎn)生模塊；s302、s304、s306、s308、s310～步驟；s402、s404、s406、s408、s410、s412、s414、s416～步驟；以及502、504、512、514、602、604、606～參數(shù)數(shù)據(jù)。具體實施方式為讓本發(fā)明的目的、特征和優(yōu)點能更明顯易懂，特舉出下文實施例，并配合所附圖式，作詳細(xì)說明如下。注意的是，本章節(jié)所敘述的實施例目的在于說明本發(fā)明的實施方式而非用以限定本發(fā)明的保護(hù)范圍，任何熟悉此項技術(shù)的人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可做些許更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)權(quán)利要求書所界定的為準(zhǔn)。應(yīng)理解下列實施例可經(jīng)由軟件、硬件、固件或上述的任意組合來實現(xiàn)。本發(fā)明實施例提供一種數(shù)字集成電路設(shè)計中關(guān)鍵路徑時序性能參數(shù)提取、原因診斷與優(yōu)化建議的自動化方法，可自動從時序報告以及數(shù)據(jù)庫中提取所需參數(shù)，進(jìn)而自動診斷關(guān)鍵路徑時序性能無法提升的原因，找出時序性能提升瓶頸并自動給出優(yōu)化建議。圖1顯示根據(jù)本揭露一實施例的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)100的硬件架構(gòu)示意圖。于一些實施例中，數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)100可為桌上型計算機(jī)、一體成型(all-in-one，aio)計算機(jī)、一般筆電、觸控筆電或一可攜式裝置或手持裝置，例如是數(shù)字個人助理(pda)、智能手機(jī)(smartphone)、平板計算機(jī)(tablet)、移動電話、移動互聯(lián)網(wǎng)裝置(mobileinternetdevice,mid)、筆記型計算機(jī)、車用計算機(jī)、數(shù)字相機(jī)、數(shù)字介質(zhì)播放器、游戲裝置或任何類型的移動計算裝置，然而，本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)可理解本發(fā)明并不限于此。如圖1所示，數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)100的硬件架構(gòu)可至少包括儲存裝置110、處理器120以及顯示裝置130。儲存裝置110為非暫態(tài)(non-transitory)的計算機(jī)可讀取儲存介質(zhì)，可為非易失性儲存介質(zhì)(例如：只讀存儲器(read-onlymemory，rom)、閃存(flashmemory)、硬盤、光盤等)、易失性儲存介質(zhì)(例如：隨機(jī)存取存儲器(radomaccessmemory，ram))或兩者的任意組合，用以儲存相關(guān)數(shù)據(jù)，例如運算過程中的中間數(shù)據(jù)及執(zhí)行結(jié)果數(shù)據(jù)等。儲存裝置110也可用以儲存可供處理器120執(zhí)行的指令集及/或程序碼程序模塊。一般而言，程序模塊包含常序(routines)、程序(program)、物體(object)、元件(component)等。儲存裝置110還可儲存有所需的各項數(shù)據(jù)，例如：各參數(shù)及其參考指標(biāo)以及包括各項參考優(yōu)化建議的知識庫等等。其中，上述參數(shù)為可能對時序性能造成影響的參數(shù)集合，而知識庫則包括各種異常原因所對應(yīng)的一組參考優(yōu)化建議。于本發(fā)明中，可事先根據(jù)經(jīng)驗統(tǒng)計出可能影響時序性能的眾多參數(shù)，并且根據(jù)各參數(shù)所表示的異常原因，根據(jù)以往設(shè)計經(jīng)驗或經(jīng)由機(jī)器學(xué)習(xí)提出解決異常原因的可行方案作為參考優(yōu)化建議，以建構(gòu)產(chǎn)生上述知識庫。具體的參數(shù)及其參考指標(biāo)、以及參考優(yōu)化建議的細(xì)節(jié)請參見以下的實施例的說明。處理器120耦接至儲存裝置110與顯示裝置130，可從儲存裝置110中載入并執(zhí)行指令集及/或程序碼，以控制儲存裝置110與顯示裝置130的運作來執(zhí)行本發(fā)明所述的用以提升時序性能的方法。處理器120可為通用處理器、微處理器(micro-controlunit，mcu)、圖形處理器(graphicsprocessingunit,gpu)或數(shù)字信號處理器(digitalsignalprocessor，dsp)等，用以提供數(shù)據(jù)分析、處理及運算的功能。上述用以提升時序性能的方法包括以下步驟：取得一電路設(shè)計的一時序分析報告、依序抓取時序分析報告中的各關(guān)鍵路徑的對應(yīng)異常參數(shù)，并根據(jù)各異常參數(shù)對應(yīng)的異常原因，產(chǎn)生相應(yīng)的優(yōu)化建議信息，從而通過優(yōu)化建議信息提升各關(guān)鍵路徑的時序性能，其細(xì)節(jié)將于后進(jìn)行說明。本領(lǐng)域技術(shù)人員當(dāng)可理解，處理器120中的電路邏輯通?？砂ǘ鄠€晶體管，用以控制該電路邏輯的運作以提供所需的功能及作業(yè)。更進(jìn)一步的，晶體管的特定結(jié)構(gòu)及其之間的連結(jié)關(guān)系通常是由編譯器所決定，例如：寄存器轉(zhuǎn)移語言(registertransferlanguage，rtl)編譯器可由處理器所運作，將類似組合語言碼的指令檔(script)編譯成適用于設(shè)計或制造該電路邏輯所需的形式。顯示裝置130可顯示相關(guān)數(shù)據(jù)，例如是文字、圖形、接口及/或各種信息如顯示或呈現(xiàn)結(jié)果等。顯示裝置130可用以呈現(xiàn)結(jié)果的畫面，例如：液晶顯示器(lcd)。應(yīng)理解的是，于一些實施例中，顯示裝置130結(jié)合觸碰感應(yīng)裝置(未顯示)的屏幕。觸控感應(yīng)裝置具有一觸控表面，其包括至少一維度的感測器以偵測靠近或在觸控表面上的一輸入工具如手指或觸控筆等在其表面上的接觸及動作。因此，使用者可通過顯示裝置130來進(jìn)行觸控輸入命令或信號。當(dāng)可理解的是，圖1所示的元件僅用以提供一說明的范例，并非用以限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。舉例來說，雖未繪示，數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)100還可進(jìn)一步包括其他功能單元，例如：一或多個按鈕、鍵盤、鼠標(biāo)、觸碰板、視頻鏡頭、麥克風(fēng)、以及/或喇叭等，用以作為人機(jī)接口與使用者互動，且本發(fā)明不在此限。圖2顯示根據(jù)本發(fā)明實施例的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)100的軟件架構(gòu)圖。數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)100的軟件架構(gòu)包括一關(guān)鍵路徑擷取模塊210、一參數(shù)擷取模塊220以及一優(yōu)化建議信息產(chǎn)生模塊230。關(guān)鍵路徑擷取模塊210、參數(shù)擷取模塊220以及優(yōu)化建議信息產(chǎn)生模塊230可被儲存于數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)100的儲存裝置110(例如：存儲器)中，并且可被數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)100的處理器120于適當(dāng)時機(jī)載入并執(zhí)行本發(fā)明的用以提升時序性能的方法。明確來說，處理器120可通過控制關(guān)鍵路徑擷取模塊210、參數(shù)擷取模塊220以及優(yōu)化建議信息產(chǎn)生模塊230的運作來執(zhí)行本發(fā)明的用以提升時序性能的方法。具體來說，處理器120可通過關(guān)鍵路徑擷取模塊210，接收關(guān)于一電路設(shè)計的一時序分析報告，再根據(jù)時序分析報告中的多條路徑的時序相關(guān)信息，決定一或多條關(guān)鍵路徑，通過參數(shù)擷取模塊220擷取各關(guān)鍵路徑的所有參數(shù)，并將所有參數(shù)的參數(shù)值逐一與其對應(yīng)的參考指標(biāo)進(jìn)行比對，判斷出存在異常的異常參數(shù)，并通過優(yōu)化建議信息產(chǎn)生模塊230，將上述的異常參數(shù)視為阻礙時序性能提升的原因，再一一根據(jù)上述原因產(chǎn)生對應(yīng)的優(yōu)化建議信息，從而提升各關(guān)鍵路徑的時序性能。參數(shù)擷取模塊220可先根據(jù)經(jīng)驗與建模決定可能影響時序的各種參數(shù)作為上述既定參數(shù)，并以各既定參數(shù)的合理數(shù)值范圍作為該參數(shù)值的對應(yīng)參考指標(biāo)。舉例來說，由于根據(jù)經(jīng)驗可知，路徑線長過長可能會導(dǎo)致時序性能無法進(jìn)一步提升，因此可將表示一路徑的實際總線長的總線長數(shù)據(jù)作為其中一既定參數(shù)，并以總線長的合理數(shù)值范圍作為其參考指標(biāo)，例如可設(shè)定從該路徑的一起始點與終止點之間的最短走線長度作為參考線長，并以實際線長與參考線長的比例作為參考指標(biāo)。優(yōu)化建議信息產(chǎn)生模塊230可以根據(jù)各異常參數(shù)所對應(yīng)的異常原因，從儲存裝置110的知識庫中找出對應(yīng)的一組參考優(yōu)化建議，并利用上述參考優(yōu)化建議，產(chǎn)生所述優(yōu)化建議信息?？衫斫獾氖?，上述各元件或模塊為一具有對應(yīng)功能的裝置，可具有適當(dāng)?shù)挠布娐坊蛟詧?zhí)行對應(yīng)功能，然而，該裝置并不以具有實體為限，其亦得為一虛擬的具有對應(yīng)功能的程序、軟件，或是具有處理、運行該程序、軟件能力的裝置。而上述各元件運作的方式，可進(jìn)一步的參閱以下對應(yīng)的方法的說明。圖3顯示本發(fā)明一實施例的用以提升集成電路設(shè)計的時序性能的方法的流程圖。請同時參照圖1、圖2與圖3。根據(jù)本發(fā)明實施例的用以提升集成電路設(shè)計的時序性能的方法可以適用于一數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，舉例來說，可適用于圖1的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)100并由處理器120加以執(zhí)行。于此實施例中，假設(shè)儲存裝置110已預(yù)先設(shè)定了關(guān)于時序性能的多個既定參數(shù)及其對應(yīng)參考指標(biāo)。首先，如步驟s302，處理器120取得關(guān)于一待分析集成電路設(shè)計的一時序分析報告，其中集成電路設(shè)計包括多個路徑且時序分析報告包括每一路徑的一時序信息。于一實施例中，時序分析報告可由一eda工具所提供，而處理器120可接收eda工具所產(chǎn)生的時序分析報告。于另一實施例中，處理器120可還包括上述eda工具，因此處理器120可產(chǎn)生上述時序分析報告。于取得時序分析報告之后，如步驟s304，處理器120根據(jù)每一路徑的時序信息，從所有路徑中決定至少一關(guān)鍵路徑。明確來說，時序分析報告中包括多條路徑的時序信息，處理器120可將時序分析報告中的所有路徑的時序信息與包含預(yù)設(shè)時序目標(biāo)的預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)時序信息進(jìn)行比對，并根據(jù)比對結(jié)果以及一判斷準(zhǔn)則判斷出關(guān)鍵路徑。于一實施例中，當(dāng)某一路徑的時序信息不滿足上述預(yù)設(shè)時序目標(biāo)時便可將該路徑視為一關(guān)鍵路徑。于另一實施例中，當(dāng)某一路徑的時序信息不滿足上述預(yù)設(shè)時序目標(biāo)且超過一指定范圍時才將該路徑視為一關(guān)鍵路徑，但本發(fā)明并不限于此。接著，如步驟s306，處理器120擷取至少一關(guān)鍵路徑的多個既定參數(shù)的參數(shù)值，并根據(jù)參數(shù)值與其對應(yīng)參考指標(biāo)，決定多個異常參數(shù)。于一實施例中，既定參數(shù)可包括一第一參數(shù)且處理器120根據(jù)既定參數(shù)的參數(shù)值與對應(yīng)參考指標(biāo)，決定上述異常參數(shù)的步驟還包括：比對第一參數(shù)的一第一參數(shù)值是否超過第一參數(shù)的一第一對應(yīng)參考指標(biāo)，若是，決定第一參數(shù)為異常參數(shù)。相反地，若第一參數(shù)的第一參數(shù)值未超過第一參數(shù)的第一對應(yīng)參考指標(biāo)，第一參數(shù)可視為正常參數(shù)，因此可被排除。明確來說，處理器120可先根據(jù)經(jīng)驗與建模決定可能影響時序的眾多參數(shù)，并以各參數(shù)的合理數(shù)值范圍作為該參數(shù)值的對應(yīng)參考指標(biāo)，再一一將各參數(shù)的參數(shù)值與對應(yīng)參考指標(biāo)進(jìn)行對比，判斷各參數(shù)是否存在異常，進(jìn)而得到上述異常參數(shù)。上述參數(shù)包括(但不限于)以下至少一者：一總線長數(shù)據(jù)、一前后級邏輯級數(shù)差值數(shù)據(jù)、一過渡時間數(shù)據(jù)、一單元密度數(shù)據(jù)、一布線阻塞程度數(shù)據(jù)、一時鐘偏差數(shù)據(jù)、一片上波動數(shù)據(jù)、一串?dāng)_延時數(shù)據(jù)、以及一最大驅(qū)動能力單元比例數(shù)據(jù)等。舉例來說，由于根據(jù)經(jīng)驗可知，路徑線長過長可能會導(dǎo)致時序性能無法進(jìn)一步提升，因此可以該路徑的總線長作為其中一參數(shù)，并以總線長的合理數(shù)值范圍作為其參考指標(biāo)。于一實施例中，上述參數(shù)可至少包括一工藝庫分析參數(shù)、一邏輯設(shè)計分析參數(shù)以及一優(yōu)化工具分析參數(shù)，其中工藝庫分析參數(shù)與集成電路設(shè)計的所用工藝庫特性有關(guān)，邏輯設(shè)計分析參數(shù)與集成電路設(shè)計的邏輯設(shè)計有關(guān)，優(yōu)化工具分析參數(shù)與一eda工具有關(guān)。舉例來說，工藝庫分析參數(shù)可為最大驅(qū)動能力單元比例數(shù)據(jù)，邏輯設(shè)計分析參數(shù)可為前后級邏輯級數(shù)差值數(shù)據(jù)，優(yōu)化工具分析參數(shù)可為總線長數(shù)據(jù)、過渡時間數(shù)據(jù)等，但不限于此。其中，關(guān)鍵路徑中最大驅(qū)動能力單元比例過大說明工藝庫不夠完備，缺少更大驅(qū)動能力的單元。于決定所有可能異常參數(shù)之后，如步驟s308，處理器120根據(jù)上述可能異常參數(shù)，產(chǎn)生一診斷結(jié)果，之后，如步驟s310，處理器120根據(jù)上述診斷結(jié)果，產(chǎn)生一優(yōu)化建議信息。于一些實施例中，異常參數(shù)包括一第一參數(shù)(例如：總線長數(shù)據(jù))，上述參數(shù)包括上述第一參數(shù)以及關(guān)聯(lián)上述第一參數(shù)的多個第二參數(shù)(例如：單元密度數(shù)據(jù)以及布線阻塞程度數(shù)據(jù)等)，則處理器120根據(jù)上述異常參數(shù)，產(chǎn)生上述診斷結(jié)果的步驟還包括處理器120產(chǎn)生對應(yīng)上述第二參數(shù)的多個分析信息，以及根據(jù)上述分析信息，產(chǎn)生相應(yīng)上述第一參數(shù)的上述診斷結(jié)果。于一實施例中，異常參數(shù)可為一工藝庫分析參數(shù)且處理器120可根據(jù)上述工藝庫分析參數(shù)，產(chǎn)生基于集成電路設(shè)計的工藝庫優(yōu)化的優(yōu)化建議信息。于另一實施例中，異常參數(shù)可為一邏輯設(shè)計分析參數(shù)且處理器120可根據(jù)上述邏輯設(shè)計分析參數(shù)，產(chǎn)生基于集成電路設(shè)計的邏輯設(shè)計優(yōu)化的優(yōu)化建議信息。于又一實施例中，異常參數(shù)可為一優(yōu)化工具分析參數(shù)且處理器120可根據(jù)上述優(yōu)化工具分析參數(shù)，產(chǎn)生基于eda工具角度的優(yōu)化建議信息。明確來說，于步驟s308與步驟s310中，處理器120可進(jìn)一步分析異常參數(shù)相關(guān)的各種參數(shù)，確定阻礙時序性能提升的原因，并根據(jù)找出的原因從知識庫中找出對應(yīng)或相似的一組參考優(yōu)化建議來產(chǎn)生優(yōu)化建議信息，從各方面如優(yōu)化設(shè)計、改進(jìn)工藝庫、指導(dǎo)工具優(yōu)化等方面自動給出相應(yīng)的優(yōu)化建議，而設(shè)計者便可根據(jù)上述優(yōu)化建議信息調(diào)整各關(guān)鍵路徑的設(shè)計，使其符合參考指標(biāo)，從而提升整體集成電路設(shè)計的時序性能。圖4顯示本發(fā)明另一實施例的用以提升集成電路設(shè)計的時序性能的方法的流程圖。請同時參照圖1、圖2與圖4。根據(jù)本發(fā)明實施例的用以提升集成電路設(shè)計的時序性能的方法可以適用于一數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，舉例來說，可適用于圖1的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)100并由處理器120加以執(zhí)行。于此實施例中，假設(shè)處理器120已經(jīng)根據(jù)時序分析報告中各路徑的時序信息，從時序分析報告的所有路徑中決定出多個條關(guān)鍵路徑。舉例來說，假設(shè)時序分析報告中顯示100條路徑中共有10條不滿足預(yù)設(shè)時序目標(biāo)的路徑，則可將這10條路徑視為關(guān)鍵路徑。首先，處理器120選取一條關(guān)鍵路徑(步驟s402)。接著，處理器120抓取所選取的關(guān)鍵路徑的一個參數(shù)(步驟s404)，并比較此參數(shù)是否超過其對應(yīng)指標(biāo)(步驟s406)，若是，表示此參數(shù)存在異常，則將此參數(shù)記錄為異常參數(shù)(步驟s408)，接著執(zhí)行步驟s410。若此參數(shù)未超過其對應(yīng)指標(biāo)(步驟s406的否)，表示此參數(shù)為正常，處理器120接著執(zhí)行步驟s410。于步驟s410，處理器120判斷是否已檢查完所有參數(shù)。假設(shè)仍有參數(shù)尚未檢查(步驟s410的否)，則重復(fù)前述步驟s404至步驟s408，抓取所選取的關(guān)鍵路徑的另一個參數(shù)，并比較該參數(shù)是否超過其對應(yīng)指標(biāo)，若是，則將該參數(shù)記錄為異常參數(shù)，直到所有參數(shù)都已檢查完畢為止。當(dāng)所有參數(shù)都已檢查完畢時(步驟s410的是)，接著處理器120列出所選取的關(guān)鍵路徑的所有異常參數(shù)(步驟s412)并列出所選取的關(guān)鍵路徑的優(yōu)化建議(步驟s414)。明確來說，處理器120可找出所有可能異常參數(shù)，再根據(jù)上述可能異常參數(shù)，產(chǎn)生一診斷結(jié)果，之后，再根據(jù)上述診斷結(jié)果，產(chǎn)生一優(yōu)化建議信息并經(jīng)由顯示裝置130列出所有異常參數(shù)以及列出上述優(yōu)化建議信息作為所選取的關(guān)鍵路徑的優(yōu)化建議，以提供給相關(guān)設(shè)計人員參考，進(jìn)行后續(xù)優(yōu)化。接著，處理器120判斷是否已檢查完所有關(guān)鍵路徑(步驟s416)。假設(shè)仍有尚未檢查的關(guān)鍵路徑(步驟s416的否)，則處理器120重復(fù)前述步驟s402至步驟s414，選取下一條關(guān)鍵路徑，再逐一抓取所選取的關(guān)鍵路徑的各參數(shù)與其對應(yīng)指標(biāo)進(jìn)行比較，記錄所有異常參數(shù)，再逐一列出各選取的關(guān)鍵路徑的所有異常參數(shù)以及列出所選取的關(guān)鍵路徑的優(yōu)化建議，直到所有關(guān)鍵路徑都被選取且檢查完畢為止。當(dāng)所有關(guān)鍵路徑都已檢查完畢時(步驟s416的是)，便結(jié)束整個流程。以下列舉一應(yīng)用本發(fā)明的方法以診斷cpu內(nèi)核時序性能提升瓶頸的實施例，用以作為對時序路徑進(jìn)行參數(shù)提取、原因診斷與優(yōu)化建議等診斷分析的細(xì)部說明實施例，當(dāng)可理解，本發(fā)明并不限于此。于此實施例中，主要以總線長、前后級邏輯級數(shù)差值以及過渡時間三個參數(shù)分別作為優(yōu)化工具分析參數(shù)以及邏輯設(shè)計分析參數(shù)的例子對時序路徑進(jìn)行診斷分析。主要分三步，分別是參數(shù)提取、原因診斷與優(yōu)化建議。于第一實施例中，參數(shù)為一優(yōu)化工具分析參數(shù)如總線長數(shù)據(jù)及其對應(yīng)的單元密度數(shù)據(jù)以及布線阻塞程度數(shù)據(jù)等。由于線長過長可能會導(dǎo)致時序性能無法進(jìn)一步提升，因此可以根據(jù)總線長數(shù)據(jù)來判斷是否時序性能受到線長過長的影響。首先，處理器120先將路徑1的實際總線長從設(shè)計中提取出來以取得總線長數(shù)據(jù)的參數(shù)值，如圖5a的線段502所示。為方便說明，假設(shè)關(guān)鍵路徑的時序路徑具有一起始點a與一終止點b且起始點a的位置坐標(biāo)表示為(x1,y1)，終止點b的位置坐標(biāo)表示為(x2,y2)。接著，參考線長從時序路徑的起始點a與終止點b位置計算得到，如圖5a的線段504所示。具體來說，如圖5a所示，由于從時序路徑的起始點a到達(dá)終止點b的最短走線長度為|x2-x1|+|y2-y1|，可選取此最短線長作為參考線長(總線長數(shù)據(jù)的參考指標(biāo))。當(dāng)實際線長遠(yuǎn)大于參考線長時間(例如：實際線長大于參考線長的1.5倍時)，表示可能存在繞線迂回(detour)現(xiàn)象，導(dǎo)致時序性能無法進(jìn)一步提升，需要設(shè)計者進(jìn)行修正。例如，選取一條路徑1，其起始點a的位置坐標(biāo)為(853,342)，終止點b的位置坐標(biāo)為(1168,547)。計算得到的參考線長為520微米(um)，而從設(shè)計中提取的路徑1的實際線長為1205微米(um)。圖5b為根據(jù)本發(fā)明實施例的優(yōu)化工具分析參數(shù)與參考指標(biāo)的分析數(shù)據(jù)的示意圖，其中橫軸表示時序(slack)，縱軸表示路徑線長。于此例中，由于實際線長(如圖5b所示的512)大于參考線長(如圖5b所示的514)的1.5倍，亦即總線長參數(shù)大于其參考指標(biāo)，因此可知路徑1的總線長數(shù)據(jù)為異常參數(shù)之一。相反地，于另一實施例中，若實際線長未大于參考線長的1.5倍時，路徑1的總線長數(shù)據(jù)即視為正常參數(shù)。接著，處理器120便根據(jù)異常參數(shù)，進(jìn)行原因診斷，產(chǎn)生一診斷結(jié)果。于此例中，對于路徑1，可以判定繞線迂回是造成該條路徑時序性能無法進(jìn)一步提升的原因之一，于是進(jìn)一步分析造成繞線迂回現(xiàn)象的原因。異常參數(shù)“總線長數(shù)據(jù)”對應(yīng)的參數(shù)包括一標(biāo)準(zhǔn)密度(stddensity)數(shù)據(jù)以及一布線阻塞程度(congestion)數(shù)據(jù)。其中，標(biāo)準(zhǔn)密度數(shù)據(jù)表示a、b點包圍的矩形框中的標(biāo)準(zhǔn)密度，若標(biāo)準(zhǔn)密度數(shù)據(jù)的值愈大，表示所在位置處標(biāo)準(zhǔn)密度愈大，太大會造成繞線迂回現(xiàn)象；布線阻塞程度參數(shù)則表示a、b點之間布線的密度，若繞線阻塞程度參數(shù)的值愈大，表示局部阻塞很嚴(yán)重，也會造成繞線迂回現(xiàn)象。圖5c為根據(jù)本發(fā)明實施例的優(yōu)化工具分析參數(shù)的分析數(shù)據(jù)示意圖，其中橫軸表示時序(slack)，縱軸表示標(biāo)準(zhǔn)密度。于此例中，通過抓取a、b點包圍的矩形框中的標(biāo)準(zhǔn)密度(stddensity)，發(fā)現(xiàn)矩形框中的標(biāo)準(zhǔn)密度為93％高于參考值的80％(根據(jù)經(jīng)驗選取的參考值)。也就是說，因為該路徑所在位置處標(biāo)準(zhǔn)密度太大，造成了繞線迂回現(xiàn)象。于是，處理器120產(chǎn)生相應(yīng)異常參數(shù)為“總線長數(shù)據(jù)”的一診斷結(jié)果為“路徑1處局部標(biāo)準(zhǔn)密度過高，達(dá)到93％，引起繞線迂回”。之后，處理器120可根據(jù)上述診斷結(jié)果，產(chǎn)生對于路徑1的優(yōu)化建議信息，供設(shè)計者參考。于此例中，優(yōu)化建議信息可包括以下基于eda工具角度的優(yōu)化建議信息：“建議：(1)請調(diào)整{(853,342)(1168,547)}區(qū)域附近的布圖規(guī)劃，以降低局部標(biāo)準(zhǔn)密度；及/或(2){(853,342)(1168,547)}區(qū)域設(shè)置最大標(biāo)準(zhǔn)密度約束”。因此，設(shè)計人員便可簡單參考上述優(yōu)化建議信息，降低{(853,342)(1168,547)}區(qū)域附近的局部標(biāo)準(zhǔn)密度及/或設(shè)置最大標(biāo)準(zhǔn)密度約束等設(shè)計方式來解決路徑1的線長過長問題造成的異常，從而使路徑1的時序性能獲得提升。于第二實施例中，參數(shù)為一邏輯設(shè)計分析參數(shù)如前后級邏輯級數(shù)(logiclevel)差值數(shù)據(jù)等。由于邏輯級數(shù)過長也會導(dǎo)致時序性能無法進(jìn)一步提升，因此可根據(jù)前后級邏輯級數(shù)差值數(shù)據(jù)來判斷是否時序性能受到前后級邏輯級數(shù)不均衡的影響。圖6為根據(jù)本發(fā)明實施例的邏輯設(shè)計分析參數(shù)的分析數(shù)據(jù)示意圖，其中橫軸表示時序(slack)，縱軸表示邏輯級數(shù)。如圖6所示，為獲取上述前后級邏輯級數(shù)差值數(shù)據(jù)，分別提取選中時序路徑的前一級(n-1)(如圖6所示的曲線602)、本級(n)(如圖6所示的曲線604)、后一級(n+1)(如圖6所示的曲線606)的邏輯級數(shù)。例如對于路徑2，前一級的邏輯級數(shù)level(n-1)為16，本級的邏輯級數(shù)level(n)為30，后一級的邏輯級數(shù)level(n+1)為22。于此例中，路徑2的level(n)-level(n-1)＝30-16＝14以及l(fā)evel(n)-level(n+1)＝30-22＝8，因此其前后級邏輯級數(shù)差值設(shè)為兩者中的最大差值，即14級。由于路徑2的前后級邏輯級數(shù)差值超過參考指標(biāo)10級，因此可知路徑2的前后級邏輯級數(shù)差值數(shù)據(jù)為異常參數(shù)之一。接著，處理器120便根據(jù)異常參數(shù)，進(jìn)行原因診斷，產(chǎn)生一診斷結(jié)果。于此例中，對于路徑2，處理器120可以判定邏輯級數(shù)不均衡是造成該條路徑時序性能無法進(jìn)一步提升的原因之一。于是，產(chǎn)生關(guān)于路徑2的相應(yīng)異常參數(shù)為“前后級邏輯級數(shù)差值數(shù)據(jù)”的一診斷結(jié)果為“路徑2與前后級的邏輯級數(shù)不均衡，16/30/22”。之后，處理器120可根據(jù)上述診斷結(jié)果，產(chǎn)生對于路徑2的優(yōu)化建議信息，供設(shè)計者參考。于此例中，優(yōu)化建議信息可包括以下基于集成電路設(shè)計的邏輯設(shè)計優(yōu)化的信息：“建議：請重新設(shè)計路徑2處的流水線，以使邏輯級數(shù)均衡”。于第三實施例中，參數(shù)為另一優(yōu)化工具分析參數(shù)如過渡時間(transitiontime)數(shù)據(jù)等。類似地，由于過渡時間過長也會導(dǎo)致延時過大，導(dǎo)致時序性能無法進(jìn)一步提升，因此也可根據(jù)過渡時間數(shù)據(jù)來判斷是否時序性能受到過渡時間過長的影響。圖7為根據(jù)本發(fā)明實施例的優(yōu)化工具分析參數(shù)的示意圖，其中橫軸表示時序(slack)，縱軸表示過渡時間。為獲取上述過渡時間數(shù)據(jù)，分別提取待分析路徑中各個引腳處的過渡時間值并且根據(jù)經(jīng)驗選取80ps作為參考過渡時間(參考指標(biāo))。舉例來說，假設(shè)對于路徑3，引腳u509/i0處的過渡時間為116ps，大于參考過渡時間80ps，則可將路徑3的過渡時間數(shù)據(jù)視為異常參數(shù)之一。對于路徑3，處理器120可以判定過渡時間過長造成該條路徑時序性能無法進(jìn)一步提升的原因之一，于是，產(chǎn)生關(guān)于包括路徑3的異常參數(shù)的一診斷結(jié)果為“路徑3中u509/i0處的過渡時間過大，116ps”。之后，處理器120可根據(jù)上述診斷結(jié)果，產(chǎn)生對于路徑3以下基于eda工具角度的優(yōu)化建議信息，供設(shè)計者參考：“建議：(1)檢查u509/i0處的最大過渡時間約束；(2)減小u509/i0處線長；(3)增大u509/i0的驅(qū)動單元的驅(qū)動能力；(4)在u509/i0前增加驅(qū)動單元”。因此，根據(jù)本發(fā)明的用以提升一集成電路設(shè)計的時序性能的方法及其相關(guān)數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，可自動根據(jù)關(guān)于集成電路設(shè)計的時序分析報告，進(jìn)行關(guān)鍵路徑的參數(shù)提取，并能快速自動診斷出阻礙關(guān)鍵路徑時序性能提升的原因，并從設(shè)計本身、工藝庫以及工具優(yōu)化能力等方面給出優(yōu)化建議，指導(dǎo)使用者快速高效地進(jìn)行修正優(yōu)化，從而顯著節(jié)省時間和人力。本發(fā)明的方法，或特定形態(tài)或其部分，可以以程序碼的形態(tài)存在。程序碼可以包含于實體介質(zhì)，如軟盤、光盤片、硬盤、或是任何其他機(jī)器可讀取(如計算機(jī)可讀取)儲存介質(zhì)，亦或不限于外在形式的計算機(jī)程序產(chǎn)品，其中，當(dāng)程序碼被機(jī)器，如計算機(jī)載入且執(zhí)行時，此機(jī)器變成用以參與本發(fā)明的裝置。程序碼也可通過一些傳送介質(zhì)，如電線或電纜、光纖、或是任何傳輸形態(tài)進(jìn)行傳送，其中，當(dāng)程序碼被機(jī)器，如計算機(jī)接收、載入且執(zhí)行時，此機(jī)器變成用以參與本發(fā)明的裝置。當(dāng)在一般用途圖像處理器實施時，程序碼結(jié)合圖像處理器提供一操作類似于應(yīng)用特定邏輯電路的獨特裝置。以上所述僅為本發(fā)明較佳實施例，然其并非用以限定本發(fā)明的范圍，任何熟悉本項技術(shù)的人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，可在此基礎(chǔ)上做進(jìn)一步的改進(jìn)和變化，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)以本申請的權(quán)利要求書所界定的范圍為準(zhǔn)。當(dāng)前第1頁12當(dāng)前第1頁12